JP2864136B2 - 抵抗測定方法及び装置 - Google Patents
抵抗測定方法及び装置Info
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- JP2864136B2 JP2864136B2 JP1314150A JP31415089A JP2864136B2 JP 2864136 B2 JP2864136 B2 JP 2864136B2 JP 1314150 A JP1314150 A JP 1314150A JP 31415089 A JP31415089 A JP 31415089A JP 2864136 B2 JP2864136 B2 JP 2864136B2
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- resistance
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- terminals
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Description
【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は複数の抵抗が千鳥に配列されている多端子の
抵抗回路網の端子間抵抗を測定するための抵抗測定方法
及び装置に関し、特に、抵抗回路網の外周部分が短絡さ
れている状態で端子間のリーク抵抗を高精度に測定する
ことができる新規な、有用な抵抗測定方法及び装置に関
する。
抵抗回路網の端子間抵抗を測定するための抵抗測定方法
及び装置に関し、特に、抵抗回路網の外周部分が短絡さ
れている状態で端子間のリーク抵抗を高精度に測定する
ことができる新規な、有用な抵抗測定方法及び装置に関
する。
従来の技術 例えば、表示装置には、第３図に示すように、同じ抵
抗値の多数のライン抵抗RS、・・・を千鳥に配列した多
端子T1、T2、・・・Tnの抵抗回路網10（破線内）が使用
されている。上記ライン抵抗は非常に微小な間隔で千鳥
に配列されているから、隣り合うライン抵抗間にリーク
が存在する場合がしばしばあり、リーク抵抗の大きさに
よっては表示装置が動作しなくなるので、ライン抵抗間
のリーク抵抗を予め測定してその大きさを検出する必要
がある。しかして、上記抵抗回路網10は、製造段階では
実線で示す外周の短絡部分11が付属しており、表示装置
が完成した後でこの短絡部分11は切断される。また、各
ライン抵抗には20％程度の抵抗値のバラツキがある。
抗値の多数のライン抵抗RS、・・・を千鳥に配列した多
端子T1、T2、・・・Tnの抵抗回路網10（破線内）が使用
されている。上記ライン抵抗は非常に微小な間隔で千鳥
に配列されているから、隣り合うライン抵抗間にリーク
が存在する場合がしばしばあり、リーク抵抗の大きさに
よっては表示装置が動作しなくなるので、ライン抵抗間
のリーク抵抗を予め測定してその大きさを検出する必要
がある。しかして、上記抵抗回路網10は、製造段階では
実線で示す外周の短絡部分11が付属しており、表示装置
が完成した後でこの短絡部分11は切断される。また、各
ライン抵抗には20％程度の抵抗値のバラツキがある。
従来、ライン抵抗間のリーク抵抗は、隣り合う端子間
の抵抗値を測定することによって、求めている。例え
ば、端子T2とT3間に存在するリーク抵抗RLを測定する場
合には、これら端子T2とT3間の抵抗を測定することにな
るが、リーク抵抗RLはライン抵抗RSよりも通常ははるか
に大きい（RL≫RS）。従って、抵抗回路網10に外周の短
絡部分11が存在する状態では、隣り合う端子間の抵抗値
を測定する上記方法ではリーク抵抗の大きさを正確に測
定することは不可能に近いことであった。このため、従
来は抵抗回路網のリーク抵抗RLは、表示装置が完成した
後で、即ち、破線部分の状態で、隣り合う端子間の抵抗
を測定することによって検出している。
の抵抗値を測定することによって、求めている。例え
ば、端子T2とT3間に存在するリーク抵抗RLを測定する場
合には、これら端子T2とT3間の抵抗を測定することにな
るが、リーク抵抗RLはライン抵抗RSよりも通常ははるか
に大きい（RL≫RS）。従って、抵抗回路網10に外周の短
絡部分11が存在する状態では、隣り合う端子間の抵抗値
を測定する上記方法ではリーク抵抗の大きさを正確に測
定することは不可能に近いことであった。このため、従
来は抵抗回路網のリーク抵抗RLは、表示装置が完成した
後で、即ち、破線部分の状態で、隣り合う端子間の抵抗
を測定することによって検出している。
発明が解決しようとする課題 このように、上記従来の方法では、抵抗回路網の端子
間のリーク抵抗は表示装置が完成した後でなければ測定
することができず、従って抵抗回路網が不良品である場
合には表示装置全体を廃棄処分にしなければならないと
いう重大な欠点があった。また、通常は非常に多数のラ
イン抵抗が千鳥に配列されているから、隣り合う端子間
の抵抗をいちいち測定したのでは莫大な時間と労力を必
要とし、全品の検査は不可能といっても過言ではない。
さらに、ライン抵抗値のバラツキにより正確なリーク抵
抗が測定できないこともしばしばある。このため外周の
短絡部分が付属したままで抵抗回路網の端子間のリーク
抵抗を高精度に測定できる方法及び装置が待望されてい
た。
間のリーク抵抗は表示装置が完成した後でなければ測定
することができず、従って抵抗回路網が不良品である場
合には表示装置全体を廃棄処分にしなければならないと
いう重大な欠点があった。また、通常は非常に多数のラ
イン抵抗が千鳥に配列されているから、隣り合う端子間
の抵抗をいちいち測定したのでは莫大な時間と労力を必
要とし、全品の検査は不可能といっても過言ではない。
さらに、ライン抵抗値のバラツキにより正確なリーク抵
抗が測定できないこともしばしばある。このため外周の
短絡部分が付属したままで抵抗回路網の端子間のリーク
抵抗を高精度に測定できる方法及び装置が待望されてい
た。
従って、本発明の目的はライン抵抗が千鳥に配列され
ている多端子の抵抗回路網の端子間の抵抗を、外周の短
絡部分が存在した状態で、即ち、所定の装置に取付ける
前に、高精度に測定することができる新規な、有用な抵
抗測定方法及び装置を提供することにある。
ている多端子の抵抗回路網の端子間の抵抗を、外周の短
絡部分が存在した状態で、即ち、所定の装置に取付ける
前に、高精度に測定することができる新規な、有用な抵
抗測定方法及び装置を提供することにある。
課題を解決するための手段 上記目的は本発明に係る抵抗測定方法及び装置によっ
て達成される。要約すれば本発明は、複数の抵抗が千鳥
に配列され、該各抵抗の一端にそれぞれ端子が接続さ
れ、各抵抗の他端が共通の短絡部材によって互いに電気
的に接続されている多端子の抵抗回路網の端子間抵抗を
測定する方法において、前記短絡部材を通じて前記各抵
抗に独立に所定の電圧を印加して前記各抵抗に流れる電
流を測定する段階と、前記千鳥配列の抵抗の一方の半数
の抵抗を通じて他方の半数の各抵抗に独立に所定の電圧
を印加して該他方の半数の各抵抗に流れる電流を測定す
る段階と、前記千鳥配列の抵抗の前記他方の半数の抵抗
を通じて前記一方の半数の各抵抗に独立に逆極性の所定
の電圧を印加して前記一方の半数の各抵抗に流れる電流
を測定する段階とからなる抵抗測定方法、並びに、 複数の抵抗が千鳥に配列され、該各抵抗の一端にそれ
ぞれ端子が接続され、各抵抗の他端が共通の短絡部材に
よって互いに電気的に接続されている多端子の抵抗回路
網の端子間抵抗を測定する装置において、前記短絡部材
を通じて前記各抵抗に独立に所定の電圧を印加する第１
の電源と、前記各抵抗に流れる電流を測定する電流測定
手段と、前記千鳥配列の抵抗の一方の半数の抵抗を通じ
て他方の半数の各抵抗に独立に所定の電圧を印加すると
ともに、前記千鳥配列の抵抗の前記他方の半数の抵抗を
通じて前記一方の半数の各抵抗に独立に逆極性の電圧を
印加する第２の電源とを具備する抵抗測定装置である。
て達成される。要約すれば本発明は、複数の抵抗が千鳥
に配列され、該各抵抗の一端にそれぞれ端子が接続さ
れ、各抵抗の他端が共通の短絡部材によって互いに電気
的に接続されている多端子の抵抗回路網の端子間抵抗を
測定する方法において、前記短絡部材を通じて前記各抵
抗に独立に所定の電圧を印加して前記各抵抗に流れる電
流を測定する段階と、前記千鳥配列の抵抗の一方の半数
の抵抗を通じて他方の半数の各抵抗に独立に所定の電圧
を印加して該他方の半数の各抵抗に流れる電流を測定す
る段階と、前記千鳥配列の抵抗の前記他方の半数の抵抗
を通じて前記一方の半数の各抵抗に独立に逆極性の所定
の電圧を印加して前記一方の半数の各抵抗に流れる電流
を測定する段階とからなる抵抗測定方法、並びに、 複数の抵抗が千鳥に配列され、該各抵抗の一端にそれ
ぞれ端子が接続され、各抵抗の他端が共通の短絡部材に
よって互いに電気的に接続されている多端子の抵抗回路
網の端子間抵抗を測定する装置において、前記短絡部材
を通じて前記各抵抗に独立に所定の電圧を印加する第１
の電源と、前記各抵抗に流れる電流を測定する電流測定
手段と、前記千鳥配列の抵抗の一方の半数の抵抗を通じ
て他方の半数の各抵抗に独立に所定の電圧を印加すると
ともに、前記千鳥配列の抵抗の前記他方の半数の抵抗を
通じて前記一方の半数の各抵抗に独立に逆極性の電圧を
印加する第２の電源とを具備する抵抗測定装置である。
実施例 以下、本発明の一実施例につき添付図面を参照して詳
細に説明する。
細に説明する。
第１図は本発明による抵抗測定装置の一実施例を示す
概略回路図であり、説明の便宜上、本実施例では抵抗回
路網10は10個のライン抵抗RSを５個づつ千鳥に配列した
ものとする。抵抗回路網10の外周にはこれら抵抗の一端
を共通に接続する短絡部分11が存在する。勿論、ライン
抵抗RSの数は千鳥に配列されていれば任意の数でよい。
概略回路図であり、説明の便宜上、本実施例では抵抗回
路網10は10個のライン抵抗RSを５個づつ千鳥に配列した
ものとする。抵抗回路網10の外周にはこれら抵抗の一端
を共通に接続する短絡部分11が存在する。勿論、ライン
抵抗RSの数は千鳥に配列されていれば任意の数でよい。
本発明においては、抵抗回路網10の外周の短絡部分11
に共通端子T0を接続し、この共通端子T0と抵抗回路網10
の各端子T1、T2、・・・T10との間に電源E0とスイッチS
0の直列回路を接続する。即ち、電源E0の正極から共通
端子T0−抵抗回路網の各抵抗RS−各端子T1、T2、・・・
T10−スイッチS0を経て電源E0の負極に至る回路を形成
する。抵抗回路網10の各端子T1、T2、・・・T10には直
列に電流計M1、M2、・・・M10をそれぞれ接続し、各抵
抗RSに流れる電流を測定できるように構成する。この場
合、各電流計は必要に応じて短絡できるようにスイッチ
S1、S2、・・・S10を各電流計に並列に接続する。ま
た、千鳥配列の一方の半数の端子T1、T3、・・・T5にそ
れぞれ接続された各電流計M1、M3、・・・M5と他方の半
数の端子T2、T4、・・・T10にそれぞれ接続された各電
流計M2、M4、・・・M10との間に逆極性の２つの電源E1
及びE2を、各電源に直列にスイッチS11及びS12をそれぞ
れ介して接続し、かつこれら電源E1及びE2を短絡するス
イッチS13を並列に接続する。なお、逆極性の２つの電
源E1及びE2の代りに１つの電源を使用し、スイッチ回路
によって極性を反転できるようにしてもよい。
に共通端子T0を接続し、この共通端子T0と抵抗回路網10
の各端子T1、T2、・・・T10との間に電源E0とスイッチS
0の直列回路を接続する。即ち、電源E0の正極から共通
端子T0−抵抗回路網の各抵抗RS−各端子T1、T2、・・・
T10−スイッチS0を経て電源E0の負極に至る回路を形成
する。抵抗回路網10の各端子T1、T2、・・・T10には直
列に電流計M1、M2、・・・M10をそれぞれ接続し、各抵
抗RSに流れる電流を測定できるように構成する。この場
合、各電流計は必要に応じて短絡できるようにスイッチ
S1、S2、・・・S10を各電流計に並列に接続する。ま
た、千鳥配列の一方の半数の端子T1、T3、・・・T5にそ
れぞれ接続された各電流計M1、M3、・・・M5と他方の半
数の端子T2、T4、・・・T10にそれぞれ接続された各電
流計M2、M4、・・・M10との間に逆極性の２つの電源E1
及びE2を、各電源に直列にスイッチS11及びS12をそれぞ
れ介して接続し、かつこれら電源E1及びE2を短絡するス
イッチS13を並列に接続する。なお、逆極性の２つの電
源E1及びE2の代りに１つの電源を使用し、スイッチ回路
によって極性を反転できるようにしてもよい。
次に、上記構成の本発明の抵抗測定装置の動作につい
て説明する。
て説明する。
まず、スイッチS0及びS13を閉成し、残りのスイッ
チ、即ち、スイッチS1〜S12を開放する。これによって
第２図Ａに示す回路が形成される。かくして、電源E0の
正極から共通端子T0−抵抗回路網の各抵抗RS−各端子T
1、T2、・・・T10−各電流計M1、M2、・・・M10−スイ
ッチS0を経て電源E0の負極に至る回路が形成され、各電
流計を経て抵抗回路網のすべての抵抗に独立に流れる電
流が一括して測定できる。抵抗回路網の各抵抗にバラツ
キがなければ、各電流計の読みは、隣り合う端子間（正
確には隣り合うライン間）にリークがある端子を除き、
等しくなる。従って、どの端子間にリークが存在するか
が分る。また、各抵抗にバラツキがある場合には、各電
流計の測定値からそのバラツキが測定できる。また、オ
ープン回路がある場合にはこれも検出されるので、以後
の測定においてはこのラインを除外することができる。
さらに、低い抵抗によるリークはこの測定時点では抵抗
のバラツキとして検出される。
チ、即ち、スイッチS1〜S12を開放する。これによって
第２図Ａに示す回路が形成される。かくして、電源E0の
正極から共通端子T0−抵抗回路網の各抵抗RS−各端子T
1、T2、・・・T10−各電流計M1、M2、・・・M10−スイ
ッチS0を経て電源E0の負極に至る回路が形成され、各電
流計を経て抵抗回路網のすべての抵抗に独立に流れる電
流が一括して測定できる。抵抗回路網の各抵抗にバラツ
キがなければ、各電流計の読みは、隣り合う端子間（正
確には隣り合うライン間）にリークがある端子を除き、
等しくなる。従って、どの端子間にリークが存在するか
が分る。また、各抵抗にバラツキがある場合には、各電
流計の測定値からそのバラツキが測定できる。また、オ
ープン回路がある場合にはこれも検出されるので、以後
の測定においてはこのラインを除外することができる。
さらに、低い抵抗によるリークはこの測定時点では抵抗
のバラツキとして検出される。
次に、第１図の回路においてスイッチS0、S2、S4、S
6、S8、S10、S12、S13を開放し、残りのスイッチS1、S
3、S5、S7、S9、S11を閉成する。これによって第２図Ｂ
に示す回路が形成される。即ち、電源E11の正極から端
子T1、T3、T5、T7、T9を介して千鳥配列の一方の半数の
抵抗RS−千鳥配列の他方の半数の抵抗RS−端子T2、T4、
T6、T8、T10−電流計M2、M4、M6、M8、M10を経て電源E1
1の負極に至る回路が形成される。かくして、電流計M
2、M4、M6、M8、M10が接続された端子T2、T4、T6、T8、
T10側の千鳥配列の他方の半数の抵抗RSを流れる電流が
検出される。
6、S8、S10、S12、S13を開放し、残りのスイッチS1、S
3、S5、S7、S9、S11を閉成する。これによって第２図Ｂ
に示す回路が形成される。即ち、電源E11の正極から端
子T1、T3、T5、T7、T9を介して千鳥配列の一方の半数の
抵抗RS−千鳥配列の他方の半数の抵抗RS−端子T2、T4、
T6、T8、T10−電流計M2、M4、M6、M8、M10を経て電源E1
1の負極に至る回路が形成される。かくして、電流計M
2、M4、M6、M8、M10が接続された端子T2、T4、T6、T8、
T10側の千鳥配列の他方の半数の抵抗RSを流れる電流が
検出される。
次に、第１図の回路においてスイッチS0、S1、S3、S
5、S7、S9、S11、S13を開放し、残りのスイッチS2、S
4、S6、S8、S10、S12を閉成する。これによって第２図
Ｃに示す回路が形成される。即ち、電源E12の正極から
端子T2、T4、T6、T8、T10を介して千鳥配列の他方の半
数の抵抗RS−千鳥配列の一方の半数の抵抗RS−端子T1、
T3、T5、T7、T9−電流計M1、M3、M5、M7、M9を経て電源
E12の負極に至る回路が形成される。かくして、電流計M
1、M3、M5、M7、M9が接続された端子T1、T3、T5、T7、T
9側の千鳥配列の一方の半数の抵抗RSを流れる電流が検
出される。
5、S7、S9、S11、S13を開放し、残りのスイッチS2、S
4、S6、S8、S10、S12を閉成する。これによって第２図
Ｃに示す回路が形成される。即ち、電源E12の正極から
端子T2、T4、T6、T8、T10を介して千鳥配列の他方の半
数の抵抗RS−千鳥配列の一方の半数の抵抗RS−端子T1、
T3、T5、T7、T9−電流計M1、M3、M5、M7、M9を経て電源
E12の負極に至る回路が形成される。かくして、電流計M
1、M3、M5、M7、M9が接続された端子T1、T3、T5、T7、T
9側の千鳥配列の一方の半数の抵抗RSを流れる電流が検
出される。
このように第２図Ｂ及びＣに示す測定回路により各抵
抗に流れる電流を測定すると、すべての端子を測定端子
として測定が行なわれるので、各抵抗にバラツキがあっ
ても、各ラインごとに同一抵抗での並列値測定と直列値
測定の差を取るために他のラインのバラツキは平均化さ
れ、抵抗値のバラツキによる誤差は相殺される。従っ
て、第２図Ａの測定回路により得られた電流値と第２図
Ｂ又は第２図Ｃの測定回路により得られた電流値とを比
較することによってライン間のリーク抵抗が高精度に測
定できることになる。また、リークしている位置に応じ
て検出電流値が相違するので、リーク位置も検出するこ
とができる。なお、測定の順序は第２図Ａ、Ｂ及びＣの
どの測定回路から始めてもよいが、第２図Ａの測定を最
初に行ない、その後第２図Ｂ及びＣの測定（この順序は
逆でもよい）を行なうことが好ましい。
抗に流れる電流を測定すると、すべての端子を測定端子
として測定が行なわれるので、各抵抗にバラツキがあっ
ても、各ラインごとに同一抵抗での並列値測定と直列値
測定の差を取るために他のラインのバラツキは平均化さ
れ、抵抗値のバラツキによる誤差は相殺される。従っ
て、第２図Ａの測定回路により得られた電流値と第２図
Ｂ又は第２図Ｃの測定回路により得られた電流値とを比
較することによってライン間のリーク抵抗が高精度に測
定できることになる。また、リークしている位置に応じ
て検出電流値が相違するので、リーク位置も検出するこ
とができる。なお、測定の順序は第２図Ａ、Ｂ及びＣの
どの測定回路から始めてもよいが、第２図Ａの測定を最
初に行ない、その後第２図Ｂ及びＣの測定（この順序は
逆でもよい）を行なうことが好ましい。
第１図の回路において、千鳥配列の10個の抵抗RSとし
てそれぞれ20KΩの抵抗を使用し、電源E0として電圧2V
のDC電源を、また電源E11及びE12として電圧4VのDC電源
を使用したところ、検出電流100μＡで200KΩのリーク
抵抗が高精度に検出できた。このようにライン抵抗の10
倍程度のリーク抵抗の場合には表示装置は正常に動作す
るので、このような抵抗回路網は合格品と判定できる。
従って、外周に短絡部分が存在する状態でライン抵抗の
10倍程度までのリーク抵抗が正確に測定できることは非
常に有用なことである。
てそれぞれ20KΩの抵抗を使用し、電源E0として電圧2V
のDC電源を、また電源E11及びE12として電圧4VのDC電源
を使用したところ、検出電流100μＡで200KΩのリーク
抵抗が高精度に検出できた。このようにライン抵抗の10
倍程度のリーク抵抗の場合には表示装置は正常に動作す
るので、このような抵抗回路網は合格品と判定できる。
従って、外周に短絡部分が存在する状態でライン抵抗の
10倍程度までのリーク抵抗が正確に測定できることは非
常に有用なことである。
上記実施例では本発明を表示装置の多端子抵抗回路網
に適用した場合について説明したが、千鳥に配列された
他の多端子の抵抗回路網にも本発明が適用できることは
勿論であり、またリーク抵抗の測定に限定されるもので
もない。
に適用した場合について説明したが、千鳥に配列された
他の多端子の抵抗回路網にも本発明が適用できることは
勿論であり、またリーク抵抗の測定に限定されるもので
もない。
発明の効果 以上の如くに構成される本発明による抵抗測定方法及
び装置は、各ラインごとに同一抵抗での並列値測定と直
列値測定の差を取るために他のラインのバラツキは平均
化され、抵抗値のバラツキによる誤差は相殺される。従
って、各測定によって得られた電流値を比較することに
よってライン間のリーク抵抗を高精度に測定することが
できる。また、リークしている位置に応じて検出電流値
が相違するので、リーク位置も検出することができる。
さらに、装置に１％程度の分解能があれば、ライン抵抗
の50倍程度の抵抗まで計測することができるので、検出
感度が高くなる等の顕著な利点がある。
び装置は、各ラインごとに同一抵抗での並列値測定と直
列値測定の差を取るために他のラインのバラツキは平均
化され、抵抗値のバラツキによる誤差は相殺される。従
って、各測定によって得られた電流値を比較することに
よってライン間のリーク抵抗を高精度に測定することが
できる。また、リークしている位置に応じて検出電流値
が相違するので、リーク位置も検出することができる。
さらに、装置に１％程度の分解能があれば、ライン抵抗
の50倍程度の抵抗まで計測することができるので、検出
感度が高くなる等の顕著な利点がある。
第１図は本発明による抵抗測定装置の一実施例を示す概
略回路図、第２図Ａ、Ｂ及びＣは本発明の抵抗測定装置
によって構成される測定回路例を示すそれぞれ概略回路
図、第３図は多端子の抵抗回路網の一例を示す概略回路
図である。 10:抵抗回路網 11:抵抗回路網の外周の短絡部分 RS:ライン抵抗 RL:リーク抵抗 E0、E11、E12:電源 T0:共通端子 T1〜T10:抵抗回路網の端子 M1〜M10:電流計 S0〜S13:スイッチ
略回路図、第２図Ａ、Ｂ及びＣは本発明の抵抗測定装置
によって構成される測定回路例を示すそれぞれ概略回路
図、第３図は多端子の抵抗回路網の一例を示す概略回路
図である。 10:抵抗回路網 11:抵抗回路網の外周の短絡部分 RS:ライン抵抗 RL:リーク抵抗 E0、E11、E12:電源 T0:共通端子 T1〜T10:抵抗回路網の端子 M1〜M10:電流計 S0〜S13:スイッチ
Claims (2)
- 【請求項１】複数の抵抗が千鳥に配列され、該各抵抗の
一端にそれぞれ端子が接続され、各抵抗の他端が共通の
短絡部材によって互いに電気的に接続されている多端子
の抵抗回路網の端子間抵抗を測定する方法において、 前記短絡部材を通じて前記各抵抗に独立に所定の電圧を
印加して前記各抵抗に流れる電流を測定する段階と、 前記千鳥配列の抵抗の一方の半数の抵抗を通じて他方の
半数の各抵抗に独立に所定の電圧を印加して該他方の半
数の各抵抗に流れる電流を測定する段階と、 前記千鳥配列の抵抗の前記他方の半数の抵抗を通じて前
記一方の半数の各抵抗に独立に逆極性の所定の電圧を印
加して前記一方の半数の各抵抗に流れる電流を測定する
段階 とからなることを特徴とする抵抗測定方法。 - 【請求項２】複数の抵抗が千鳥に配列され、該各抵抗の
一端にそれぞれ端子が接続され、各抵抗の他端が共通の
短絡部材によって互いに電気的に接続されている多端子
の抵抗回路網の端子間抵抗を測定する装置において、 前記短絡部材を通じて前記各抵抗に独立に所定の電圧を
印加する第１の電源と、 前記各抵抗に流れる電流を測定する電流測定手段と、 前記千鳥配列の抵抗の一方の半数の抵抗を通じて他方の
半数の各抵抗に独立に所定の電圧を印加するとともに、
前記千鳥配列の抵抗の前記他方の半数の抵抗を通じて前
記一方の半数の各抵抗に独立に逆極性の電圧を印加する
第２の電源 とを具備することを特徴とする抵抗測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1314150A JP2864136B2 (ja) | 1989-12-05 | 1989-12-05 | 抵抗測定方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1314150A JP2864136B2 (ja) | 1989-12-05 | 1989-12-05 | 抵抗測定方法及び装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03175371A JPH03175371A (ja) | 1991-07-30 |
| JP2864136B2 true JP2864136B2 (ja) | 1999-03-03 |
Family
ID=18049832
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1314150A Expired - Lifetime JP2864136B2 (ja) | 1989-12-05 | 1989-12-05 | 抵抗測定方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2864136B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4634470B2 (ja) * | 2008-02-25 | 2011-02-16 | 日置電機株式会社 | インピーダンス測定装置 |
-
1989
- 1989-12-05 JP JP1314150A patent/JP2864136B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH03175371A (ja) | 1991-07-30 |
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