JP2868354B2 - 導通試験装置 - Google Patents
導通試験装置Info
- Publication number
- JP2868354B2 JP2868354B2 JP4037441A JP3744192A JP2868354B2 JP 2868354 B2 JP2868354 B2 JP 2868354B2 JP 4037441 A JP4037441 A JP 4037441A JP 3744192 A JP3744192 A JP 3744192A JP 2868354 B2 JP2868354 B2 JP 2868354B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- contact
- test
- terminal
- voltage
- continuity
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
に被試験物への試験端子の接触不良による良否判定の誤
差を排除できる導通試験装置に関する。
す様に、被試験物11の接点10の導通試験を行う場合
に、接点端子13,14に接続された試験端子T5,T
6の両端に導通信号判定器C3と地気GNDを有してい
る。もし、接点10に導通がなければ不良となり、導通
信号判定器C3の出力に接点導通信号14が出力され
ず、良品の場合には接点導通信号が出力される。しか
し、この判定において不良判定時には、接点10の導通
不良であるのか、試験端子の接触不良であるのかの区別
を行わず、導通不良として判定されていた。
験装置では、導通不良判定時に本来の不良である接点の
導通不良のほかに、試験状態における試験端子の接触不
良が含まれてしまうという欠点があった。
試験すべき接点に試験用電圧を入力する第1の接点端子
とこの試験用電圧を出力する第2の接点端子とを有する
被試験物の導通を試験する導通試験装置において、前記
試験用電圧として接地との間に供給される電源V CC と前
記第1の接点端子に前記電圧V CC を供給する試験接点T
1と前記電圧V CC を抵抗γ2を介して前記第1の接点端
子に供給する試験接点T2と前記試験接点T2の端子か
ら抵抗γ3を介して前記第2の接点端子に接触する試験
接点T3と前記試験端子T3の端子から抵抗γ4を介し
て前記第2の接点端子に接触しかつ前記接地に接続され
る試験接点T4とを有する判定用電圧生成回路と、前記
導通試験結果の判定基準となる接点導通判定用基準電圧
を発生する第1の基準電圧発生回路と、前記判定用電圧
生成回路から出力する判定用電圧と前記接点導通判定用
基準電圧とを比較し接点の導通良否を判定する接点導通
判定用比較器と、前記接点の導通不良判定時に試験端子
の接触不良を判定する試験端子接触判定用基準電圧を発
生する第2の基準電圧発生回路と、前記判定用電圧生成
回路から出力する判定用電圧と前記試験端子接触判定用
基準電圧とを比較し導通不良判定原因が前記試験端子の
接触不良に起因する不良か否かを判定する試験端子接触
判定用比較器とを備え前記抵抗γ2とγ3とγ4とが
(γ2+γ4)<γ3に設定されている。
る。図1は本発明の一実施例の回路図である。図1は判
定用電圧生成回路1および良否判定回路2より構成され
る。判定用電圧生成回路1は、被試験物10の接点端子
3,4の両端に接続された試験端子T1〜T4と、試験
端子に接続され判定用電圧V1を生成する判定用電圧生
成用抵抗r1〜r4により構成される。良否判定回路2
は、接点導通判定用基準電圧を発生する基準電圧発生回
路7と、試験端子接触判定用基準電圧を発生する基準電
圧発生回路8と、判定用電圧V1と、基準電圧発生回路
7より発生する接点導通判定用基準電圧とを比較し、被
試験接点9の導通を判定する比較器C1と、接点の導通
不良判定時に、導通不良判定原因が試験端子の接触不良
に起因する不良判定か否かを判定するために、判定用電
圧V1と基準電圧発生回路8より発生する試験端子接触
判定用基準電圧とを比較し、接点と試験端子の接触を判
定する比較器C2により構成される。
いて図1および図2を用いて説明する。まず、判定条件
については、比較器C1は、判定用電圧V1が接点導通
判定用基準電圧より小さい場合を接点導通良と判定す
る。また、比較器C2は、判定用電圧V1が試験端子接
触判定用基準電圧より大きい場合を試験端子の接触不良
と判定する事とする。被試験接点の導通良判定条件は、
試験端子全てが被試験物の接点端子に接触しているか、
または、試験端子T1または試験端子T2のいずれかが
被試験物の接点端子に接触し、かつ試験端子T3または
試験端子T4のいずれかが被試験物の接点端子に接触し
ている場合であり、いずれも電源Vccより供給される
電流が抵抗r1、被試験接点、および、試験端子の接触
状態により、抵抗r2、抵抗r4を流れた場合である。
試験端子T1〜T4の全てが被試験物の接点端子に接触
して、電源Vccより供給される電流が抵抗r1から、
抵抗r3を流れた場合である。また、試験端子の接触不
良判定条件は、試験端子T1、T2の両方が被試験物の
接点端子に接触していない、あるいは試験端子T3、T
