JPS62168068A - プリント基板検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明はプリント基板検査装置に関し、特にプリント基
板の導体ランドの不良を検出するのに利用されるものの
改良に関する。

〈従来の技術〉 一般に、プリント基板において生しる不良の多くは、そ
の基板上に形成された導体ランドの断線或いはランド間
の短絡にある。

そこで、その不良を検査する装置が必要となる。

しかしながら、かかる従来の検査装置では、導体ランド
の導通状態だけしか検査しないため、導体ランドの一部
が導通を保ちつつ大きく欠落しているような潜在的不良
個所までもは検出することができず、結局のところ上記
のような潜在的不良個所の検査は肉眼による視覚検査等
に頼るしかなかった・ このような問題点を解消するため、従来第４図に示すよ
うなプリント基板検査装置が案出されている。

これを説明すると、プリント基板検査装置は、定電流電
源１、パルス発生器２、パワートランジスタ３、電流検
出用分流抵抗４、比較器５、論理ゲート（アンド回路）
６等によって構成される。

ここで、定電流電源１は、検査しようとするプリント基
板７の導体ランド８の一端にパワートランジスタ３を介
して接続される。パルス発生器２は、第５図に示すよう
に、２つのタイミングパルス信号ＰＬ、Ｐ２を出力する
。パワートランジスタ３はパルス発生器２からの一方の
パルス信号Ｐ１によって導通制御される。これにより、
定電流電源５による定電流が所定時間だけ導体ランド８
に通電させられるようになっている。

導体ランド８の他端は分流抵抗４を介して定電流電ｒｉ
、１の電流帰路（接地側）に接続されている。

分流抵抗４には導体ランド８を流れる電流１゜に比例す
る電圧が分圧される。この分圧電圧は比較器５の一方の
比較入力端子（−）に与えられる。

比較器５の他方の比較入力端子（＋）には所定の基準電
圧Ｖｒが与えられる。比較器５の比較出力Ａは、論理ゲ
ート６を経て出力される。論理ゲート６は、上記パルス
発生器２からの他方のパルス信号Ｐ２によって、そのゲ
ート動作が制御される。こ：で、その他方のパルス信号
Ｐ２は、上記一方のパルス信号Ｐ１が立ち下がる直前に
発せられるようになっている。これにより、上記比較器
５の比較出力Ａは、上記定電流電源１による通電時間の
終了直前に抽出されて出力されるようになっている。そ
して、この抽出された比較出力がプリント基板検査装置
の判定出力Ｂとなる。

尚、分流抵抗４と比較器５とで電流検出手段を構成し、
論理ゲート（アンド回路）６によりゲート回路を構成し
ている。

かかる構成の動作は、まず、検査された導体ランド８が
正常な場合には、第５図（Ａ）に示すように、上記パル
ス信号Ｐ２が立ち上がっている間に上記判定出力Ｂが立
ち上がらずにＬ（低レベル）のままでいる。

ところが、第４図に示すように、検査された導体ランド
８が部分的に欠落して断線し易くなっている潜在的不良
個所Ｘがあると、上記定電流１゜を流すことによって、
その不良個所Ｘが僅かに残っている導通部分が溶断され
る。これにより、その不良個所Ｘが明らかな導通不良状
態を呈するようになる。従って、上記比較器５の比較出
力Ａを上記定電流電源ｌによる通電時間の終了直前に抽
出することにより、その不良個所を電気的に確実に検出
することができるようになる。

第５図（Ｂ）は、その潜在的不良個所Ｘがあった場合の
動作状態を示す。即ち、定電流電源１からの電流ＩＯが
通電時間の途中で遮断され、これにより、その通電時間
の終り近くで上記比較器５の比較出力ＡがＬ（低レベル
）からＨ（高レベル）に変化する。この変化がパルス信
号Ｐ２に同期して抽出され、判定出力已に現れる。

以上のようにして、潜在的な不良個所Ｘを、肉眼による
視覚検査によらずに、電気的に確実に検出することがで
きる。

〈発明が解決しようとする問題点〉 しかしながら、このような従来のプリント基板検査装置
にあっては、定電流電源１による電流及びパルス発生器
２により制御される通電時間が一定であるため、検査す
る導体ランド８に対する溶断条件（電流×時間）が必ず
しも最適値とはならず、特に、細線導体に前記溶断条件
を合わせるようにしているため、太線導体に対しては最
適な溶断条件とはならないので、検出能力に劣り、検査
の信頼性が今一つ欠けていた。又、最適な溶断条件とは
ならない結果、被検査品へのストレスが増大するという
欠点もあった。

本発明はこのような従来の問題点に鑑みなされたもので
、導体ランドに対する溶断条件を最適なものとして検査
の信頼性を向上することを目的とする。

く問題点を解決するための手段〉 このため本発明は、潜在的な不良個所をも検査できると
ころのプリント基板検査装置において、第１図に示すよ
うに、導体ランドの直流抵抗とインダクタンスを測定す
る抵抗・インダクタンス測定手段と、該測定手段から出
力される測定値に基づいて該抵抗・インダクタンスによ
って予め定められた前記電流値と通電時間を設定する条
件設定手段と、該条件となるようにプリント基板の導体
ランドに所定の定電流を通電する定電流電源における電
流設定手段と咳定電流電源による通電時間を制御するパ
ルス発生器を制御する制御手段と、を設けた。

く作用〉 そして、上記構成においては、検査する導体ランドの直
流抵抗とインダクタンスを事前に測定して導体ランドの
線の太さや長さ等の状況を調べ、その後、この状況から
予め定められた電流と通電時間とを知るようにし、この
電流と通電時間でもって検査を実行する。従って、最適
な溶断条件で検査を行え、検査の信頼性を向上できる。

〈実施例〉 以下、本発明の一実施例を第２図及び第３図に基づいて
説明する。

尚、第２図において、第４図と同一要素のものには同一
符号を付して説明を簡単にする。

第２図において、プリント基板検査装置は、定電流電源
１、パルス発生器２、パワートランジスタ３、電流検出
用分流抵抗４、比較器５、論理ゲート（アンド回路）６
が構成要素であるのは、従来と同様であり、これらの構
成要素による作用については、先に説明した従来装置と
同様であるのでここでは省略する。

そして、導体ランド８の直流抵抗（Ｒ）とインダクタン
ス（Ｌ）を測定する抵抗・インダクタンス測定手段とし
ての抵抗・インダクタンス測定器９が設けられる。この
抵抗・インダクタンス測定器９は、導体ランド８の線の
長さや太さ等の情報を電流ベクトルで読むものである。

コントロールユニット１０には、前記抵抗・インダクタ
ンス測定器９から出力される測定値に基づいて該抵抗・
インダクタンスによって予め定められた前記電流値と通
電時間を設定する条件設定手段と、該条件となるように
定電流電源１における電流設定手段１１とパルス発生器
２を制御する制御手段と、が備えられている。

ここで、検査しようとするプリント基板７の導体ランド
８の一端とパワートランジスタ３とを結ぶ配線の両端に
は、夫々スイッチ１２及び１３が設けられている。導体
ランド８例のスイッチ１２は、該導体ランド８の一端部
に接続可能な複数の接続端子ａ、ｂ、ｃを切換接続する
ものであり、パワートランジスタ３側のスイッチ１３は
、該パワートランジスタ３の接続端子ｄと抵抗・インダ
クタンス測定器９の一方の接続端子ｅとを切換接続する
ものである。導体ランド８の他端部に接続可能な複数の
接続端子ｒ、ｇ、ｈは夫々分流抵抗４を介して定電流電
源１の電流帰路（接地側）に接続される。定電流電源工
の接地側配線には、スイッチ１４が設けられている。こ
のスイッチ１４は、定電流電源１の接続端子ｉと抵抗・
インダクタンス測定器９の他方の接続端子ｊとを切換接
続するものである。

次に、かかる構成の作用について説明する。

まず、検査しようとする導体ランド８の一端部に接続可
能な接続端子ａ、ｂ、ｃのいずれかをスイッチ１２によ
って切り換える一方、スイッチ１３を図示の通り抵抗・
インダクタンス測定器９の一方の接続端子ｅに切り換え
、スイッチ１４を該抵抗・インダクタンス測定器９の他
方の接続端子ｊに切り換える。

そして、第３図のフローチャートに示すような作用によ
り、導体ランドに対する溶断条件が設定される。

即ち、Ｓｌにおいて、抵抗・インダクタンス測定器９に
より、検査しようとする導体ランド８の抵抗・インダク
タンスが測定される。そして、Ｓ２において、Ｓｌで測
定された抵抗・インダクタンス信号に基づいて、抵抗・
インダクタンスとの関係により定まる電流・通電時間の
マツプから該当する電流・通電時間を読み取り、Ｓ３で
はこの電流・通電時間を設定する。Ｓ４では、該設定値
となるように定電流電源１における電流設定手段１１と
パルス発生器２を制御する。

その後、スイッチ１３をパワートランジスタ３の接続端
子ｄに切り換えると共に、スイッチ１４を定電流電源１
の接続端子ｉに切り換え、定電流電源１による定電流を
所定時間だけ導体ランド８に通電させて、従来と同様の
検査動作を行うようになっている。

そして、スイッチ１２を切り換えて、検査する導体ラン
ド８を選択し、上記動作を導体ランド８毎に行うように
する。

かかる構成によれば、検査する導体ランド８の直流抵抗
とインダクタンスを事前に測定して導体ランド８の線の
太さや長さ等の状況を調べ、その後、この状況から予め
定められた電流と通電時間とを知るようにし、この電流
と通電時間でもって検査を実行するようにしたから、検
査する導体ランド８に対する溶断条件（電流×時間）を
常に最適値とすることができ、細線導体に対しても、太
線導体に対しても最適な溶断条件となる。

従って、検出能力を向上でき、検査の信頼性を向上でき
、被検査品へのストレスが増大するという欠点も解消で
きる。

〈発明の効果〉 以上説明したように、本発明によれば、潜在的な不良個
所をも検査できるところのプリント基板検査装置におい
て、検査する導体ランドの直流抵抗とインダクタンスを
事前に測定して導体ランドの線の太さや長さ等の状況を
調べ、その後、この状況から予め定められた電流と通電
時間とを知るようにし、この電流と通電時間でもって検
査を実行するようにしたから、最適な溶断条件で検査を
行え、検出能力を向上でき、検査の信頼性を向上でき、
被検査品へのストレスが増大するという欠点も解消でき
る。

【図面の簡単な説明】

図、第３図は同上装置における溶断条件の設定に係わる
作用を説明するフローチャート、第４図はプリント基板
検査装置の従来例の回路図、第５図（Ａ）、　　（Ｂ）
は夫々同上装置の動作例を示すタイミングチャートであ
る。 ｌ・・・定電流電源　　２・・・パルス発生器　　３・
・・パワートランジスタ　　４・・・電流検出用分流抵
抗５・・・比較器　　６・・・論理ゲート（アンド回路
）７・・・プリント基板　　８・・・導体ランド　　９
・・・抵抗・インダクタンス測定器　　１０・・・コン
トロールユニット１１・・・電流設定手段１１ 特許出願人　　　日本電子機器株式会社代　理　人　　
弁理士　笹　島　冨二雄第３図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 　プリント基板の導体ランドに所定の定電流を通電する
   定電流電源と、該定電流電源による通電時間を制御する
   パルス発生器と、前記導体ランドに流れる電流を検出す
   る電流検出手段と、この電流検出手段の検出出力を前記
   定電流電源による通電時間の終了直前に抽出するゲート
   回路とを備えたプリント基板検査装置において、前記導
   体ランドの直流抵抗とインダクタンスを測定する抵抗・
   インダクタンス測定手段と、該測定手段から出力される
   測定値に基づいて該抵抗・インダクタンスによって予め
   定められた前記電流値と通電時間を設定する条件設定手
   段と、該条件となるように定電流電源における電流設定
   手段とパルス発生器を制御する制御手段と、を設けたこ
   とを特徴とするプリント基板検査装置。