JP2666352B2 - 回路間接続試験方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 〔概 要〕 補助電源によって回路保護ダイオードに、順方向電圧
降下より小さい電圧が印加するようにした回路間接続試
験方法に関し、 回路保護ダイオードの影響をなくして、正しい接続試
験が行えるようにする方法を提供することを目的とし、 回路の出力信号端子および入力信号端子それぞれと該
回路の電源供給端子とアース間にダイオードを接続して
なる２つの回路の一方の回路の出力信号端子と、他の回
路の入力信号端子間を接続する接続線の接続試験におけ
る前記回路の電源供給端子と試験器アース間に補助電源
を接続し、前記ダイオードに順方向電圧降下より小さい
電圧が印加するよう構成する。

〔産業上の利用分野〕

本発明は、補助電源によって回路保護ダイオードに、
順方向電圧降下より小さい電圧が印加するようにした回
路間接続試験方法に関するものである。

LSI素子の回路の集積度が大となって外部電界の影響
を受け易くなってきており、LSI素子またはLSI素子を含
む回路（これ等を一括して、以下では回路と称する）が
相互に接続される出入力信号端子に外部から静電気等に
よる過大な電圧が印加されると、回路が破壊されること
がある。

このため、入力および出力信号端子とアース間にダイ
オードを接続して、そのような過大電圧による電流を分
岐して回路に電流が流入するのを阻止し、回路が破壊さ
れるのを防止している。

しかし、そのような回路の試験に際しては、試験器の
試験電流をダイオードが分岐して、試験器の正しい計測
を阻害することがある。

〔従来の技術〕

第２図は、従来の回路の出力信号端子および入力信号
端子間の接続を試験する方法を説明する図である。

第２図において、例えば、1,2はインバータ回路であ
って、11は回路１の出力信号端子、21は回路２の入力信
号端子である。

通常、回路の電源を供給する電源供給端子VEEには、
例えば、−5Vの電圧が供給されているが、この接続試験
の場合は、被試験回路には電源を接続せず、電源供給端
子VEEとアース端子Ｇは、いずれも試験器のアースＧに
接続される。

そして、電圧／電流試験器（以下、試験器と称する）
Ｔで、この出力信号端子11と入力信号端子21間の接続線
３の接続を試験する。

出力信号端子11または入力信号端子21に試験器Ｔの接
触針Ｐを当て、試験器Ｔの抵抗計Ｍの指示によって両端
子11,21間の接続の良否を判定する。

例えば、試験器Ｔは−1Vの電源と抵抗計Ｍをもち、入
力端子21に当てた接触針Ｐとアース間に試験器Ｍを介し
て流れる電流を抵抗値に換算して計器に表示される。

この場合、接触針Ｐには試験器Ｐの電圧−1Vが印加さ
れており、出力信号端子11にもこの電圧が印加されるこ
とになる。

試験器Ｔには電流ｉが流れるが、この電流ｉは回路1,
2の半導体素子、抵抗等を流れ、この電流ｉの大きさが
抵抗値に換算される。

そして、この接続試験では回路の部品定数が決まって
いるので、回路によって試験器Ｔが示す抵抗値は、所定
の値を示し、所定値が表示されれば、回路間の接続が確
認されることになる。

〔発明が解決しようとする課題〕

しかし、このよう従来の方法では、第２図の点線のよ
うに、回路保護のために回路1,2の出力信号端子11およ
び入力信号端子21にダイオードD1〜４が接続されると、
ダイオードD2とD4は導通して試験電流の分岐回路を形成
し、試験器Ｔは０、あるいは所定値より低い抵抗値を示
し、抵抗値の測定ができず、従って接続の良否を判定す
ることが不可能になる。

本発明は、このような点に鑑みて創作されたものであ
って、回路保護ダイオードの影響をなくして正しい試験
が行えるようにする方法を提供することを目的としてい
る。

〔課題を解決するための手段〕

上記した目的を達成するため、試験すべき回路の電源
供給端子と試験器のアース間に補助電源を接続し、回路
の保護ダイオードに順方向電圧降下より小さい電圧が印
加するようにする。

〔作 用〕

ダイオードは順方向に電圧が印加されても所定の電圧
値、即ち順電圧降下以内では電流を流さない。

従って、回路保護ダイオードに印加される電圧がこの
電圧以内であれば、ダイオードの影響はなくなり、見掛
け上ダイオードがない回路と等価な回路となる。

試験器のアースと回路の電源供給端子との間に所要の
電圧を挿入することによってこのような回路状態にする
ことができる。

即ち、ダイオードに印加される電圧は、この挿入され
た補助電圧と試験器の電圧との差となり、この電圧差は
順方向のダイオードに対して不感電圧で、ダイオードは
動作しない状態で試験することになる。

〔実 施 例〕

第１図は本発明の回路間接続試験方法の一実施例を説
明する図を示す。

なお、全図を通じて同一符号は同一対象物を示す。

第１図のように、回路1,2の電源供給端子Ｇと試験器
ＴのアースG0との間に−0.3Vの電圧を印加するよう補助
電源VCを接続する。

このようにすると、試験器Ｔの電圧−1Vが接触針Ｐ
で、入力信号端子21に印加された時、ダイオードD2,D4
には、順方向に0.7Vが印加されることになる。

ダイオード順方向電圧降下は約0.8Vでこの電圧以下の
電圧が印加されることになり、ダイオードＤは見掛け上
ないのに等しい。

一方、出力信号端子11と入力信号端子21は試験器Ｔの
電圧そのまま印加されていて、ダイオードD1,D3は試験
器Ｔの印加電圧に対しては逆方向に接続されているので
試験には無関係である。

即ち、回路1,2はこれらのダイオードＤが接続されて
いない場合と等価な回路となり、従来と同じ試験を行う
ことができる。

また、保護ダイオードを２個以上直列に接続して順方
向電圧降下値を上げ、必要に応じて試験器電圧、あるい
は補助電源電圧との調整を行うことがある。

一般回路が過大電圧によってその構成部品が破壊され
るのを防止するために、LSI回路素子に限らず、上記し
たようにダイオードを回路の入出力端子に接続される場
合、本発明がこのような回路の入出力端子間の接続試験
に適用できるのは云うまでもない。

〔発明の効果〕

以上の説明から明らかなように本発明によれば、回路
の保護に必要とするダイオードではあるが、回路試験の
ために邪魔なダイオードを試験測定に無関係にすること
によって、正確な試験評価を行うことができ、実用的に
極めて有用である。

【図面の簡単な説明】 第１図は本発明の一実施例を説明する図、 第２図は従来例の方法を説明する図である。 図において、 1,2は回路、３は接続線、11は出力信号端子、21は入力
信号端子、Ｄは保護ダイオード、VCは補助電源を示す。

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】回路の出力信号端子および入力信号端子そ
   れぞれと該回路の電源供給端子とアース間にダイオード
   を接続してなる２つの回路の、一方の回路の出力信号端
   子と、他の回路の入力信号端子間を接続する接続線の接
   続試験において、前記回路の電源供給端子と試験器アー
   ス間に補助電源を接続し、前記ダイオードに順方向電圧
   降下より小さい電圧が印加するようにしたことを特徴と
   する回路間接続試験方法。