JPH0519819Y2 - - Google Patents

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JPH0519819Y2
JPH0519819Y2 JP9760686U JP9760686U JPH0519819Y2 JP H0519819 Y2 JPH0519819 Y2 JP H0519819Y2 JP 9760686 U JP9760686 U JP 9760686U JP 9760686 U JP9760686 U JP 9760686U JP H0519819 Y2 JPH0519819 Y2 JP H0519819Y2
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【考案の詳細な説明】 <産業上の利用分野> 本考案は、電子負荷を有する測定回路を複数並
列接続して、前記電子負荷に接続されるアイソレ
ーシヨンアンプを必要最小限度用いるのみで複数
の被測定電源の特性が測定可能な構成の電源テス
ターに関する。
<従来の技術> 以下従来の技術を第2図の従来の電源テスター
の構成の概要を示す概要回路図を用いて説明す
る。
第2図において、電子負荷EL1と、この電子負
荷EL1の両端部分T3a,T3bに接続された被測定端
子T1a,T1bと、この被測定端子T1a,T1bに取り
付けられ電圧E1を有する共通電位型の被測定電
源UUT1とで第1測定回路α0を構成する(この
時、共通線l1の配線抵抗をr1とする)。又、電子
負荷EL2と、この電子負荷EL2の両端部分T4a
T4bに接続された被測定端子T2a,T2bと、この被
測定端子T2a,T2bに取り付けられ電圧E2を有す
る共通電位型の被測定電源UUT2とで第2測定回
路β0を構成する(この時の共通線l2の配線抵抗を
r2とする)。この第1測定回路α0と第2測定回路
β0を並列接続・配置する場合は、共通線l1とl2
マイナス側を共通電位に接続し、電子負荷EL1
EL2側においては夫々の測定回路α0,β0を確実に
独立した回路構成とするためにアイソレーシヨン
アンプI/A1を電子負荷EL1の端子T3c,T3bに、
アイソレーシヨンアンプI/A2を電子負荷EL2
端子T4c,T4bに接続する。その上で制御部Coか
ら電子負荷制御信号iをアイソレーシヨンアンプ
I/A1,I/A2を介して電子負荷EL1,EL2に出
力する。このようにして、電子負荷制御信号iで
電子負荷EL1,EL2の負荷値を制御しつつ負荷電
流I1,I2を制御して被測定電源UUT1,UUT2
特性を例えば電流計A1,A2と電圧計V1,V2を図
のように用いて測定する。
<考案が解決しようとする問題点> ところでこのような従来の電源テスターにおい
ては、各測定回路α0,β0毎、即ち、各電子負荷
EL1,EL2毎に夫々アイソレーシヨンアンプI/
A1,I/A1を接続する構成となつているために、
製品が大型化し且つ複雑となるので、結果的に装
置が高価になるという問題点がある。
本考案は、この従来技術の問題点に鑑みてなさ
れたものであつて、少なくとも1つのアイソレー
シヨンアンプに複数の測定回路を並列接続した共
通回路化とし、この共通回路化によつて生ずる共
通インピーダンスのマツチングを図ることで、使
用するアイソレーシヨンアンプの使用個数を必要
最小限度とし、安価な電源テスターを提供するこ
とを目的とする。
<問題点を解決するための手段> 本考案は、この目的を達成するために、特性が
測定されるべき第1被測定電源と、アイソレーシ
ヨンアンプから一対の第1制御線を介して出力さ
れる制御信号により負荷値が制御される第1電子
負荷と、この第1電子負荷と先の第1被測定電源
との間を第1スイツチ素子を介して接続する先の
第1制御線の一方と共通接続された一対の第1接
続線とから成る第1測定回路に対して、先の第1
制御線と並列に一対の第2制御線で接続され負荷
値が制御される第2電子負荷と、この第2電子負
荷と第2被測定電源との間を第2スイツチ素子を
介して接続すると共に先の共通接続された先の第
1接続線の先の第1被測定電源側で一方が接続さ
れた一対の第2接続線とから成る第2測定回路を
少なくとも1つ有し、先の共通接続された側の各
接続線のインピーダンスを等しく設定すると共に
先の制御信号により先の各電子負荷の負荷値が互
いに等しく設定するようにしたものである。
<実施例> 以下本考案の実施例を、第1図の本考案の具体
的実施例を示す電源テスターの概要回路図に基づ
き説明する。尚、第1図において第2図と重複す
る部分は同一番号を付してその説明は省略する。
第1図において、第1測定回路α1にあつては電
子負荷EL1の両端部分T3a,T3bと被測定端子T1a
T1bとの間にスイツチ素子SW1a,SW1bが設けら
れ、第2測定回路β1にあつても電子負荷EL2の両
端部分T4a,T4bと被測定端子T2a,T2bとの間に
スイツチ素子SW2a,SW2bが設けられる構成とす
る。これ等スイツチ素子を含んだ夫々の測定回路
α1,β1は1つのアイソレーシヨンアンプI/A0
に夫々の共通接続線l11,l22によつて並列接続さ
れる。この時に共通接続線l11,l22の配線抵抗や
スイツチ素子の接触抵抗等を含めたインピーダン
スr10,r20の抵抗値は、共通接続線l11,l22に互い
に逆向きの共通回路電流IL1,IL2が流れないよう
に等しく設定(設計)されている。尚、スイツチ
素子SW1a,SW1b及びSW2a,SW2bは夫々被測定
電源UUT1及びUUT2が接続されていない時はオ
フとする。
このような構成の電源テスターにおいて、共通
接続線l11,l22のインピーダンスr10,r20の抵抗値
を等しく設定したのは以下の理由による。
両者が等しくない場合は、抵抗値の差によつて
いずれか一方に電位差が発生する。例えばr10
r20とすると、抵抗差による電位差により共通接
続線l11からl22に共通回路電流IL2が流れる。この
結果、電子負荷EL1において電圧降下が生じ、電
子負荷EL1に入力する電子負荷制御信号iが変化
したものと等価になり、電子負荷EL1の設定値が
変化する。即ち、電子負荷EL1は正しい設定がで
きなくなるため、被測定電源UUT1の正確な電源
特性を得ることができなくなる。r10<r20の場合
はこの逆となる。r10=r20と設定することで、以
上の不具合を防止することができる。
r10=r20にあつて、電子負荷EL1とEL2の設定値
を同一に設定することで、第1、第2測定回路α1
とβ1の負荷電流I1とI2を等しくすることができ、
従つて、共通回路電流IL1とIL2は等しくなる(合
成電流がゼロとなる)。従つて、個々にアイソレ
ーシヨンI/Aを設ける必要が無くなる。従つて
このようにしても電子負荷制御信号iどおりに電
子負荷の負荷値を調整することができる。尚、電
子負荷ELは動作許容範囲内の電圧ならば定電流
を流すので、被測定電源UUTの電圧値Eが多少
異なつていても本装置の動作にはほとんど変化が
ない。
尚、本考案は第1図の構成に限定されるもので
はなく、測定回路を2系統以上で並列構成とする
場合にあつても適用することができる。但し、測
定回路を多数、例えば20系統と多数系統に渡る場
合等にあつては、被測定電源UUTの電圧値Eの
相違等が大きくなることが考えられるので、この
場合は測定回路を5系統を1単位としてこの1単
位に夫々1つのアイソレーシヨンアンプI/Aを
設けるように構成するほうが安定した結果を得る
ことができる。
<考案の効果> 以上、実施例と共に具体的に本考案を説明した
ように、本考案の電源テスターによれば、測定回
路数に対応して必要最小限度のアイソレーシヨン
アンプを用いる構成となつているために、簡単な
構造で小型化でき、従つて安価な製品を提供でき
るという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の具体的実施例を示す電源テス
ターの概要回路図、第2図は従来の電源テスター
の概要回路図である。 EL1,EL2……電子負荷、UUT1,UUT2……
被測定電源、α0,α1……第1測定回路、β0,β1
…第2測定回路、Cp……制御部、I/A0,I/
A1,I/A2……アイソレーシヨンアンプ。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 特性が測定されるべき第1被測定電源と、アイ
    ソレーシヨンアンプから一対の第1制御線を介し
    て出力される制御信号により負荷値が制御される
    第1電子負荷と、この第1電子負荷と前記第1被
    測定電源との間を第1スイツチ素子を介して接続
    する前記第1制御線の一方と共通接続された一対
    の第1接続線とから成る第1測定回路に対して、 前記第1制御線と並列に一対の第2制御線で接
    続され負荷値が制御される第2電子負荷と、この
    第2電子負荷と第2被測定電源との間を第2スイ
    ツチ素子を介して接続すると共に前記共通接続さ
    れた前記第1接続線の前記第1被測定電源側で一
    方が接続された一対の第2接続線とから成る第2
    測定回路を少なくとも1つ有し、 前記共通接続された側の各接続線のインピーダ
    ンスを等しく設定すると共に前記制御信号により
    前記各電子負荷の負荷値が互いに等しく設定され
    たことを特徴とする電源テスター。
JP9760686U 1986-06-27 1986-06-27 Expired - Lifetime JPH0519819Y2 (ja)

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JPS635477U JPS635477U (ja) 1988-01-14
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