JP4066265B2 - 半導体試験装置のコンタクトリング - Google Patents
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これに対し、製造工程上にあるウエハの段階で試験を行なう半導体試験装置の場合には、パフォーマンスボードにコンタクトリングと呼ばれる接続具を搭載し、この接続具を介してプローブカードに接続し、DUTと電気的に接続する。
出力系統として設定されたテストヘッド8のピンエレクトロニクス部に設けられたドライバ回路から出力される信号は、ポゴピン8a、パフォーマンスボード7、コンタクトリング6のポゴピン6b、6a、プローブカード5の順序で伝送され、DUT1に到達する。
パフォーマンスボードとプローブカードを電気的に接続し、被試験対象を試験する半導体試験装置のコンタクトリングにおいて、
上下が貫通され、上下にそれぞれつば部が形成された円筒部材と、
前記円筒部材のつば部の間に放射状に設けられ、前記被試験対象を試験する試験部を有するプリント基板を含む複数のプリント基板を備え、
前記試験部は、
被試験対象に対して信号を出力する駆動部、または、被試験対象から出力された信号を測定する測定部の少なくともいずれか一方を含む。
請求項1記載の半導体試験装置のコンタクトリングにおいて、
測定部が、サンプルホールド回路である。
プリント基板は、パフォーマンスボードとプローブカードを電気的に直接接続するラインと、このラインと試験部とを切り換える切換部とを設ける。
請求項1〜3のいずれかに記載の半導体試験装置のコンタクトリングにおいて、
複数のポゴピンが上面に取り付けられ、複数のプリント基板と下面でコネクタ接続される第1の中継基板と、
複数のポゴピンが下面に取り付けられ、複数のプリント基板と上面でコネクタ接続される第2の中継基板とを備える。
請求項1〜6記載の発明では、プリント基板に試験部を設けたので、正確な試験を行なうことができる。
図1において、円筒部材9は、上下が貫通され、上下にそれぞれつば部9a、9bが形成される。プリント基板10は、円筒部材9のつば部9a、9bの間に放射状に取り付けられる。フレーム11、12は、プリント基板10を円筒部材9に固定する。
10c 試験部
10d ライン
10e、10f スイッチ
13a、13b コネクタ
14、15 中継基板
14b、15b ポゴピン
Claims (4)
- パフォーマンスボードとプローブカードを電気的に接続し、被試験対象を試験する半導体試験装置のコンタクトリングにおいて、
上下が貫通され、上下にそれぞれつば部が形成された円筒部材と、
前記円筒部材のつば部の間に放射状に設けられ、前記被試験対象を試験する試験部を有するプリント基板を含む複数のプリント基板を備え、
前記試験部は、
被試験対象に対して信号を出力する駆動部、または、被試験対象から出力された信号を測定する測定部の少なくともいずれか一方を含む
ことを特徴とする半導体試験装置のコンタクトリング。 - 測定部は、サンプルホールド回路であることを特徴とする請求項1記載の半導体試験装置のコンタクトリング。
- プリント基板は、パフォーマンスボードとプローブカードを電気的に直接接続するラインと、
このラインと試験部とを切り換える切換部と
を設けたことを特徴とする請求項1又は2に記載の半導体試験装置のコンタクトリング。 - 複数のポゴピンが上面に取り付けられ、複数のプリント基板と下面でコネクタ接続される第1の中継基板と、
複数のポゴピンが下面に取り付けられ、複数のプリント基板と上面でコネクタ接続される第2の中継基板と
を備えたことを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の半導体試験装置のコンタクトリング。
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