4の両方が被試験物の接点端子に接触していない場合、
または、試験端子T1〜T4のうち3つの端子が被試験
物の接点端子に接触していない場合のいずれかであり、
電源Vccより供給される電流が被試験接点を流れずに
抵抗r3、および、試験端子の接触状態により、抵抗r
2、抵抗r4を流れた場合である。すなわち、流れる電
流の経路により、比較器C1、比較器C2へ入力される
判定用電圧V1は抵抗r1と抵抗r2〜抵抗r4との比
率によって決定される。
計算式と、抵抗r1〜抵抗r4に値を代入したときの判
定用電圧を示す。接点導通良判定条件は、判定用電圧計
算式中に抵抗r3が含まれていない事であり、接点導通
不良判定条件は、判定用電圧計算式中に抵抗r3のみが
含まれている事であり、試験端子の接触不良は、判定用
電圧計算式中に抵抗r3および抵抗r2または、抵抗r
4のいずれか、または抵抗r2,r3,r4が含まれて
いる。
良<試験端子接触不良とすれば、(r2+r4)<r3
に設定すれば良い。
基ずき、電源Vcc=5v,抵抗r1=10Ω、抵抗r
2=2Ω、抵抗r3=10Ω、抵抗r4=4Ωを代入し
て計算した時の判定用電圧計算値を示す。判定用電圧計
算値に、試験端子T1、T2と接点端子3との接触抵抗
および、試験端子T3,T4と接点端子4との接触抵抗
とを考慮して、判定を行うための電圧は下記の条件
(1),(2),(3)によって行う。
合には、下記の条件(4),(5),(6)で判定する
事が出来る。
判定用基準電圧を2.5vに設定し、試験端子接触判定
用基準電圧発生回路8の試験端子接触判定用基準電圧を
2.73vに設定すれば、導通試験が接点導通良判定時
には、比較器C1は、判定用電圧と接点導通判定用基準
電圧とを比較し、接点導通信号5を出力する。比較器C
2は、判定用電圧V1と試験端子接触判定用基準電圧と
を比較し、試験端子導通信号6を出力する。
器C1、判定用電圧V1と接点導通判定用基準電圧とを
比較し、接点導通信号5を出力しない。比較器C2は、
判定用電圧V1と試験端子接触判定用基準電圧とを比較
し、試験端子導通信号6を出力する。
は、接点導通判定用比較器C1は、判定用電圧V1と接
点導通判定用基準電圧とを比較し、接点導通信号5を出
力しない。試験端子接触判定用比較器C2は、判定用電
圧V1と試験端子接触判定用基準電圧とを比較し、試験
端子導通信号6を出力しない。
接点導通判定を行い、接点導通判定が不良となった場合
に試験端子導通信号6により試験端子の接触不良判定を
行う事が出来る。
圧生成回路と良否判定回路とを備えることにより、接点
の導通不良か試験端子の接触不良かのいずれであるかを
容易に判定出来る。又、基準電圧発生回路と試験端子接
触判定用比較器を追加する事により容易に不良端子を判
別出来るという効果がある。
Claims (1)
- 【請求項1】 試験すべき接点に試験用電圧を入力する
第1の接点端子とこの試験用電圧を出力する第2の接点
端子とを有する被試験物の導通を試験する導通試験装置
において、前記試験用電圧として接地との間に供給され
る電源V CC と前記第1の接点端子に前記電圧V CC を供給
する試験接点T1と前記電圧V CC を抵抗γ2を介して前
記第1の接点端子に供給する試験接点T2と前記試験接
点T2の端子から抵抗γ3を介して前記第2の接点端子
に接触する試験接点T3と前記試験端子T3の端子から
抵抗γ4を介して前記第2の接点端子に接触しかつ前記
接地に接続される試験接点T4とを有する判定用電圧生
成回路と、前記導通試験結果の判定基準となる接点導通
判定用基準電圧を発生する第1の基準電圧発生回路と、
前記判定用電圧生成回路から出力する判定用電圧と前記
接点導通判定用基準電圧とを比較し接点の導通良否を判
定する接点導通判定用比較器と、前記接点の導通不良判
定時に試験端子の接触不良を判定する試験端子接触判定
用基準電圧を発生する第2の基準電圧発生回路と、前記
判定用電圧生成回路から出力する判定用電圧と前記試験
端子接触判定用基準電圧とを比較し導通不良判定原因が
前記試験端子の接触不良に起因する不良か否かを判定す
る試験端子接触判定用比較器とを備え前記抵抗γ2とγ
3とγ4とが(γ2+γ4)<γ3に設定されているこ
とを特徴とする導通試験装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4037441A JP2868354B2 (ja) | 1992-02-25 | 1992-02-25 | 導通試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4037441A JP2868354B2 (ja) | 1992-02-25 | 1992-02-25 | 導通試験装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05232176A JPH05232176A (ja) | 1993-09-07 |
JP2868354B2 true JP2868354B2 (ja) | 1999-03-10 |
Family
ID=12497602
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4037441A Expired - Fee Related JP2868354B2 (ja) | 1992-02-25 | 1992-02-25 | 導通試験装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2868354B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN112292744B (zh) | 2018-06-27 | 2024-03-19 | 打矢恒温器株式会社 | 电子设备 |
WO2021014558A1 (ja) * | 2019-07-23 | 2021-01-28 | 三菱電機株式会社 | 入力診断装置及び入力診断方法 |
-
1992
- 1992-02-25 JP JP4037441A patent/JP2868354B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH05232176A (ja) | 1993-09-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7373574B2 (en) | Semiconductor testing apparatus and method of testing semiconductor | |
JPH05119084A (ja) | インピーダンス測定装置の接触判定回路及び接触判定方法 | |
JPH05232147A (ja) | 試験物体から取り出された電位降下を所定の入力電圧範囲から所望の出力電圧範囲へ変換するための回路構成 | |
JP2868354B2 (ja) | 導通試験装置 | |
JPH07244125A (ja) | Ic試験装置 | |
JPH01502534A (ja) | 3―状態回路試験装置 | |
JP2610640B2 (ja) | 自動車の少なくとも2つの電気的負荷を検査する装置 | |
KR100310971B1 (ko) | 와이어 하네스 시험방법 및 이를 수행하기 위한 시스템 | |
JPH01502391A (ja) | ケーブルの故障検出装置 | |
JP4259692B2 (ja) | 回路基板検査装置 | |
JPS59171869A (ja) | 電気素子の直線性及び非直線性の検出方法 | |
JP3353288B2 (ja) | Lsi試験装置 | |
JP2730504B2 (ja) | 試験用プローブピンの接触不良判断方法およびインサーキットテスタ | |
JPH05273298A (ja) | 半導体集積回路装置及びそのテスト方法 | |
JPH06160487A (ja) | Cmos型集積回路のテストパターンおよび試験方法,テストパターンの作成方法 | |
JP2007093460A (ja) | 半導体試験装置および半導体試験方法 | |
JP2972291B2 (ja) | ダイオードの特性検査方法 | |
JP3430513B2 (ja) | カレントモードロジック回路の試験装置及びその試験方法 | |
US4551672A (en) | Active probe | |
JP2985895B2 (ja) | 半導体装置の試験方法 | |
JPS5823590B2 (ja) | ソクテイソウチ | |
JPH0968558A (ja) | 半導体装置及びその検査方法 | |
JPH10339756A (ja) | ピン間ショート検査方法及びその検査方法を用いたlsi試験装置 | |
JP2001054150A (ja) | 加入者回路 | |
JPH08105935A (ja) | 半導体集積回路の検査装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19981117 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
R360 | Written notification for declining of transfer of rights |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R360 |
|
R370 | Written measure of declining of transfer procedure |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R370 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071225 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081225 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091225 Year of fee payment: 11 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |