JP2868354B2 - 導通試験装置 - Google Patents
導通試験装置Info
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- JP2868354B2 JP2868354B2 JP4037441A JP3744192A JP2868354B2 JP 2868354 B2 JP2868354 B2 JP 2868354B2 JP 4037441 A JP4037441 A JP 4037441A JP 3744192 A JP3744192 A JP 3744192A JP 2868354 B2 JP2868354 B2 JP 2868354B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は導通試験装置に関し、特
に被試験物への試験端子の接触不良による良否判定の誤
差を排除できる導通試験装置に関する。
に被試験物への試験端子の接触不良による良否判定の誤
差を排除できる導通試験装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、この種の導通試験装置は図３に示
す様に、被試験物１１の接点１０の導通試験を行う場合
に、接点端子１３，１４に接続された試験端子Ｔ５，Ｔ
６の両端に導通信号判定器Ｃ３と地気ＧＮＤを有してい
る。もし、接点１０に導通がなければ不良となり、導通
信号判定器Ｃ３の出力に接点導通信号１４が出力され
ず、良品の場合には接点導通信号が出力される。しか
し、この判定において不良判定時には、接点１０の導通
不良であるのか、試験端子の接触不良であるのかの区別
を行わず、導通不良として判定されていた。
す様に、被試験物１１の接点１０の導通試験を行う場合
に、接点端子１３，１４に接続された試験端子Ｔ５，Ｔ
６の両端に導通信号判定器Ｃ３と地気ＧＮＤを有してい
る。もし、接点１０に導通がなければ不良となり、導通
信号判定器Ｃ３の出力に接点導通信号１４が出力され
ず、良品の場合には接点導通信号が出力される。しか
し、この判定において不良判定時には、接点１０の導通
不良であるのか、試験端子の接触不良であるのかの区別
を行わず、導通不良として判定されていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の導通試
験装置では、導通不良判定時に本来の不良である接点の
導通不良のほかに、試験状態における試験端子の接触不
良が含まれてしまうという欠点があった。
験装置では、導通不良判定時に本来の不良である接点の
導通不良のほかに、試験状態における試験端子の接触不
良が含まれてしまうという欠点があった。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明の導通試験装置は
試験すべき接点に試験用電圧を入力する第１の接点端子
とこの試験用電圧を出力する第２の接点端子とを有する
被試験物の導通を試験する導通試験装置において、前記
試験用電圧として接地との間に供給される電源Ｖ CC と前
記第１の接点端子に前記電圧Ｖ CC を供給する試験接点Ｔ
１と前記電圧Ｖ CC を抵抗γ２を介して前記第１の接点端
子に供給する試験接点Ｔ２と前記試験接点Ｔ２の端子か
ら抵抗γ３を介して前記第２の接点端子に接触する試験
接点Ｔ３と前記試験端子Ｔ３の端子から抵抗γ４を介し
て前記第２の接点端子に接触しかつ前記接地に接続され
る試験接点Ｔ４とを有する判定用電圧生成回路と、前記
導通試験結果の判定基準となる接点導通判定用基準電圧
を発生する第１の基準電圧発生回路と、前記判定用電圧
生成回路から出力する判定用電圧と前記接点導通判定用
基準電圧とを比較し接点の導通良否を判定する接点導通
判定用比較器と、前記接点の導通不良判定時に試験端子
の接触不良を判定する試験端子接触判定用基準電圧を発
生する第２の基準電圧発生回路と、前記判定用電圧生成
回路から出力する判定用電圧と前記試験端子接触判定用
基準電圧とを比較し導通不良判定原因が前記試験端子の
接触不良に起因する不良か否かを判定する試験端子接触
判定用比較器とを備え前記抵抗γ２とγ３とγ４とが
（γ２＋γ４）＜γ３に設定されている。
試験すべき接点に試験用電圧を入力する第１の接点端子
とこの試験用電圧を出力する第２の接点端子とを有する
被試験物の導通を試験する導通試験装置において、前記
試験用電圧として接地との間に供給される電源Ｖ CC と前
記第１の接点端子に前記電圧Ｖ CC を供給する試験接点Ｔ
１と前記電圧Ｖ CC を抵抗γ２を介して前記第１の接点端
子に供給する試験接点Ｔ２と前記試験接点Ｔ２の端子か
ら抵抗γ３を介して前記第２の接点端子に接触する試験
接点Ｔ３と前記試験端子Ｔ３の端子から抵抗γ４を介し
て前記第２の接点端子に接触しかつ前記接地に接続され
る試験接点Ｔ４とを有する判定用電圧生成回路と、前記
導通試験結果の判定基準となる接点導通判定用基準電圧
を発生する第１の基準電圧発生回路と、前記判定用電圧
生成回路から出力する判定用電圧と前記接点導通判定用
基準電圧とを比較し接点の導通良否を判定する接点導通
判定用比較器と、前記接点の導通不良判定時に試験端子
の接触不良を判定する試験端子接触判定用基準電圧を発
生する第２の基準電圧発生回路と、前記判定用電圧生成
回路から出力する判定用電圧と前記試験端子接触判定用
基準電圧とを比較し導通不良判定原因が前記試験端子の
接触不良に起因する不良か否かを判定する試験端子接触
判定用比較器とを備え前記抵抗γ２とγ３とγ４とが
（γ２＋γ４）＜γ３に設定されている。
【０００５】
【実施例】次に本発明について図面を参照して説明す
る。図１は本発明の一実施例の回路図である。図１は判
定用電圧生成回路１および良否判定回路２より構成され
る。判定用電圧生成回路１は、被試験物１０の接点端子
３，４の両端に接続された試験端子Ｔ１〜Ｔ４と、試験
端子に接続され判定用電圧Ｖ１を生成する判定用電圧生
成用抵抗ｒ１〜ｒ４により構成される。良否判定回路２
は、接点導通判定用基準電圧を発生する基準電圧発生回
路７と、試験端子接触判定用基準電圧を発生する基準電
圧発生回路８と、判定用電圧Ｖ１と、基準電圧発生回路
７より発生する接点導通判定用基準電圧とを比較し、被
試験接点９の導通を判定する比較器Ｃ１と、接点の導通
不良判定時に、導通不良判定原因が試験端子の接触不良
に起因する不良判定か否かを判定するために、判定用電
圧Ｖ１と基準電圧発生回路８より発生する試験端子接触
判定用基準電圧とを比較し、接点と試験端子の接触を判
定する比較器Ｃ２により構成される。
る。図１は本発明の一実施例の回路図である。図１は判
定用電圧生成回路１および良否判定回路２より構成され
る。判定用電圧生成回路１は、被試験物１０の接点端子
３，４の両端に接続された試験端子Ｔ１〜Ｔ４と、試験
端子に接続され判定用電圧Ｖ１を生成する判定用電圧生
成用抵抗ｒ１〜ｒ４により構成される。良否判定回路２
は、接点導通判定用基準電圧を発生する基準電圧発生回
路７と、試験端子接触判定用基準電圧を発生する基準電
圧発生回路８と、判定用電圧Ｖ１と、基準電圧発生回路
７より発生する接点導通判定用基準電圧とを比較し、被
試験接点９の導通を判定する比較器Ｃ１と、接点の導通
不良判定時に、導通不良判定原因が試験端子の接触不良
に起因する不良判定か否かを判定するために、判定用電
圧Ｖ１と基準電圧発生回路８より発生する試験端子接触
判定用基準電圧とを比較し、接点と試験端子の接触を判
定する比較器Ｃ２により構成される。
【０００６】次に、本実施例の動作および判定方法につ
いて図１および図２を用いて説明する。まず、判定条件
については、比較器Ｃ１は、判定用電圧Ｖ１が接点導通
判定用基準電圧より小さい場合を接点導通良と判定す
る。また、比較器Ｃ２は、判定用電圧Ｖ１が試験端子接
触判定用基準電圧より大きい場合を試験端子の接触不良
と判定する事とする。被試験接点の導通良判定条件は、
試験端子全てが被試験物の接点端子に接触しているか、
または、試験端子Ｔ１または試験端子Ｔ２のいずれかが
被試験物の接点端子に接触し、かつ試験端子Ｔ３または
試験端子Ｔ４のいずれかが被試験物の接点端子に接触し
ている場合であり、いずれも電源Ｖｃｃより供給される
電流が抵抗ｒ１、被試験接点、および、試験端子の接触
状態により、抵抗ｒ２、抵抗ｒ４を流れた場合である。
いて図１および図２を用いて説明する。まず、判定条件
については、比較器Ｃ１は、判定用電圧Ｖ１が接点導通
判定用基準電圧より小さい場合を接点導通良と判定す
る。また、比較器Ｃ２は、判定用電圧Ｖ１が試験端子接
触判定用基準電圧より大きい場合を試験端子の接触不良
と判定する事とする。被試験接点の導通良判定条件は、
試験端子全てが被試験物の接点端子に接触しているか、
または、試験端子Ｔ１または試験端子Ｔ２のいずれかが
被試験物の接点端子に接触し、かつ試験端子Ｔ３または
試験端子Ｔ４のいずれかが被試験物の接点端子に接触し
ている場合であり、いずれも電源Ｖｃｃより供給される
電流が抵抗ｒ１、被試験接点、および、試験端子の接触
状態により、抵抗ｒ２、抵抗ｒ４を流れた場合である。
【０００７】次に、被試験接点の導通不良判定条件は、
試験端子Ｔ１〜Ｔ４の全てが被試験物の接点端子に接触
して、電源Ｖｃｃより供給される電流が抵抗ｒ１から、
抵抗ｒ３を流れた場合である。また、試験端子の接触不
良判定条件は、試験端子Ｔ１、Ｔ２の両方が被試験物の
接点端子に接触していない、あるいは試験端子Ｔ３、Ｔ
４の両方が被試験物の接点端子に接触していない場合、
または、試験端子Ｔ１〜Ｔ４のうち３つの端子が被試験
物の接点端子に接触していない場合のいずれかであり、
電源Ｖｃｃより供給される電流が被試験接点を流れずに
抵抗ｒ３、および、試験端子の接触状態により、抵抗ｒ
２、抵抗ｒ４を流れた場合である。すなわち、流れる電
流の経路により、比較器Ｃ１、比較器Ｃ２へ入力される
判定用電圧Ｖ１は抵抗ｒ１と抵抗ｒ２〜抵抗ｒ４との比
率によって決定される。
試験端子Ｔ１〜Ｔ４の全てが被試験物の接点端子に接触
して、電源Ｖｃｃより供給される電流が抵抗ｒ１から、
抵抗ｒ３を流れた場合である。また、試験端子の接触不
良判定条件は、試験端子Ｔ１、Ｔ２の両方が被試験物の
接点端子に接触していない、あるいは試験端子Ｔ３、Ｔ
４の両方が被試験物の接点端子に接触していない場合、
または、試験端子Ｔ１〜Ｔ４のうち３つの端子が被試験
物の接点端子に接触していない場合のいずれかであり、
電源Ｖｃｃより供給される電流が被試験接点を流れずに
抵抗ｒ３、および、試験端子の接触状態により、抵抗ｒ
２、抵抗ｒ４を流れた場合である。すなわち、流れる電
流の経路により、比較器Ｃ１、比較器Ｃ２へ入力される
判定用電圧Ｖ１は抵抗ｒ１と抵抗ｒ２〜抵抗ｒ４との比
率によって決定される。
【０００８】図２に接触不良試験端子別の判定用電圧の
計算式と、抵抗ｒ１〜抵抗ｒ４に値を代入したときの判
定用電圧を示す。接点導通良判定条件は、判定用電圧計
算式中に抵抗ｒ３が含まれていない事であり、接点導通
不良判定条件は、判定用電圧計算式中に抵抗ｒ３のみが
含まれている事であり、試験端子の接触不良は、判定用
電圧計算式中に抵抗ｒ３および抵抗ｒ２または、抵抗ｒ
４のいずれか、または抵抗ｒ２，ｒ３，ｒ４が含まれて
いる。
計算式と、抵抗ｒ１〜抵抗ｒ４に値を代入したときの判
定用電圧を示す。接点導通良判定条件は、判定用電圧計
算式中に抵抗ｒ３が含まれていない事であり、接点導通
不良判定条件は、判定用電圧計算式中に抵抗ｒ３のみが
含まれている事であり、試験端子の接触不良は、判定用
電圧計算式中に抵抗ｒ３および抵抗ｒ２または、抵抗ｒ
４のいずれか、または抵抗ｒ２，ｒ３，ｒ４が含まれて
いる。
【０００９】従って、判定用電圧を導通良＜接点導通不
良＜試験端子接触不良とすれば、（ｒ２＋ｒ４）＜ｒ３
に設定すれば良い。
良＜試験端子接触不良とすれば、（ｒ２＋ｒ４）＜ｒ３
に設定すれば良い。
【００１０】図２の判定用電圧の項目に図２の計算式に
基ずき、電源Ｖｃｃ＝５ｖ，抵抗ｒ１＝１０Ω、抵抗ｒ
２＝２Ω、抵抗ｒ３＝１０Ω、抵抗ｒ４＝４Ωを代入し
て計算した時の判定用電圧計算値を示す。判定用電圧計
算値に、試験端子Ｔ１、Ｔ２と接点端子３との接触抵抗
および、試験端子Ｔ３，Ｔ４と接点端子４との接触抵抗
とを考慮して、判定を行うための電圧は下記の条件
（１），（２），（３）によって行う。
基ずき、電源Ｖｃｃ＝５ｖ，抵抗ｒ１＝１０Ω、抵抗ｒ
２＝２Ω、抵抗ｒ３＝１０Ω、抵抗ｒ４＝４Ωを代入し
て計算した時の判定用電圧計算値を示す。判定用電圧計
算値に、試験端子Ｔ１、Ｔ２と接点端子３との接触抵抗
および、試験端子Ｔ３，Ｔ４と接点端子４との接触抵抗
とを考慮して、判定を行うための電圧は下記の条件
（１），（２），（３）によって行う。
【００１１】 接点導通良条件 判定用電圧＜２．５ｖ （１） 接点導通不良条件 ２．５ｖ≦判定用電圧＜２．７３ｖ （２） 試験端子接触不良条件 ２．７３ｖ≦判定用電圧 （３） さらに、試験端子の接触不良の詳細内容が必要である場
合には、下記の条件（４），（５），（６）で判定する
事が出来る。
合には、下記の条件（４），（５），（６）で判定する
事が出来る。
【００１２】 端子１、２側接触不良条件 ２．７３ｖ≦判定用電圧＜２．９２ｖ （４） 端子３、４側接触不良条件 ２．９２ｖ≦判定用電圧＜３．０８ｖ （５） 両側試験端子接触不良条件 ３．０８ｖ≦判定用電圧 （６） 従って、接点導通判定用基準電圧発生回路７の接点導通
判定用基準電圧を２．５ｖに設定し、試験端子接触判定
用基準電圧発生回路８の試験端子接触判定用基準電圧を
２．７３ｖに設定すれば、導通試験が接点導通良判定時
には、比較器Ｃ１は、判定用電圧と接点導通判定用基準
電圧とを比較し、接点導通信号５を出力する。比較器Ｃ
２は、判定用電圧Ｖ１と試験端子接触判定用基準電圧と
を比較し、試験端子導通信号６を出力する。
判定用基準電圧を２．５ｖに設定し、試験端子接触判定
用基準電圧発生回路８の試験端子接触判定用基準電圧を
２．７３ｖに設定すれば、導通試験が接点導通良判定時
には、比較器Ｃ１は、判定用電圧と接点導通判定用基準
電圧とを比較し、接点導通信号５を出力する。比較器Ｃ
２は、判定用電圧Ｖ１と試験端子接触判定用基準電圧と
を比較し、試験端子導通信号６を出力する。
【００１３】導通判定が接点導通不良判定時には、比較
器Ｃ１、判定用電圧Ｖ１と接点導通判定用基準電圧とを
比較し、接点導通信号５を出力しない。比較器Ｃ２は、
判定用電圧Ｖ１と試験端子接触判定用基準電圧とを比較
し、試験端子導通信号６を出力する。
器Ｃ１、判定用電圧Ｖ１と接点導通判定用基準電圧とを
比較し、接点導通信号５を出力しない。比較器Ｃ２は、
判定用電圧Ｖ１と試験端子接触判定用基準電圧とを比較
し、試験端子導通信号６を出力する。
【００１４】導通判定が試験端子の接触不良判定時に
は、接点導通判定用比較器Ｃ１は、判定用電圧Ｖ１と接
点導通判定用基準電圧とを比較し、接点導通信号５を出
力しない。試験端子接触判定用比較器Ｃ２は、判定用電
圧Ｖ１と試験端子接触判定用基準電圧とを比較し、試験
端子導通信号６を出力しない。
は、接点導通判定用比較器Ｃ１は、判定用電圧Ｖ１と接
点導通判定用基準電圧とを比較し、接点導通信号５を出
力しない。試験端子接触判定用比較器Ｃ２は、判定用電
圧Ｖ１と試験端子接触判定用基準電圧とを比較し、試験
端子導通信号６を出力しない。
【００１５】以上説明した様に、接点導通信号５により
接点導通判定を行い、接点導通判定が不良となった場合
に試験端子導通信号６により試験端子の接触不良判定を
行う事が出来る。
接点導通判定を行い、接点導通判定が不良となった場合
に試験端子導通信号６により試験端子の接触不良判定を
行う事が出来る。
【００１６】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、判定用電
圧生成回路と良否判定回路とを備えることにより、接点
の導通不良か試験端子の接触不良かのいずれであるかを
容易に判定出来る。又、基準電圧発生回路と試験端子接
触判定用比較器を追加する事により容易に不良端子を判
別出来るという効果がある。
圧生成回路と良否判定回路とを備えることにより、接点
の導通不良か試験端子の接触不良かのいずれであるかを
容易に判定出来る。又、基準電圧発生回路と試験端子接
触判定用比較器を追加する事により容易に不良端子を判
別出来るという効果がある。
【図１】本発明の一実施例の回路図である。
【図２】本実施例の説明図である。
【図３】従来の導通試験装置の回路図である。
１ 判定用電圧生成回路 ２ 良否判定回路 ３，４ 接点端子 ５ 接点導通信号 ６ 試験端子導通信号 ７，８ 基準電圧発生回路 ９ 被試験接点 １０ 被試験物 １１ 被試験物 Ｃ１，Ｃ２ 比較器 Ｔ１〜Ｔ６ 試験端子 ｒ１〜ｒ４ 抵抗 Ｖｃｃ 電源 Ｖ１ 判定用電圧
Claims (1)
- 【請求項１】 試験すべき接点に試験用電圧を入力する
第１の接点端子とこの試験用電圧を出力する第２の接点
端子とを有する被試験物の導通を試験する導通試験装置
において、前記試験用電圧として接地との間に供給され
る電源Ｖ CC と前記第１の接点端子に前記電圧Ｖ CC を供給
する試験接点Ｔ１と前記電圧Ｖ CC を抵抗γ２を介して前
記第１の接点端子に供給する試験接点Ｔ２と前記試験接
点Ｔ２の端子から抵抗γ３を介して前記第２の接点端子
に接触する試験接点Ｔ３と前記試験端子Ｔ３の端子から
抵抗γ４を介して前記第２の接点端子に接触しかつ前記
接地に接続される試験接点Ｔ４とを有する判定用電圧生
成回路と、前記導通試験結果の判定基準となる接点導通
判定用基準電圧を発生する第１の基準電圧発生回路と、
前記判定用電圧生成回路から出力する判定用電圧と前記
接点導通判定用基準電圧とを比較し接点の導通良否を判
定する接点導通判定用比較器と、前記接点の導通不良判
定時に試験端子の接触不良を判定する試験端子接触判定
用基準電圧を発生する第２の基準電圧発生回路と、前記
判定用電圧生成回路から出力する判定用電圧と前記試験
端子接触判定用基準電圧とを比較し導通不良判定原因が
前記試験端子の接触不良に起因する不良か否かを判定す
る試験端子接触判定用比較器とを備え前記抵抗γ２とγ
３とγ４とが（γ２＋γ４）＜γ３に設定されているこ
とを特徴とする導通試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4037441A JP2868354B2 (ja) | 1992-02-25 | 1992-02-25 | 導通試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4037441A JP2868354B2 (ja) | 1992-02-25 | 1992-02-25 | 導通試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05232176A JPH05232176A (ja) | 1993-09-07 |
| JP2868354B2 true JP2868354B2 (ja) | 1999-03-10 |
Family
ID=12497602
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4037441A Expired - Fee Related JP2868354B2 (ja) | 1992-02-25 | 1992-02-25 | 導通試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2868354B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN112292744B (zh) | 2018-06-27 | 2024-03-19 | 打矢恒温器株式会社 | 电子设备 |
| WO2021014558A1 (ja) * | 2019-07-23 | 2021-01-28 | 三菱電機株式会社 | 入力診断装置及び入力診断方法 |
-
1992
- 1992-02-25 JP JP4037441A patent/JP2868354B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH05232176A (ja) | 1993-09-07 |
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