JPH03200076A - プリント配線基板のショート位置検出装置 - Google Patents

プリント配線基板のショート位置検出装置

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JPH03200076A
JPH03200076A JP1343283A JP34328389A JPH03200076A JP H03200076 A JPH03200076 A JP H03200076A JP 1343283 A JP1343283 A JP 1343283A JP 34328389 A JP34328389 A JP 34328389A JP H03200076 A JPH03200076 A JP H03200076A
Authority
JP
Japan
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land
electrode
electrodes
measurement
memory
Prior art date
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Pending
Application number
JP1343283A
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English (en)
Inventor
Sumio Matsushita
松下 澄夫
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Hioki EE Corp
Original Assignee
Hioki EE Corp
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Publication date
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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、プリント配線基板のショー1〜位置検出装
置に関するものである。
〔従 来 例〕
電子機器等においては、部品類の高密度実装を図るため
基板の片面もしくは両面に異なったパターンを近接して
形成したプリント配線基板や共通の電源供給路、接地路
等を面状のパターンとなして基板の内部に形成した多層
プリント配線基板が必要に応じて使用されている。
このような基板については、異なったパターンがスルー
ホール部等で互いにショートしていないことをあらかじ
めチエツクしておく必要があり、それ用の装置として例
えば特開平1−182764号公報のショート位置検出
装置が知られている。
同装置なの概要を手短かに説明すると、その構成は第6
図に示すように定電流発生部1と電圧測定部2、及び表
示部3、からなり、定電流発生部1と電圧測定部2には
それぞれ被検査基板4の図示しないパターンに接触する
電流供給電極1a、 lbと電圧検出電極2a、 2b
が備えられている。
・次に、ショート位置の検出方法を第7図(A)により
説明すると、例えば異なったパターンPとQがそれぞれ
被検査基板の一方の面と他方の面に形成され、パターン
PのスルーホールPXにパターンQが接触してショート
状態になっているものとする。
ここで、例えば一方のパターンPのスルーホールP0に
電流供給電極1aと電圧検出電極2aを接触させ、他方
のパターンQのスルーホールQ0には電流供給電極1b
を接触させる。この状態で装置を作動させ、例えば上記
電極1aを十の極性(ソース側)、電極1bを−の極性
(シンク側)とすると、電極1aから加えられる電流は
パターンP上を流れて、ショートしているスルーホール
PXからパターンQに流れ込み、電極1bを経て電流発
生部1へ戻ることになる。
よって、他の電圧検出電極2bをパターンP上のスルー
ホール位置からP、、P3.・・・と順次接触させると
、各スルーホールにおいては当該スルーホールを経由し
て流れる電流に、当該スルーホールから上記スルーホー
ルP0までの抵抗を乗じた値の電圧降下が検出される。
この場合、スルーホールPXにおいては上記スルーホー
ルP、からの距離が最も長くなるので、他のスルーホー
ルに比べると最大の電圧降下が検出され、スルーホール
Pxヤ11PX+2等には電流が流れないためスルーホ
ールpxと同電位になる。よって当該スルーホールPx
がショート状態になっていることがわかる。
なお、上記電圧検出電極2bを任意のスルーホールP。
に固定し、電流供給電極1aと電圧検出電極28とを一
緒にしてPoからP□、P2.・・・と移動させてもよ
い。この場合、各スルーホール位置で電圧降下が検出さ
れるが、スルーホールPxに達すると全電流が直接パタ
ーンQ俯に流れ、パターンP側には流れなくなる。よっ
てPnとPxの間の電圧降下がゼロとなり、同様にショ
ート位置を検出することができる。
第7図(B)は、例えば異なった2つの面状パターンP
とQが基板の内部に形成された多層プリント配線基板の
一例であるが、パターンPのスルーホールP、においで
パターンQがショート状態になっているものとすると、
そのショート位置検出方法は上記第7図(A)の場合と
同様である。
〔発明が解決しようとする課題〕
上記従来装置は例えば一方のパターンのスルーホールラ
ンドにおける電圧降下を順次測定し、その最大値(又は
ゼロ)を検出することによりショート位置が簡単にわか
るという長所がある。
しかしながら上記の装置においては、例えば測定位置の
ランドをその都度パターン図と照合して確認した後電極
を当てて測定を行ない、測定後はそのデータをランド番
号などとともに逐一記録して後から最大値が探せるよう
にしておく必要があるにのため測定点が多い場合には多
大の手間がかかり、検査終了までに長時間を要する。ま
た、測定洩れのランドがあったりデータの書き間違いな
どにより、最大値の判断ミス等も生じることがある。
この発明は上記の事情を考慮してなされたもので、その
目的は、所定のランドに対して上記電極類の移動、接触
、及び測定等を自動的に行なうようにした、高速で誤判
断の無いショート位置検出装置を提供することにある。
〔課題を解決するための手段〕
この発明の実施例が示されている第1図を参照すると、
上記の課題を解決するため例えば下記イないしハの手段
を備えている。
イ、電流供給電極12aと12b、及び電圧検出電極1
3aと13bをユニット駆動部14の出力によりそれぞ
れ被検査基板4の横方向(X)と縦方向(Y)へ移動可
能に保持する電極移動ユニット11゜口、上記被検査基
板4の各測定対象ランドのX。
Y座標位置データをあらかじめ保持するメモリ17゜ハ
、同メモリ17の座標位置デタータを順次読み出してユ
ニット駆動部14に与え、その出力により上記電極移動
ユニットの電極12a、 13aと12bをそれぞれ上
記座標位tRデータの指定するランドに固定的に接触さ
せるとともに、他の電極13bを測定ステップごとに同
座標位置データの指定する各ランドへ順次移動して測定
路を閉成させる制御部15゜〔作   用〕 上記の手段を備えることにより、メモリ17が保持する
測定対象ランドの位置データに従って所定の電極が自動
的に各ランドを順次移動し、その電圧降下を測定するこ
とが可能となる。
よって、前後の測定データを逐一比較しながらより大き
いデータを次の測定に対する比較用としてメモリに残す
ようにすると、最終ランドの測定が終わった時点でメモ
リに残されたデータが最大値となり、この最大値が測定
されたときのランド番号位置をショート状態と判断する
ことができる。
〔実 施 例〕
上記第1図を再び参照すると、この発明によるショート
位置検出装置は例えば電極移動ユニット11、定電流発
生部12.電圧測定部13、ユニット駆動部14、制御
部15、データ入力部16、メモリ17、及び表示部1
8等を備えている。
上記電極移動ユニット11はその要部の一例が第2図に
示されているが、X□〜X4及びX1′〜X4′は図示
しないフレームに対向して固定された例えば横方向の案
内レールで、21〜24及び21′〜24′は同レール
に沿って移動するベースである。
Y1〜Y4は例えばその両端が上記1対のベースに固定
された縦方向の案内レールであって、25〜28は同レ
ールに沿って移動するベースである。なお、これらのベ
ースにはそれぞれ電流供給電極12a、 12bと電圧
検出電極13a、 13bが上下方向へ上昇下降ができ
るように取付けられ、上記各ベースの移動と電極の上下
動の際には、例えばユニット駆動部14から電極移動ユ
ニット11内の図示しないモータへ駆動電流が与えられ
るようになっている。
ここで、第3図(A)を併せて参照しながら測定の一例
を説明すると、同図に示すように例えば被検査基板4の
片面に形成された2つのパターンP。
0間のショート位置を探索するような場合には、パター
ン作成の母型(マスク)等により、まず端部の適当なラ
ンドを選択して原点となし、そのX。
Y座標を0,0とする。次に、測定点となるパターンP
上の各ランドとパターンQ上の任意の1つのランドにラ
ンド番号P0. Pl、 P2.・・・及びQ。
を設定し、上記原点に対するこれらのランドのX。
Y座標を求める。これを第4図(A)に示す。
ここで、例えばランドpHlにはソース側(H電位)の
電流供給電極12aと一方の電圧検出電極13aを接触
させ、ランドQ。にはシンク側(L電位)の電流供給電
極12bを接触させるとともに、他方の電圧検出電極1
3bは移動用電極として例えは最小ランド番号のP□か
ら1測定ステツプごとに順次ランド番号の大きい方へ走
査させるものとすると、測定ステップと各電極の位置座
標は第4図(B)のようになる。同図では見やすくする
ため電極座標をランド番号で表わしているが、実際の座
標データは欄外に括弧付きで記載しである。
この実施例においては、第4図(A)に示す原点の位置
データと第4図(B)に示す各データを例えばデータ入
力部16(第1図)に入力してメモリ17の図示しない
位置エリアに書き込むようにしているが、外部装置など
に所望の位置データが備わっている場合には直接的にメ
モリ17へ書き込むようにしてもよい。
測定が開始されると、例えば制御部15はメモリ17に
書き込まれた座標テーブル(第4図(B))から測定ス
テップごとに各電極の座標データを読み出してユニット
駆動部14に与える。これにより、ユニット駆動部14
は前記したように各電極を所定のランド位置まで移動さ
せて接触させる。上記第4図(B)の例では、電極12
aと13a、及び電極12bはそれぞれランドPa=Q
oに固定され、電極13bが移動するようになっている
また、上記制御部15は定電流発生部12へ指令を発し
て測定用のiIJ′流定電滴定電流させ、電圧測定部1
3に対しては上記固定電極13aと移動電極13b間の
電圧降下Vxを測定させるようなっている。
更に制御部15は、測定ステップが進行するたびに上記
電極の移動と電圧測定の制御を行なうとともにステップ
の前後における電圧測定データを比較し、いずれか大き
い方のデータVXを最大値V maxとして例えばその
ランド番号とともにメモリ17のデータエリアに保持さ
せるようになっている。ただし、最初の測定においては
その前にメモリ17のデータエリアがいったんクリアさ
れるようなっているので、例えば測定ステップ1の測定
データV、はV+naxとしてそのランド番号P1とと
もにメモリへ保持される。
測定ステップ2以降においては上記のように前後のデー
タを比、較し、小さい値のデータが無視されて大きい値
のデータがメモリ17に残され、更により大きい測定デ
ータかえられたらそれに更新されるようになっている。
よって、最終ステップnにおける測定が終わり、そのデ
ータV X (n )とメモリ17に保持されている最
大値Vmaxを比較し、例えば Vxtn+<Vmax であったとすると、このVmaxを測定値として得たラ
ンド、すなわち上記第3図(A)、(B)の例ではパタ
ーンPのランドPXにおいてパターンQがショート状態
となっていることが直ちにわかる。
上記PXなどショート位置を表わすランド番号は表示部
18に表示される。
なお、メモリ17に保持した最大測定値Vmax、及び
そのランド番号等は、例えば外部のプリンタに転送して
プリントアウトするようにしてもよい。
また、この実施例では4つの電極を別個に設けた場合が
示されているが、例えば同一ランドP。に固定的に接触
する2つの電極12aと13aを1つの保持筒内に一体
的に収容し、X、Yの移動機構を簡。
素化するようにしてもよい。第3図(B)は例えば両面
基板又は多層基板の例であるが、測定方法は第3図(A
)と同様なのでその説明は省略する。
ちなみに、第5図には上記最大電圧降下の位置、すなわ
ちショート位置の検出をソフトウェアにて制御する場合
の一例が流れ線図で示されている。
〔効   果〕
以上、詳細に説明したように、この発明においては測定
用の直流定電流を供給する電流供給電極と2点間の電圧
降下を検出する電圧検出電極とを、被検査基板に対して
、その横方向(X)と縦方向(Y)沿いにそれぞれ移動
可能に保持する電極移動ユニットを備え、メモリにあら
かじめ人力された上記基板の各測定対象ランドのX、Y
座標位置データを制御部が測定ステップごとに順次読み
出してユニット暉動部に与えるようになっている。
これにより、同ユニット駆動部から上記電極移動ユニッ
トへ駆動電流が送出され、2つの電流供給電極と一方の
電圧検出電極とは座標データにて指定された異なる2つ
のランドに固定的に接触し、他方の電圧検出電極はステ
ップごとに座標データの指定するランドを順に移動して
