JP5072810B2 - テストプラグの性能判定装置 - Google Patents

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本発明はテストプラグの性能判定装置に関し、特にテストターミナルに挿入して電力系統の保護機器である継電器の動作確認等を行うテストプラグの導通試験や絶縁性能試験を行う際に用いて有用なものである。
電力系統の保護機器である継電器の動作確認等を行うためテストプラグが利用されている。この種のテストプラグは、負荷側の継電器等の点検作業を行うに当たり、配電盤に配設されて系統の電源側と負荷側との間に接続されているテストターミナルに挿入して使用するものである。ここで、テストターミナルには電源側がCT(変流器)に接続されているCT用のテストターミナルと、電源側がPT(計器用変圧器)に接続されているPT用のテストターミナルとが存在する。そこで、これに対応してテストプラグにもCT用のテストターミナルに挿入して使用されるCT用のテストプラグと、PT用のテストターミナルに挿入して使用されるPT用のテストプラグの二種類が用意されている。
CT用のテストターミナルとPT用のテストターミナルの基本的な構造は同じであり、またCT用のテストプラグとPT用のテストプラグの基本的な構造も同じであるが、間違ってCT用のテストターミナルにPT用のテストプラグを挿入しないように、また逆にPT用のテストターミナルにCT用のテストプラグを挿入しないように構造的な工夫がしてある。この点に関しては後に詳述する。
図6はCT用のテストプラグを後方から見た状態で示す斜視図である。同図に示すように、CT用のテストプラグ30は、絶縁支持体31から突出した絶縁板32に、各相(図にはB相,W相,R相及びN相(接地相)の4相の場合を示している。)に対応するとともに、上下に相互に絶縁された各一対の電源側の導体35B,35W,35R,35N及び負荷側の導体45B,45W,45R,45Nが並設されており、それらの基端部は、同軸状に配設された4組の端子37,47にそれぞれ接続されている。ここで、隣接する各相間(B−W相間,W−R相間,R−N相間)は絶縁部材33で絶縁されている。また、両端部の相間(B−W相間,R−N相間)を絶縁する絶縁部材33の先端部にはCT用のテストプラグ30に固有の凸部341,342が形成してある。
かかるテストプラグ30は、CTの各相(B相,W相,R相)の2次側が開放されるのを避けるため、例えば複数の短絡片38により4個の端子37間を連結接続して電源側の導体35B,35W,35R,35N間を短絡するとともに、他の端子47に試験装置(図示せず)等を接続して所定の試験乃至測定に供している。
一方、電力系統には、事故時等における電源側の異常な電圧降下を検出するためのPTも通常設けてあり、かかるPTも、前述の如く配電盤に配設したPT用のテストターミナルを介して所定の継電器等に接続してある。
図7はPT用のテストプラグを後方から見た状態で示す斜視図である。同図に示すように、PT用のテストプラグ40では、中央の相間(W−R相間)を絶縁する絶縁部材43の先端部にPT用のテストプラグ40に固有の凸部44を設けてあり、両端部の相間(B−W相間,R−N相間)を絶縁する絶縁部材43の先端部にはCT用のテストプラグ30が有する凸部341,342は設けられていない。かかるテストプラグ40において、絶縁部材43及び凸部44以外は、図6に示すテストプラグ30と全く同一の構成であるので、対応する部分には同一番号を付して重複する説明は省略する。
図8はCT用のテストターミナルの凸部とCT用のテストプラグの凸部との関係を説明するための説明図、図9はPT用のテストターミナルの凸部とPT用のテストプラグの凸部との関係を説明するための説明図である。
図8(a)に示すテストターミナル50において、同図(b)に示すテストプラグ30の凸部341,342に対応する位置には凸部が形成されておらず、テストプラグ40の凸部44に対応する位置に凸部51が形成されている。一方、図9(a)に示すテストターミナル60において、同図(b)に示すテストプラグ40の凸部44に対応する位置には凸部が形成されておらず、テストプラグ30の凸部341,342に対応する位置に凸部611,612が形成されている。
かくして、CT用のテストターミナル50に間違ってPT用のテストプラグ40を挿入しようとしても凸部51と凸部44とが干渉し、またPT用のテストターミナル60に間違ってCT用のテストプラグ30を挿入しようとしても凸部611,612と凸部341,342とが干渉して何れも挿入できないようになっている。
ところで、上述の如きテストプラグ30,40は、テストターミナル50,60に挿入する前提としてその健全性が保証されていなければならない。例えば相間の絶縁抵抗が十分でないテストプラグ30,40を挿入した場合には不測の短絡事故に繋がり、所定の導通が取れていない場合には正確な動作試験ができない等の不都合を生起するからである。
このため、テストプラグ30,40は所定の絶縁測定及び導通試験を行う必要がある。元々かかる絶縁測定乃至導通試験は、作業者がテスタ乃至メガーを用いて手作業で行っていた。すなわち、テスタ乃至メガーのプローブを測定点である端子37,47、電源側の導体35B,35W,35R,35N、負荷側の導体45B,45W,45R,45Nの所定位置に接触させて、一つ一つ行っていた。そこで、4端子のテストプラグ30,40における所定の試験乃至測定においては、導通試験で最高16回、絶縁試験で16回同様の作業を行うことが必要な場合がある。このため、上記試験乃至測定に多大な時間を要していた。また、試験乃至測定の回数が多いこととも相俟って錯誤により試験乃至測定を行わなかったり、重複して行ったりという人間系の間違いも生じ易いという問題があった。
そこで、上述の如き所定の測定に必要な繰り返し作業の回数を可及的に少なくするとともに、人間系の間違いを可及的に排除することを目的としてテストプラグの所定の性能を判定するための装置が提案されている(特許文献1乃至特許文献6参照)。
特許第3091994号公報 特開平10−19961号公報 特開2001−231153号公報 実登第2100981号公報 特開2007−212308号公報 特開2007−285937号公報
上述の特許文献1乃至特許文献6に開示する従来技術は、テストプラグ30,40を挿入するためのテストターミナル50,60と同様の挿入口を備えるものとなっており、しかも中にはCT用とPT用に対応させた二種類の挿入口を備えたものもある。
この結果、装置自体が大型化してしまい、簡便性に乏しく運搬や保管に問題が残るものとなっていた。また、試験乃至測定結果を視覚的に表示する表示部を備えていないか、又は備えていても不十分なものとなっていた。すなわち、導通状態乃至絶縁状態を表示する機能を有する場合でも、何れの部分の導通等が不十分であるのかを一目で視認できるような構造となっていないので、試験結果の迅速な視認という点で難がある。
本発明は、上記従来技術に鑑み、小型で可搬性に優れ、同時に試験乃至測定結果の視認性にも優れたテストプラグの判定装置を提供することを目的とする。
上記目的を達成する本発明の第1の態様は、電源側の各相に接続されたテストターミナルの複数の導体にそれぞれ接触する電源側の導体と、負荷側の各相に接続された前記テストターミナルの同数の導体にそれぞれ接触する負荷側の導体とが各相毎に絶縁部材の相対向する面にそれぞれ配設されているテストプラグの性能判定装置であって、ヒンジ部を介して一方の部材と他方の部材とを連結することにより前記一方の部材と前記他方の部材との先端部を開口して前記テストプラグの前記電源側の各導体と前記負荷側の各導体とを挟持し得るように構成した装置本体と、前記テストプラグの挟持時に、前記テストプラグの電源側の各導体と前記テストプラグの負荷側の各導体とにそれぞれ接触し得るように前記一方の部材の内側面と前記他方の部材の内側面とにそれぞれ一対づつ配設した荷電用端子及び検電用端子と、前記荷電用端子に選択的に電源からの電圧を印加するための切替手段と、前記荷電用端子に印加された電圧により前記検電用端子を介して印加される電圧により個別に動作する検電手段と、前記切替手段の切替制御を行う制御手段と、前記検電手段に基づく検電結果を個別に表示する表示手段とを有することを特徴とするテストプラグの性能判定装置にある。
本態様によれば、一方の部材と他方の部材の端部を手で摘むことにより両部材がヒンジ部を介して回動することにより反対側の端部が開口する。かかる状態で前記開口にテストプラグの各導体を挿入することで装置本体に対するテストプラグの装着が完了する。
したがって、この装着作業を非常に簡便に行うことができる。また、装置本体も小型化することができるので、可搬性及び収納性にも優れるものとなる。
さらに、試験乃至測定に際しては、装置本体でテストプラグを挟持させた状態で一方の部材の内側面と他方の部材の内側面とにそれぞれ一対づつ配設した荷電用端子及び検電用端子のうち、荷電用端子に順次電圧を印加して各場合における検電用端子の荷電状態を検出するだけで自動的にテストプラグにおける結線構造を明らかにすることができる。
したがって、所定の試験乃至測定を迅速簡便に行うことができる。
本発明の第2の態様は、第1の態様に記載するテストプラグの性能判定装置において、前記一方の部材の内側面には、前記テストプラグの装着時に、CT用のテストプラグに固有の凸部を検出する接点と、PT用のテストプラグに固有の凸部を検出するための接点とを配設したことを特徴とするテストプラグの性能判定装置にある。
本態様によれば、CT用乃至PT用のテストプラグの何れであるかを容易に判定し得る。この結果、上述の結線構造が、CT用又はPT用として適正なものか否か等を判断する場合に適用することにより当該判断を迅速に行うことができる。
本発明の第3の態様は、第1又は第2の態様に記載するテストプラグの性能判定装置において、前記制御手段は、他の荷電用端子に対する荷電により、すでに荷電状態が検出された検電実績のある荷電用端子を記憶しておき、検電実績のある荷電用端子はスキップして次の荷電用端子に対する荷電を行うよう前記切替手段の切替制御を行うように構成したことを特徴とするテストプラグの性能判定装置にある。
本態様によれば、重複した試験乃至測定を行うことなく迅速に所定の試験乃至測定を行うことができる。
本発明の第4の態様は、第1乃至第3の態様の何れか一つに記載するテストプラグの性能判定装置において、許容されない結線パターンをあらかじめ前記制御手段に登録しておき、登録した結線パターンが検出された場合にはその状態を前記表示部に表示するように構成したことを特徴とするテストプラグの性能判定装置にある。
本態様によれば、許可されない結線パターンであることを迅速かつ的確に検出し得る。
本発明の第5の態様は、第1乃至第3の態様の何れか一つに記載するテストプラグの性能判定装置において、使用頻度の高い結線パターンをあらかじめ前記制御手段に登録しておき、登録した結線パターンが検出された場合にはその状態を前記表示部に表示するように構成したことを特徴とするテストプラグの性能判定装置にある。
本態様によれば、使用頻度の高い結線パターンであることを迅速かつ的確に検出し得る。
本発明の第6の態様は、第1乃至第5の態様の何れか一つに記載するテストプラグの性能判定装置において、測定感度が異なる複数のモードを有し、前記テストプラグの電源側又は負荷側で何れかの相間に接続される電圧計の内部抵抗を介して前記相間が接続されていること検出し得るように構成したことを特徴とするテストプラグの性能判定装置にある。
本態様によれば、電圧計の接続態様を容易に特定し得る。また、電圧計が実際には接続されていないにもかかわらず擬似的な電圧計の接続が検出された相間が存在する場合は、この相間の絶縁劣化として検出し得る。
本発明によれば、一方の部材と他方の部材の一端部を摘んでヒンジ部を介して回動することにより反対側端部が開口するので、この開口にテストプラグの各導体を挿入することで装置本体に対するテストプラグの装着が完了する。したがって、この装着作業を非常に簡便に行うことができる。また、装置本体も小型化することができるので、可搬性及び収納性にも優れるものとなる。
さらに、試験乃至測定に際しては、装置本体でテストプラグを挟持させた状態で荷電用端子に順次電圧を印加して各場合における検電用端子の荷電状態を検出するだけで自動的にテストプラグにおける結線構造を明らかにすることができる。
以下本発明の実施の形態を図面に基づき詳細に説明する。
<構造>
図1は本発明の実施の形態に係るテストプラグの性能判定装置を示す構造図で、(a)は平面図、(b)はその一部を内側から見た内面図、(c)は側面から見た側面図である。
図1に示すように、装置本体1はヒンジ部4を介して一方の部材2と他方の部材3とを連結することにより一方の部材2と他方の部材3との先端部を開口してテストプラグ30の電源側の各導体35B,35W,35R,35Nと負荷側の各導体45B,45W,45R,45Nとを挟持し得るように構成してある。さらに詳言すると、本形態では2枚の板状の部材2,3の中央部をヒンジ部4を介して連結しているので、図中の右端部を手で摘んで矢印方向に回動することにより反対側の右端部が開口する。かかる状態で前記開口にテストプラグ30の各導体35B〜35N、45B〜45Nを挿入した後、手を離すことによりヒンジ部4のバネ(図示せず)に起因する反対方向へのバネ力により装置本体1の先端部で各導体35B〜35N、45B〜45Nを挟持することができる。この挟持によりテストプラグ30への当該性能判定装置の装着が完了する。かかる装着状態を図2に示す。同図(a)は装着状態で示す平面図、(b)はその側面図である。
ここで、図1(b)に明示するように、部材2の内側面には、テストプラグ30の挟持時に、その導体45B,45W,45R,45Nと接触し得るようにそれぞれ一対づつの荷電用端子5B,5W,5R,5N及び検電用端子6B,6W,6R,6Nが配設してある。すなわち、B相の導体45BにはB相の荷電用端子5B及び検電用端子6Bが接触するとともに、W相の導体45WにはW相の荷電用端子5W及び検電用端子6Wが、R相の導体45RにはR相の荷電用端子5R及び検電用端子6Rが、N相の導体45NにはN相の荷電用端子5N及び検電用端子6Nがそれぞれ接触するようになっている。
なお、図1には明示しないが、部材3の内側面にも、図1(b)に示す負荷側に対応するような関係で、テストプラグ30の挟持時に、その導体35B,35W,35R,35Nと接触し得るようにそれぞれ一対づつの荷電用端子7B,7W,7R,7N及び検電用端子8B,8W,8R,8Nが配設してある(ただし、図1には荷電用端子7N及び検電用端子8Nのみを示している。)。
部材2の内側面には、CT用のテストプラグ30の挟持時に、その凸部341,342と接触して動作するスイッチの接点C1,C2も設けてある。同様の機能を有する接点Pも部材2の内側面に設けてある。この接点Pは当該性能判定装置でPT用のテストプラグ40を挟持した時にその凸部44と接触して動作するスイッチの接点である。
部材2の表面には当該性能判定装置で検出した試験乃至測定の結果を表示する表示部9、操作スイッチSW1及び切替スイッチSW2が配設されている。ここで、操作スイッチSW1はテストプラグ30を上述の如く当該判定装置に装着した状態で操作することにより所定の試験乃至測定を開始可能とする。切替スイッチSW2は試験乃至測定のモードを切替えるためのものである。すなわち、テストプラグ30,40に接続する電圧計は、基本的に高抵抗回路であり、従来の試験乃至測定を行う場合(通常モード)では絶縁相当として考えて良いが、試験目的上、敢えて電圧計を接続した極を検出したい場合(絶縁確認モード)には切替スイッチSW2により極間抵抗検出感度を切替えて絶縁(≒∞[Ω])と電圧計の計器抵抗(≒数[kΩ])とを区別させることも可能としたものである。なお、絶縁確認モードにおいて電圧計が使用されていない場合には絶縁不良検出に利用することができる。
さらに、図1には図示しないが、当該性能判定装置は、荷電用端子5B〜5N,7B〜7Nに選択的に電源からの電圧を印加するための切替手段と、荷電用端子5B〜5N,7B〜7Nに印加された電圧により検電用端子6B〜6N,8B〜8Nを介して印加される電圧により個別に動作する検電手段と、前記切替手段の切替制御を行う制御手段とを有している。これらは装置本体1内に収納されているが、個別の構成に関しては後で詳述する。
<ブロック構成>
図3は本形態に係るテストプラグの性能判定装置を示すブロック線図である。当該ブロック線図を構成する各機能は図1に示す装置本体1内に収納されている。そこで、図3中、図1及び図2と同一部分には同一番号を付している。図3に示すように、操作部10はマン・マシンインターフェースとして機能する入力手段であり、図1の操作スイッチSW1及び切替スイッチSW2等が含まれる。操作部10からは操作スイッチSW1及び切替スイッチSW2の動作状態を表す各出力信号をはじめ所定の出力信号が動作処理部11に送出される。動作処理部11はCPU機能を含むものであり、当該判定装置の全体の作動を制御する制御手段として機能する。すなわち、操作スイッチSW1の作動により試験乃至測定の開始を可能とし予め定められた手順により各部の所定の制御を開始する。ここで、動作処理部11には任意の制御機能を備えさせることが可能であるが、本形態では、例えば操作部10を介してCT用のテストプラグ30乃至PT用のテストプラグ40毎に使用頻度の高い接続パターンを予め記憶させることができるように構成するとともに、CT用のテストプラグ30乃至PT用のテストプラグ40として不適切な接続状態等が検出された場合には警報を発するように構成してある。
荷電切替出力部12は、検出感度切替のための抵抗R1,R2(R1>R2)を選択する切替接点12Aと、電圧を印加するための荷電用端子5B〜5N,7B〜7Nを選択する接点12Bとを有している。かくして、切替スイッチSW2で選択した選択モードに基づき動作処理部11から送出される制御信号により抵抗R1,R2のいずれか一方が選択されるとともに、動作処理部11に記憶されている予め定められた手順により荷電用端子5B〜5N,7B〜7Nのいずれか一つが選択される。このときの電圧は電源Vから動作処理部11を介して印加される。ちなみに、通常モードでは抵抗R1が選択され、絶縁確認モードでは抵抗R2が選択される。
荷電入力検出部13は検電用端子6B〜6N,8B〜8Nの荷電状態をそれぞれ個別に検出する検電手段であるセンサa1,b1,c1、d1,a2,b2,c2,d2を有する。各センサa1〜d1,a2〜d2の検電状態は動作処理部11を介して表示部9に表示される。ここでセンサa1〜d1,a2〜d2としては検電用端子6B〜6N,8B〜8Nに印加される電圧を検出し得るものであれば特に制限はない。例えば、検電用端子6B〜6N,8B〜8Nに電圧が印加されることにより動作するトランジスタ等のスイッチング素子で好適に構成し得る。
CT用のテストプラグ30であるか、PT用のテストプラグ40であるかに関する情報は接点C1,C2乃至接点Pの状態を検出する接点入力部14を介して動作処理部11に入力される。
表示部9は動作処理部11が送出する制御信号により試験乃至測定結果に関する所定の情報を表示するものである。所定の情報とはテストプラグ30,40の接続状態、絶縁状態、各種の警告に関する情報等であり、動作処理部11が処理して送出する情報であれば特別な制限はない。また、表示素子としてはLED等の発光素子を好適に用いることができる。この場合には、テストプラグ30,40の導体35B〜35N,45B〜45N、荷電用端子5B〜5N,7B〜7N及び検電用端子6B〜6N,8B〜8Nの位置を含めこれらを模した表示として実際の接続状態等を視覚的に表示することもできる。
<試験乃至測定の原理>
上述の図1乃至図3に図4を追加して本形態における試験乃至測定の原理を説明する。図4は本形態に係るテストプラグの性能判定装置の使用時における結線態様の一例を示す結線図である。ただし、同図はあくまで回路検出の考え方を説明するための結線例を示しており、実際に使用するか否かということとは無関係である。
図4において付した符号は図1乃至図3において使用した符号に対応させてあり、同一部分には同一番号を付してある。図4に示す結線では、導体45B,45W,35B、導体45R,35W,35R、導体45N、35Nがそれぞれ相互に接続されている状態を示している。同時に、荷電用端子5B,検電用端子6B,導体45B,センサa1が負荷側のB相として一つのグループとなっており、同様に負荷側のW,R,N相及び電源側のB,W,R,N相に関し、図4に示すような7つのグループがそれぞれ形成されている状態を示している。また、図4は、選択的に電源Vに接続されているのは荷電用端子5Bであり、切替接点12Aで抵抗R1が選択された通常モードであることを示している。
i)テストプラグがCT用乃至PT用の何れであるかの検出
本形態においては、図4には明示しないが、先ずCT用のテストプラグ30であるか、PT用のテストプラグ40であるが判定される。これは図3の接点入力部14に入力される接点C1,C2乃至接点Pの状態に基づき検出される。接点C1,C2が何れもオン状態のときにはCT用のテストプラグ30、接点Pがオン状態のときにはPT用のテストプラグ40であると判断する。
ii)端子間の接続(導通)乃至開放(絶縁)の検出原理
当該試験乃至測定の際の荷電を荷電用端子5B,5W・・・の順に荷電用端子7Nまで行う。このように荷電用端子5Bから荷電を行うと、これと接続状態にある各極の検電用端子6B〜6N,8B〜8Nを介してセンサa1〜d1,a2〜d2で荷電状態を確認することができる。荷電が検出されたセンサa1〜d1,a2〜d2を「1」と表し、検出されないセンサa1〜d1,a2〜d2を「0」と表すと、図4の結線例では、「1100 1000」となる(図4においてa1,b1,c1,d1,a2,b2,c2,d2の順に考える)。
続いて、他の荷電用端子5W・・・を順次選択して荷電していくが、先の荷電によりセンサb1には検電履歴があるので荷電検査済みとして処理しても構わない。したがって、図4に示す結線例では最終的に3回の荷電試験で次のようなグループを形成して接続されていることが分かる。これらの各グループを「島」と称する。
[a1]−[b1]−[a2]・・・1100 1000・・・C8(16進数表現)
[c1]−[b2]−[c2]・・・0010 0110・・・26(16進数表現)
[d1]−[d2] ・・・0001 0001・・・11(16進数表現)
このように、極間接続状況は数値的に表現できるため、表示部9での表示方法も、端子番号列記の他、マトリクス表示法等、単純なロジック処理で操作者が視認し易い任意の表示方法を容易に採用し得る。
iii)テストプラグ30,40において使用される結線か否かの判定
イ)CT用のテストプラグ30の場合
電源側(CTの二次側)を開放してはならないので、2桁の16進数表現において下桁に対応するセンサa2〜d2の状態は「E」(1110),「F」(1111)の何れかでなければならず、それ以外は許容されない。
ロ)PT用のテストプラグ40の場合
導体35B,45B間等、同相間の接続乃至開放は使用されるが、電源側における導体35B〜35N同士乃至負荷側における導体45B〜45N同士の接続(短絡)は行ってはならない。したがって、2桁の16進数表現において上桁及び下桁とも「0」,「1」,「2」,「4」,「8」以外は許容されない。すなわち使用される接続は以下の12パターンである。
1000 1000−(16進数・88) 0000 1000−(16進数・08)
1000 0000−(16進数・80) 0100 0100−(16進数・44)
0000 0100−(16進数・04) 0100 0000−(16進数・40)
0010 0010−(16進数・22) 0000 0010−(16進数・02)
0010 0000−(16進数・20) 0001 0001−(16進数・11)
0000 0001−(16進数・01) 0001 0000−(16進数・10)
ハ)上述の原理で、テストプラグ30,40において使用頻度の高い接続パターンを予め登録しておけば同様の可否判定が可能になる。
iv)絶縁確認モード
当該絶縁確認モードは電圧計の接続を表現するモードである。このモードでは、一旦上記ii)乃至iii)の処理で所定の「開放(絶縁)」と「接続(短絡・導通)」とを判定した後、切替スイッチSW2を操作して切替接点12Aで抵抗R2を選択することにより高抵抗(数kΩ)を「導通」として検出できる感度に変更する。かかる状態で再度上記ii)乃至iii)の処理と同様の処理を行うことにより、先に確認した際に「絶縁」であった部分が「導通」になった場合に、この部分に電圧計(内部抵抗が数kΩ)が接続されていると判断できる。
例えば、各相毎に導体35B〜35N,45B〜45N同士を接続した状態でB相−W相間に電圧計を接続した場合、通常モードの導通確認で,1000 1000(88),0100 0100(44),0010 0010(22),0001 0001(11)の4つのグループで接続されていることが分かる。
かかる状態で絶縁確認モードに切替え再度同様の導通確認を実施すると、1100 1100(AA),0010 0010(22),0001 0001(11)の3つのグループが検出される。
この結果、「88」のグループと「44」のグループ間に電圧計が接続されたことを検出し得る。これは、表示部9に、例えば「88」−<電圧計>−「44」と表示することで可視化できる。
なお、ここで電圧計が電源側乃至負荷側の何れに接続されているかを特定する必要はない。また、電流計の場合は短絡と等価であるため、電圧計の場合のような上述の如き必要性は生じない。
<処理手順>
図5は本形態に係るテストプラグの性能判定装置の処理手順を示すフローチャートである。同図に示すように、本形態における処理は次の手順で行う。
1) 先ず、ST1に示すように、テストプラグ30,40のチェックモードとして、ST2で、操作スイッチSW1を操作して所定のチェックを開始する。
2) ST3に示すように、PT・CTの種別確認モードとして、ST4で、接点P乃至接点C1,C2の動作状態を確認する。この結果、CT用のテストプラグ30乃至PT用のテストプラグ40であることが確認された場合には、ST5で、予め定められた荷電用端子5B〜5N,7B〜7Nの一つを選択する。
3) ST6に示すように、選択された荷電用端子5B〜5N,7B〜7Nの検電実績があるか否かを検出する。ここで、「検電実績」とはある荷電用端子5B〜5N,7B〜7Nに荷電を行った際、すでに荷電状態が検出された、すなわち以前に荷電された荷電用端子5B〜5N,7B〜7Nとの導通実績の意である。なお、検電実績があった場合には次の荷電用端子5B〜5N,7B〜7NにスキップするようST5の処理に戻る。
4) 検電実績がない場合には、ST7で当該荷電用端子5B〜5N,7B〜7Nに荷電するとともに、ST8で検電用端子6B〜6N,8B〜8Nの検電入力を判定し、ST9で検電結果、すなわち端子間の接続関係を記録する。
5) ST10で、全荷電用端子5B〜5N,7B〜7Nに対する荷電が終了するまで同様の処理を繰り返す。
6) 全荷電用端子5B〜5N,7B〜7Nに対する荷電が終了した後、ST11で確認モードを選択する。本形態における「確認モード」は、1)接続状況、2)PT・CTの使用可否、3)絶縁確認の3種類である。
7) ST11における確認モードが「接続状況」の場合には、ST12に示すように、検出された接続状況を表示部9に表示する。
8) ST11における確認モードが「PT・CTの使用可否」である場合には、ST13に示すように、PT用、CT用で許容されない使用状態となっていないかを確認し、ST14で、検出された接続状態及びテストプラグ30,40の使用の可否を表示部9に表示する。
9) ST11における確認モードが「絶縁確認」である場合には、ST15に示すように、検電機能を高感度に切替える。具体的には切替スイッチSW2を操作して切替接点12Aで抵抗R2を選択する。
10) ST16に示すように、ST5乃至ST9に示す荷電試験で検出された「島」の一つを設定する。ここで、「島」とは、前述の如く、ST5乃至ST9に示す荷電試験で検出された端子同士の各グループをいう。
11) ST17に示すように、選択された島の検電実績があるか否かを検出する。ここで、「検電実績」とは、ST6の場合と同様に、以前に荷電された島と導通実績があったことをいう。なお、検電実績があった場合には次の島にスキップするようST16の処理に戻る。
12) 検電実績がない場合には、ST18で島の所定の端子(若番端子)に荷電するとともに、ST19で当該島以外の各端子における検電入力を判定し、ST20で検電結果、すなわち島間の検電結果を記録する。
13) ST21で、「島」の全部に荷電が終了するまで同様の処理を繰り返す。
14) 全部の島に関する所定の荷電操作が修了した後、ST22に示すように、端子間の接続状況とともに、「島」間の低絶縁表示を表示部9で可視化する。
15) 前述の如くテストプラグ30,40において使用頻度の高い接続パターンを予め登録しておけばST13における使用の可否判断を容易に行うことができる。この場合には、ST23,ST24,ST25に示すように、所定の判定パターンを記憶させることができる。具体的には、図3の操作部10を介して動作処理部11にメモリに記憶させる。
16) ST4において、テストプラグ30,40の何れでもないと判断された場合には所定の試験乃至測定を行うことができないので、表示部9に「装着異常」の表示を行う。他にもST11,ST13,ST21の動作完了時に接点C1,C2乃至接点Pの状態が最初に検出した状態と異なっている場合には、同様に「装着異常」の表示を行って処理を修了させる。図5中に記載する「◇」の記号はST11,ST13,ST21の動作完了時に接点C1,C2乃至接点Pの状態が最初に検出した状態と異なっている場合にST26の処理に向かうことを表している。
なお、上記実施の形態ではテストプラグ30が4極の場合について説明したが、これに限るものでは勿論ない。2極や8極のテストプラグ用も同様の技術思想で適宜構成することができる。
本発明は電力系統の運用、保守に関する産業分野において利用することができる。
本発明の実施の形態に係るテストプラグの性能判定装置を示す構造図で、(a)は平面図、(b)はその一部を内側から見た内面図、(c)は側面から見た側面図である。 本発明の実施の形態に係るテストプラグの性能判定装置の使用態様を示す図で、(a)は平面図、(b)は側面図である。 本発明の実施の形態に係るテストプラグの性能判定装置を示すブロック線図である。 本発明の実施の形態に係るテストプラグの性能判定装置の使用時における結線態様の一例を示す結線図である。 本発明の実施の形態に係るテストプラグの性能判定装置の処理手順を示すフローチャートである。 CT用のテストプラグを後方から見た状態で示す斜視図である。 PT用のテストプラグを後方から見た状態で示す斜視図である。 CT用のテストターミナルの凸部とCT用のテストプラグの凸部との関係を説明するための説明図である。 PT用のテストターミナルの凸部とPT用のテストプラグの凸部との関係を説明するための説明図である。
符号の説明
1 装置本体
2 一方の部材
3 他方の部材
4 ヒンジ部
5B〜5N (負荷側の)荷電用端子
6B〜6N (負荷側の)検電用端子
7B〜7N (電源側の)荷電用端子
8B〜8N (電源側の)検電用端子
9 表示部
10 操作部
11 動作処理部
30 (CT用の)テストプラグ
32 絶縁板
33 絶縁部材
341,342 凸部
35B〜35N (電源側の)導体
40 (PT用の)テストプラグ
43 絶縁部材
44 凸部
45B〜45N (負荷側の)導体
50 (CT用の)テストターミナル
51 凸部
60 (PT用の)テストターミナル
611,612 凸部

Claims (6)

  1. 電源側の各相に接続されたテストターミナルの複数の導体にそれぞれ接触する電源側の導体と、負荷側の各相に接続された前記テストターミナルの同数の導体にそれぞれ接触する負荷側の導体とが各相毎に絶縁部材の相対向する面にそれぞれ配設されているテストプラグの性能判定装置であって、
    ヒンジ部を介して一方の部材と他方の部材とを連結することにより前記一方の部材と前記他方の部材との先端部を開口して前記テストプラグの前記電源側の各導体と前記負荷側の各導体とを挟持し得るように構成した装置本体と、
    前記テストプラグの挟持時に、前記テストプラグの電源側の各導体と前記テストプラグの負荷側の各導体とにそれぞれ接触し得るように前記一方の部材の内側面と前記他方の部材の内側面とにそれぞれ一対づつ配設した荷電用端子及び検電用端子と、
    前記荷電用端子に選択的に電源からの電圧を印加するための切替手段と、
    前記荷電用端子に印加された電圧により前記検電用端子を介して印加される電圧により個別に動作する検電手段と、
    前記切替手段の切替制御を行う制御手段と、
    前記検電手段に基づく検電結果を個別に表示する表示手段とを有することを特徴とするテストプラグの性能判定装置。
  2. 請求項1に記載するテストプラグの性能判定装置において、
    前記一方の部材の内側面には、前記テストプラグの装着時に、CT用のテストプラグに固有の凸部を検出する接点と、PT用のテストプラグに固有の凸部を検出するための接点とを配設したことを特徴とするテストプラグの性能判定装置。
  3. 請求項1又は請求項2に記載するテストプラグの性能判定装置において、
    前記制御手段は、他の荷電用端子に対する荷電により、すでに荷電状態が検出された検電実績のある荷電用端子を記憶しておき、検電実績のある荷電用端子はスキップして次の荷電用端子に対する荷電を行うよう前記切替手段の切替制御を行うように構成したことを特徴とするテストプラグの性能判定装置。
  4. 請求項1乃至請求項3の何れか一つに記載するテストプラグの性能判定装置において、
    許容されない結線パターンをあらかじめ前記制御手段に登録しておき、登録した結線パターンが検出された場合にはその状態を前記表示部に表示するように構成したことを特徴とするテストプラグの性能判定装置。
  5. 請求項1乃至請求項3の何れか一つに記載するテストプラグの性能判定装置において、
    使用頻度の高い結線パターンをあらかじめ前記制御手段に登録しておき、登録した結線パターンが検出された場合にはその状態を前記表示部に表示するように構成したことを特徴とするテストプラグの性能判定装置。
  6. 請求項1乃至請求項5の何れか一つに記載するテストプラグの性能判定装置において、
    測定感度が異なる複数のモードを有し、前記テストプラグの電源側又は負荷側で何れかの相間に接続される電圧計の内部抵抗を介して前記相間が接続されていることを検出し得るように構成したことを特徴とするテストプラグの性能判定装置。
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