JP3149925B2 - 回路基板プロービング方式 - Google Patents
回路基板プロービング方式Info
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、回路基板プロービ
ング方式に関し、特に、回路に電気的なダメージを与え
ることなくプロービングピンの接触不良を検出し、接触
不良時にプロービングピンを再押し当てすることで、接
触不良のまま回路信号を観測することを回避する回路基
板プロービング方式に関する。
ング方式に関し、特に、回路に電気的なダメージを与え
ることなくプロービングピンの接触不良を検出し、接触
不良時にプロービングピンを再押し当てすることで、接
触不良のまま回路信号を観測することを回避する回路基
板プロービング方式に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、プロービングピンの接触不良の確
認は、プロービングピンを押し当てた回路の抵抗値を測
定して実行されていた。
認は、プロービングピンを押し当てた回路の抵抗値を測
定して実行されていた。
【０００３】例えば、第１の従来例としてあげられる特
開平８−２２６９４２号公報には、試験用プローブピン
の接触不良判断方法が記載されている。
開平８−２２６９４２号公報には、試験用プローブピン
の接触不良判断方法が記載されている。
【０００４】図４は、叙上の特開平８−２２６９４２号
公報に開示された従来のプロービング方法を示すブロッ
ク図である。
公報に開示された従来のプロービング方法を示すブロッ
ク図である。
【０００５】図４において、試験用プローブピン３２１
とＩＣカード３１の電源端子３１ｂとの間に、Ａ方向へ
の測定用微小電流およびＢ方向への測定用微小電流を流
し、このＡ方向への測定用微小電流およびＢ方向への測
定用微小電流によって、試験用プローブピン３２１と電
源端子３１ｂとの間の抵抗値Ａ１およびＢ１を測定し、
記憶部３２３に記憶させる。この記憶された抵抗値Ａ１
とＢ１とを、比較判断部３２６にて比較し、この比較結
果に基づき、試験用プローブピン３２１の入出力端子３
１ａに対する接触不良が判断されていた。
とＩＣカード３１の電源端子３１ｂとの間に、Ａ方向へ
の測定用微小電流およびＢ方向への測定用微小電流を流
し、このＡ方向への測定用微小電流およびＢ方向への測
定用微小電流によって、試験用プローブピン３２１と電
源端子３１ｂとの間の抵抗値Ａ１およびＢ１を測定し、
記憶部３２３に記憶させる。この記憶された抵抗値Ａ１
とＢ１とを、比較判断部３２６にて比較し、この比較結
果に基づき、試験用プローブピン３２１の入出力端子３
１ａに対する接触不良が判断されていた。
【０００６】第２の従来例として、特開平０６−２２２
１１０号公報に記載された技術をあげることができる。
１１０号公報に記載された技術をあげることができる。
【０００７】この第２の従来技術は、被試験基板と、こ
の被試験基板に実装された部品と、この部品のリード線
と、このリード線を固定しかつ実装された前記部品間の
導通を行うためのはんだと、このはんだに対して接触し
かつ電気的に互いに絶縁された１組のプローブＡとプロ
ーブＢと、このプローブＡとプローブＢにそれぞれ接続
されているケーブルＡとケーブルＢと、接触判定をする
場合と試験を行う場合とを切り換えるための、ケーブル
ＡとケーブルＢにそれぞれ接続されている切り換えリレ
ーＡと切り換えリレーＢと、プルアップ抵抗と、インタ
ーフェイスユニットと、このインターフェイスユニット
からの情報により切り換えリレーの制御と表示ＬＥＤの
制御を行う制御ユニットと、表示ＬＥＤを点灯させるた
めのＬＥＤドライブユニットとを含むことを特徴とする
フィクスチャ、である。
の被試験基板に実装された部品と、この部品のリード線
と、このリード線を固定しかつ実装された前記部品間の
導通を行うためのはんだと、このはんだに対して接触し
かつ電気的に互いに絶縁された１組のプローブＡとプロ
ーブＢと、このプローブＡとプローブＢにそれぞれ接続
されているケーブルＡとケーブルＢと、接触判定をする
場合と試験を行う場合とを切り換えるための、ケーブル
ＡとケーブルＢにそれぞれ接続されている切り換えリレ
ーＡと切り換えリレーＢと、プルアップ抵抗と、インタ
ーフェイスユニットと、このインターフェイスユニット
からの情報により切り換えリレーの制御と表示ＬＥＤの
制御を行う制御ユニットと、表示ＬＥＤを点灯させるた
めのＬＥＤドライブユニットとを含むことを特徴とする
フィクスチャ、である。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この第
１の従来技術による方法では、回路の抵抗値を測定して
いるために、回路の電源を切らないと測定できないとい
う問題点がある。
１の従来技術による方法では、回路の抵抗値を測定して
いるために、回路の電源を切らないと測定できないとい
う問題点がある。
【０００９】また、叙上の第２の従来技術では、プロー
ブＢが直接ＧＮＤに接続されているので、プローブＢを
直接ＧＮＤに接続すれば、プロービングしているはんだ
面もＧＮＤに落ちてしまう。
ブＢが直接ＧＮＤに接続されているので、プローブＢを
直接ＧＮＤに接続すれば、プロービングしているはんだ
面もＧＮＤに落ちてしまう。
【００１０】もしこのときに、被試験基板に電源が供給
されていれば、はんだ面の接続している回路を強制的に
ＧＮＤに落とすことになるために、回路が故障する欠点
がある。
されていれば、はんだ面の接続している回路を強制的に
ＧＮＤに落とすことになるために、回路が故障する欠点
がある。
【００１１】したがって、この第２の従来例は電源を入
れたままの基板には適用することができない。
れたままの基板には適用することができない。
【００１２】さらにまた、上記第２の従来例でも、本発
明でもリレーを２個使用されているが、第２の従来例で
は、リレーを使用しなければ、信号がＧＮＤに落ちてい
るので、信号の観測をすることはできない欠点がある。
明でもリレーを２個使用されているが、第２の従来例で
は、リレーを使用しなければ、信号がＧＮＤに落ちてい
るので、信号の観測をすることはできない欠点がある。
【００１３】本発明は従来の上記実情に鑑み、従来の技
術に内在する上記欠点を解消するためになされたもので
あり、従って本発明の目的は、プローブを数ＧΩ程度の
高抵抗を介してＧＮＤに接続し、回路に電源が供給され
ていても回路から抵抗に流れる電流を非常に小さくして
回路に影響を与えないようにすることにより、電源を入
れたままで接触確認をすることを可能とした新規な回路
基板プロービング方式を提供することにある。
術に内在する上記欠点を解消するためになされたもので
あり、従って本発明の目的は、プローブを数ＧΩ程度の
高抵抗を介してＧＮＤに接続し、回路に電源が供給され
ていても回路から抵抗に流れる電流を非常に小さくして
回路に影響を与えないようにすることにより、電源を入
れたままで接触確認をすることを可能とした新規な回路
基板プロービング方式を提供することにある。
【００１４】本発明の他の目的は、個々のリレーにつな
がる３線を短絡し、リレーを無くしても動作上問題なく
すると共に、プルアップ、プルダウンの回路信号への影
響を切り離す為に、リレーを設けると共に、数ＧΩもの
高抵抗を介することにより切り離さなくてもほとんど影
響を与えることのない新規な回路基板プロービング方式
を提供することにある。
がる３線を短絡し、リレーを無くしても動作上問題なく
すると共に、プルアップ、プルダウンの回路信号への影
響を切り離す為に、リレーを設けると共に、数ＧΩもの
高抵抗を介することにより切り離さなくてもほとんど影
響を与えることのない新規な回路基板プロービング方式
を提供することにある。
【００１５】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成する為
に、本発明に係る回路基板プロービング方式は、第１及
び第２のプロービングピンを使用してプロービング面に
供給された回路信号を観測する回路基板プロービング方
式において、前記第１及び第２のプロービングピンを介
して得られる電圧の電圧差の絶対値が規定値以上の場合
を検出した時に前記プロービング面に対して前記第１ま
たは第２のプロービングピンが接触不良であると判断
し、該判断結果に基づいて前記第１及び第２のプロービ
ングピンを前記プロービング面に再押し当てし、該再押
し当てによって前記電圧差の絶対値が前記規定値以下の
場合に、前記回路信号の観測を実行することを特徴とし
ている。
に、本発明に係る回路基板プロービング方式は、第１及
び第２のプロービングピンを使用してプロービング面に
供給された回路信号を観測する回路基板プロービング方
式において、前記第１及び第２のプロービングピンを介
して得られる電圧の電圧差の絶対値が規定値以上の場合
を検出した時に前記プロービング面に対して前記第１ま
たは第２のプロービングピンが接触不良であると判断
し、該判断結果に基づいて前記第１及び第２のプロービ
ングピンを前記プロービング面に再押し当てし、該再押
し当てによって前記電圧差の絶対値が前記規定値以下の
場合に、前記回路信号の観測を実行することを特徴とし
ている。
【００１６】更に、前記規定値を電源電圧Ｖｃｃの１０
分の１程度としたことを特徴としている。
分の１程度としたことを特徴としている。
【００１７】第１及び第２のプロービングピンを使用し
てプロービング面に供給された回路信号を観測する回路
基板プロービング方式において、前記第１及び第２のプ
ロービングピンの前記プロービング面に対する接触不良
を検出する接触不良検出手段と、該接触不良検出手段か
らの接触不良検出信号を受けてプロービング制御を開始
するプロービング制御手段と、該プロービング制御手段
の指令により接触不良を検出したときに前記第１及び第
２のプロービングピンを前記プロービング面に再押し当
てするプロービング駆動手段とを具備している。
てプロービング面に供給された回路信号を観測する回路
基板プロービング方式において、前記第１及び第２のプ
ロービングピンの前記プロービング面に対する接触不良
を検出する接触不良検出手段と、該接触不良検出手段か
らの接触不良検出信号を受けてプロービング制御を開始
するプロービング制御手段と、該プロービング制御手段
の指令により接触不良を検出したときに前記第１及び第
２のプロービングピンを前記プロービング面に再押し当
てするプロービング駆動手段とを具備している。
【００１８】前記接触不良検出手段は、前記第１のプロ
ービングピンが共通端子に接続され第１及び第２の接点
を有する第１のスイッチと、前記第２のプロービングピ
ンが共通端子に接続され第１及び第２の接点を有する第
２のスイッチと、該第１及び第２のスイッチの前記各第
１の接点に共通接続された回路信号観測端子と、前記第
１のスイッチの第２の接点と電源電圧Ｖｃｃ間に接続さ
れたプルアップ抵抗と、前記第２のスイッチの第２の接
点と設置ＧＮＤ間に接続されたプルダウン抵抗と、前記
第１及び第２のスイッチの前記各第２の接点に現出され
る電圧の電圧差の絶対値を検出する電圧差検出器と、該
電圧差検出器から出力される前記電圧差の絶対値が規定
値以上になった時に該出力信号によりセットされるラッ
チ回路とを具備している。
ービングピンが共通端子に接続され第１及び第２の接点
を有する第１のスイッチと、前記第２のプロービングピ
ンが共通端子に接続され第１及び第２の接点を有する第
２のスイッチと、該第１及び第２のスイッチの前記各第
１の接点に共通接続された回路信号観測端子と、前記第
１のスイッチの第２の接点と電源電圧Ｖｃｃ間に接続さ
れたプルアップ抵抗と、前記第２のスイッチの第２の接
点と設置ＧＮＤ間に接続されたプルダウン抵抗と、前記
第１及び第２のスイッチの前記各第２の接点に現出され
る電圧の電圧差の絶対値を検出する電圧差検出器と、該
電圧差検出器から出力される前記電圧差の絶対値が規定
値以上になった時に該出力信号によりセットされるラッ
チ回路とを具備している。
【００１９】前記第１のスイッチの前記第２の接点と前
記電圧差検出器の第１の入力端子との間に第１のバッフ
ァ回路を備え、前記第２のスイッチの前記第２の接点と
前記電圧差検出器の第２の入力端子との間に第２のバッ
ファ回路を備えたことを特徴としている。
記電圧差検出器の第１の入力端子との間に第１のバッフ
ァ回路を備え、前記第２のスイッチの前記第２の接点と
前記電圧差検出器の第２の入力端子との間に第２のバッ
ファ回路を備えたことを特徴としている。
【００２０】前記プルアップ抵抗及び前記プルダウン抵
抗の抵抗値は、数ＧΩ程度の値に設定されている。
抗の抵抗値は、数ＧΩ程度の値に設定されている。
【００２１】前記電圧差検出器によって検出された電圧
差の絶対値が規定値以上になって前記ラッチ回路がセッ
トされて接触不良が検出された時に、前記第１、第２の
プロービングピンを前記プロービング面に再押し当て
し、該再押し当ての結果、前記電圧差の絶対値が規定値
未満になって前記ラッチ回路がリセットされた際に、前
記第１のスイッチの前記共通端子を前記第１の接点に切
り換え接続すると共に、前記第２のスイッチの前記共通
端子を前記第１の接点に切り換え接続して前記回路信号
観測端子を使用して回路信号の観測を実行することを特
徴としている。
差の絶対値が規定値以上になって前記ラッチ回路がセッ
トされて接触不良が検出された時に、前記第１、第２の
プロービングピンを前記プロービング面に再押し当て
し、該再押し当ての結果、前記電圧差の絶対値が規定値
未満になって前記ラッチ回路がリセットされた際に、前
記第１のスイッチの前記共通端子を前記第１の接点に切
り換え接続すると共に、前記第２のスイッチの前記共通
端子を前記第１の接点に切り換え接続して前記回路信号
観測端子を使用して回路信号の観測を実行することを特
徴としている。
【００２２】前記第１及び第２のスイッチの前記接点切
り換えを、前記ラッチ回路の出力により該出力をフィー
ドバックして実行する。
り換えを、前記ラッチ回路の出力により該出力をフィー
ドバックして実行する。
【００２３】
【作用】本発明の主要素である接触不良検出部の詳細を
示す図２において、スイッチ６を接点８側に、スイッチ
９を接点１１側にし、ラッチ１８をクリアする。
示す図２において、スイッチ６を接点８側に、スイッチ
９を接点１１側にし、ラッチ１８をクリアする。
【００２４】プロービングピン４とプロービングピン５
の両方がプロービング面２１と接触不良を起こしている
場合には、接点８の電圧は電源電圧“Ｖｃｃ”、接点１
１の電圧は“０”となり、バッファ１３の出力も電源電
圧“Ｖｃｃ”、バッファ１４の出力も“０”となる。
の両方がプロービング面２１と接触不良を起こしている
場合には、接点８の電圧は電源電圧“Ｖｃｃ”、接点１
１の電圧は“０”となり、バッファ１３の出力も電源電
圧“Ｖｃｃ”、バッファ１４の出力も“０”となる。
【００２５】この場合には、電圧差検出器１７の出力は
“１”となり、ラッチ１８がセットされ、端子２０は
“０”から“１”へ変化する。
“１”となり、ラッチ１８がセットされ、端子２０は
“０”から“１”へ変化する。
【００２６】端子２０が“１”となった場合には、プロ
ービングピン４とプロービングピン５をプロービング面
２１に再押し当てする。その結果、端子２０が“１”か
ら“０”に変化し、“０”のままであれば、接触良好と
判断することができる。これにより、接触不良を回避す
ることが可能となる。
ービングピン４とプロービングピン５をプロービング面
２１に再押し当てする。その結果、端子２０が“１”か
ら“０”に変化し、“０”のままであれば、接触良好と
判断することができる。これにより、接触不良を回避す
ることが可能となる。
【００２７】端子２０が“０”となって、接触良好とな
った後に、スイッチ６を接点７側へ、スイッチ９を接点
１０側へ切り換える。プロービングピン４またはプロー
ビングピン５の一方が接触不良であっても、端子１２で
プロービング面２１の信号を観測することができる。
った後に、スイッチ６を接点７側へ、スイッチ９を接点
１０側へ切り換える。プロービングピン４またはプロー
ビングピン５の一方が接触不良であっても、端子１２で
プロービング面２１の信号を観測することができる。
【００２８】
【発明の実施の形態】次に、本発明をその好ましい一実
施の形態について図面を参照しながら詳細に説明する。
施の形態について図面を参照しながら詳細に説明する。
【００２９】図１は、本発明の一実施の形態を示すブロ
ック構成図である。
ック構成図である。
【００３０】［実施の形態の構成］図１において、接触
不良検出部２は、接触不良を検出するとプロービング制
御部３に通知する。プロービング制御部３は、接触不良
の場合にはプロービングピン駆動部１へプロービングピ
ンの再押し当てを命令する。
不良検出部２は、接触不良を検出するとプロービング制
