JP2919147B2 - 半導体集積回路の試験方法 - Google Patents
半導体集積回路の試験方法Info
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- JP2919147B2 JP2919147B2 JP4003494A JP349492A JP2919147B2 JP 2919147 B2 JP2919147 B2 JP 2919147B2 JP 4003494 A JP4003494 A JP 4003494A JP 349492 A JP349492 A JP 349492A JP 2919147 B2 JP2919147 B2 JP 2919147B2
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- semiconductor integrated
- integrated circuit
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体集積回路の試験
方法に関する。
方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の半導体試験装置は、図3に示す様
に、同時に複数ピン3をDC測定する場合、全てのDC
特性測定器1に同じ設定、すなわち印加電圧、印加電
流、判定値を与えることにより、同種類のピン13の試
験項目を、同時に測定する機能を有している。
に、同時に複数ピン3をDC測定する場合、全てのDC
特性測定器1に同じ設定、すなわち印加電圧、印加電
流、判定値を与えることにより、同種類のピン13の試
験項目を、同時に測定する機能を有している。
【0003】すなわち、被測定デバイス2の被測定ピン
3の内4ピン毎それぞれDC特性測定器1のDC1より
DC4に接続して、4ピン同時に同一試験の短縮を計っ
ている。
3の内4ピン毎それぞれDC特性測定器1のDC1より
DC4に接続して、4ピン同時に同一試験の短縮を計っ
ている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】従来の試験装置では、
同時に複数ピンをDC測定する場合、印加電圧が同じで
あることから、図4に示す様な、被測定デバイス2のと
なりあうピン間のショートチェックを兼ねたピンリーク
試験項目では、ピン間ショートがあっても電流は流れな
い為、不良を検出できず、1ピン毎測定を行わねばなら
ないという問題があった。
同時に複数ピンをDC測定する場合、印加電圧が同じで
あることから、図4に示す様な、被測定デバイス2のと
なりあうピン間のショートチェックを兼ねたピンリーク
試験項目では、ピン間ショートがあっても電流は流れな
い為、不良を検出できず、1ピン毎測定を行わねばなら
ないという問題があった。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明の特徴は、半導体
集積回路の複数ピンのそれぞれにDC特性測定器を接続
してそれぞれの該ピンに接続された該半導体集積回路の
内部回路の状態を測定する際に、前記複数のDC特性測
定器はそれぞれ独立した印加電圧、印加電流および判定
値を与える機能を有し、隣合うピンには極性が同じで互
いに異なる電圧を印加してピン間のショート状態の測定
を可能とした半導体集積回路の試験方法にある。
集積回路の複数ピンのそれぞれにDC特性測定器を接続
してそれぞれの該ピンに接続された該半導体集積回路の
内部回路の状態を測定する際に、前記複数のDC特性測
定器はそれぞれ独立した印加電圧、印加電流および判定
値を与える機能を有し、隣合うピンには極性が同じで互
いに異なる電圧を印加してピン間のショート状態の測定
を可能とした半導体集積回路の試験方法にある。
【0006】
【実施例】本発明について図面を参照して説明する。図
1は、本発明の一実施例に用いる試験装置のDC特性測
定器のブロック図である。4台のDC特性測定器1のD
C1よりDC4にて、同時に、被測定デバイス2の被測
定ピン3の内の4ピンを測定することができる。
1は、本発明の一実施例に用いる試験装置のDC特性測
定器のブロック図である。4台のDC特性測定器1のD
C1よりDC4にて、同時に、被測定デバイス2の被測
定ピン3の内の4ピンを測定することができる。
【0007】この際、各測定器より独立した印加値(F
ORCE1〜FORCE4)とそれぞれに対応した判定
値(LIMIT1〜LIMIT4)を与えられる。
ORCE1〜FORCE4)とそれぞれに対応した判定
値(LIMIT1〜LIMIT4)を与えられる。
【0008】尚、印加値、判定値を同じにすれば従来機
能に等しい。これより、図2に示す様に、被測定デバイ
ス2のとなりあうピン間のショートチェックを兼ねたピ
ンリーク試験項目でもピン間シュートが起こった場合、
印加電圧の差による電流Iにてショート不良を検出する
ことができる。ここでは印加電圧をDC1とDC3を
5.5V、DC2とDC4を5.0Vとしている。
能に等しい。これより、図2に示す様に、被測定デバイ
ス2のとなりあうピン間のショートチェックを兼ねたピ
ンリーク試験項目でもピン間シュートが起こった場合、
印加電圧の差による電流Iにてショート不良を検出する
ことができる。ここでは印加電圧をDC1とDC3を
5.5V、DC2とDC4を5.0Vとしている。
【0009】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、DC特性
測定器の設定を同テスト項目においても独立して与える
ことから、前述したピン間ショートテストを兼ねたリー
クテスト等でも複数ピンを同時に試験することができる
為、試験時間を短縮できるという効果を有する。
測定器の設定を同テスト項目においても独立して与える
ことから、前述したピン間ショートテストを兼ねたリー
クテスト等でも複数ピンを同時に試験することができる
為、試験時間を短縮できるという効果を有する。
【図1】本発明の実施例に用いるDC測定器のブロック
図。
図。
【図2】本発明の実施例のリーク試験項目の測定回路
図。
図。
【図3】従来技術のDC測定器のブロック図。
【図4】従来技術のDC測定器によるリーク試験の測定
回路図。
回路図。
1 DC特性測定器 2 被測定デバイス 3 被測定ピン 4 ピン間ショート部
Claims (1)
- 【請求項1】 半導体集積回路の複数ピンのそれぞれに
DC特性測定器を接続してそれぞれの該ピンに接続され
た該半導体集積回路の内部回路の状態を測定する際に、
前記複数のDC特性測定器はそれぞれ独立した印加電
圧、印加電流および判定値を与える機能を有し、隣合う
ピンには極性が同じで互いに異なる電圧を印加してピン
間のショート状態の測定を可能とした事を特徴とする半
導体集積回路の試験方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4003494A JP2919147B2 (ja) | 1992-01-13 | 1992-01-13 | 半導体集積回路の試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4003494A JP2919147B2 (ja) | 1992-01-13 | 1992-01-13 | 半導体集積回路の試験方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05190637A JPH05190637A (ja) | 1993-07-30 |
JP2919147B2 true JP2919147B2 (ja) | 1999-07-12 |
Family
ID=11558894
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4003494A Expired - Fee Related JP2919147B2 (ja) | 1992-01-13 | 1992-01-13 | 半導体集積回路の試験方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2919147B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3246543B2 (ja) * | 1996-05-28 | 2002-01-15 | 日本電気株式会社 | 半導体装置の試験方法 |
JP3396834B2 (ja) * | 1997-12-17 | 2003-04-14 | 日本電気エンジニアリング株式会社 | Ic接続試験方法 |
JP4978779B2 (ja) * | 2007-04-09 | 2012-07-18 | 横河電機株式会社 | 半導体集積回路の試験方法及びicテスタ |
JP5003955B2 (ja) * | 2007-11-21 | 2012-08-22 | 横河電機株式会社 | Icテスタ |
KR102298923B1 (ko) | 2017-05-24 | 2021-09-08 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체 장치, 테스트 방법 및 이를 포함하는 시스템 |
-
1992
- 1992-01-13 JP JP4003494A patent/JP2919147B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH05190637A (ja) | 1993-07-30 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19990330 |
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R250 | Receipt of annual fees |
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LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |