JP2007212308A - テストプラグの性能判定器 - Google Patents

Abstract

【課題】テストプラグの導通試験乃至絶縁試験を容易に実施することができるテストプラグの性能判定器を提供する。
【解決手段】テストプラグを挿入する挿入口Ａと、挿入口Ａに挿入されたテストプラグの各活線側導体に接触する活線側接点ＢＢ，ＢＷ，ＢＲ，ＢＮと、挿入口Ａに挿入されたテストプラグの各非活線側導体に接触する非活線側接点ＣＢ，ＣＷ，ＣＲ，ＣＮと、前記活線側接点ＢＢ，ＢＷ，ＢＲ，ＢＮ乃至非活線側接点ＣＢ，ＣＷ，ＣＲ，ＣＮを任意に選択するスイッチ手段Ｄと、スイッチ手段Ｄを介し所定の電流を供給して導通を検出する導通検出手段Ｅと、スイッチ手段Ａを介し所定の高電圧を印加して絶縁抵抗を測定する絶縁抵抗測定手段Ｆとを有する。
【選択図】図２

Description

本発明はテストプラグの性能判定器に関し、特にテストターミナルに挿入して電力系統の保護機器である継電器の動作確認等を行うテストプラグの性能判定、すなわちこのテストプラグの各相間の導通試験や各相間の絶縁性能検査を行う場合に適用して有用なものである。

電力系統の保護システムとして、例えば、図１３に示すようなものがある。この保護システムでは、線路５０Ｂ，５０Ｗ，５０Ｒの各相に変流器（ＣＴ）５１Ｂ，５１Ｗ，５１Ｒが設けられ、その一端側が中性点Ｎ（以下、変流器５１Ｂ，５１Ｗ，５１Ｒのそれぞれの相をＢ，Ｗ，Ｒ相、中性点Ｎに接続される相をＮ相と称す。）に接続されるとともに、他端側がそれぞれ過電流継電器５３Ｂ，５３Ｗ，５３Ｒに接続されている。ここで、各過電流継電器５３Ｂ，５３Ｗ，５３Ｒと中性点Ｎとの間には地絡過電流継電器５５が設けられ、事故時の異常電流に基づき、例えば地絡過電流継電器５５が動作することで送出される信号に基づいて、線路５０Ｂ，５０Ｗ，５０Ｒと変圧器５７との間に設けられた遮断器５９を遮断制御するようになっている。

かかる保護システムでは、過電流継電器５３Ｂ，５３Ｗ，５３Ｒ、地絡過電流継電器５５と各変流器５１Ｂ，５１Ｗ，５１Ｒの間で配電盤にテストターミナル５を配設し、テストプラグ３０に計器、電流発生器等を備えた試験装置６０を接続した後、これをテストターミナル５に挿入して、線路５０Ｂ，５０Ｗ，５０Ｒを活線状態のまま、各過電流継電器５３Ｂ，５３Ｗ，５３Ｒと地絡過電流継電器５５の試験を行っている。

ここでテストターミナル５の概要を図１４に基づいて説明する。同図はテストターミナル５の縦断面図を示し、配電盤（図示せず。）に固定されてプラグ挿入口７を有する箱体６内には、４個の接点装置１０が上記Ｂ，Ｗ，Ｒ相およびＮ相の各相に対応して並設されている。各接点装置１０は、副接触部１２，２２、主接触部１３，２３、接点１４，２４をそれぞれ有する上下１対の可動接触板１１，２１、及び支持導体１５，２５を主体とし、それぞれ端子１７，２７に接続して構成されている。ここで、副接触部１２、主接触部１３、接点１４をそれぞれ有する可動接触板１１で電源側導体を構成するとともに、副接触部２２、主接触部２３、接点２４をそれぞれ有する可動接触板２１で負荷側導体を構成している。

一方、試験時においてテストターミナル５に挿入されるテストプラグ３０は、図１５に示すように、絶縁支持体３１から突出した絶縁板３２に、各相に対応するとともに、上下に相互に絶縁された各一対の活線側導体３５Ｂ，３５Ｗ，３５Ｒ，３５Ｎ及び非活線側導体４５Ｂ，４５Ｗ，４５Ｒ，４５Ｎが並設されており、それらの基端部は、同軸状に配設された４組の端子３７，４７にそれぞれ接続されている。

このテストプラグ３０は、変流器５１Ｂ，５１Ｗ，５１Ｒの２次側が開放されるのを避けるため、例えば複数の短絡片３８により４個の端子３７間を連結接続して活線側導体３５Ｂ，３５Ｗ，３５Ｒ，３５Ｎ間を短絡するとともに、他の端子４７に試験装置６０を接続して所定の試験に供している。

テストターミナル５にテストプラグ３０が挿入されていない状態において、端子１７と端子２７間は、支持導体１５、中継接点１６、接点２４、可動接触板２１、支持導体２５及び支持導体２５、中継接点２６、接点１４、可動接触板１１、支持導体１５を介して閉路状態にあり、例えば、変流器５１Ｂは、過電流継電器５３Ｂおよび地絡過電流継電器５５と閉回路を形成している。

