JPH07151819A - 集積回路試験装置 - Google Patents
集積回路試験装置Info
- Publication number
- JPH07151819A JPH07151819A JP5326238A JP32623893A JPH07151819A JP H07151819 A JPH07151819 A JP H07151819A JP 5326238 A JP5326238 A JP 5326238A JP 32623893 A JP32623893 A JP 32623893A JP H07151819 A JPH07151819 A JP H07151819A
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- JP
- Japan
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- terminal
- integrated circuit
- measured
- resistance
- current
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 集積回路試験装置の直流特性測定における接
続系の抵抗による誤差の低減が可能な集積回路試験装置
を提供する。 【構成】 直流特性測定器の電流出力３１と電圧入力３
２との間を抵抗４により閉じ、電流出力はリレー１３を
通り出力端子５１から被測定集積回路に接続され、電圧
入力３１はリレー１４を通り入力端子５２から被測定集
積回路に接続され、ここで閉じる。
続系の抵抗による誤差の低減が可能な集積回路試験装置
を提供する。 【構成】 直流特性測定器の電流出力３１と電圧入力３
２との間を抵抗４により閉じ、電流出力はリレー１３を
通り出力端子５１から被測定集積回路に接続され、電圧
入力３１はリレー１４を通り入力端子５２から被測定集
積回路に接続され、ここで閉じる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は集積回路試験装置、特
に例えば論理動作試験（ファンクションテスト）を行う
回路と直流特性を測定する回路とを切り換えて試験を行
う集積回路試験装置についてのものである。
に例えば論理動作試験（ファンクションテスト）を行う
回路と直流特性を測定する回路とを切り換えて試験を行
う集積回路試験装置についてのものである。
【０００２】
【従来の技術】次に、従来技術による集積回路試験装置
の構成を図３に示す。図３の１はドライバ回路、２・３
はコンパレータ、５は直流特性測定器、８は測定治具で
ある。測定治具８は、集積回路試験装置と接続する端子
５１・５２と、端子５１と接続する被測定集積回路６Ａ
と端子５２と抵抗６Ｂを介して接続する終端用電源端子
４１を備える。
の構成を図３に示す。図３の１はドライバ回路、２・３
はコンパレータ、５は直流特性測定器、８は測定治具で
ある。測定治具８は、集積回路試験装置と接続する端子
５１・５２と、端子５１と接続する被測定集積回路６Ａ
と端子５２と抵抗６Ｂを介して接続する終端用電源端子
４１を備える。
【０００３】図３で、ドライバ回路１は、論理信号入力
端子２２と同じ論理出力を、論理電圧入力端子２１・２
３の電圧に変えて出力する。コンパレータ２・３は、被
測定集積回路６Ａの出力電圧をリレー１１を通して入力
に接続し、論理判定を行うためのハイレベル電圧２４及
びローレベル電圧２７の電圧と比較し、ハイレベル電圧
２４より高い場合は出力端子２５に、ローレベル電圧２
７より低い場合は出力端子２６に論理出力を出力する。
端子２２と同じ論理出力を、論理電圧入力端子２１・２
３の電圧に変えて出力する。コンパレータ２・３は、被
測定集積回路６Ａの出力電圧をリレー１１を通して入力
に接続し、論理判定を行うためのハイレベル電圧２４及
びローレベル電圧２７の電圧と比較し、ハイレベル電圧
２４より高い場合は出力端子２５に、ローレベル電圧２
７より低い場合は出力端子２６に論理出力を出力する。
【０００４】図３で、被測定集積回路６Ａのファンクシ
ョンテストを行う場合は、リレー１１を閉じてドライバ
１とコンパレータ２・３に接続する。またこのとき、被
測定集積回路６Ａの出力がオープンコレクタ出力形式等
の場合はリレー１２を閉じ、抵抗６Ｂを通して終端用電
源端子４１に接続し、被測定集積回路６Ａを終端する。
ョンテストを行う場合は、リレー１１を閉じてドライバ
１とコンパレータ２・３に接続する。またこのとき、被
測定集積回路６Ａの出力がオープンコレクタ出力形式等
の場合はリレー１２を閉じ、抵抗６Ｂを通して終端用電
源端子４１に接続し、被測定集積回路６Ａを終端する。
【０００５】また、被測定集積回路６Ａの直流特性の測
定を行う場合は、リレー１１・１２を開き、リレー１３
・１４を閉じ、直流特性測定器５の電流出力端子３１及
び電圧端子３２に接続する。
定を行う場合は、リレー１１・１２を開き、リレー１３
・１４を閉じ、直流特性測定器５の電流出力端子３１及
び電圧端子３２に接続する。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】図３に示す集積回路試
験装置において、比較的大電流の直流特性測定を精度よ
く測定する場合には、直流測定器５の電流出力端子３１
と電圧入力端子３２を測定対象点で接続する必要があ
る。しかし、図３に示すように従来の構成では、電流出
力端子５１と電圧入力端子５２を被測定集積回路６Ａの
測定端子で閉じることはできない。このため、接続経路
の抵抗による誤差が生じ、電流が大きい場合には正確な
測定精度を得ることができないという問題がある。
験装置において、比較的大電流の直流特性測定を精度よ
く測定する場合には、直流測定器５の電流出力端子３１
と電圧入力端子３２を測定対象点で接続する必要があ
る。しかし、図３に示すように従来の構成では、電流出
力端子５１と電圧入力端子５２を被測定集積回路６Ａの
測定端子で閉じることはできない。このため、接続経路
の抵抗による誤差が生じ、電流が大きい場合には正確な
測定精度を得ることができないという問題がある。
【０００７】この発明は、定電圧を印加したときの電流
を測定する場合及び定電流を印加したときに生じる電圧
を測定する場合に、接続経路の抵抗による測定誤差を小
さくする集積回路試験装置を提供することを目的とす
る。
を測定する場合及び定電流を印加したときに生じる電圧
を測定する場合に、接続経路の抵抗による測定誤差を小
さくする集積回路試験装置を提供することを目的とす
る。
【０００８】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するた
め、この発明は、被測定集積回路６Ａの直流特性を測定
する機能を備えた集積回路試験装置は、直流特性の測定
に使用する電流出力端子３１と電圧入力端子３２間に接
続された所定の抵抗値の抵抗４を有するとともに、電流
出力および電圧入力をそれぞれ別に配線して被測定集積
回路６Ａの被測定端子付近５３で接続する。
め、この発明は、被測定集積回路６Ａの直流特性を測定
する機能を備えた集積回路試験装置は、直流特性の測定
に使用する電流出力端子３１と電圧入力端子３２間に接
続された所定の抵抗値の抵抗４を有するとともに、電流
出力および電圧入力をそれぞれ別に配線して被測定集積
回路６Ａの被測定端子付近５３で接続する。
【０００９】また、被測定集積回路６Ａの直流特性を測
定するする機能を備えた集積回路試験装置は、直流特性
の測定に使用する電流出力端子３１と電圧入力端子３２
間に接続された所定の抵抗値４の抵抗を有するととも
に、電流出力および電圧入力の配線が被測定集積回路６
Ａの被測定端子５３に接続される。
定するする機能を備えた集積回路試験装置は、直流特性
の測定に使用する電流出力端子３１と電圧入力端子３２
間に接続された所定の抵抗値４の抵抗を有するととも
に、電流出力および電圧入力の配線が被測定集積回路６
Ａの被測定端子５３に接続される。
【００１０】
【作用】直流特性の測定を行う場合、電流出力の他に電
圧入力を負荷回路または終端抵抗などに接続するための
端子に出力し、電流値が大きい場合はこの端子を被測定
集積回路の近傍５３で接続し、集積回路試験装置内部で
電流出力端子と電圧入力端子を閉じる抵抗を備える。ま
た、電流値が小さく、測定経路の抵抗分による測定誤差
が無視できる場合は、電圧入力端子を被測定集積回路の
近傍に接続しなくても測定精度が低くならないため、こ
の場合には集積回路試験装置内部で電流出力端子と電圧
入力端子を閉じる抵抗を備える。
圧入力を負荷回路または終端抵抗などに接続するための
端子に出力し、電流値が大きい場合はこの端子を被測定
集積回路の近傍５３で接続し、集積回路試験装置内部で
電流出力端子と電圧入力端子を閉じる抵抗を備える。ま
た、電流値が小さく、測定経路の抵抗分による測定誤差
が無視できる場合は、電圧入力端子を被測定集積回路の
近傍に接続しなくても測定精度が低くならないため、こ
の場合には集積回路試験装置内部で電流出力端子と電圧
入力端子を閉じる抵抗を備える。
【００１１】
【実施例】次に、この発明による集積回路試験装置の実
施例の構成を図１に示す。図１の１はドライバ回路、２
・３はコンパレータ、１１〜１４・６Ｃはリレー、４・
６Ｂは抵抗器、６は測定治具である。測定治具６は、端
子５１及び端子５２と接続する被測定集積回路６Ａと、
端子５２と抵抗６Ｂ及びスイッチ６Ｃを直列に接続した
終端用電源端子４１を備える。また、測定治具６におい
て、端子５１及び端子５２はそれぞれ、被測定集積回路
６Ａの被測定端子付近５３で接続されている。
施例の構成を図１に示す。図１の１はドライバ回路、２
・３はコンパレータ、１１〜１４・６Ｃはリレー、４・
６Ｂは抵抗器、６は測定治具である。測定治具６は、端
子５１及び端子５２と接続する被測定集積回路６Ａと、
端子５２と抵抗６Ｂ及びスイッチ６Ｃを直列に接続した
終端用電源端子４１を備える。また、測定治具６におい
て、端子５１及び端子５２はそれぞれ、被測定集積回路
６Ａの被測定端子付近５３で接続されている。
【００１２】被測定集積回路６Ａの論理動作試験は、リ
レー１１を閉じ、ドライバ１とコンパレータ２・３に接
続して行う。この時、負荷抵抗６Ｂが必要な場合は、リ
レー１２を閉じ、テスト治具６上のリレー６Ｃを閉じて
抵抗６Ｂに接続し、抵抗６Ｂは終端用電源端子４１に接
続する。
レー１１を閉じ、ドライバ１とコンパレータ２・３に接
続して行う。この時、負荷抵抗６Ｂが必要な場合は、リ
レー１２を閉じ、テスト治具６上のリレー６Ｃを閉じて
抵抗６Ｂに接続し、抵抗６Ｂは終端用電源端子４１に接
続する。
【００１３】また、直流特性測定器５の電流出力端子３
１から電流出力を行い、これによる電圧を電圧入力端子
３２から入力することによって被測定集積回路６Ａの直
流特性の測定を行う場合は、リレー１１・１２・６Ｃを
開き、リレー１３・１４を閉じる。これにより、直流特
性測定器５の電流出力は、直流特性測定器５の電流出力
端子３１からリレー１３を通り、集積回路試験装置６の
入力端子５１から測定治具６に送られ、端子５３を介し
て被測定集積回路６Ａに入力される。直流特性測定器５
への電圧入力は、被測定集積回路６Ａから抵抗６Ｂを通
し、集積回路試験装置の入力端子５２を経て、リレー１
４を通して直流特性測定器５の端子３２に入力される。
１から電流出力を行い、これによる電圧を電圧入力端子
３２から入力することによって被測定集積回路６Ａの直
流特性の測定を行う場合は、リレー１１・１２・６Ｃを
開き、リレー１３・１４を閉じる。これにより、直流特
性測定器５の電流出力は、直流特性測定器５の電流出力
端子３１からリレー１３を通り、集積回路試験装置６の
入力端子５１から測定治具６に送られ、端子５３を介し
て被測定集積回路６Ａに入力される。直流特性測定器５
への電圧入力は、被測定集積回路６Ａから抵抗６Ｂを通
し、集積回路試験装置の入力端子５２を経て、リレー１
４を通して直流特性測定器５の端子３２に入力される。
【００１４】次に、直流特性測定において、電流値が小
さい場合の接続の構成を図２に示す図２で、７は測定治
具であり、他は図１と同じである。測定治具７は、端子
５１と接続する被測定集積回路６Ａと端子５２と抵抗６
Ｂを介して接続する終端用電源端子４１を備える。直流
特性測定時は、リレー１１・１２・６Ｃを開き、リレー
１３・１４を閉じる。直流特性測定器５の電流出力は、
端子３１から抵抗４及びリレー１３を通し、被測定端子
５４を介して被測定集積回路６Ａに入力される。電圧入
力は被測定集積回路６Ａからリレー１３を通り、抵抗４
を通して直流特性測定器５の端子３２に入力される。
さい場合の接続の構成を図２に示す図２で、７は測定治
具であり、他は図１と同じである。測定治具７は、端子
５１と接続する被測定集積回路６Ａと端子５２と抵抗６
Ｂを介して接続する終端用電源端子４１を備える。直流
特性測定時は、リレー１１・１２・６Ｃを開き、リレー
１３・１４を閉じる。直流特性測定器５の電流出力は、
端子３１から抵抗４及びリレー１３を通し、被測定端子
５４を介して被測定集積回路６Ａに入力される。電圧入
力は被測定集積回路６Ａからリレー１３を通り、抵抗４
を通して直流特性測定器５の端子３２に入力される。
【００１５】図１において、直流特性測定器５での電流
出力と電圧入力を抵抗４で閉じた点から被測定集積回路
６Ａまでの配線及び接続点の抵抗は通常１Ω以下であ
る。仮に抵抗を１Ωとし、抵抗４を１００Ωとした時、
電流が１００ｍＡの場合、測定点すなわち被測定集積回
路６Ａでの電圧誤差は約１ｍＶとなる。通常の集積回路
の測定では、電流値が数百ｍＡ以下であることから無視
できる誤差になる。
出力と電圧入力を抵抗４で閉じた点から被測定集積回路
６Ａまでの配線及び接続点の抵抗は通常１Ω以下であ
る。仮に抵抗を１Ωとし、抵抗４を１００Ωとした時、
電流が１００ｍＡの場合、測定点すなわち被測定集積回
路６Ａでの電圧誤差は約１ｍＶとなる。通常の集積回路
の測定では、電流値が数百ｍＡ以下であることから無視
できる誤差になる。
【００１６】図２で、集積回路試験装置は図１と同じで
あるが、測定治具７の接続は直流特性測定器５の電流出
力のみで、電圧入力は接続していない。しかし、直流特
性測定器５の電流出力と電圧入力は抵抗４で閉じてお
り、抵抗４の抵抗値が１００Ω以下であれば、抵抗４か
ら直流特性測定器５までの容量による応答への影響は無
視できる。
あるが、測定治具７の接続は直流特性測定器５の電流出
力のみで、電圧入力は接続していない。しかし、直流特
性測定器５の電流出力と電圧入力は抵抗４で閉じてお
り、抵抗４の抵抗値が１００Ω以下であれば、抵抗４か
ら直流特性測定器５までの容量による応答への影響は無
視できる。
【００１７】例えば、抵抗４から測定点までの抵抗値が
１Ωとすると、電流値が１ｍＡの場合、測定点の電圧誤
差は１ｍＶとなり、電流が数ｍＡまでは、無視できる誤
差範囲で測定ができる。
１Ωとすると、電流値が１ｍＡの場合、測定点の電圧誤
差は１ｍＶとなり、電流が数ｍＡまでは、無視できる誤
差範囲で測定ができる。
【００１８】
【効果】この発明によれば、直流特性測定において電圧
入力と電流出力とを抵抗４を通して閉じて、それぞれ別
々に被測定集積回路６Ａの入出力端子５３に接続してい
るので、電流が大きい場合は、それぞれ別に配線し、被
測定集積回路の所で閉じることにより電圧測定誤差を小
さくする効果がある。また、電流が小さい場合は、電流
出力側のみの配線でも必要な測定確度で測定が可能であ
り治具の作成のための配線が増加することがない効果が
ある。
入力と電流出力とを抵抗４を通して閉じて、それぞれ別
々に被測定集積回路６Ａの入出力端子５３に接続してい
るので、電流が大きい場合は、それぞれ別に配線し、被
測定集積回路の所で閉じることにより電圧測定誤差を小
さくする効果がある。また、電流が小さい場合は、電流
出力側のみの配線でも必要な測定確度で測定が可能であ
り治具の作成のための配線が増加することがない効果が
ある。
【図１】この発明による集積回路試験装置の大電流測定
時の実施例を示す構成図である。
時の実施例を示す構成図である。
【図２】この発明による集積回路試験装置の小電流測定
時の実施例を示す構成図である。
時の実施例を示す構成図である。
【図３】従来技術による集積回路試験装置である。
１ ドライバ回路 ２・３ コンパレータ ４ 抵抗器 ６Ａ 被測定集積回路 ６Ｂ 抵抗器 １１〜１５ リレー ３１ 電流出力端子 ３２ 電圧入力端子 ４１ 電源出力端子 ５１・５２ 集積回路試験装置入出力端子
Claims (2)
- 【請求項１】 被測定集積回路(6A)の直流特性を測定す
る機能を備えた集積回路試験装置において、 直流特性の測定に使用する電流出力端子(31)と電圧入力
端子(32)間に所定の抵抗値の抵抗(4) が接続されるとと
もに、 電流出力および電圧入力をそれぞれ別に配線して被測定
集積回路(6A)の被測定端子付近(53)で接続することを特
徴とする集積回路試験装置。 - 【請求項２】 被測定集積回路(6A)の直流特性を測定す
る機能を備えた集積回路試験装置において、 直流特性の測定に使用する電流出力端子(31)と電圧入力
端子(32)間に所定の抵抗値(4) の抵抗が接続されるとと
もに、 電流出力および電圧入力の配線が被測定集積回路(6A)の
被測定端子(53)に接続されることを特徴とする集積回路
試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5326238A JPH07151819A (ja) | 1993-11-30 | 1993-11-30 | 集積回路試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5326238A JPH07151819A (ja) | 1993-11-30 | 1993-11-30 | 集積回路試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07151819A true JPH07151819A (ja) | 1995-06-16 |
Family
ID=18185540
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5326238A Pending JPH07151819A (ja) | 1993-11-30 | 1993-11-30 | 集積回路試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07151819A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014013252A (ja) * | 2013-09-12 | 2014-01-23 | Dainippon Printing Co Ltd | 回路板の検査方法、回路板の検査装置 |
-
1993
- 1993-11-30 JP JP5326238A patent/JPH07151819A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014013252A (ja) * | 2013-09-12 | 2014-01-23 | Dainippon Printing Co Ltd | 回路板の検査方法、回路板の検査装置 |
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