JP3120970B2 - 抵抗値測定方法および抵抗値測定装置 - Google Patents

抵抗値測定方法および抵抗値測定装置

Info

Publication number
JP3120970B2
JP3120970B2 JP08308412A JP30841296A JP3120970B2 JP 3120970 B2 JP3120970 B2 JP 3120970B2 JP 08308412 A JP08308412 A JP 08308412A JP 30841296 A JP30841296 A JP 30841296A JP 3120970 B2 JP3120970 B2 JP 3120970B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resistance
value
measured
terminal
resistance value
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP08308412A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH10148650A (ja
Inventor
元則 藤田
Original Assignee
アデックス株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by アデックス株式会社 filed Critical アデックス株式会社
Priority to JP08308412A priority Critical patent/JP3120970B2/ja
Publication of JPH10148650A publication Critical patent/JPH10148650A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3120970B2 publication Critical patent/JP3120970B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、複数個の抵抗素
子を一端を共通接続した(コモンタイプ)の多連抵抗素
子(抵抗ネットワーク、多連抵抗、抵抗アレーともい
う)の各々の抵抗素子の直流抵抗値または交流抵抗値、
あるいは多連抵抗素子の共通端子と各々の抵抗素子の共
通接続点との間の共通電路の直流抵抗値または交流抵抗
値を測定する抵抗値測定方法に関するものである。な
お、抵抗測定の対象となる多連抵抗素子は、通常、2素
子〜15素子構成であるが、特殊なものではそれ以上の
素子のものもある。
【0002】
【従来の技術】多連抵抗素子の各抵抗素子の抵抗値(直
流抵抗値)を測定する従来の第1の抵抗値測定方法を図
11を参照しながら説明する。この抵抗値測定方法は、
図11に示すように、多連抵抗素子RAの共通端子Tc
と複数の抵抗素子R1 〜Rn (nは2以上の整数)のう
ちの測定対象の例えば抵抗素子R1 の個別端子T1 との
間に電流発生手段Dにより測定電流Iを流し、共通端子
c と測定対象の抵抗素子R1 の個別端子T1 との間に
現れる端子間電圧Ec1を差動増幅器からなる測定手段A
で測定し、測定手段Aによる端子間電圧Ec1の測定値E
c1′を演算手段Bにおいて測定電流Iに相当する電流相
当値EI (∝I)で除算し、この除算した除算結果(E
c1′/EI )を測定対象の抵抗素子R1 の抵抗値として
出力し、表示手段Cにて表示する。
【0003】上記の抵抗値測定方法を実施する抵抗値測
定装置は、図11に示すように、多連抵抗素子RAの共
通端子Tc と抵抗素子R1 の個別端子T1 とに電流発生
手段Dの両端子を接続し、共通端子Tc から共通電路r
→共通接続点P→抵抗素子R1 →個別端子T1 の経路で
測定電流Iを流すようにしている。また、多連抵抗素子
RAの共通端子Tc を測定手段Aである差動増幅器(例
えば、アナログデバイセ社製のAD620)の非反転
入力端子に接続し、抵抗素子R1 の個別端子T1 を同差
動増幅器の反転入力端子に接続して、共通端子Tc およ
び個別端子T1間に生じる端子間電圧Ec1を測定手段
A、つまり差動増幅器に入力している。そして、差動増
幅器の出力電圧、つまり測定手段Aによる測定値Ec1
を演算手段Bに入力している。
【0004】演算手段Bでは、測定手段Aによる端子間
電圧Ec1の測定値Ec1′を測定電流Iに相当する電流相
当値EI で除算し、端子間電圧Ec1の測定値Ec1′の電
流相当値EI による除算結果(Ec1′/EI )を測定対
象の抵抗素子R1 の抵抗値として出力し、表示手段Cは
演算手段Bから出力される抵抗素子R1 の抵抗値を表示
する。
【0005】なお、抵抗素子Rn の抵抗値を測定する場
合には、電流発生手段Dの一端および差動増幅器の反転
入力端子を抵抗素子Rn の個別端子Tn に接続し替えれ
ばよい。抵抗素子R2 〜Rn-1 の抵抗値の測定の場合に
も同様である。
【0006】つぎに、多連抵抗素子の各抵抗素子の抵抗
値(直流抵抗値)を測定する従来の第2の抵抗値測定方
法を図12を参照しながら説明する。この抵抗値測定方
法は、図12に示すように、多連抵抗素子RAの共通端
子Tc と複数の抵抗素子R1〜Rn (nは2以上の整
数)のうちの測定対象の例えば抵抗素子R1 の個別端子
1 との間に電流発生手段DRにより規定測定電流IR
を流し、共通端子Tc と測定対象の抵抗素子R1 の個別
端子T1 との間に現れる端子間電圧Ec1を差動増幅器か
らなる測定手段Aで測定し、測定手段Aによる端子間電
圧Ec1の測定値Ec1′を演算手段Bに加え、演算手段
ら測定対象の抵抗素子R1 の抵抗値として出力し、表
示手段Cにて表示する。
【0007】上記の抵抗値測定方法を実施する抵抗値測
定装置は、図12に示すように、多連抵抗素子RAの共
通端子Tc と抵抗素子R1 の個別端子T1 とに電流発生
手段DRの両端子を接続し、共通端子Tc から共通電路
r→共通接続点P→抵抗素子R1 →個別端子T1 の経路
で規定測定電流IR を流すようにしている。また、多連
抵抗素子RAの共通端子Tc を測定手段Aである差動増
幅器(例えば、アナログデバイセ社製のAD620)
の非反転入力端子に接続し、抵抗素子R1 の個別端子T
1 を同差動増幅器の反転入力端子に接続して、共通端子
c および個別端子T1 間に生じる端子間電圧Ec1を測
定手段A、つまり差動増幅器に入力している。そして、
差動増幅器の出力電圧、つまり測定手段Aによる測定値
c1′を演算手段Bに入力している。
【0008】演算手段Bでは、測定手段Aによる端子間
電圧Ec1の測定値Ec1′を測定対象の抵抗素子R1 の抵
抗値として出力し、表示手段Cは演算手段Bから出力さ
れる抵抗素子R1 の抵抗値を表示する。
【0009】上記のように電流相当値EI で除算するこ
とを不要とできるのは、抵抗素子R1 に流れる測定電流
値が既知で不変であり、その値を係数として演算手段
内部に設定しておくことが可能であるからである。
【0010】なお、抵抗素子Rn の抵抗値を測定する場
合には、電流発生手段Dの一端および差動増幅器の反
転入力端子を抵抗素子Rn の個別端子Tn に接続し替え
ればよい。抵抗素子R2 〜Rn-1 の抵抗値の測定の場合
にも同様である。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】上述の従来例では、例
えば抵抗素子R1 の抵抗値を測定するのに、多連抵抗素
子RAの共通端子Tc から抵抗素子R1 の個別端子T1
の方向に測定電流Iもしくは規定測定電流IR を流し、
共通端子Tc および個別端子T1 間に現れる端子間電圧
c1を測定し、その測定値Ec1′を電流相当値EI で除
算した除算結果を抵抗素子R1 の抵抗値とするか、もし
くは測定値Ec1′を電流相当値EI で除算せずに、抵抗
素子R1 の抵抗値とする構成であった。
【0012】しかしながら、上記のようにして、抵抗素
子R1 の抵抗値を測定すると、抵抗素子R1 の本来の抵
抗値に多連抵抗素子RAの共通端子Tc と抵抗素子R1
〜Rn の共通接続点Pの間の共通電路rの抵抗の抵抗値
を加えたもの(R1 +r)の抵抗値しか測定できず、抵
抗素子R1 〜Rn の各々の抵抗値、および共通電路rの
抵抗の抵抗値を正確に測定することができなかった。
【0013】なお、共通電路rの抵抗値は例えば数十m
Ω程度のごく小さいものであるが、多連抵抗素子を構成
する抵抗素子の抵抗値が例えば数Ω程度である場合に
は、共通電路rの抵抗値は1パーセント程度の大きな誤
差になって現れるので、このような誤差を含まず抵抗素
子の抵抗値を正確に測定することが望まれていた。ま
た、共通電路自体の抵抗値も測定することが望まれて
いた。
【0014】したがって、この発明の目的は、多連抵抗
素子を構成する各抵抗素子の共通接続点と共通端子との
間の共通電路の抵抗値の影響を受けずに、多連抵抗素子
を構成する各抵抗素子の抵抗値を測定することができる
抵抗値測定方法および抵抗値測定装置を提供することで
ある。
【0015】の発明の他の目的は、多連抵抗素子を構
成する各抵抗素子の共通接続点と共通端子との間の共通
電路の抵抗値の影響を受けずに、多連抵抗素子を構成す
る各抵抗素子の抵抗値を測定することができるととも
に、多連抵抗素子を構成する各抵抗素子の共通接続点と
共通端子との間の共通電路の抵抗値を測定することがで
きる抵抗値測定方法および抵抗値測定装置を提供するこ
とである。
【0016】この発明のさらに他の目的は、抵抗素子の
抵抗値の影響を受けずに、多連抵抗素子を構成する各抵
抗素子の共通接続点と共通端子との間の共通電路の抵抗
値を測定することができる抵抗値測定方法および抵抗値
測定装置を提供することである。
【0017】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の抵抗値測
定方法は、一端を共通接続した複数の抵抗素子からなる
多連抵抗素子の各抵抗素子の抵抗値および共通電路の抵
抗値を測定する抵抗値測定方法であり、多連抵抗素子の
共通端子と複数の抵抗素子のうちの測定対象の抵抗素子
の個別端子との間に測定電流を流し、測定対象の抵抗素
子の個別端子と複数の抵抗素子のうちの測定対象以外の
他の抵抗素子の個別端子との間に現れる第1の端子間電
圧を測定するとともに、多連抵抗素子の共通端子と測定
対象の抵抗素子の個別端子との間に現れる第2の端子間
電圧を測定し、第1の端子間電圧の測定値を測定電流に
相当する電流相当値で除算し、この除算した第1の除算
結果を測定対象の抵抗素子の抵抗値として出力するとと
もに、第2の端子間電圧の測定値を電流相当値で除算
し、この除算した第2の除算結果から第1の除算結果を
減算し、この減算した減算結果を共通電路の抵抗値とし
て出力することを特徴とする。
【0018】この方法によれば、複数の抵抗素子のうち
の測定対象の抵抗素子の両端の電圧降下を複数の抵抗素
子のうちの測定対象以外の他の抵抗素子を通して測定す
るので、共通電路の抵抗の影響を受けずに測定対象の抵
抗素子の抵抗値を測定することができる。また、端子間
電圧を測定する測定手段として、測定対象以外の他の抵
抗素子の抵抗値に比べて入力インピーダンスが十分に高
いものを用いることにより、測定対象以外の他の抵抗素
子による誤差は無視できるものとなり、測定対象の抵抗
素子の抵抗値を共通電路の抵抗の影響を受けずに正確に
測定することができる。さらに、測定対象の抵抗素子の
抵抗値と共通電路の抵抗値とが加算されたものを従来例
と同様にして求め、そして、この求めた抵抗値から測定
対象の抵抗素子の抵抗値を減じることにより、共通電路
の抵抗値を測定することができる。
【0019】請求項記載の抵抗値測定方法は、一端を
共通接続した複数の抵抗素子からなる多連抵抗素子の各
抵抗素子の抵抗値および共通電路の抵抗値を測定する抵
抗値測定方法であり、多連抵抗素子の共通端子と複数の
抵抗素子のうちの測定対象の抵抗素子の個別端子との間
に規定測定電流を流し、測定対象の抵抗素子の個別端子
と複数の抵抗素子のうちの測定対象以外の他の抵抗素子
の個別端子との間に現れる第1の端子間電圧を測定する
とともに、多連抵抗素子の共通端子と測定対象の抵抗素
子の個別端子との間に現れる第2の端子間電圧を測定
し、第1の端子間電圧の測定値を測定対象の抵抗素子の
抵抗値として出力し、第2の端子間電圧の測定値から第
1の端子間電圧の測定値を減算し、この減算した減算結
果を共通電路の抵抗値として出力することを特徴とす
る。
【0020】この方法によれば、請求項と同様に作用
し、しかも、規定測定電流に相当する電流相当値で除算
する必要はないので、抵抗素子の抵抗値を簡単な演算で
求めることができる。
【0021】請求項記載の抵抗値測定方法は、一端を
共通接続した複数の抵抗素子からなる多連抵抗素子の共
通電路の抵抗値を測定する抵抗値測定方法であり、多連
抵抗素子の共通端子と複数の抵抗素子のうちの何れかの
一つの抵抗素子の個別端子との間に測定電流を流し、多
連抵抗素子の共通端子と複数の抵抗素子のうちの残りの
抵抗素子の個別端子との間に現れる端子間電圧を測定
し、端子間電圧の測定値を測定電流に相当する電流相当
値で除算し、この除算した除算結果を共通電路の抵抗値
として出力することを特徴とする。
【0022】この方法によれば、共通電路の電圧降下を
複数の抵抗素子のうちの他の抵抗素子を通して測定する
ので、複数の抵抗素子のうちの何れかの一つの抵抗素子