御部３に通知する。プロービング制御部３は、接触不良
の場合にはプロービングピン駆動部１へプロービングピ
ンの再押し当てを命令する。
【００３１】図２は、接触不良検出部２の詳細な構成例
を示すブロック構成図である。
を示すブロック構成図である。
【００３２】図２を参照するに、プロービングピン４と
プロービングピン５は、プロービングピン駆動部１によ
ってＸＹＺ方向に駆動される。
プロービングピン５は、プロービングピン駆動部１によ
ってＸＹＺ方向に駆動される。
【００３３】スイッチ６はプロービングピン４と接続さ
れており、接触不良検出時には接点８側に、信号観測時
には接点７側に切り換えられる。
れており、接触不良検出時には接点８側に、信号観測時
には接点７側に切り換えられる。
【００３４】スイッチ９はプロービングピン５と接続さ
れており、接触不良検出時には接点１１側に、信号観測
時には接点１０側に切り換えられる。
れており、接触不良検出時には接点１１側に、信号観測
時には接点１０側に切り換えられる。
【００３５】スイッチ６の接点８にはプルアップ抵抗２
２が、スイッチ９の接点１１にはプルダウン抵抗２３が
接続されている。プルアップ抵抗２２、プルダウン抵抗
２３の抵抗値は数ＧΩ程度の値である。
２が、スイッチ９の接点１１にはプルダウン抵抗２３が
接続されている。プルアップ抵抗２２、プルダウン抵抗
２３の抵抗値は数ＧΩ程度の値である。
【００３６】端子１２は、接触良好が確認された後に波
形を観測する波形観測用端子である。
形を観測する波形観測用端子である。
【００３７】バッファ１３とバッファ１４は、電圧差検
出器１７の入力側に設けられており、電圧差検出器１７
の入力インピーダンスがスイッチ６の接点８、スイッチ
９の接点１１の電圧に影響しないように機能している。
出器１７の入力側に設けられており、電圧差検出器１７
の入力インピーダンスがスイッチ６の接点８、スイッチ
９の接点１１の電圧に影響しないように機能している。
【００３８】電圧差検出器１７の出力は、入力端子ＩＮ
＋とＩＮ−の電圧差の絶対値が規定値（電源電圧Ｖｃｃ
の１０分の１程度）以上になった場合には“１”とな
り、規定値未満の場合には“０”となる。
＋とＩＮ−の電圧差の絶対値が規定値（電源電圧Ｖｃｃ
の１０分の１程度）以上になった場合には“１”とな
り、規定値未満の場合には“０”となる。
【００３９】電圧差検出器１７の出力が“１”となると
きに、ラッチ１８をセットする。
きに、ラッチ１８をセットする。
【００４０】ラッチ１８のリセットＲ端子１９が“１”
となると、ラッチ１８はリセットされる。ラッチ１８の
出力端子２０は、ラッチ１８の状態モニタ端子であり、
ラッチ１８がリセットされているとき“０”に、セット
されているとき“１”となる。
となると、ラッチ１８はリセットされる。ラッチ１８の
出力端子２０は、ラッチ１８の状態モニタ端子であり、
ラッチ１８がリセットされているとき“０”に、セット
されているとき“１”となる。
【００４１】電圧差検出器１７は、複数のコンパレータ
の組み合わせか、あるいは差動増幅器と複数のコンパレ
ータの組み合わせにより容易に構成することができる。
の組み合わせか、あるいは差動増幅器と複数のコンパレ
ータの組み合わせにより容易に構成することができる。
【００４２】［実施の形態の動作］次に、本発明による
一実施の形態の動作について図面を参照して説明する。
一実施の形態の動作について図面を参照して説明する。
【００４３】まず、プロービング制御部３がプロービン
グピン駆動部１に指令を出し、プロービング面２１にプ
ロービングピン４とプロービングピン５を押し当てる。
グピン駆動部１に指令を出し、プロービング面２１にプ
ロービングピン４とプロービングピン５を押し当てる。
【００４４】プロービング制御部３は接触不良検出部２
へ指令を出し、スイッチ６を端子８側へ、スイッチ７を
端子１１側へ切り換えた後に、端子１９に正パルスを加
えてラッチ１８をリセットする。
へ指令を出し、スイッチ６を端子８側へ、スイッチ７を
端子１１側へ切り換えた後に、端子１９に正パルスを加
えてラッチ１８をリセットする。
【００４５】図３に示すように、このときの端子２０の
出力は“０”となる。
出力は“０”となる。
【００４６】プロービングピン４の接触が良好な場合に
は、スイッチ６の端子８はプロービング面２１と同電位
となるが、接触不良の場合にはプルアップ抵抗２２によ
り端子８の電圧はＶｃｃ近傍となる。
は、スイッチ６の端子８はプロービング面２１と同電位
となるが、接触不良の場合にはプルアップ抵抗２２によ
り端子８の電圧はＶｃｃ近傍となる。
【００４７】一方、プロービングピン５の接触が良好な
場合には、スイッチ９の端子１１はプロービング面２１
と同電位となるが、接触不良の場合にはプルダウン抵抗
２３により端子１１の電圧は０Ｖ近傍となる。
場合には、スイッチ９の端子１１はプロービング面２１
と同電位となるが、接触不良の場合にはプルダウン抵抗
２３により端子１１の電圧は０Ｖ近傍となる。
【００４８】図３に、図２に示された接触不良検出部２
の各点の信号波形の例を示す。
の各点の信号波形の例を示す。
【００４９】図２、図３を参照するに、電圧差検出器１
７の出力が“１”となるのは、入力端子ＩＮ＋、ＩＮ−
に入力される入力電圧差の絶対値が規定値（Ｖｃｃの１
０分の１程度）以上になったときである。
７の出力が“１”となるのは、入力端子ＩＮ＋、ＩＮ−
に入力される入力電圧差の絶対値が規定値（Ｖｃｃの１
０分の１程度）以上になったときである。
【００５０】図３ではプロービングピン４とプロービン
グピン５の接触が完全でなく、時々接触不良となってい
る場合の例を示している。
グピン５の接触が完全でなく、時々接触不良となってい
る場合の例を示している。
【００５１】プロービングピン４が接触不良となる区間
では、端子８の電圧はＶｃｃ近傍となる。
では、端子８の電圧はＶｃｃ近傍となる。
【００５２】一方、プロービングピン５が接触不良とな
る区間では、端子１１の電圧が０Ｖ近傍となる。
る区間では、端子１１の電圧が０Ｖ近傍となる。
【００５３】したがって、電圧差検出器１７の出力は以
下３つの場合“１”となる。
下３つの場合“１”となる。
【００５４】１．プロービングピン４とプロービングピ
ン５が同時に接触不良となった場合２．プロービングピ
ン４が接触不良で、プロービング面２１の電圧が電源電
圧Ｖｃｃから離れている場合３．プロービングピン５が
接触不良で、プロービング面２１の電圧が０Ｖから離れ
ている場合端子１９に正パルスを加えてから一定時間後
に端子２０が“０”であった場合には、プロービングピ
ン４とプロービングピン５の少なくとも一方は接触して
おり、同時に接触不良となることは無いと判断される。
ン５が同時に接触不良となった場合２．プロービングピ
ン４が接触不良で、プロービング面２１の電圧が電源電
圧Ｖｃｃから離れている場合３．プロービングピン５が
接触不良で、プロービング面２１の電圧が０Ｖから離れ
ている場合端子１９に正パルスを加えてから一定時間後
に端子２０が“０”であった場合には、プロービングピ
ン４とプロービングピン５の少なくとも一方は接触して
おり、同時に接触不良となることは無いと判断される。
【００５５】この際に、接触不良検出部２はスイッチ６
を端子７側に、スイッチ９を端子１０側に切り換え、端
子１２をプロービング面２１と短絡し、プロービング制
御部３へ接触良好を通知する。
を端子７側に、スイッチ９を端子１０側に切り換え、端
子１２をプロービング面２１と短絡し、プロービング制
御部３へ接触良好を通知する。
【００５６】これにより、プロービングピン４またはプ
ロービングピン５の一方が接触不良であっても、端子１
２でプロービング面２１の信号を観測することができ
る。
ロービングピン５の一方が接触不良であっても、端子１
２でプロービング面２１の信号を観測することができ
る。
【００５７】端子１９に正パルスを加えてから一定時間
後に端子２０が“１”であった場合には、接触不良検出
部２はプロービング制御部３に接触不良を通知する。
後に端子２０が“１”であった場合には、接触不良検出
部２はプロービング制御部３に接触不良を通知する。
【００５８】接触不良の通知を受けたプロービング制御
部３は、プロービングピン駆動部１に再押し当てを命令
し、プロービングピン４とプロービングピン５をプロー
ビング面２１へ再押し当てを行う。
部３は、プロービングピン駆動部１に再押し当てを命令
し、プロービングピン４とプロービングピン５をプロー
ビング面２１へ再押し当てを行う。
【００５９】以下、上記と同様に接触良好／不良の確認
を行い、接触良好となるまで同じ動作を繰り返す。
を行い、接触良好となるまで同じ動作を繰り返す。
【００６０】ラッチ１８の出力である端子２０によって
スイッチ６及びスイッチ９の切り換え制御をすることが
できる。即ち、端子２０とスイッチ６及びスイッチ９の
共通端子との間にフィードバック回路を形成し、端子２
０が“１”のときにスイッチ６、９の各共通端子をそれ
ぞれ接点８、１１に接続し、端子２０が“０”になった
ときには各共通端子をそれぞれ接点７、１０に自動的に
切り換え接続制御することも可能である。
スイッチ６及びスイッチ９の切り換え制御をすることが
できる。即ち、端子２０とスイッチ６及びスイッチ９の
共通端子との間にフィードバック回路を形成し、端子２
０が“１”のときにスイッチ６、９の各共通端子をそれ
ぞれ接点８、１１に接続し、端子２０が“０”になった
ときには各共通端子をそれぞれ接点７、１０に自動的に
切り換え接続制御することも可能である。
【００６１】
【発明の効果】本発明は以上の如く構成され作用するも
のであり、本発明によれば以下に示す如き効果が得られ
る。
のであり、本発明によれば以下に示す如き効果が得られ
る。
【００６２】プロービングピンの接触不良を検出すると
きに回路に流れる電流が微弱（１ｎＡ程度）であるため
に、回路が動作中であっても回路にダメージを与える可
能性が少ない。
きに回路に流れる電流が微弱（１ｎＡ程度）であるため
に、回路が動作中であっても回路にダメージを与える可
能性が少ない。
【００６３】接触不良時にプロービングピンを再押し当
てすることで、接触不良を回避することができる。
てすることで、接触不良を回避することができる。
【００６４】また、２本のプロービングピンのリード線
を短絡して信号を観測することで、一方のプロービング
ピンが接触不良を起こしても、正しい回路信号を観測す
ることができる。
を短絡して信号を観測することで、一方のプロービング
ピンが接触不良を起こしても、正しい回路信号を観測す
ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施の形態を示す概略ブロック構成
図である。
図である。
【図２】図１に示された本発明の要部である接触不良検
出部の詳細な構成例を示すブロック構成図である。
出部の詳細な構成例を示すブロック構成図である。
【図３】図２に示されたブロック構成の各部の信号波形
例を示すタイミングチャートである。
例を示すタイミングチャートである。
【図４】従来例（第１の従来例）のブロック図である。
１…プロービングピン駆動部 ２…接触不良検出部 ３…プロービング制御部 ４、５…プロービングピン ６、９…スイッチ １２…回路信号観測端子 １３、１４…バツファ １７…電圧差検出器 １８…ラッチ ２２…プルアップ抵抗 ２３…プルダウン抵抗
フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01R 1/06 - 1/067 G01R 31/02,31/28
Claims (1)
- 【請求項１】 第１及び第２のプロービングピンを使用
してプロービング面に供給された回路信号を観測する回
路基板プロービング方式において、前記第１及び第２の
プロービングピンの前記プロービング面に対する接触不
良を検出する接触不良検出手段と、該接触不良検出手段
からの接触不良検出信号を受けてプロービング制御を開
始するプロービング制御手段と、該プロービング制御手
段の指令により接触不良を検出したときに前記第１及び
第２のプロービングピンを前記プロービング面に再押し
当てするプロービング駆動手段とを具備すると共に、前
記接触不良検出手段は、前記第１のプロービングピンが
共通端子に接続され第１及び第２の接点を有する第１の
スイッチと、前記第２のプロービングピンが共通端子に
接続され第１及び第２の接点を有する第２のスイッチ
と、該第１及び第２のスイッチの前記各第１の接点に共
通接続された回路信号観測端子と、前記第１のスイッチ
の第２の接点と電源電圧Ｖｃｃ間に接続されその抵抗値
が数ＧΩ程度の値に設定されたプルアップ抵抗と、前記
第２のスイッチの第２の接点と接地ＧＮＤ間に接続され
その抵抗値が数ＧΩ程度の値に設定されたプルダウン抵
抗と、前記第１及び第２のスイッチの前記各第２の接点
に現出される電圧の電圧差の絶対値を検出する電圧差検
出器と、該電圧差検出器から出力される前記電圧差の絶
対値が電源電圧Ｖｃｃの１０分の１程度とした規定値以
上になった時に前記プロービング面に対して前記第１ま
たは第２のプロービングピンが接触不良であると判断し
前記電圧差検出器の出力信号によりセットされるラッチ
回路とを備え、前記電圧差検出器によって検出された電
圧差の絶対値が規定値以上になって前記ラッチ回路がセ
ットされて接触不良が検出された時に、前記第１、第２
のプロービングピンを前記プロービング面に再押し当て
し、該再押し当ての結果、前記電圧差の絶対値が規定値
未満になって前記ラッチ回路がリセットされた際に、前
記第１のスイッチの前記共通端子を前記第１の接点に切
り換え接続すると共に、前記第２のスイッチの前記共通
端子を前記第１の接点に切り換え接続して前記回路信号
観測端子を使用して回路信号の観測を実行することを特
徴とした回路基板プロービング方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24273298A JP3149925B2 (ja) | 1998-08-28 | 1998-08-28 | 回路基板プロービング方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24273298A JP3149925B2 (ja) | 1998-08-28 | 1998-08-28 | 回路基板プロービング方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000074976A JP2000074976A (ja) | 2000-03-14 |
| JP3149925B2 true JP3149925B2 (ja) | 2001-03-26 |
Family
ID=17093434
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24273298A Expired - Fee Related JP3149925B2 (ja) | 1998-08-28 | 1998-08-28 | 回路基板プロービング方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3149925B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102005004608B3 (de) * | 2005-02-01 | 2006-04-20 | Siemens Ag | Verfahren und Schaltungsanordnung zum Überprüfen von elektrischen Kontaktierungen zwischen einem ersten Ausgangspin eines ersten Leistungsschalters einer Leistungsschaltvorrichtung und einem externen Knoten |
| JP2016223802A (ja) * | 2015-05-27 | 2016-12-28 | ファナック株式会社 | 製造不良や損傷・劣化を検出する機能を備えた電子部品およびプリント基板 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6379075A (ja) * | 1986-09-22 | 1988-04-09 | Nippon Seiko Kk | 導通検査装置 |
-
1998
- 1998-08-28 JP JP24273298A patent/JP3149925B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2000074976A (ja) | 2000-03-14 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |