JP3276376B2 - 抵抗体の抵抗値測定方法 - Google Patents
抵抗体の抵抗値測定方法Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、抵抗体（特にチップ抵
抗器）の抵抗値測定方法に関する。
抗器）の抵抗値測定方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、抵抗体であるチップ抵抗器の抵抗
値を測定する場合は、図３に示すように行う。測定には
通常、４端子抵抗測定器２０が使用される。測定器２０
には、測定する抵抗体の数に相当する数の電力線２１、
２２と測定線２３、２４が設けられ、各電力線と各測定
線はリレーにより切り換えられるようになっている。図
３では、電力線２１と測定線２３が測定用プローブ３０
に、電力線２２と測定線２４が測定用プローブ３１に接
続されている。
値を測定する場合は、図３に示すように行う。測定には
通常、４端子抵抗測定器２０が使用される。測定器２０
には、測定する抵抗体の数に相当する数の電力線２１、
２２と測定線２３、２４が設けられ、各電力線と各測定
線はリレーにより切り換えられるようになっている。図
３では、電力線２１と測定線２３が測定用プローブ３０
に、電力線２２と測定線２４が測定用プローブ３１に接
続されている。
【０００３】そして、測定用プローブ３０、３１を、例
えばセラミック基板１０上に形成した抵抗体１１の電極
（導体）１２、１３にそれぞれ接触させる。同様に、当
該抵抗体１１と並列する全ての抵抗体についても測定用
プローブを接触させる。抵抗値の測定は、リレーを順次
切り換えて１つの抵抗体ずつ行う。並列する全ての抵抗
体の測定が終了すると、順に隣接の並列についても同様
に測定する。
えばセラミック基板１０上に形成した抵抗体１１の電極
（導体）１２、１３にそれぞれ接触させる。同様に、当
該抵抗体１１と並列する全ての抵抗体についても測定用
プローブを接触させる。抵抗値の測定は、リレーを順次
切り換えて１つの抵抗体ずつ行う。並列する全ての抵抗
体の測定が終了すると、順に隣接の並列についても同様
に測定する。
【０００４】このように、従来の測定方法では、測定対
象となる抵抗体が電極によって導通されていない並列毎
に行う。
象となる抵抗体が電極によって導通されていない並列毎
に行う。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
測定方法では、１つの抵抗体１１には２本の測定用プロ
ーブ３０、３１を必要とし、ｎ個の抵抗体では２ｎ本の
プローブを用意しなければならない。しかも、測定する
並列に多数のプローブが並び、プローブの間隔が狭くな
る。このため、特に極小抵抗体に対してはプローブが互
いに接触する可能性が高まり、測定し難くなる。
測定方法では、１つの抵抗体１１には２本の測定用プロ
ーブ３０、３１を必要とし、ｎ個の抵抗体では２ｎ本の
プローブを用意しなければならない。しかも、測定する
並列に多数のプローブが並び、プローブの間隔が狭くな
る。このため、特に極小抵抗体に対してはプローブが互
いに接触する可能性が高まり、測定し難くなる。
【０００６】更に、抵抗値の測定を１列（並列）毎に行
うため、ｎ列ではプローブの移動をｎ回行わなければな
らない。又、プローブの移動の度に各プローブを電極に
正確に位置決めする必要があり、測定作業が煩雑であ
る。このため、基板上の全抵抗体の測定を終了するまで
の時間が長くなる。従って、本発明の目的は、極小抵抗
体にも容易に対応できるようにすると共に、測定時間を
短縮する抵抗体の抵抗値測定方法を提供することにあ
る。
うため、ｎ列ではプローブの移動をｎ回行わなければな
らない。又、プローブの移動の度に各プローブを電極に
正確に位置決めする必要があり、測定作業が煩雑であ
る。このため、基板上の全抵抗体の測定を終了するまで
の時間が長くなる。従って、本発明の目的は、極小抵抗
体にも容易に対応できるようにすると共に、測定時間を
短縮する抵抗体の抵抗値測定方法を提供することにあ
る。
【０００７】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
の本発明の抵抗体の抵抗値測定方法は、列毎に直列接続
した多数のチップ抵抗体において、各列の端に位置する
電極に、４端子抵抗測定器の同じ極性の電力線と測定線
を接続した１本の測定用プローブを接触させ、チップ抵
抗体を挟んで前記電極に連続する電極に、前記極性とは
異なる極性の電力線と測定線を接続した１本の測定用プ
ローブを接触させて、各列の全ての電極に交互に異なる
極性の電力線と測定線を接続した１本の測定用プローブ
を接触させ、各チップ抵抗体に電流を流すと共に、各チ
ップ抵抗体に生ずる電圧を測定し、電流と電圧から各チ
ップ抵抗体の抵抗値を算出することを特徴とするもので
ある。
の本発明の抵抗体の抵抗値測定方法は、列毎に直列接続
した多数のチップ抵抗体において、各列の端に位置する
電極に、４端子抵抗測定器の同じ極性の電力線と測定線
を接続した１本の測定用プローブを接触させ、チップ抵
抗体を挟んで前記電極に連続する電極に、前記極性とは
異なる極性の電力線と測定線を接続した１本の測定用プ
ローブを接触させて、各列の全ての電極に交互に異なる
極性の電力線と測定線を接続した１本の測定用プローブ
を接触させ、各チップ抵抗体に電流を流すと共に、各チ
ップ抵抗体に生ずる電圧を測定し、電流と電圧から各チ
ップ抵抗体の抵抗値を算出することを特徴とするもので
ある。
【０００８】本発明の測定方法は、４端子抵抗測定器を
用い、列毎に直列接続した各チップ抵抗体の両端の電極
から各チップ抵抗体に電流を流すと共に、各チップ抵抗
体の電圧を測定し、電流値と電圧値に基づいて各チップ
抵抗体の抵抗値を算出するものである。この測定方法で
は、１列の測定に使用するプローブ数は１列のチップ抵
抗体の数よりも１つ多い数で済む。
用い、列毎に直列接続した各チップ抵抗体の両端の電極
から各チップ抵抗体に電流を流すと共に、各チップ抵抗
体の電圧を測定し、電流値と電圧値に基づいて各チップ
抵抗体の抵抗値を算出するものである。この測定方法で
は、１列の測定に使用するプローブ数は１列のチップ抵
抗体の数よりも１つ多い数で済む。
【０００９】
【実施例】以下、本発明の抵抗体の抵抗値測定方法を実
施例に基づいて説明する。図１は、チップ抵抗器に対す
る測定方法を示す。このチップ抵抗器は、例えばセラミ
ック基板１と、基板１上に形成した多数の抵抗体２と、
抵抗体２を列毎に直列接続する電極３、４とからなる。
施例に基づいて説明する。図１は、チップ抵抗器に対す
る測定方法を示す。このチップ抵抗器は、例えばセラミ
ック基板１と、基板１上に形成した多数の抵抗体２と、
抵抗体２を列毎に直列接続する電極３、４とからなる。
【００１０】ここで、測定の一例として、１列当たりｎ
個の抵抗体が並ぶ場合の測定について述べる。まず、１
列目（図中の上側の列）の端に位置する抵抗体Ｒ1 の電
極ａ 1 に、４端子抵抗測定器２０の正の電力線２１と正
の測定線２３を接続した測定用プローブＰ1 を接触させ
る。抵抗体Ｒ1 を挟んで電極ａ1 に連続する電極ａ2に
は、測定器２０の負の電力線２２と負の測定線２４を接
続した測定用プローブＰ2 を接触させる。他の電極ａ3
（図中に符号は付せず）〜ａn+1 にも、交互に異なる極
性の電力線と測定線を接続した測定用プローブＰ3 〜Ｐ
n+1 をそれぞれ接触させる。この際、プローブを電極に
強く接触させて、両者の接触抵抗を十分に低くすること
が好ましい。
個の抵抗体が並ぶ場合の測定について述べる。まず、１
列目（図中の上側の列）の端に位置する抵抗体Ｒ1 の電
極ａ 1 に、４端子抵抗測定器２０の正の電力線２１と正
の測定線２３を接続した測定用プローブＰ1 を接触させ
る。抵抗体Ｒ1 を挟んで電極ａ1 に連続する電極ａ2に
は、測定器２０の負の電力線２２と負の測定線２４を接
続した測定用プローブＰ2 を接触させる。他の電極ａ3
（図中に符号は付せず）〜ａn+1 にも、交互に異なる極
性の電力線と測定線を接続した測定用プローブＰ3 〜Ｐ
n+1 をそれぞれ接触させる。この際、プローブを電極に
強く接触させて、両者の接触抵抗を十分に低くすること
が好ましい。
【００１１】図１には、測定用プローブＰ3 〜Ｐn+1 と
測定器２０との配線は特に示していないが、個々のプロ
ーブにはそれぞれ同じ極性の電力線と測定線が接続さ
れ、リレー（図示せず）により各プローブ毎に配線を切
り換えることができるようになっている。２列目につい
ても同様に、交互に異なる極性の電力線と測定線を接続
した測定用プローブを各電極に接触させる。各測定用プ
ローブと測定器２０との配線は１列目と同様であり、リ
レーによって切り換えることができる。以上により、１
列目と２列目の全抵抗体２（Ｒ1〜Ｒn ）の抵抗値を測
定する準備が終了する。
測定器２０との配線は特に示していないが、個々のプロ
ーブにはそれぞれ同じ極性の電力線と測定線が接続さ
れ、リレー（図示せず）により各プローブ毎に配線を切
り換えることができるようになっている。２列目につい
ても同様に、交互に異なる極性の電力線と測定線を接続
した測定用プローブを各電極に接触させる。各測定用プ
ローブと測定器２０との配線は１列目と同様であり、リ
レーによって切り換えることができる。以上により、１
列目と２列目の全抵抗体２（Ｒ1〜Ｒn ）の抵抗値を測
定する準備が終了する。
【００１２】ここで、測定器２０の各リレーを順に切り
換えて、各抵抗体Ｒ1 〜Ｒn に定電流を流せば、各抵抗
体Ｒ1 〜Ｒn に生ずる電圧が分かるので、定電流と各抵
抗体Ｒ1 〜Ｒn の電圧をオームの法則に適用すれば、抵
抗体Ｒ1 〜Ｒnの抵抗値が求まる。なお、各抵抗値は測
定器２０に表示され、各抵抗値の算出も測定器２０が行
うことは言うまでもない。測定の順番は、リレーの切換
え方により異なるが、例えば１列目の抵抗体Ｒ1 、２列
目の抵抗体Ｒ1 、１列目の抵抗体Ｒ2 、２列目の抵抗体
Ｒ2 、・・・というような順序である。
換えて、各抵抗体Ｒ1 〜Ｒn に定電流を流せば、各抵抗
体Ｒ1 〜Ｒn に生ずる電圧が分かるので、定電流と各抵
抗体Ｒ1 〜Ｒn の電圧をオームの法則に適用すれば、抵
抗体Ｒ1 〜Ｒnの抵抗値が求まる。なお、各抵抗値は測
定器２０に表示され、各抵抗値の算出も測定器２０が行
うことは言うまでもない。測定の順番は、リレーの切換
え方により異なるが、例えば１列目の抵抗体Ｒ1 、２列
目の抵抗体Ｒ1 、１列目の抵抗体Ｒ2 、２列目の抵抗体
Ｒ2 、・・・というような順序である。
【００１３】この測定によって、２列分の抵抗体２
（Ｒ1 〜Ｒn ）の抵抗値が分かる。次の２列分の抵抗
体に対しても測定用プローブを移動させて同様に測定す
る。このような測定を全列に対して行うことで、基板１
上の全ての抵抗体の抵抗値を知ることができる。ここ
で、本発明の測定方法に用いる４端子抵抗測定器の測定
原理について述べる。
（Ｒ1 〜Ｒn ）の抵抗値が分かる。次の２列分の抵抗
体に対しても測定用プローブを移動させて同様に測定す
る。このような測定を全列に対して行うことで、基板１
上の全ての抵抗体の抵抗値を知ることができる。ここ
で、本発明の測定方法に用いる４端子抵抗測定器の測定
原理について述べる。
【００１４】４端子抵抗測定器は図２に示すような基本
構成である。測定器は定電流電源５０と電圧計５１を備
え、電源５０からの電力線と電圧計５１からの測定線が
抵抗Ｒに並列に接続される。これにより、測定対象とな
る抵抗Ｒに電流が流れると共に、電圧が加わる。電圧計
５１から流れる電流ＩV は、電源５０からの電流ＩM に
比して無視できるので、つまりＩV ≒０とみなせるの
で、抵抗Ｒに流れる実際の電流ＩはＩ≒Ｉ M となる。
又、電圧計５１に係る測定線の抵抗及び接続部の接触抵
抗ｒ3、ｒ4 による電圧降下は、ＩV （ｒ3 ＋ｒ4 ）≒
０となる。このため、抵抗ｒ3 、ｒ4 の値が変化して
も、電圧計５１が抵抗Ｒに加える電圧ＥM は変わらず、
ＥM ≒Ｅ（Ｅは抵抗Ｒに印加される実際の電圧）とみな
すことができる。故に、抵抗計回路５２により、測定器
が表示する抵抗Ｒの値ＲM は、ＲM ＝ＥM ／ＩM ＝Ｅ／
Ｉ＝Ｒとなる訳である。
構成である。測定器は定電流電源５０と電圧計５１を備
え、電源５０からの電力線と電圧計５１からの測定線が
抵抗Ｒに並列に接続される。これにより、測定対象とな
る抵抗Ｒに電流が流れると共に、電圧が加わる。電圧計
５１から流れる電流ＩV は、電源５０からの電流ＩM に
比して無視できるので、つまりＩV ≒０とみなせるの
で、抵抗Ｒに流れる実際の電流ＩはＩ≒Ｉ M となる。
又、電圧計５１に係る測定線の抵抗及び接続部の接触抵
抗ｒ3、ｒ4 による電圧降下は、ＩV （ｒ3 ＋ｒ4 ）≒
０となる。このため、抵抗ｒ3 、ｒ4 の値が変化して
も、電圧計５１が抵抗Ｒに加える電圧ＥM は変わらず、
ＥM ≒Ｅ（Ｅは抵抗Ｒに印加される実際の電圧）とみな
すことができる。故に、抵抗計回路５２により、測定器
が表示する抵抗Ｒの値ＲM は、ＲM ＝ＥM ／ＩM ＝Ｅ／
Ｉ＝Ｒとなる訳である。
【００１５】
【発明の効果】本発明の抵抗体の抵抗値測定方法は、以
上説明したように列毎に直列接続した各チップ抵抗体に
電流を流すと共に、各チップ抵抗体の電圧を測定し、電
流と電圧から各チップ抵抗体の抵抗値を算出するから、
下記の効果を奏する。（１ ）１列の測定に必要なプローブの本数をほぼ半減で
きる。即ち、１列当たりのプローブ数はチップ抵抗体の