の影響を受けずに共通電路の抵抗値を測定することがで
きる。また、端子間電圧を測定する測定手段として、他
の抵抗素子の抵抗値に比べて入力インピーダンスが十分
に高いものを用いることにより、他の抵抗素子による誤
差は無視できるものとなり、共通電路の抵抗値を複数の
抵抗素子のうちの何れかの一つの抵抗素子の抵抗値の影
響を受けずに正確に測定することができる。
【0023】請求項記載の抵抗値測定方法は、一端を
共通接続した複数の抵抗素子からなる多連抵抗素子の共
通電路の抵抗値を測定する抵抗値測定方法であり、多連
抵抗素子の共通端子と複数の抵抗素子のうちの何れかの
一つの抵抗素子の個別端子との間に規定測定電流を流
し、多連抵抗素子の共通端子と複数の抵抗素子のうちの
残りの抵抗素子の個別端子との間に現れる端子間電圧を
測定し、端子間電圧の測定値を共通電路の抵抗値として
出力することを特徴とする。
【0024】この方法によれば、請求項と同様に作用
し、しかも、規定測定電流に相当する電流相当値で除算
する必要はないので、抵抗素子の抵抗値を簡単な演算で
求めることができる。
【0025】請求項記載の抵抗値測定方法は、一端を
共通接続した複数の抵抗素子からなる多連抵抗素子の各
抵抗素子の抵抗値および共通電路の抵抗値を測定する抵
抗値測定方法であり、多連抵抗素子の共通端子と複数の
抵抗素子のうちの第1の測定対象の抵抗素子の個別端子
との間に測定電流を流して、多連抵抗素子の共通端子と
第1の測定対象の抵抗素子の個別端子との間に現れる第
1の端子間電圧を測定し、多連抵抗素子の共通端子と複
数の抵抗素子のうちの第2の測定対象の抵抗素子の個別
端子との間に測定電流を流して、多連抵抗素子の共通端
子と第2の測定対象の抵抗素子の個別端子との間に現れ
る第2の端子間電圧を測定し、複数の抵抗素子のうちの
第1の測定対象の抵抗素子の個別端子と複数の抵抗素子
のうちの第2の測定対象の抵抗素子の個別端子との間に
測定電流を流して、第1の測定対象の抵抗素子の個別端
子と第2の測定対象の抵抗素子の個別端子との間に現れ
る第3の端子間電圧を測定し、第1,第2および第3の
端子間電圧の測定値を測定電流に相当する電流相当値で
それぞれ除算して、多連抵抗素子の共通端子と第1の測
定対象の抵抗素子の個別端子との間の第1の抵抗値,多
連抵抗素子の共通端子と第2の測定対象の抵抗素子の個
別端子との間の第2の抵抗値および第1の測定対象の抵
抗素子の個別端子と第2の測定対象の抵抗素子の個別端
子との間の第3の抵抗値をそれぞれ求め、第1の抵抗値
が第1の測定対象の抵抗素子の抵抗値と共通電路の抵抗
値の直列合成抵抗値であり、第2の抵抗値が第2の測定
対象の抵抗素子の抵抗値と共通電路の抵抗値の直列合成
抵抗値であり、第3の抵抗値が第1の測定対象の抵抗素
子の抵抗値と第2の測定対象の抵抗素子の抵抗値の直列
合成抵抗値であるという関係式と、第1,第2および第
3の抵抗値とから、第1および第2の測定対象の抵抗素
子の抵抗値および共通電路の抵抗値を算出して出力する
ことを特徴とする。
【0026】この方法によれば、多連抵抗素子の共通端
子と複数の抵抗素子の個別端子のうちの2つの端子間に
測定電流を流し、それら2つの端子間に生じる端子間電
圧を測定し、この測定処理を端子の組み合わせを異なら
せて実行して複数の端子間電圧を求め、端子間電圧を電
流相当値でそれぞれ除算して各端子間の抵抗値を求め、
求めた各端子間の抵抗値と、各端子間の抵抗値と共通電
路の抵抗および複数の抵抗素子との関係式に基づいて演
算するので、多連抵抗素子を構成する各抵抗素子の共通
接続点と共通端子との間の共通電路の抵抗値の影響を受
けずに、多連抵抗素子を構成する各抵抗素子の抵抗値を
測定することができ、また各抵抗素子の共通接続点と共
通端子との間の共通電路の抵抗値を測定することができ
る。
【0027】請求項記載の抵抗値測定方法は、一端を
共通接続した複数の抵抗素子からなる多連抵抗素子の各
抵抗素子の抵抗値および共通電路の抵抗値を測定する抵
抗値測定方法であり、多連抵抗素子の共通端子と複数の
抵抗素子のうちの第1の測定対象の抵抗素子の個別端子
との間に規定測定電流を流して、多連抵抗素子の共通端
子と第1の測定対象の抵抗素子の個別端子との間に現れ
る第1の端子間電圧を測定し、多連抵抗素子の共通端子
と複数の抵抗素子のうちの第2の測定対象の抵抗素子の
個別端子との間に規定測定電流を流して、多連抵抗素子
の共通端子と第2の測定対象の抵抗素子の個別端子との
間に現れる第2の端子間電圧を測定し、複数の抵抗素子
のうちの第1の測定対象の抵抗素子の個別端子と複数の
抵抗素子のうちの第2の測定対象の抵抗素子の個別端子
との間に規定測定電流を流して、第1の測定対象の抵抗
素子の個別端子と第2の測定対象の抵抗素子の個別端子
との間に現れる第3の端子間電圧を測定し、第1,第2
および第3の端子間電圧の測定値を、それぞれ多連抵抗
素子の共通端子と第1の測定対象の抵抗素子の個別端子
との間の第1の抵抗値,多連抵抗素子の共通端子と第2
の測定対象の抵抗素子の個別端子との間の第2の抵抗値
および第1の測定対象の抵抗素子の個別端子と第2の測
定対象の抵抗素子の個別端子との間の第3の抵抗値と
し、第1の抵抗値が第1の測定対象の抵抗素子の抵抗値
と共通電路の抵抗値の直列合成抵抗値であり、第2の抵
抗値が第2の測定対象の抵抗素子の抵抗値と共通電路の
抵抗値の直列合成抵抗値であり、第3の抵抗値が第1の
測定対象の抵抗素子の抵抗値と第2の測定対象の抵抗素
子のの抵抗値の直列合成抵抗値であるという関係式と、
第1,第2および第3の抵抗値とから、第1および第2
の測定対象の抵抗素子の抵抗値および共通電路の抵抗値
を算出して出力することを特徴とする。
【0028】この方法によれば、請求項と同様に作用
し、しかも、規定測定電流に相当する電流相当値で除算
する必要はないので、抵抗素子の抵抗値を簡単な演算で
求めることができる。
【0029】請求項7記載の抵抗値測定装置は、一端を
共通接続した複数の抵抗素子からなる多連抵抗素子の各
抵抗素子の抵抗値および共通電路の抵抗値を測定する抵
抗値測定装置であり、多連抵抗素子の共通端子と複数の
抵抗素子のうちの測定対象の抵抗素子の個別端子との間
に測定電流を流す電流発生手段と、測定対象の抵抗素子
の個別端子と複数の抵抗素子のうちの測定対象以外の他
の抵抗素子の個別端子との間に現れる第1の端子間電圧
と多連抵抗素子の共通端子と測定対象の抵抗素子の個別
端子との間に現れる第2の端子間電圧とを選択するスイ
ッチ手段と、スイッチ手段を通して入力された第1およ
び第2の端子間電圧をそれぞれ測定する測定手段と、測
定手段による第1の端子間電圧の測定値を測定電流に相
当する電流相当値で除算し、この除算した第1の除算結
果を測定対象の抵抗素子の抵抗値として出力するととも
に、測定手段による第2の端子間電圧の測定値を電流相
当値で除算し、この除算した第2の除算結果から第1の
除算結果を減算し、この減算した減算結果を共通電路の
抵抗値として出力する演算手段と、演算手段の出力を表
示する表示手段とを備えている。
【0030】この構成によれば、複数の抵抗素子のうち
の測定対象の抵抗素子の両端の電圧降下を複数の抵抗素
子のうちの測定対象以外の他の抵抗素子を通して測定す
るので、共通電路の抵抗の影響を受けずに測定対象の抵
抗素子の抵抗値を測定することができる。また、端子間
電圧を測定する測定手段として、測定対象以外の他の抵
抗素子の抵抗値に比べて入力インピーダンスが十分に高
いものを用いることにより、測定対象以外の他の抵抗素
子による誤差は無視できるものとなり、測定対象の抵抗
素子の抵抗値を共通電路の抵抗の影響を受けずに正確に
測定することができる。さらに、測定対象の抵抗素子の
抵抗値と共通電路の抵抗値とが加算されたものを従来例
と同様にして求め、そして、この求めた抵抗値から測定
対象の抵抗素子の抵抗値を減じることにより、共通電路
の抵抗値を測定することができる。
【0031】請求項記載の抵抗値測定装置は、一端を
共通接続した複数の抵抗素子からなる多連抵抗素子の各
抵抗素子の抵抗値および共通電路の抵抗値を測定する抵
抗値測定装置であり、多連抵抗素子の共通端子と複数の
抵抗素子のうちの測定対象の抵抗素子の個別端子との間
に規定測定電流を流す電流発生手段と、測定対象の抵抗
素子の個別端子と複数の抵抗素子のうちの測定対象以外
の他の抵抗素子の個別端子との間に現れる第1の端子間
電圧と多連抵抗素子の共通端子と測定対象の抵抗素子の
個別端子との間に現れる第2の端子間電圧とを選択する
スイッチ手段と、スイッチ手段を通して入力された第1
および第2の端子間電圧をそれぞれ測定する測定手段
と、測定手段による第1の端子間電圧の測定値を測定対
象の抵抗素子の抵抗値として出力するとともに、第2の
端子間電圧の測定値から第1の端子間電圧の測定値を減
算し、この減算した減算結果を共通電路の抵抗値として
出力する演算手段と、演算手段の出力を表示する表示手
段とを備えている。
【0032】この構成によれば、請求項と同様に作用
し、しかも、規定測定電流に相当する電流相当値で除算
する必要はないので、抵抗素子の抵抗値を簡単な演算で
求めることができる。
【0033】請求項記載の抵抗値測定装置は、一端を
共通接続した複数の抵抗素子からなる多連抵抗素子の各
抵抗素子の抵抗値および共通電路の抵抗値を測定する抵
抗値測定装置であり、多連抵抗素子の共通端子と複数の
抵抗素子のうちの測定対象の抵抗素子の個別端子との間
に測定電流を流す電流発生手段と、測定対象の抵抗素子
の個別端子と複数の抵抗素子のうちの測定対象以外の他
の抵抗素子の個別端子との間に現れる第1の端子間電圧
を測定する第1の測定手段と、多連抵抗素子の共通端子
と測定対象の抵抗素子の個別端子との間に現れる第2の
端子間電圧を測定する第2の測定手段と、第1の測定手
段による第1の端子間電圧の測定値を測定電流に相当す
る電流相当値で除算し、この除算した第1の除算結果を
測定対象の抵抗素子の抵抗値として出力するとともに、
第2の測定手段による第2の端子間電圧の測定値を電流
相当値で除算し、この除算した第2の除算結果から第1
の除算結果を減算し、この減算した減算結果を共通電路
の抵抗値として出力する演算手段と、演算手段の出力を
表示する表示手段とを備えている。
【0034】この構成によれば、第1および第2の測定
手段を設けているので、スイッチ手段による切り替えは
不要となっている点以外、請求項と同様に作用する。
【0035】請求項1記載の抵抗値測定装置は、一端
を共通接続した複数の抵抗素子からなる多連抵抗素子の
各抵抗素子の抵抗値および共通電路の抵抗値を測定する
抵抗値測定装置であり、多連抵抗素子の共通端子と複数
の抵抗素子のうちの測定対象の抵抗素子の個別端子との
間に規定測定電流を流す電流発生手段と、測定対象の抵
抗素子の個別端子と複数の抵抗素子のうちの測定対象以
外の他の抵抗素子の個別端子との間に現れる第1の端子
間電圧を測定する第1の測定手段と、多連抵抗素子の共
通端子と測定対象の抵抗素子の個別端子との間に現れる
第2の端子間電圧を測定する第2の測定手段と、第1の
測定手段による第1の端子間電圧の測定値を測定対象の
抵抗素子の抵抗値として出力するとともに、第2の測定
手段による第2の端子間電圧の測定値から第1の端子間
電圧の測定値を減算し、この減算した減算結果を共通電
路の抵抗値として出力する演算手段と、演算手段の出力
を表示する表示手段とを備えている。
【0036】この構成によれば、第1および第2の測定
手段を設けているので、スイッチ手段による切り替えは
不要となっている点以外、請求項と同様に作用する。
【0037】請求項1記載の抵抗値測定装置は、一端
を共通接続した複数の抵抗素子からなる多連抵抗素子の
共通電路の抵抗値を測定する抵抗値測定装置であり、多
連抵抗素子の共通端子と複数の抵抗素子のうちの何れか
の一つの抵抗素子の個別端子との間に測定電流を流す電
流発生手段と、多連抵抗素子の共通端子と複数の抵抗素
子のうちの残りの抵抗素子の個別端子との間に現れる端
子間電圧を測定する測定手段と、測定手段による端子間
電圧の測定値を測定電流に相当する電流相当値で除算
し、この除算した除算結果を共通電路の抵抗値として出
力する演算手段と、演算手段の出力を表示する表示手段
とを備えている。
【0038】この構成によれば、共通電路の電圧降下を
複数の抵抗素子のうちの他の抵抗素子を通して測定する
ので、複数の抵抗素子のうちの何れかの一つの抵抗素子
の影響を受けずに共通電路の抵抗値を測定することがで
きる。また、端子間電圧を測定する測定手段として、他
の抵抗素子の抵抗値に比べて入力インピーダンスが十分
に高いものを用いることにより、他の抵抗素子による誤
差は無視できるものとなり、共通電路の抵抗値を複数の
抵抗素子のうちの何れかの一つの抵抗素子の抵抗値の影
響を受けずに正確に測定することができる。
【0039】請求項1記載の抵抗値測定装置は、一端
を共通接続した複数の抵抗素子からなる多連抵抗素子の
共通電路の抵抗値を測定する抵抗値測定装置であって、
多連抵抗素子の共通端子と複数の抵抗素子のうちの何れ
かの一つの抵抗素子の個別端子との間に規定測定電流を
流す電流発生手段と、多連抵抗素子の共通端子と複数の
抵抗素子のうちの残りの抵抗素子の個別端子との間に現
れる端子間電圧を測定する測定手段と、測定手段による
端子間電圧の測定値を共通電路の抵抗値として出力する
演算手段と、演算手段の出力を表示する表示手段とを備
えている。
【0040】この構成によれば、請求項1と同様に作
用し、しかも、規定測定電流に相当する電流相当値で除
算する必要はないので、抵抗素子の抵抗値を簡単な演算
で求めることができる。
【0041】請求項1記載の抵抗値測定装置は、一端
を共通接続した複数の抵抗素子からなる多連抵抗素子の
各抵抗素子の抵抗値および共通電路の抵抗値を測定する
抵抗値測定装置であって、測定電流を発生する測定電流
発生手段と、入力される電圧を測定する測定手段と、多
連抵抗素子の共通端子と複数の抵抗素子のうちの第1の
測定対象の抵抗素子の個別端子との間に測定電流を流し
て、多連抵抗素子の共通端子と第1の測定対象の抵抗素
子の個別端子との間に現れる第1の端子間電圧を測定手
段に供給する第1の状態と、多連抵抗素子の共通端子と
複数の抵抗素子のうちの第2の測定対象の抵抗素子の個
別端子との間に測定電流を流して、多連抵抗素子の共通
端子と第2の測定対象の抵抗素子の個別端子との間に現
れる第2の端子間電圧を測定手段に供給する第2の状態
と、複数の抵抗素子のうちの第1の測定対象の抵抗素子
の個別端子と複数の抵抗素子のうちの第2の測定対象の
抵抗素子の個別端子との間に測定電流を流して、第1の
測定対象の抵抗素子の個別端子と第2の測定対象の抵抗
素子の個別端子との間に現れる第3の端子間電圧を測定
手段に供給する第3の状態とを切り替えるスイッチ手段
と、測定手段による第1,第2および第3の端子間電圧
の測定値を測定電流に相当する電流相当値でそれぞれ除
算して、多連抵抗素子の共通端子と第1の測定対象の抵
抗素子の個別端子との間の第1の抵抗値,多連抵抗素子
の共通端子と第2の測定対象の抵抗素子の個別端子との
間の第2の抵抗値および第1の測定対象の抵抗素子の個
別端子と第2の測定対象の抵抗素子の個別端子との間の
第3の抵抗値をそれぞれ求め、第1の抵抗値が第1の測
定対象の抵抗素子の抵抗値と共通電路の抵抗値の直列合
成抵抗値であり、第2の抵抗値が第2の測定対象の抵抗
素子の抵抗値と共通電路の抵抗値の直列合成抵抗値であ
り、第3の抵抗値が第1の測定対象の抵抗素子の抵抗値
と第2の測定対象の抵抗素子の抵抗値の直列合成抵抗値
であるという関係式と、第1,第2および第3の抵抗値
とから、第1および第2の測定対象の抵抗素子の抵抗値
および共通電路の抵抗値を算出して出力する演算手段
と、この演算手段の出力を表示する表示手段とを備えて
いる。
【0042】この構成によれば、多連抵抗素子の共通端
子と複数の抵抗素子の個別端子のうちの2つの端子間に
測定電流を流し、それら2つの端子間に生じる端子間電
圧を測定し、この測定処理を端子の組み合わせを異なら
せて実行して複数の端子間電圧を求め、端子間電圧を電
流相当値でそれぞれ除算して各端子間の抵抗値を求め、
求めた各端子間の抵抗値と、各端子間の抵抗値と共通電
路の抵抗および複数の抵抗素子との関係式に基づいて演
算するので、多連抵抗素子を構成する各抵抗素子の共通
接続点と共通端子との間の共通電路の抵抗値の影響を受
けずに、多連抵抗素子を構成する各抵抗素子の抵抗値を
測定することができ、また各抵抗素子の共通接続点と共
通端子との間の共通電路の抵抗値を測定することができ
る。
【0043】請求項1記載の抵抗値測定装置は、一端
を共通接続した複数の抵抗素子からなる多連抵抗素子の
各抵抗素子の抵抗値および共通電路の抵抗値を測定する
抵抗値測定装置であって、規定測定電流を発生する測定
電流発生手段と、入力される電圧を測定する測定手段
と、多連抵抗素子の共通端子と複数の抵抗素子のうちの
第1の測定対象の抵抗素子の個別端子との間に規定測定
電流を流して、多連抵抗素子の共通端子と第1の測定対
象の抵抗素子の個別端子との間に現れる第1の端子間電
圧を測定手段に供給する第1の状態と、多連抵抗素子の
共通端子と複数の抵抗素子のうちの第2の測定対象の抵
抗素子の個別端子との間に規定測定電流を流して、多連
抵抗素子の共通端子と第2の測定対象の抵抗素子の個別
端子との間に現れる第2の端子間電圧を測定手段に供給
する第2の状態と、複数の抵抗素子のうちの第1の測定
対象の抵抗素子の個別端子と複数の抵抗素子のうちの第
2の測定対象の抵抗素子の個別端子との間に規定測定電
流を流して、第1の測定対象の抵抗素子の個別端子と第
2の測定対象の抵抗素子の個別端子との間に現れる第3
の端子間電圧を測定手段に供給する第3の状態とを切り
替えるスイッチ手段と、測定手段による第1,第2およ
び第3の端子間電圧の測定値を、それぞれ多連抵抗素子
の共通端子と第1の測定対象の抵抗素子の個別端子との
間の第1の抵抗値,多連抵抗素子の共通端子と第2の測
定対象の抵抗素子の個別端子との間の第2の抵抗値およ
び第1の測定対象の抵抗素子の個別端子と第2の測定対
象の抵抗素子の個別端子との間の第3の抵抗値とし、第
1の抵抗値が第1の測定対象の抵抗素子の抵抗値と共通
電路の抵抗値の直列合成抵抗値であり、第2の抵抗値が
第2の測定対象の抵抗素子の抵抗値と共通電路の抵抗値
の直列合成抵抗値であり、第3の抵抗値が第1の測定対
象の抵抗素子の抵抗値と第2の測定対象の抵抗素子の抵
抗値の直列合成抵抗値であるという関係式と、第1,第
2および第3の抵抗値とから、第1および第2の測定対
象の抵抗素子の抵抗値および共通電路の抵抗値を算出し
て出力する演算手段と、この演算手段の出力を表示する
表示手段とを備えている。
【0044】この構成によれば、請求項1と同様に作
用し、しかも、規定測定電流に相当する電流相当値で除
算する必要はないので、抵抗素子の抵抗値を簡単な演算
で求めることができる。
【0045】
【発明の実施の形態】以下、一端を共通接続した複数の
抵抗素子からなる多連抵抗素子の各抵抗素子の抵抗値お
よび共通電路の抵抗値を測定する抵抗値測定方法につい
て図面を参照しながら説明する。
【0046】〔抵抗値測定方法の第1の実施の形態〕 多連抵抗素子の各抵抗素子の抵抗値(直流抵抗値)およ
び共通電路の抵抗値(直流抵抗)を測定する、この発明
の第1の実施の形態の抵抗値測定方法を図1を参照しな
がら説明する。この抵抗値測定方法は、図1に示すよう
に、多連抵抗素子RAの共通端子Tc と複数の抵抗素子
1 〜Rn (nは2以上の整数)のうちの例えば測定対
象の抵抗素子R1 の個別端子T1 との間に電流発生手段
Dにより測定電流Iを流し、測定対象の抵抗素子R1
個別端子T1 と複数の抵抗素子R1 〜Rn のうちの測定
対象以外の他の例えば抵抗素子Rn の個別端子Tn との
間に現れる第1の端子間電圧En1を差動増幅器からなる
測定手段Aで測定するとともに、多連抵抗素子RAの共
通端子Tc と測定対象の抵抗素子R1 の個別端子T1
の間に現れる第2の端子間電圧 c1 を測定手段Aで測定
し、演算手段Bにおいて第1の端子間電圧En1の測定値
n1′を測定電流Iに相当する電流相当値EI (∝I)
で除算し、この除算した第1の除算結果( n1 ′/
I )を測定対象の抵抗素子R1 の抵抗値として出力す
るとともに、第2の端子間電圧 c1 の測定値 c1 ′を電
流相当値EI で除算し、この除算した第2の除算結果
c1 ′/EI )から第1の除算結果( n1 ′/EI
を減算し、この減算した減算結果を共通電路rの抵抗値
として出力し、両抵抗値を表示手段Cにて表示する。
【0047】この抵抗値測定方法によると、複数の抵抗
素子R1 〜Rn のうちの測定対象の抵抗素子R1 の両端
の電圧降下E1 を複数の抵抗素子R1 〜Rn のうちの測
定対象以外の他の抵抗素子Rn を通して測定するので、
共通電路rの抵抗の影響を受けずに測定対象の抵抗素子
1 の抵抗値を測定することができる。また、第1およ
び第2の端子間電圧 n1 c1 を測定する測定手段Aと
して、測定対象の抵抗素子R1 の抵抗値に比べて入力イ
ンピーダンスが十分に高いものを用いるのは当然である
が、なおかつ測定対象以外の他の抵抗素子Rn の抵抗値
に比べて入力インピーダンスが十分に高いものを用いる
ことにより、測定対象以外の他の抵抗素子Rn による誤
差は無視できるものとなり、測定対象の抵抗素子R1
抵抗値を共通電路rの抵抗の影響を受けずに正確に測定
することができる。さらに、測定対象の抵抗素子R1
抵抗値と共通電路rの抵抗値とが加算されたものを従来
例と同様にして求め、そして、この求めた抵抗値から測
定対象の抵抗素子R1 の抵抗値を減じることにより、共
通電路rの抵抗値を測定することができる。
【0048】ここで、抵抗素子R1 の抵抗値の測定の際
に、測定対象以外の他の抵抗素子Rn による誤差は無視
できる点について詳しく説明する。測定手段Aとして用
いられる差動増幅器としては、例えばアナログデバイセ
ズ社製のAD620が用いられるが、このAD620の
差動増幅器の入力インピーダンスは約10GΩとなって
おり、例えば抵抗R1 の電圧降下E1 と第1の端子間電
n1 との誤差を0.1%まで許容するとすれば、抵抗
素子Rn の抵抗値としては、10MΩ(=10GΩ/1
000)までは、 n1 =E1 とみなすことができる。
【0049】そこで、 n1 =E1 とみなして、上述のよ
うに、第1の端子間電圧 n1 を測定手段Aである差動増
幅器に入力し、差動増幅器から第1の端子間電圧 n1
比例した測定値 n1 ′を取り出し、それを演算手段Bに
入力し、 n1 ′/EI の演算を行うことで、抵抗素子R
1 の抵抗値を共通電路rの抵抗値の影響を受けることな
く正確に求めることができる。上記の演算手段Bにおけ
n1 ′/EI の演算は、E1 /Iの演算、すなわち
n1 /Iの演算を、 n1 ′∝ n1 ,EI ∝Iの関係に基づ
いて、代替したものである。
【0050】なお、上記第1の実施の形態の抵抗値測定
方法では、抵抗素子R1 の抵抗値を測定するものについ
て説明したが、図1における個別端子T1 と個別端子T
n の接続を逆に、すなわち個別端子T1 を測定手段Aで
ある差動増幅器の非反転入力端子に接続し、個別端子T
n を電流発生手段Dおよび差動増幅器の反転入力端子に
接続すれば、上記と同様の手順で抵抗素子Rn の抵抗値
を測定することができる。また、共通電路rの抵抗値を
求めることが必要なければ、第2の端子間電圧 c1 の測
定、ならびに第2の端子間電圧 c1 の測定値 c1 ′の電
流相当値EI による除算、ならびに( c1 ′/EI
n1 /EI )の演算は不要である。
【0051】〔抵抗値測定方法の第2の実施の形態〕 多連抵抗素子の各抵抗素子の抵抗値(直流抵抗値)およ
び共通電路の抵抗値(直流抵抗値)を測定する、この発
明の第2の実施の形態の抵抗値測定方法を図2を参照し
ながら説明する。この抵抗値測定方法は、図2に示すよ
うに、多連抵抗素子RAの共通端子Tc と複数の抵抗素
子R1 〜Rn (nは2以上の整数)のうちの例えば測定
対象の抵抗素子R1 の個別端子T1 との間に電流発生手
段Dにより規定測定電流IR を流し、測定対象の抵抗
素子R1 の個別端子T1 と複数の抵抗素子R1 〜Rn
うちの測定対象以外の他の例えば抵抗素子Rn の個別端
子Tn との間に現れる第1の端子間電圧En1を差動増幅
器からなる測定手段Aで測定するとともに、多連抵抗素
子RAの共通端子Tc と測定対象の抵抗素子R1 の個別
端子T1 との間に現れる第2の端子間電圧 c1 を測定手
段Aで測定し、演算手段Bにおいて第1の端子間電圧E
n1の測定値En1′を測定対象の抵抗素子R1の抵抗値と
して出力するとともに、第2の端子間電圧 c1 の測定値
c1 ′から第1の端子間電圧En1の測定値En1′を減算
し、この減算した減算結果を共通電路rの抵抗値として
出力し、両抵抗値を表示手段Cにて表示する。
【0052】この抵抗値測定方法によると、規定測定電
R に相当する電流相当値で除算する必要はないの
で、抵抗素子R1 の抵抗値を簡単な演算で求めることが
できる。その他の点については、第1の実施の形態の抵
抗値測定方法と同様である。
【0053】〔抵抗値測定方法の第3の実施の形態〕 多連抵抗素子の共通電路の抵抗値(直流抵抗値)を測定
する、この発明の第3の実施の形態の抵抗値測定方法を
図5を参照しながら説明する。この抵抗値測定方法は、
図5に示すように、多連抵抗素子RAの共通端子Tc
複数の抵抗素子R1 〜Rn (nは2以上の整数)のうち
の何れかの一つの抵抗素子、例えばR1の個別端子T1
との間に電流発生手段Dにより測定電流Iを流し、多連
抵抗素子RAの共通端子Tc と複数の抵抗素子R1 〜R
n のうちの残りの抵抗素子、例えばRn の個別端子Tn
との間に現れる端子間電圧Ecnを差動増幅器(例えば、
AD620;アナログデバイセズ社製)で測定し、演算
手段Bにおいて端子間電圧Ecnの測定値Ecn′を測定電
流Iに相当する電流相当値EI で除算し、この除算した
除算結果(Ecn′/EI )を共通電路の抵抗値として
出力し、その抵抗値を表示手段Cに表示する。
【0054】この抵抗値測定方法によると、共通電路r
の電圧降下を複数の抵抗素子R1 〜Rn のうちの他の抵
抗素子Rn を通して測定するので、抵抗素子R1 の影響
を受けずに共通電路rの抵抗値を測定することができ
る。また、端子間電圧Ecnを測定する測定手段Aとし
て、共通電路rの抵抗値に比べて入力インピーダンスが
十分に高いものを用いるのは当然であるが、なおかつ他
の抵抗素子Rn の抵抗値に比べて入力インピーダンスが
十分に高いものを用いることにより、他の抵抗素子Rn
による誤差は無視できるものとなり、共通電路rの抵抗
値を抵抗素子R1 の抵抗値の影響を受けずに正確に測定
することができる。
【0055】なお、共通電路rの抵抗値の測定の際に、
抵抗素子R1 による誤差は無視できる点については、第
1の実施の形態の抵抗値測定方法で説明したのと同様の
理由である。
【0056】また、この実施の形態では、共通電路rの
抵抗値を測定する方法について説明したが、共通端子T
c と例えば個別端子T1 の間の端子間電圧Ec1を測定
し、この端子間電圧Ec1の測定値Ec1′を電流相当値E
I で除算し、この除算結果から先に求めた共通電路rの
抵抗値を減算すれば、抵抗素子R1 の抵抗値を求めるこ
とができる。また、他の抵抗素子、例えばRn の抵抗値
を求めるには、個別端子T1 ,Tn の接続を逆に、すな
わち個別端子T1 を測定手段Aに接続し、個別端子Tn
を電流発生手段Dに接続すればよい。
【0057】〔抵抗値測定方法の第4の実施の形態〕 多連抵抗素子の共通電路の抵抗値(直流抵抗値)を測定
する、この発明の第4の実施の形態の抵抗値測定方法を
図6を参照しながら説明する。この抵抗値測定方法は、
図6に示すように、多連抵抗素子RAの共通端子Tc
複数の抵抗素子R1 〜Rn (nは2以上の整数)のうち
の何れかの一つの抵抗素子、例えばR1の個別端子T1
との間に電流発生手段Dにより規定測定電流 R を流
し、多連抵抗素子RAの共通端子Tc と複数の抵抗素子
1 〜Rn のうちの残りの抵抗素子、例えばRn の個別
端子Tn との間に現れる端子間電圧Ecnを差動増幅器
(例えば、AD620;アナログデバイセズ社製)で測
定し、演算手段Bにおいて端子間電圧Ecnの測定値
cn′を共通電路の抵抗値として出力し、その抵抗値
を表示手段Cに表示する。
【0058】この抵抗値測定方法によると、規定測定電
R に相当する電流相当値で除算する必要はないの
で、共通電路rの抵抗値を簡単な演算で求めることがで
きる。その他の点については、第3の実施の形態の抵抗
値測定方法と同様である。
【0059】〔抵抗値測定方法の第5の実施の形態〕 多連抵抗素子の各抵抗素子の抵抗値(直流抵抗)および
共通電路の抵抗値(直流抵抗値)を測定する、この発明
の第5の実施の形態の抵抗値測定方法を図7を参照しな
がら説明する。この抵抗値測定方法は、図7に示すよう
に、多連抵抗素子RAの共通端子Tc と複数の抵抗素子
1 〜Rn のうちの第1の測定対象の抵抗素子R1 の個
別端子T1 との間に測定電流Iを流して、多連抵抗素子
RAの共通端子Tc と第1の測定対象の抵抗素子R1
個別端子T1 との間に現れる第1の端子間電圧Ec1を測
定し、多連抵抗素子RAの共通端子Tc と複数の抵抗素
子R1 〜Rn のうちの第2の測定対象の抵抗素子Rn
個別端子Tn との間に測定電流Iを流して、多連抵抗素
子RAの共通端子Tc と第2の測定対象の抵抗素子Rn
の個別端子Tn との間に現れる第2の端子間電圧Ecn
測定し、複数の抵抗素子R1 〜Rn のうちの第1の測定
対象の抵抗素子R1 の個別端子T1 と複数の抵抗素子R
1 〜Rn のうちの第2の測定対象の抵抗素子Rn の個別
端子との間に測定電流Iを流して、第1の測定対象の抵
抗素子R1 の個別端子T1 と第2の測定対象の抵抗素子
n の個別端子Tn との間に現れる第3の端子間電圧
1n を測定し、第1,第2および第3の端子間電圧Ec1
cn 1n の測定値Ec1′,Ecn′, 1n ′を測定電流
Iに相当する電流相当値EI でそれぞれ除算して、多連
抵抗素子RAの共通端子Tc と第1の測定対象の抵抗素
子R1 の個別端子T1 との間の第1の抵抗値Rc1,多連
抵抗素子RAの共通端子Tc と第2の測定対象の抵抗素
子Rn の個別端子Tn との間の第2の抵抗値Rcn,およ
び第1の測定対象の抵抗素子R1 の個別端子T1 と第2
の測定対象の抵抗素子Rn の個別端子Tn との間の第3
の抵抗値 1n をそれぞれ求め、第1の抵抗値Rc1が第1
の測定対象の抵抗素子R1 の抵抗値と共通電路rの抵抗
値の直列合成抵抗値(R1 +r)であり、第2の抵抗値
cnが第2の測定対象の抵抗素子Rn の抵抗値と共通電
路rの抵抗値の直列合成抵抗値(Rn +r)であり、第
3の抵抗値 1n が第1の測定対象の抵抗素子R1 の抵抗
値と第2の測定対象の抵抗素子Rn の抵抗値の直列合成
抵抗値(R1 +Rn )であるという関係式と、第1,第
2および第3の抵抗値Rc1,Rcn 1n とから、第1お
よび第2の測定対象の抵抗素子R1 ,Rn の抵抗値およ
び共通電路rの抵抗値を算出して出力して表示する。
【0060】この抵抗値測定方法によると、多連抵抗素
子RAの共通端子Tc と複数の抵抗素子R1 〜Rn の個
別端子T1 〜Tn のうちの2つの端子間に測定電流Iを
流し、それら2つの端子間に生じる端子間電圧を測定
し、この測定処理を端子の組み合わせを異ならせて複数
の端子間電圧、例えばEc1,Ecn 1n を求め、端子間
電圧Ec1,Ecn 1n の測定値Ec1′,Ecn′, 1n
を電流相当値EI でそれぞれ除算して各端子間の抵抗値
c1,Rcn 1n を求め、求めた各端子間の抵抗値
c1,Rcn 1n と、各端子間の抵抗値Rc1,Rcn
1n と共通電路rの抵抗および複数の抵抗素子R1 ,Rn
との関係式に基づいて演算するので、多連抵抗素子RA
を構成する各抵抗素子R1 ,Rn の共通接続点と共通
端子Tc との間の共通電路rの抵抗値の影響を受けず
に、多連抵抗素子RAを構成する各抵抗素子R1 ,Rn
の抵抗値を測定することができ、また各抵抗素子R1
n の共通接続点と共通端子Tc との間の共通電路r
の抵抗値を測定することができる。
【0061】なお、上述の実施の形態では、共通端子T
c および個別端子T1 間の端子間電圧Ec1、共通端子T
c および個別端子Tn 間の端子間電圧Ecn、個別端子T
1 ,Tn 間の端子間電圧 1n を求めて、共通電路rの抵
および複数の抵抗素子R1 ,Rn の抵抗値を求めて
いるが、端子間電圧を測定する2つの端子の組み合わせ
を異ならせることにより、他の抵抗素子の抵抗値を測定
することもできる。また、上記の説明では、端子の組み
合わせの異なる3種類の端子間電圧を求めて、それらを
所定の関係式に従って演算することにより、共通電路の
抵抗値と2つの抵抗素子の抵抗値を求めたが、4種類以
上の端子間電圧を求めて、それらを所定の関係式に従っ
て演算することにより、共通電路の抵抗値と3つ以上の
抵抗素子の抵抗値を求めることができる。なお、演算に
要する関係式は、多連抵抗素子の共通電路と各抵抗素子
と共通端子および個別端子の接続関係から容易に求まる
ものであり、特に関係式の説明は省略する。
【0062】〔抵抗値測定方法の第6の実施の形態〕 多連抵抗素子の各抵抗素子の抵抗値(直流抵抗)および
共通電路の抵抗値(直流抵抗値)を測定する、この発明
の第6の実施の形態の抵抗値測定方法を図8を参照しな
がら説明する。この抵抗値測定方法は、図8に示すよう
に、多連抵抗素子RAの共通端子Tc と複数の抵抗素子
1 〜Rn のうちの第1の測定対象の抵抗素子R1 の個
別端子T1 との間に規定測定電流 R を流して、多連抵
抗素子RAの共通端子Tc と第1の測定対象の抵抗素子
1 の個別端子T1 との間に現れる第1の端子間電圧E
c1を測定し、多連抵抗素子RAの共通端子Tc と複数の
抵抗素子R1 〜Rn のうちの第2の測定対象の抵抗素子
n の個別端子Tn との間に規定測定電流 R を流し
て、多連抵抗素子RAの共通端子Tc と第2の測定対象
の抵抗素子Rn の個別端子Tnとの間に現れる第2の端
子間電圧Ecnを測定し、複数の抵抗素子R1 〜Rn のう
ちの第1の測定対象の抵抗素子R1 の個別端子T1 と複
数の抵抗素子R1 〜Rn のうちの第2の測定対象の抵抗
素子Rn の個別端子 n との間に規定測定電流 R を流
して、第1の測定対象の抵抗素子R1 の個別端子T1
第2の測定対象の抵抗素子Rn の個別端子Tn との間に
現れる第3の端子間電圧 1n を測定し、第1,第2およ
び第3の端子間電圧Ec1,Ecn 1n の測定値Ec1′,
cn′, 1n ′を、それぞれ多連抵抗素子RAの共通端
子Tc と第1の測定対象の抵抗素子R1 の個別端子T1
との間の第1の抵抗値Rc1,多連抵抗素子RAの共通端
子Tc と第2の測定対象の抵抗素子Rn の個別端子Tn
との間の第2の抵抗値Rcn,および第1の測定対象の抵
抗素子R1 の個別端子T1 と第2の測定対象の抵抗素子
n の個別端子Tn との間の第3の抵抗値 1n とし、第
1の抵抗値Rc1が第1の測定対象の抵抗素子R1 の抵抗
値と共通電路rの抵抗値の直列合成抵抗値(R1 +r)
であり、第2の抵抗値Rcnが第2の測定対象の抵抗素子
n の抵抗値と共通電路rの抵抗値の直列合成抵抗値
(Rn +r)であり、第3の抵抗値 1n が第1の測定対
象の抵抗素子R1 の抵抗値と第2の測定対象の抵抗素子
n の抵抗値の直列合成抵抗値(R1 +Rn )であると
いう関係式と、第1,第2および第3の抵抗値Rc1,R
cn 1n とから、第1および第2の測定対象の抵抗素子
1 ,Rn の抵抗値および共通電路rの抵抗値を算出し
て出力して表示する。
【0063】この抵抗値測定方法によると、規定測定電
R に相当する電流相当値で除算する必要はないの
で、抵抗素子R1 ,Rn の抵抗値および共通電路rの抵
抗値を簡単な演算で求めることができる。その他の点に
ついては、第5の実施の形態の抵抗値測定方法と同様で
ある。
【0064】つぎに、この発明の抵抗値測定装置の実施
の形態について、図面を参照しながら説明する。
【0065】〔抵抗値測定装置の第1の実施の形態〕 一端を共通接続した複数の抵抗素子からなる多連抵抗素
子の各抵抗素子の抵抗値および共通電路の抵抗値を測定
する、この発明の第1の実施の形態における抵抗値測定
装置の回路図を図1に示す。この抵抗値測定装置は、図
1に示すように、電流発生手段Dと、スイッチ手段S
と、差動増幅器(AD620;アナログデバイセズ社
製)からなる測定手段Aと、所定のプログラムがセット
されたマイクロコンピュータおよびA/D変換器等から
なる演算手段Bと、表示手段Cとからなる。
【0066】電流発生手段Dは、多連抵抗素子RAの共
通端子Tc と複数の抵抗素子R1 〜Rn のうちの測定対
象の抵抗素子、例えばR1 の個別端子T1 との間に測定
電流Iを流す機能を有する。
【0067】スイッチ手段Sは、測定対象の抵抗素子R
1 の個別端子T1 と複数の抵抗素子R1 〜Rn のうちの
測定対象以外の他の抵抗素子、例えばRn の個別端子T
n との間に現れる第1の端子間電圧En1と多連抵抗素子
RAの共通端子Tc と測定対象の抵抗素子R1 の個別端
子T1 との間に現れる第2の端子間電圧Ec1とを選択す
る機能を有する。
【0068】測定手段Aは、スイッチ手段Sを通して入
力された第1および第2の端子間電圧En1,Ec1をそれ
ぞれ測定する機能を有する。
【0069】演算手段Bは、測定手段Aによる第1の端
子間電圧En1の測定値En1′を測定電流Iに相当する電
流相当値EI で除算し、この除算した第1の除算結果
(En1′/EI )を測定対象の抵抗素子R1 の抵抗値と
して出力するとともに、測定手段による第2の端子間
電圧Ec1の測定値Ec1′を電流相当値EI で除算し、こ
の除算した第2の除算結果(Ec1′/EI )から第1の
除算結果(En1′/EI)を減算し、この減算した減算
結果を共通電路rの抵抗値として出力する機能を有す
る。
【0070】表示手段Cは、演算手段Bの出力を表示す
る機能を有する。
【0071】以下、この抵抗値測定装置について詳しく
説明する。この抵抗値測定装置は、電流発生手段Dの一
端(正端子)を多連抵抗素子RAの共通端子 C に接続
し、電流発生手段Dの他端(負端子)を多連抵抗素子R
Aの個別端子T1 に接続して、共通端子Tc →共通電路
r→共通接続点P→抵抗素子R1 →共通端子T1 の経路
で測定電流Iが流れるようにする。また、スイッチ手段
Sのa側端子は、個別端子Tn に接続し、スイッチ手段
のb側端子は共通端子Tc に接続し、個別端子T1
測定手段Aである差動増幅器の反転入力端子に接続し、
スイッチ手段Sの共通端子cは差動増幅器の非反転入力
端子に接続する。そして、差動増幅器の出力を演算手段
Bに与えるとともに、電流発生手段Dから電流相当値E
I を演算手段Bに与え、表示手段Cは演算手段Bの出力
を表示する。
【0072】測定は、スイッチ手段をa側に切り替
え、測定電流Iによって共通接続点Pと個別端子T1
間に生じる電圧、すなわち抵抗素子R1 の電圧降下E1
を抵抗素子Rn を通して差動増幅器の非反転入力端子お
よび反転入力端子間に加える。なお、実際に差動増幅器
の非反転入力端子および反転入力端子間に加わるのは、
個別端子T1 ,T2 間に生じる端子間電圧En1であり、
抵抗素子R1 の電圧降下E1 そのものが加えられるわけ
ではない。そして、差動増幅器からは端子間電圧En1
比例した測定値En1′(∝En1)が得られる。
【0073】しかし、前述したように、差動増幅器の入
力インピーダンスが抵抗素子R1 の抵抗値に比べて十分
に高くしているのはもちろんこと、抵抗素子Rn の抵抗
値に比べて十分に高い値とすることにより、En1=E1
とみなすことができるので、差動増幅器から得られる測
定値En1′は抵抗素子R1 の電圧降下E1 に比例したも
のとなる。
【0074】また、スイッチ手段Sをb側に切り替え、
測定電流Iによって共通端子Tc と個別端子T1 間に生
じる端子間電圧Ec1を差動増幅器の非反転入力端子およ
び反転入力端子間に加える。その結果、差動増幅器から
は端子間電圧Ec1に比例した測定値Ec1′(∝Ec1)が
得られる。測定値Ec1′は抵抗素子R1 と共通電路rの
抵抗値を加算したもの(R1 +r)に相当する。
【0075】そして、測定値En1′を演算手段Bに加
え、演算手段BにてEn1′/EI の演算を行うことで、
抵抗素子R1 の抵抗値に相当するものが得られ、その抵
抗値が表示手段Cで表示される。
【0076】また、測定値Ec1′を演算手段Bに与え、
演算手段BにてEc1′/EI の演算を行い、さらに(E
c1′/EI −En1′/EI )の演算を行うことで、共通
電路rの抵抗値に相当するものが得られ、その抵抗値が
表示手段Cで表示される。
【0077】この抵抗値測定装置によれば、複数の抵抗
素子R1 〜Rn のうちの測定対象の抵抗素子R1 の両端
の電圧降下E1 を複数の抵抗素子R1 〜Rn のうちの測
定対象以外の他の抵抗素子Rn を通して測定するので、
共通電路rの抵抗の影響を受けずに測定対象の抵抗素子
1 の抵抗値を測定することができる。また、端子間電
圧En1,Ec1を測定する測定手段として、測定対象以外
の他の抵抗素子Rn の抵抗値に比べて入力インピーダン
スが十分に高いものを用いることにより、測定対象以外
の他の抵抗素子Rn による誤差は無視できるものとな
り、測定対象の抵抗素子R1 の抵抗値を共通電路rの抵
抗の影響を受けずに正確に測定することができる。さら
に、測定対象の抵抗素子R1 の抵抗値と共通電路rの抵
抗値とが加算されたものを従来例と同様にして求め、そ
して、この求めた抵抗値から測定対象の抵抗素子R1
抵抗値を減じることにより、共通電路rの抵抗値を測定
することができる。
【0078】なお、抵抗素子R1 に代えて、抵抗素子R
n の抵抗値を測定する場合には、個別端子T1 と個別端
子Tn の接続を逆に、つまり、個別端子Tn を電流発生
手段Dと差動増幅器の反転入力端子に接続し、個別端子
1 をスイッチ手段Sのa側端子に接続すればよい。ま
た、抵抗素子R1 〜Rn が多数存在する場合にも、測定
対象の抵抗素子の個別端子を電流発生手段Dと差動増幅
器の反転入力端子に接続し、測定対象以外の他のいずれ
か少なくとも一つの抵抗素子の個別端子をスイッチ手段
Sのa側端子に接続すればよい。また、共通電路rの抵
抗値の測定が不要なら、スイッチ手段Sは不要であり、
個別端子Tn と測定手段Aである差動増幅器の非反転入
力端子と直結すればよい。
【0079】〔抵抗値測定装置の第2の実施の形態〕 一端を共通接続した複数の抵抗素子からなる多連抵抗素
子の各抵抗素子の抵抗値および共通電路の抵抗値を測定
する、この発明の第2の実施の形態における抵抗値測定
装置の回路図を図2に示す。この抵抗値測定装置は、図
2に示すように、図1の電流発生手段Dに代えて、一定
の規定測定電流IR を多連抵抗素子RAに供給する電流
発生手段DRを用いるとともに、電流発生手段DRから
電流相当値EI を供給するのを止め、演算手段Bにおい
て、電流相当値EI で除算する代わり、演算手段Bの
内部で規定測定電流IR に対応した係数を設定したもの
である。
【0080】この実施の形態では、測定は、スイッチ手
をa側に切り替え、規定測定電流IR によって個別
端子Tn と個別端子T1 の間に生じる端子間電圧En1
差動増幅器の非反転入力端子および反転入力端子間に加
える。その結果、差動増幅器からは端子間電圧En1に比
例した測定値En1′(∝En1)が得られ、測定値En1
は抵抗素子R1 の抵抗値に比例したものとなる。
【0081】また、スイッチ手段Sをb側に切り替え、
規定測定電流IR によって共通端子Tc と個別端子T1
間に生じる端子間電圧Ec1を差動増幅器の非反転入力端
子および反転入力端子間に加える。その結果、差動増幅
器からは端子間電圧Ec1に比例した測定値Ec1′(∝E
c1)が得られ、測定値Ec1′は抵抗素子R1 と共通電路
rの抵抗値を加算したもの(R1 +r)に相当する。
【0082】そして、測定値En1′が演算手段Bから抵
抗素子R1 の抵抗値に相当するものとして出力され、そ
の抵抗値が表示手段Cで表示される。また、この測定値
c1′に対して(Ec1′−En1′)の演算を行うこと
で、共通電路rの抵抗値に相当するものが出力され、そ
の抵抗値が表示手段Cで表示される。
【0083】この抵抗値測定装置によると、規定測定電
R に相当する電流相当値で除算する必要はないの
で、抵抗素子R1 ,Rn の抵抗値および共通電路rの抵
抗値を簡単な演算で求めることができる。その他の点に
ついては、第1の実施の形態の抵抗値測定装置と同様で
ある。
【0084】〔抵抗値測定装置の第3の実施の形態〕 一端を共通接続した複数の抵抗素子からなる多連抵抗素
子の各抵抗素子の抵抗値および共通電路の抵抗値を測定
する、この発明の第3の実施の形態における抵抗値測定
装置の回路図を図3に示す。この抵抗値測定装置は、図
3に示すように、図1のスイッチ手段Sで2種類の端子
間電圧En1,Ec1を選択的に差動増幅器からなる測定手
段Aに加えるのに代えて、それぞれ差動増幅器(AD6
20;アナログデバイセズ社製)からなる第1および第
2の測定手段A1 ,A2 を設け、演算手段Bに同時に測
定値En1′,Ec1′を供給するようにしたもので、その
他は第1の実施の形態の抵抗値測定装置と同様である。
【0085】この実施の形態によると、スイッチ手段を
不要とできる。その他の効果は第1の実施の形態の抵抗
値測定装置と同様である。
【0086】〔抵抗値測定装置の第4の実施の形態〕 一端を共通接続した複数の抵抗素子からなる多連抵抗素
子の各抵抗素子の抵抗値および共通電路の抵抗値を測定
する、この発明の第4の実施の形態における抵抗値測定
装置の回路図を図4に示す。この抵抗値測定装置は、図
4に示すように、図2のスイッチ手段Sで2種類の端子
間電圧En1,Ec1を選択的に差動増幅器からなる測定手
段Aに加えるのに代えて、それぞれ差動増幅器(AD6
20;アナログデバイセズ社製)からなる第1および第
2の測定手段A1 ,A2 を設け、演算手段Bに同時に測
定値En1′,Ec1′を供給するようにしたもので、その
他は第1の実施の形態の抵抗値測定装置と同様である。
【0087】この実施の形態によると、スイッチ手段を
不要とできる。その他の効果は第2の実施の形態の抵抗
値測定装置と同様である。
【0088】〔抵抗値測定装置の第5の実施の形態〕 一端を共通接続した複数の抵抗素子からなる多連抵抗素
子の共通電路の抵抗値を測定する、この発明の第5の実
施の形態における抵抗値測定装置の回路図を図5に示
す。この抵抗値測定装置は、図5に示すように、電流発
生手段Dと、差動増幅器(AD620;アナログデバイ
セズ社製)からなる測定手段Aと、所定のプログラムが
セットされたマイクロコンピュータおよびA/D変換器
等からなる演算手段Bと、表示手段Cとからなる。
【0089】電流発生手段Dは、多連抵抗素子RAの共
通端子Tc と複数の抵抗素子R1 〜Rn のうちのいずれ
か一つの抵抗素子、例えばR1 の個別端子T1 との間に
測定電流Iを流す機能を有する。
【0090】測定手段Aは、入力された端子間電圧Ecn
を測定する機能を有する。
【0091】演算手段Bは、測定手段Aによる端子間電
圧Ecnを測定値Ecn′を測定電流Iに相当する電流相当
値EI で除算し、この除算した除算結果( cn ′/
I )を共通電路rの抵抗値として出力する機能を有す
る。
【0092】表示手段Cは、演算手段Bの出力を表示す
る機能を有する。
【0093】この実施の形態によると、共通電路rの電
圧降下 r を複数の抵抗素子R1 〜Rn のうちの他の抵
抗素子Rn を通して測定するので、複数の抵抗素子R1
〜Rn のうちの何れかの一つの抵抗素子R1 の影響を受
けずに共通電路rの抵抗値を測定することができる。ま
た、端子間電圧 cn を測定する測定手段Aとして、他の
抵抗素子Rn の抵抗値に比べて入力インピーダンスが十
分に高いものを用いることにより、他の抵抗素子Rn
よる誤差は無視できるものとなり、共通電路rの抵抗値
を複数の抵抗素子R1 〜Rn のうちの何れかの一つの抵
抗素子R1 の抵抗値の影響を受けずに正確に測定するこ
とができる。
【0094】なお、この実施の形態では、共通電路rの
抵抗値を測定する点のみ説明したが、図1および図2に
示されたようにして抵抗素子R1 の抵抗値を測定する構
成に、この実施の形態で示した共通電路rの抵抗値を測
定する構成を組み合わせてものよい。
【0095】また、図1および図2の実施の形態では、
例えば抵抗素子R1 の抵抗値を求め、さらに、抵抗素子
1 と共通電路rの合成抵抗を求め、後者から前者を減
算することにより共通電路rの抵抗値を求めたが、この
実施の形態のようにして共通電路rの抵抗値を求めた
後、図1および図2の実施の形態のようにして抵抗素子
1 と共通電路rの合成抵抗を求め、後者から前者を減
算することにより、抵抗素子R1 の抵抗値を求めてもよ
い。
【0096】また、抵抗素子R1 , n の抵抗値を求め
るだけなら、個別端子T1 , n 間に電流発生手段Dを
接続して測定電流Iを流し、共通端子Tc および個別端
子T1 の端子間電圧を測定し、それを電流相当値EI
除算することにより抵抗素子R1 の抵抗値を求めること
ができ、また共通端子Tc および個別端子Tn の端子間
電圧を測定し、それを電流相当値EI で除算することに
より抵抗素子Rn の抵抗値を求めることができる。
【0097】〔抵抗値測定装置の第6の実施の形態〕 一端を共通接続した複数の抵抗素子からなる多連抵抗素
子の共通電路の抵抗値を測定する、この発明の第6の実
施の形態における抵抗値測定装置の回路図を図6に示
す。この抵抗値測定装置は、図6に示すように、図5の
電流発生手段Dに代えて、一定の規定測定電流IR を多
連抵抗素子RAに供給する電流発生手段DRを用いると
ともに、電流発生手段DRから電流相当値EI を供給す
るのを止め、演算手段Bにおいて、電流相当値EI で除
算する代わり、演算手段Bの内部で規定測定電流IR
に対応した係数を設定したものである。
【0098】この実施の形態では、規定測定電流IR
よって個別端子Tn 共通端子T C の間に生じる端子間
電圧Ecnを差動増幅器の非反転入力端子および反転入力
端子間に加える。その結果、差動増幅器からは端子間電
圧Ecnに比例した測定値Ecn′(∝Ecn)が得られ、測
定値Ecn′は共通電路rの抵抗値に比例したものとな
る。
【0099】この抵抗値測定装置によると、規定測定電
R に相当する電流相当値で除算する必要はないの
で、共通電路rの抵抗値を簡単な演算で求めることがで
きる。その他の点については、第5の実施の形態の抵抗
値測定装置と同様である。
【0100】〔抵抗値測定装置の第7の実施の形態〕 一端を共通接続した複数の抵抗素子からなる多連抵抗素
子の共通電路の抵抗値を測定する、この発明の第7の実
施の形態における抵抗値測定装置の回路図を図7に示
す。この抵抗値測定装置は、図7に示すように、電流発
生手段Dと、スイッチ手段S1 〜S4 と、差動増幅器か
らなる測定手段Aと、所定のプログラムがセットされた
マイクロコンピュータおよびA/D変換器等からなる演
算手段Bと、表示手段Cとからなる。
【0101】電流発生手段Dは、多連抵抗素子RAに測
定電流Iを供給する機能を有する。
【0102】測定手段Aは、多連抵抗素子RAの共通端
子Tc ,個別端子T1 ,T2 のうちの2個の間に生じる
端子間電圧が入力される。
【0103】スイッチ手段S1 〜S4 は互いに連動し、
a側に切り替わったときには、電流発生手段Dからの測
定電流Iを、共通端子Tc →共通電路r→共通接続点P
→抵抗素子R1 →個別端子T1 の経路で流し、共通端子
c および個別端子T1 間の端子間電圧Ec1を差動増幅
器に与える。また、b側に切り替わったときには、電流
発生手段Dからの測定電流Iを、共通端子Tc →共通電
路r→共通接続点P→抵抗素子Rn →個別端子Tn の経
路で流し、共通端子Tc および個別端子Tn 間の端子間
電圧Ecnを差動増幅器に与える。さらに、c側に切り替
わったときには、電流発生手段Dからの測定電流Iを、
個別端子T1 →抵抗素子R1 →共通接続点P→抵抗素子
n →個別端子Tn の経路で流し、個別端子T1 および
個別端子Tn 間の端子間電圧E1nを差動増幅器に与え
る。
【0104】差動増幅器からなる測定手段Aは、端子間
電圧Ec1が入力される、それに比例した測定値Ec1
を出力し、端子間電圧Ecnが入力される、それに比例
した測定値Ecn′を出力し、端子間電圧E1nが入力され
、それに比例した測定値E1n′を出力する。測定値
c1′は共通端子Tc および個別端子T1 間の合成抵抗
c1(=R1 +r)に相当し、測定値Ecn′は共通端子
c および個別端子Tn 間の合成抵抗Rcn(=Rn
r)に相当し、測定値E1n′は個別端子T1 , n 間の
合成抵抗R1n(=R1 +Rn )に相当する。
【0105】演算手段Bでは、測定値Ec1′,Ecn′,
1n′をそれぞれ測定電流Iに相当する電流相当値EI
で除算することで、合成抵抗Rc1,Rcn,R1nを求め、
例えば以下のような演算を行うことで、共通電路rの抵
抗値を求める。 (Rc1+Rcn−R1n)/2=(R1 +r)+(Rn +r)−(R1 +Rn )/2 =r また、抵抗素子R1 ,R2 の抵抗値は、例えば以下のよ
うな演算で求まる。
【0106】 R1 =Rc1−r R2 =Rcn−r この抵抗値測定装置によると、多連抵抗素子RAの共通
端子Tc と複数の抵抗素子R1 〜Rn の個別端子T1
n のうちの2つの端子間に測定電流Iを流し、それら
2つの端子間に生じる端子間電圧を測定し、この測定処
理を端子の組み合わせを異ならせて複数の端子間電圧、
例えばEc1,Ecn 1n を求め、端子間電圧Ec1
cn 1n の測定値Ec1′,Ecn′, 1n ′を電流相当
値EI でそれぞれ除算して各端子間の抵抗値Rc1
cn 1n を求め、求めた各端子間の抵抗値Rc1
cn 1n と、各端子間の抵抗値Rc1,Rcn 1n と共
通電路rの抵抗および複数の抵抗素子R1 ,Rn との関
係式に基づいて演算するので、多連抵抗素子RAを構成
する各抵抗素子R1 ,Rn の共通接続点と共通端子Tc
との間の共通電路rの抵抗値の影響を受けずに、多連抵
抗素子RAを構成する各抵抗素子R1 ,Rn の抵抗値を
測定することができ、また各抵抗素子R1 ,Rn の共通
接続点と共通端子Tc との間の共通電路rの抵抗値を測
定することができる。
【0107】なお、上述の実施の形態では、共通端子T
c および個別端子T1 間の端子間電圧Ec1、共通端子T
c および個別端子Tn 間の端子間電圧Ecn、個別端子T
1 ,Tn 間の端子間電圧 1n を求めて、共通電路rの抵
抗および複数の抵抗素子R1,Rn の抵抗値を求めてい
るが、端子間電圧を測定する2つの端子の組み合わせを
異ならせることにより、他の抵抗素子の抵抗値を測定す
ることもできる。また、上記の説明では、端子の組み合
わせの異なる3種類の端子間電圧を求めて、それらを所
定の関係式に従って演算することにより、共通電路の抵
抗値と2つの抵抗素子の抵抗値を求めたが、4種類以上
の端子間電圧を求めて、それらを所定の関係式に従って
演算することにより、共通電路の抵抗値と3つ以上の抵
抗素子の抵抗値を求めることができる。なお、演算に要
する関係式は、多連抵抗素子の共通電路と各抵抗素子と
共通端子および個別端子の接続関係から容易に求まるも
のであり、特に関係式の説明は省略する。
【0108】〔抵抗値測定装置の第8の実施の形態〕 多連抵抗素子の各抵抗素子の抵抗値(直流抵抗)および
共通電路の抵抗値(直流抵抗値)を測定する、この発明
の第8の実施の形態の抵抗値測定装置を図8を参照しな
がら説明する。この抵抗値測定装置は、図7の電流発生
手段Dに代えて、一定の規定測定電流IR を多連抵抗素
子RAに供給する電流発生手段DRを用いるとともに、
電流発生手段DRから電流相当値EI を供給するのを止
め、演算手段Bにおいて、電流相当値EI で除算する代
わり、演算手段Bの内部で規定測定電流IR に対応し
た係数を設定したものである。
【0109】この実施の形態では、規定測定電流IR
よって生じる端子間電圧Ec1,Ecn,E1nを差動増幅器
の非反転入力端子および反転入力端子間に加える。その
結果、差動増幅器からは端子間電圧Ec1,Ecn,E1n
比例した測定値Ec1′,Ecn′,E1n′が得られ、測定
値Ec1′,Ecn′,E1n′は抵抗値Rc1 ,cn,R1n
比例したものとなり、演算手段では、電流相当値EI
で除算することなしに、抵抗値Rc1,Rcn 1n から共
通電路rの抵抗および複数の抵抗素子R1 ,Rn の抵抗
値を算出する。
【0110】この抵抗値測定装置によると、規定測定電
R に相当する電流相当値で除算する必要はないの
で、抵抗素子R1 ,Rn の抵抗値および共通電路rの抵
抗値を簡単な演算で求めることができる。その他の点に
ついては、第7の実施の形態の抵抗値測定装置と同様で
ある。
【0111】〔抵抗値測定装置の第9の実施の形態〕 多連抵抗素子の各抵抗素子の抵抗値(直流抵抗)および
共通電路の抵抗値(直流抵抗値)を測定する、この発明
の第9の実施の形態の抵抗値測定装置を図9を参照しな
がら説明する。この抵抗値測定装置は、図1の多連抵抗
素子RAと電流発生手段D,測定手段Aおよびスイッチ
手段Sの間に、スイッチ手段SA1,SA2,SA3をそれぞ
れ介挿し、抵抗素子R1 〜Rn の抵抗値を測定するとき
の、個別端子T1 〜Tn と電流発生手段D,測定手段A
およびスイッチ手段Sとのつなぎ替えを、スイッチ手段
A1,SA2,SA3を切り替えによって実現するようにし
たものである。その他の構成は図1の抵抗値測定装置と
同様である。
【0112】この場合、スイッチ手段SA1,SA2,SA3
は、複数の抵抗素子R1 〜Rn のうちの何れか一つを電
流発生手段Dおよび測定手段Aの反転入力端子に選択的
に接続するよう切り替えたときに、複数の抵抗素子R1
〜Rn のうちの残りの何れか少なくとも一つをスイッチ
手段Sに選択的に接続するように切り替えられる。
【0113】このように、スイッチ手段SA1,SA2,S
A3を設けると、自動測定を行うときに、多連抵抗素子R
Aの個別端子T1 〜Tn に対してプローブ等を何回も接
続しなおすことが不要となり、測定を高速に行うことが
できる。その他の効果は第1の実施の形態と同様であ
る。
【0114】なお、スイッチ手段SA1,SA2,SA3は、
図2に示した抵抗値測定装置にも適用でき、上記と同様
の効果が得られる。
【0115】〔抵抗値測定装置の第10の実施の形態〕 多連抵抗素子の各抵抗素子の抵抗値(直流抵抗)および
共通電路の抵抗値(直流抵抗値)を測定する、この発明
の第10の実施の形態の抵抗値測定装置を図10を参照
しながら説明する。この抵抗値測定装置は、図3の多連
抵抗素子RAと電流発生手段Dおよび測定手段A1 ,A
2 の間に、スイッチ手段SA1,SA2,SA3をそれぞれ介
挿し、抵抗素子R1 〜Rn の抵抗値を測定するときの、
個別端子T1 〜Tn と電流発生手段Dおよび測定手段A
1 ,A2 とのつなぎ替えを、スイッチ手段SA1,SA2
A3を切り替えによって実現するようにしたものであ
る。その他の構成は図3の抵抗値測定装置と同様であ
る。
【0116】この場合、スイッチ手段SA1,SA2,SA3
は、複数の抵抗素子R1 〜Rn のうちの何れか一つを電
流発生手段Dおよび測定手段A1 ,A2 の反転入力端子
に選択的に接続するように切り替えたときに、複数の抵
抗素子R1 〜Rn のうちの残りの何れか少なくとも一つ
を測定手段A1 の非反転入力端子に選択的に接続するよ
うに切り替えられる。
【0117】このように、スイッチ手段SA1,SA2,S
A3を設けると、自動測定を行うときに、多連抵抗素子R
Aの個別端子T1 〜Tn に対してプローブ等を何回も接
続しなおすことが不要となり、測定を高速に行うことが
できる。その他の効果は第3の実施の形態と同様であ
る。
【0118】なお、スイッチ手段SA1,SA2,SA3は、
図4に示した抵抗値測定装置にも適用でき、上記と同様
の効果が得られる。
【0119】なお、上記各実施の形態では、電流発生手
段が直流電流を発生するものであったが、電流発生手段
を交流電流を発生するものとすれば、交流抵抗を測定す
ることが可能である。
【0120】
【発明の効果】請求項1記載の抵抗値測定方法によれ
ば、複数の抵抗素子のうちの測定対象の抵抗素子の両端
の電圧降下を複数の抵抗素子のうちの測定対象以外の他
の抵抗素子を通して測定するので、共通電路の抵抗の影
響を受けずに測定対象の抵抗素子の抵抗値を測定するこ
とができる。また、端子間電圧を測定する測定手段とし
て、測定対象以外の他の抵抗素子の抵抗値に比べて入力
インピーダンスが十分に高いものを用いることにより、
測定対象以外の他の抵抗素子による誤差は無視できるも
のとなり、測定対象の抵抗素子の抵抗値を共通電路の抵
抗の影響を受けずに正確に測定することができる。さら
に、測定対象の抵抗素子の抵抗値と共通電路の抵抗値と
が加算されたものを従来例と同様にして求め、そして、
この求めた抵抗値から測定対象の抵抗素子の抵抗値を減
じることにより、共通電路の抵抗値を測定することがで
きる。
【0121】請求項記載の抵抗値測定方法によれば、
請求項と同様の効果を奏し、しかも、規定測定電流に
相当する電流相当値で除算する必要はないので、抵抗素
子の抵抗値を簡単な演算で求めることができる。
【0122】請求項記載の抵抗値測定方法によれば、
共通電路の電圧降下を複数の抵抗素子のうちの他の抵抗
素子を通して測定するので、複数の抵抗素子のうちの何
れかの一つの抵抗素子の影響を受けずに共通電路の抵抗
値を測定することができる。また、端子間電圧を測定す
る測定手段として、他の抵抗素子の抵抗値に比べて入力
インピーダンスが十分に高いものを用いることにより、
他の抵抗素子による誤差は無視できるものとなり、共通
電路の抵抗値を複数の抵抗素子のうちの何れかの一つの
抵抗素子の抵抗値の影響を受けずに正確に測定すること
ができる。
【0123】請求項記載の抵抗値測定方法によれば、
請求項と同様の効果を奏し、しかも、規定測定電流に
相当する電流相当値で除算する必要はないので、抵抗素
子の抵抗値を簡単な演算で求めることができる。
【0124】請求項記載の抵抗値測定方法によれば、
多連抵抗素子の共通端子と複数の抵抗素子の個別端子の
うちの2つの端子間に測定電流を流し、それら2つの端
子間に生じる端子間電圧を測定し、この測定処理を端子
の組み合わせを異ならせて実行して複数の端子間電圧を
求め、端子間電圧を電流相当値でそれぞれ除算して各端
子間の抵抗値を求め、求めた各端子間の抵抗値と、各端
子間の抵抗値と共通電路の抵抗および複数の抵抗素子と
の関係式に基づいて演算するので、多連抵抗素子を構成
する各抵抗素子の共通接続点と共通端子との間の共通電
路の抵抗値の影響を受けずに、多連抵抗素子を構成する
各抵抗素子の抵抗値を測定することができ、また各抵抗
素子の共通接続点と共通端子との間の共通電路の抵抗値
を測定することができる。
【0125】請求項記載の抵抗値測定方法によれば、
請求項と同様の効果を奏し、しかも、規定測定電流に
相当する電流相当値で除算する必要はないので、抵抗素
子の抵抗値を簡単な演算で求めることができる。
【0126】請求項7記載の抵抗値測定装置によれば、
複数の抵抗素子のうちの測定対象の抵抗素子の両端の電
圧降下を複数の抵抗素子のうちの測定対象以外の他の抵
抗素子を通して測定するので、共通電路の抵抗の影響を
受けずに測定対象の抵抗素子の抵抗値を測定することが
できる。また、端子間電圧を測定する測定手段として、
測定対象以外の他の抵抗素子の抵抗値に比べて入力イン
ピーダンスが十分に高いものを用いることにより、測定
対象以外の他の抵抗素子による誤差は無視できるものと
なり、測定対象の抵抗素子の抵抗値を共通電路の抵抗の
影響を受けずに正確に測定することができる。さらに、
測定対象の抵抗素子の抵抗値と共通電路の抵抗値とが加
算されたものを従来例と同様にして求め、そして、この
求めた抵抗値から測定対象の抵抗素子の抵抗値を減じる
ことにより、共通電路の抵抗値を測定することができ
る。
【0127】請求項記載の抵抗値測定装置によれば、
請求項と同様の効果を奏し、しかも、規定測定電流に
相当する電流相当値で除算する必要はないので、抵抗素
子の抵抗値を簡単な演算で求めることができる。
【0128】請求項記載の抵抗値測定装置によれば、
第1および第2の測定手段を設けているので、スイッチ
手段による切り替えは不要となっている点以外、請求項
と同様の効果を奏する。
【0129】請求項1記載の抵抗値測定装置によれ
ば、第1および第2の測定手段を設けているので、スイ
ッチ手段による切り替えは不要となっている点以外、請
求項と同様の効果を奏する。
【0130】請求項1記載の抵抗値測定装置によれ
ば、共通電路の電圧降下を複数の抵抗素子のうちの他の
抵抗素子を通して測定するので、複数の抵抗素子のうち
の何れかの一つの抵抗素子の影響を受けずに共通電路の
抵抗値を測定することができる。また、端子間電圧を測
定する測定手段として、他の抵抗素子の抵抗値に比べて
入力インピーダンスが十分に高いものを用いることによ
り、他の抵抗素子による誤差は無視できるものとなり、
共通電路の抵抗値を複数の抵抗素子のうちの何れかの一
つの抵抗素子の抵抗値の影響を受けずに正確に測定する
ことができる。
【0131】請求項1記載の抵抗値測定装置によれ
ば、請求項1と同様の効果を奏し、しかも、規定測定
電流に相当する電流相当値で除算する必要はないので、
抵抗素子の抵抗値を簡単な演算で求めることができる。
【0132】請求項1記載の抵抗値測定装置によれ
ば、多連抵抗素子の共通端子と複数の抵抗素子の個別端
子のうちの2つの端子間に測定電流を流し、それら2つ
の端子間に生じる端子間電圧を測定し、この測定処理を
端子の組み合わせを異ならせて実行して複数の端子間電
圧を求め、端子間電圧を電流相当値でそれぞれ除算して
各端子間の抵抗値を求め、求めた各端子間の抵抗値と、
各端子間の抵抗値と共通電路の抵抗および複数の抵抗素
子との関係式に基づいて演算するので、多連抵抗素子を
構成する各抵抗素子の共通接続点と共通端子との間の共
通電路の抵抗値の影響を受けずに、多連抵抗素子を構成
する各抵抗素子の抵抗値を測定することができ、また各
抵抗素子の共通接続点と共通端子との間の共通電路の抵
抗値を測定することができる。
【0133】請求項1記載の抵抗値測定装置によれ
ば、請求項1と同様の効果を奏し、しかも、規定測定
電流に相当する電流相当値で除算する必要はないので、
抵抗素子の抵抗値を簡単な演算で求めることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の第1の実施の形態の抵抗値測定方法
の説明に用いられる抵抗値測定装置の回路図であり、ま
この発明の第1の実施の形態の抵抗値測定装置を示す
回路図である。
【図2】この発明の第2の実施の形態の抵抗値測定方法
の説明に用いられる抵抗値測定装置の回路図であり、ま
この発明の第2の実施の形態の抵抗値測定装置を示す
回路図である。
【図3】この発明の第3の実施の形態の抵抗値測定装置