接触し測定路を閉成する。定電流発生部は上記2つの電
流供給電極が接触するランドを介して被検査基板に測定
用の直流定電流を加え、電圧測定部は上記2つの電圧検
出電極が接触するランド間の電圧降下を自動的に測定す
るとともに、制御部はステップごとに前後の測定データ
を比較し、より大きいデータを最大値となして当該ラン
ド番号とともにメモリに保持させ、更に大きいデータが
得られたらそれを更新するようになっている。
したがってこの発明によれば、多数のランドを有するパ
ターンでも測定は短時間で自動的に終了し、かつ、ショ
ート位置は測定電圧の最大値を電気的に検出して判定さ
れる。
このため、人為的な判定ミスや測定洩れ等が無く、高速
、高精度で、かつ極めて使い勝手のよいショート位置検
出装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図ないし第5図はこの発明の実施例に係り・、第1
図はその装置構成を示すブロック線図、第2図は電極移
動ユニットの要部梢成図、第3図(A)及び第3図(B
)はショート位置検出方法説明用のパターン図、第4図
(A)は各測定対象ランドX。 Y座標位置データの説明図、第4図(B)はメモリ内に
おける各電極の位置データテーブル、第5図はショート
位置検出をソフトウェアにて制御する場合の一例を示す
フローチャート、第6図は従来装置の構成を示すブロッ
ク線図、第7図(A)及び第7図(B)は従来装置にお
けるショート位置検出方法説明用のパターン図である。 図中、4は被検査基板、11は電極移動ユニット、12
は定電流発生部、12a、 12bは電流供給用電極、
13は電圧測定部、13a、 13bは電圧検出用電極
、14はユニット駆動部、15は制御部、17はメモリ
である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)測定用の直流定電流を出力する定電流発生部及び
    被測定2点間の電位差を測定する電圧測定部と、被検査
    プリント配線基板の異なった2つのパターン上のランド
    にそれぞれ接触して上記定電流発生部の出力電流を上記
    パターンに加える第1、第2の電流供給用電極と、上記
    第1の電極が接触するランドと同一ランドに接触する第
    3の電圧検出用電極、及び同ランドが形成されている上
    記一方のパターン上の各ランドに順次接触する第4の電
    圧検出用電極とを含み、該第3及び第4電極が接触する
    2つのランド間の電位差を上記電圧測定部にて測定し、
    その最大値により上記パターンにおけるショート状態の
    ランドを検出するプリント配線基板のショート位置検出
    装置において、上記プリント配線基板の横方向(X)と
    縦方向(Y)に沿って上記第1ないし第4の各電極をそ
    れぞれ移動可能に保持する電極移動手段と、 上記第1ないし第3の電極が上記基板のパターンに固定
    的に接触するランドのX,Y座標位置データ、及び上記
    第4の電極が移動的に接触する各ランドのX,Y座標位
    置データをあらかじめ保持するメモリと、 該メモリの保持する上記位置データを測定ステップごと
    に順次読み出す制御部と、 同制御部から与えられる位置データに基づいて上記電極
    移動手段へ出力を送出し、上記各電極をそれぞれの座標
    位置に駆動して所定の測定路を順次閉成させるユニット
    駆動手段とを備えていることを特徴とするプリント配線
    基板のショート位置検出装置。
JP1343283A 1989-12-28 1989-12-28 プリント配線基板のショート位置検出装置 Pending JPH03200076A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020169923A (ja) * 2019-04-04 2020-10-15 株式会社岩崎電機製作所 短絡箇所探索方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59168375A (ja) * 1983-03-07 1984-09-22 インテグリ―テスト コーポレイション 電気接続回路網のテスト方法及び装置
JPH01182764A (ja) * 1988-01-14 1989-07-20 Seiko Instr & Electron Ltd プリント配線板の短絡位置検出装置

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