JP2010133878A - テストプラグの性能判定装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】ヒンジ部4を介して連結した一方の部材2と他方の部材3との先端部でテストプラグ30の電源側の各導体35B〜35Nと負荷側の各導体45B〜45Nとを挟持し得るように構成した装置本体1と、テストプラグの挟持時に、電源側の各導体と負荷側の各導体とにそれぞれ接触し得るように一方の部材2の内側面と他方の部材3の内側面とにそれぞれ一対づつ配設した荷電用端子5B〜5N,7N及び検電用端子6B〜6N,8Nと、荷電用端子に選択的に電圧を印加するための切替手段と、荷電用端子に印加された電圧により検電用端子を介して印加される電圧により個別に動作する検電手段と、前記切替手段の切替制御を行う制御手段と、前記検電手段に基づく検電結果を個別に表示する表示部9とを有する。
【選択図】図1
Description
<構造>
図1は本発明の実施の形態に係るテストプラグの性能判定装置を示す構造図で、(a)は平面図、(b)はその一部を内側から見た内面図、(c)は側面から見た側面図である。
図3は本形態に係るテストプラグの性能判定装置を示すブロック線図である。当該ブロック線図を構成する各機能は図1に示す装置本体1内に収納されている。そこで、図3中、図1及び図2と同一部分には同一番号を付している。図3に示すように、操作部10はマン・マシンインターフェースとして機能する入力手段であり、図1の操作スイッチSW1及び切替スイッチSW2等が含まれる。操作部10からは操作スイッチSW1及び切替スイッチSW2の動作状態を表す各出力信号をはじめ所定の出力信号が動作処理部11に送出される。動作処理部11はCPU機能を含むものであり、当該判定装置の全体の作動を制御する制御手段として機能する。すなわち、操作スイッチSW1の作動により試験乃至測定の開始を可能とし予め定められた手順により各部の所定の制御を開始する。ここで、動作処理部11には任意の制御機能を備えさせることが可能であるが、本形態では、例えば操作部10を介してCT用のテストプラグ30乃至PT用のテストプラグ40毎に使用頻度の高い接続パターンを予め記憶させることができるように構成するとともに、CT用のテストプラグ30乃至PT用のテストプラグ40として不適切な接続状態等が検出された場合には警報を発するように構成してある。
上述の図1乃至図3に図4を追加して本形態における試験乃至測定の原理を説明する。図4は本形態に係るテストプラグの性能判定装置の使用時における結線態様の一例を示す結線図である。ただし、同図はあくまで回路検出の考え方を説明するための結線例を示しており、実際に使用するか否かということとは無関係である。
本形態においては、図4には明示しないが、先ずCT用のテストプラグ30であるか、PT用のテストプラグ40であるが判定される。これは図3の接点入力部14に入力される接点C1,C2乃至接点Pの状態に基づき検出される。接点C1,C2が何れもオン状態のときにはCT用のテストプラグ30、接点Pがオン状態のときにはPT用のテストプラグ40であると判断する。
当該試験乃至測定の際の荷電を荷電用端子5B,5W・・・の順に荷電用端子7Nまで行う。このように荷電用端子5Bから荷電を行うと、これと接続状態にある各極の検電用端子6B〜6N,8B〜8Nを介してセンサa1〜d1,a2〜d2で荷電状態を確認することができる。荷電が検出されたセンサa1〜d1,a2〜d2を「1」と表し、検出されないセンサa1〜d1,a2〜d2を「0」と表すと、図4の結線例では、「1100 1000」となる(図4においてa1,b1,c1,d1,a2,b2,c2,d2の順に考える)。
[c1]−[b2]−[c2]・・・0010 0110・・・26(16進数表現)
[d1]−[d2] ・・・0001 0001・・・11(16進数表現)
イ)CT用のテストプラグ30の場合
電源側(CTの二次側)を開放してはならないので、2桁の16進数表現において下桁に対応するセンサa2〜d2の状態は「E」(1110),「F」(1111)の何れかでなければならず、それ以外は許容されない。
導体35B,45B間等、同相間の接続乃至開放は使用されるが、電源側における導体35B〜35N同士乃至負荷側における導体45B〜45N同士の接続(短絡)は行ってはならない。したがって、2桁の16進数表現において上桁及び下桁とも「0」,「1」,「2」,「4」,「8」以外は許容されない。すなわち使用される接続は以下の12パターンである。
1000 0000−(16進数・80) 0100 0100−(16進数・44)
0000 0100−(16進数・04) 0100 0000−(16進数・40)
0010 0010−(16進数・22) 0000 0010−(16進数・02)
0010 0000−(16進数・20) 0001 0001−(16進数・11)
0000 0001−(16進数・01) 0001 0000−(16進数・10)
当該絶縁確認モードは電圧計の接続を表現するモードである。このモードでは、一旦上記ii)乃至iii)の処理で所定の「開放(絶縁)」と「接続(短絡・導通)」とを判定した後、切替スイッチSW2を操作して切替接点12Aで抵抗R2を選択することにより高抵抗(数kΩ)を「導通」として検出できる感度に変更する。かかる状態で再度上記ii)乃至iii)の処理と同様の処理を行うことにより、先に確認した際に「絶縁」であった部分が「導通」になった場合に、この部分に電圧計(内部抵抗が数kΩ)が接続されていると判断できる。
図5は本形態に係るテストプラグの性能判定装置の処理手順を示すフローチャートである。同図に示すように、本形態における処理は次の手順で行う。
2 一方の部材
3 他方の部材
4 ヒンジ部
5B〜5N (負荷側の)荷電用端子
6B〜6N (負荷側の)検電用端子
7B〜7N (電源側の)荷電用端子
8B〜8N (電源側の)検電用端子
9 表示部
10 操作部
11 動作処理部
30 (CT用の)テストプラグ
32 絶縁板
33 絶縁部材
341,342 凸部
35B〜35N (電源側の)導体
40 (PT用の)テストプラグ
43 絶縁部材
44 凸部
45B〜45N (負荷側の)導体
50 (CT用の)テストターミナル
51 凸部
60 (PT用の)テストターミナル
611,612 凸部
Claims (6)
- 電源側の各相に接続されたテストターミナルの複数の導体にそれぞれ接触する電源側の導体と、負荷側の各相に接続された前記テストターミナルの同数の導体にそれぞれ接触する負荷側の導体とが各相毎に絶縁部材の相対向する面にそれぞれ配設されているテストプラグの性能判定装置であって、
ヒンジ部を介して一方の部材と他方の部材とを連結することにより前記一方の部材と前記他方の部材との先端部を開口して前記テストプラグの前記電源側の各導体と前記負荷側の各導体とを挟持し得るように構成した装置本体と、
前記テストプラグの挟持時に、前記テストプラグの電源側の各導体と前記テストプラグの負荷側の各導体とにそれぞれ接触し得るように前記一方の部材の内側面と前記他方の部材の内側面とにそれぞれ一対づつ配設した荷電用端子及び検電用端子と、
前記荷電用端子に選択的に電源からの電圧を印加するための切替手段と、
前記荷電用端子に印加された電圧により前記検電用端子を介して印加される電圧により個別に動作する検電手段と、
前記切替手段の切替制御を行う制御手段と、
前記検電手段に基づく検電結果を個別に表示する表示手段とを有することを特徴とするテストプラグの性能判定装置。 - 請求項1に記載するテストプラグの性能判定装置において、
前記一方の部材の内側面には、前記テストプラグの装着時に、CT用のテストプラグに固有の凸部を検出する接点と、PT用のテストプラグに固有の凸部を検出するための接点とを配設したことを特徴とするテストプラグの性能判定装置。 - 請求項1又は請求項2に記載するテストプラグの性能判定装置において、
前記制御手段は、他の荷電用端子に対する荷電により、すでに荷電状態が検出された検電実績のある荷電用端子を記憶しておき、検電実績のある荷電用端子はスキップして次の荷電用端子に対する荷電を行うよう前記切替手段の切替制御を行うように構成したことを特徴とするテストプラグの性能判定装置。 - 請求項1乃至請求項3の何れか一つに記載するテストプラグの性能判定装置において、
許容されない結線パターンをあらかじめ前記制御手段に登録しておき、登録した結線パターンが検出された場合にはその状態を前記表示部に表示するように構成したことを特徴とするテストプラグの性能判定装置。 - 請求項1乃至請求項3の何れか一つに記載するテストプラグの性能判定装置において、
使用頻度の高い結線パターンをあらかじめ前記制御手段に登録しておき、登録した結線パターンが検出された場合にはその状態を前記表示部に表示するように構成したことを特徴とするテストプラグの性能判定装置。 - 請求項1乃至請求項5の何れか一つに記載するテストプラグの性能判定装置において、
測定感度が異なる複数のモードを有し、前記テストプラグの電源側又は負荷側で何れかの相間に接続される電圧計の内部抵抗を介して前記相間が接続されていることを検出し得るように構成したことを特徴とするテストプラグの性能判定装置。
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