JPH10148650A - 抵抗値測定方法および抵抗値測定装置 - Google Patents
抵抗値測定方法および抵抗値測定装置Info
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- JPH10148650A JPH10148650A JP30841296A JP30841296A JPH10148650A JP H10148650 A JPH10148650 A JP H10148650A JP 30841296 A JP30841296 A JP 30841296A JP 30841296 A JP30841296 A JP 30841296A JP H10148650 A JPH10148650 A JP H10148650A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 多連抵抗素子を構成する各抵抗素子の共通接
続点と共通端子との間の共通電路の抵抗値の影響を受け
ずに、多連抵抗素子を構成する各抵抗素子の抵抗値を測
定する。 【解決手段】 多連抵抗素子ＲＡの共通端子Ｔc と抵抗
素子Ｒ1 の個別端子Ｔ1との間に電流発生手段Ｄにより
測定電流Ｉを流し、個別端子Ｔ1 と抵抗素子Ｒnの個別
端子Ｔn との間に現れる端子間電圧Ｅn1を測定手段Ａで
測定するとともに、共通端子Ｔc と個別端子Ｔ1 との間
に現れる端子間電圧Ｅcnを測定手段Ａで測定し、演算手
段Ｂにおいて端子間電圧Ｅn1の測定値Ｅn1′を測定電流
Ｉに相当する電流相当値ＥI で除算し、この除算した第
１の除算結果を抵抗素子Ｒ1 の抵抗値として出力し、端
子間電圧Ｅcnの測定値Ｅcn′を電流相当値ＥI で除算
し、この除算した第２の除算結果から第１の除算結果を
減算し、この減算した減算結果を共通電路ｒの抵抗値と
して出力する。
続点と共通端子との間の共通電路の抵抗値の影響を受け
ずに、多連抵抗素子を構成する各抵抗素子の抵抗値を測
定する。 【解決手段】 多連抵抗素子ＲＡの共通端子Ｔc と抵抗
素子Ｒ1 の個別端子Ｔ1との間に電流発生手段Ｄにより
測定電流Ｉを流し、個別端子Ｔ1 と抵抗素子Ｒnの個別
端子Ｔn との間に現れる端子間電圧Ｅn1を測定手段Ａで
測定するとともに、共通端子Ｔc と個別端子Ｔ1 との間
に現れる端子間電圧Ｅcnを測定手段Ａで測定し、演算手
段Ｂにおいて端子間電圧Ｅn1の測定値Ｅn1′を測定電流
Ｉに相当する電流相当値ＥI で除算し、この除算した第
１の除算結果を抵抗素子Ｒ1 の抵抗値として出力し、端
子間電圧Ｅcnの測定値Ｅcn′を電流相当値ＥI で除算
し、この除算した第２の除算結果から第１の除算結果を
減算し、この減算した減算結果を共通電路ｒの抵抗値と
して出力する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、複数個の抵抗素
子を一端を共通接続した（コモンタイプ）の多連抵抗素
子（抵抗ネットワーク、多連抵抗、抵抗アレーともい
う）の各々の抵抗素子の直流抵抗値または交流抵抗値、
あるいは多連抵抗素子の共通端子と各々の抵抗素子の共
通接続点との間の共通電路の直流抵抗値または交流抵抗
値を測定する抵抗値測定方法に関するものである。な
お、抵抗測定の対象となる多連抵抗素子は、通常、２素
子〜１５素子構成であるが、特殊なものではそれ以上の
素子のものもある。
子を一端を共通接続した（コモンタイプ）の多連抵抗素
子（抵抗ネットワーク、多連抵抗、抵抗アレーともい
う）の各々の抵抗素子の直流抵抗値または交流抵抗値、
あるいは多連抵抗素子の共通端子と各々の抵抗素子の共
通接続点との間の共通電路の直流抵抗値または交流抵抗
値を測定する抵抗値測定方法に関するものである。な
お、抵抗測定の対象となる多連抵抗素子は、通常、２素
子〜１５素子構成であるが、特殊なものではそれ以上の
素子のものもある。
【０００２】
【従来の技術】多連抵抗素子の各抵抗素子の抵抗値（直
流抵抗値）を測定する従来の第１の抵抗値測定方法を図
１１を参照しながら説明する。この抵抗値測定方法は、
図１１に示すように、多連抵抗素子ＲＡの共通端子Ｔc
と複数の抵抗素子Ｒ1 〜Ｒn （ｎは２以上の整数）のう
ちの測定対象の例えば抵抗素子Ｒ1 の個別端子Ｔ1 との
間に電流発生手段Ｄにより測定電流Ｉを流し、共通端子
Ｔc と測定対象の抵抗素子Ｒ1 の個別端子Ｔ1 との間に
現れる端子間電圧Ｅc1を差動増幅器からなる測定手段Ａ
で測定し、測定手段Ａによる端子間電圧Ｅc1の測定値Ｅ
c1′を演算手段Ｂにおいて測定電流Ｉに相当する電流相
当値ＥI （∝Ｉ）で除算し、この除算した除算結果（Ｅ
c1′／ＥI ）を測定対象の抵抗素子Ｒ1 の抵抗値として
出力し、表示手段Ｃにて表示する。
流抵抗値）を測定する従来の第１の抵抗値測定方法を図
１１を参照しながら説明する。この抵抗値測定方法は、
図１１に示すように、多連抵抗素子ＲＡの共通端子Ｔc
と複数の抵抗素子Ｒ1 〜Ｒn （ｎは２以上の整数）のう
ちの測定対象の例えば抵抗素子Ｒ1 の個別端子Ｔ1 との
間に電流発生手段Ｄにより測定電流Ｉを流し、共通端子
Ｔc と測定対象の抵抗素子Ｒ1 の個別端子Ｔ1 との間に
現れる端子間電圧Ｅc1を差動増幅器からなる測定手段Ａ
で測定し、測定手段Ａによる端子間電圧Ｅc1の測定値Ｅ
c1′を演算手段Ｂにおいて測定電流Ｉに相当する電流相
当値ＥI （∝Ｉ）で除算し、この除算した除算結果（Ｅ
c1′／ＥI ）を測定対象の抵抗素子Ｒ1 の抵抗値として
出力し、表示手段Ｃにて表示する。
【０００３】上記の抵抗値測定方法を実施する抵抗値測
定装置は、図１１に示すように、多連抵抗素子ＲＡの共
通端子Ｔc と抵抗素子Ｒ1 の個別端子Ｔ1 とに電流発生
手段Ｄの両端子を接続し、共通端子Ｔc から共通電路ｒ
→共通接続点Ｐ→抵抗素子Ｒ 1 →個別端子Ｔ1 の経路で
測定電流Ｉを流すようにしている。また、多連抵抗素子
ＲＡの共通端子Ｔc を測定手段Ａである差動増幅器（例
えば、アナログデバイセス社製のＡＤ６２０）の非反転
入力端子に接続し、抵抗素子Ｒ1 の個別端子Ｔ 1 を同差
動増幅器の反転入力端子に接続して、共通端子Ｔc およ
び個別端子Ｔ1間に生じる端子間電圧Ｅc1を測定手段
Ａ、つまり差動増幅器に入力している。そして、差動増
幅器の出力電圧、つまり測定手段Ａによる測定値Ｅc1′
を演算手段Ｂに入力している。
定装置は、図１１に示すように、多連抵抗素子ＲＡの共
通端子Ｔc と抵抗素子Ｒ1 の個別端子Ｔ1 とに電流発生
手段Ｄの両端子を接続し、共通端子Ｔc から共通電路ｒ
→共通接続点Ｐ→抵抗素子Ｒ 1 →個別端子Ｔ1 の経路で
測定電流Ｉを流すようにしている。また、多連抵抗素子
ＲＡの共通端子Ｔc を測定手段Ａである差動増幅器（例
えば、アナログデバイセス社製のＡＤ６２０）の非反転
入力端子に接続し、抵抗素子Ｒ1 の個別端子Ｔ 1 を同差
動増幅器の反転入力端子に接続して、共通端子Ｔc およ
び個別端子Ｔ1間に生じる端子間電圧Ｅc1を測定手段
Ａ、つまり差動増幅器に入力している。そして、差動増
幅器の出力電圧、つまり測定手段Ａによる測定値Ｅc1′
を演算手段Ｂに入力している。
【０００４】演算手段Ｂでは、測定手段Ａによる端子間
電圧Ｅc1の測定値Ｅc1′を測定電流Ｉに相当する電流相
当値ＥI で除算し、端子間電圧Ｅc1の測定値Ｅc1′の電
流相当値ＥI による除算結果（Ｅc1′／ＥI ）を測定対
象の抵抗素子Ｒ1 の抵抗値として出力し、表示手段Ｃは
演算手段Ｂから出力される抵抗素子Ｒ1 の抵抗値を表示
する。
電圧Ｅc1の測定値Ｅc1′を測定電流Ｉに相当する電流相
当値ＥI で除算し、端子間電圧Ｅc1の測定値Ｅc1′の電
流相当値ＥI による除算結果（Ｅc1′／ＥI ）を測定対
象の抵抗素子Ｒ1 の抵抗値として出力し、表示手段Ｃは
演算手段Ｂから出力される抵抗素子Ｒ1 の抵抗値を表示
する。
【０００５】なお、抵抗素子Ｒn の抵抗値を測定する場
合には、電流発生手段Ｄの一端および差動増幅器の反転
入力端子を抵抗素子Ｒn の個別端子Ｔn に接続し替えれ
ばよい。抵抗素子Ｒ2 〜Ｒn-1 の抵抗値の測定の場合に
も同様である。つぎに、多連抵抗素子の各抵抗素子の抵
抗値（直流抵抗値）を測定する従来の第２の抵抗値測定
方法を図１２を参照しながら説明する。この抵抗値測定
方法は、図１２に示すように、多連抵抗素子ＲＡの共通
端子Ｔc と複数の抵抗素子Ｒ1〜Ｒn （ｎは２以上の整
数）のうちの測定対象の例えば抵抗素子Ｒ1 の個別端子
Ｔ1 との間に電流発生手段ＤＲにより規定測定電流ＩR
を流し、共通端子Ｔc と測定対象の抵抗素子Ｒ1 の個別
端子Ｔ1 との間に現れる端子間電圧Ｅc1を差動増幅器か
らなる測定手段Ａで測定し、測定手段Ａによる端子間電
圧Ｅc1の測定値Ｅ c1′を演算手段ＢＲに加え、演算手段
ＢＲから測定対象の抵抗素子Ｒ1 の抵抗値として出力
し、表示手段Ｃにて表示する。
合には、電流発生手段Ｄの一端および差動増幅器の反転
入力端子を抵抗素子Ｒn の個別端子Ｔn に接続し替えれ
ばよい。抵抗素子Ｒ2 〜Ｒn-1 の抵抗値の測定の場合に
も同様である。つぎに、多連抵抗素子の各抵抗素子の抵
抗値（直流抵抗値）を測定する従来の第２の抵抗値測定
方法を図１２を参照しながら説明する。この抵抗値測定
方法は、図１２に示すように、多連抵抗素子ＲＡの共通
端子Ｔc と複数の抵抗素子Ｒ1〜Ｒn （ｎは２以上の整
数）のうちの測定対象の例えば抵抗素子Ｒ1 の個別端子
Ｔ1 との間に電流発生手段ＤＲにより規定測定電流ＩR
を流し、共通端子Ｔc と測定対象の抵抗素子Ｒ1 の個別
端子Ｔ1 との間に現れる端子間電圧Ｅc1を差動増幅器か
らなる測定手段Ａで測定し、測定手段Ａによる端子間電
圧Ｅc1の測定値Ｅ c1′を演算手段ＢＲに加え、演算手段
ＢＲから測定対象の抵抗素子Ｒ1 の抵抗値として出力
し、表示手段Ｃにて表示する。
【０００６】上記の抵抗値測定方法を実施する抵抗値測
定装置は、図１２に示すように、多連抵抗素子ＲＡの共
通端子Ｔc と抵抗素子Ｒ1 の個別端子Ｔ1 とに電流発生
手段ＤＲの両端子を接続し、共通端子Ｔc から共通電路
ｒ→共通接続点Ｐ→抵抗素子Ｒ1 →個別端子Ｔ1 の経路
で規定測定電流ＩR を流すようにしている。また、多連
抵抗素子ＲＡの共通端子Ｔc を測定手段Ａである差動増
幅器（例えば、アナログデバイセス社製のＡＤ６２０）
の非反転入力端子に接続し、抵抗素子Ｒ1 の個別端子Ｔ
1 を同差動増幅器の反転入力端子に接続して、共通端子
Ｔc および個別端子Ｔ1 間に生じる端子間電圧Ｅc1を測
定手段Ａ、つまり差動増幅器に入力している。そして、
差動増幅器の出力電圧、つまり測定手段Ａによる測定値
Ｅc1′を演算手段ＢＲに入力している。
定装置は、図１２に示すように、多連抵抗素子ＲＡの共
通端子Ｔc と抵抗素子Ｒ1 の個別端子Ｔ1 とに電流発生
手段ＤＲの両端子を接続し、共通端子Ｔc から共通電路
ｒ→共通接続点Ｐ→抵抗素子Ｒ1 →個別端子Ｔ1 の経路
で規定測定電流ＩR を流すようにしている。また、多連
抵抗素子ＲＡの共通端子Ｔc を測定手段Ａである差動増
幅器（例えば、アナログデバイセス社製のＡＤ６２０）
の非反転入力端子に接続し、抵抗素子Ｒ1 の個別端子Ｔ
1 を同差動増幅器の反転入力端子に接続して、共通端子
Ｔc および個別端子Ｔ1 間に生じる端子間電圧Ｅc1を測
定手段Ａ、つまり差動増幅器に入力している。そして、
差動増幅器の出力電圧、つまり測定手段Ａによる測定値
Ｅc1′を演算手段ＢＲに入力している。
【０００７】演算手段ＢＲでは、測定手段Ａによる端子
間電圧Ｅc1の測定値Ｅc1′を測定対象の抵抗素子Ｒ1 の
抵抗値として出力し、表示手段Ｃは演算手段ＢＲから出
力される抵抗素子Ｒ1 の抵抗値を表示する。上記のよう
に電流相当値ＥI で除算することを不要とできるのは、
抵抗素子Ｒ 1 に流れる測定電流値が既知で不変であり、
その値を係数として演算手段ＢＲの内部に設定しておく
ことが可能であるからである。
間電圧Ｅc1の測定値Ｅc1′を測定対象の抵抗素子Ｒ1 の
抵抗値として出力し、表示手段Ｃは演算手段ＢＲから出
力される抵抗素子Ｒ1 の抵抗値を表示する。上記のよう
に電流相当値ＥI で除算することを不要とできるのは、
抵抗素子Ｒ 1 に流れる測定電流値が既知で不変であり、
その値を係数として演算手段ＢＲの内部に設定しておく
ことが可能であるからである。
【０００８】なお、抵抗素子Ｒn の抵抗値を測定する場
合には、電流発生手段Ｄの一端および差動増幅器の反転
入力端子を抵抗素子Ｒn の個別端子Ｔn に接続し替えれ
ばよい。抵抗素子Ｒ2 〜Ｒn-1 の抵抗値の測定の場合に
も同様である。
合には、電流発生手段Ｄの一端および差動増幅器の反転
入力端子を抵抗素子Ｒn の個別端子Ｔn に接続し替えれ
ばよい。抵抗素子Ｒ2 〜Ｒn-1 の抵抗値の測定の場合に
も同様である。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】上述の従来例では、例
えば抵抗素子Ｒ1 の抵抗値を測定するのに、多連抵抗素
子ＲＡの共通端子Ｔc から抵抗素子Ｒ1 の個別端子Ｔ1
の方向に測定電流Ｉもしくは規定測定電流ＩR を流し、
共通端子Ｔc および個別端子Ｔ1 間に現れる端子間電圧
Ｅc1を測定し、その測定値Ｅc1′を電流相当値ＥI で除
算した除算結果を抵抗素子Ｒ1 の抵抗値とするか、もし
くは測定値Ｅc1′を電流相当値ＥI で除算せずに、抵抗
素子Ｒ1 の抵抗値とする構成であった。
えば抵抗素子Ｒ1 の抵抗値を測定するのに、多連抵抗素
子ＲＡの共通端子Ｔc から抵抗素子Ｒ1 の個別端子Ｔ1
の方向に測定電流Ｉもしくは規定測定電流ＩR を流し、
共通端子Ｔc および個別端子Ｔ1 間に現れる端子間電圧
Ｅc1を測定し、その測定値Ｅc1′を電流相当値ＥI で除
算した除算結果を抵抗素子Ｒ1 の抵抗値とするか、もし
くは測定値Ｅc1′を電流相当値ＥI で除算せずに、抵抗
素子Ｒ1 の抵抗値とする構成であった。
【００１０】しかしながら、上記のようにして、抵抗素
子Ｒ1 の抵抗値を測定すると、抵抗素子Ｒ1 の本来の抵
抗値に多連抵抗素子ＲＡの共通端子Ｔc と抵抗素子Ｒ1
〜Ｒ n の共通接続点Ｐの間の共通電路ｒの抵抗の抵抗値
を加えたもの（Ｒ1 ＋ｒ）の抵抗値しか測定できず、抵
抗素子Ｒ1 〜Ｒn の各々の抵抗値、および共通電路ｒの
抵抗の抵抗値を正確に測定することができなかった。
子Ｒ1 の抵抗値を測定すると、抵抗素子Ｒ1 の本来の抵
抗値に多連抵抗素子ＲＡの共通端子Ｔc と抵抗素子Ｒ1
〜Ｒ n の共通接続点Ｐの間の共通電路ｒの抵抗の抵抗値
を加えたもの（Ｒ1 ＋ｒ）の抵抗値しか測定できず、抵
抗素子Ｒ1 〜Ｒn の各々の抵抗値、および共通電路ｒの
抵抗の抵抗値を正確に測定することができなかった。
【００１１】なお、共通電路ｒの抵抗値は例えば数十ｍ
Ω程度のごく小さいものであるが、多連抵抗素子を構成
する抵抗素子の抵抗値が例えば数Ω程度である場合に
は、共通電路ｒの抵抗値は１パーセント程度の大きな誤
差になって現れるので、このような誤差を含まず抵抗素
子の抵抗値を正確に測定することが望まれていた。ま
た、共通電路自体の抵抗値も測定することが望まれてい
た。
Ω程度のごく小さいものであるが、多連抵抗素子を構成
する抵抗素子の抵抗値が例えば数Ω程度である場合に
は、共通電路ｒの抵抗値は１パーセント程度の大きな誤
差になって現れるので、このような誤差を含まず抵抗素
子の抵抗値を正確に測定することが望まれていた。ま
た、共通電路自体の抵抗値も測定することが望まれてい
た。
【００１２】したがって、この発明の目的は、多連抵抗
素子を構成する各抵抗素子の共通接続点と共通端子との
間の共通電路の抵抗値の影響を受けずに、多連抵抗素子
を構成する各抵抗素子の抵抗値を測定することができる
抵抗値測定方法および抵抗値測定装置を提供することで
ある。したがって、この発明の他の目的は、多連抵抗素
子を構成する各抵抗素子の共通接続点と共通端子との間
の共通電路の抵抗値の影響を受けずに、多連抵抗素子を
構成する各抵抗素子の抵抗値を測定することができると
ともに、多連抵抗素子を構成する各抵抗素子の共通接続
点と共通端子との間の共通電路の抵抗値を測定すること
ができる抵抗値測定方法および抵抗値測定装置を提供す
ることである。
素子を構成する各抵抗素子の共通接続点と共通端子との
間の共通電路の抵抗値の影響を受けずに、多連抵抗素子
を構成する各抵抗素子の抵抗値を測定することができる
抵抗値測定方法および抵抗値測定装置を提供することで
ある。したがって、この発明の他の目的は、多連抵抗素
子を構成する各抵抗素子の共通接続点と共通端子との間
の共通電路の抵抗値の影響を受けずに、多連抵抗素子を
構成する各抵抗素子の抵抗値を測定することができると
ともに、多連抵抗素子を構成する各抵抗素子の共通接続
点と共通端子との間の共通電路の抵抗値を測定すること
ができる抵抗値測定方法および抵抗値測定装置を提供す
ることである。
【００１３】この発明のさらに他の目的は、抵抗素子の
抵抗値の影響を受けずに、多連抵抗素子を構成する各抵
抗素子の共通接続点と共通端子との間の共通電路の抵抗
値を測定することができる抵抗値測定方法および抵抗値
測定装置を提供することである。
抵抗値の影響を受けずに、多連抵抗素子を構成する各抵
抗素子の共通接続点と共通端子との間の共通電路の抵抗
値を測定することができる抵抗値測定方法および抵抗値
測定装置を提供することである。
【００１４】
【課題を解決するための手段】請求項１記載の抵抗値測
定方法は、一端を共通接続した複数の抵抗素子からなる
多連抵抗素子の各抵抗素子の抵抗値を測定する抵抗値測
定方法であり、多連抵抗素子の共通端子と複数の抵抗素
子のうちの測定対象の抵抗素子の個別端子との間に測定
電流を流し、測定対象の抵抗素子の個別端子と複数の抵
抗素子のうちの測定対象以外の他の抵抗素子の個別端子
との間に現れる端子間電圧を測定し、端子間電圧の測定
値を測定電流に相当する電流相当値で除算し、この除算
した除算結果を測定対象の抵抗素子の抵抗値として出力
することを特徴とする。
定方法は、一端を共通接続した複数の抵抗素子からなる
多連抵抗素子の各抵抗素子の抵抗値を測定する抵抗値測
定方法であり、多連抵抗素子の共通端子と複数の抵抗素
子のうちの測定対象の抵抗素子の個別端子との間に測定
電流を流し、測定対象の抵抗素子の個別端子と複数の抵
抗素子のうちの測定対象以外の他の抵抗素子の個別端子
との間に現れる端子間電圧を測定し、端子間電圧の測定
値を測定電流に相当する電流相当値で除算し、この除算
した除算結果を測定対象の抵抗素子の抵抗値として出力
することを特徴とする。
【００１５】この方法によれば、複数の抵抗素子のうち
の測定対象の抵抗素子の両端の電圧降下を複数の抵抗素
子のうちの測定対象以外の他の抵抗素子を通して測定す
るので、共通電路の抵抗の影響を受けずに測定対象の抵
抗素子の抵抗値を測定することができる。また、端子間
電圧を測定する測定手段として、測定対象以外の他の抵
抗素子の抵抗値に比べて入力インピーダンスが十分に高
いものを用いることにより、測定対象以外の他の抵抗素
子による誤差は無視できるものとなり、測定対象の抵抗
素子の抵抗値を共通電路の抵抗の影響を受けずに正確に
測定することができる。
の測定対象の抵抗素子の両端の電圧降下を複数の抵抗素
子のうちの測定対象以外の他の抵抗素子を通して測定す
るので、共通電路の抵抗の影響を受けずに測定対象の抵
抗素子の抵抗値を測定することができる。また、端子間
電圧を測定する測定手段として、測定対象以外の他の抵
抗素子の抵抗値に比べて入力インピーダンスが十分に高
いものを用いることにより、測定対象以外の他の抵抗素
子による誤差は無視できるものとなり、測定対象の抵抗
素子の抵抗値を共通電路の抵抗の影響を受けずに正確に
測定することができる。
【００１６】請求項２記載の抵抗値測定方法は、一端を
共通接続した複数の抵抗素子からなる多連抵抗素子の各
抵抗素子の抵抗値を測定する抵抗値測定方法であり、多
連抵抗素子の共通端子と複数の抵抗素子のうちの測定対
象の抵抗素子の個別端子との間に規定測定電流を流し、
測定対象の抵抗素子の個別端子と複数の抵抗素子のうち
の測定対象以外の他の抵抗素子の個別端子との間に現れ
る端子間電圧を測定し、端子間電圧の測定値を測定対象
の抵抗素子の抵抗値として出力することを特徴とする。
共通接続した複数の抵抗素子からなる多連抵抗素子の各
抵抗素子の抵抗値を測定する抵抗値測定方法であり、多
連抵抗素子の共通端子と複数の抵抗素子のうちの測定対
象の抵抗素子の個別端子との間に規定測定電流を流し、
測定対象の抵抗素子の個別端子と複数の抵抗素子のうち
の測定対象以外の他の抵抗素子の個別端子との間に現れ
る端子間電圧を測定し、端子間電圧の測定値を測定対象
の抵抗素子の抵抗値として出力することを特徴とする。
【００１７】この方法によれば、請求項１と同様に作用
し、しかも、測定電流に相当する電流相当値で除算する
必要はないので、抵抗素子の抵抗値を簡単な演算で求め
ることができる。請求項３記載の抵抗値測定方法は、一
端を共通接続した複数の抵抗素子からなる多連抵抗素子
の各抵抗素子の抵抗値および共通電路の抵抗値を測定す
る抵抗値測定方法であり、多連抵抗素子の共通端子と複
数の抵抗素子のうちの測定対象の抵抗素子の個別端子と
の間に測定電流を流し、測定対象の抵抗素子の個別端子
と複数の抵抗素子のうちの測定対象以外の他の抵抗素子
の個別端子との間に現れる第１の端子間電圧を測定する
とともに、多連抵抗素子の共通端子と測定対象の抵抗素
子の個別端子との間に現れる第２の端子間電圧を測定
し、第１の端子間電圧の測定値を測定電流に相当する電
流相当値で除算し、この除算した第１の除算結果を測定
対象の抵抗素子の抵抗値として出力するとともに、第２
の端子間電圧の測定値を電流相当値で除算し、この除算
した第２の除算結果から第１の除算結果を減算し、この
減算した減算結果を共通電路の抵抗値として出力するこ
とを特徴とする。
し、しかも、測定電流に相当する電流相当値で除算する
必要はないので、抵抗素子の抵抗値を簡単な演算で求め
ることができる。請求項３記載の抵抗値測定方法は、一
端を共通接続した複数の抵抗素子からなる多連抵抗素子
の各抵抗素子の抵抗値および共通電路の抵抗値を測定す
る抵抗値測定方法であり、多連抵抗素子の共通端子と複
数の抵抗素子のうちの測定対象の抵抗素子の個別端子と
の間に測定電流を流し、測定対象の抵抗素子の個別端子
と複数の抵抗素子のうちの測定対象以外の他の抵抗素子
の個別端子との間に現れる第１の端子間電圧を測定する
とともに、多連抵抗素子の共通端子と測定対象の抵抗素
子の個別端子との間に現れる第２の端子間電圧を測定
し、第１の端子間電圧の測定値を測定電流に相当する電
流相当値で除算し、この除算した第１の除算結果を測定
対象の抵抗素子の抵抗値として出力するとともに、第２
の端子間電圧の測定値を電流相当値で除算し、この除算
した第２の除算結果から第１の除算結果を減算し、この
減算した減算結果を共通電路の抵抗値として出力するこ
とを特徴とする。
【００１８】この方法によれば、複数の抵抗素子のうち
の測定対象の抵抗素子の両端の電圧降下を複数の抵抗素
子のうちの測定対象以外の他の抵抗素子を通して測定す
るので、共通電路の抵抗の影響を受けずに測定対象の抵
抗素子の抵抗値を測定することができる。また、端子間
電圧を測定する測定手段として、測定対象以外の他の抵
抗素子の抵抗値に比べて入力インピーダンスが十分に高
いものを用いることにより、測定対象以外の他の抵抗素
子による誤差は無視できるものとなり、測定対象の抵抗
素子の抵抗値を共通電路の抵抗の影響を受けずに正確に
測定することができる。さらに、測定対象の抵抗素子の
抵抗値と共通電路の抵抗値とが加算されたものを従来例
と同様にして求め、そして、この求めた抵抗値から測定
対象の抵抗素子の抵抗値を減じることにより、共通電路
の抵抗値を測定することができる。
の測定対象の抵抗素子の両端の電圧降下を複数の抵抗素
子のうちの測定対象以外の他の抵抗素子を通して測定す
るので、共通電路の抵抗の影響を受けずに測定対象の抵
抗素子の抵抗値を測定することができる。また、端子間
電圧を測定する測定手段として、測定対象以外の他の抵
抗素子の抵抗値に比べて入力インピーダンスが十分に高
いものを用いることにより、測定対象以外の他の抵抗素
子による誤差は無視できるものとなり、測定対象の抵抗
素子の抵抗値を共通電路の抵抗の影響を受けずに正確に
測定することができる。さらに、測定対象の抵抗素子の
抵抗値と共通電路の抵抗値とが加算されたものを従来例
と同様にして求め、そして、この求めた抵抗値から測定
対象の抵抗素子の抵抗値を減じることにより、共通電路
の抵抗値を測定することができる。
【００１９】請求項４記載の抵抗値測定方法は、一端を
共通接続した複数の抵抗素子からなる多連抵抗素子の各
抵抗素子の抵抗値および共通電路の抵抗値を測定する抵
抗値測定方法であり、多連抵抗素子の共通端子と複数の
抵抗素子のうちの測定対象の抵抗素子の個別端子との間
に規定測定電流を流し、測定対象の抵抗素子の個別端子
と複数の抵抗素子のうちの測定対象以外の他の抵抗素子
の個別端子との間に現れる第１の端子間電圧を測定する
とともに、多連抵抗素子の共通端子と測定対象の抵抗素
子の個別端子との間に現れる第２の端子間電圧を測定
し、第１の端子間電圧の測定値を測定対象の抵抗素子の
抵抗値として出力し、第２の端子間電圧の測定値から第
１の端子間電圧の測定値を減算し、この減算した減算結
果を共通電路の抵抗値として出力することを特徴とす
る。
共通接続した複数の抵抗素子からなる多連抵抗素子の各
抵抗素子の抵抗値および共通電路の抵抗値を測定する抵
抗値測定方法であり、多連抵抗素子の共通端子と複数の
抵抗素子のうちの測定対象の抵抗素子の個別端子との間
に規定測定電流を流し、測定対象の抵抗素子の個別端子
と複数の抵抗素子のうちの測定対象以外の他の抵抗素子
の個別端子との間に現れる第１の端子間電圧を測定する
とともに、多連抵抗素子の共通端子と測定対象の抵抗素
子の個別端子との間に現れる第２の端子間電圧を測定
し、第１の端子間電圧の測定値を測定対象の抵抗素子の
抵抗値として出力し、第２の端子間電圧の測定値から第
１の端子間電圧の測定値を減算し、この減算した減算結
果を共通電路の抵抗値として出力することを特徴とす
る。
【００２０】この方法によれば、請求項３と同様に作用
し、しかも、測定電流に相当する電流相当値で除算する
必要はないので、抵抗素子の抵抗値を簡単な演算で求め
ることができる。請求項５記載の抵抗値測定方法は、一
端を共通接続した複数の抵抗素子からなる多連抵抗素子
の共通電路の抵抗値を測定する抵抗値測定方法であり、
多連抵抗素子の共通端子と複数の抵抗素子のうちの何れ
かの一つの抵抗素子の個別端子との間に測定電流を流
し、多連抵抗素子の共通端子と複数の抵抗素子のうちの
残りの抵抗素子の個別端子との間に現れる端子間電圧を
測定し、端子間電圧の測定値を測定電流に相当する電流
相当値で除算し、この除算した除算結果を共通電路の抵
抗値として出力することを特徴とする。
し、しかも、測定電流に相当する電流相当値で除算する
必要はないので、抵抗素子の抵抗値を簡単な演算で求め
ることができる。請求項５記載の抵抗値測定方法は、一
端を共通接続した複数の抵抗素子からなる多連抵抗素子
の共通電路の抵抗値を測定する抵抗値測定方法であり、
多連抵抗素子の共通端子と複数の抵抗素子のうちの何れ
かの一つの抵抗素子の個別端子との間に測定電流を流
し、多連抵抗素子の共通端子と複数の抵抗素子のうちの
残りの抵抗素子の個別端子との間に現れる端子間電圧を
測定し、端子間電圧の測定値を測定電流に相当する電流
相当値で除算し、この除算した除算結果を共通電路の抵
抗値として出力することを特徴とする。
【００２１】この方法によれば、共通電路の電圧降下を
複数の抵抗素子のうちの他の抵抗素子を通して測定する
ので、複数の抵抗素子のうちの何れかの一つの抵抗素子
の影響を受けずに共通電路の抵抗値を測定することがで
きる。また、端子間電圧を測定する測定手段として、他
の抵抗素子の抵抗値に比べて入力インピーダンスが十分
に高いものを用いることにより、他の抵抗素子による誤
差は無視できるものとなり、共通電路の抵抗値を複数の
抵抗素子のうちの何れかの一つの抵抗素子の抵抗値の影
響を受けずに正確に測定することができる。
複数の抵抗素子のうちの他の抵抗素子を通して測定する
ので、複数の抵抗素子のうちの何れかの一つの抵抗素子
の影響を受けずに共通電路の抵抗値を測定することがで
きる。また、端子間電圧を測定する測定手段として、他
の抵抗素子の抵抗値に比べて入力インピーダンスが十分
に高いものを用いることにより、他の抵抗素子による誤
差は無視できるものとなり、共通電路の抵抗値を複数の
抵抗素子のうちの何れかの一つの抵抗素子の抵抗値の影
響を受けずに正確に測定することができる。
【００２２】請求項６記載の抵抗値測定方法は、一端を
共通接続した複数の抵抗素子からなる多連抵抗素子の共
通電路の抵抗値を測定する抵抗値測定方法であり、多連
抵抗素子の共通端子と複数の抵抗素子のうちの何れかの
一つの抵抗素子の個別端子との間に測定電流を流し、多
連抵抗素子の共通端子と複数の抵抗素子のうちの残りの
抵抗素子の個別端子との間に現れる端子間電圧を測定
し、端子間電圧の測定値を共通電路の抵抗値として出力
することを特徴とする。
共通接続した複数の抵抗素子からなる多連抵抗素子の共
通電路の抵抗値を測定する抵抗値測定方法であり、多連
抵抗素子の共通端子と複数の抵抗素子のうちの何れかの
一つの抵抗素子の個別端子との間に測定電流を流し、多
連抵抗素子の共通端子と複数の抵抗素子のうちの残りの
抵抗素子の個別端子との間に現れる端子間電圧を測定
し、端子間電圧の測定値を共通電路の抵抗値として出力
することを特徴とする。
【００２３】この方法によれば、請求項５と同様に作用
し、しかも、測定電流に相当する電流相当値で除算する
必要はないので、抵抗素子の抵抗値を簡単な演算で求め
ることができる。請求項７記載の抵抗値測定方法は、一
端を共通接続した複数の抵抗素子からなる多連抵抗素子
の各抵抗素子の抵抗値および共通電路の抵抗値を測定す
る抵抗値測定方法であり、多連抵抗素子の共通端子と複
数の抵抗素子のうちの第１の測定対象の抵抗素子の個別
端子との間に測定電流を流して、多連抵抗素子の共通端
子と第１の測定対象の抵抗素子の個別端子との間に現れ
る第１の端子間電圧を測定し、多連抵抗素子の共通端子
と複数の抵抗素子のうちの第２の測定対象の抵抗素子の
個別端子との間に測定電流を流して、多連抵抗素子の共
通端子と第２の測定対象の抵抗素子の個別端子との間に
現れる第２の端子間電圧を測定し、複数の抵抗素子のう
ちの第１の測定対象の抵抗素子の個別端子と複数の抵抗
素子のうちの第２の測定対象の抵抗素子の個別端子との
間に測定電流を流して、第１の測定対象の抵抗素子の個
別端子と第２の測定対象の抵抗素子の個別端子との間に
現れる第３の端子間電圧を測定し、第１，第２および第
３の端子間電圧の測定値を測定電流に相当する電流相当
値でそれぞれ除算して、多連抵抗素子の共通端子と第１
の測定対象の抵抗素子の個別端子との間の第１の抵抗
値，多連抵抗素子の共通端子と第２の測定対象の抵抗素
子の個別端子との間の第２の抵抗値および第１の測定対
象の抵抗素子の個別端子と第２の測定対象の抵抗素子の
個別端子との間の第３の抵抗値をそれぞれ求め、第１の
抵抗値が第１の測定対象の抵抗素子の抵抗値と共通電路
の抵抗値の直列合成抵抗値であり、第２の抵抗値が第２
の測定対象の抵抗素子の抵抗値と共通電路の抵抗値の直
列合成抵抗値であり、第３の抵抗値が第１の測定対象の
抵抗素子の抵抗値と第２の測定対象の抵抗素子の抵抗値
の直列合成抵抗値であるという関係式と、第１，第２お
よび第３の抵抗値とから、第１および第２の測定対象の
抵抗素子の抵抗値および共通電路の抵抗値を算出して出
力することを特徴とする。
し、しかも、測定電流に相当する電流相当値で除算する
必要はないので、抵抗素子の抵抗値を簡単な演算で求め
ることができる。請求項７記載の抵抗値測定方法は、一
端を共通接続した複数の抵抗素子からなる多連抵抗素子
の各抵抗素子の抵抗値および共通電路の抵抗値を測定す
る抵抗値測定方法であり、多連抵抗素子の共通端子と複
数の抵抗素子のうちの第１の測定対象の抵抗素子の個別
端子との間に測定電流を流して、多連抵抗素子の共通端
子と第１の測定対象の抵抗素子の個別端子との間に現れ
る第１の端子間電圧を測定し、多連抵抗素子の共通端子
と複数の抵抗素子のうちの第２の測定対象の抵抗素子の
個別端子との間に測定電流を流して、多連抵抗素子の共
通端子と第２の測定対象の抵抗素子の個別端子との間に
現れる第２の端子間電圧を測定し、複数の抵抗素子のう
ちの第１の測定対象の抵抗素子の個別端子と複数の抵抗
素子のうちの第２の測定対象の抵抗素子の個別端子との
間に測定電流を流して、第１の測定対象の抵抗素子の個
別端子と第２の測定対象の抵抗素子の個別端子との間に
現れる第３の端子間電圧を測定し、第１，第２および第
３の端子間電圧の測定値を測定電流に相当する電流相当
値でそれぞれ除算して、多連抵抗素子の共通端子と第１
の測定対象の抵抗素子の個別端子との間の第１の抵抗
値，多連抵抗素子の共通端子と第２の測定対象の抵抗素
子の個別端子との間の第２の抵抗値および第１の測定対
象の抵抗素子の個別端子と第２の測定対象の抵抗素子の
個別端子との間の第３の抵抗値をそれぞれ求め、第１の
抵抗値が第１の測定対象の抵抗素子の抵抗値と共通電路
の抵抗値の直列合成抵抗値であり、第２の抵抗値が第２
の測定対象の抵抗素子の抵抗値と共通電路の抵抗値の直
列合成抵抗値であり、第３の抵抗値が第１の測定対象の
抵抗素子の抵抗値と第２の測定対象の抵抗素子の抵抗値
の直列合成抵抗値であるという関係式と、第１，第２お
よび第３の抵抗値とから、第１および第２の測定対象の
抵抗素子の抵抗値および共通電路の抵抗値を算出して出
力することを特徴とする。
【００２４】この方法によれば、多連抵抗素子の共通端
子と複数の抵抗素子の個別端子のうちの２つの端子間に
測定電流を流し、それら２つの端子間に生じる端子間電
圧を測定し、この測定処理を端子の組み合わせを異なら
せて実行して複数の端子間電圧を求め、端子間電圧を電
流相当値でそれぞれ除算して各端子間の抵抗値を求め、
求めた各端子間の抵抗値と、各端子間の抵抗値と共通電
路の抵抗および複数の抵抗素子との関係式に基づいて演
算するので、多連抵抗素子を構成する各抵抗素子の共通
接続点と共通端子との間の共通電路の抵抗値の影響を受
けずに、多連抵抗素子を構成する各抵抗素子の抵抗値を
測定することができ、また各抵抗素子の共通接続点と共
通端子との間の共通電路の抵抗値を測定することができ
る。請求項８記載の抵抗値測定方法は、一端を共通接続
した複数の抵抗素子からなる多連抵抗素子の各抵抗素子
の抵抗値および共通電路の抵抗値を測定する抵抗値測定
方法であり、多連抵抗素子の共通端子と複数の抵抗素子
のうちの第１の測定対象の抵抗素子の個別端子との間に
規定測定電流を流して、多連抵抗素子の共通端子と第１
の測定対象の抵抗素子の個別端子との間に現れる第１の
端子間電圧を測定し、多連抵抗素子の共通端子と複数の
抵抗素子のうちの第２の測定対象の抵抗素子の個別端子
との間に規定測定電流を流して、多連抵抗素子の共通端
子と第２の測定対象の抵抗素子の個別端子との間に現れ
る第２の端子間電圧を測定し、複数の抵抗素子のうちの
第１の測定対象の抵抗素子の個別端子と複数の抵抗素子
のうちの第２の測定対象の抵抗素子の個別端子との間に
規定測定電流を流して、第１の測定対象の抵抗素子の個
別端子と第２の測定対象の抵抗素子の個別端子との間に
現れる第３の端子間電圧を測定し、第１，第２および第
３の端子間電圧の測定値を、それぞれ多連抵抗素子の共
通端子と第１の測定対象の抵抗素子の個別端子との間の
第１の抵抗値，多連抵抗素子の共通端子と第２の測定対
象の抵抗素子の個別端子との間の第２の抵抗値および第
１の測定対象の抵抗素子の個別端子と第２の測定対象の
抵抗素子の個別端子との間の第３の抵抗値とし、第１の
抵抗値が第１の測定対象の抵抗素子の抵抗値と共通電路
の抵抗値の直列合成抵抗値であり、第２の抵抗値が第２
の測定対象の抵抗素子の抵抗値と共通電路の抵抗値の直
列合成抵抗値であり、第３の抵抗値が第１の測定対象の
抵抗素子の抵抗値と第２の測定対象の抵抗素子のの抵抗
値の直列合成抵抗値であるという関係式と、第１，第２
および第３の抵抗値とから、第１および第２の測定対象
の抵抗素子の抵抗値および共通電路の抵抗値を算出して
出力することを特徴とする。
子と複数の抵抗素子の個別端子のうちの２つの端子間に
測定電流を流し、それら２つの端子間に生じる端子間電
圧を測定し、この測定処理を端子の組み合わせを異なら
せて実行して複数の端子間電圧を求め、端子間電圧を電
流相当値でそれぞれ除算して各端子間の抵抗値を求め、
求めた各端子間の抵抗値と、各端子間の抵抗値と共通電
路の抵抗および複数の抵抗素子との関係式に基づいて演
算するので、多連抵抗素子を構成する各抵抗素子の共通
接続点と共通端子との間の共通電路の抵抗値の影響を受
けずに、多連抵抗素子を構成する各抵抗素子の抵抗値を
測定することができ、また各抵抗素子の共通接続点と共
通端子との間の共通電路の抵抗値を測定することができ
る。請求項８記載の抵抗値測定方法は、一端を共通接続
した複数の抵抗素子からなる多連抵抗素子の各抵抗素子
の抵抗値および共通電路の抵抗値を測定する抵抗値測定
方法であり、多連抵抗素子の共通端子と複数の抵抗素子
のうちの第１の測定対象の抵抗素子の個別端子との間に
規定測定電流を流して、多連抵抗素子の共通端子と第１
の測定対象の抵抗素子の個別端子との間に現れる第１の
端子間電圧を測定し、多連抵抗素子の共通端子と複数の
抵抗素子のうちの第２の測定対象の抵抗素子の個別端子
との間に規定測定電流を流して、多連抵抗素子の共通端
子と第２の測定対象の抵抗素子の個別端子との間に現れ
る第２の端子間電圧を測定し、複数の抵抗素子のうちの
第１の測定対象の抵抗素子の個別端子と複数の抵抗素子
のうちの第２の測定対象の抵抗素子の個別端子との間に
規定測定電流を流して、第１の測定対象の抵抗素子の個
別端子と第２の測定対象の抵抗素子の個別端子との間に
現れる第３の端子間電圧を測定し、第１，第２および第
３の端子間電圧の測定値を、それぞれ多連抵抗素子の共
通端子と第１の測定対象の抵抗素子の個別端子との間の
第１の抵抗値，多連抵抗素子の共通端子と第２の測定対
象の抵抗素子の個別端子との間の第２の抵抗値および第
１の測定対象の抵抗素子の個別端子と第２の測定対象の
抵抗素子の個別端子との間の第３の抵抗値とし、第１の
抵抗値が第１の測定対象の抵抗素子の抵抗値と共通電路
の抵抗値の直列合成抵抗値であり、第２の抵抗値が第２
の測定対象の抵抗素子の抵抗値と共通電路の抵抗値の直
列合成抵抗値であり、第３の抵抗値が第１の測定対象の
抵抗素子の抵抗値と第２の測定対象の抵抗素子のの抵抗
値の直列合成抵抗値であるという関係式と、第１，第２
および第３の抵抗値とから、第１および第２の測定対象
の抵抗素子の抵抗値および共通電路の抵抗値を算出して
出力することを特徴とする。
【００２５】この方法によれば、請求項７と同様に作用
し、しかも、測定電流に相当する電流相当値で除算する
必要はないので、抵抗素子の抵抗値を簡単な演算で求め
ることができる。請求項９記載の抵抗値測定装置は、一
端を共通接続した複数の抵抗素子からなる多連抵抗素子
の各抵抗素子の抵抗値を測定する抵抗値測定装置であ
り、多連抵抗素子の共通端子と複数の抵抗素子のうちの
測定対象の抵抗素子の個別端子との間に測定電流を流す
電流発生手段と、測定対象の抵抗素子の個別端子と複数
の抵抗素子のうちの測定対象以外の他の抵抗素子の個別
端子との間に現れる端子間電圧を測定する測定手段と、
測定手段による端子間電圧の測定値を測定電流に相当す
る電流相当値で除算し、端子間電圧の測定値の電流相当
値による除算結果を測定対象の抵抗素子の抵抗値として
出力する演算手段と、演算手段の出力を表示する表示手
段とを備えている。
し、しかも、測定電流に相当する電流相当値で除算する
必要はないので、抵抗素子の抵抗値を簡単な演算で求め
ることができる。請求項９記載の抵抗値測定装置は、一
端を共通接続した複数の抵抗素子からなる多連抵抗素子
の各抵抗素子の抵抗値を測定する抵抗値測定装置であ
り、多連抵抗素子の共通端子と複数の抵抗素子のうちの
測定対象の抵抗素子の個別端子との間に測定電流を流す
電流発生手段と、測定対象の抵抗素子の個別端子と複数
の抵抗素子のうちの測定対象以外の他の抵抗素子の個別
端子との間に現れる端子間電圧を測定する測定手段と、
測定手段による端子間電圧の測定値を測定電流に相当す
る電流相当値で除算し、端子間電圧の測定値の電流相当
値による除算結果を測定対象の抵抗素子の抵抗値として
出力する演算手段と、演算手段の出力を表示する表示手
段とを備えている。
【００２６】この構成によれば、複数の抵抗素子のうち
の測定対象の抵抗素子の両端の電圧降下を複数の抵抗素
子のうちの測定対象以外の他の抵抗素子を通して測定す
るので、共通電路の抵抗の影響を受けずに測定対象の抵
抗素子の抵抗値を測定することができる。また、端子間
電圧を測定する測定手段として、測定対象以外の他の抵
抗素子の抵抗値に比べて入力インピーダンスが十分に高
いものを用いることにより、測定対象以外の他の抵抗素
子による誤差は無視できるものとなり、測定対象の抵抗
素子の抵抗値を共通電路の抵抗の影響を受けずに正確に
測定することができる。
の測定対象の抵抗素子の両端の電圧降下を複数の抵抗素
子のうちの測定対象以外の他の抵抗素子を通して測定す
るので、共通電路の抵抗の影響を受けずに測定対象の抵
抗素子の抵抗値を測定することができる。また、端子間
電圧を測定する測定手段として、測定対象以外の他の抵
抗素子の抵抗値に比べて入力インピーダンスが十分に高
いものを用いることにより、測定対象以外の他の抵抗素
子による誤差は無視できるものとなり、測定対象の抵抗
素子の抵抗値を共通電路の抵抗の影響を受けずに正確に
測定することができる。
【００２７】請求項１０記載の抵抗値測定装置は、一端
を共通接続した複数の抵抗素子からなる多連抵抗素子の
各抵抗素子の抵抗値を測定する抵抗値測定装置であり、
多連抵抗素子の共通端子と複数の抵抗素子のうちの測定
対象の抵抗素子の個別端子との間に規定測定電流を流す
電流発生手段と、測定対象の抵抗素子の個別端子と複数
の抵抗素子のうちの測定対象以外の他の抵抗素子の個別
端子との間に現れる端子間電圧を測定する測定手段と、
測定手段による端子間電圧の測定値を測定対象の抵抗素
子の抵抗値として出力する演算手段と、この演算手段の
出力を表示する表示手段とを備えている。
を共通接続した複数の抵抗素子からなる多連抵抗素子の
各抵抗素子の抵抗値を測定する抵抗値測定装置であり、
多連抵抗素子の共通端子と複数の抵抗素子のうちの測定
対象の抵抗素子の個別端子との間に規定測定電流を流す
電流発生手段と、測定対象の抵抗素子の個別端子と複数
の抵抗素子のうちの測定対象以外の他の抵抗素子の個別
端子との間に現れる端子間電圧を測定する測定手段と、
測定手段による端子間電圧の測定値を測定対象の抵抗素
子の抵抗値として出力する演算手段と、この演算手段の
出力を表示する表示手段とを備えている。
【００２８】この構成によれば、請求項９と同様に作用
し、しかも、測定電流に相当する電流相当値で除算する
必要はないので、抵抗素子の抵抗値を簡単な演算で求め
ることができる。請求項１１記載の抵抗値測定装置は、
一端を共通接続した複数の抵抗素子からなる多連抵抗素
子の各抵抗素子の抵抗値および共通電路の抵抗値を測定
する抵抗値測定装置であり、多連抵抗素子の共通端子と
複数の抵抗素子のうちの測定対象の抵抗素子の個別端子
との間に測定電流を流す電流発生手段と、測定対象の抵
抗素子の個別端子と複数の抵抗素子のうちの測定対象以
外の他の抵抗素子の個別端子との間に現れる第１の端子
間電圧と多連抵抗素子の共通端子と測定対象の抵抗素子
の個別端子との間に現れる第２の端子間電圧とを選択す
るスイッチ手段と、スイッチ手段を通して入力された第
１および第２の端子間電圧をそれぞれ測定する測定手段
と、測定手段による第１の端子間電圧の測定値を測定電
流に相当する電流相当値で除算し、この除算した第１の
除算結果を測定対象の抵抗素子の抵抗値として出力する
とともに、測定手段による第２の端子間電圧の測定値を
電流相当値で除算し、この除算した第２の除算結果から
第１の除算結果を減算し、この減算した減算結果を共通
電路の抵抗値として出力する演算手段と、演算手段の出
力を表示する表示手段とを備えている。
し、しかも、測定電流に相当する電流相当値で除算する
必要はないので、抵抗素子の抵抗値を簡単な演算で求め
ることができる。請求項１１記載の抵抗値測定装置は、
一端を共通接続した複数の抵抗素子からなる多連抵抗素
子の各抵抗素子の抵抗値および共通電路の抵抗値を測定
する抵抗値測定装置であり、多連抵抗素子の共通端子と
複数の抵抗素子のうちの測定対象の抵抗素子の個別端子
との間に測定電流を流す電流発生手段と、測定対象の抵
抗素子の個別端子と複数の抵抗素子のうちの測定対象以
外の他の抵抗素子の個別端子との間に現れる第１の端子
間電圧と多連抵抗素子の共通端子と測定対象の抵抗素子
の個別端子との間に現れる第２の端子間電圧とを選択す
るスイッチ手段と、スイッチ手段を通して入力された第
１および第２の端子間電圧をそれぞれ測定する測定手段
と、測定手段による第１の端子間電圧の測定値を測定電
流に相当する電流相当値で除算し、この除算した第１の
除算結果を測定対象の抵抗素子の抵抗値として出力する
とともに、測定手段による第２の端子間電圧の測定値を
電流相当値で除算し、この除算した第２の除算結果から
第１の除算結果を減算し、この減算した減算結果を共通
電路の抵抗値として出力する演算手段と、演算手段の出
力を表示する表示手段とを備えている。
【００２９】この構成によれば、複数の抵抗素子のうち
の測定対象の抵抗素子の両端の電圧降下を複数の抵抗素
子のうちの測定対象以外の他の抵抗素子を通して測定す
るので、共通電路の抵抗の影響を受けずに測定対象の抵
抗素子の抵抗値を測定することができる。また、端子間
電圧を測定する測定手段として、測定対象以外の他の抵
抗素子の抵抗値に比べて入力インピーダンスが十分に高
いものを用いることにより、測定対象以外の他の抵抗素
子による誤差は無視できるものとなり、測定対象の抵抗
素子の抵抗値を共通電路の抵抗の影響を受けずに正確に
測定することができる。さらに、測定対象の抵抗素子の
抵抗値と共通電路の抵抗値とが加算されたものを従来例
と同様にして求め、そして、この求めた抵抗値から測定
対象の抵抗素子の抵抗値を減じることにより、共通電路
の抵抗値を測定することができる。
の測定対象の抵抗素子の両端の電圧降下を複数の抵抗素
子のうちの測定対象以外の他の抵抗素子を通して測定す
るので、共通電路の抵抗の影響を受けずに測定対象の抵
抗素子の抵抗値を測定することができる。また、端子間
電圧を測定する測定手段として、測定対象以外の他の抵
抗素子の抵抗値に比べて入力インピーダンスが十分に高
いものを用いることにより、測定対象以外の他の抵抗素
子による誤差は無視できるものとなり、測定対象の抵抗
素子の抵抗値を共通電路の抵抗の影響を受けずに正確に
測定することができる。さらに、測定対象の抵抗素子の
抵抗値と共通電路の抵抗値とが加算されたものを従来例
と同様にして求め、そして、この求めた抵抗値から測定
対象の抵抗素子の抵抗値を減じることにより、共通電路
の抵抗値を測定することができる。
【００３０】請求項１２記載の抵抗値測定装置は、一端
を共通接続した複数の抵抗素子からなる多連抵抗素子の
各抵抗素子の抵抗値および共通電路の抵抗値を測定する
抵抗値測定装置であり、多連抵抗素子の共通端子と複数
の抵抗素子のうちの測定対象の抵抗素子の個別端子との
間に規定測定電流を流す電流発生手段と、測定対象の抵
抗素子の個別端子と複数の抵抗素子のうちの測定対象以
外の他の抵抗素子の個別端子との間に現れる第１の端子
間電圧と多連抵抗素子の共通端子と測定対象の抵抗素子
の個別端子との間に現れる第２の端子間電圧とを選択す
るスイッチ手段と、スイッチ手段を通して入力された第
１および第２の端子間電圧をそれぞれ測定する測定手段
と、測定手段による第１の端子間電圧の測定値を測定対
象の抵抗素子の抵抗値として出力するとともに、第２の
端子間電圧の測定値から第１の端子間電圧の測定値を減
算し、この減算した減算結果を共通電路の抵抗値として
出力する演算手段と、演算手段の出力を表示する表示手
段とを備えている。
を共通接続した複数の抵抗素子からなる多連抵抗素子の
各抵抗素子の抵抗値および共通電路の抵抗値を測定する
抵抗値測定装置であり、多連抵抗素子の共通端子と複数
の抵抗素子のうちの測定対象の抵抗素子の個別端子との
間に規定測定電流を流す電流発生手段と、測定対象の抵
抗素子の個別端子と複数の抵抗素子のうちの測定対象以
外の他の抵抗素子の個別端子との間に現れる第１の端子
間電圧と多連抵抗素子の共通端子と測定対象の抵抗素子
の個別端子との間に現れる第２の端子間電圧とを選択す
るスイッチ手段と、スイッチ手段を通して入力された第
１および第２の端子間電圧をそれぞれ測定する測定手段
と、測定手段による第１の端子間電圧の測定値を測定対
象の抵抗素子の抵抗値として出力するとともに、第２の
端子間電圧の測定値から第１の端子間電圧の測定値を減
算し、この減算した減算結果を共通電路の抵抗値として
出力する演算手段と、演算手段の出力を表示する表示手
段とを備えている。
【００３１】この構成によれば、請求項１１と同様に作
用し、しかも、測定電流に相当する電流相当値で除算す
る必要はないので、抵抗素子の抵抗値を簡単な演算で求
めることができる。請求項１３記載の抵抗値測定装置
は、一端を共通接続した複数の抵抗素子からなる多連抵
抗素子の各抵抗素子の抵抗値および共通電路の抵抗値を
測定する抵抗値測定装置であり、多連抵抗素子の共通端
子と複数の抵抗素子のうちの測定対象の抵抗素子の個別
端子との間に測定電流を流す電流発生手段と、測定対象
の抵抗素子の個別端子と複数の抵抗素子のうちの測定対
象以外の他の抵抗素子の個別端子との間に現れる第１の
端子間電圧を測定する第１の測定手段と、多連抵抗素子
の共通端子と測定対象の抵抗素子の個別端子との間に現
れる第２の端子間電圧を測定する第２の測定手段と、第
１の測定手段による第１の端子間電圧の測定値を測定電
流に相当する電流相当値で除算し、この除算した第１の
除算結果を測定対象の抵抗素子の抵抗値として出力する
とともに、第２の測定手段による第２の端子間電圧の測
定値を電流相当値で除算し、この除算した第２の除算結
果から第１の除算結果を減算し、この減算した減算結果
を共通電路の抵抗値として出力する演算手段と、演算手
段の出力を表示する表示手段とを備えている。
用し、しかも、測定電流に相当する電流相当値で除算す
る必要はないので、抵抗素子の抵抗値を簡単な演算で求
めることができる。請求項１３記載の抵抗値測定装置
は、一端を共通接続した複数の抵抗素子からなる多連抵
抗素子の各抵抗素子の抵抗値および共通電路の抵抗値を
測定する抵抗値測定装置であり、多連抵抗素子の共通端
子と複数の抵抗素子のうちの測定対象の抵抗素子の個別
端子との間に測定電流を流す電流発生手段と、測定対象
の抵抗素子の個別端子と複数の抵抗素子のうちの測定対
象以外の他の抵抗素子の個別端子との間に現れる第１の
端子間電圧を測定する第１の測定手段と、多連抵抗素子
の共通端子と測定対象の抵抗素子の個別端子との間に現
れる第２の端子間電圧を測定する第２の測定手段と、第
１の測定手段による第１の端子間電圧の測定値を測定電
流に相当する電流相当値で除算し、この除算した第１の
除算結果を測定対象の抵抗素子の抵抗値として出力する
とともに、第２の測定手段による第２の端子間電圧の測
定値を電流相当値で除算し、この除算した第２の除算結
果から第１の除算結果を減算し、この減算した減算結果
を共通電路の抵抗値として出力する演算手段と、演算手
段の出力を表示する表示手段とを備えている。
【００３２】この構成によれば、第１および第２の測定
手段を設けているので、スイッチ手段による切り替えは
不要となっている点以外、請求項１１と同様に作用す
る。請求項１４記載の抵抗値測定装置は、一端を共通接
続した複数の抵抗素子からなる多連抵抗素子の各抵抗素
子の抵抗値および共通電路の抵抗値を測定する抵抗値測
定装置であり、多連抵抗素子の共通端子と複数の抵抗素
子のうちの測定対象の抵抗素子の個別端子との間に規定
測定電流を流す電流発生手段と、測定対象の抵抗素子の
個別端子と複数の抵抗素子のうちの測定対象以外の他の
抵抗素子の個別端子との間に現れる第１の端子間電圧を
測定する第１の測定手段と、多連抵抗素子の共通端子と
測定対象の抵抗素子の個別端子との間に現れる第２の端
子間電圧を測定する第２の測定手段と、第１の測定手段
による第１の端子間電圧の測定値を測定対象の抵抗素子
の抵抗値として出力するとともに、第２の測定手段によ
る第２の端子間電圧の測定値から第１の端子間電圧の測
定値を減算し、この減算した減算結果を共通電路の抵抗
値として出力する演算手段と、演算手段の出力を表示す
る表示手段とを備えている。
手段を設けているので、スイッチ手段による切り替えは
不要となっている点以外、請求項１１と同様に作用す
る。請求項１４記載の抵抗値測定装置は、一端を共通接
続した複数の抵抗素子からなる多連抵抗素子の各抵抗素
子の抵抗値および共通電路の抵抗値を測定する抵抗値測
定装置であり、多連抵抗素子の共通端子と複数の抵抗素
子のうちの測定対象の抵抗素子の個別端子との間に規定
測定電流を流す電流発生手段と、測定対象の抵抗素子の
個別端子と複数の抵抗素子のうちの測定対象以外の他の
抵抗素子の個別端子との間に現れる第１の端子間電圧を
測定する第１の測定手段と、多連抵抗素子の共通端子と
測定対象の抵抗素子の個別端子との間に現れる第２の端
子間電圧を測定する第２の測定手段と、第１の測定手段
による第１の端子間電圧の測定値を測定対象の抵抗素子
の抵抗値として出力するとともに、第２の測定手段によ
る第２の端子間電圧の測定値から第１の端子間電圧の測
定値を減算し、この減算した減算結果を共通電路の抵抗
値として出力する演算手段と、演算手段の出力を表示す
る表示手段とを備えている。
【００３３】この構成によれば、第１および第２の測定
手段を設けているので、スイッチ手段による切り替えは
不要となっている点以外、請求項１２と同様に作用す
る。請求項１５記載の抵抗値測定装置は、一端を共通接
続した複数の抵抗素子からなる多連抵抗素子の共通電路
の抵抗値を測定する抵抗値測定装置であり、多連抵抗素
子の共通端子と複数の抵抗素子のうちの何れかの一つの
抵抗素子の個別端子との間に測定電流を流す電流発生手
段と、多連抵抗素子の共通端子と複数の抵抗素子のうち
の残りの抵抗素子の個別端子との間に現れる端子間電圧
を測定する測定手段と、測定手段による端子間電圧の測
定値を測定電流に相当する電流相当値で除算し、この除
算した除算結果を共通電路の抵抗値として出力する演算
手段と、演算手段の出力を表示する表示手段とを備えて
いる。
手段を設けているので、スイッチ手段による切り替えは
不要となっている点以外、請求項１２と同様に作用す
る。請求項１５記載の抵抗値測定装置は、一端を共通接
続した複数の抵抗素子からなる多連抵抗素子の共通電路
の抵抗値を測定する抵抗値測定装置であり、多連抵抗素
子の共通端子と複数の抵抗素子のうちの何れかの一つの
抵抗素子の個別端子との間に測定電流を流す電流発生手
段と、多連抵抗素子の共通端子と複数の抵抗素子のうち
の残りの抵抗素子の個別端子との間に現れる端子間電圧
を測定する測定手段と、測定手段による端子間電圧の測
定値を測定電流に相当する電流相当値で除算し、この除
算した除算結果を共通電路の抵抗値として出力する演算
手段と、演算手段の出力を表示する表示手段とを備えて
いる。
【００３４】この構成によれば、共通電路の電圧降下を
複数の抵抗素子のうちの他の抵抗素子を通して測定する
ので、複数の抵抗素子のうちの何れかの一つの抵抗素子
の影響を受けずに共通電路の抵抗値を測定することがで
きる。また、端子間電圧を測定する測定手段として、他
の抵抗素子の抵抗値に比べて入力インピーダンスが十分
に高いものを用いることにより、他の抵抗素子による誤
差は無視できるものとなり、共通電路の抵抗値を複数の
抵抗素子のうちの何れかの一つの抵抗素子の抵抗値の影
響を受けずに正確に測定することができる。
複数の抵抗素子のうちの他の抵抗素子を通して測定する
ので、複数の抵抗素子のうちの何れかの一つの抵抗素子
の影響を受けずに共通電路の抵抗値を測定することがで
きる。また、端子間電圧を測定する測定手段として、他
の抵抗素子の抵抗値に比べて入力インピーダンスが十分
に高いものを用いることにより、他の抵抗素子による誤
差は無視できるものとなり、共通電路の抵抗値を複数の
抵抗素子のうちの何れかの一つの抵抗素子の抵抗値の影
響を受けずに正確に測定することができる。
【００３５】請求項１６記載の抵抗値測定装置は、一端
を共通接続した複数の抵抗素子からなる多連抵抗素子の
共通電路の抵抗値を測定する抵抗値測定装置であって、
多連抵抗素子の共通端子と複数の抵抗素子のうちの何れ
かの一つの抵抗素子の個別端子との間に測定電流を流す
電流発生手段と、多連抵抗素子の共通端子と複数の抵抗
素子のうちの残りの抵抗素子の個別端子との間に現れる
端子間電圧を測定する測定手段と、測定手段による端子
間電圧の測定値を共通電路の抵抗値として出力する演算
手段と、演算手段の出力を表示する表示手段とを備えて
いる。
を共通接続した複数の抵抗素子からなる多連抵抗素子の
共通電路の抵抗値を測定する抵抗値測定装置であって、
多連抵抗素子の共通端子と複数の抵抗素子のうちの何れ
かの一つの抵抗素子の個別端子との間に測定電流を流す
電流発生手段と、多連抵抗素子の共通端子と複数の抵抗
素子のうちの残りの抵抗素子の個別端子との間に現れる
端子間電圧を測定する測定手段と、測定手段による端子
間電圧の測定値を共通電路の抵抗値として出力する演算
手段と、演算手段の出力を表示する表示手段とを備えて
いる。
【００３６】この構成によれば、請求項１５と同様に作
用し、しかも、測定電流に相当する電流相当値で除算す
る必要はないので、抵抗素子の抵抗値を簡単な演算で求
めることができる。請求項１７記載の抵抗値測定装置
は、一端を共通接続した複数の抵抗素子からなる多連抵
抗素子の各抵抗素子の抵抗値および共通電路の抵抗値を
測定する抵抗値測定装置であって、測定電流を発生する
測定電流発生手段と、入力される電圧を測定する測定手
段と、多連抵抗素子の共通端子と複数の抵抗素子のうち
の第１の測定対象の抵抗素子の個別端子との間に測定電
流を流して、多連抵抗素子の共通端子と第１の測定対象
の抵抗素子の個別端子との間に現れる第１の端子間電圧
を測定手段に供給する第１の状態と、多連抵抗素子の共
通端子と複数の抵抗素子のうちの第２の測定対象の抵抗
素子の個別端子との間に測定電流を流して、多連抵抗素
子の共通端子と第２の測定対象の抵抗素子の個別端子と
の間に現れる第２の端子間電圧を測定手段に供給する第
２の状態と、複数の抵抗素子のうちの第１の測定対象の
抵抗素子の個別端子と複数の抵抗素子のうちの第２の測
定対象の抵抗素子の個別端子との間に測定電流を流し
て、第１の測定対象の抵抗素子の個別端子と第２の測定
対象の抵抗素子の個別端子との間に現れる第３の端子間
電圧を測定手段に供給する第３の状態とを切り替えるス
イッチ手段と、測定手段による第１，第２および第３の
端子間電圧の測定値を測定電流に相当する電流相当値で
それぞれ除算して、多連抵抗素子の共通端子と第１の測
定対象の抵抗素子の個別端子との間の第１の抵抗値，多
連抵抗素子の共通端子と第２の測定対象の抵抗素子の個
別端子との間の第２の抵抗値および第１の測定対象の抵
抗素子の個別端子と第２の測定対象の抵抗素子の個別端
子との間の第３の抵抗値をそれぞれ求め、第１の抵抗値
が第１の測定対象の抵抗素子の抵抗値と共通電路の抵抗
値の直列合成抵抗値であり、第２の抵抗値が第２の測定
対象の抵抗素子の抵抗値と共通電路の抵抗値の直列合成
抵抗値であり、第３の抵抗値が第１の測定対象の抵抗素
子の抵抗値と第２の測定対象の抵抗素子の抵抗値の直列
合成抵抗値であるという関係式と、第１，第２および第
３の抵抗値とから、第１および第２の測定対象の抵抗素
子の抵抗値および共通電路の抵抗値を算出して出力する
演算手段と、この演算手段の出力を表示する表示手段と
を備えている。
用し、しかも、測定電流に相当する電流相当値で除算す
る必要はないので、抵抗素子の抵抗値を簡単な演算で求
めることができる。請求項１７記載の抵抗値測定装置
は、一端を共通接続した複数の抵抗素子からなる多連抵
抗素子の各抵抗素子の抵抗値および共通電路の抵抗値を
測定する抵抗値測定装置であって、測定電流を発生する
測定電流発生手段と、入力される電圧を測定する測定手
段と、多連抵抗素子の共通端子と複数の抵抗素子のうち
の第１の測定対象の抵抗素子の個別端子との間に測定電
流を流して、多連抵抗素子の共通端子と第１の測定対象
の抵抗素子の個別端子との間に現れる第１の端子間電圧
を測定手段に供給する第１の状態と、多連抵抗素子の共
通端子と複数の抵抗素子のうちの第２の測定対象の抵抗
素子の個別端子との間に測定電流を流して、多連抵抗素
子の共通端子と第２の測定対象の抵抗素子の個別端子と
の間に現れる第２の端子間電圧を測定手段に供給する第
２の状態と、複数の抵抗素子のうちの第１の測定対象の
抵抗素子の個別端子と複数の抵抗素子のうちの第２の測
定対象の抵抗素子の個別端子との間に測定電流を流し
て、第１の測定対象の抵抗素子の個別端子と第２の測定
対象の抵抗素子の個別端子との間に現れる第３の端子間
電圧を測定手段に供給する第３の状態とを切り替えるス
イッチ手段と、測定手段による第１，第２および第３の
端子間電圧の測定値を測定電流に相当する電流相当値で
それぞれ除算して、多連抵抗素子の共通端子と第１の測
定対象の抵抗素子の個別端子との間の第１の抵抗値，多
連抵抗素子の共通端子と第２の測定対象の抵抗素子の個
別端子との間の第２の抵抗値および第１の測定対象の抵
抗素子の個別端子と第２の測定対象の抵抗素子の個別端
子との間の第３の抵抗値をそれぞれ求め、第１の抵抗値
が第１の測定対象の抵抗素子の抵抗値と共通電路の抵抗
値の直列合成抵抗値であり、第２の抵抗値が第２の測定
対象の抵抗素子の抵抗値と共通電路の抵抗値の直列合成
抵抗値であり、第３の抵抗値が第１の測定対象の抵抗素
子の抵抗値と第２の測定対象の抵抗素子の抵抗値の直列
合成抵抗値であるという関係式と、第１，第２および第
３の抵抗値とから、第１および第２の測定対象の抵抗素
子の抵抗値および共通電路の抵抗値を算出して出力する
演算手段と、この演算手段の出力を表示する表示手段と
を備えている。
【００３７】この構成によれば、多連抵抗素子の共通端
子と複数の抵抗素子の個別端子のうちの２つの端子間に
測定電流を流し、それら２つの端子間に生じる端子間電
圧を測定し、この測定処理を端子の組み合わせを異なら
せて実行して複数の端子間電圧を求め、端子間電圧を電
流相当値でそれぞれ除算して各端子間の抵抗値を求め、
求めた各端子間の抵抗値と、各端子間の抵抗値と共通電
路の抵抗および複数の抵抗素子との関係式に基づいて演
算するので、多連抵抗素子を構成する各抵抗素子の共通
接続点と共通端子との間の共通電路の抵抗値の影響を受
けずに、多連抵抗素子を構成する各抵抗素子の抵抗値を
測定することができ、また各抵抗素子の共通接続点と共
通端子との間の共通電路の抵抗値を測定することができ
る。
子と複数の抵抗素子の個別端子のうちの２つの端子間に
測定電流を流し、それら２つの端子間に生じる端子間電
圧を測定し、この測定処理を端子の組み合わせを異なら
せて実行して複数の端子間電圧を求め、端子間電圧を電
流相当値でそれぞれ除算して各端子間の抵抗値を求め、
求めた各端子間の抵抗値と、各端子間の抵抗値と共通電
路の抵抗および複数の抵抗素子との関係式に基づいて演
算するので、多連抵抗素子を構成する各抵抗素子の共通
接続点と共通端子との間の共通電路の抵抗値の影響を受
けずに、多連抵抗素子を構成する各抵抗素子の抵抗値を
測定することができ、また各抵抗素子の共通接続点と共
通端子との間の共通電路の抵抗値を測定することができ
る。
【００３８】請求項１８記載の抵抗値測定装置は、一端
を共通接続した複数の抵抗素子からなる多連抵抗素子の
各抵抗素子の抵抗値および共通電路の抵抗値を測定する
抵抗値測定装置であって、測定電流を発生する測定電流
発生手段と、入力される電圧を測定する測定手段と、多
連抵抗素子の共通端子と複数の抵抗素子のうちの第１の
測定対象の抵抗素子の個別端子との間に測定電流を流し
て、多連抵抗素子の共通端子と第１の測定対象の抵抗素
子の個別端子との間に現れる第１の端子間電圧を測定手
段に供給する第１の状態と、多連抵抗素子の共通端子と
複数の抵抗素子のうちの第２の測定対象の抵抗素子の個
別端子との間に測定電流を流して、多連抵抗素子の共通
端子と第２の測定対象の抵抗素子の個別端子との間に現
れる第２の端子間電圧を測定手段に供給する第２の状態
と、複数の抵抗素子のうちの第１の測定対象の抵抗素子
の個別端子と複数の抵抗素子のうちの第２の測定対象の
抵抗素子の個別端子との間に測定電流を流して、第１の
測定対象の抵抗素子の個別端子と第２の測定対象の抵抗
素子の個別端子との間に現れる第３の端子間電圧を測定
手段に供給する第３の状態とを切り替えるスイッチ手段
と、測定手段による第１，第２および第３の端子間電圧
の測定値を、多連抵抗素子の共通端子と第１の測定対象
の抵抗素子の個別端子との間の第１の抵抗値，多連抵抗
素子の共通端子と第２の測定対象の抵抗素子の個別端子
との間の第２の抵抗値および第１の測定対象の抵抗素子
の個別端子と第２の測定対象の抵抗素子の個別端子との
間の第３の抵抗値とし、第１の抵抗値が第１の測定対象
の抵抗素子の抵抗値と共通電路の抵抗値の直列合成抵抗
値であり、第２の抵抗値が第２の測定対象の抵抗素子の
抵抗値と共通電路の抵抗値の直列合成抵抗値であり、第
３の抵抗値が第１の測定対象の抵抗素子の抵抗値と第２
の測定対象の抵抗素子の抵抗値の直列合成抵抗値である
という関係式と、第１，第２および第３の抵抗値とか
ら、第１および第２の測定対象の抵抗素子の抵抗値およ
び共通電路の抵抗値を算出して出力する演算手段と、こ
の演算手段の出力を表示する表示手段とを備えている。
を共通接続した複数の抵抗素子からなる多連抵抗素子の
各抵抗素子の抵抗値および共通電路の抵抗値を測定する
抵抗値測定装置であって、測定電流を発生する測定電流
発生手段と、入力される電圧を測定する測定手段と、多
連抵抗素子の共通端子と複数の抵抗素子のうちの第１の
測定対象の抵抗素子の個別端子との間に測定電流を流し
て、多連抵抗素子の共通端子と第１の測定対象の抵抗素
子の個別端子との間に現れる第１の端子間電圧を測定手
段に供給する第１の状態と、多連抵抗素子の共通端子と
複数の抵抗素子のうちの第２の測定対象の抵抗素子の個
別端子との間に測定電流を流して、多連抵抗素子の共通
端子と第２の測定対象の抵抗素子の個別端子との間に現
れる第２の端子間電圧を測定手段に供給する第２の状態
と、複数の抵抗素子のうちの第１の測定対象の抵抗素子
の個別端子と複数の抵抗素子のうちの第２の測定対象の
抵抗素子の個別端子との間に測定電流を流して、第１の
測定対象の抵抗素子の個別端子と第２の測定対象の抵抗
素子の個別端子との間に現れる第３の端子間電圧を測定
手段に供給する第３の状態とを切り替えるスイッチ手段
と、測定手段による第１，第２および第３の端子間電圧
の測定値を、多連抵抗素子の共通端子と第１の測定対象
の抵抗素子の個別端子との間の第１の抵抗値，多連抵抗
素子の共通端子と第２の測定対象の抵抗素子の個別端子
との間の第２の抵抗値および第１の測定対象の抵抗素子
の個別端子と第２の測定対象の抵抗素子の個別端子との
間の第３の抵抗値とし、第１の抵抗値が第１の測定対象
の抵抗素子の抵抗値と共通電路の抵抗値の直列合成抵抗
値であり、第２の抵抗値が第２の測定対象の抵抗素子の
抵抗値と共通電路の抵抗値の直列合成抵抗値であり、第
３の抵抗値が第１の測定対象の抵抗素子の抵抗値と第２
の測定対象の抵抗素子の抵抗値の直列合成抵抗値である
という関係式と、第１，第２および第３の抵抗値とか
ら、第１および第２の測定対象の抵抗素子の抵抗値およ
び共通電路の抵抗値を算出して出力する演算手段と、こ
の演算手段の出力を表示する表示手段とを備えている。
【００３９】この構成によれば、請求項１７と同様に作
用し、しかも、測定電流に相当する電流相当値で除算す
る必要はないので、抵抗素子の抵抗値を簡単な演算で求
めることができる。
用し、しかも、測定電流に相当する電流相当値で除算す
る必要はないので、抵抗素子の抵抗値を簡単な演算で求
めることができる。
【００４０】
【発明の実施の形態】以下、一端を共通接続した複数の
抵抗素子からなる多連抵抗素子の各抵抗素子の抵抗値お
よび共通電路の抵抗値を測定する抵抗値測定方法につい
て図面を参照しながら説明する。 〔抵抗値測定方法の第１の実施の形態〕多連抵抗素子の
各抵抗素子の抵抗値（直流抵抗値）および共通電路の抵
抗値（直流抵抗）を測定する、この発明の第１の実施の
形態の抵抗値測定方法を図１および図３を参照しながら
説明する。この抵抗値測定方法は、図１および図３に示
すように、多連抵抗素子ＲＡの共通端子Ｔc と複数の抵
抗素子Ｒ1 〜Ｒn （ｎは２以上の整数）のうちの例えば
測定対象の抵抗素子Ｒ1 の個別端子Ｔ1 との間に電流発
生手段Ｄにより測定電流Ｉを流し、測定対象の抵抗素子
Ｒ1 の個別端子Ｔ 1 と複数の抵抗素子Ｒ1 〜Ｒn のうち
の測定対象以外の他の例えば抵抗素子Ｒnの個別端子Ｔ
n との間に現れる第１の端子間電圧Ｅn1を差動増幅器か
らなる測定手段Ａで測定するとともに、多連抵抗素子Ｒ
Ａの共通端子Ｔc と測定対象の抵抗素子Ｒ1 の個別端子
Ｔ1 との間に現れる第２の端子間電圧Ｅcnを測定手段Ａ
で測定し、演算手段Ｂにおいて第１の端子間電圧Ｅn1の
測定値Ｅn1′を測定電流Ｉに相当する電流相当値Ｅ
I （∝Ｉ）で除算し、この除算した第１の除算結果（Ｅ
1n′／ＥI ）を測定対象の抵抗素子Ｒ1 の抵抗値として
出力するとともに、第２の端子間電圧Ｅcnの測定値
Ｅcn′を電流相当値ＥI で除算し、この除算した第２の
除算結果（Ｅcn′／ＥI ）から第１の除算結果（Ｅ1n′
／ＥI ）を減算し、この減算した減算結果を共通電路ｒ
の抵抗値として出力し、両抵抗値を表示手段Ｃにて表示
する。
抵抗素子からなる多連抵抗素子の各抵抗素子の抵抗値お
よび共通電路の抵抗値を測定する抵抗値測定方法につい
て図面を参照しながら説明する。 〔抵抗値測定方法の第１の実施の形態〕多連抵抗素子の
各抵抗素子の抵抗値（直流抵抗値）および共通電路の抵
抗値（直流抵抗）を測定する、この発明の第１の実施の
形態の抵抗値測定方法を図１および図３を参照しながら
説明する。この抵抗値測定方法は、図１および図３に示
すように、多連抵抗素子ＲＡの共通端子Ｔc と複数の抵
抗素子Ｒ1 〜Ｒn （ｎは２以上の整数）のうちの例えば
測定対象の抵抗素子Ｒ1 の個別端子Ｔ1 との間に電流発
生手段Ｄにより測定電流Ｉを流し、測定対象の抵抗素子
Ｒ1 の個別端子Ｔ 1 と複数の抵抗素子Ｒ1 〜Ｒn のうち
の測定対象以外の他の例えば抵抗素子Ｒnの個別端子Ｔ
n との間に現れる第１の端子間電圧Ｅn1を差動増幅器か
らなる測定手段Ａで測定するとともに、多連抵抗素子Ｒ
Ａの共通端子Ｔc と測定対象の抵抗素子Ｒ1 の個別端子
Ｔ1 との間に現れる第２の端子間電圧Ｅcnを測定手段Ａ
で測定し、演算手段Ｂにおいて第１の端子間電圧Ｅn1の
測定値Ｅn1′を測定電流Ｉに相当する電流相当値Ｅ
I （∝Ｉ）で除算し、この除算した第１の除算結果（Ｅ
1n′／ＥI ）を測定対象の抵抗素子Ｒ1 の抵抗値として
出力するとともに、第２の端子間電圧Ｅcnの測定値
Ｅcn′を電流相当値ＥI で除算し、この除算した第２の
除算結果（Ｅcn′／ＥI ）から第１の除算結果（Ｅ1n′
／ＥI ）を減算し、この減算した減算結果を共通電路ｒ
の抵抗値として出力し、両抵抗値を表示手段Ｃにて表示
する。
【００４１】この抵抗値測定方法によると、複数の抵抗
素子Ｒ1 〜Ｒn のうちの測定対象の抵抗素子Ｒ1 の両端
の電圧降下Ｅ1 を複数の抵抗素子Ｒ1 〜Ｒn のうちの測
定対象以外の他の抵抗素子Ｒn を通して測定するので、
共通電路ｒの抵抗の影響を受けずに測定対象の抵抗素子
Ｒ1 の抵抗値を測定することができる。また、第１およ
び第２の端子間電圧Ｅ1n，Ｅcnを測定する測定手段Ａと
して、測定対象の抵抗素子Ｒ1 の抵抗値に比べて入力イ
ンピーダンスが十分に高いものを用いるのは当然である
が、なおかつ測定対象以外の他の抵抗素子Ｒn の抵抗値
に比べて入力インピーダンスが十分に高いものを用いる
ことにより、測定対象以外の他の抵抗素子Ｒn による誤
差は無視できるものとなり、測定対象の抵抗素子Ｒ1 の
抵抗値を共通電路ｒの抵抗の影響を受けずに正確に測定
することができる。さらに、測定対象の抵抗素子Ｒ1 の
抵抗値と共通電路ｒの抵抗値とが加算されたものを従来
例と同様にして求め、そして、この求めた抵抗値から測
定対象の抵抗素子Ｒ1 の抵抗値を減じることにより、共
通電路ｒの抵抗値を測定することができる。
素子Ｒ1 〜Ｒn のうちの測定対象の抵抗素子Ｒ1 の両端
の電圧降下Ｅ1 を複数の抵抗素子Ｒ1 〜Ｒn のうちの測
定対象以外の他の抵抗素子Ｒn を通して測定するので、
共通電路ｒの抵抗の影響を受けずに測定対象の抵抗素子
Ｒ1 の抵抗値を測定することができる。また、第１およ
び第２の端子間電圧Ｅ1n，Ｅcnを測定する測定手段Ａと
して、測定対象の抵抗素子Ｒ1 の抵抗値に比べて入力イ
ンピーダンスが十分に高いものを用いるのは当然である
が、なおかつ測定対象以外の他の抵抗素子Ｒn の抵抗値
に比べて入力インピーダンスが十分に高いものを用いる
ことにより、測定対象以外の他の抵抗素子Ｒn による誤
差は無視できるものとなり、測定対象の抵抗素子Ｒ1 の
抵抗値を共通電路ｒの抵抗の影響を受けずに正確に測定
することができる。さらに、測定対象の抵抗素子Ｒ1 の
抵抗値と共通電路ｒの抵抗値とが加算されたものを従来
例と同様にして求め、そして、この求めた抵抗値から測
定対象の抵抗素子Ｒ1 の抵抗値を減じることにより、共
通電路ｒの抵抗値を測定することができる。
【００４２】ここで、抵抗素子Ｒ1 の抵抗値の測定の際
に、測定対象以外の他の抵抗素子Ｒ n による誤差は無視
できる点について詳しく説明する。測定手段Ａとして用
いられる差動増幅器としては、例えばアナログデバイセ
ズ社製のＡＤ６２０が用いられるが、このＡＤ６２０の
差動増幅器の入力インピーダンスは約１０ＧΩとなって
おり、例えば抵抗Ｒ1 の電圧降下Ｅ1 と第１の端子間電
圧Ｅ1nとの誤差を０．１％まで許容するとすれば、抵抗
素子Ｒn の抵抗値としては、１０ＭΩ（＝１０ＧΩ／１
０００）までは、Ｅ1n＝Ｅ1 とみなすことができる。
に、測定対象以外の他の抵抗素子Ｒ n による誤差は無視
できる点について詳しく説明する。測定手段Ａとして用
いられる差動増幅器としては、例えばアナログデバイセ
ズ社製のＡＤ６２０が用いられるが、このＡＤ６２０の
差動増幅器の入力インピーダンスは約１０ＧΩとなって
おり、例えば抵抗Ｒ1 の電圧降下Ｅ1 と第１の端子間電
圧Ｅ1nとの誤差を０．１％まで許容するとすれば、抵抗
素子Ｒn の抵抗値としては、１０ＭΩ（＝１０ＧΩ／１
０００）までは、Ｅ1n＝Ｅ1 とみなすことができる。
【００４３】そこで、Ｅ1n＝Ｅ1 とみなして、上述のよ
うに、第１の端子間電圧Ｅ1nを測定手段Ａである差動増
幅器に入力し、差動増幅器から第１の端子間電圧Ｅ1nと
比例した測定値Ｅ1n′を取り出し、それを演算手段Ｂに
入力し、Ｅ1n′／ＥI の演算を行うことで、抵抗素子Ｒ
1 の抵抗値を共通電路ｒの抵抗値の影響を受けることな
く正確に求めることができる。上記の演算手段Ｂにおけ
るＥ1n′／ＥI の演算は、Ｅ1 ／Ｉの演算、すなわちＥ
1n／Ｉの演算を、Ｅ1n′∝Ｅ1n，ＥI ∝Ｉの関係に基づ
いて、代替したものである。
うに、第１の端子間電圧Ｅ1nを測定手段Ａである差動増
幅器に入力し、差動増幅器から第１の端子間電圧Ｅ1nと
比例した測定値Ｅ1n′を取り出し、それを演算手段Ｂに
入力し、Ｅ1n′／ＥI の演算を行うことで、抵抗素子Ｒ
1 の抵抗値を共通電路ｒの抵抗値の影響を受けることな
く正確に求めることができる。上記の演算手段Ｂにおけ
るＥ1n′／ＥI の演算は、Ｅ1 ／Ｉの演算、すなわちＥ
1n／Ｉの演算を、Ｅ1n′∝Ｅ1n，ＥI ∝Ｉの関係に基づ
いて、代替したものである。
【００４４】なお、上記第１の実施の形態の抵抗値測定
方法では、抵抗素子Ｒ1 の抵抗値を測定するものについ
て説明したが、図１および図３における個別端子Ｔ1 と
個別端子Ｔn の接続を逆に、すなわち個別端子Ｔ1 を測
定手段Ａである差動増幅器の非反転入力端子に接続し、
個別端子Ｔn を電流発生手段Ｄおよび差動増幅器の反転
入力端子に接続すれば、上記と同様の手順で抵抗素子Ｒ
n の抵抗値を測定することができる。また、共通電路ｒ
の抵抗値を求めることが必要なければ、第２の端子間電
圧Ｅcnの測定、ならびに第２の端子間電圧Ｅcnの測定値
Ｅcn′の電流相当値ＥI による除算、ならびに（Ｅcn′
／ＥI −Ｅ1n／ＥI ）の演算は不要である。
方法では、抵抗素子Ｒ1 の抵抗値を測定するものについ
て説明したが、図１および図３における個別端子Ｔ1 と
個別端子Ｔn の接続を逆に、すなわち個別端子Ｔ1 を測
定手段Ａである差動増幅器の非反転入力端子に接続し、
個別端子Ｔn を電流発生手段Ｄおよび差動増幅器の反転
入力端子に接続すれば、上記と同様の手順で抵抗素子Ｒ
n の抵抗値を測定することができる。また、共通電路ｒ
の抵抗値を求めることが必要なければ、第２の端子間電
圧Ｅcnの測定、ならびに第２の端子間電圧Ｅcnの測定値
Ｅcn′の電流相当値ＥI による除算、ならびに（Ｅcn′
／ＥI −Ｅ1n／ＥI ）の演算は不要である。
【００４５】〔抵抗値測定方法の第２の実施の形態〕多
連抵抗素子の各抵抗素子の抵抗値（直流抵抗値）および
共通電路の抵抗値（直流抵抗値）を測定する、この発明
の第２の実施の形態の抵抗値測定方法を図２および図４
を参照しながら説明する。この抵抗値測定方法は、図２
および図４に示すように、多連抵抗素子ＲＡの共通端子
Ｔc と複数の抵抗素子Ｒ1 〜Ｒn （ｎは２以上の整数）
のうちの例えば測定対象の抵抗素子Ｒ1 の個別端子Ｔ1
との間に電流発生手段Ｄにより規定測定電流ＩR を流
し、測定対象の抵抗素子Ｒ1 の個別端子Ｔ1 と複数の抵
抗素子Ｒ1 〜Ｒn のうちの測定対象以外の他の例えば抵
抗素子Ｒn の個別端子Ｔn との間に現れる第１の端子間
電圧Ｅn1を差動増幅器からなる測定手段Ａで測定すると
ともに、多連抵抗素子ＲＡの共通端子Ｔc と測定対象の
抵抗素子Ｒ1 の個別端子Ｔ1 との間に現れる第２の端子
間電圧Ｅcnを測定手段Ａで測定し、演算手段Ｂにおいて
第１の端子間電圧Ｅn1の測定値Ｅn1′を測定対象の抵抗
素子Ｒ1 の抵抗値として出力するとともに、第２の端子
間電圧Ｅcnの測定値Ｅcn′から第１の端子間電圧Ｅn1の
測定値Ｅn1′を減算し、この減算した減算結果を共通電
路ｒの抵抗値として出力し、両抵抗値を表示手段Ｃにて
表示する。
連抵抗素子の各抵抗素子の抵抗値（直流抵抗値）および
共通電路の抵抗値（直流抵抗値）を測定する、この発明
の第２の実施の形態の抵抗値測定方法を図２および図４
を参照しながら説明する。この抵抗値測定方法は、図２
および図４に示すように、多連抵抗素子ＲＡの共通端子
Ｔc と複数の抵抗素子Ｒ1 〜Ｒn （ｎは２以上の整数）
のうちの例えば測定対象の抵抗素子Ｒ1 の個別端子Ｔ1
との間に電流発生手段Ｄにより規定測定電流ＩR を流
し、測定対象の抵抗素子Ｒ1 の個別端子Ｔ1 と複数の抵
抗素子Ｒ1 〜Ｒn のうちの測定対象以外の他の例えば抵
抗素子Ｒn の個別端子Ｔn との間に現れる第１の端子間
電圧Ｅn1を差動増幅器からなる測定手段Ａで測定すると
ともに、多連抵抗素子ＲＡの共通端子Ｔc と測定対象の
抵抗素子Ｒ1 の個別端子Ｔ1 との間に現れる第２の端子
間電圧Ｅcnを測定手段Ａで測定し、演算手段Ｂにおいて
第１の端子間電圧Ｅn1の測定値Ｅn1′を測定対象の抵抗
素子Ｒ1 の抵抗値として出力するとともに、第２の端子
間電圧Ｅcnの測定値Ｅcn′から第１の端子間電圧Ｅn1の
測定値Ｅn1′を減算し、この減算した減算結果を共通電
路ｒの抵抗値として出力し、両抵抗値を表示手段Ｃにて
表示する。
【００４６】この抵抗値測定方法によると、測定電流Ｉ
に相当する電流相当値ＥI で除算する必要はないので、
抵抗素子Ｒ1 の抵抗値を簡単な演算で求めることができ
る。その他の点については、第１の実施の形態の抵抗値
測定方法と同様である。 〔抵抗値測定方法の第３の実施の形態〕多連抵抗素子の
共通電路の抵抗値（直流抵抗値）を測定する、この発明
の第３の実施の形態の抵抗値測定方法を図５を参照しな
がら説明する。この抵抗値測定方法は、図５に示すよう
に、多連抵抗素子ＲＡの共通端子Ｔc と複数の抵抗素子
Ｒ1 〜Ｒn （ｎは２以上の整数）のうちの何れかの一つ
の抵抗素子、例えばＲ1の個別端子Ｔ1 との間に電流発
生手段Ｄにより測定電流Ｉを流し、多連抵抗素子ＲＡの
共通端子Ｔc と複数の抵抗素子Ｒ1 〜Ｒn のうちの残り
の抵抗素子、例えばＲn の個別端子Ｔn との間に現れる
端子間電圧Ｅcnを差動増幅器（例えば、ＡＤ６２０；ア
ナログデバイセズ社製）で測定し、演算手段Ｂにおいて
端子間電圧Ｅcnの測定値Ｅcn′を測定電流Ｉに相当する
電流相当値ＥI で除算し、この除算した除算結果
（Ｅcn′／ＥI ）を共通電路の抵抗値として出力し、そ
の抵抗値を表示手段Ｃに表示する。
に相当する電流相当値ＥI で除算する必要はないので、
抵抗素子Ｒ1 の抵抗値を簡単な演算で求めることができ
る。その他の点については、第１の実施の形態の抵抗値
測定方法と同様である。 〔抵抗値測定方法の第３の実施の形態〕多連抵抗素子の
共通電路の抵抗値（直流抵抗値）を測定する、この発明
の第３の実施の形態の抵抗値測定方法を図５を参照しな
がら説明する。この抵抗値測定方法は、図５に示すよう
に、多連抵抗素子ＲＡの共通端子Ｔc と複数の抵抗素子
Ｒ1 〜Ｒn （ｎは２以上の整数）のうちの何れかの一つ
の抵抗素子、例えばＲ1の個別端子Ｔ1 との間に電流発
生手段Ｄにより測定電流Ｉを流し、多連抵抗素子ＲＡの
共通端子Ｔc と複数の抵抗素子Ｒ1 〜Ｒn のうちの残り
の抵抗素子、例えばＲn の個別端子Ｔn との間に現れる
端子間電圧Ｅcnを差動増幅器（例えば、ＡＤ６２０；ア
ナログデバイセズ社製）で測定し、演算手段Ｂにおいて
端子間電圧Ｅcnの測定値Ｅcn′を測定電流Ｉに相当する
電流相当値ＥI で除算し、この除算した除算結果
（Ｅcn′／ＥI ）を共通電路の抵抗値として出力し、そ
の抵抗値を表示手段Ｃに表示する。
【００４７】この抵抗値測定方法によると、共通電路ｒ
の電圧降下を複数の抵抗素子Ｒ1 〜Ｒn のうちの他の抵
抗素子Ｒn を通して測定するので、抵抗素子Ｒ1 の影響
を受けずに共通電路ｒの抵抗値を測定することができ
る。また、端子間電圧Ｅcnを測定する測定手段Ａとし
て、共通電路ｒの抵抗値に比べて入力インピーダンスが
十分に高いものを用いるのは当然であるが、なおかつ他
の抵抗素子Ｒn の抵抗値に比べて入力インピーダンスが
十分に高いものを用いることにより、他の抵抗素子Ｒn
による誤差は無視できるものとなり、共通電路ｒの抵抗
値を抵抗素子Ｒ1 の抵抗値の影響を受けずに正確に測定
することができる。
の電圧降下を複数の抵抗素子Ｒ1 〜Ｒn のうちの他の抵
抗素子Ｒn を通して測定するので、抵抗素子Ｒ1 の影響
を受けずに共通電路ｒの抵抗値を測定することができ
る。また、端子間電圧Ｅcnを測定する測定手段Ａとし
て、共通電路ｒの抵抗値に比べて入力インピーダンスが
十分に高いものを用いるのは当然であるが、なおかつ他
の抵抗素子Ｒn の抵抗値に比べて入力インピーダンスが
十分に高いものを用いることにより、他の抵抗素子Ｒn
による誤差は無視できるものとなり、共通電路ｒの抵抗
値を抵抗素子Ｒ1 の抵抗値の影響を受けずに正確に測定
することができる。
【００４８】なお、共通電路ｒの抵抗値の測定の際に、
抵抗素子Ｒ1 による誤差は無視できる点については、第
１の実施の形態の抵抗値測定方法で説明したのと同様の
理由である。また、この実施の形態では、共通電路ｒの
抵抗値を測定する方法について説明したが、共通端子Ｔ
c と例えば個別端子Ｔ1 の間の端子間電圧Ｅc1を測定
し、この端子間電圧Ｅc1の測定値Ｅc1′を電流相当値Ｅ
I で除算し、この除算結果から先に求めた共通電路ｒの
抵抗値を減算すれば、抵抗素子Ｒ1 の抵抗値を求めるこ
とができる。また、他の抵抗素子、例えばＲn の抵抗値
を求めるには、個別端子Ｔ1 ，Ｔn の接続を逆に、すな
わち個別端子Ｔ1 を測定手段Ａに接続し、個別端子Ｔn
を電流発生手段Ｄに接続すればよい。
抵抗素子Ｒ1 による誤差は無視できる点については、第
１の実施の形態の抵抗値測定方法で説明したのと同様の
理由である。また、この実施の形態では、共通電路ｒの
抵抗値を測定する方法について説明したが、共通端子Ｔ
c と例えば個別端子Ｔ1 の間の端子間電圧Ｅc1を測定
し、この端子間電圧Ｅc1の測定値Ｅc1′を電流相当値Ｅ
I で除算し、この除算結果から先に求めた共通電路ｒの
抵抗値を減算すれば、抵抗素子Ｒ1 の抵抗値を求めるこ
とができる。また、他の抵抗素子、例えばＲn の抵抗値
を求めるには、個別端子Ｔ1 ，Ｔn の接続を逆に、すな
わち個別端子Ｔ1 を測定手段Ａに接続し、個別端子Ｔn
を電流発生手段Ｄに接続すればよい。
【００４９】〔抵抗値測定方法の第４の実施の形態〕多
連抵抗素子の共通電路の抵抗値（直流抵抗値）を測定す
る、この発明の第４の実施の形態の抵抗値測定方法を図
６を参照しながら説明する。この抵抗値測定方法は、図
６に示すように、多連抵抗素子ＲＡの共通端子Ｔc と複
数の抵抗素子Ｒ1 〜Ｒn （ｎは２以上の整数）のうちの
何れかの一つの抵抗素子、例えばＲ1の個別端子Ｔ1 と
の間に電流発生手段Ｄにより測定電流Ｉを流し、多連抵
抗素子ＲＡの共通端子Ｔc と複数の抵抗素子Ｒ1 〜Ｒn
のうちの残りの抵抗素子、例えばＲn の個別端子Ｔn と
の間に現れる端子間電圧Ｅcnを差動増幅器（例えば、Ａ
Ｄ６２０；アナログデバイセズ社製）で測定し、演算手
段Ｂにおいて端子間電圧Ｅcnの測定値Ｅcn′を共通電路
の抵抗値として出力し、その抵抗値を表示手段Ｃに表示
する。
連抵抗素子の共通電路の抵抗値（直流抵抗値）を測定す
る、この発明の第４の実施の形態の抵抗値測定方法を図
６を参照しながら説明する。この抵抗値測定方法は、図
６に示すように、多連抵抗素子ＲＡの共通端子Ｔc と複
数の抵抗素子Ｒ1 〜Ｒn （ｎは２以上の整数）のうちの
何れかの一つの抵抗素子、例えばＲ1の個別端子Ｔ1 と
の間に電流発生手段Ｄにより測定電流Ｉを流し、多連抵
抗素子ＲＡの共通端子Ｔc と複数の抵抗素子Ｒ1 〜Ｒn
のうちの残りの抵抗素子、例えばＲn の個別端子Ｔn と
の間に現れる端子間電圧Ｅcnを差動増幅器（例えば、Ａ
Ｄ６２０；アナログデバイセズ社製）で測定し、演算手
段Ｂにおいて端子間電圧Ｅcnの測定値Ｅcn′を共通電路
の抵抗値として出力し、その抵抗値を表示手段Ｃに表示
する。
【００５０】この抵抗値測定方法によると、定電流Ｉに
相当する電流相当値ＥI で除算する必要はないので、共
通電路ｒの抵抗値を簡単な演算で求めることができる。
その他の点については、第３の実施の形態の抵抗値測定
方法と同様である。 〔抵抗値測定方法の第５の実施の形態〕多連抵抗素子の
各抵抗素子の抵抗値（直流抵抗）および共通電路の抵抗
値（直流抵抗値）を測定する、この発明の第５の実施の
形態の抵抗値測定方法を図７を参照しながら説明する。
この抵抗値測定方法は、図７に示すように、多連抵抗素
子ＲＡの共通端子Ｔc と複数の抵抗素子Ｒ1 〜Ｒn のう
ちの第１の測定対象の抵抗素子Ｒ1 の個別端子Ｔ1 との
間に測定電流Ｉを流して、多連抵抗素子ＲＡの共通端子
Ｔc と第１の測定対象の抵抗素子Ｒ1 の個別端子Ｔ1 と
の間に現れる第１の端子間電圧Ｅc1を測定し、多連抵抗
素子ＲＡの共通端子Ｔc と複数の抵抗素子Ｒ1 〜Ｒn の
うちの第２の測定対象の抵抗素子Ｒn の個別端子Ｔn と
の間に測定電流Ｉを流して、多連抵抗素子ＲＡの共通端
子Ｔc と第２の測定対象の抵抗素子Ｒn の個別端子Ｔn
との間に現れる第２の端子間電圧Ｅcnを測定し、複数の
抵抗素子Ｒ1 〜Ｒn のうちの第１の測定対象の抵抗素子
Ｒ1 の個別端子Ｔ1 と複数の抵抗素子Ｒ1 〜Ｒn のうち
の第２の測定対象の抵抗素子Ｒn の個別端子との間に測
定電流Ｉを流して、第１の測定対象の抵抗素子Ｒ1 の個
別端子Ｔ 1 と第２の測定対象の抵抗素子Ｒn の個別端子
Ｔn との間に現れる第３の端子間電圧Ｅn1を測定し、第
１，第２および第３の端子間電圧Ｅc1，Ｅcn，Ｅn1の測
定値Ｅc1′，Ｅcn′，Ｅn1′を測定電流Ｉに相当する電
流相当値ＥI でそれぞれ除算して、多連抵抗素子ＲＡの
共通端子Ｔc と第１の測定対象の抵抗素子Ｒ1 の個別端
子Ｔ1 との間の第１の抵抗値Ｒc1，多連抵抗素子ＲＡの
共通端子Ｔc と第２の測定対象の抵抗素子Ｒn の個別端
子Ｔn との間の第２の抵抗値Ｒcn，および第１の測定対
象の抵抗素子Ｒ1 の個別端子Ｔ1 と第２の測定対象の抵
抗素子Ｒn の個別端子Ｔn との間の第３の抵抗値Ｒn1を
それぞれ求め、第１の抵抗値Ｒc1が第１の測定対象の抵
抗素子Ｒ1 の抵抗値と共通電路ｒの抵抗値の直列合成抵
抗値（Ｒ1 ＋ｒ）であり、第２の抵抗値Ｒcnが第２の測
定対象の抵抗素子Ｒn の抵抗値と共通電路ｒの抵抗値の
直列合成抵抗値（Ｒn ＋ｒ）であり、第３の抵抗値Ｒn1
が第１の測定対象の抵抗素子Ｒ1 の抵抗値と第２の測定
対象の抵抗素子Ｒn の抵抗値の直列合成抵抗値（Ｒ1 ＋
Ｒn ）であるという関係式と、第１，第２および第３の
抵抗値Ｒc1，Ｒcn，Ｒn1とから、第１および第２の測定
対象の抵抗素子Ｒ1 ，Ｒn の抵抗値および共通電路ｒの
抵抗値を算出して出力して表示する。
相当する電流相当値ＥI で除算する必要はないので、共
通電路ｒの抵抗値を簡単な演算で求めることができる。
その他の点については、第３の実施の形態の抵抗値測定
方法と同様である。 〔抵抗値測定方法の第５の実施の形態〕多連抵抗素子の
各抵抗素子の抵抗値（直流抵抗）および共通電路の抵抗
値（直流抵抗値）を測定する、この発明の第５の実施の
形態の抵抗値測定方法を図７を参照しながら説明する。
この抵抗値測定方法は、図７に示すように、多連抵抗素
子ＲＡの共通端子Ｔc と複数の抵抗素子Ｒ1 〜Ｒn のう
ちの第１の測定対象の抵抗素子Ｒ1 の個別端子Ｔ1 との
間に測定電流Ｉを流して、多連抵抗素子ＲＡの共通端子
Ｔc と第１の測定対象の抵抗素子Ｒ1 の個別端子Ｔ1 と
の間に現れる第１の端子間電圧Ｅc1を測定し、多連抵抗
素子ＲＡの共通端子Ｔc と複数の抵抗素子Ｒ1 〜Ｒn の
うちの第２の測定対象の抵抗素子Ｒn の個別端子Ｔn と
の間に測定電流Ｉを流して、多連抵抗素子ＲＡの共通端
子Ｔc と第２の測定対象の抵抗素子Ｒn の個別端子Ｔn
との間に現れる第２の端子間電圧Ｅcnを測定し、複数の
抵抗素子Ｒ1 〜Ｒn のうちの第１の測定対象の抵抗素子
Ｒ1 の個別端子Ｔ1 と複数の抵抗素子Ｒ1 〜Ｒn のうち
の第２の測定対象の抵抗素子Ｒn の個別端子との間に測
定電流Ｉを流して、第１の測定対象の抵抗素子Ｒ1 の個
別端子Ｔ 1 と第２の測定対象の抵抗素子Ｒn の個別端子
Ｔn との間に現れる第３の端子間電圧Ｅn1を測定し、第
１，第２および第３の端子間電圧Ｅc1，Ｅcn，Ｅn1の測
定値Ｅc1′，Ｅcn′，Ｅn1′を測定電流Ｉに相当する電
流相当値ＥI でそれぞれ除算して、多連抵抗素子ＲＡの
共通端子Ｔc と第１の測定対象の抵抗素子Ｒ1 の個別端
子Ｔ1 との間の第１の抵抗値Ｒc1，多連抵抗素子ＲＡの
共通端子Ｔc と第２の測定対象の抵抗素子Ｒn の個別端
子Ｔn との間の第２の抵抗値Ｒcn，および第１の測定対
象の抵抗素子Ｒ1 の個別端子Ｔ1 と第２の測定対象の抵
抗素子Ｒn の個別端子Ｔn との間の第３の抵抗値Ｒn1を
それぞれ求め、第１の抵抗値Ｒc1が第１の測定対象の抵
抗素子Ｒ1 の抵抗値と共通電路ｒの抵抗値の直列合成抵
抗値（Ｒ1 ＋ｒ）であり、第２の抵抗値Ｒcnが第２の測
定対象の抵抗素子Ｒn の抵抗値と共通電路ｒの抵抗値の
直列合成抵抗値（Ｒn ＋ｒ）であり、第３の抵抗値Ｒn1
が第１の測定対象の抵抗素子Ｒ1 の抵抗値と第２の測定
対象の抵抗素子Ｒn の抵抗値の直列合成抵抗値（Ｒ1 ＋
Ｒn ）であるという関係式と、第１，第２および第３の
抵抗値Ｒc1，Ｒcn，Ｒn1とから、第１および第２の測定
対象の抵抗素子Ｒ1 ，Ｒn の抵抗値および共通電路ｒの
抵抗値を算出して出力して表示する。
【００５１】この抵抗値測定方法によると、多連抵抗素
子ＲＡの共通端子Ｔc と複数の抵抗素子Ｒ1 〜Ｒn の個
別端子Ｔ1 〜Ｔn のうちの２つの端子間に測定電流Ｉを
流し、それら２つの端子間に生じる端子間電圧を測定
し、この測定処理を端子の組み合わせを異ならせて複数
の端子間電圧、例えばＥc1，Ｅcn，Ｅn1を求め、端子間
電圧Ｅc1，Ｅcn，Ｅn1の測定値Ｅc1′，Ｅcn′，Ｅn1′
を電流相当値ＥI でそれぞれ除算して各端子間の抵抗値
Ｒc1，Ｒcn，Ｒn1を求め、求めた各端子間の抵抗値
Ｒc1，Ｒcn，Ｒn1と、各端子間の抵抗値Ｒc1，Ｒcn，Ｒ
n1と共通電路ｒの抵抗および複数の抵抗素子Ｒ1 ，Ｒn
との関係式に基づいて演算するので、多連抵抗素子ＲＡ
を構成する各抵抗素子Ｒ1 ，Ｒn の共通接続点と共通端
子Ｔc との間の共通電路ｒの抵抗値の影響を受けずに、
多連抵抗素子ＲＡを構成する各抵抗素子Ｒ1 ，Ｒn の抵
抗値を測定することができ、また各抵抗素子Ｒ1 ，Ｒn
の共通接続点と共通端子Ｔc との間の共通電路ｒの抵抗
値を測定することができる。
子ＲＡの共通端子Ｔc と複数の抵抗素子Ｒ1 〜Ｒn の個
別端子Ｔ1 〜Ｔn のうちの２つの端子間に測定電流Ｉを
流し、それら２つの端子間に生じる端子間電圧を測定
し、この測定処理を端子の組み合わせを異ならせて複数
の端子間電圧、例えばＥc1，Ｅcn，Ｅn1を求め、端子間
電圧Ｅc1，Ｅcn，Ｅn1の測定値Ｅc1′，Ｅcn′，Ｅn1′
を電流相当値ＥI でそれぞれ除算して各端子間の抵抗値
Ｒc1，Ｒcn，Ｒn1を求め、求めた各端子間の抵抗値
Ｒc1，Ｒcn，Ｒn1と、各端子間の抵抗値Ｒc1，Ｒcn，Ｒ
n1と共通電路ｒの抵抗および複数の抵抗素子Ｒ1 ，Ｒn
との関係式に基づいて演算するので、多連抵抗素子ＲＡ
を構成する各抵抗素子Ｒ1 ，Ｒn の共通接続点と共通端
子Ｔc との間の共通電路ｒの抵抗値の影響を受けずに、
多連抵抗素子ＲＡを構成する各抵抗素子Ｒ1 ，Ｒn の抵
抗値を測定することができ、また各抵抗素子Ｒ1 ，Ｒn
の共通接続点と共通端子Ｔc との間の共通電路ｒの抵抗
値を測定することができる。
【００５２】なお、上述の実施の形態では、共通端子Ｔ
c および個別端子Ｔ1 間の端子間電圧Ｅc1、共通端子Ｔ
c および個別端子Ｔn 間の端子間電圧Ｅcn、個別端子Ｔ
1 ，Ｔn 間の端子間電圧Ｅn1を求めて、共通電路ｒの抵
抗および複数の抵抗素子Ｒ1，Ｒn の抵抗値を求めてい
るが、端子間電圧を測定する２つの端子の組み合わせを
異ならせることにより、他の抵抗素子の抵抗値を測定す
ることもできる。また、上記の説明では、端子の組み合
わせの異なる３種類の端子間電圧を求めて、それらを所
定の関係式に従って演算することにより、共通電路の抵
抗値と２つの抵抗素子の抵抗値を求めたが、４種類以上
の端子間電圧を求めて、それらを所定の関係式に従って
演算することにより、共通電路の抵抗値と３つ以上の抵
抗素子の抵抗値を求めることができる。なお、演算に要
する関係式は、多連抵抗素子の共通電路と各抵抗素子と
共通端子および個別端子の接続関係から容易に求まるも
のであり、特に関係式の説明は省略する。
c および個別端子Ｔ1 間の端子間電圧Ｅc1、共通端子Ｔ
c および個別端子Ｔn 間の端子間電圧Ｅcn、個別端子Ｔ
1 ，Ｔn 間の端子間電圧Ｅn1を求めて、共通電路ｒの抵
抗および複数の抵抗素子Ｒ1，Ｒn の抵抗値を求めてい
るが、端子間電圧を測定する２つの端子の組み合わせを
異ならせることにより、他の抵抗素子の抵抗値を測定す
ることもできる。また、上記の説明では、端子の組み合
わせの異なる３種類の端子間電圧を求めて、それらを所
定の関係式に従って演算することにより、共通電路の抵
抗値と２つの抵抗素子の抵抗値を求めたが、４種類以上
の端子間電圧を求めて、それらを所定の関係式に従って
演算することにより、共通電路の抵抗値と３つ以上の抵
抗素子の抵抗値を求めることができる。なお、演算に要
する関係式は、多連抵抗素子の共通電路と各抵抗素子と
共通端子および個別端子の接続関係から容易に求まるも
のであり、特に関係式の説明は省略する。
【００５３】〔抵抗値測定方法の第６の実施の形態〕多
連抵抗素子の各抵抗素子の抵抗値（直流抵抗）および共
通電路の抵抗値（直流抵抗値）を測定する、この発明の
第６の実施の形態の抵抗値測定方法を図８を参照しなが
ら説明する。この抵抗値測定方法は、図８に示すよう
に、多連抵抗素子ＲＡの共通端子Ｔc と複数の抵抗素子
Ｒ1 〜Ｒn のうちの第１の測定対象の抵抗素子Ｒ1 の個
別端子Ｔ1 との間に測定電流Ｉを流して、多連抵抗素子
ＲＡの共通端子Ｔc と第１の測定対象の抵抗素子Ｒ1 の
個別端子Ｔ1 との間に現れる第１の端子間電圧Ｅc1を測
定し、多連抵抗素子ＲＡの共通端子Ｔc と複数の抵抗素
子Ｒ1 〜Ｒn のうちの第２の測定対象の抵抗素子Ｒn の
個別端子Ｔn との間に測定電流Ｉを流して、多連抵抗素
子ＲＡの共通端子Ｔc と第２の測定対象の抵抗素子Ｒn
の個別端子Ｔn との間に現れる第２の端子間電圧Ｅcnを
測定し、複数の抵抗素子Ｒ1 〜Ｒn のうちの第１の測定
対象の抵抗素子Ｒ1 の個別端子Ｔ1 と複数の抵抗素子Ｒ
1 〜Ｒn のうちの第２の測定対象の抵抗素子Ｒn の個別
端子との間に測定電流Ｉを流して、第１の測定対象の抵
抗素子Ｒ1 の個別端子Ｔ 1 と第２の測定対象の抵抗素子
Ｒn の個別端子Ｔn との間に現れる第３の端子間電圧Ｅ
n1を測定し、第１，第２および第３の端子間電圧Ｅc1，
Ｅcn，Ｅn1の測定値Ｅc1′，Ｅcn′，Ｅn1′を、多連抵
抗素子ＲＡの共通端子Ｔc と第１の測定対象の抵抗素子
Ｒ1の個別端子Ｔ1 との間の第１の抵抗値Ｒc1，多連抵
抗素子ＲＡの共通端子Ｔc と第２の測定対象の抵抗素子
Ｒn の個別端子Ｔn との間の第２の抵抗値Ｒcn，および
第１の測定対象の抵抗素子Ｒ1 の個別端子Ｔ1 と第２の
測定対象の抵抗素子Ｒ n の個別端子Ｔn との間の第３の
抵抗値Ｒn1とし、第１の抵抗値Ｒc1が第１の測定対象の
抵抗素子Ｒ1 の抵抗値と共通電路ｒの抵抗値の直列合成
抵抗値（Ｒ1 ＋ｒ）であり、第２の抵抗値Ｒcnが第２の
測定対象の抵抗素子Ｒn の抵抗値と共通電路ｒの抵抗値
の直列合成抵抗値（Ｒn ＋ｒ）であり、第３の抵抗値Ｒ
n1が第１の測定対象の抵抗素子Ｒ1 の抵抗値と第２の測
定対象の抵抗素子Ｒn の抵抗値の直列合成抵抗値（Ｒ1
＋Ｒn ）であるという関係式と、第１，第２および第３
の抵抗値Ｒc1，Ｒcn，Ｒn1とから、第１および第２の測
定対象の抵抗素子Ｒ1 ，Ｒn の抵抗値および共通電路ｒ
の抵抗値を算出して出力して表示する。
連抵抗素子の各抵抗素子の抵抗値（直流抵抗）および共
通電路の抵抗値（直流抵抗値）を測定する、この発明の
第６の実施の形態の抵抗値測定方法を図８を参照しなが
ら説明する。この抵抗値測定方法は、図８に示すよう
に、多連抵抗素子ＲＡの共通端子Ｔc と複数の抵抗素子
Ｒ1 〜Ｒn のうちの第１の測定対象の抵抗素子Ｒ1 の個
別端子Ｔ1 との間に測定電流Ｉを流して、多連抵抗素子
ＲＡの共通端子Ｔc と第１の測定対象の抵抗素子Ｒ1 の
個別端子Ｔ1 との間に現れる第１の端子間電圧Ｅc1を測
定し、多連抵抗素子ＲＡの共通端子Ｔc と複数の抵抗素
子Ｒ1 〜Ｒn のうちの第２の測定対象の抵抗素子Ｒn の
個別端子Ｔn との間に測定電流Ｉを流して、多連抵抗素
子ＲＡの共通端子Ｔc と第２の測定対象の抵抗素子Ｒn
の個別端子Ｔn との間に現れる第２の端子間電圧Ｅcnを
測定し、複数の抵抗素子Ｒ1 〜Ｒn のうちの第１の測定
対象の抵抗素子Ｒ1 の個別端子Ｔ1 と複数の抵抗素子Ｒ
1 〜Ｒn のうちの第２の測定対象の抵抗素子Ｒn の個別
端子との間に測定電流Ｉを流して、第１の測定対象の抵
抗素子Ｒ1 の個別端子Ｔ 1 と第２の測定対象の抵抗素子
Ｒn の個別端子Ｔn との間に現れる第３の端子間電圧Ｅ
n1を測定し、第１，第２および第３の端子間電圧Ｅc1，
Ｅcn，Ｅn1の測定値Ｅc1′，Ｅcn′，Ｅn1′を、多連抵
抗素子ＲＡの共通端子Ｔc と第１の測定対象の抵抗素子
Ｒ1の個別端子Ｔ1 との間の第１の抵抗値Ｒc1，多連抵
抗素子ＲＡの共通端子Ｔc と第２の測定対象の抵抗素子
Ｒn の個別端子Ｔn との間の第２の抵抗値Ｒcn，および
第１の測定対象の抵抗素子Ｒ1 の個別端子Ｔ1 と第２の
測定対象の抵抗素子Ｒ n の個別端子Ｔn との間の第３の
抵抗値Ｒn1とし、第１の抵抗値Ｒc1が第１の測定対象の
抵抗素子Ｒ1 の抵抗値と共通電路ｒの抵抗値の直列合成
抵抗値（Ｒ1 ＋ｒ）であり、第２の抵抗値Ｒcnが第２の
測定対象の抵抗素子Ｒn の抵抗値と共通電路ｒの抵抗値
の直列合成抵抗値（Ｒn ＋ｒ）であり、第３の抵抗値Ｒ
n1が第１の測定対象の抵抗素子Ｒ1 の抵抗値と第２の測
定対象の抵抗素子Ｒn の抵抗値の直列合成抵抗値（Ｒ1
＋Ｒn ）であるという関係式と、第１，第２および第３
の抵抗値Ｒc1，Ｒcn，Ｒn1とから、第１および第２の測
定対象の抵抗素子Ｒ1 ，Ｒn の抵抗値および共通電路ｒ
の抵抗値を算出して出力して表示する。
【００５４】この抵抗値測定方法によると、定電流Ｉに
相当する電流相当値ＥI で除算する必要はないので、抵
抗素子Ｒ1 ，Ｒn の抵抗値および共通電路ｒの抵抗値を
簡単な演算で求めることができる。その他の点について
は、第５の実施の形態の抵抗値測定方法と同様である。
つぎに、この発明の抵抗値測定装置の実施の形態につい
て、図面を参照しながら説明する。
相当する電流相当値ＥI で除算する必要はないので、抵
抗素子Ｒ1 ，Ｒn の抵抗値および共通電路ｒの抵抗値を
簡単な演算で求めることができる。その他の点について
は、第５の実施の形態の抵抗値測定方法と同様である。
つぎに、この発明の抵抗値測定装置の実施の形態につい
て、図面を参照しながら説明する。
【００５５】〔抵抗値測定装置の第１の実施の形態〕一
端を共通接続した複数の抵抗素子からなる多連抵抗素子
の各抵抗素子の抵抗値および共通電路の抵抗値を測定す
る、この発明の第１の実施の形態における抵抗値測定装
置の回路図を図１に示す。この抵抗値測定装置は、図１
に示すように、電流発生手段Ｄと、スイッチ手段Ｓと、
差動増幅器（ＡＤ６２０；アナログデバイセズ社製）か
らなる測定手段Ａと、所定のプログラムがセットされた
マイクロコンピュータおよびＡ／Ｄ変換器等からなる演
算手段Ｂと、表示手段Ｃとからなる。
端を共通接続した複数の抵抗素子からなる多連抵抗素子
の各抵抗素子の抵抗値および共通電路の抵抗値を測定す
る、この発明の第１の実施の形態における抵抗値測定装
置の回路図を図１に示す。この抵抗値測定装置は、図１
に示すように、電流発生手段Ｄと、スイッチ手段Ｓと、
差動増幅器（ＡＤ６２０；アナログデバイセズ社製）か
らなる測定手段Ａと、所定のプログラムがセットされた
マイクロコンピュータおよびＡ／Ｄ変換器等からなる演
算手段Ｂと、表示手段Ｃとからなる。
【００５６】電流発生手段Ｄは、多連抵抗素子ＲＡの共
通端子Ｔc と複数の抵抗素子Ｒ1 〜Ｒn のうちの測定対
象の抵抗素子、例えばＲ1 の個別端子Ｔ1 との間に測定
電流Ｉを流す機能を有する。スイッチ手段Ｓは、測定対
象の抵抗素子Ｒ1 の個別端子Ｔ1 と複数の抵抗素子Ｒ1
〜Ｒn のうちの測定対象以外の他の抵抗素子、例えばＲ
n の個別端子Ｔn との間に現れる第１の端子間電圧Ｅn1
と多連抵抗素子ＲＡの共通端子Ｔc と測定対象の抵抗素
子Ｒ1 の個別端子Ｔ1 との間に現れる第２の端子間電圧
Ｅc1とを選択する機能を有する。
通端子Ｔc と複数の抵抗素子Ｒ1 〜Ｒn のうちの測定対
象の抵抗素子、例えばＲ1 の個別端子Ｔ1 との間に測定
電流Ｉを流す機能を有する。スイッチ手段Ｓは、測定対
象の抵抗素子Ｒ1 の個別端子Ｔ1 と複数の抵抗素子Ｒ1
〜Ｒn のうちの測定対象以外の他の抵抗素子、例えばＲ
n の個別端子Ｔn との間に現れる第１の端子間電圧Ｅn1
と多連抵抗素子ＲＡの共通端子Ｔc と測定対象の抵抗素
子Ｒ1 の個別端子Ｔ1 との間に現れる第２の端子間電圧
Ｅc1とを選択する機能を有する。
【００５７】測定手段Ａは、スイッチ手段Ｓを通して入
力された第１および第２の端子間電圧Ｅn1，Ｅc1をそれ
ぞれ測定する機能を有する。演算手段Ｂは、測定手段Ａ
による第１の端子間電圧Ｅn1の測定値Ｅn1′を測定電流
Ｉに相当する電流相当値ＥI で除算し、この除算した第
１の除算結果（Ｅn1′／ＥI ）を測定対象の抵抗素子Ｒ
1 の抵抗値として出力するとともに、測定手段Ｄによる
第２の端子間電圧Ｅc1の測定値Ｅc1′を電流相当値ＥI
で除算し、この除算した第２の除算結果（Ｅc1′／
ＥI ）から第１の除算結果（Ｅn1′／ＥI）を減算し、
この減算した減算結果を共通電路ｒの抵抗値として出力
する機能を有する。
力された第１および第２の端子間電圧Ｅn1，Ｅc1をそれ
ぞれ測定する機能を有する。演算手段Ｂは、測定手段Ａ
による第１の端子間電圧Ｅn1の測定値Ｅn1′を測定電流
Ｉに相当する電流相当値ＥI で除算し、この除算した第
１の除算結果（Ｅn1′／ＥI ）を測定対象の抵抗素子Ｒ
1 の抵抗値として出力するとともに、測定手段Ｄによる
第２の端子間電圧Ｅc1の測定値Ｅc1′を電流相当値ＥI
で除算し、この除算した第２の除算結果（Ｅc1′／
ＥI ）から第１の除算結果（Ｅn1′／ＥI）を減算し、
この減算した減算結果を共通電路ｒの抵抗値として出力
する機能を有する。
【００５８】表示手段Ｃは、演算手段Ｂの出力を表示す
る機能を有する。以下、この抵抗値測定装置について詳
しく説明する。この抵抗値測定装置は、電流発生手段Ｄ
の一端（正端子）を多連抵抗素子ＲＡの共通端子Ｔ1 に
接続し、電流発生手段Ｄの他端（負端子）を多連抵抗素
子ＲＡの個別端子Ｔ1 に接続して、共通端子Ｔc →共通
電路ｒ→共通接続点Ｐ→抵抗素子Ｒ1 →共通端子Ｔ1 の
経路で測定電流Ｉが流れるようにする。また、スイッチ
手段Ｓのａ側端子は、個別端子Ｔn に接続し、スイッチ
手段のｂ側端子は共通端子Ｔc に接続し、個別端子Ｔ1
を測定手段Ａである差動増幅器の反転入力端子に接続
し、スイッチ手段Ｓの共通端子ｃは差動増幅器の非反転
入力端子に接続する。そして、差動増幅器の出力を演算
手段Ｂに与えるとともに、電流発生手段Ｄから電流相当
値ＥI を演算手段Ｂに与え、表示手段Ｃは演算手段Ｂの
出力を表示する。
る機能を有する。以下、この抵抗値測定装置について詳
しく説明する。この抵抗値測定装置は、電流発生手段Ｄ
の一端（正端子）を多連抵抗素子ＲＡの共通端子Ｔ1 に
接続し、電流発生手段Ｄの他端（負端子）を多連抵抗素
子ＲＡの個別端子Ｔ1 に接続して、共通端子Ｔc →共通
電路ｒ→共通接続点Ｐ→抵抗素子Ｒ1 →共通端子Ｔ1 の
経路で測定電流Ｉが流れるようにする。また、スイッチ
手段Ｓのａ側端子は、個別端子Ｔn に接続し、スイッチ
手段のｂ側端子は共通端子Ｔc に接続し、個別端子Ｔ1
を測定手段Ａである差動増幅器の反転入力端子に接続
し、スイッチ手段Ｓの共通端子ｃは差動増幅器の非反転
入力端子に接続する。そして、差動増幅器の出力を演算
手段Ｂに与えるとともに、電流発生手段Ｄから電流相当
値ＥI を演算手段Ｂに与え、表示手段Ｃは演算手段Ｂの
出力を表示する。
【００５９】測定は、スイッチ手段をａ側に切り替え、
測定電流Ｉによって共通接続点Ｐと個別端子Ｔ1 の間に
生じる電圧、すなわち抵抗素子Ｒ1 の電圧降下Ｅ1 を抵
抗素子Ｒn を通して差動増幅器の非反転入力端子および
反転入力端子間に加える。なお、実際に差動増幅器の非
反転入力端子および反転入力端子間に加わるのは、個別
端子Ｔ1 ，Ｔ2 間に生じる端子間電圧Ｅn1であり、抵抗
素子Ｒ1 の電圧降下Ｅ 1 そのものが加えられるわけでは
ない。そして、差動増幅器からは端子間電圧Ｅ n1に比例
した測定値Ｅn1′（∝Ｅn1）が得られる。
測定電流Ｉによって共通接続点Ｐと個別端子Ｔ1 の間に
生じる電圧、すなわち抵抗素子Ｒ1 の電圧降下Ｅ1 を抵
抗素子Ｒn を通して差動増幅器の非反転入力端子および
反転入力端子間に加える。なお、実際に差動増幅器の非
反転入力端子および反転入力端子間に加わるのは、個別
端子Ｔ1 ，Ｔ2 間に生じる端子間電圧Ｅn1であり、抵抗
素子Ｒ1 の電圧降下Ｅ 1 そのものが加えられるわけでは
ない。そして、差動増幅器からは端子間電圧Ｅ n1に比例
した測定値Ｅn1′（∝Ｅn1）が得られる。
【００６０】しかし、前述したように、差動増幅器の入
力インピーダンスが抵抗素子Ｒ1 の抵抗値に比べて十分
に高くしているのはもちろんこと、抵抗素子Ｒn の抵抗
値に比べて十分に高い値とすることにより、Ｅn1＝Ｅ1
とみなすことができるので、差動増幅器から得られる測
定値Ｅn1′は抵抗素子Ｒ1 の電圧降下Ｅ1 に比例したも
のとなる。
力インピーダンスが抵抗素子Ｒ1 の抵抗値に比べて十分
に高くしているのはもちろんこと、抵抗素子Ｒn の抵抗
値に比べて十分に高い値とすることにより、Ｅn1＝Ｅ1
とみなすことができるので、差動増幅器から得られる測
定値Ｅn1′は抵抗素子Ｒ1 の電圧降下Ｅ1 に比例したも
のとなる。
【００６１】また、スイッチ手段Ｓをｂ側に切り替え、
測定電流Ｉによって共通端子Ｔc と個別端子Ｔ1 間に生
じる端子間電圧Ｅc1を差動増幅器の非反転入力端子およ
び反転入力端子間に加える。その結果、差動増幅器から
は端子間電圧Ｅc1に比例した測定値Ｅc1′（∝Ｅc1）が
得られる。測定値Ｅc1′は抵抗素子Ｒ1 と共通電路ｒの
抵抗値を加算したもの（Ｒ1 ＋ｒ）に相当する。
測定電流Ｉによって共通端子Ｔc と個別端子Ｔ1 間に生
じる端子間電圧Ｅc1を差動増幅器の非反転入力端子およ
び反転入力端子間に加える。その結果、差動増幅器から
は端子間電圧Ｅc1に比例した測定値Ｅc1′（∝Ｅc1）が
得られる。測定値Ｅc1′は抵抗素子Ｒ1 と共通電路ｒの
抵抗値を加算したもの（Ｒ1 ＋ｒ）に相当する。
【００６２】そして、測定値Ｅn1′を演算手段Ｂに加
え、演算手段ＢにてＥn1′／ＥI の演算を行うことで、
抵抗素子Ｒ1 の抵抗値に相当するものが得られ、その抵
抗値が表示手段Ｃで表示される。また、測定値Ｅc1′を
演算手段Ｂに与え、演算手段ＢにてＥc1′／ＥI の演算
を行い、さらに（Ｅc1′／ＥI −Ｅn1′／ＥI ）の演算
を行うことで、共通電路ｒの抵抗値に相当するものが得
られ、その抵抗値が表示手段Ｃで表示される。
え、演算手段ＢにてＥn1′／ＥI の演算を行うことで、
抵抗素子Ｒ1 の抵抗値に相当するものが得られ、その抵
抗値が表示手段Ｃで表示される。また、測定値Ｅc1′を
演算手段Ｂに与え、演算手段ＢにてＥc1′／ＥI の演算
を行い、さらに（Ｅc1′／ＥI −Ｅn1′／ＥI ）の演算
を行うことで、共通電路ｒの抵抗値に相当するものが得
られ、その抵抗値が表示手段Ｃで表示される。
【００６３】この抵抗値測定装置によれば、複数の抵抗
素子Ｒ1 〜Ｒn のうちの測定対象の抵抗素子Ｒ1 の両端
の電圧降下Ｅ1 を複数の抵抗素子Ｒ1 〜Ｒn のうちの測
定対象以外の他の抵抗素子Ｒn を通して測定するので、
共通電路ｒの抵抗の影響を受けずに測定対象の抵抗素子
Ｒ1 の抵抗値を測定することができる。また、端子間電
圧Ｅn1，Ｅc1を測定する測定手段として、測定対象以外
の他の抵抗素子Ｒn の抵抗値に比べて入力インピーダン
スが十分に高いものを用いることにより、測定対象以外
の他の抵抗素子Ｒn による誤差は無視できるものとな
り、測定対象の抵抗素子Ｒ1 の抵抗値を共通電路ｒの抵
抗の影響を受けずに正確に測定することができる。さら
に、測定対象の抵抗素子Ｒ1 の抵抗値と共通電路ｒの抵
抗値とが加算されたものを従来例と同様にして求め、そ
して、この求めた抵抗値から測定対象の抵抗素子Ｒ1 の
抵抗値を減じることにより、共通電路ｒの抵抗値を測定
することができる。
素子Ｒ1 〜Ｒn のうちの測定対象の抵抗素子Ｒ1 の両端
の電圧降下Ｅ1 を複数の抵抗素子Ｒ1 〜Ｒn のうちの測
定対象以外の他の抵抗素子Ｒn を通して測定するので、
共通電路ｒの抵抗の影響を受けずに測定対象の抵抗素子
Ｒ1 の抵抗値を測定することができる。また、端子間電
圧Ｅn1，Ｅc1を測定する測定手段として、測定対象以外
の他の抵抗素子Ｒn の抵抗値に比べて入力インピーダン
スが十分に高いものを用いることにより、測定対象以外
の他の抵抗素子Ｒn による誤差は無視できるものとな
り、測定対象の抵抗素子Ｒ1 の抵抗値を共通電路ｒの抵
抗の影響を受けずに正確に測定することができる。さら
に、測定対象の抵抗素子Ｒ1 の抵抗値と共通電路ｒの抵
抗値とが加算されたものを従来例と同様にして求め、そ
して、この求めた抵抗値から測定対象の抵抗素子Ｒ1 の
抵抗値を減じることにより、共通電路ｒの抵抗値を測定
することができる。
【００６４】なお、抵抗素子Ｒ1 に代えて、抵抗素子Ｒ
n の抵抗値を測定する場合には、個別端子Ｔ1 と個別端
子Ｔn の接続を逆に、つまり、個別端子Ｔn を電流発生
手段Ｄと差動増幅器の反転入力端子に接続し、個別端子
Ｔ1 をスイッチ手段Ｓのａ側端子に接続すればよい。ま
た、抵抗素子Ｒ1 〜Ｒn が多数存在する場合にも、測定
対象の抵抗素子の個別端子を電流発生手段Ｄと差動増幅
器の反転入力端子に接続し、測定対象以外の他のいずれ
か少なくとも一つの抵抗素子の個別端子をスイッチ手段
Ｓのａ側端子に接続すればよい。また、共通電路ｒの抵
抗値の測定が不要なら、スイッチ手段Ｓは不要であり、
個別端子Ｔn と測定手段Ａである差動増幅器の非反転入
力端子と直結すればよい。
n の抵抗値を測定する場合には、個別端子Ｔ1 と個別端
子Ｔn の接続を逆に、つまり、個別端子Ｔn を電流発生
手段Ｄと差動増幅器の反転入力端子に接続し、個別端子
Ｔ1 をスイッチ手段Ｓのａ側端子に接続すればよい。ま
た、抵抗素子Ｒ1 〜Ｒn が多数存在する場合にも、測定
対象の抵抗素子の個別端子を電流発生手段Ｄと差動増幅
器の反転入力端子に接続し、測定対象以外の他のいずれ
か少なくとも一つの抵抗素子の個別端子をスイッチ手段
Ｓのａ側端子に接続すればよい。また、共通電路ｒの抵
抗値の測定が不要なら、スイッチ手段Ｓは不要であり、
個別端子Ｔn と測定手段Ａである差動増幅器の非反転入
力端子と直結すればよい。
【００６５】〔抵抗値測定装置の第２の実施の形態〕一
端を共通接続した複数の抵抗素子からなる多連抵抗素子
の各抵抗素子の抵抗値および共通電路の抵抗値を測定す
る、この発明の第２の実施の形態における抵抗値測定装
置の回路図を図２に示す。この抵抗値測定装置は、図２
に示すように、図１の電流発生手段Ｄに代えて、一定の
規定測定電流ＩR を多連抵抗素子ＲＡに供給する電流発
生手段ＤＲを用いるとともに、電流発生手段ＤＲから電
流相当値ＥI を供給するのを止め、演算手段Ｂにおい
て、電流相当値ＥI で除算する代わり、演算手段Ｂの内
部で規定電流ＩR に対応した係数を設定したものであ
る。
端を共通接続した複数の抵抗素子からなる多連抵抗素子
の各抵抗素子の抵抗値および共通電路の抵抗値を測定す
る、この発明の第２の実施の形態における抵抗値測定装
置の回路図を図２に示す。この抵抗値測定装置は、図２
に示すように、図１の電流発生手段Ｄに代えて、一定の
規定測定電流ＩR を多連抵抗素子ＲＡに供給する電流発
生手段ＤＲを用いるとともに、電流発生手段ＤＲから電
流相当値ＥI を供給するのを止め、演算手段Ｂにおい
て、電流相当値ＥI で除算する代わり、演算手段Ｂの内
部で規定電流ＩR に対応した係数を設定したものであ
る。
【００６６】この実施の形態では、測定は、スイッチ手
段をａ側に切り替え、規定測定電流ＩR によって個別端
子Ｔn と個別端子Ｔ1 の間に生じる端子間電圧Ｅn1を差
動増幅器の非反転入力端子および反転入力端子間に加え
る。その結果、差動増幅器からは端子間電圧Ｅn1に比例
した測定値Ｅn1′（∝Ｅn1）が得られ、測定値Ｅn1′は
抵抗素子Ｒ1 の抵抗値に比例したものとなる。
段をａ側に切り替え、規定測定電流ＩR によって個別端
子Ｔn と個別端子Ｔ1 の間に生じる端子間電圧Ｅn1を差
動増幅器の非反転入力端子および反転入力端子間に加え
る。その結果、差動増幅器からは端子間電圧Ｅn1に比例
した測定値Ｅn1′（∝Ｅn1）が得られ、測定値Ｅn1′は
抵抗素子Ｒ1 の抵抗値に比例したものとなる。
【００６７】また、スイッチ手段Ｓをｂ側に切り替え、
規定測定電流ＩR によって共通端子Ｔc と個別端子Ｔ1
間に生じる端子間電圧Ｅc1を差動増幅器の非反転入力端
子および反転入力端子間に加える。その結果、差動増幅
器からは端子間電圧Ｅc1に比例した測定値Ｅc1′（∝Ｅ
c1）が得られ、測定値Ｅc1′は抵抗素子Ｒ1 と共通電路
ｒの抵抗値を加算したもの（Ｒ1 ＋ｒ）に相当する。
規定測定電流ＩR によって共通端子Ｔc と個別端子Ｔ1
間に生じる端子間電圧Ｅc1を差動増幅器の非反転入力端
子および反転入力端子間に加える。その結果、差動増幅
器からは端子間電圧Ｅc1に比例した測定値Ｅc1′（∝Ｅ
c1）が得られ、測定値Ｅc1′は抵抗素子Ｒ1 と共通電路
ｒの抵抗値を加算したもの（Ｒ1 ＋ｒ）に相当する。
【００６８】そして、測定値Ｅn1′が演算手段Ｂから抵
抗素子Ｒ1 の抵抗値に相当するものが出力され、その抵
抗値が表示手段Ｃで表示される。また、この測定値
Ｅc1′に対して（Ｅc1′−Ｅn1′）の演算を行うこと
で、共通電路ｒの抵抗値に相当するものが出力され、そ
の抵抗値が表示手段Ｃで表示される。この抵抗値測定装
置によると、定電流Ｉに相当する電流相当値ＥI で除算
する必要はないので、抵抗素子Ｒ1 ，Ｒn の抵抗値およ
び共通電路ｒの抵抗値を簡単な演算で求めることができ
る。その他の点については、第１の実施の形態の抵抗値
測定装置と同様である。
抗素子Ｒ1 の抵抗値に相当するものが出力され、その抵
抗値が表示手段Ｃで表示される。また、この測定値
Ｅc1′に対して（Ｅc1′−Ｅn1′）の演算を行うこと
で、共通電路ｒの抵抗値に相当するものが出力され、そ
の抵抗値が表示手段Ｃで表示される。この抵抗値測定装
置によると、定電流Ｉに相当する電流相当値ＥI で除算
する必要はないので、抵抗素子Ｒ1 ，Ｒn の抵抗値およ
び共通電路ｒの抵抗値を簡単な演算で求めることができ
る。その他の点については、第１の実施の形態の抵抗値
測定装置と同様である。
【００６９】〔抵抗値測定装置の第３の実施の形態〕一
端を共通接続した複数の抵抗素子からなる多連抵抗素子
の各抵抗素子の抵抗値および共通電路の抵抗値を測定す
る、この発明の第３の実施の形態における抵抗値測定装
置の回路図を図３に示す。この抵抗値測定装置は、図３
に示すように、図１のスイッチ手段Ｓで２種類の端子間
電圧Ｅn1，Ｅc1を選択的に差動増幅器からなる測定手段
Ａに加えるのに代えて、それぞれ差動増幅器（ＡＤ６２
０；アナログデバイセズ社製）からなる第１および第２
の測定手段Ａ1 ，Ａ2 を設け、演算手段Ｂに同時に測定
値Ｅn1′，Ｅc1′を供給するようにしたもので、その他
は第１の実施の形態の抵抗値測定装置と同様である。
端を共通接続した複数の抵抗素子からなる多連抵抗素子
の各抵抗素子の抵抗値および共通電路の抵抗値を測定す
る、この発明の第３の実施の形態における抵抗値測定装
置の回路図を図３に示す。この抵抗値測定装置は、図３
に示すように、図１のスイッチ手段Ｓで２種類の端子間
電圧Ｅn1，Ｅc1を選択的に差動増幅器からなる測定手段
Ａに加えるのに代えて、それぞれ差動増幅器（ＡＤ６２
０；アナログデバイセズ社製）からなる第１および第２
の測定手段Ａ1 ，Ａ2 を設け、演算手段Ｂに同時に測定
値Ｅn1′，Ｅc1′を供給するようにしたもので、その他
は第１の実施の形態の抵抗値測定装置と同様である。
【００７０】この実施の形態によると、スイッチ手段を
不要とできる。その他の効果は第１の実施の形態の抵抗
値測定装置と同様である。 〔抵抗値測定装置の第４の実施の形態〕一端を共通接続
した複数の抵抗素子からなる多連抵抗素子の各抵抗素子
の抵抗値および共通電路の抵抗値を測定する、この発明
の第４の実施の形態における抵抗値測定装置の回路図を
図４に示す。この抵抗値測定装置は、図４に示すよう
に、図２のスイッチ手段Ｓで２種類の端子間電圧Ｅn1，
Ｅc1を選択的に差動増幅器からなる測定手段Ａに加える
のに代えて、それぞれ差動増幅器（ＡＤ６２０；アナロ
グデバイセズ社製）からなる第１および第２の測定手段
Ａ1 ，Ａ2 を設け、演算手段Ｂに同時に測定値Ｅn1′，
Ｅc1′を供給するようにしたもので、その他は第１の実
施の形態の抵抗値測定装置と同様である。
不要とできる。その他の効果は第１の実施の形態の抵抗
値測定装置と同様である。 〔抵抗値測定装置の第４の実施の形態〕一端を共通接続
した複数の抵抗素子からなる多連抵抗素子の各抵抗素子
の抵抗値および共通電路の抵抗値を測定する、この発明
の第４の実施の形態における抵抗値測定装置の回路図を
図４に示す。この抵抗値測定装置は、図４に示すよう
に、図２のスイッチ手段Ｓで２種類の端子間電圧Ｅn1，
Ｅc1を選択的に差動増幅器からなる測定手段Ａに加える
のに代えて、それぞれ差動増幅器（ＡＤ６２０；アナロ
グデバイセズ社製）からなる第１および第２の測定手段
Ａ1 ，Ａ2 を設け、演算手段Ｂに同時に測定値Ｅn1′，
Ｅc1′を供給するようにしたもので、その他は第１の実
施の形態の抵抗値測定装置と同様である。
【００７１】この実施の形態によると、スイッチ手段を
不要とできる。その他の効果は第２の実施の形態の抵抗
値測定装置と同様である。 〔抵抗値測定装置の第５の実施の形態〕一端を共通接続
した複数の抵抗素子からなる多連抵抗素子の共通電路の
抵抗値を測定する、この発明の第５の実施の形態におけ
る抵抗値測定装置の回路図を図５に示す。この抵抗値測
定装置は、図５に示すように、電流発生手段Ｄと、差動
増幅器（ＡＤ６２０；アナログデバイセズ社製）からな
る測定手段Ａと、所定のプログラムがセットされたマイ
クロコンピュータおよびＡ／Ｄ変換器等からなる演算手
段Ｂと、表示手段Ｃとからなる。
不要とできる。その他の効果は第２の実施の形態の抵抗
値測定装置と同様である。 〔抵抗値測定装置の第５の実施の形態〕一端を共通接続
した複数の抵抗素子からなる多連抵抗素子の共通電路の
抵抗値を測定する、この発明の第５の実施の形態におけ
る抵抗値測定装置の回路図を図５に示す。この抵抗値測
定装置は、図５に示すように、電流発生手段Ｄと、差動
増幅器（ＡＤ６２０；アナログデバイセズ社製）からな
る測定手段Ａと、所定のプログラムがセットされたマイ
クロコンピュータおよびＡ／Ｄ変換器等からなる演算手
段Ｂと、表示手段Ｃとからなる。
【００７２】電流発生手段Ｄは、多連抵抗素子ＲＡの共
通端子Ｔc と複数の抵抗素子Ｒ1 〜Ｒn のうちのいずれ
か一つの抵抗素子、例えばＲ1 の個別端子Ｔ1 との間に
測定電流Ｉを流す機能を有する。測定手段Ａは、入力さ
れた端子間電圧Ｅcnを測定する機能を有する。演算手段
Ｂは、測定手段Ａによる端子間電圧Ｅcnを測定値Ｅcn′
を測定電流Ｉに相当する電流相当値ＥI で除算し、この
除算した除算結果（Ｅn1′／ＥI ）を共通電路ｒの抵抗
値として出力する機能を有する。
通端子Ｔc と複数の抵抗素子Ｒ1 〜Ｒn のうちのいずれ
か一つの抵抗素子、例えばＲ1 の個別端子Ｔ1 との間に
測定電流Ｉを流す機能を有する。測定手段Ａは、入力さ
れた端子間電圧Ｅcnを測定する機能を有する。演算手段
Ｂは、測定手段Ａによる端子間電圧Ｅcnを測定値Ｅcn′
を測定電流Ｉに相当する電流相当値ＥI で除算し、この
除算した除算結果（Ｅn1′／ＥI ）を共通電路ｒの抵抗
値として出力する機能を有する。
【００７３】表示手段Ｃは、演算手段Ｂの出力を表示す
る機能を有する。この実施の形態によると、共通電路ｒ
の電圧降下を複数の抵抗素子Ｒ1 〜Ｒnのうちの他の抵
抗素子Ｒn を通して測定するので、複数の抵抗素子Ｒ1
〜Ｒn のうちの何れかの一つの抵抗素子Ｒ1 の影響を受
けずに共通電路ｒの抵抗値を測定することができる。ま
た、端子間電圧Ｅn1を測定する測定手段Ａとして、他の
抵抗素子Ｒn の抵抗値に比べて入力インピーダンスが十
分に高いものを用いることにより、他の抵抗素子Ｒn に
よる誤差は無視できるものとなり、共通電路ｒの抵抗値
を複数の抵抗素子Ｒ1 〜Ｒn のうちの何れかの一つの抵
抗素子Ｒ1 の抵抗値の影響を受けずに正確に測定するこ
とができる。
る機能を有する。この実施の形態によると、共通電路ｒ
の電圧降下を複数の抵抗素子Ｒ1 〜Ｒnのうちの他の抵
抗素子Ｒn を通して測定するので、複数の抵抗素子Ｒ1
〜Ｒn のうちの何れかの一つの抵抗素子Ｒ1 の影響を受
けずに共通電路ｒの抵抗値を測定することができる。ま
た、端子間電圧Ｅn1を測定する測定手段Ａとして、他の
抵抗素子Ｒn の抵抗値に比べて入力インピーダンスが十
分に高いものを用いることにより、他の抵抗素子Ｒn に
よる誤差は無視できるものとなり、共通電路ｒの抵抗値
を複数の抵抗素子Ｒ1 〜Ｒn のうちの何れかの一つの抵
抗素子Ｒ1 の抵抗値の影響を受けずに正確に測定するこ
とができる。
【００７４】なお、この実施の形態では、共通電路ｒの
抵抗値を測定する点のみ説明したが、図１および図２に
示されたようにして抵抗素子Ｒ1 の抵抗値を測定する構
成に、この実施の形態で示した共通電路ｒの抵抗値を測
定する構成を組み合わせてものよい。また、図１および
図２の実施の形態では、例えば抵抗素子Ｒ1 の抵抗値を
求め、さらに、抵抗素子Ｒ1 と共通電路ｒの合成抵抗を
求め、後者から前者を減算することにより共通電路ｒの
抵抗値を求めたが、この実施の形態のようにして共通電
路ｒの抵抗値を求めた後、図１および図２の実施の形態
のようにして抵抗素子Ｒ1 と共通電路ｒの合成抵抗を求
め、後者から前者を減算することにより、抵抗素子Ｒ1
の抵抗値を求めてもよい。
抵抗値を測定する点のみ説明したが、図１および図２に
示されたようにして抵抗素子Ｒ1 の抵抗値を測定する構
成に、この実施の形態で示した共通電路ｒの抵抗値を測
定する構成を組み合わせてものよい。また、図１および
図２の実施の形態では、例えば抵抗素子Ｒ1 の抵抗値を
求め、さらに、抵抗素子Ｒ1 と共通電路ｒの合成抵抗を
求め、後者から前者を減算することにより共通電路ｒの
抵抗値を求めたが、この実施の形態のようにして共通電
路ｒの抵抗値を求めた後、図１および図２の実施の形態
のようにして抵抗素子Ｒ1 と共通電路ｒの合成抵抗を求
め、後者から前者を減算することにより、抵抗素子Ｒ1
の抵抗値を求めてもよい。
【００７５】また、抵抗素子Ｒ1 , Ｒn の抵抗値を求め
るだけなら、個別端子Ｔ1 , Ｔn 間に電流発生手段Ｄを
接続して測定電流Ｉを流し、共通端子Ｔc および個別端
子Ｔ 1 の端子間電圧を測定し、それを電流相当値ＥI で
除算することにより抵抗素子Ｒ1 の抵抗値を求めること
ができ、また共通端子Ｔc および個別端子Ｔn の端子間
電圧を測定し、それを電流相当値ＥI で除算することに
より抵抗素子Ｒn の抵抗値を求めることができる。
るだけなら、個別端子Ｔ1 , Ｔn 間に電流発生手段Ｄを
接続して測定電流Ｉを流し、共通端子Ｔc および個別端
子Ｔ 1 の端子間電圧を測定し、それを電流相当値ＥI で
除算することにより抵抗素子Ｒ1 の抵抗値を求めること
ができ、また共通端子Ｔc および個別端子Ｔn の端子間
電圧を測定し、それを電流相当値ＥI で除算することに
より抵抗素子Ｒn の抵抗値を求めることができる。
【００７６】〔抵抗値測定装置の第６の実施の形態〕一
端を共通接続した複数の抵抗素子からなる多連抵抗素子
の共通電路の抵抗値を測定する、この発明の第６の実施
の形態における抵抗値測定装置の回路図を図６に示す。
この抵抗値測定装置は、図６に示すように、図５の電流
発生手段Ｄに代えて、一定の規定測定電流ＩR を多連抵
抗素子ＲＡに供給する電流発生手段ＤＲを用いるととも
に、電流発生手段ＤＲから電流相当値ＥI を供給するの
を止め、演算手段Ｂにおいて、電流相当値ＥI で除算す
る代わり、演算手段Ｂの内部で規定電流ＩR に対応した
係数を設定したものである。
端を共通接続した複数の抵抗素子からなる多連抵抗素子
の共通電路の抵抗値を測定する、この発明の第６の実施
の形態における抵抗値測定装置の回路図を図６に示す。
この抵抗値測定装置は、図６に示すように、図５の電流
発生手段Ｄに代えて、一定の規定測定電流ＩR を多連抵
抗素子ＲＡに供給する電流発生手段ＤＲを用いるととも
に、電流発生手段ＤＲから電流相当値ＥI を供給するの
を止め、演算手段Ｂにおいて、電流相当値ＥI で除算す
る代わり、演算手段Ｂの内部で規定電流ＩR に対応した
係数を設定したものである。
【００７７】この実施の形態では、規定測定電流ＩR に
よって個別端子Ｔn と個別端子Ｔ1の間に生じる端子間
電圧Ｅcnを差動増幅器の非反転入力端子および反転入力
端子間に加える。その結果、差動増幅器からは端子間電
圧Ｅcnに比例した測定値Ｅcn′（∝Ｅcn）が得られ、測
定値Ｅcn′は共通電路ｒの抵抗値に比例したものとな
る。
よって個別端子Ｔn と個別端子Ｔ1の間に生じる端子間
電圧Ｅcnを差動増幅器の非反転入力端子および反転入力
端子間に加える。その結果、差動増幅器からは端子間電
圧Ｅcnに比例した測定値Ｅcn′（∝Ｅcn）が得られ、測
定値Ｅcn′は共通電路ｒの抵抗値に比例したものとな
る。
【００７８】この抵抗値測定装置によると、定電流Ｉに
相当する電流相当値ＥI で除算する必要はないので、共
通電路ｒの抵抗値を簡単な演算で求めることができる。
その他の点については、第５の実施の形態の抵抗値測定
装置と同様である。 〔抵抗値測定装置の第７の実施の形態〕一端を共通接続
した複数の抵抗素子からなる多連抵抗素子の共通電路の
抵抗値を測定する、この発明の第７の実施の形態におけ
る抵抗値測定装置の回路図を図７に示す。この抵抗値測
定装置は、図７に示すように、電流発生手段Ｄと、スイ
ッチ手段Ｓ1 〜Ｓ4 と、差動増幅器からなる測定手段Ａ
と、所定のプログラムがセットされたマイクロコンピュ
ータおよびＡ／Ｄ変換器等からなる演算手段Ｂと、表示
手段Ｃとからなる。
相当する電流相当値ＥI で除算する必要はないので、共
通電路ｒの抵抗値を簡単な演算で求めることができる。
その他の点については、第５の実施の形態の抵抗値測定
装置と同様である。 〔抵抗値測定装置の第７の実施の形態〕一端を共通接続
した複数の抵抗素子からなる多連抵抗素子の共通電路の
抵抗値を測定する、この発明の第７の実施の形態におけ
る抵抗値測定装置の回路図を図７に示す。この抵抗値測
定装置は、図７に示すように、電流発生手段Ｄと、スイ
ッチ手段Ｓ1 〜Ｓ4 と、差動増幅器からなる測定手段Ａ
と、所定のプログラムがセットされたマイクロコンピュ
ータおよびＡ／Ｄ変換器等からなる演算手段Ｂと、表示
手段Ｃとからなる。
【００７９】電流発生手段Ｄは、多連抵抗素子ＲＡに測
定電流Ｉを供給する機能を有する。測定手段Ａは、多連
抵抗素子ＲＡの共通端子Ｔc ，個別端子Ｔ1 ，Ｔ2 のう
ちの２個の間に生じる端子間電圧が入力される。スイッ
チ手段Ｓ1 〜Ｓ4 は互いに連動し、ａ側に切り替わった
ときには、電流発生手段Ｄからの測定電流Ｉを、共通端
子Ｔc →共通電路ｒ→共通接続点Ｐ→抵抗素子Ｒ1 →個
別端子Ｔ1 の経路で流し、共通端子Ｔc および個別端子
Ｔ1 間の端子間電圧Ｅc1を差動増幅器に与える。また、
ｂ側に切り替わったときには、電流発生手段Ｄからの測
定電流Ｉを、共通端子Ｔc →共通電路ｒ→共通接続点Ｐ
→抵抗素子Ｒn →個別端子Ｔn の経路で流し、共通端子
Ｔc および個別端子Ｔn 間の端子間電圧Ｅcnを差動増幅
器に与える。さらに、ｃ側に切り替わったときには、電
流発生手段Ｄからの測定電流Ｉを、個別端子Ｔ1 →抵抗
素子Ｒ1 →共通接続点Ｐ→抵抗素子Ｒn →個別端子Ｔn
の経路で流し、個別端子Ｔ1 および個別端子Ｔn 間の端
子間電圧Ｅ1nを差動増幅器に与える。
定電流Ｉを供給する機能を有する。測定手段Ａは、多連
抵抗素子ＲＡの共通端子Ｔc ，個別端子Ｔ1 ，Ｔ2 のう
ちの２個の間に生じる端子間電圧が入力される。スイッ
チ手段Ｓ1 〜Ｓ4 は互いに連動し、ａ側に切り替わった
ときには、電流発生手段Ｄからの測定電流Ｉを、共通端
子Ｔc →共通電路ｒ→共通接続点Ｐ→抵抗素子Ｒ1 →個
別端子Ｔ1 の経路で流し、共通端子Ｔc および個別端子
Ｔ1 間の端子間電圧Ｅc1を差動増幅器に与える。また、
ｂ側に切り替わったときには、電流発生手段Ｄからの測
定電流Ｉを、共通端子Ｔc →共通電路ｒ→共通接続点Ｐ
→抵抗素子Ｒn →個別端子Ｔn の経路で流し、共通端子
Ｔc および個別端子Ｔn 間の端子間電圧Ｅcnを差動増幅
器に与える。さらに、ｃ側に切り替わったときには、電
流発生手段Ｄからの測定電流Ｉを、個別端子Ｔ1 →抵抗
素子Ｒ1 →共通接続点Ｐ→抵抗素子Ｒn →個別端子Ｔn
の経路で流し、個別端子Ｔ1 および個別端子Ｔn 間の端
子間電圧Ｅ1nを差動増幅器に与える。
【００８０】差動増幅器からなる測定手段Ａは、端子間
電圧Ｅc1が入力される、それに比例した測定値Ｅc1′を
出力し、端子間電圧Ｅcnが入力される、それに比例した
測定値Ｅcn′を出力し、端子間電圧Ｅ1nが入力される、
それに比例した測定値Ｅ1n′を出力する。測定値Ｅc1′
は共通端子Ｔc および個別端子Ｔ1 間の合成抵抗Ｒ
c1（＝Ｒ1 ＋ｒ）に相当し、測定値Ｅcn′は共通端子Ｔ
c および個別端子Ｔn 間の合成抵抗Ｒcn（＝Ｒn ＋ｒ）
に相当し、測定値Ｅ1n′は個別端子Ｔ1 , Ｔn 間の合成
抵抗Ｒ1n（＝Ｒ1 ＋Ｒn ）に相当する。
電圧Ｅc1が入力される、それに比例した測定値Ｅc1′を
出力し、端子間電圧Ｅcnが入力される、それに比例した
測定値Ｅcn′を出力し、端子間電圧Ｅ1nが入力される、
それに比例した測定値Ｅ1n′を出力する。測定値Ｅc1′
は共通端子Ｔc および個別端子Ｔ1 間の合成抵抗Ｒ
c1（＝Ｒ1 ＋ｒ）に相当し、測定値Ｅcn′は共通端子Ｔ
c および個別端子Ｔn 間の合成抵抗Ｒcn（＝Ｒn ＋ｒ）
に相当し、測定値Ｅ1n′は個別端子Ｔ1 , Ｔn 間の合成
抵抗Ｒ1n（＝Ｒ1 ＋Ｒn ）に相当する。
【００８１】演算手段Ｂでは、測定値Ｅc1′，Ｅcn′，
Ｅ1n′をそれぞれ測定電流Ｉに相当する電流相当値ＥI
で除算することで、合成抵抗Ｒc1，Ｒcn，Ｒ1nを求め、
例えば以下のような演算を行うことで、共通電路ｒの抵
抗値を求める。 （Ｒc1＋Ｒcn−Ｒ1n）／２＝（Ｒ1 ＋ｒ）＋（Ｒn ＋ｒ）−（Ｒ1 ＋Ｒn ）／２ ＝ｒ また、抵抗素子Ｒ1 ，Ｒ2 の抵抗値は、例えば以下のよ
うな演算で求まる。
Ｅ1n′をそれぞれ測定電流Ｉに相当する電流相当値ＥI
で除算することで、合成抵抗Ｒc1，Ｒcn，Ｒ1nを求め、
例えば以下のような演算を行うことで、共通電路ｒの抵
抗値を求める。 （Ｒc1＋Ｒcn−Ｒ1n）／２＝（Ｒ1 ＋ｒ）＋（Ｒn ＋ｒ）−（Ｒ1 ＋Ｒn ）／２ ＝ｒ また、抵抗素子Ｒ1 ，Ｒ2 の抵抗値は、例えば以下のよ
うな演算で求まる。
【００８２】Ｒ1 ＝Ｒc1−ｒ Ｒ2 ＝Ｒcn−ｒ この抵抗値測定装置によると、多連抵抗素子ＲＡの共通
端子Ｔc と複数の抵抗素子Ｒ1 〜Ｒn の個別端子Ｔ1 〜
Ｔn のうちの２つの端子間に測定電流Ｉを流し、それら
２つの端子間に生じる端子間電圧を測定し、この測定処
理を端子の組み合わせを異ならせて複数の端子間電圧、
例えばＥc1，Ｅcn，Ｅn1を求め、端子間電圧Ｅc1，
Ｅcn，Ｅn1の測定値Ｅc1′，Ｅcn′，Ｅn1′を電流相当
値ＥI でそれぞれ除算して各端子間の抵抗値Ｒc1，
Ｒcn，Ｒn1を求め、求めた各端子間の抵抗値Ｒc1，
Ｒcn，Ｒn1と、各端子間の抵抗値Ｒc1，Ｒcn，Ｒn1と共
通電路ｒの抵抗および複数の抵抗素子Ｒ1 ，Ｒn との関
係式に基づいて演算するので、多連抵抗素子ＲＡを構成
する各抵抗素子Ｒ1 ，Ｒn の共通接続点と共通端子Ｔc
との間の共通電路ｒの抵抗値の影響を受けずに、多連抵
抗素子ＲＡを構成する各抵抗素子Ｒ1 ，Ｒn の抵抗値を
測定することができ、また各抵抗素子Ｒ1 ，Ｒn の共通
接続点と共通端子Ｔc との間の共通電路ｒの抵抗値を測
定することができる。
端子Ｔc と複数の抵抗素子Ｒ1 〜Ｒn の個別端子Ｔ1 〜
Ｔn のうちの２つの端子間に測定電流Ｉを流し、それら
２つの端子間に生じる端子間電圧を測定し、この測定処
理を端子の組み合わせを異ならせて複数の端子間電圧、
例えばＥc1，Ｅcn，Ｅn1を求め、端子間電圧Ｅc1，
Ｅcn，Ｅn1の測定値Ｅc1′，Ｅcn′，Ｅn1′を電流相当
値ＥI でそれぞれ除算して各端子間の抵抗値Ｒc1，
Ｒcn，Ｒn1を求め、求めた各端子間の抵抗値Ｒc1，
Ｒcn，Ｒn1と、各端子間の抵抗値Ｒc1，Ｒcn，Ｒn1と共
通電路ｒの抵抗および複数の抵抗素子Ｒ1 ，Ｒn との関
係式に基づいて演算するので、多連抵抗素子ＲＡを構成
する各抵抗素子Ｒ1 ，Ｒn の共通接続点と共通端子Ｔc
との間の共通電路ｒの抵抗値の影響を受けずに、多連抵
抗素子ＲＡを構成する各抵抗素子Ｒ1 ，Ｒn の抵抗値を
測定することができ、また各抵抗素子Ｒ1 ，Ｒn の共通
接続点と共通端子Ｔc との間の共通電路ｒの抵抗値を測
定することができる。
【００８３】なお、上述の実施の形態では、共通端子Ｔ
c および個別端子Ｔ1 間の端子間電圧Ｅc1、共通端子Ｔ
c および個別端子Ｔn 間の端子間電圧Ｅcn、個別端子Ｔ
1 ，Ｔn 間の端子間電圧Ｅn1を求めて、共通電路ｒの抵
抗および複数の抵抗素子Ｒ1，Ｒn の抵抗値を求めてい
るが、端子間電圧を測定する２つの端子の組み合わせを
異ならせることにより、他の抵抗素子の抵抗値を測定す
ることもできる。また、上記の説明では、端子の組み合
わせの異なる３種類の端子間電圧を求めて、それらを所
定の関係式に従って演算することにより、共通電路の抵
抗値と２つの抵抗素子の抵抗値を求めたが、４種類以上
の端子間電圧を求めて、それらを所定の関係式に従って
演算することにより、共通電路の抵抗値と３つ以上の抵
抗素子の抵抗値を求めることができる。なお、演算に要
する関係式は、多連抵抗素子の共通電路と各抵抗素子と
共通端子および個別端子の接続関係から容易に求まるも
のであり、特に関係式の説明は省略する。
c および個別端子Ｔ1 間の端子間電圧Ｅc1、共通端子Ｔ
c および個別端子Ｔn 間の端子間電圧Ｅcn、個別端子Ｔ
1 ，Ｔn 間の端子間電圧Ｅn1を求めて、共通電路ｒの抵
抗および複数の抵抗素子Ｒ1，Ｒn の抵抗値を求めてい
るが、端子間電圧を測定する２つの端子の組み合わせを
異ならせることにより、他の抵抗素子の抵抗値を測定す
ることもできる。また、上記の説明では、端子の組み合
わせの異なる３種類の端子間電圧を求めて、それらを所
定の関係式に従って演算することにより、共通電路の抵
抗値と２つの抵抗素子の抵抗値を求めたが、４種類以上
の端子間電圧を求めて、それらを所定の関係式に従って
演算することにより、共通電路の抵抗値と３つ以上の抵
抗素子の抵抗値を求めることができる。なお、演算に要
する関係式は、多連抵抗素子の共通電路と各抵抗素子と
共通端子および個別端子の接続関係から容易に求まるも
のであり、特に関係式の説明は省略する。
【００８４】〔抵抗値測定装置の第８の実施の形態〕多
連抵抗素子の各抵抗素子の抵抗値（直流抵抗）および共
通電路の抵抗値（直流抵抗値）を測定する、この発明の
第８の実施の形態の抵抗値測定方法を図８を参照しなが
ら説明する。この抵抗値測定方法は、図７の電流発生手
段Ｄに代えて、一定の規定測定電流ＩR を多連抵抗素子
ＲＡに供給する電流発生手段ＤＲを用いるとともに、電
流発生手段ＤＲから電流相当値ＥI を供給するのを止
め、演算手段Ｂにおいて、電流相当値ＥI で除算する代
わり、演算手段Ｂの内部で規定電流ＩR に対応した係数
を設定したものである。
連抵抗素子の各抵抗素子の抵抗値（直流抵抗）および共
通電路の抵抗値（直流抵抗値）を測定する、この発明の
第８の実施の形態の抵抗値測定方法を図８を参照しなが
ら説明する。この抵抗値測定方法は、図７の電流発生手
段Ｄに代えて、一定の規定測定電流ＩR を多連抵抗素子
ＲＡに供給する電流発生手段ＤＲを用いるとともに、電
流発生手段ＤＲから電流相当値ＥI を供給するのを止
め、演算手段Ｂにおいて、電流相当値ＥI で除算する代
わり、演算手段Ｂの内部で規定電流ＩR に対応した係数
を設定したものである。
【００８５】この実施の形態では、規定測定電流ＩR に
よって個別端子Ｔn と個別端子Ｔ1の間に生じる端子間
電圧Ｅc1，Ｅcn，Ｅ1nを差動増幅器の非反転入力端子お
よび反転入力端子間に加える。その結果、差動増幅器か
らは端子間電圧Ｅc1，Ｅcn，Ｅ1nに比例した測定値
Ｅc1′，Ｅcn′，Ｅ1n′が得られ、測定値Ｅc1′，
Ｅcn′，Ｅ1n′は抵抗値Ｒc1 ,Ｒcn，Ｒ1nに比例したも
のとなり、演算手段では、電流相当値ＥI で除算するこ
となしに、抵抗値Ｒc1，Ｒcn，Ｒn1から共通電路ｒの抵
抗および複数の抵抗素子Ｒ1 ，Ｒn の抵抗値を算出す
る。
よって個別端子Ｔn と個別端子Ｔ1の間に生じる端子間
電圧Ｅc1，Ｅcn，Ｅ1nを差動増幅器の非反転入力端子お
よび反転入力端子間に加える。その結果、差動増幅器か
らは端子間電圧Ｅc1，Ｅcn，Ｅ1nに比例した測定値
Ｅc1′，Ｅcn′，Ｅ1n′が得られ、測定値Ｅc1′，
Ｅcn′，Ｅ1n′は抵抗値Ｒc1 ,Ｒcn，Ｒ1nに比例したも
のとなり、演算手段では、電流相当値ＥI で除算するこ
となしに、抵抗値Ｒc1，Ｒcn，Ｒn1から共通電路ｒの抵
抗および複数の抵抗素子Ｒ1 ，Ｒn の抵抗値を算出す
る。
【００８６】この抵抗値測定装置によると、定電流Ｉに
相当する電流相当値ＥI で除算する必要はないので、抵
抗素子Ｒ1 ，Ｒn の抵抗値および共通電路ｒの抵抗値を
簡単な演算で求めることができる。その他の点について
は、第７の実施の形態の抵抗値測定方法と同様である。 〔抵抗値測定装置の第９の実施の形態〕多連抵抗素子の
各抵抗素子の抵抗値（直流抵抗）および共通電路の抵抗
値（直流抵抗値）を測定する、この発明の第９の実施の
形態の抵抗値測定方法を図９を参照しながら説明する。
この抵抗値測定方法は、図１の多連抵抗素子ＲＡと電流
発生手段Ｄ，測定手段Ａおよびスイッチ手段Ｓの間に、
スイッチ手段ＳA1，ＳA2，ＳA3をそれぞれ介挿し、抵抗
素子Ｒ1 〜Ｒn の抵抗値を測定するときの、個別端子Ｔ
1 〜Ｔn と電流発生手段Ｄ，測定手段Ａおよびスイッチ
手段Ｓとのつなぎ替えを、スイッチ手段ＳA1，ＳA2，Ｓ
A3を切り替えによって実現するようにしたものである。
その他の構成は図１の抵抗値測定装置と同様である。
相当する電流相当値ＥI で除算する必要はないので、抵
抗素子Ｒ1 ，Ｒn の抵抗値および共通電路ｒの抵抗値を
簡単な演算で求めることができる。その他の点について
は、第７の実施の形態の抵抗値測定方法と同様である。 〔抵抗値測定装置の第９の実施の形態〕多連抵抗素子の
各抵抗素子の抵抗値（直流抵抗）および共通電路の抵抗
値（直流抵抗値）を測定する、この発明の第９の実施の
形態の抵抗値測定方法を図９を参照しながら説明する。
この抵抗値測定方法は、図１の多連抵抗素子ＲＡと電流
発生手段Ｄ，測定手段Ａおよびスイッチ手段Ｓの間に、
スイッチ手段ＳA1，ＳA2，ＳA3をそれぞれ介挿し、抵抗
素子Ｒ1 〜Ｒn の抵抗値を測定するときの、個別端子Ｔ
1 〜Ｔn と電流発生手段Ｄ，測定手段Ａおよびスイッチ
手段Ｓとのつなぎ替えを、スイッチ手段ＳA1，ＳA2，Ｓ
A3を切り替えによって実現するようにしたものである。
その他の構成は図１の抵抗値測定装置と同様である。
【００８７】この場合、スイッチ手段ＳA1，ＳA2，ＳA3
は、複数の抵抗素子Ｒ1 〜Ｒn のうちの何れか一つを電
流発生手段Ｄおよび測定手段Ａの反転入力端子に選択的
に接続するよう切り替えたときに、複数の抵抗素子Ｒ1
〜Ｒn のうちの残りの何れか少なくとも一つをスイッチ
手段Ｓに選択的に接続するように切り替えられる。この
ように、スイッチ手段ＳA1，ＳA2，ＳA3を設けると、自
動測定を行うときに、多連抵抗素子ＲＡの個別端子Ｔ1
〜Ｔn に対してプローブ等を何回も接続しなおすことが
不要となり、測定を高速に行うことができる。その他の
効果は第１の実施の形態と同様である。
は、複数の抵抗素子Ｒ1 〜Ｒn のうちの何れか一つを電
流発生手段Ｄおよび測定手段Ａの反転入力端子に選択的
に接続するよう切り替えたときに、複数の抵抗素子Ｒ1
〜Ｒn のうちの残りの何れか少なくとも一つをスイッチ
手段Ｓに選択的に接続するように切り替えられる。この
ように、スイッチ手段ＳA1，ＳA2，ＳA3を設けると、自
動測定を行うときに、多連抵抗素子ＲＡの個別端子Ｔ1
〜Ｔn に対してプローブ等を何回も接続しなおすことが
不要となり、測定を高速に行うことができる。その他の
効果は第１の実施の形態と同様である。
【００８８】なお、スイッチ手段ＳA1，ＳA2，ＳA3は、
図２に示した抵抗値測定装置にも適用でき、上記と同様
の効果が得られる。 〔抵抗値測定装置の第１０の実施の形態〕多連抵抗素子
の各抵抗素子の抵抗値（直流抵抗）および共通電路の抵
抗値（直流抵抗値）を測定する、この発明の第１０の実
施の形態の抵抗値測定方法を図９を参照しながら説明す
る。この抵抗値測定方法は、図３の多連抵抗素子ＲＡと
電流発生手段Ｄおよび測定手段Ａ1 ，Ａ2 の間に、スイ
ッチ手段ＳA1，ＳA2，ＳA3をそれぞれ介挿し、抵抗素子
Ｒ1 〜Ｒn の抵抗値を測定するときの、個別端子Ｔ 1 〜
Ｔn と電流発生手段Ｄおよび測定手段Ａ1 ，Ａ2 とのつ
なぎ替えを、スイッチ手段ＳA1，ＳA2，ＳA3を切り替え
によって実現するようにしたものである。その他の構成
は図３の抵抗値測定装置と同様である。
図２に示した抵抗値測定装置にも適用でき、上記と同様
の効果が得られる。 〔抵抗値測定装置の第１０の実施の形態〕多連抵抗素子
の各抵抗素子の抵抗値（直流抵抗）および共通電路の抵
抗値（直流抵抗値）を測定する、この発明の第１０の実
施の形態の抵抗値測定方法を図９を参照しながら説明す
る。この抵抗値測定方法は、図３の多連抵抗素子ＲＡと
電流発生手段Ｄおよび測定手段Ａ1 ，Ａ2 の間に、スイ
ッチ手段ＳA1，ＳA2，ＳA3をそれぞれ介挿し、抵抗素子
Ｒ1 〜Ｒn の抵抗値を測定するときの、個別端子Ｔ 1 〜
Ｔn と電流発生手段Ｄおよび測定手段Ａ1 ，Ａ2 とのつ
なぎ替えを、スイッチ手段ＳA1，ＳA2，ＳA3を切り替え
によって実現するようにしたものである。その他の構成
は図３の抵抗値測定装置と同様である。
【００８９】この場合、スイッチ手段ＳA1，ＳA2，ＳA3
は、複数の抵抗素子Ｒ1 〜Ｒn のうちの何れか一つを電
流発生手段Ｄおよび測定手段Ａ1 ，Ａ2 の反転入力端子
に選択的に接続するように切り替えたときに、複数の抵
抗素子Ｒ1 〜Ｒn のうちの残りの何れか少なくとも一つ
を測定手段Ａ1 の非反転入力端子に選択的に接続するよ
うに切り替えられる。
は、複数の抵抗素子Ｒ1 〜Ｒn のうちの何れか一つを電
流発生手段Ｄおよび測定手段Ａ1 ，Ａ2 の反転入力端子
に選択的に接続するように切り替えたときに、複数の抵
抗素子Ｒ1 〜Ｒn のうちの残りの何れか少なくとも一つ
を測定手段Ａ1 の非反転入力端子に選択的に接続するよ
うに切り替えられる。
【００９０】このように、スイッチ手段ＳA1，ＳA2，Ｓ
A3を設けると、自動測定を行うときに、多連抵抗素子Ｒ
Ａの個別端子Ｔ1 〜Ｔn に対してプローブ等を何回も接
続しなおすことが不要となり、測定を高速に行うことが
できる。その他の効果は第３の実施の形態と同様であ
る。なお、スイッチ手段ＳA1，ＳA2，ＳA3は、図４に示
した抵抗値測定装置にも適用でき、上記と同様の効果が
得られる。
A3を設けると、自動測定を行うときに、多連抵抗素子Ｒ
Ａの個別端子Ｔ1 〜Ｔn に対してプローブ等を何回も接
続しなおすことが不要となり、測定を高速に行うことが
できる。その他の効果は第３の実施の形態と同様であ
る。なお、スイッチ手段ＳA1，ＳA2，ＳA3は、図４に示
した抵抗値測定装置にも適用でき、上記と同様の効果が
得られる。
【００９１】なお、上記各実施の形態では、電流発生手
段が直流電流を発生するものであったが、電流発生手段
を交流電流を発生するものとすれば、交流抵抗を測定す
ることが可能である。
段が直流電流を発生するものであったが、電流発生手段
を交流電流を発生するものとすれば、交流抵抗を測定す
ることが可能である。
【００９２】
【発明の効果】請求項１記載の抵抗値測定方法よれば、
複数の抵抗素子のうちの測定対象の抵抗素子の両端の電
圧降下を複数の抵抗素子のうちの測定対象以外の他の抵
抗素子を通して測定するので、共通電路の抵抗の影響を
受けずに測定対象の抵抗素子の抵抗値を測定することが
できる。また、端子間電圧を測定する測定手段として、
測定対象以外の他の抵抗素子の抵抗値に比べて入力イン
ピーダンスが十分に高いものを用いることにより、測定
対象以外の他の抵抗素子による誤差は無視できるものと
なり、測定対象の抵抗素子の抵抗値を共通電路の抵抗の
影響を受けずに正確に測定することができる。
複数の抵抗素子のうちの測定対象の抵抗素子の両端の電
圧降下を複数の抵抗素子のうちの測定対象以外の他の抵
抗素子を通して測定するので、共通電路の抵抗の影響を
受けずに測定対象の抵抗素子の抵抗値を測定することが
できる。また、端子間電圧を測定する測定手段として、
測定対象以外の他の抵抗素子の抵抗値に比べて入力イン
ピーダンスが十分に高いものを用いることにより、測定
対象以外の他の抵抗素子による誤差は無視できるものと
なり、測定対象の抵抗素子の抵抗値を共通電路の抵抗の
影響を受けずに正確に測定することができる。
【００９３】請求項２記載の抵抗値測定方法によれば、
請求項１と同様の効果を奏し、しかも、測定電流に相当
する電流相当値で除算する必要はないので、抵抗素子の
抵抗値を簡単な演算で求めることができる。請求項３記
載の抵抗値測定方法によれば、複数の抵抗素子のうちの
測定対象の抵抗素子の両端の電圧降下を複数の抵抗素子
のうちの測定対象以外の他の抵抗素子を通して測定する
ので、共通電路の抵抗の影響を受けずに測定対象の抵抗
素子の抵抗値を測定することができる。また、端子間電
圧を測定する測定手段として、測定対象以外の他の抵抗
素子の抵抗値に比べて入力インピーダンスが十分に高い
ものを用いることにより、測定対象以外の他の抵抗素子
による誤差は無視できるものとなり、測定対象の抵抗素
子の抵抗値を共通電路の抵抗の影響を受けずに正確に測
定することができる。さらに、測定対象の抵抗素子の抵
抗値と共通電路の抵抗値とが加算されたものを従来例と
同様にして求め、そして、この求めた抵抗値から測定対
象の抵抗素子の抵抗値を減じることにより、共通電路の
抵抗値を測定することができる。
請求項１と同様の効果を奏し、しかも、測定電流に相当
する電流相当値で除算する必要はないので、抵抗素子の
抵抗値を簡単な演算で求めることができる。請求項３記
載の抵抗値測定方法によれば、複数の抵抗素子のうちの
測定対象の抵抗素子の両端の電圧降下を複数の抵抗素子
のうちの測定対象以外の他の抵抗素子を通して測定する
ので、共通電路の抵抗の影響を受けずに測定対象の抵抗
素子の抵抗値を測定することができる。また、端子間電
圧を測定する測定手段として、測定対象以外の他の抵抗
素子の抵抗値に比べて入力インピーダンスが十分に高い
ものを用いることにより、測定対象以外の他の抵抗素子
による誤差は無視できるものとなり、測定対象の抵抗素
子の抵抗値を共通電路の抵抗の影響を受けずに正確に測
定することができる。さらに、測定対象の抵抗素子の抵
抗値と共通電路の抵抗値とが加算されたものを従来例と
同様にして求め、そして、この求めた抵抗値から測定対
象の抵抗素子の抵抗値を減じることにより、共通電路の
抵抗値を測定することができる。
【００９４】請求項４記載の抵抗値測定方法によれば、
請求項３と同様の効果を奏し、しかも、測定電流に相当
する電流相当値で除算する必要はないので、抵抗素子の
抵抗値を簡単な演算で求めることができる。請求項５記
載の抵抗値測定方法によれば、共通電路の電圧降下を複
数の抵抗素子のうちの他の抵抗素子を通して測定するの
で、複数の抵抗素子のうちの何れかの一つの抵抗素子の
影響を受けずに共通電路の抵抗値を測定することができ
る。また、端子間電圧を測定する測定手段として、他の
抵抗素子の抵抗値に比べて入力インピーダンスが十分に
高いものを用いることにより、他の抵抗素子による誤差
は無視できるものとなり、共通電路の抵抗値を複数の抵
抗素子のうちの何れかの一つの抵抗素子の抵抗値の影響
を受けずに正確に測定することができる。
請求項３と同様の効果を奏し、しかも、測定電流に相当
する電流相当値で除算する必要はないので、抵抗素子の
抵抗値を簡単な演算で求めることができる。請求項５記
載の抵抗値測定方法によれば、共通電路の電圧降下を複
数の抵抗素子のうちの他の抵抗素子を通して測定するの
で、複数の抵抗素子のうちの何れかの一つの抵抗素子の
影響を受けずに共通電路の抵抗値を測定することができ
る。また、端子間電圧を測定する測定手段として、他の
抵抗素子の抵抗値に比べて入力インピーダンスが十分に
高いものを用いることにより、他の抵抗素子による誤差
は無視できるものとなり、共通電路の抵抗値を複数の抵
抗素子のうちの何れかの一つの抵抗素子の抵抗値の影響
を受けずに正確に測定することができる。
【００９５】請求項６記載の抵抗値測定方法によれば、
請求項５と同様の効果を奏し、しかも、測定電流に相当
する電流相当値で除算する必要はないので、抵抗素子の
抵抗値を簡単な演算で求めることができる。請求項７記
載の抵抗値測定方法によれば、多連抵抗素子の共通端子
と複数の抵抗素子の個別端子のうちの２つの端子間に測
定電流を流し、それら２つの端子間に生じる端子間電圧
を測定し、この測定処理を端子の組み合わせを異ならせ
て実行して複数の端子間電圧を求め、端子間電圧を電流
相当値でそれぞれ除算して各端子間の抵抗値を求め、求
めた各端子間の抵抗値と、各端子間の抵抗値と共通電路
の抵抗および複数の抵抗素子との関係式に基づいて演算
するので、多連抵抗素子を構成する各抵抗素子の共通接
続点と共通端子との間の共通電路の抵抗値の影響を受け
ずに、多連抵抗素子を構成する各抵抗素子の抵抗値を測
定することができ、また各抵抗素子の共通接続点と共通
端子との間の共通電路の抵抗値を測定することができ
る。
請求項５と同様の効果を奏し、しかも、測定電流に相当
する電流相当値で除算する必要はないので、抵抗素子の
抵抗値を簡単な演算で求めることができる。請求項７記
載の抵抗値測定方法によれば、多連抵抗素子の共通端子
と複数の抵抗素子の個別端子のうちの２つの端子間に測
定電流を流し、それら２つの端子間に生じる端子間電圧
を測定し、この測定処理を端子の組み合わせを異ならせ
て実行して複数の端子間電圧を求め、端子間電圧を電流
相当値でそれぞれ除算して各端子間の抵抗値を求め、求
めた各端子間の抵抗値と、各端子間の抵抗値と共通電路
の抵抗および複数の抵抗素子との関係式に基づいて演算
するので、多連抵抗素子を構成する各抵抗素子の共通接
続点と共通端子との間の共通電路の抵抗値の影響を受け
ずに、多連抵抗素子を構成する各抵抗素子の抵抗値を測
定することができ、また各抵抗素子の共通接続点と共通
端子との間の共通電路の抵抗値を測定することができ
る。
【００９６】請求項８記載の抵抗値測定方法によれば、
請求項７と同様の効果を奏し、しかも、測定電流に相当
する電流相当値で除算する必要はないので、抵抗素子の
抵抗値を簡単な演算で求めることができる。請求項９記
載の抵抗値測定装置によれば、複数の抵抗素子のうちの
測定対象の抵抗素子の両端の電圧降下を複数の抵抗素子
のうちの測定対象以外の他の抵抗素子を通して測定する
ので、共通電路の抵抗の影響を受けずに測定対象の抵抗
素子の抵抗値を測定することができる。また、端子間電
圧を測定する測定手段として、測定対象以外の他の抵抗
素子の抵抗値に比べて入力インピーダンスが十分に高い
ものを用いることにより、測定対象以外の他の抵抗素子
による誤差は無視できるものとなり、測定対象の抵抗素
子の抵抗値を共通電路の抵抗の影響を受けずに正確に測
定することができる。
請求項７と同様の効果を奏し、しかも、測定電流に相当
する電流相当値で除算する必要はないので、抵抗素子の
抵抗値を簡単な演算で求めることができる。請求項９記
載の抵抗値測定装置によれば、複数の抵抗素子のうちの
測定対象の抵抗素子の両端の電圧降下を複数の抵抗素子
のうちの測定対象以外の他の抵抗素子を通して測定する
ので、共通電路の抵抗の影響を受けずに測定対象の抵抗
素子の抵抗値を測定することができる。また、端子間電
圧を測定する測定手段として、測定対象以外の他の抵抗
素子の抵抗値に比べて入力インピーダンスが十分に高い
ものを用いることにより、測定対象以外の他の抵抗素子
による誤差は無視できるものとなり、測定対象の抵抗素
子の抵抗値を共通電路の抵抗の影響を受けずに正確に測
定することができる。
【００９７】請求項１０記載の抵抗値測定装置によれ
ば、請求項１０と同様の効果を奏し、しかも、測定電流
に相当する電流相当値で除算する必要はないので、抵抗
素子の抵抗値を簡単な演算で求めることができる。請求
項１１記載の抵抗値測定装置によれば、複数の抵抗素子
のうちの測定対象の抵抗素子の両端の電圧降下を複数の
抵抗素子のうちの測定対象以外の他の抵抗素子を通して
測定するので、共通電路の抵抗の影響を受けずに測定対
象の抵抗素子の抵抗値を測定することができる。また、
端子間電圧を測定する測定手段として、測定対象以外の
他の抵抗素子の抵抗値に比べて入力インピーダンスが十
分に高いものを用いることにより、測定対象以外の他の
抵抗素子による誤差は無視できるものとなり、測定対象
の抵抗素子の抵抗値を共通電路の抵抗の影響を受けずに
正確に測定することができる。さらに、測定対象の抵抗
素子の抵抗値と共通電路の抵抗値とが加算されたものを
従来例と同様にして求め、そして、この求めた抵抗値か
ら測定対象の抵抗素子の抵抗値を減じることにより、共
通電路の抵抗値を測定することができる。
ば、請求項１０と同様の効果を奏し、しかも、測定電流
に相当する電流相当値で除算する必要はないので、抵抗
素子の抵抗値を簡単な演算で求めることができる。請求
項１１記載の抵抗値測定装置によれば、複数の抵抗素子
のうちの測定対象の抵抗素子の両端の電圧降下を複数の
抵抗素子のうちの測定対象以外の他の抵抗素子を通して
測定するので、共通電路の抵抗の影響を受けずに測定対
象の抵抗素子の抵抗値を測定することができる。また、
端子間電圧を測定する測定手段として、測定対象以外の
他の抵抗素子の抵抗値に比べて入力インピーダンスが十
分に高いものを用いることにより、測定対象以外の他の
抵抗素子による誤差は無視できるものとなり、測定対象
の抵抗素子の抵抗値を共通電路の抵抗の影響を受けずに
正確に測定することができる。さらに、測定対象の抵抗
素子の抵抗値と共通電路の抵抗値とが加算されたものを
従来例と同様にして求め、そして、この求めた抵抗値か
ら測定対象の抵抗素子の抵抗値を減じることにより、共
通電路の抵抗値を測定することができる。
【００９８】請求項１２記載の抵抗値測定装置によれ
ば、請求項１１と同様の効果を奏し、しかも、測定電流
に相当する電流相当値で除算する必要はないので、抵抗
素子の抵抗値を簡単な演算で求めることができる。請求
項１３記載の抵抗値測定装置によれば、第１および第２
の測定手段を設けているので、スイッチ手段による切り
替えは不要となっている点以外、請求項１１と同様の効
果を奏する。
ば、請求項１１と同様の効果を奏し、しかも、測定電流
に相当する電流相当値で除算する必要はないので、抵抗
素子の抵抗値を簡単な演算で求めることができる。請求
項１３記載の抵抗値測定装置によれば、第１および第２
の測定手段を設けているので、スイッチ手段による切り
替えは不要となっている点以外、請求項１１と同様の効
果を奏する。
【００９９】請求項１４記載の抵抗値測定装置によれ
ば、第１および第２の測定手段を設けているので、スイ
ッチ手段による切り替えは不要となっている点以外、請
求項１２と同様の効果を奏する。請求項１５記載の抵抗
値測定装置によれば、共通電路の電圧降下を複数の抵抗
素子のうちの他の抵抗素子を通して測定するので、複数
の抵抗素子のうちの何れかの一つの抵抗素子の影響を受
けずに共通電路の抵抗値を測定することができる。ま
た、端子間電圧を測定する測定手段として、他の抵抗素
子の抵抗値に比べて入力インピーダンスが十分に高いも
のを用いることにより、他の抵抗素子による誤差は無視
できるものとなり、共通電路の抵抗値を複数の抵抗素子
のうちの何れかの一つの抵抗素子の抵抗値の影響を受け
ずに正確に測定することができる。
ば、第１および第２の測定手段を設けているので、スイ
ッチ手段による切り替えは不要となっている点以外、請
求項１２と同様の効果を奏する。請求項１５記載の抵抗
値測定装置によれば、共通電路の電圧降下を複数の抵抗
素子のうちの他の抵抗素子を通して測定するので、複数
の抵抗素子のうちの何れかの一つの抵抗素子の影響を受
けずに共通電路の抵抗値を測定することができる。ま
た、端子間電圧を測定する測定手段として、他の抵抗素
子の抵抗値に比べて入力インピーダンスが十分に高いも
のを用いることにより、他の抵抗素子による誤差は無視
できるものとなり、共通電路の抵抗値を複数の抵抗素子
のうちの何れかの一つの抵抗素子の抵抗値の影響を受け
ずに正確に測定することができる。
【０１００】請求項１６記載の抵抗値測定装置によれ
ば、請求項１５と同様の効果を奏し、しかも、測定電流
に相当する電流相当値で除算する必要はないので、抵抗
素子の抵抗値を簡単な演算で求めることができる。請求
項１７記載の抵抗値測定装置によれば、多連抵抗素子の
共通端子と複数の抵抗素子の個別端子のうちの２つの端
子間に測定電流を流し、それら２つの端子間に生じる端
子間電圧を測定し、この測定処理を端子の組み合わせを
異ならせて実行して複数の端子間電圧を求め、端子間電
圧を電流相当値でそれぞれ除算して各端子間の抵抗値を
求め、求めた各端子間の抵抗値と、各端子間の抵抗値と
共通電路の抵抗および複数の抵抗素子との関係式に基づ
いて演算するので、多連抵抗素子を構成する各抵抗素子
の共通接続点と共通端子との間の共通電路の抵抗値の影
響を受けずに、多連抵抗素子を構成する各抵抗素子の抵
抗値を測定することができ、また各抵抗素子の共通接続
点と共通端子との間の共通電路の抵抗値を測定すること
ができる。
ば、請求項１５と同様の効果を奏し、しかも、測定電流
に相当する電流相当値で除算する必要はないので、抵抗
素子の抵抗値を簡単な演算で求めることができる。請求
項１７記載の抵抗値測定装置によれば、多連抵抗素子の
共通端子と複数の抵抗素子の個別端子のうちの２つの端
子間に測定電流を流し、それら２つの端子間に生じる端
子間電圧を測定し、この測定処理を端子の組み合わせを
異ならせて実行して複数の端子間電圧を求め、端子間電
圧を電流相当値でそれぞれ除算して各端子間の抵抗値を
求め、求めた各端子間の抵抗値と、各端子間の抵抗値と
共通電路の抵抗および複数の抵抗素子との関係式に基づ
いて演算するので、多連抵抗素子を構成する各抵抗素子
の共通接続点と共通端子との間の共通電路の抵抗値の影
響を受けずに、多連抵抗素子を構成する各抵抗素子の抵
抗値を測定することができ、また各抵抗素子の共通接続
点と共通端子との間の共通電路の抵抗値を測定すること
ができる。
【０１０１】請求項１８記載の抵抗値測定装置によれ
ば、請求項１７と同様の効果を奏し、しかも、測定電流
に相当する電流相当値で除算する必要はないので、抵抗
素子の抵抗値を簡単な演算で求めることができる。
ば、請求項１７と同様の効果を奏し、しかも、測定電流
に相当する電流相当値で除算する必要はないので、抵抗
素子の抵抗値を簡単な演算で求めることができる。
【図１】この発明の第１の実施の形態の抵抗値測定装置
を示す回路図である。
を示す回路図である。
【図２】この発明の第２の実施の形態の抵抗値測定装置
を示す回路図である。
を示す回路図である。
【図３】この発明の第３の実施の形態の抵抗値測定装置
を示す回路図である。
を示す回路図である。
【図４】この発明の第４の実施の形態の抵抗値測定装置
を示す回路図である。
を示す回路図である。
【図５】この発明の第５の実施の形態の抵抗値測定装置
を示す回路図である。
を示す回路図である。
【図６】この発明の第６の実施の形態の抵抗値測定装置
を示す回路図である。
を示す回路図である。
【図７】この発明の第７の実施の形態の抵抗値測定装置
を示す回路図である。
を示す回路図である。
【図８】この発明の第８の実施の形態の抵抗値測定装置
を示す回路図である。
を示す回路図である。
【図９】この発明の第９の実施の形態の抵抗値測定装置
を示す回路図である。
を示す回路図である。
【図１０】この発明の第１０の実施の形態の抵抗値測定
装置を示す回路図である。
装置を示す回路図である。
【図１１】第１の従来例の抵抗値測定装置を示す回路図
である。
である。
【図１２】第２の従来例の抵抗値測定装置を示す回路図
である。
である。
ＲＡ 多連抵抗素子 Ｒ1 ，Ｒn 抵抗素子 ｒ 共通電路 Ａ 測定手段 Ｂ 演算手段 Ｃ 表示手段 Ｄ 電流発生手段
Claims (18)
- 【請求項１】 一端を共通接続した複数の抵抗素子から
なる多連抵抗素子の各抵抗素子の抵抗値を測定する抵抗
値測定方法であって、 前記多連抵抗素子の共通端子と前記複数の抵抗素子のう
ちの測定対象の抵抗素子の個別端子との間に測定電流を
流し、前記測定対象の抵抗素子の個別端子と前記複数の
抵抗素子のうちの測定対象以外の他の抵抗素子の個別端
子との間に現れる端子間電圧を測定し、前記端子間電圧
の測定値を前記測定電流に相当する電流相当値で除算
し、この除算した除算結果を前記測定対象の抵抗素子の
抵抗値として出力することを特徴とする抵抗値測定方
法。 - 【請求項２】 一端を共通接続した複数の抵抗素子から
なる多連抵抗素子の各抵抗素子の抵抗値を測定する抵抗
値測定方法であって、 前記多連抵抗素子の共通端子と前記複数の抵抗素子のう
ちの測定対象の抵抗素子の個別端子との間に規定測定電
流を流し、前記測定対象の抵抗素子の個別端子と前記複
数の抵抗素子のうちの測定対象以外の他の抵抗素子の個
別端子との間に現れる端子間電圧を測定し、前記端子間
電圧の測定値を前記測定対象の抵抗素子の抵抗値として
出力することを特徴とする抵抗値測定方法。 - 【請求項３】 一端を共通接続した複数の抵抗素子から
なる多連抵抗素子の各抵抗素子の抵抗値および共通電路
の抵抗値を測定する抵抗値測定方法であって、 前記多連抵抗素子の共通端子と前記複数の抵抗素子のう
ちの測定対象の抵抗素子の個別端子との間に測定電流を
流し、前記測定対象の抵抗素子の個別端子と前記複数の
抵抗素子のうちの測定対象以外の他の抵抗素子の個別端
子との間に現れる第１の端子間電圧を測定するととも
に、前記多連抵抗素子の共通端子と前記測定対象の抵抗
素子の個別端子との間に現れる第２の端子間電圧を測定
し、前記第１の端子間電圧の測定値を前記測定電流に相
当する電流相当値で除算し、この除算した第１の除算結
果を前記測定対象の抵抗素子の抵抗値として出力すると
ともに、前記第２の端子間電圧の測定値を前記電流相当
値で除算し、この除算した第２の除算結果から前記第１
の除算結果を減算し、この減算した減算結果を前記共通
電路の抵抗値として出力することを特徴とする抵抗値測
定方法。 - 【請求項４】 一端を共通接続した複数の抵抗素子から
なる多連抵抗素子の各抵抗素子の抵抗値および共通電路
の抵抗値を測定する抵抗値測定方法であって、 前記多連抵抗素子の共通端子と前記複数の抵抗素子のう
ちの測定対象の抵抗素子の個別端子との間に規定測定電
流を流し、前記測定対象の抵抗素子の個別端子と前記複
数の抵抗素子のうちの測定対象以外の他の抵抗素子の個
別端子との間に現れる第１の端子間電圧を測定するとと
もに、前記多連抵抗素子の共通端子と前記測定対象の抵
抗素子の個別端子との間に現れる第２の端子間電圧を測
定し、前記第１の端子間電圧の測定値を前記測定対象の
抵抗素子の抵抗値として出力し、前記第２の端子間電圧
の測定値から前記第１の端子間電圧の測定値を減算し、
この減算した減算結果を前記共通電路の抵抗値として出
力することを特徴とする抵抗値測定方法。 - 【請求項５】 一端を共通接続した複数の抵抗素子から
なる多連抵抗素子の共通電路の抵抗値を測定する抵抗値
測定方法であって、 前記多連抵抗素子の共通端子と前記複数の抵抗素子のう
ちの何れかの一つの抵抗素子の個別端子との間に測定電
流を流し、前記多連抵抗素子の共通端子と前記複数の抵
抗素子のうちの残りの抵抗素子の個別端子との間に現れ
る端子間電圧を測定し、前記端子間電圧の測定値を前記
測定電流に相当する電流相当値で除算し、この除算した
除算結果を前記共通電路の抵抗値として出力することを
特徴とする抵抗値測定方法。 - 【請求項６】 一端を共通接続した複数の抵抗素子から
なる多連抵抗素子の共通電路の抵抗値を測定する抵抗値
測定方法であって、 前記多連抵抗素子の共通端子と前記複数の抵抗素子のう
ちの何れかの一つの抵抗素子の個別端子との間に測定電
流を流し、前記多連抵抗素子の共通端子と前記複数の抵
抗素子のうちの残りの抵抗素子の個別端子との間に現れ
る端子間電圧を測定し、前記端子間電圧の測定値を前記
共通電路の抵抗値として出力することを特徴とする抵抗
値測定方法。 - 【請求項７】 一端を共通接続した複数の抵抗素子から
なる多連抵抗素子の各抵抗素子の抵抗値および共通電路
の抵抗値を測定する抵抗値測定方法であって、 前記多連抵抗素子の共通端子と前記複数の抵抗素子のう
ちの第１の測定対象の抵抗素子の個別端子との間に測定
電流を流して、前記多連抵抗素子の共通端子と前記第１
の測定対象の抵抗素子の個別端子との間に現れる第１の
端子間電圧を測定し、 前記多連抵抗素子の共通端子と前記複数の抵抗素子のう
ちの第２の測定対象の抵抗素子の個別端子との間に測定
電流を流して、前記多連抵抗素子の共通端子と前記第２
の測定対象の抵抗素子の個別端子との間に現れる第２の
端子間電圧を測定し、 前記複数の抵抗素子のうちの第１の測定対象の抵抗素子
の個別端子と前記複数の抵抗素子のうちの第２の測定対
象の抵抗素子の個別端子との間に測定電流を流して、前
記第１の測定対象の抵抗素子の個別端子と前記第２の測
定対象の抵抗素子の個別端子との間に現れる第３の端子
間電圧を測定し、 前記第１，第２および第３の端子間電圧の測定値を前記
測定電流に相当する電流相当値でそれぞれ除算して、前
記多連抵抗素子の共通端子と前記第１の測定対象の抵抗
素子の個別端子との間の第１の抵抗値，前記多連抵抗素
子の共通端子と前記第２の測定対象の抵抗素子の個別端
子との間の第２の抵抗値および前記第１の測定対象の抵
抗素子の個別端子と前記第２の測定対象の抵抗素子の個
別端子との間の第３の抵抗値をそれぞれ求め、 前記第１の抵抗値が前記第１の測定対象の抵抗素子の抵
抗値と前記共通電路の抵抗値の直列合成抵抗値であり、
前記第２の抵抗値が前記第２の測定対象の抵抗素子の抵
抗値と前記共通電路の抵抗値の直列合成抵抗値であり、
前記第３の抵抗値が前記第１の測定対象の抵抗素子の抵
抗値と前記第２の測定対象の抵抗素子の抵抗値の直列合
成抵抗値であるという関係式と、前記第１，第２および
第３の抵抗値とから、前記第１および第２の測定対象の
抵抗素子の抵抗値および前記共通電路の抵抗値を算出し
て出力することを特徴とする抵抗値測定方法。 - 【請求項８】 一端を共通接続した複数の抵抗素子から
なる多連抵抗素子の各抵抗素子の抵抗値および共通電路
の抵抗値を測定する抵抗値測定方法であって、 前記多連抵抗素子の共通端子と前記複数の抵抗素子のう
ちの第１の測定対象の抵抗素子の個別端子との間に規定
測定電流を流して、前記多連抵抗素子の共通端子と前記
第１の測定対象の抵抗素子の個別端子との間に現れる第
１の端子間電圧を測定し、 前記多連抵抗素子の共通端子と前記複数の抵抗素子のう
ちの第２の測定対象の抵抗素子の個別端子との間に規定
測定電流を流して、前記多連抵抗素子の共通端子と前記
第２の測定対象の抵抗素子の個別端子との間に現れる第
２の端子間電圧を測定し、 前記複数の抵抗素子のうちの第１の測定対象の抵抗素子
の個別端子と前記複数の抵抗素子のうちの第２の測定対
象の抵抗素子の個別端子との間に規定測定電流を流し
て、前記第１の測定対象の抵抗素子の個別端子と前記第
２の測定対象の抵抗素子の個別端子との間に現れる第３
の端子間電圧を測定し、 前記第１，第２および第３の端子間電圧の測定値を、そ
れぞれ前記多連抵抗素子の共通端子と前記第１の測定対
象の抵抗素子の個別端子との間の第１の抵抗値，前記多
連抵抗素子の共通端子と前記第２の測定対象の抵抗素子
の個別端子との間の第２の抵抗値および前記第１の測定
対象の抵抗素子の個別端子と前記第２の測定対象の抵抗
素子の個別端子との間の第３の抵抗値とし、 前記第１の抵抗値が前記第１の測定対象の抵抗素子の抵
抗値と前記共通電路の抵抗値の直列合成抵抗値であり、
前記第２の抵抗値が前記第２の測定対象の抵抗素子の抵
抗値と前記共通電路の抵抗値の直列合成抵抗値であり、
前記第３の抵抗値が前記第１の測定対象の抵抗素子の抵
抗値と前記第２の測定対象の抵抗素子の抵抗値の直列合
成抵抗値であるという関係式と、前記第１，第２および
第３の抵抗値とから、前記第１および第２の測定対象の
抵抗素子の抵抗値および前記共通電路の抵抗値を算出し
て出力することを特徴とする抵抗値測定方法。 - 【請求項９】 一端を共通接続した複数の抵抗素子から
なる多連抵抗素子の各抵抗素子の抵抗値を測定する抵抗
値測定装置であって、 前記多連抵抗素子の共通端子と前記複数の抵抗素子のう
ちの測定対象の抵抗素子の個別端子との間に測定電流を
流す電流発生手段と、 前記測定対象の抵抗素子の個別端子と前記複数の抵抗素
子のうちの測定対象以外の他の抵抗素子の個別端子との
間に現れる端子間電圧を測定する測定手段と、 前記測定手段による前記端子間電圧の測定値を前記測定
電流に相当する電流相当値で除算し、前記端子間電圧の
測定値の前記電流相当値による除算結果を前記測定対象
の抵抗素子の抵抗値として出力する演算手段と、 前記演算手段の出力を表示する表示手段とを備えた抵抗
値測定装置。 - 【請求項１０】 一端を共通接続した複数の抵抗素子か
らなる多連抵抗素子の各抵抗素子の抵抗値を測定する抵
抗値測定装置であって、 前記多連抵抗素子の共通端子と前記複数の抵抗素子のう
ちの測定対象の抵抗素子の個別端子との間に規定測定電
流を流す電流発生手段と、 前記測定対象の抵抗素子の個別端子と前記複数の抵抗素
子のうちの測定対象以外の他の抵抗素子の個別端子との
間に現れる端子間電圧を測定する測定手段と、 前記測定手段による前記端子間電圧の測定値を前記測定
対象の抵抗素子の抵抗値として出力する演算手段と、 この演算手段の出力を表示する表示手段とを備えた抵抗
値測定装置。 - 【請求項１１】 一端を共通接続した複数の抵抗素子か
らなる多連抵抗素子の各抵抗素子の抵抗値および共通電
路の抵抗値を測定する抵抗値測定装置であって、 前記多連抵抗素子の共通端子と前記複数の抵抗素子のう
ちの測定対象の抵抗素子の個別端子との間に測定電流を
流す電流発生手段と、 前記測定対象の抵抗素子の個別端子と前記複数の抵抗素
子のうちの測定対象以外の他の抵抗素子の個別端子との
間に現れる第１の端子間電圧と前記多連抵抗素子の共通
端子と前記測定対象の抵抗素子の個別端子との間に現れ
る第２の端子間電圧とを選択するスイッチ手段と、 前記スイッチ手段を通して入力された第１および第２の
端子間電圧をそれぞれ測定する測定手段と、 前記測定手段による前記第１の端子間電圧の測定値を前
記測定電流に相当する電流相当値で除算し、この除算し
た第１の除算結果を前記測定対象の抵抗素子の抵抗値と
して出力するとともに、前記測定手段による前記第２の
端子間電圧の測定値を前記電流相当値で除算し、この除
算した第２の除算結果から前記第１の除算結果を減算
し、この減算した減算結果を前記共通電路の抵抗値とし
て出力する演算手段と、 前記演算手段の出力を表示する表示手段とを備えた抵抗
値測定装置。 - 【請求項１２】 一端を共通接続した複数の抵抗素子か
らなる多連抵抗素子の各抵抗素子の抵抗値および共通電
路の抵抗値を測定する抵抗値測定装置であって、 前記多連抵抗素子の共通端子と前記複数の抵抗素子のう
ちの測定対象の抵抗素子の個別端子との間に規定測定電
流を流す電流発生手段と、 前記測定対象の抵抗素子の個別端子と前記複数の抵抗素
子のうちの測定対象以外の他の抵抗素子の個別端子との
間に現れる第１の端子間電圧と前記多連抵抗素子の共通
端子と前記測定対象の抵抗素子の個別端子との間に現れ
る第２の端子間電圧とを選択するスイッチ手段と、 前記スイッチ手段を通して入力された第１および第２の
端子間電圧をそれぞれ測定する測定手段と、 前記測定手段による前記第１の端子間電圧の測定値を前
記測定対象の抵抗素子の抵抗値として出力するととも
に、前記第２の端子間電圧の測定値から前記第１の端子
間電圧の測定値を減算し、この減算した減算結果を前記
共通電路の抵抗値として出力する演算手段と、 前記演算手段の出力を表示する表示手段とを備えた抵抗
値測定装置。 - 【請求項１３】 一端を共通接続した複数の抵抗素子か
らなる多連抵抗素子の各抵抗素子の抵抗値および共通電
路の抵抗値を測定する抵抗値測定装置であって、 前記多連抵抗素子の共通端子と前記複数の抵抗素子のう
ちの測定対象の抵抗素子の個別端子との間に測定電流を
流す電流発生手段と、 前記測定対象の抵抗素子の個別端子と前記複数の抵抗素
子のうちの測定対象以外の他の抵抗素子の個別端子との
間に現れる第１の端子間電圧を測定する第１の測定手段
と、 前記多連抵抗素子の共通端子と前記測定対象の抵抗素子
の個別端子との間に現れる第２の端子間電圧を測定する
第２の測定手段と、 前記第１の測定手段による前記第１の端子間電圧の測定
値を前記測定電流に相当する電流相当値で除算し、この
除算した第１の除算結果を前記測定対象の抵抗素子の抵
抗値として出力するとともに、前記第２の測定手段によ
る前記第２の端子間電圧の測定値を前記電流相当値で除
算し、この除算した第２の除算結果から前記第１の除算
結果を減算し、この減算した減算結果を前記共通電路の
抵抗値として出力する演算手段と、 前記演算手段の出力を表示する表示手段とを備えた抵抗
値測定装置。 - 【請求項１４】 一端を共通接続した複数の抵抗素子か
らなる多連抵抗素子の各抵抗素子の抵抗値および共通電
路の抵抗値を測定する抵抗値測定装置であって、 前記多連抵抗素子の共通端子と前記複数の抵抗素子のう
ちの測定対象の抵抗素子の個別端子との間に規定測定電
流を流す電流発生手段と、 前記測定対象の抵抗素子の個別端子と前記複数の抵抗素
子のうちの測定対象以外の他の抵抗素子の個別端子との
間に現れる第１の端子間電圧を測定する第１の測定手段
と、 前記多連抵抗素子の共通端子と前記測定対象の抵抗素子
の個別端子との間に現れる第２の端子間電圧を測定する
第２の測定手段と、 前記第１の測定手段による前記第１の端子間電圧の測定
値を前記測定対象の抵抗素子の抵抗値として出力すると
ともに、前記第２の測定手段による前記第２の端子間電
圧の測定値から前記第１の端子間電圧の測定値を減算
し、この減算した減算結果を前記共通電路の抵抗値とし
て出力する演算手段と、 前記演算手段の出力を表示する表示手段とを備えた抵抗
値測定装置。 - 【請求項１５】 一端を共通接続した複数の抵抗素子か
らなる多連抵抗素子の共通電路の抵抗値を測定する抵抗
値測定装置であって、 前記多連抵抗素子の共通端子と前記複数の抵抗素子のう
ちの何れかの一つの抵抗素子の個別端子との間に測定電
流を流す電流発生手段と、 前記多連抵抗素子の共通端子と前記複数の抵抗素子のう
ちの残りの抵抗素子の個別端子との間に現れる端子間電
圧を測定する測定手段と、 前記測定手段による前記端子間電圧の測定値を前記測定
電流に相当する電流相当値で除算し、この除算した除算
結果を前記共通電路の抵抗値として出力する演算手段
と、 前記演算手段の出力を表示する表示手段とを備えた抵抗
値測定装置。 - 【請求項１６】 一端を共通接続した複数の抵抗素子か
らなる多連抵抗素子の共通電路の抵抗値を測定する抵抗
値測定装置であって、 前記多連抵抗素子の共通端子と前記複数の抵抗素子のう
ちの何れかの一つの抵抗素子の個別端子との間に測定電
流を流す電流発生手段と、 前記多連抵抗素子の共通端子と前記複数の抵抗素子のう
ちの残りの抵抗素子の個別端子との間に現れる端子間電
圧を測定する測定手段と、 前記測定手段による前記端子間電圧の測定値を前記共通
電路の抵抗値として出力する演算手段と、 前記演算手段の出力を表示する表示手段とを備えた抵抗
値測定装置。 - 【請求項１７】 一端を共通接続した複数の抵抗素子か
らなる多連抵抗素子の各抵抗素子の抵抗値および共通電
路の抵抗値を測定する抵抗値測定装置であって、 測定電流を発生する測定電流発生手段と、 入力される電圧を測定する測定手段と、 前記多連抵抗素子の共通端子と前記複数の抵抗素子のう
ちの第１の測定対象の抵抗素子の個別端子との間に測定
電流を流して、前記多連抵抗素子の共通端子と前記第１
の測定対象の抵抗素子の個別端子との間に現れる第１の
端子間電圧を前記測定手段に供給する第１の状態と、前
記多連抵抗素子の共通端子と前記複数の抵抗素子のうち
の第２の測定対象の抵抗素子の個別端子との間に測定電
流を流して、前記多連抵抗素子の共通端子と前記第２の
測定対象の抵抗素子の個別端子との間に現れる第２の端
子間電圧を前記測定手段に供給する第２の状態と、前記
複数の抵抗素子のうちの第１の測定対象の抵抗素子の個
別端子と前記複数の抵抗素子のうちの第２の測定対象の
抵抗素子の個別端子との間に測定電流を流して、前記第
１の測定対象の抵抗素子の個別端子と前記第２の測定対
象の抵抗素子の個別端子との間に現れる第３の端子間電
圧を前記測定手段に供給する第３の状態とを切り替える
スイッチ手段と、 前記測定手段による前記第１，第２および第３の端子間
電圧の測定値を前記測定電流に相当する電流相当値でそ
れぞれ除算して、前記多連抵抗素子の共通端子と前記第
１の測定対象の抵抗素子の個別端子との間の第１の抵抗
値，前記多連抵抗素子の共通端子と前記第２の測定対象
の抵抗素子の個別端子との間の第２の抵抗値および前記
第１の測定対象の抵抗素子の個別端子と前記第２の測定
対象の抵抗素子の個別端子との間の第３の抵抗値をそれ
ぞれ求め、前記第１の抵抗値が前記第１の測定対象の抵
抗素子の抵抗値と前記共通電路の抵抗値の直列合成抵抗
値であり、前記第２の抵抗値が前記第２の測定対象の抵
抗素子の抵抗値と前記共通電路の抵抗値の直列合成抵抗
値であり、前記第３の抵抗値が前記第１の測定対象の抵
抗素子の抵抗値と前記第２の測定対象の抵抗素子の抵抗
値の直列合成抵抗値であるという関係式と、前記第１，
第２および第３の抵抗値とから、前記第１および第２の
測定対象の抵抗素子の抵抗値および前記共通電路の抵抗
値を算出して出力する演算手段と、 この演算手段の出力を表示する表示手段とを備えた抵抗
値測定装置。 - 【請求項１８】 一端を共通接続した複数の抵抗素子か
らなる多連抵抗素子の各抵抗素子の抵抗値および共通電
路の抵抗値を測定する抵抗値測定装置であって、 測定電流を発生する測定電流発生手段と、 入力される電圧を測定する測定手段と、 前記多連抵抗素子の共通端子と前記複数の抵抗素子のう
ちの第１の測定対象の抵抗素子の個別端子との間に測定
電流を流して、前記多連抵抗素子の共通端子と前記第１
の測定対象の抵抗素子の個別端子との間に現れる第１の
端子間電圧を前記測定手段に供給する第１の状態と、前
記多連抵抗素子の共通端子と前記複数の抵抗素子のうち
の第２の測定対象の抵抗素子の個別端子との間に測定電
流を流して、前記多連抵抗素子の共通端子と前記第２の
測定対象の抵抗素子の個別端子との間に現れる第２の端
子間電圧を前記測定手段に供給する第２の状態と、前記
複数の抵抗素子のうちの第１の測定対象の抵抗素子の個
別端子と前記複数の抵抗素子のうちの第２の測定対象の
抵抗素子の個別端子との間に測定電流を流して、前記第
１の測定対象の抵抗素子の個別端子と前記第２の測定対
象の抵抗素子の個別端子との間に現れる第３の端子間電
圧を前記測定手段に供給する第３の状態とを切り替える
スイッチ手段と、 前記測定手段による前記第１，第２および第３の端子間
電圧の測定値を、前記多連抵抗素子の共通端子と前記第
１の測定対象の抵抗素子の個別端子との間の第１の抵抗
値，前記多連抵抗素子の共通端子と前記第２の測定対象
の抵抗素子の個別端子との間の第２の抵抗値および前記
第１の測定対象の抵抗素子の個別端子と前記第２の測定
対象の抵抗素子の個別端子との間の第３の抵抗値とし、
前記第１の抵抗値が前記第１の測定対象の抵抗素子の抵
抗値と前記共通電路の抵抗値の直列合成抵抗値であり、
前記第２の抵抗値が前記第２の測定対象の抵抗素子の抵
抗値と前記共通電路の抵抗値の直列合成抵抗値であり、
前記第３の抵抗値が前記第１の測定対象の抵抗素子の抵
抗値と前記第２の測定対象の抵抗素子の抵抗値の直列合
成抵抗値であるという関係式と、前記第１，第２および
第３の抵抗値とから、前記第１および第２の測定対象の
抵抗素子の抵抗値および前記共通電路の抵抗値を算出し
て出力する演算手段と、 この演算手段の出力を表示する表示手段とを備えた抵抗
値測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP08308412A JP3120970B2 (ja) | 1996-11-19 | 1996-11-19 | 抵抗値測定方法および抵抗値測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP08308412A JP3120970B2 (ja) | 1996-11-19 | 1996-11-19 | 抵抗値測定方法および抵抗値測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10148650A true JPH10148650A (ja) | 1998-06-02 |
| JP3120970B2 JP3120970B2 (ja) | 2000-12-25 |
Family
ID=17980756
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP08308412A Expired - Fee Related JP3120970B2 (ja) | 1996-11-19 | 1996-11-19 | 抵抗値測定方法および抵抗値測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3120970B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109061305A (zh) * | 2018-08-27 | 2018-12-21 | 常州星宇车灯股份有限公司 | 一种阵列式电阻测量装置 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US11644493B2 (en) * | 2021-06-30 | 2023-05-09 | Cirrus Logic, Inc. | Systems and methods for estimation of sensor resistance |
-
1996
- 1996-11-19 JP JP08308412A patent/JP3120970B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109061305A (zh) * | 2018-08-27 | 2018-12-21 | 常州星宇车灯股份有限公司 | 一种阵列式电阻测量装置 |
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| Publication number | Publication date |
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| JP3120970B2 (ja) | 2000-12-25 |
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