一方、過電流継電器５３Ｂ，５３Ｗ，５３Ｒ、地絡過電流継電器５５の試験に際して、テストターミナル５にテストプラグ３０が挿入されると、各接点装置１０の接点１４，２４と中継接点２６，１６との間が開離される。そして、例えば、変流器５１Ｂ、過電流継電器５３Ｂ間の接続が遮断されるとともに、短絡片３８により変流器５１Ｂ，５１Ｗ，５１Ｒの両端が短絡され、過電流継電器５３Ｂ，５３Ｗ，５３Ｒおよび地絡過電流継電器５５が試験装置６０に接続される。

かかる保護システムには、図示はしないが、事故時における線路５０Ｂ，５０Ｗ，５０Ｒの異常な電圧降下を検出するための計器用変圧器（ＰＴ）も通常設けてあり、かかる計器用変圧器も、変流器５１Ｂ，５１Ｗ，５１Ｒの場合と同様に、配電盤に配設したテストターミナルを介して所定の継電器等に接続してある。かくして、線路５０Ｂ，５０Ｗ，５０Ｒの異常電圧降下が検出された場合に、遮断器５９を遮断制御する。

そこで、前記計器用変圧器のテストターミナルに挿入して前記継電器の動作試験等を行うためのテストプラグも存在する。図１６に示すように、このテストプラグ４０は、図１５に示すテストプラグ３０とほぼ同様の構成であるが、間違ってＣＴ用のテストターミナル５に挿入しないような工夫を施してある。例えば、ＣＴ用のテストプラグ３０は各相間に介在させた３個の絶縁部材３３のうち中央のものを他よりも短く形成し、この形状のテストプラグ３０の挿入を許容するようテストプラグ３０の構造に合わせてＣＴ用のテストターミナル５を形成しているのに対し、ＰＴ用のテストプラグ４０は各相間に介在させた３個の絶縁部材４３のうち中央以外の両端のものを中央のものよりも短く形成し、この形状のテストプラグ４０の挿入を許容するようこの構造に合わせてＰＴ用のテストターミナルを形成している。なお、絶縁部材４３の部分を除く他の構成はテストプラグ３０と全く同一である。そこで、同一部分には同一番号を付し、重複する説明は省略する。

なお、上述の如きテストプラグ３０，４０及びテストターミナル５を有する保護システムに関する公知文献としては次のものが存在する。

特開平０８−００５６５９号公報

上述の如きテストプラグ３０，４０は、テストターミナル５等に挿入する前提としてその健全性が保証されていなければならない。例えば相間の絶縁抵抗が十分でないテストプラグ３０，４０を挿入した場合には不測の短絡事故に繋がり、所定の導通が取れていない場合には正確な動作試験ができない等の不都合を生起するからである。

そこで、かかる不都合を未然に回避すべく、各測定乃至試験は次のような態様で行っている。

１）ＣＴ回路の電流を測定する場合
ａ） 計測しようとする同相の端子３７，４７間に電流計を接続し、残りの相の端子３７，４７間はコ字状の導通アングルで接続する。
ｂ） 同相において電源側と負荷側との導通を確認するとともに、電源側及び負荷側のそれぞれにおいて異なる相同士の絶縁を確認する。
ｃ） 前記電流計を見ながらテストプラグ３０をテストターミナル５に挿入する。

２）計器側に試験装置で電流を供給する場合
ａ） 端子３７に短絡片３８を接続して電源側の全ての異なる相間を短絡する。
ｂ） 電源側の異なる相間の導通を確認する。
ｃ） テストプラグ３０をテストターミナル５に挿入し、端子４７を介して所定の電流を供給する。

３）ＰＴ回路の電圧を測定する場合
ａ） 各端子３７，４７間をコ字状の導通アングルで接続する。
ｂ） 同相において電源側と負荷側との導通を確認するとともに、電源側及び負荷側のそれぞれにおいて異なる相同士の絶縁を確認する。
ｃ） テストプラグ４０をテストターミナルに挿入し、異なる二相間に電圧計を接続する。

４）計器側に試験装置で電圧を印加する場合
ａ） 各端子３７，４７間を開放状態にする（前記導通アングルで接続しない）。
ｂ） 同相において電源側と負荷側との絶縁を確認するとともに、電源側及び負荷側のそれぞれにおいて異なる相同士の絶縁を確認する。
ｃ） テストプラグ４０をテストターミナルに挿入し、各端子４７に所定の電圧を印加する。

当該保護システムにおいて、上述の如き所定の各試験乃至測定を行う場合には、上記１）乃至４）の「ｂ」」の工程で、テストプラグ３０，４０に関して所定の導通試験及び絶縁測定を行う必要がある。従来技術において、かかる試験乃至絶縁測定は、作業者がテスタ乃至メガーを用いて手作業で行っていた。すなわち、テスタ乃至メガーのプローブを測定点である端子３７，４７、活線側導体３５Ｂ，３５Ｗ，３５Ｒ，３５Ｎ、非活線側導体４５Ｂ，４５Ｗ，４５Ｒ，４５Ｎ等の所定位置に接触させて、一つ一つ行っている。この場合の測定回数は、４端子のテストプラグ３０，４０の場合、導通試験で最高１６回、絶縁試験で１６回必要な場合がある。

このため、従来技術においては、上記試験乃至測定に多大な時間を要していた。また、測定乃至試験の回数が多いこととも相俟って錯誤により測定乃至試験を行わなかったり、重複して行ったりという人間系の間違いも生じ易いという問題があった。

本発明は、上記従来技術に鑑み、上述の如きテストプラグの導通試験乃至絶縁試験を容易に実施することができるテストプラグの性能判定器を提供することを目的とする。

上記目的を達成する本発明の第１の態様は、
電源側の各相に接続されたテストターミナルの複数の電源側導体にそれぞれ接触する活線側導体と、各相の負荷側に接続された前記テストターミナルの同数の負荷側導体にそれぞれ接触する非活線側導体とが複数の各相毎に絶縁板の相対向する面にそれぞれ配設されているテストプラグを挿入する挿入口と、
前記挿入口に挿入されたテストプラグの前記各活線側導体に接触する活線側接点と、
前記挿入口に挿入されたテストプラグの前記各非活線側導体に接触する非活線側接点と、
同一相の各一対の前記活線側接点と前記非活線側接点、又は異なる二相間の各一対の前記活線側接点同士若しくは各一対の前記非活線側接点同士を任意に選択するスイッチ手段と、
前記スイッチ手段を介してこのスイッチ手段が選択している前記活線側接点と前記非活線側接点との間、又は前記活線側接点同士の間若しくは前記非活線側接点同士の間に所定の電流を供給して前記活線側接点と前記非活線側接点との間、又は前記活線側接点同士の間若しくは前記非活線側接点同士の間の導通を検出する導通検出手段とを有することを特徴とするテストプラグの性能判定器である。

本態様においては、テストプラグを挿入口に挿入し、この状態で活線側導体乃至非活線側導体に接触している活線側接点乃至非活線側接点の導通検出手段に対する接続状態を切り替えるだけで所定の導通確認を行うことができる。

本発明の第２の態様は、
上記第１の態様に記載するテストプラグの性能判定器において、
さらに絶縁抵抗測定手段を有し、この絶縁抵抗測定手段は、前記スイッチ手段を介して
このスイッチ手段が選択している前記活線側接点と前記非活線側接点との間、又は前記活線側接点同士の間若しくは前記非活線側接点同士の間に所定の高電圧を印加して前記絶縁板を介する活線側接点と非活線側接点との間の絶縁抵抗、又は前記活線側接点同士の間若しくは前記非活線側接点同士の間の絶縁抵抗を測定するものであることを特徴とするテストプラグの性能判定器である。

本態様においては、テストプラグを挿入口に挿入し、この状態で活線側導体乃至非活線側導体に接触している活線側接点乃至非活線側接点の導通検出手段に対する接続状態を切り替えるだけで所定の導通確認のみならず、所定の絶縁確認も行うことができる。

本発明の第３の態様は、
上記第１又は第２の態様に記載するテストプラグの性能判定器において、
さらに制御手段を有し、この制御手段は予め記憶している測定手順に基づいて前記スイッチ手段の切り替えを制御し、前記活線側接点と前記非活線側接点、又は異なる二相間の各一対の前記活線側接点同士若しくは各一対の前記非活線側接点同士を逐次選択して前記導通検出手段による所定の導通の検出、又は所定の導通の検出と所定の絶縁抵抗の測定とを自動的に行うようにしたことを特徴とするテストプラグの性能判定器である。

本態様においては、テストプラグを挿入口に挿入するだけで、所定の導通確認、又は導通確認と絶縁確認とを自動的に行うことができる。

本発明の第４の態様は、
上記第１乃至第３の態様の何れか一つに記載するテストプラグの性能判定器において、
さらに表示手段を有し、この表示手段は前記各絶縁抵抗の測定結果乃至前記導通の検出結果を可視化して表示するものであることを特徴とするテストプラグの性能判定器である。

本態様においては、所定の確認結果を可視化して告知することができる。

本発明の第５の態様は、
上記第１乃至第４の態様の何れか一つに記載するテストプラグの性能判定器において、
挿入口は、ＰＴテストターミナル用のテストプラグの構造に特化したＰＴ用挿入口と、ＣＴテストターミナル用のテストプラグの構造に特化したＣＴ用挿入口とを有することを特徴とするテストプラグの判定器である。

本態様においては、専用の挿入口を利用してＰＴ用、ＣＴ用を取り違えることなく、所定のテストプラグを挿入口に挿入し、この状態で活線側導体乃至非活線側導体に接触している活線側接点乃至非活線側接点の導通検出手段に対する接続状態を切り替えるだけで所定の導通確認、又は導通確認と絶縁確認とを行うことができる。

本発明の第６の態様は、
上記第１乃至第４の態様の何れか一つに記載するテストプラグの性能判定器において、
挿入口は、ＰＴテストターミナル用のテストプラグと、ＣＴテストターミナル用のテストプラグとで共用し得るように構成したことを特徴とするテストプラグの判定器である。

本態様においては、挿入口をＰＴ用とＣＴ用とで共用することができる。

上記構成の本発明によれば、テストプラグを挿入口に挿入し、この状態で活線側導体乃至非活線側導体に接触している活線側接点乃至非活線側接点の導通検出手段乃至絶縁抵抗測定手段に対する接続状態を切り替えるだけで所定の導通確認乃至絶縁確認を行うことができる。

この結果、所定の導通試験乃至絶縁試験を、テスタ乃至メガーのプローブをテストプラグの各端子や各活線側導体乃至非活線側導体に一々接触させることなく、簡易、迅速に実施することができる。また、スイッチ手段のシーケンシャルな切り替えを自動化することで、前記試験乃至測定の全自動化を図ることもでき、この場合には特に所定の試験乃至測定を迅速に行うことができるばかりでなく人間系に起因する間違いを完全に除去することができる。

以下本発明の実施の形態を図面に基づき詳細に説明する。

図１は本発明の実施の形態に係るテストプラグの性能判定器の外観を示す説明図である。同図に示すように、本形態に係る性能判定器は各種の機器、部品等を収納している筐体７０にテストプラグ３０，４０を挿入し得る挿入口Ａを形成したものである。ここで、テストプラグ３０，４０は、テストターミナル５等に挿入して継電器の動作確認試験等を行うためのものである。したがって、挿入口Ａは、テストターミナル５とほぼ同様の構造を有するものであり、本形態においてはＣＴ用のテストプラグ３０と、ＰＴ用のテストプラグ４０とで共用し得るように構成してある。

さらに、筐体７０の表面には、測定乃至試験結果を表示する表示手段（本体は図示せず）の表示パネル７１、所定の測定を開始する際に操作する測定開始釦７２、導通・メガー・接地モードの切替レンジ７３、メガー用の放電用アース端子７４が配設してある。

図２は図１に示す性能判定器を示すブロック線図である。同図に示すように、挿入口Ａは、テストプラグ３０，４０（図２には図示せず）の両方を挿入することができるような構造となっている。活線側接点ＢＢ，ＢＷ，ＢＲ，ＢＮ及び非活線側接点ＣＢ，ＣＷ，ＣＲ，ＣＮは、挿入口Ａに挿入されたテストプラグ３０，４０の各活線側導体３５Ｂ，３５Ｗ，３５Ｒ，３５Ｎ及び非活線側導体４５Ｂ，４５Ｗ，４５Ｒ，４５Ｎにそれぞれ接触するよう挿入口Ａの近傍に配設してある。そして、これらの活線側接点ＢＢ，ＢＷ，ＢＲ，ＢＮ及び非活線側接点ＣＢ，ＣＷ，ＣＲ，ＣＮはスイッチ手段Ｄの各接点（具体的な構成は後に詳述する。）の開閉により選択される。

スイッチ手段Ｄは、その内部に多数有する接点（図２には図示せず。）を介して活線側接点ＢＢ，ＢＷ，ＢＲ，ＢＮ及び非活線側接点ＣＢ，ＣＷ，ＣＲ，ＣＮを導通検出手段Ｅ乃至絶縁抵抗検出手段Ｆに選択的に電気的に接続する。

導通検出手段Ｅは、スイッチ手段Ｄを介してこのスイッチ手段Ｄの接点が選択している活線側接点ＢＢ，ＢＷ，ＢＲ，ＢＮと非活線側接点ＣＢ，ＣＷ，ＣＲ，ＣＮとの間、又は活線側接点ＢＢ，ＢＷ，ＢＲ，ＢＮ同士の間若しくは非活線側接点ＣＢ，ＣＷ，ＣＲ，ＣＮ同士の間に所定の電流を供給して活線側接点ＢＢ，ＢＷ，ＢＲ，ＢＮと非活線側接点ＣＢ，ＣＷ，ＣＲ，ＣＮとの間、又は活線側接点ＢＢ，ＢＷ，ＢＲ，ＢＮ同士の間若しくは非活線側接点ＣＢ，ＣＷ，ＣＲ，ＣＮ同士の間の導通を検出する。

絶縁抵抗検出手段Ｆは、スイッチ手段Ｄを介してこのスイッチ手段Ｄが選択している活線側接点ＢＢ，ＢＷ，ＢＲ，ＢＮと非活線側接点ＣＢ，ＣＷ，ＣＲ，ＣＮとの間、又は活線側接点ＢＢ，ＢＷ，ＢＲ，ＢＮ同士の間若しくは非活線側接点ＣＢ，ＣＷ，ＣＲ，ＣＮ同士の間に所定の高電圧を印加して活線側接点ＢＢ，ＢＷ，ＢＲ，ＢＮと非活線側接点ＣＢ，ＣＷ，ＣＲ，ＣＮとの間の絶縁抵抗、又は活線側接点ＢＢ，ＢＷ，ＢＲ，ＢＮ同士の間若しくは非活線側接点ＣＢ，ＣＷ，ＣＲ，ＣＮ同士の間の絶縁抵抗を測定する。

制御手段Ｇは、予め記憶している測定手順に基づいてスイッチ手段Ｄの各接点の切り替えを制御し、前記活線側接点と前記非活線側接点、又は異なる二相間の各一対の前記活線側接点同士若しくは各一対の前記非活線側接点同士を逐次選択して前記導通検出手段による所定の導通の検出と所定の絶縁抵抗の測定とを自動的に行う。

表示手段Ｈは導通検出手段Ｅによる前記各絶縁抵抗の測定結果と絶縁抵抗検出手段Ｆによる前記各絶縁抵抗の測定結果とを可視化して表示するものである。

図３は図２に示す性能判定器の具体的な回路の構成例を示す回路図で、そのスイッチ手段Ｄの各接点の状態がモード１の場合について示している。同図に示すように、本モードでは接点ａ，ｂ及び接点ａ１，ｂ１間、接点ｃ１，ｄ１間がＯＮ状態で、他はＯＦＦ状態となっている。

そこで、切替レンジ７３で「導通モード」を選択することにより接点ｓｃ１，ｓｃ２をＯＮ状態とすることで活線側導体ＢＢ，ＢＷ間の導通の有無を検出することができる。また、切替レンジ７３で「メガーモード」を選択することにより接点ｓｍ１，ｓｍ２をＯＮ状態とすることで活線側導体ＢＢ，ＢＷ間の絶縁抵抗の良否を検出することができる。

なお、ここで前述の如き、１）ＣＴ回路の電流を測定する場合における「ａ）計測しようとする同相の端子３７，４７間に電流計を接続し、残りの相の端子３７，４７間はコ字状の導通アングルで接続する。」、２）計器側に試験装置で電流を供給する場合における「ａ） 端子３７に短絡片３８を接続して電源側の全ての異なる相間を短絡する。」、３）ＰＴ回路の電圧を測定する場合における「ａ） 各端子３７，４７間をコ字状の導通アングルで接続する。」、４）計器側に試験装置で電圧を印加する場合における「ａ） 各端子３７，４７間を開放状態にする（前記導通アングルで接続しない）。」という前提条件は予め成立させてあるものとする（以下、同じ。）。

次に、図３に示す以外の各モードについて接点の状態を図４乃至図１１に基づき説明しておく。

１）モード２（図４（ａ）参照）
本モードでは接点ａ，ｃ及び接点ｋ，ｌ間、接点ａ１，ｂ１間、接点ｃ１，ｄ１間がＯＮ状態で、他はＯＦＦ状態となっている。

そこで、切替レンジ７３で「導通モード」を選択することにより接点ｓｃ１，ｓｃ２をＯＮ状態とすることで活線側導体ＢＢ，ＢＲ間の導通の有無を検出することができる。また、切替レンジ７３で「メガーモード」を選択することにより接点ｓｍ１，ｓｍ２をＯＮ状態とすることで活線側導体ＢＢ，ＢＲ間の絶縁抵抗の良否を検出することができる。

２）モード３（図４（ｂ）参照）
本モードでは接点ａ，ｄ及び接点ｋ，ｌ間、接点ｏ，ｐ間、接点ａ１，ｂ１間、接点ｃ１，ｄ１間がＯＮ状態で、他はＯＦＦ状態となっている。

そこで、切替レンジ７３で「導通モード」を選択することにより接点ｓｃ１，ｓｃ２をＯＮ状態とすることで活線側導体ＢＢ，ＢＮ間の導通の有無を検出することができる。また、切替レンジ７３で「メガーモード」を選択することにより接点ｓｍ１，ｓｍ２をＯＮ状態とすることで活線側導体ＢＢ，ＢＮ間の絶縁抵抗の良否を検出することができる。

３）モード４（図５（ａ）参照）
本モードでは接点ｂ，ｃ及び接点ｉ，ｌ間、接点ａ１，ｂ１間、接点ｃ１，ｄ１間がＯＮ状態で、他はＯＦＦ状態となっている。

そこで、切替レンジ７３で「導通モード」を選択することにより接点ｓｃ１，ｓｃ２をＯＮ状態とすることで活線側導体ＢＷ，ＢＲ間の導通の有無を検出することができる。また、切替レンジ７３で「メガーモード」を選択することにより接点ｓｍ１，ｓｍ２をＯＮ状態とすることで活線側導体ＢＷ，ＢＲ間の絶縁抵抗の良否を検出することができる。

４）モード５（図５（ｂ）参照）
本モードでは接点ｂ，ｄ及び接点ｉ，ｌ間、接点ｏ，ｐ間、接点ａ１，ｂ１間、接点ｃ１，ｄ１間がＯＮ状態で、他はＯＦＦ状態となっている。

そこで、切替レンジ７３で「導通モード」を選択することにより接点ｓｃ１，ｓｃ２をＯＮ状態とすることで活線側導体ＢＷ，ＢＮ間の導通の有無を検出することができる。また、切替レンジ７３で「メガーモード」を選択することにより接点ｓｍ１，ｓｍ２をＯＮ状態とすることで活線側導体ＢＷ，ＢＮ間の絶縁抵抗の良否を検出することができる。

５）モード６（図６（ａ）参照）
本モードでは接点ｃ，ｄ及び接点ｉ，ｊ間、接点ｋ，ｌ間、接点ｍ，ｐ間、接点ａ１，ｂ１間、接点ｃ１，ｄ１間がＯＮ状態で、他はＯＦＦ状態となっている。

そこで、切替レンジ７３で「導通モード」を選択することにより接点ｓｃ１，ｓｃ２をＯＮ状態とすることで活線側導体ＢＲ，ＢＮ間の導通の有無を検出することができる。また、切替レンジ７３で「メガーモード」を選択することにより接点ｓｍ１，ｓｍ２をＯＮ状態とすることで活線側導体ＢＲ，ＢＮ間の絶縁抵抗の良否を検出することができる。

６）モード７（図６（ｂ）参照）
本モードでは接点ｅ，ｆ及び接点ｉ，ｊ間、接点ｍ，ｎ間、接点ｋ，ｌ間、接点ｏ，ｐ間、接点ｑ，ｓ間、接点ｕ，ｗ間、接点ｒ，ｔ間、接点ｖ，ｘ間、接点ａ１，ｂ１間、接点ｃ１，ｄ１間がＯＮ状態で、他はＯＦＦ状態となっている。

そこで、切替レンジ７３で「導通モード」を選択することにより接点ｓｃ１，ｓｃ２をＯＮ状態とすることで非活線側導体ＣＢ，ＣＷ間の導通の有無を検出することができる。また、切替レンジ７３で「メガーモード」を選択することにより接点ｓｍ１，ｓｍ２をＯＮ状態とすることで非活線側導体ＣＢ，ＣＷ間の絶縁抵抗の良否を検出することができる。

７）モード８（図７（ａ）参照）
本モードでは接点ｅ，ｇ及び接点ｉ，ｊ間、接点ｍ，ｎ間、接点ｋ，ｌ間、接点ｏ，ｐ間、接点ｕ，ｗ間、接点ｒ，ｔ間、接点ｖ，ｘ間、接点ａ１，ｂ１間、接点ｃ１，ｄ１間がＯＮ状態で、他はＯＦＦ状態となっている。

そこで、切替レンジ７３で「導通モード」を選択することにより接点ｓｃ１，ｓｃ２をＯＮ状態とすることで非活線側導体ＣＢ，ＣＲ間の導通の有無を検出することができる。また、切替レンジ７３で「メガーモード」を選択することにより接点ｓｍ１，ｓｍ２をＯＮ状態とすることで非活線側導体ＣＢ，ＣＲ間の絶縁抵抗の良否を検出することができる。

８）モード９（図７（ｂ）参照）
本モードでは接点ｅ，ｈ及び接点ｉ，ｊ間、接点ｍ，ｎ間、接点ｋ，ｌ間、接点ｏ，ｐ間、接点ｖ，ｘ間、接点ｒ，ｔ間、接点ａ１，ｂ１間、接点ｃ１，ｄ１間がＯＮ状態で、他はＯＦＦ状態となっている。

そこで、切替レンジ７３で「導通モード」を選択することにより接点ｓｃ１，ｓｃ２をＯＮ状態とすることで非活線側導体ＣＢ，ＣＮ間の導通の有無を検出することができる。また、切替レンジ７３で「メガーモード」を選択することにより接点ｓｍ１，ｓｍ２をＯＮ状態とすることで非活線側導体ＣＢ，ＣＮ間の絶縁抵抗の良否を検出することができる。

９）モード１０（図８（ａ）参照）
本モードでは接点ｆ，ｇ及び接点ｉ，ｊ間、接点ｍ，ｎ間、接点ｋ，ｌ間、接点ｏ，ｐ間、接点ｕ，ｗ間、接点ｖ，ｘ間、接点ｑ，ｔ間、接点ａ１，ｂ１間、接点ｃ１，ｄ１間がＯＮ状態で、他はＯＦＦ状態となっている。

そこで、切替レンジ７３で「導通モード」を選択することにより接点ｓｃ１，ｓｃ２をＯＮ状態とすることで非活線側導体ＣＷ，ＣＲ間の導通の有無を検出することができる。また、切替レンジ７３で「メガーモード」を選択することにより接点ｓｍ１，ｓｍ２をＯＮ状態とすることで非活線側導体ＣＷ，ＣＲ間の絶縁抵抗の良否を検出することができる。

１０）モード１１（図８（ｂ）参照）
本モードでは接点ｆ，ｈ及び接点ｉ，ｊ間、接点ｍ，ｎ間、接点ｋ，ｌ間、接点ｏ，ｐ間、接点ｖ，ｘ間、接点ｑ，ｔ間、接点ａ１，ｂ１間、接点ｃ１，ｄ１間がＯＮ状態で、他はＯＦＦ状態となっている。

そこで、切替レンジ７３で「導通モード」を選択することにより接点ｓｃ１，ｓｃ２をＯＮ状態とすることで非活線側導体ＣＷ，ＣＮ間の導通の有無を検出することができる。また、切替レンジ７３で「メガーモード」を選択することにより接点ｓｍ１，ｓｍ２をＯＮ状態とすることで非活線側導体ＣＷ，ＣＮ間の絶縁抵抗の良否を検出することができる。

１１）モード１２（図９参照）
本モードでは接点ｇ，ｈ及び接点ｉ，ｊ間、接点ｍ，ｎ間、接点ｋ，ｌ間、接点ｏ，ｐ間、接点ｕ，ｘ間、接点ａ１，ｂ１間、接点ｃ１，ｄ１間がＯＮ状態で、他はＯＦＦ状態となっている。

そこで、切替レンジ７３で「導通モード」を選択することにより接点ｓｃ１，ｓｃ２をＯＮ状態とすることで非活線側導体ＣＲ，ＣＮ間の導通の有無を検出することができる。また、切替レンジ７３で「メガーモード」を選択することにより接点ｓｍ１，ｓｍ２をＯＮ状態とすることで非活線側導体ＣＲ，ＣＮ間の絶縁抵抗の良否を検出することができる。

１２）モード１３（図１０（ａ）参照）
本モードでは接点ａ，ｅ及び接点ｋ，ｌ間、接点ｏ，ｎ間、接点ｖ，ｘ間、接点ｒ，ｔ間、接点ａ１，ｂ１間、接点ｃ１，ｄ１間がＯＮ状態で、他はＯＦＦ状態となっている。

そこで、切替レンジ７３で「導通モード」を選択することにより接点ｓｃ１，ｓｃ２をＯＮ状態とすることで活線側接点ＢＢと非活線側接点ＣＢとの間の導通の有無を検出することができる。また、切替レンジ７３で「メガーモード」を選択することにより接点ｓｍ１，ｓｍ２をＯＮ状態とすることで活線側接点ＢＢと非活線側接点ＣＢとの間の絶縁抵抗の良否を検出することができる。

１３）モード１４（図１０（ｂ）参照）
本モードでは接点ｂ，ｆ及び接点ｉ，ｌ間、接点ｏ，ｐ間、接点ｕ，ｗ間、接点ｑ，ｓ間、接点ａ１，ｂ１間、接点ｃ１，ｄ１間がＯＮ状態で、他はＯＦＦ状態となっている。

そこで、切替レンジ７３で「導通モード」を選択することにより接点ｓｃ１，ｓｃ２をＯＮ状態とすることで活線側接点ＢＷと非活線側接点ＣＷとの間の導通の有無を検出することができる。また、切替レンジ７３で「メガーモード」を選択することにより接点ｓｍ１，ｓｍ２をＯＮ状態とすることで活線側接点ＢＷと非活線側接点ＣＷとの間の絶縁抵抗の良否を検出することができる。

１４）モード１５（図１１（ａ）参照）
本モードでは接点ｃ，ｇ及び接点ｉ，ｊ間、接点ｍ，ｐ間、接点ｋ，ｌ間、接点ｕ，ｗ間、接点ａ１，ｂ１間、接点ｃ１，ｄ１間がＯＮ状態で、他はＯＦＦ状態となっている。

そこで、切替レンジ７３で「導通モード」を選択することにより接点ｓｃ１，ｓｃ２をＯＮ状態とすることで活線側接点ＢＲと非活線側接点ＣＲとの間の導通の有無を検出することができる。また、切替レンジ７３で「メガーモード」を選択することにより接点ｓｍ１，ｓｍ２をＯＮ状態とすることで活線側接点ＢＲと非活線側接点ＣＲとの間の絶縁抵抗の良否を検出することができる。

１５）モード１６（図１１（ｂ）参照）
本モードでは接点ｄ，ｈ及び接点ｉ，ｊ間、接点ｍ，ｎ間、接点ｋ，ｌ間、接点ｏ，ｐ間、接点ｃ１，ｂ１間がＯＮ状態で、他はＯＦＦ状態となっている。

そこで、切替レンジ７３で「導通モード」を選択することにより接点ｓｃ１，ｓｃ２をＯＮ状態とすることで活線側接点ＢＮと非活線側接点ＣＮとの間の導通の有無を検出することができる。また、切替レンジ７３で「メガーモード」を選択することにより接点ｓｍ１，ｓｍ２をＯＮ状態とすることで活線側接点ＢＮと非活線側接点ＣＮとの間の絶縁抵抗の良否を検出することができる。

上記実施の形態は挿入口ＡをＣＴ用とＰＴ用で兼用する場合であるが、これに限るものではない。図１２に示すように構成しても良い。同図に示す性能判定器では、ＣＴ用のテストプラグ３０の構造及びＰＴ用のテストプラグ４０の構造にそれぞれ特化した２つの挿入口Ａ１，Ａ２を設けることにより、専用の挿入口Ａ１，Ａ２を利用してＰＴ用，ＣＴ用を取り違えることなく、所定のテストプラグ３０，４０を挿入口Ａ１，Ａ２に挿入して所定の測定乃至検査を行うことができる。

さらに、上記実施の形態に係る性能判定器は、二相のテストプラグにも対応し得る。二相の場合には、挿入口Ａ，Ａ１，Ａ２の、例えば向かって左側の端部に寄せてテストプラグを挿入すれば良い。

絶縁抵抗検出手段Ｆは不要な場合がある。所定の絶縁性能が予め保証されていれば導通検出手段Ｅのみを具備する構造としても構わない。

本発明は電力機器を製造販売する産業分野や、電力設備を保守・点検する産業分野で利用することができる。

本発明の実施の形態に係るテストプラグの性能判定器の外観を示す説明図である。 本発明の実施の形態に係るテストプラグの性能判定器を示すブロック線図である。 図２に示す性能判定器の具体的な回路の構成例を示す回路図で、そのスイッチ手段の各接点の状態がモード１の場合について示している。 図３に示す回路における各接点の開閉状態をモード２、３の場合について示す回路図である。 図３に示す回路における各接点の開閉状態をモード４，５の場合について示す回路図である。 図３に示す回路における各接点の開閉状態をモード６，７の場合について示す回路図である。 図３に示す回路における各接点の開閉状態をモード８，９の場合について示す回路図である。 図３に示す回路における各接点の開閉状態をモード１０，１１の場合について示す回路図である。 図３に示す回路における各接点の開閉状態をモード１２の場合について示す回路図である。 図３に示す回路における各接点の開閉状態をモード１３，１４の場合について示す回路図である。 図３に示す回路における各接点の開閉状態をモード１５，１６の場合について示す回路図である。 本発明の他の実施の形態に係るテストプラグの性能判定器の外観を示す説明図である。 挿入式のテストプラグ及びテストターミナルを有する電力系統の保護システムを示す回路図である。 テストターミナルをその一部を切欠いて示す右側面図である。 ＣＴ用のテストプラグを示す斜視図である。 ＰＴ用のテストプラグを示す斜視図である。

符号の説明

Ａ 挿入口
ＢＢ，ＢＷ，ＢＲ，ＢＮ 活線側接点
ＣＢ，ＣＷ，ＣＲ，ＣＮ 非活線側接点
Ｄ スイッチ手段
Ｅ 導通検出手段
Ｆ 絶縁抵抗検出手段
Ｇ 制御手段
Ｈ 表示手段
５ テストターミナル
３０，４０ テストプラグ

Claims (6)

1. 電源側の各相に接続されたテストターミナルの複数の電源側導体にそれぞれ接触する活線側導体と、各相の負荷側に接続された前記テストターミナルの同数の負荷側導体にそれぞれ接触する非活線側導体とが複数の各相毎に絶縁板の相対向する面にそれぞれ配設されているテストプラグを挿入する挿入口と、
   前記挿入口に挿入されたテストプラグの前記各活線側導体に接触する活線側接点と、
   前記挿入口に挿入されたテストプラグの前記各非活線側導体に接触する非活線側接点と、
   同一相の各一対の前記活線側接点と前記非活線側接点、又は異なる二相間の各一対の前記活線側接点同士若しくは各一対の前記非活線側接点同士を任意に選択するスイッチ手段と、
   前記スイッチ手段を介してこのスイッチ手段が選択している前記活線側接点と前記非活線側接点との間、又は前記活線側接点同士の間若しくは前記非活線側接点同士の間に所定の電流を供給して前記活線側接点と前記非活線側接点との間、又は前記活線側接点同士の間若しくは前記非活線側接点同士の間の導通を検出する導通検出手段とを有することを特徴とするテストプラグの性能判定器。
2. 請求項１に記載するテストプラグの性能判定器において、
   さらに絶縁抵抗測定手段を有し、この絶縁抵抗測定手段は、前記スイッチ手段を介して
   このスイッチ手段が選択している前記活線側接点と前記非活線側接点との間、又は前記活線側接点同士の間若しくは前記非活線側接点同士の間に所定の高電圧を印加して前記絶縁板を介する活線側接点と非活線側接点との間の絶縁抵抗、又は前記活線側接点同士の間若しくは前記非活線側接点同士の間の絶縁抵抗を測定するものであることを特徴とするテストプラグの性能判定器。
3. 請求項１又は請求項２に記載するテストプラグの性能判定器において、
   さらに制御手段を有し、この制御手段は予め記憶している測定手順に基づいて前記スイッチ手段の切り替えを制御し、前記活線側接点と前記非活線側接点、又は異なる二相間の各一対の前記活線側接点同士若しくは各一対の前記非活線側接点同士を逐次選択して前記導通検出手段による所定の導通の検出、又は所定の導通の検出と所定の絶縁抵抗の測定とを自動的に行うようにしたことを特徴とするテストプラグの性能判定器。
4. 請求項１乃至請求項３の何れか一つに記載するテストプラグの性能判定器において、
   さらに表示手段を有し、この表示手段は前記各絶縁抵抗の測定結果乃至前記導通の検出結果を可視化して表示するものであることを特徴とするテストプラグの性能判定器。
5. 請求項１乃至請求項４の何れか一つに記載するテストプラグの性能判定器において、
   挿入口は、ＰＴテストターミナル用のテストプラグの構造に特化したＰＴ用挿入口と、ＣＴテストターミナル用のテストプラグの構造に特化したＣＴ用挿入口とを有することを特徴とするテストプラグの判定器。
6. 請求項１乃至請求項４の何れか一つに記載するテストプラグの性能判定器において、
   挿入口は、ＰＴテストターミナル用のテストプラグと、ＣＴテストターミナル用のテストプラグとで共用し得るように構成したことを特徴とするテストプラグの判定器。
   

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