SU1626221A1

SU1626221A1 - Устройство дл измерени коэффициента усилени аналоговых микросхем

Info

Publication number: SU1626221A1
Application number: SU884432530A
Authority: SU
Inventors: Леонид Васильевич Каменев; Александр Иванович Мартяшин; Николай Васильевич Морозов; Борис Вульфович Цыпин
Original assignee: Пензенский Политехнический Институт
Priority date: 1988-05-30
Filing date: 1988-05-30
Publication date: 1991-02-07

Abstract

Изобретение может быть использовано дл измерени коэффициента усилени аналоговых микросхем, например при внутрисхемном параметрическом контроле и диагностике узлов электронной аппаратуры. Цель изобретени - расширение функциональных возможностей за счет обеспечени возможности измерени коэффициента усилени аналоговых микросхем, вмонтированных в схему, в которой сопротивлени элементов, включенных между входами и выходом аналоговой микросхемы, больше предельно допустимого сопротивлени нагрузки микросхемы. Устройство содержит источник 1 тестового сигнала, измеритель 2 напр жени , дифференциальный усилитель 3, контакты 4 - 7 - дл подключени первого и второго входоь, выхода и общей шины соответственно. Выходное напр жение обьекта контрол через контакт 6 поступает на инвертирующий вход дифференциального усилител и балансируетс по посто нному току. Измеритель 2 напр жени измер ет напр жение на выходе контролируемой микросхемы и по его значению вычисл етс коэффициент усилени . 2 э.п. ф-лы, 2 ил. (Л С

Description

Фиг. 2

Claims

Фо рмула изобретения

1. Устройство для измерения коэффициента усиления аналоговых микросхем, содержащее источник тестового сигнала, дифференциальный усилитель, измеритель напряжений, первый и второй контакты для подключения входов аналоговой микросхемы. контакт для подключения выхода аналоговой микросхемы, отличающееся тем, что, с целью расширения функциональных возможностей за счет обеспечения возможности измерения коэффициента усиления аналоговых микросхем, вмонтированных в схему, в него введен контакт для подключения к общей шине схемы, в которую вмонтирована аналоговая микросхема, причем выход источника тестового сигнала соединен с первым входом дифференциального усилителя и с первым входом измерителя напряжений, второй вход которого соединен с вторым входом дифференциального усилителя, первый выход которого соединен с первым, второй - с вторым контактами для подключения входов аналоговой микросхемы, а второй вход соединен с контактом для подключения выхода аналоговой микросхемы, общая шина источника тестового сигнала соединена с общей шиной устройства и с контактом для подключения к общей шине схемы, в которую вмонтирована аналоговая микросхема.
2. Устройство по п.1, о т л и ч а ю щ е ес я тем, что парафазные выходы дифференциального усилителя изолированы от общей шины устройства и не связаны между собой по постоянному току.
3. Устройство по п.2, отл ича ющеес я тем, что дифференциальный усилитель выполнен в виде трансформатора с тремя обмотками и конденсатора, причем первый вывод первой обмотки соединен с первым входом дифференциального усилителя, второй вывод первой обмотки соединен с первым выводом второй обмотки и с общей шиной устройства, второй вывод второй обмотки соединен с вторым входом дифферен7 циального усилителя, первый вывод третьей обмотки соединен с первым выходом дифференциального усилителя, второй вывод третьей обмотки через конденсатор соединен с вторым выходом дифференциального усилителя.

Фиг.2