JPS61209369A - 印刷配線板の検査装置 - Google Patents

印刷配線板の検査装置

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Publication number
JPS61209369A
JPS61209369A JP60049273A JP4927385A JPS61209369A JP S61209369 A JPS61209369 A JP S61209369A JP 60049273 A JP60049273 A JP 60049273A JP 4927385 A JP4927385 A JP 4927385A JP S61209369 A JPS61209369 A JP S61209369A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
axis
circuit
sense
point
Prior art date
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Pending
Application number
JP60049273A
Other languages
English (en)
Inventor
Shinkichi Yamada
信吉 山田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP60049273A priority Critical patent/JPS61209369A/ja
Publication of JPS61209369A publication Critical patent/JPS61209369A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/2806Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は、印刷配線板の配線パターンを電気的に検査す
る。印刷配線板の検査装置に関するものである。
〔発明の技術的背景とその問題点〕
印刷配線板の配線パターンを検査するとき、従来は基板
の各端子に電気的接触子を配置し、任意の1端子に試験
信号を印加して他の端子の信号を検出し、信号が検出さ
れることによってその端子が信号印加端子と導通してい
ることを判定し、あらかじめ用意し配線パターンデータ
と比較して異常の有無を判別し、これを全パターンに対
応する回路だけ繰返している。
従来の検査装置の一例を第4図に示す。
第4図において、1は信号印加端子位置をコード信号で
指定すると共に導通の判別を行うコントローラ、2はコ
ントローラ1からのコード信号をドライブ選択回路2−
1でデコードし、ドライブ回路2−2で試験電圧レベル
に変換して指定された端子に印加すると共に、導通信号
をセンス回路2−3で検出し、センス選択回路2−4で
コードに対応した導通信号をコントローラ1に送信する
スイッチング部、3はスッチング部2と印刷配線板4と
の端間を接続する治具であり、4が検査すべき印刷配線
板である。
コントローラ1はブロック単位で順次コード信号を指定
し、これによって全体の配線パターンの検査が行われる
が、印刷配線板の試験端子数は数千以上になることがあ
り、このためスイッチング部の回路構成が膨大なものと
なって装置が大きくなるばかりでなく、検査に時間がか
かるという問題がある。
〔発明の目的〕
本発明は、スイッチング部にマトリックス回路を用いる
ことによって回路構成を簡単にすると共に検査の作業性
を向上する合理的な印刷配線板の検査装置を提供するこ
とを目的としている。
〔発明の概要〕
本発明は、配線パターン上の各端子に順次試験信号を印
加し、その各端子の信号を検出して端子間の導通の良否
を判別する印刷配線板の検査装置において、信号印加点
をX軸とY軸とを組合せて選択するドライブ選択回路と
、信号印加点との間の導通を検査すべき信号検出点を選
択するセンス選択回路と、上記ドライブ選択回路とセン
ス選択回路とによって制御され信号印加点と信号検出点
との間の導通の有無に応じてオンオフ信号を発生する共
通マトリックス回路と、上記ドライブ選択回路およびセ
ンス選択回路に選択指令をあたえると共に上記共通マト
リックス回路の発生するオンオフ信号を基準配線パター
ンデータと比較して配線状態の良否を判別するコントロ
ーラを備え、コード化した選択信号を用いて多数の端子
を有する配線パターンを能率よく検査できるようにした
ものである。
〔発明の実施例〕
第1図は本発明の一実施例を示す系統図である6第1図
において、スイッチング部2は、コントローラ1から信
号印加点として指定されたコードを電源のN極を共通に
して横軸で選択するドライブ選択X軸回路2−1−1、
同じく電源のP極を共通にして縦軸で選択するドライブ
選択Y軸回路2−1−2、コントローラ1から信号検出
点として指定されたコードを電源のN極を共通にして横
軸で選択するセンス検出X軸回路、同じく電源のP極を
共通にして縦軸で選択するセンス選択Y軸回路および共
通マトリックス回路2−5から構成されており、他は従
来の第4図と同じである。
共通マトリックス回路2−5はドライブ選択X軸信号D
Xおよびドライブ選択Y軸信号DYに対応する印刷配線
板上の端子に試験信号を印加し、センス検出X軸信号S
Xおよびセンス選択Y軸信号SYに対応する検出点の信
号をコントローラ1でチェックし、信号印加点および信
号検出点をサンプリングすることによって配線パターン
の検査が行われる。
第2図は第1図における共通マトリックス回路2−5の
詳細の一例を示したものである。
第2図は簡単のために、X軸、Y軸とも2本ずつとし、
4個のスイッチングブロックA、B、C。
Dから構成されている。
QAI、QBI、QCI、QDIは各ブロックのドライ
ブ用NPNトランジスタであり、それぞれドライブ選択
信号oxiとDYI、DXIとDY2.DX2とDYI
、DX2とDY2トが共にオンのとき導通し、ドライブ
選択信号のX軸、Y軸の組合せに対応する信号印加点を
選択してそれぞれの端子a、b、Q、dを直流電源のN
側に接続する。
R^1.RBI、RCI、RC2はベース抵抗、oAx
、oBl、、oct。
001は回り込み防止用ダイオードである。
QA2.QB2.QC2,QD2は各ブロックのセンス
用PNPトランジスタであり、それぞれセンス選択信号
SYI、 SY2とセンス検出信号SXI、 SX2に
対応するブロックA(SYI、5XI)、 B(SY2
,5XI)、 C(SYI、5X2)。
D (SY2,5X2)の端子a、b、c、d、のどれ
かが信号印加点の端子と導通しているとき、センス選択
信号SYI、 SY2に対応するそれぞれのセンス検出
信号SXIまたはSX2がオンとなる。
例えばa点に信号電圧を印加して、センス選択信号SY
2を入力すると、b点がa点と導通しておれば、センス
電流S□が流れてPNP トランジスタQB2が導通し
、センス検出信号SXIがオンとなる。
この場合d点がa点と導通しておれば同じようにしてセ
ンス検出信号SX2がオンとなり、導通していなければ
SX2はオフのままである。
これによってセンス選択軸SY2の各センス検出軸SX
1.5X2のオンオフ状態が判別される。
従ってコントローラ1によってドライブ選択軸(DX、
 DY)およびセンス選択軸(sy)を順次切換えてセ
ンス検出軸(SX)の信号のオンオフを判別し、あらか
じめ用意した基準配線パターンデータと比較すれば、パ
ターンの導通状態の良否を能率よく検査することができ
る。
第3図はコントローラ1によって行われる上記の動作手
順をフローチャートで示したものである。
なお上記実施例では共通マトリックス回路2−5をトラ
ンジスタを用いて構成しているが、MOS −FETそ
の他の素子を用いて構成することも可能である。
【5P!明の効果〕 以上説明したように本発明によれば、コード化したドラ
イブ回路とセンス回路を重ねた共通マトリックス回路を
用いて配線パターンの電圧印加点と信号検出点をコント
ローラによって順次走査して導通状態を判別し、これに
よって装置を小形化できると共に端子数の多い複雑な配
線パターンを能率よく検査できる高性能な印刷配線板の
検査装置が実現できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す系統図、第2図は第1
図における共通マトリックス回路の一例を示す詳細図、
第3図は第1図におけるコントローラの動作を示すフロ
ーチャート、第4図は従来の印刷配線板の検査装置の一
例を示す系統図である。 1   コントローラ 2   スイッチング部 2−1−1   ドライブ選択X軸回路2−1−2  
ドライブ選択Y軸回路 2−4−1  センス検出X軸回路 2−4−2  センス選択Y軸回路 2−5   共通マトリックス回路 3   治具 4   印刷配線板 A、B、C,D  スイッチングブロックQAI、QB
I、QCI、QDI   NPN トランジスタQA2
.QB2.QC2,Q10   PNP トランジスタ
(8733)  代理人 弁理士 猪 股 祥 晃第 
 1  図 第  2  図 第  3  図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 配線パターン上の各端子に順次試験信号を印加し、他の
    各端子の信号を検出して端子間の導通の良否を制別する
    印刷配線板の検査装置において、信号印加点をX軸とY
    軸とを組合せて選択するドライブ選択回路と、信号印加
    点との間の導通を検査すべき信号検出点を選択するセン
    ス選択回路と、上記ドライブ選択回路とセンス選択回路
    とによって制御され信号印加点と信号検出点との間の導
    通の有無に応じてオンオフ信号を発生する共通マトリッ
    クス回路と、上記ドライブ選択回路およびセンス選択回
    路に選択指令をあたえると共に上記共通マトリックス回
    路の発生するオンオフ信号を基準配線パターンデータと
    比較して配線状態の良否を判別するコントローラを備え
    たことを特徴とする印刷配線板の検査装置。
JP60049273A 1985-03-14 1985-03-14 印刷配線板の検査装置 Pending JPS61209369A (ja)

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JP60049273A JPS61209369A (ja) 1985-03-14 1985-03-14 印刷配線板の検査装置

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JPS61209369A true JPS61209369A (ja) 1986-09-17

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JP60049273A Pending JPS61209369A (ja) 1985-03-14 1985-03-14 印刷配線板の検査装置

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