JP2900036B2

JP2900036B2 - リレーマトリックスの接地回路

Info

Publication number: JP2900036B2
Application number: JP1055829A
Authority: JP
Inventors: 千富寺山
Original assignee: Ando Electric Co Ltd
Current assignee: Ando Electric Co Ltd
Priority date: 1989-03-08
Filing date: 1989-03-08
Publication date: 1999-06-02
Anticipated expiration: 2014-06-02
Also published as: JPH02234077A

Description

【発明の詳細な説明】（ａ）発明の技術分野この発明は、ICなどの複数のデバイスに対し、複数の
ユニットからリレーマトリックスを介して、試験用の電
圧・電流を加えるICテスタにおいて、並列測定を精度よ
く測定するとともに、ピン数の多いデバイスを１個測定
する場合や、ピン数の少ないデバイスを並列接続して測
定する場合のリレーマトリックスの接地回路についての
ものである。

（ｂ）従来技術と問題点次に、第２図を参照して従来技術による構成を説明す
る。

第２図の10はリレーマトリックス、11〜14はユニッ
ト、21〜24はデバイス、31は接地線、41〜80はリレーマ
トリックス10内の配線である。

ユニット11〜14からは、デバイス21〜24を測定するた
めの電圧・電流がデバイス21〜24に送られる。

リレーマトリックス10は、図示を省略した制御回路で
リレーマトリックス10内の接点を接断され、デバイス21
〜24に電圧・電流を供給する。

デバイス21〜24の測定効率をあげるため、並列測定が
実施される。並列測定は、複数のユニットから複数のデ
バイスに電圧・電流を供給し、複数のデバイスを同時に
測定するものである。

第２図は並列測定の一例であり、４個のデバイス21〜
24に対して４個のユニット11〜14から電圧・電流が供給
されている。

第２図では、１本の接地線31を使用しているため、デ
バイス21〜24間の接地電流I₂₁〜I₂₄の差、リレーコネク
タの接触抵抗、電線41〜80の抵抗などにより、デバイス
21〜24の接地電圧に差が出て、測定誤差となる。

次に、接地線によって電位差が起きる場合を第３図を
参照して説明する。

第３図は第２図の部分拡大図である。

第３図のリレーマトリックス10には、ユニット11・12
による電圧・電流が配線41〜60の抵抗によって誤差が起
きないようセンスラインと、フォースラインがある。

センスラインは、電圧の監視用であり、フォースライ
ンは電流供給用である。

第３図中、Ｓの記号はセンスラインを表し、Ｆの記号
はフォースラインを表す。

接地についても同じようにケルビン接続になってお
り、センスラインは電流が流れないようにハイインピー
ダンスになっている。

接地線もセンス・フォースで構成されているので、ユ
ニットの基準接地点はセンス・フォースのショートして
いる点になる。

第３図のように、接地のセンスラインが１本で、接地
のセンス・フォースのショート点が１か所でない場合
は、接地32、接地33のどちらを基準としているかが不明
になり、接地32・33間に電位差が起きることになる。

通常、ユニット11・12からデバイス21・22までは、リ
レーマトリックス10内の配線が1m以上はあり、またユニ
ット11・12内の電線抵抗やコネクタ・リレーの接触抵抗
など、ライン抵抗の合計は数百ｍΩ以上になる。

例えば、第３図の場合、デバイス21の接地32とデバイ
ス22の接地33との電位差は、I₂₁×R₅₀−I₂₂×R₆₀にな
る。ここに、I₂₁はデバイス21の接地電流、I₂₂はデバイ
ス22のの接地電流、R50はデバイス21の接地ラインの抵
抗、R₆₀はデバイス22の接地ラインの抵抗である。

ユニット11・12は、接地32と接地33との電位差に対し
て、センスラインの抵抗R51・R61で分圧した電位を基準
に動作するので、デバイス21・22とも、加える電圧に誤
差が起きることになる。この誤差は、接地電流I₂₁・
I₂₂、抵抗R₅₀・R₆₀により違うが、数百mVになる場合が
ある。