を示す回路図である。
【図4】この発明の第4の実施の形態の抵抗値測定装置
を示す回路図である。
【図5】この発明の第3の実施の形態の抵抗値測定方法
の説明に用いられる抵抗値測定装置の回路図であり、ま
この発明の第5の実施の形態の抵抗値測定装置を示す
回路図である。
【図6】この発明の第4の実施の形態の抵抗値測定方法
の説明に用いられる抵抗値測定装置の回路図であり、ま
この発明の第6の実施の形態の抵抗値測定装置を示す
回路図である。
【図7】この発明の第5の実施の形態の抵抗値測定方法
の説明に用いられる抵抗値測定装置の回路図であり、ま
この発明の第7の実施の形態の抵抗値測定装置を示す
回路図である。
【図8】この発明の第6の実施の形態の抵抗値測定方法
の説明に用いられる抵抗値測定装置の回路図であり、ま
この発明の第8の実施の形態の抵抗値測定装置を示す
回路図である。
【図9】この発明の第9の実施の形態の抵抗値測定装置
を示す回路図である。
【図10】この発明の第10の実施の形態の抵抗値測定
装置を示す回路図である。
【図11】従来の第1の抵抗値測定方法を実施する抵抗
値測定装置を示す回路図である。
【図12】従来の第2の抵抗値測定方法を実施する抵抗
値測定装置を示す回路図である。
【符号の説明】
RA 多連抵抗素子 R1 ,Rn 抵抗素子 r 共通電路 A 測定手段 B 演算手段 C 表示手段 D 電流発生手段

Claims (14)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 一端を共通接続した複数の抵抗素子から
    なる多連抵抗素子の各抵抗素子の抵抗値および共通電路
    の抵抗値を測定する抵抗値測定方法であって、 前記多連抵抗素子の共通端子と前記複数の抵抗素子のう
    ちの測定対象の抵抗素子の個別端子との間に測定電流を
    流し、前記測定対象の抵抗素子の個別端子と前記複数の
    抵抗素子のうちの測定対象以外の他の抵抗素子の個別端
    子との間に現れる第1の端子間電圧を測定するととも
    に、前記多連抵抗素子の共通端子と前記測定対象の抵抗
    素子の個別端子との間に現れる第2の端子間電圧を測定
    し、前記第1の端子間電圧の測定値を前記測定電流に相
    当する電流相当値で除算し、この除算した第1の除算結
    果を前記測定対象の抵抗素子の抵抗値として出力すると
    ともに、前記第2の端子間電圧の測定値を前記電流相当
    値で除算し、この除算した第2の除算結果から前記第1
    の除算結果を減算し、この減算した減算結果を前記共通
    電路の抵抗値として出力することを特徴とする抵抗値測
    定方法。
  2. 【請求項2】 一端を共通接続した複数の抵抗素子から
    なる多連抵抗素子の各抵抗素子の抵抗値および共通電路
    の抵抗値を測定する抵抗値測定方法であって、 前記多連抵抗素子の共通端子と前記複数の抵抗素子のう
    ちの測定対象の抵抗素子の個別端子との間に規定測定電
    流を流し、前記測定対象の抵抗素子の個別端子と前記複
    数の抵抗素子のうちの測定対象以外の他の抵抗素子の個
    別端子との間に現れる第1の端子間電圧を測定するとと
    もに、前記多連抵抗素子の共通端子と前記測定対象の抵
    抗素子の個別端子との間に現れる第2の端子間電圧を測
    定し、前記第1の端子間電圧の測定値を前記測定対象の
    抵抗素子の抵抗値として出力し、前記第2の端子間電圧
    の測定値から前記第1の端子間電圧の測定値を減算し、
    この減算した減算結果を前記共通電路の抵抗値として出
    力することを特徴とする抵抗値測定方法。
  3. 【請求項3】 一端を共通接続した複数の抵抗素子から
    なる多連抵抗素子の 共通電路の抵抗値を測定する抵抗値
    測定方法であって、 前記多連抵抗素子の共通端子と前記複数の抵抗素子のう
    ちの何れかの一つの抵抗素子の個別端子との間に測定電
    流を流し、前記多連抵抗素子の共通端子と前記複数の抵
    抗素子のうちの残りの抵抗素子の個別端子との間に現れ
    る端子間電圧を測定し、前記端子間電圧の測定値を前記
    測定電流に相当する電流相当値で除算し、この除算した
    除算結果を前記共通電路の抵抗値として出力することを
    特徴とする抵抗値測定方法。
  4. 【請求項4】 一端を共通接続した複数の抵抗素子から
    なる多連抵抗素子の共通電路の抵抗値を測定する抵抗値
    測定方法であって、 前記多連抵抗素子の共通端子と前記複数の抵抗素子のう
    ちの何れかの一つの抵抗素子の個別端子との間に規定測
    定電流を流し、前記多連抵抗素子の共通端子と前記複数
    の抵抗素子のうちの残りの抵抗素子の個別端子との間に
    現れる端子間電圧を測定し、前記端子間電圧の測定値を
    前記共通電路の抵抗値として出力することを特徴とする
    抵抗値測定方法。
  5. 【請求項5】 一端を共通接続した複数の抵抗素子から
    なる多連抵抗素子の各抵抗素子の抵抗値および共通電路
    の抵抗値を測定する抵抗値測定方法であって、 前記多連抵抗素子の共通端子と前記複数の抵抗素子のう
    ちの第1の測定対象の抵抗素子の個別端子との間に測定
    電流を流して、前記多連抵抗素子の共通端子と前記第1
    の測定対象の抵抗素子の個別端子との間に現れる第1の
    端子間電圧を測定し、 前記多連抵抗素子の共通端子と前記複数の抵抗素子のう
    ちの第2の測定対象の抵抗素子の個別端子との間に測定
    電流を流して、前記多連抵抗素子の共通端子と前記第2
    の測定対象の抵抗素子の個別端子との間に現れる第2の
    端子間電圧を測定し、 前記複数の抵抗素子のうちの第1の測定対象の抵抗素子
    の個別端子と前記複数の抵抗素子のうちの第2の測定対
    象の抵抗素子の個別端子との間に測定電流を流して、前
    記第1の測定対象の抵抗素子の個別端子と前記第2の測
    定対象の抵抗素子の個別端子との間に現れる第3の端子
    間電圧を測定し、 前記第1,第2および第3の端子間電圧の測定値を前記
    測定電流に相当する電流相当値でそれぞれ除算して、前
    記多連抵抗素子の共通端子と前記第1の測定対象の抵抗
    素子の個別端子との間の第1の抵抗値,前記多連抵抗素
    子の共通端子と前記第2の測定対象の抵抗素子の個別端
    子との間の第2の抵抗値および前記第1の測定対象の抵
    抗素子の個別端子と前記第2の測定対象の抵抗素子の個
    別端子との間の第3の抵抗値をそれぞれ求め、 前記第1の抵抗値が前記第1の測定対象の抵抗素子の抵
    抗値と前記共通電路の抵抗値の直列合成抵抗値であり、
    前記第2の抵抗値が前記第2の測定対象の抵抗素子の抵
    抗値と前記共通電路の抵抗値の直列合成抵抗値であり、
    前記第3の抵抗値が前記第1の測定対象の抵抗素子の抵
    抗値と前記第2の測定対象の抵抗素子の抵抗値の直列合
    成抵抗値であるという関係式と、前記第1,第2および
    第3の抵抗値とから、前記第1および第2の測定対象の
    抵抗素子の抵抗値および前記共通電路の抵抗値を算出し
    て出力することを特徴とする抵抗値測定方法。
  6. 【請求項6】 一端を共通接続した複数の抵抗素子から
    なる多連抵抗素子の各抵抗素子の抵抗値および共通電路
    の抵抗値を測定する抵抗値測定方法であって、 前記多連抵抗素子の共通端子と前記複数の抵抗素子のう
    ちの第1の測定対象の抵抗素子の個別端子との間に規定
    測定電流を流して、前記多連抵抗素子の共通端子と前記
    第1の測定対象の抵抗素子の個別端子との間に現れる第
    1の端子間電圧を測定し、 前記多連抵抗素子の共通端子と前記複数の抵抗素子のう
    ちの第2の測定対象の抵抗素子の個別端子との間に規定
    測定電流を流して、前記多連抵抗素子の共通端子と前記
    第2の測定対象の抵抗素子の個別端子との間に現れる第
    2の端子間電圧を測定し、 前記複数の抵抗素子のうちの第1の測定対象の抵抗素子
    の個別端子と前記複数の抵抗素子のうちの第2の測定対
    象の抵抗素子の個別端子との間に規定測定電流を流し
    て、前記第1の測定対象の抵抗素子の個別端子と前記第
    2の測定対象の抵抗素子の個別端子との間に現れる第3
    の端子間電圧を測定し、 前記第1,第2および第3の端子間電圧の測定値を、そ
    れぞれ前記多連抵抗素 子の共通端子と前記第1の測定対
    象の抵抗素子の個別端子との間の第1の抵抗値,前記多
    連抵抗素子の共通端子と前記第2の測定対象の抵抗素子
    の個別端子との間の第2の抵抗値および前記第1の測定
    対象の抵抗素子の個別端子と前記第2の測定対象の抵抗
    素子の個別端子との間の第3の抵抗値とし、 前記第1の抵抗値が前記第1の測定対象の抵抗素子の抵
    抗値と前記共通電路の抵抗値の直列合成抵抗値であり、
    前記第2の抵抗値が前記第2の測定対象の抵抗素子の抵
    抗値と前記共通電路の抵抗値の直列合成抵抗値であり、
    前記第3の抵抗値が前記第1の測定対象の抵抗素子の抵
    抗値と前記第2の測定対象の抵抗素子の抵抗値の直列合
    成抵抗値であるという関係式と、前記第1,第2および
    第3の抵抗値とから、前記第1および第2の測定対象の
    抵抗素子の抵抗値および前記共通電路の抵抗値を算出し
    て出力することを特徴とする抵抗値測定方法。
  7. 【請求項7】 一端を共通接続した複数の抵抗素子から
    なる多連抵抗素子の各抵抗素子の抵抗値および共通電路
    の抵抗値を測定する抵抗値測定装置であって、 前記多連抵抗素子の共通端子と前記複数の抵抗素子のう
    ちの測定対象の抵抗素子の個別端子との間に測定電流を
    流す電流発生手段と、 前記測定対象の抵抗素子の個別端子と前記複数の抵抗素
    子のうちの測定対象以外の他の抵抗素子の個別端子との
    間に現れる第1の端子間電圧と前記多連抵抗素子の共通
    端子と前記測定対象の抵抗素子の個別端子との間に現れ
    る第2の端子間電圧とを選択するスイッチ手段と、 前記スイッチ手段を通して入力された第1および第2の
    端子間電圧をそれぞれ測定する測定手段と、 前記測定手段による前記第1の端子間電圧の測定値を前
    記測定電流に相当する電流相当値で除算し、この除算し
    た第1の除算結果を前記測定対象の抵抗素子の抵抗値と
    して出力するとともに、前記測定手段による前記第2の
    端子間電圧の測定値を前記電流相当値で除算し、この除
    算した第2の除算結果から前記第1の除算結果を減算
    し、この減算した減算結果を前記共通電路の抵抗値とし
    て出力する演算手段と、 前記演算手段の出力を表示する表示手段とを備えた抵抗
    値測定装置。
  8. 【請求項8】 一端を共通接続した複数の抵抗素子から
    なる多連抵抗素子の各抵抗素子の抵抗値および共通電路
    の抵抗値を測定する抵抗値測定装置であって、 前記多連抵抗素子の共通端子と前記複数の抵抗素子のう
    ちの測定対象の抵抗素子の個別端子との間に規定測定電
    流を流す電流発生手段と、 前記測定対象の抵抗素子の個別端子と前記複数の抵抗素
    子のうちの測定対象以外の他の抵抗素子の個別端子との
    間に現れる第1の端子間電圧と前記多連抵抗素子の共通
    端子と前記測定対象の抵抗素子の個別端子との間に現れ
    る第2の端子間電圧とを選択するスイッチ手段と、 前記スイッチ手段を通して入力された第1および第2の
    端子間電圧をそれぞれ測定する測定手段と、 前記測定手段による前記第1の端子間電圧の測定値を前
    記測定対象の抵抗素子の抵抗値として出力するととも
    に、前記第2の端子間電圧の測定値から前記第1の端子
    間電圧の測定値を減算し、この減算した減算結果を前記
    共通電路の抵抗値として出力する演算手段と、 前記演算手段の出力を表示する表示手段とを備えた抵抗
    値測定装置。
  9. 【請求項9】 一端を共通接続した複数の抵抗素子から
    なる多連抵抗素子の各抵抗素子の抵抗値および共通電路
    の抵抗値を測定する抵抗値測定装置であって、 前記多連抵抗素子の共通端子と前記複数の抵抗素子のう
    ちの測定対象の抵抗素子の個別端子との間に測定電流を
    流す電流発生手段と、 前記測定対象の抵抗素子の個別端子と前記複数の抵抗素
    子のうちの測定対象以外の他の抵抗素子の個別端子との
    間に現れる第1の端子間電圧を測定する第1の測定手段
    と、 前記多連抵抗素子の共通端子と前記測定対象の抵抗素子
    の個別端子との間に現れる第2の端子間電圧を測定する
    第2の測定手段と、 前記第1の測定手段による前記第1の端子間電圧の測定
    値を前記測定電流に相当する電流相当値で除算し、この
    除算した第1の除算結果を前記測定対象の抵抗素子の抵
    抗値として出力するとともに、前記第2の測定手段によ
    る前記第2の端 子間電圧の測定値を前記電流相当値で除
    算し、この除算した第2の除算結果から前記第1の除算
    結果を減算し、この減算した減算結果を前記共通電路の
    抵抗値として出力する演算手段と、 前記演算手段の出力を表示する表示手段とを備えた抵抗
    値測定装置。
  10. 【請求項10】 一端を共通接続した複数の抵抗素子か
    らなる多連抵抗素子の各抵抗素子の抵抗値および共通電
    路の抵抗値を測定する抵抗値測定装置であって、 前記多連抵抗素子の共通端子と前記複数の抵抗素子のう
    ちの測定対象の抵抗素子の個別端子との間に規定測定電
    流を流す電流発生手段と、 前記測定対象の抵抗素子の個別端子と前記複数の抵抗素
    子のうちの測定対象以外の他の抵抗素子の個別端子との
    間に現れる第1の端子間電圧を測定する第1の測定手段
    と、 前記多連抵抗素子の共通端子と前記測定対象の抵抗素子
    の個別端子との間に現れる第2の端子間電圧を測定する
    第2の測定手段と、 前記第1の測定手段による前記第1の端子間電圧の測定
    値を前記測定対象の抵抗素子の抵抗値として出力すると
    ともに、前記第2の測定手段による前記第2の端子間電
    圧の測定値から前記第1の端子間電圧の測定値を減算
    し、この減算した減算結果を前記共通電路の抵抗値とし
    て出力する演算手段と、 前記演算手段の出力を表示する表示手段とを備えた抵抗
    値測定装置。
  11. 【請求項11】 一端を共通接続した複数の抵抗素子か
    らなる多連抵抗素子の共通電路の抵抗値を測定する抵抗
    値測定装置であって、 前記多連抵抗素子の共通端子と前記複数の抵抗素子のう
    ちの何れかの一つの抵抗素子の個別端子との間に測定電
    流を流す電流発生手段と、 前記多連抵抗素子の共通端子と前記複数の抵抗素子のう
    ちの残りの抵抗素子の個別端子との間に現れる端子間電
    圧を測定する測定手段と、 前記測定手段による前記端子間電圧の測定値を前記測定
    電流に相当する電流相当値で除算し、この除算した除算
    結果を前記共通電路の抵抗値として出力する演算手段
    と、 前記演算手段の出力を表示する表示手段とを備えた抵抗
    値測定装置。
  12. 【請求項12】 一端を共通接続した複数の抵抗素子か
    らなる多連抵抗素子の共通電路の抵抗値を測定する抵抗
    値測定装置であって、 前記多連抵抗素子の共通端子と前記複数の抵抗素子のう
    ちの何れかの一つの抵抗素子の個別端子との間に規定測
    定電流を流す電流発生手段と、 前記多連抵抗素子の共通端子と前記複数の抵抗素子のう
    ちの残りの抵抗素子の個別端子との間に現れる端子間電
    圧を測定する測定手段と、 前記測定手段による前記端子間電圧の測定値を前記共通
    電路の抵抗値として出力する演算手段と、 前記演算手段の出力を表示する表示手段とを備えた抵抗
    値測定装置。
  13. 【請求項13】 一端を共通接続した複数の抵抗素子か
    らなる多連抵抗素子の各抵抗素子の抵抗値および共通電
    路の抵抗値を測定する抵抗値測定装置であって、 測定電流を発生する測定電流発生手段と、 入力される電圧を測定する測定手段と、 前記多連抵抗素子の共通端子と前記複数の抵抗素子のう
    ちの第1の測定対象の抵抗素子の個別端子との間に前記
    測定電流を流して、前記多連抵抗素子の共通端子と前記
    第1の測定対象の抵抗素子の個別端子との間に現れる第
    1の端子間電圧を前記測定手段に供給する第1の状態
    と、前記多連抵抗素子の共通端子と前記複数の抵抗素子
    のうちの第2の測定対象の抵抗素子の個別端子との間に
    前記測定電流を流して、前記多連抵抗素子の共通端子と
    前記第2の測定対象の抵抗素子の個別端子との間に現れ
    る第2の端子間電圧を前記測定手段に供給する第2の状
    態と、前記複数の抵抗素子のうちの第1の測定対象の抵
    抗素子の個別端子と前記複数の抵抗素子のうちの第2の
    測定対象の抵抗素子の個別端子との間に前記測定電流を
    流して、前記第1の測定対象の抵抗素子の個別端子と前
    記第2の測定対象の抵抗素子の個別端子との間に現れる
    第3の端子間電圧を前記測定手段に供給する第3の状態
    とを切り替えるスイッチ手段と、 前記測定手段による前記第1,第2および第3の端子間
    電圧の測定値を前記測定電流に相当する電流相当値でそ
    れぞれ除算して、前記多連抵抗素子の共通端子と前記第
    1の測定対象の抵抗素子の個別端子との間の第1の抵抗
    値,前記多連抵 抗素子の共通端子と前記第2の測定対象
    の抵抗素子の個別端子との間の第2の抵抗値および前記
    第1の測定対象の抵抗素子の個別端子と前記第2の測定
    対象の抵抗素子の個別端子との間の第3の抵抗値をそれ
    ぞれ求め、前記第1の抵抗値が前記第1の測定対象の抵
    抗素子の抵抗値と前記共通電路の抵抗値の直列合成抵抗
    値であり、前記第2の抵抗値が前記第2の測定対象の抵
    抗素子の抵抗値と前記共通電路の抵抗値の直列合成抵抗
    値であり、前記第3の抵抗値が前記第1の測定対象の抵
    抗素子の抵抗値と前記第2の測定対象の抵抗素子の抵抗
    値の直列合成抵抗値であるという関係式と、前記第1,
    第2および第3の抵抗値とから、前記第1および第2の
    測定対象の抵抗素子の抵抗値および前記共通電路の抵抗
    値を算出して出力する演算手段と、 この演算手段の出力を表示する表示手段とを備えた抵抗
    値測定装置。
  14. 【請求項14】 一端を共通接続した複数の抵抗素子か
    らなる多連抵抗素子の各抵抗素子の抵抗値および共通電
    路の抵抗値を測定する抵抗値測定装置であって、 規定測定電流を発生する測定電流発生手段と、 入力される電圧を測定する測定手段と、 前記多連抵抗素子の共通端子と前記複数の抵抗素子のう
    ちの第1の測定対象の抵抗素子の個別端子との間に前記
    規定測定電流を流して、前記多連抵抗素子の共通端子と
    前記第1の測定対象の抵抗素子の個別端子との間に現れ
    る第1の端子間電圧を前記測定手段に供給する第1の状
    態と、前記多連抵抗素子の共通端子と前記複数の抵抗素
    子のうちの第2の測定対象の抵抗素子の個別端子との間
    に前記規定測定電流を流して、前記多連抵抗素子の共通
    端子と前記第2の測定対象の抵抗素子の個別端子との間
    に現れる第2の端子間電圧を前記測定手段に供給する第
    2の状態と、前記複数の抵抗素子のうちの第1の測定対
    象の抵抗素子の個別端子と前記複数の抵抗素子のうちの
    第2の測定対象の抵抗素子の個別端子との間に前記規定
    測定電流を流して、前記第1の測定対象の抵抗素子の個
    別端子と前記第2の測定対象の抵抗素子の個別端子との
    間に現れる第3の端子間電圧を前記測定手段に供給する
    第3の状態とを切り替えるスイッチ手段と、 前記測定手段による前記第1,第2および第3の端子間
    電圧の測定値を、それ ぞれ前記多連抵抗素子の共通端子
    と前記第1の測定対象の抵抗素子の個別端子との間の第
    1の抵抗値,前記多連抵抗素子の共通端子と前記第2の
    測定対象の抵抗素子の個別端子との間の第2の抵抗値お
    よび前記第1の測定対象の抵抗素子の個別端子と前記第
    2の測定対象の抵抗素子の個別端子との間の第3の抵抗
    値とし、前記第1の抵抗値が前記第1の測定対象の抵抗
    素子の抵抗値と前記共通電路の抵抗値の直列合成抵抗値
    であり、前記第2の抵抗値が前記第2の測定対象の抵抗
    素子の抵抗値と前記共通電路の抵抗値の直列合成抵抗値
    であり、前記第3の抵抗値が前記第1の測定対象の抵抗
    素子の抵抗値と前記第2の測定対象の抵抗素子の抵抗値
    の直列合成抵抗値であるという関係式と、前記第1,第
    2および第3の抵抗値とから、前記第1および第2の測
    定対象の抵抗素子の抵抗値および前記共通電路の抵抗値
    を算出して出力する演算手段と、 この演算手段の出力を表示する表示手段とを備えた抵抗
    値測定装置。
JP08308412A 1996-11-19 1996-11-19 抵抗値測定方法および抵抗値測定装置 Expired - Fee Related JP3120970B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP08308412A JP3120970B2 (ja) 1996-11-19 1996-11-19 抵抗値測定方法および抵抗値測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP08308412A JP3120970B2 (ja) 1996-11-19 1996-11-19 抵抗値測定方法および抵抗値測定装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH10148650A JPH10148650A (ja) 1998-06-02
JP3120970B2 true JP3120970B2 (ja) 2000-12-25

Family

ID=17980756

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP08308412A Expired - Fee Related JP3120970B2 (ja) 1996-11-19 1996-11-19 抵抗値測定方法および抵抗値測定装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3120970B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20230003779A1 (en) * 2021-06-30 2023-01-05 Cirrus Logic International Semiconductor Ltd. Systems and methods for estimation of sensor resistance

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109061305B (zh) * 2018-08-27 2024-06-25 常州星宇车灯股份有限公司 一种阵列式电阻测量装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20230003779A1 (en) * 2021-06-30 2023-01-05 Cirrus Logic International Semiconductor Ltd. Systems and methods for estimation of sensor resistance
US11644493B2 (en) * 2021-06-30 2023-05-09 Cirrus Logic, Inc. Systems and methods for estimation of sensor resistance

Also Published As

Publication number Publication date
JPH10148650A (ja) 1998-06-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2003028900A (ja) 非接触電圧測定方法およびその装置
US5448173A (en) Triple-probe plasma measuring apparatus for correcting space potential errors
JP3120970B2 (ja) 抵抗値測定方法および抵抗値測定装置
JPH01191067A (ja) オームメータ測定方法及び回路
JP3309380B2 (ja) ディジタル測定器
JP2006234800A (ja) 接地抵抗測定装置
JP3878779B2 (ja) 抵抗測定方法およびその装置
JPH10123189A (ja) 抵抗値測定方法および抵抗値測定装置
JP2802322B2 (ja) インピーダンス測定装置
JP4525995B2 (ja) 生体インピーダンス測定装置
JPS6314784B2 (ja)
JP2002139528A (ja) インピーダンス測定装置
JP2004150902A (ja) 高抵抗測定方法および高抵抗測定装置
JP2004184374A (ja) インピーダンス測定装置
JPS6275278A (ja) 計器精度判定装置
JP2992599B2 (ja) ブリッジ測定装置
JP3276376B2 (ja) 抵抗体の抵抗値測定方法
JPH1062463A (ja) 生体信号測定用電極の接触抵抗測定方法
JP2544130B2 (ja) 温度測定回路
SU599218A1 (ru) Измеритель сопротивлени
JPH02297072A (ja) 配線試験装置における抵抗補正方法
JP3165392B2 (ja) インピーダンス測定装置
US426499A (en) Thomas ii
JP2860803B2 (ja) 非接地電路の絶縁抵抗測定方法
JPH05180885A (ja) 1線接地した三相3線式電路の絶縁抵抗測定方法 及び装置

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121020

Year of fee payment: 12

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees