JP2972291B2 - ダイオードの特性検査方法 - Google Patents
ダイオードの特性検査方法Info
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- JP2972291B2 JP2972291B2 JP2187177A JP18717790A JP2972291B2 JP 2972291 B2 JP2972291 B2 JP 2972291B2 JP 2187177 A JP2187177 A JP 2187177A JP 18717790 A JP18717790 A JP 18717790A JP 2972291 B2 JP2972291 B2 JP 2972291B2
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Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明はダイオードの特性検査方法に関し、特にダイ
オードの逆方向瞬時耐電力を検査するダイオードの特性
検査方法に関する。
オードの逆方向瞬時耐電力を検査するダイオードの特性
検査方法に関する。
［従来の技術］ ダイオードに要求される特性の１つに逆方向瞬時耐電
力（以下、バックパワーという。）がある。このバック
パワーは、ダイオードの逆方向に瞬時的に高電圧が印加
され、あるいは逆方向の大電流が流れた時に発生する電
力である。
力（以下、バックパワーという。）がある。このバック
パワーは、ダイオードの逆方向に瞬時的に高電圧が印加
され、あるいは逆方向の大電流が流れた時に発生する電
力である。
一般に回路条件を設定する場合、その回路に使用され
るダイオードの許容可能なバックパワーがどの程度であ
るかを考慮して設定される。そのため製造が完了したダ
イオードは、その検査工程において、バックパワーテス
トが実施され、保証値に満たないダイオードは不良とし
て選別される。この選別のためのテスト方法は、次のよ
うな方法により行なわれている。
るダイオードの許容可能なバックパワーがどの程度であ
るかを考慮して設定される。そのため製造が完了したダ
イオードは、その検査工程において、バックパワーテス
トが実施され、保証値に満たないダイオードは不良とし
て選別される。この選別のためのテスト方法は、次のよ
うな方法により行なわれている。
まず、第５図にバックパワーの測定回路の模式図を示
す。
す。
図において、バックパワーの測定回路は測定端子T1,T
2を有し、この測定端子間T1,T2には、直流電源Ｅと定電
流回路Ｃ−１およびスイッチＳが接続され、また、測定
端子T1,T2間には、バックパワーを測定すべきダイオー
ド試料Ｄが図示のように接続される。
2を有し、この測定端子間T1,T2には、直流電源Ｅと定電
流回路Ｃ−１およびスイッチＳが接続され、また、測定
端子T1,T2間には、バックパワーを測定すべきダイオー
ド試料Ｄが図示のように接続される。
次に、スイッチＳを閉にすることにより定電流回路Ｃ
−１を介して直流電源Ｅからのバックパワーが試料Ｄに
加えられることになる。しかしながら、この方法では次
のような問題がある。以下、これを第６図を参照して詳
述する。
−１を介して直流電源Ｅからのバックパワーが試料Ｄに
加えられることになる。しかしながら、この方法では次
のような問題がある。以下、これを第６図を参照して詳
述する。
第６図はダイオード試料Ｄに加えられる逆電流IRと逆
電圧VRの関係を示す逆電圧・逆電流特性曲線図である。
図では横軸に逆電圧VR、縦軸に逆電流IRが採ってある。
電圧VRの関係を示す逆電圧・逆電流特性曲線図である。
図では横軸に逆電圧VR、縦軸に逆電流IRが採ってある。
図において、加えられるバックパワーPW0の所定値を
例えばPwo＝100Wとすると、そのダイオードの逆電圧Vr
が250Vあれば逆電流Ir＝100W/250V＝0.4Aとなり、スイ
ッチＳを閉にして定電流回路Ｃから0.4Aの逆電流を流す
ことによって試料Ｄには100Wのバックパワーが加えられ
ることになる。しかしながら試料Ｄの逆電圧・逆電流特
性が実線で示した曲線ではなく、破線で示したような特
性であった場合には、定電流回路Ｃから供給する電流が
Ir＝0.4Aで一定でVr1＜Vrとなるから、この場合のバッ
クパワーはPW0からPW1になり、所定値である100Wは加え
らないことになる。
例えばPwo＝100Wとすると、そのダイオードの逆電圧Vr
が250Vあれば逆電流Ir＝100W/250V＝0.4Aとなり、スイ
ッチＳを閉にして定電流回路Ｃから0.4Aの逆電流を流す
ことによって試料Ｄには100Wのバックパワーが加えられ
ることになる。しかしながら試料Ｄの逆電圧・逆電流特
性が実線で示した曲線ではなく、破線で示したような特
性であった場合には、定電流回路Ｃから供給する電流が
Ir＝0.4Aで一定でVr1＜Vrとなるから、この場合のバッ
クパワーはPW0からPW1になり、所定値である100Wは加え
らないことになる。
以上の結果、同一ロット内の多数のダイオードをテス
トすると、ダイオード試料Ｄの上記特性にバラツキによ
ってバックパワーPWが変動してしまう。また、印加する
逆電圧Vrを一定にした場合においても、逆電流特性のバ
ラツキによって、この場合もバックパワーPWがあらかじ
め定められた所定値にならない。
トすると、ダイオード試料Ｄの上記特性にバラツキによ
ってバックパワーPWが変動してしまう。また、印加する
逆電圧Vrを一定にした場合においても、逆電流特性のバ
ラツキによって、この場合もバックパワーPWがあらかじ
め定められた所定値にならない。
［発明が解決しようとする課題］ 従来のダイオードの特性検査方法では、ダイオード試
料Ｄに所定値のバックパワーを加えるにあたり、逆電圧
若しくは逆電流を一定にして加えても、それぞれのダイ
オード試料Ｄの逆電圧・逆電流特性のバラツキにより意
図した一定のバックパワーを加えることができず、正確
な検査が実施できないという解決すべき課題があった。
料Ｄに所定値のバックパワーを加えるにあたり、逆電圧
若しくは逆電流を一定にして加えても、それぞれのダイ
オード試料Ｄの逆電圧・逆電流特性のバラツキにより意
図した一定のバックパワーを加えることができず、正確
な検査が実施できないという解決すべき課題があった。
［発明の目的］ 本発明は上記のような課題を解決するためになされた
もので、ダイオード試料Ｄの逆電圧・逆電流特性のバラ
ツキがあっても常に意図する所定値のバックパワーを加
えることができ、正確な検査が実施できるダイオードの
特性検査方法を提供することを目的とする。
もので、ダイオード試料Ｄの逆電圧・逆電流特性のバラ
ツキがあっても常に意図する所定値のバックパワーを加
えることができ、正確な検査が実施できるダイオードの
特性検査方法を提供することを目的とする。
［課題を解決するための手段］ 本発明のダイオードの特性検査方法は、逆電流Ir1を
流した時の逆電圧Vr1と逆電流Ir2を流した時の逆電圧V
r2とを計測する計測手段と、該計測手段から計測した結
果から逆電圧・逆電流特性曲線の延長線上に所定値の逆
方向瞬時耐電力Ｐ点を算出する演算手段と、該演算手段
により算出されたＰ点を満たす逆電圧を印加する電圧印
加手段とを備えたものである。
流した時の逆電圧Vr1と逆電流Ir2を流した時の逆電圧V
r2とを計測する計測手段と、該計測手段から計測した結
果から逆電圧・逆電流特性曲線の延長線上に所定値の逆
方向瞬時耐電力Ｐ点を算出する演算手段と、該演算手段
により算出されたＰ点を満たす逆電圧を印加する電圧印
加手段とを備えたものである。
［作用］ 本発明のダイオードの特性検査方法においては、ま
ず、ダイオード試料Ｄに可変定電圧・定電流回路により
２種類の逆電流Ir1,Ir2を印加し、その時の逆電圧Vr1,V
r2を測定する。この結果に基づいて演算手段により逆方
向瞬時耐電力Ｐ点を算出し、電圧印加手段によりＰ点を
満たす逆電圧をダイオード試料Ｄに印加する。このた
め、所期の逆電圧が印加でき、正確なバックパワー検査
が可能となる。
ず、ダイオード試料Ｄに可変定電圧・定電流回路により
２種類の逆電流Ir1,Ir2を印加し、その時の逆電圧Vr1,V
r2を測定する。この結果に基づいて演算手段により逆方
向瞬時耐電力Ｐ点を算出し、電圧印加手段によりＰ点を
満たす逆電圧をダイオード試料Ｄに印加する。このた
め、所期の逆電圧が印加でき、正確なバックパワー検査
が可能となる。
［実施例］ 以下に本発明の一実施例を説明する。
まず、第１図に本発明の特許請求の範囲に対応する構
成をブロック図により示す。図において、１は、逆電流
Ir1を流した時の逆電圧Vr1と逆電流Ir2を流した時の逆
電圧Vr2とを計測するための計測手段である。２は、該
計測手段１から計測した値に基づいて逆電圧・逆電流特
性曲線の延長線上に所定値の逆方向瞬時耐電力Ｐ点を算
出するための演算手段である。３は、該演算手段２によ
り算出されたＰ点を満たす逆電圧を印加する電圧印加手
段である。
成をブロック図により示す。図において、１は、逆電流
Ir1を流した時の逆電圧Vr1と逆電流Ir2を流した時の逆
電圧Vr2とを計測するための計測手段である。２は、該
計測手段１から計測した値に基づいて逆電圧・逆電流特
性曲線の延長線上に所定値の逆方向瞬時耐電力Ｐ点を算
出するための演算手段である。３は、該演算手段２によ
り算出されたＰ点を満たす逆電圧を印加する電圧印加手
段である。
次に、第２図に本発明のダイオードの特性検査方法を
実施するための模式回路を示す。
実施するための模式回路を示す。
図において、直流電源Ｅと直列に可変定電圧・定電流
回路Ｃ−２と、スイッチＳとが接続されている。また、
ダイオード試料Ｄが短絡した場合の試験装置の保護およ
び測定誤差を小さくすることを目的として抵抗RSとが図
示のように測定端子T1とスイッチＳに接続されている。
この模式回路において、検査すべきダイオード試料Ｄは
測定端子T1,T2間に接続される。
回路Ｃ−２と、スイッチＳとが接続されている。また、
ダイオード試料Ｄが短絡した場合の試験装置の保護およ
び測定誤差を小さくすることを目的として抵抗RSとが図
示のように測定端子T1とスイッチＳに接続されている。
この模式回路において、検査すべきダイオード試料Ｄは
測定端子T1,T2間に接続される。
第３図はダイオード試料Ｄの逆電圧・逆電流特性曲線
を示すグラフである。
を示すグラフである。
グラフは横軸に逆電圧VR、縦軸に逆電流IRを採ってあ
る。また、図中、符号Ｐがダイオード試料Ｄに加える所
定値のバックパワーである。
る。また、図中、符号Ｐがダイオード試料Ｄに加える所
定値のバックパワーである。
次に、第４図にダイオード試料Ｄの等価回路図を示
す。
す。
図において、RZはダイオード試料Ｄの内部抵抗、VZは
同じく試料Ｄの逆電圧である。
同じく試料Ｄの逆電圧である。
そこで、再び第２図に戻って、まず当該回路Ｃ−２を
定電流回路として動作させ、ダイオード試料Ｄに逆電流
Ir1を流し、その時のダイオード試料Ｄの両端の逆電圧V
r1を測定する。
定電流回路として動作させ、ダイオード試料Ｄに逆電流
Ir1を流し、その時のダイオード試料Ｄの両端の逆電圧V
r1を測定する。
次に、ダイオード試料Ｄに逆電流Ir2を流し、その時
の逆電圧Vr2を測定する。
の逆電圧Vr2を測定する。
これらの値を基礎して次の式よりダイオード試料Ｄの
第４図に示した内部抵抗RZを求める。
第４図に示した内部抵抗RZを求める。
RZ＝Δv/Δｉ ＝（Vr2−Vr1）／（Ir2−Ir1）［Ω］ ・・・・・（１） 次に、上記（１）式により求めた内部抵抗RZを用い
て、次式より逆電流VZを求める。
て、次式より逆電流VZを求める。
VZ＝Vr2−（Ir2・RZ） ＝Vr1−（Ir1・RZ）［Ｖ］ ・・・（２） 次に、ダイオード試料Ｄに加えられるバックパワーを
所定値のＰとすると、第３図から逆電流IP、逆電圧VPの
時にＰとなることが分かる。
所定値のＰとすると、第３図から逆電流IP、逆電圧VPの
時にＰとなることが分かる。
ところで、バックパワーの所定値は、 Ｐ＝IP・VP ・・・・・・・・・・・・（３） によって表わされ、また、逆電流IPは、 IP＝VP−VZ/RZ ・・・・・・・・・（４） によって表わされる。
次に、上記（４）式を（３）式に代入すると、 Ｐ＝（VP−VZ/RZ）VP ＝（VP 2−VP・VZ）/RZ ・・・（５） となる。
また、上記（５）式を書き換えると、 PW・PZ＝VP 2−VP・VZとなり、さらにPW・PZを右辺に
移すと、 VP 2−VP・VZ−PW・PZ＝０ ・・・（６） となる。上記（６）式の２次方程式の解は、 となる。
移すと、 VP 2−VP・VZ−PW・PZ＝０ ・・・（６） となる。上記（６）式の２次方程式の解は、 となる。
故にIP＝P/VP ・・・・・・・・・・（８） を得る。
したがって、当該回路Ｃ−２で出力する定電圧は、 VC＝IP・RS＋VP ・・・・・・・・（９） となる。
以上から所定のバックパワーＰをダイオード試料Ｄに
加えるには、次に順序で行なう。
加えるには、次に順序で行なう。
第２図において、スイッチＳを閉じて当該回路Ｃ−２
から定電流Ir1をダイオード試料Ｄに流し、その時の逆
電圧Vr1を測定する。
から定電流Ir1をダイオード試料Ｄに流し、その時の逆
電圧Vr1を測定する。
次に、上記と同様にして定電流Ir2をダイオード試料
Ｄに流し、逆電圧Vr2を測定する。
Ｄに流し、逆電圧Vr2を測定する。
次に、スイッチＳを開にする。
上記，から得た値を前記（１）式、（２）式に代
入し、内部抵抗RZおよび逆電圧VZを求める。
入し、内部抵抗RZおよび逆電圧VZを求める。
上記から求められた内部抵抗RZおよび逆電圧VZを前
記（７）式に代入し、また、バックパワーＰを所定の値
に決めておけば、逆電圧VPが求まる。
記（７）式に代入し、また、バックパワーＰを所定の値
に決めておけば、逆電圧VPが求まる。
その結果、前記（８）式により逆電流IPが得られる。
当該回路Ｃ−２を定電圧回路として、前記（９）式か
ら定電圧VCを設定する。そして、スイッチＳを閉にして
約10μｓのパルス電圧をダイオード試料Ｄに印加する。
ら定電圧VCを設定する。そして、スイッチＳを閉にして
約10μｓのパルス電圧をダイオード試料Ｄに印加する。
なお、前記（９）式のRSは、回路保護とダイオード試
料Ｄの内部抵抗RZのバラツキの影響を小さくするための
もので、RS＝０であってもよい。また、第１図に模式的
に示したスイッチは半導体スイッチである。さらに、ダ
イオード試料Ｄの両端電圧Vr1,Vr2およびVPを測定する
手段は公知の手段であるため、特に図示してない。
料Ｄの内部抵抗RZのバラツキの影響を小さくするための
もので、RS＝０であってもよい。また、第１図に模式的
に示したスイッチは半導体スイッチである。さらに、ダ
イオード試料Ｄの両端電圧Vr1,Vr2およびVPを測定する
手段は公知の手段であるため、特に図示してない。
また、上記各式を計算する演算手段も図示を省略した
が、例えばマイクロコンピュータにより処理される。
が、例えばマイクロコンピュータにより処理される。
［発明の効果］ 本発明は上記のように構成したので、ダイオード試料
Ｄに所定値のバックパワーを加えるにあたり、それぞれ
のダイオード試料Ｄの逆電圧・逆電流特性のバラツキが
あっても意図した正確なバックパワーを印加することが
でき、その結果、正確な検査の実施が可能となるなどの
優れた効果がある。
Ｄに所定値のバックパワーを加えるにあたり、それぞれ
のダイオード試料Ｄの逆電圧・逆電流特性のバラツキが
あっても意図した正確なバックパワーを印加することが
でき、その結果、正確な検査の実施が可能となるなどの
優れた効果がある。
第１図は本発明の特許請求の範囲に対応するブロック
図、第２図は本発明を実施するための模式回路図、第３
図はダイオード試料Ｄの逆電圧・逆電流特性曲線図、第
４図はダイオード試料の等価回路図、第５図は従来のダ
イオードの特性検査方法を実施するための模式回路図、
第６図はダイオード試料Ｄの特性のバラツキにより逆電
圧・逆電流特性曲線が変化することを説明するための逆
電圧・逆電流特性曲線図である。 １……計測手段、２……演算手段、 ３……電圧印加手段、 Ir1,Ir2……逆電流、 Vr1,Vr2……逆電圧、 Ｐ……逆方向瞬時耐電力。
図、第２図は本発明を実施するための模式回路図、第３
図はダイオード試料Ｄの逆電圧・逆電流特性曲線図、第
４図はダイオード試料の等価回路図、第５図は従来のダ
イオードの特性検査方法を実施するための模式回路図、
第６図はダイオード試料Ｄの特性のバラツキにより逆電
圧・逆電流特性曲線が変化することを説明するための逆
電圧・逆電流特性曲線図である。 １……計測手段、２……演算手段、 ３……電圧印加手段、 Ir1,Ir2……逆電流、 Vr1,Vr2……逆電圧、 Ｐ……逆方向瞬時耐電力。
Claims (1)
- 【請求項１】逆方向に電圧・電流を加えて逆方向瞬時耐
電力を検査するダイオードの特性検査方法において、 逆電流Ir1を流した時の逆電圧Vr1と逆電流Ir2を流した
時の逆電圧Vr2とを計測する計測手段と、 該計測手段から計測した値に基づいて逆電圧・逆電流特
性曲線の延長線上に所定値の逆方向瞬時耐電力Ｐ点を算
出する演算手段と、 該演算手段により算出されたＰ点を満たす逆電圧を印加
する電圧印加手段と、 を有することを特徴とするダイオードの特性検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2187177A JP2972291B2 (ja) | 1990-07-17 | 1990-07-17 | ダイオードの特性検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2187177A JP2972291B2 (ja) | 1990-07-17 | 1990-07-17 | ダイオードの特性検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0474975A JPH0474975A (ja) | 1992-03-10 |
| JP2972291B2 true JP2972291B2 (ja) | 1999-11-08 |
Family
ID=16201456
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2187177A Expired - Lifetime JP2972291B2 (ja) | 1990-07-17 | 1990-07-17 | ダイオードの特性検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2972291B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111596195B (zh) * | 2020-05-13 | 2022-11-04 | 北京星河泰视特科技有限公司 | 一种检测二极管电路的方法和装置 |
-
1990
- 1990-07-17 JP JP2187177A patent/JP2972291B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0474975A (ja) | 1992-03-10 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
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