（ｃ）発明の目的この発明は、従来の接地線をデバイス単位で分け、分
けられた接地線を接断するスイッチを設け、デバイスを
１個測定する場合でも、並列測定をする場合でも、各ユ
ニットを高確度で使用できるリレーマトリックスの接地
回路を提供するものである。

（ｄ）発明の実施例次に、この発明による実施例の構成図を第１図に示
す。

第１図の１〜４は基準接地、５〜８はスイッチであ
り、その他の部分は第２図と同じである。

図１は、デバイス21〜24にそれぞれ独立して接地する
基準接地を個別に選択するスイッチ５〜７を設けたもの
である。

11〜14はデバイス21〜24に加える試験用の電圧・電流
を供給するユニットである。

リレーマトリックス10内のリレーが動作すると、ユニ
ット11〜14からリレーマトリックス10を介して電圧・電
流がデバイス21〜24に供給される。

リレーマトリックス10は、ケルビン接続になってい
る。

スイッチ５〜７は、デバイス21〜24を並列測定する場
合に、同時測定するデバイスの個数に合わせて接地線を
分割するスイッチである。

スイッチ５〜７をすべて接続すると、第２図と同じに
なり、ユニット11〜14のすべてに同じ基準電位を供給す
ることができる。

スイッチ５とスイッチ７を接続し、スイッチ６を切る
と、デバイス21・22による基準電位をユニット11・12に
送り、デバイス23・24による基電位をユニット13・14に
送ることができる。

また、スイッチ５〜７を切断すると、第１図のように
４か所のデバイス21〜24のそれぞれの基準電位がユニッ
ト11〜14にそれぞれ別々に送られるようになる。

スイッチ５〜７の接断は、リレーマトリックス10の接
点と同じく図示を省略した制御器の指令により制御され
る。

スイッチ５〜７をデバイス単位で分割することができ
るので、デバイス単位の基準接地を各ユニットに接続す
ることができ、デバイス21〜24間の接地に差が起きて
も、各ユニットはそれぞれの基準接地で動作するので、
確度の高い測定をすることができる。

スイッチ８は、並列測定のときに、どのデバイスにど
のユニットを対応させるかを決める役割をするもので、
ユニット11〜14の接地線とデバイス21〜24の基準接地１
〜４とを接続させるためのものである。

デバイス21〜24の接地線はそれぞれユニット11〜14に
接続されている。

スイッチ８がなく、リレーマトリックス10の配線が配
線60までしかない場合は、ユニット13・14は並列測定が
できないことになる。

スイッチ８の接続を変えると、リレーマトリックス10
の配線が配線60までしかない場合でも、ユニット13・14
を並列に測定することができるようになる。

（ｅ）発明の効果この発明によれば、ユニットの電圧・電流をリレーマ
トリックスを介してデバイスに加える場合、各デバイス
に基準接地線を設け、基準接地線を分離できるスイッチ
５〜８を配置しているので、並列測定を精度よく測定す
ることができるとともに、ピン数の多いデバイスを１個
測定する場合や、ピン数の少ないデバイスを並列接続し
て測定することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明による実施例の構成図、第２図は従来
技術による構成図、第３図は第２図の部分拡大図であ
る。１〜４……基準接地、５〜８……スイッチ、10……リレ
ーマトリックス、11〜14……ユニット、21〜24……デバ
イス、31〜34……接地、41〜80……配線。

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】一又は二以上のユニットからリレーマトリ
ックスを介して試験用の電圧・電流を一又は二以上のデ
バイスに供給するICテスタにおいて、各デバイスごとに独立して接地する基準接地を個別に選
択する第１のスイッチを設けることを特徴とするリレー
マトリックスの接地回路。
【請求項２】各基準接地から複数のユニットに切り換え
て接続する第２のスイッチを設けた請求項１記載のリレ
ーマトリックスの接地回路。