数よりも１つ多い本数でよい。 （２）（１）により、測定時に並べたプローブの間隔が
大きくなるので、極小のチップ抵抗体でも、電極にプロ
ーブを容易に接触させることができ、チップ抵抗体の抵
抗値を容易に測定することができる。 （３）測定に用いる装置の構造を簡素にすることがで
き、コストを低減できる。
上説明したように列毎に直列接続した各チップ抵抗体に
電流を流すと共に、各チップ抵抗体の電圧を測定し、電
流と電圧から各チップ抵抗体の抵抗値を算出するから、
下記の効果を奏する。（１ ）１列の測定に必要なプローブの本数をほぼ半減で
きる。即ち、１列当たりのプローブ数はチップ抵抗体の
数よりも１つ多い本数でよい。 （２）（１）により、測定時に並べたプローブの間隔が
大きくなるので、極小のチップ抵抗体でも、電極にプロ
ーブを容易に接触させることができ、チップ抵抗体の抵
抗値を容易に測定することができる。 （３）測定に用いる装置の構造を簡素にすることがで
き、コストを低減できる。
【図１】本発明の測定方法を説明するための図である。
【図２】本発明の測定方法に使用する４端子抵抗測定器
の測定原理を示す回路図である。
の測定原理を示す回路図である。
【図３】従来の測定方法を説明するための図である。
１ 基板 ２、Ｒ1 〜Ｒn 抵抗体 ３、４、ａ1 〜ａn+1 電極 ２０ ４端子抵抗測定器 ２１、２２ 電力線 ２３、２４ 測定線 Ｐ1 〜Ｐn+1 測定用プローブ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭60−238771（ＪＰ，Ａ) 実開 昭56−122959（ＪＰ，Ｕ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01R 27/02 G01R 31/00
Claims (1)
- 【請求項１】列毎に直列接続した多数のチップ抵抗体に
おいて、各列の端に位置する電極に、４端子抵抗測定器
の同じ極性の電力線と測定線を接続した１本の測定用プ
ローブを接触させ、チップ抵抗体を挟んで前記電極に連
続する電極に、前記極性とは異なる極性の電力線と測定
線を接続した１本の測定用プローブを接触させて、各列
の全ての電極に交互に異なる極性の電力線と測定線を接
続した１本の測定用プローブを接触させ、各チップ抵抗
体に電流を流すと共に、各チップ抵抗体に生ずる電圧を
測定し、電流と電圧から各チップ抵抗体の抵抗値を算出
することを特徴とする抵抗体の抵抗値測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP07924791A JP3276376B2 (ja) | 1991-04-11 | 1991-04-11 | 抵抗体の抵抗値測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP07924791A JP3276376B2 (ja) | 1991-04-11 | 1991-04-11 | 抵抗体の抵抗値測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04315063A JPH04315063A (ja) | 1992-11-06 |
| JP3276376B2 true JP3276376B2 (ja) | 2002-04-22 |
Family
ID=13684530
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP07924791A Expired - Fee Related JP3276376B2 (ja) | 1991-04-11 | 1991-04-11 | 抵抗体の抵抗値測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3276376B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5018373B2 (ja) * | 2007-09-26 | 2012-09-05 | 横河電機株式会社 | 抵抗測定装置および抵抗測定方法 |
-
1991
- 1991-04-11 JP JP07924791A patent/JP3276376B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04315063A (ja) | 1992-11-06 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |