JP2006084249A - 絶縁検査方法および絶縁検査装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】絶縁不良箇所の劣化や破壊を確実に回避しつつ絶縁検査を行い得る絶縁検査方法を提供する。
【解決手段】検査対象体における一対の導体パターン31,32の間に検査用電圧を印加して一対の導体パターン31,32の絶縁を検査する際に、検査用電圧を第1の電圧値から第2の電圧値に向けて徐々に昇圧させると共に、検査用電圧の印加に応じて一対の導体パターン31,32の間を流れる電流の電流値に応じて変化する電気的パラメータを測定し、測定値が所定値に達するときに検査用電圧の出力を停止する。
【選択図】図1
【解決手段】検査対象体における一対の導体パターン31,32の間に検査用電圧を印加して一対の導体パターン31,32の絶縁を検査する際に、検査用電圧を第1の電圧値から第2の電圧値に向けて徐々に昇圧させると共に、検査用電圧の印加に応じて一対の導体パターン31,32の間を流れる電流の電流値に応じて変化する電気的パラメータを測定し、測定値が所定値に達するときに検査用電圧の出力を停止する。
【選択図】図1
Description
本発明は、検査対象体における一対の検査部位を絶縁検査する絶縁検査方法および絶縁検査装置に関するものである。
この種の絶縁検査方法として、特開平5−157798号公報に開示されたプリント基板の絶縁試験方法が知られている。この絶縁試験方法では、プリント基板に絶縁不良箇所が存在したとしても、この絶縁不良箇所を過電流で焼損(破壊)させない程度の所定の低電圧での絶縁試験を最初に実行する。この場合、そのときの電圧と電流とに基づいて絶縁抵抗を算出して、この絶縁抵抗が基準値を超えているときには合格とし、次に、所定の高電圧での絶縁試験を実行する。一方、絶縁抵抗が基準値以下のときには不合格として、所定の高電圧での絶縁試験を実行しない。したがって、絶絶縁不良箇所に高電圧を印加しないことで、高電圧の印加に起因して流れる過電流によって絶縁不良箇所を焼損させないため、絶縁不良箇所の解析や手直しが可能となる結果、品質と歩留まりの向上を図ることが可能となっている。
特開平5−157798号公報(第1−3頁)
ところが、従来のプリント基板の絶縁試験方法には、以下の問題点がある。すなわち、従来の絶縁試験方法では、所定の低電圧での絶縁試験で合格とされたものに対して所定の高電圧を印加して絶縁試験を実行している。しかしながら、低電圧の絶縁試験で合格と検査されたプリント基板(検査対象体)であっても、所定の低電圧から所定の高電圧の間の電圧で絶縁抵抗が基準値以下となる絶縁不良箇所が存在することがある。この場合、従来の絶縁検査方法では、低電圧の印加に続いて高電圧が絶縁不良箇所に一気に印加されるため、依然として過電流による絶縁不良箇所の劣化や破壊を引き起こす可能性があるという問題点が存在する。なお、保護回路を用いて絶縁不良箇所の破壊等を回避する手法が考えられるが、高電圧が絶縁不良箇所に一気に印加された際には、過電流が一気に流れるため、実際には破壊等を回避するのが非常に困難である。
本発明は、かかる問題点に鑑みてなされたものであり、絶縁不良箇所の劣化や破壊を確実に回避しつつ絶縁検査を行い得る絶縁検査方法および絶縁検査装置を提供することを主目的とする。
上記目的を達成すべく請求項1記載の絶縁検査方法は、検査対象体における一対の検査部位の間に検査用電圧を印加して当該一対の検査部位の絶縁を検査する際に、検査用電圧を第1の電圧値から第2の電圧値に向けて徐々に昇圧させると共に、当該検査用電圧の印加に応じて前記一対の検査部位の間を流れる電流の電流値に応じて変化する電気的パラメータを測定し、当該測定値が所定値に達するときに前記検査用電圧の出力を停止する。本明細書において、「検査用電圧の印加に応じて一対の検査部位の間を流れる電流の電流値に応じて変化する電気的パラメータ」とは、一対の検査部位の間を流れる電流の電流値、その電流が流れることによって電流経路中に接続されている抵抗等の両端に発生する電圧の電圧値、および一対の検査部位の間の絶縁抵抗値などを含む概念である。
また、請求項2記載の絶縁検査方法は、請求項1記載の絶縁検査方法において、前記検査用電圧を前記第1の電圧値から前記第2の電圧値に向けて連続して徐々に昇圧する。
また、請求項3記載の絶縁検査方法は、請求項1記載の絶縁検査方法において、前記検査用電圧を前記第1の電圧値から前記第2の電圧値に向けて階段状に徐々に昇圧する。
また、請求項4記載の絶縁検査方法は、請求項1から3のいずれかに記載の絶縁検査方法において、前記第1の電圧値と、前記検査用電圧を前記第1の電圧値から前記第2の電圧値まで昇圧する昇圧時間との少なくとも一方に従って前記検査用電圧を昇圧する。
また、請求項5記載の絶縁検査装置は、検査対象体における一対の検査部位の間に検査用電圧を印加する可変電圧源と、前記検査用電圧の印加に応じて前記一対の検査部位の間を流れる電流の電流値に応じて変化する電気的パラメータを測定する測定回路と、前記可変電圧源を制御して前記検査用電圧を第1の電圧値から第2の電圧値に向けて徐々に昇圧させると共に前記測定回路によって測定された測定値に基づいて前記一対の検査部位の絶縁を検査する制御部とを備え、前記制御部は、前記一対の検査部位の絶縁を検査する際に、前記測定値が所定値に達するときに前記可変電圧源に対して前記検査用電圧の出力を停止させる。
また、請求項6記載の絶縁検査装置は、請求項5記載の絶縁検査装置において、前記制御部は、前記可変電圧源に対して前記検査用電圧を前記第1の電圧値から前記第2の電圧値に向けて連続して徐々に昇圧させる。
また、請求項7記載の絶縁検査装置は、請求項5記載の絶縁検査装置において、前記制御部は、前記可変電圧源に対して前記検査用電圧を前記第1の電圧値から前記第2の電圧値に向けて階段状に徐々に昇圧させる。
また、請求項8記載の絶縁検査装置は、請求項5から7のいずれかに記載の絶縁検査装置において、前記制御部は、前記第1の電圧値と、前記検査用電圧を前記第1の電圧値から前記第2の電圧値まで昇圧する昇圧時間との少なくとも一方に従って前記可変電圧源に対して前記検査用電圧を昇圧させる。
請求項1記載の絶縁検査方法および請求項5記載の絶縁検査装置によれば、検査対象体における一対の検査部位の間に検査用電圧を印加して一対の検査部位の絶縁を検査する際に、検査用電圧を第1の電圧値から第2の電圧値に向けて徐々に昇圧させると共に、検査用電圧の印加に応じて一対の検査部位の間を流れる電流の電流値に応じて変化する電気的パラメータの測定値が所定値に達するときに検査用電圧の出力を停止することにより、例えば従来のプリント基板の絶縁試験方法による低電圧での絶縁試験で合格と検査されるおそれのある絶縁不良箇所が存在する回路基板を検査するときであっても、その絶縁不良箇所を流れる電流を一気に増加させることなく、その電流が所定値に達したときに検査用電圧の出力を停止させることができるため、所定値を超える電流が絶縁不良箇所を流れるのを確実に回避することができる結果、絶縁不良箇所の劣化や破壊などを確実に回避することができる。
また、請求項2記載の絶縁検査方法および請求項6記載の絶縁検査装置によれば、検査用電圧を第1の電圧値から第2の電圧値に向けて連続して徐々に昇圧させることにより、絶縁不良箇所を流れる電流が所定値に達する瞬間を確実に把握することができるため、所定値を超える電流が絶縁不良箇所を流れるのを確実に回避することができる結果、絶縁不良箇所の劣化や破壊などを確実に回避することができる。
また、請求項3記載の絶縁検査方法および請求項7記載の絶縁検査装置によれば、検査用電圧を第1の電圧値から第2の電圧値に向けて階段状に徐々に昇圧させることにより、階段状に昇圧させる際のステップ電圧値を十分小さく規定することで、絶縁不良箇所を流れる電流が所定値に達する瞬間を確実に把握することができるため、所定値を超える電流が絶縁不良箇所を流れるのを確実に回避することができる結果、絶縁不良箇所の劣化や破壊などを確実に回避することができる。また、この絶縁検査方法および絶縁検査装置によれば、そのステップ電圧値をきめ細やかに適切な値に設定することができるため、検査用電圧を直線的に昇圧させる方法や構成と比較して、検査用電圧の電圧測定の長時間化に起因する絶縁検査時間の長時間化を避けることができる。
また、請求項4記載の絶縁検査方法および請求項8記載の絶縁検査装置によれば、第1の電圧値と昇圧時間との少なくとも一方に従って検査用電圧を昇圧させることにより、例えば、昇圧時間の設定を行わずに検査用電圧を一定の速度で昇圧させて第1の電圧値を設定させる構成を採用する場合、一対の導体パターンの導体間隔が十分に広いときには、第1の電圧値を高く設定して絶縁検査時間を短縮するなど、検査対象体の回路基板の導体間隔等に対応させてきめ細やかに絶縁検査を行うことができる。また、第1の電圧値を固定して昇圧時間を設定させる構成を採用する場合、例えば、任意の昇圧時間に設定して絶縁検査時間を短縮させたり、検査用の規格に対応させた所定の昇圧時間に設定して絶縁検査を行ったりすることができる。
以下、本発明に係る絶縁検査方法および絶縁検査装置の最良の形態について、添付図面を参照して説明する。
最初に、回路基板検査装置1の構成について、図面を参照して説明する。
図1に示す回路基板検査装置1は、本発明における絶縁検査装置の一例であって、プローブ2a,2b・・・、プローブ3a,3b・・・、測定部4、切換部5、制御部6、操作部7、RAM8およびROM9を備えて構成されている。プローブ2a,2b・・・およびプローブ3a,3b・・・は、一例として、接触型プローブであって、切換部5に接続されると共に、回路基板30(本発明における検査対象体)を回路基板検査装置1にセットすることで、回路基板30の表面における検査位置にプローブ2a,2b・・・およびプローブ3a,3b・・・の先端部が接触されるように予め固定配置されている。なお、ここでは、プローブ2c,2d・・・およびプローブ3c,3d・・・の図示を省略する。
測定部4は、図1に示すように、可変電圧源11、電流計12および電圧計13を備えて構成されている。可変電圧源11は、制御部6から出力される制御信号Sbに応じた電圧値の検査用電圧を出力する。電流計12は、本発明における測定回路に相当し、可変電圧源11から検査用電圧が出力された際にその出力電流の電流値を測定して、この測定した測定値を制御部6に出力する。電圧計13は、可変電圧源11から出力される検査用電圧の電圧値を測定して、この測定した測定値を制御部6に出力する。
切換部5は、スキャナ装置であって、図1に示すように、制御部6から出力される制御信号Scに従って開閉制御される複数の切換スイッチ(例えば切換スイッチ21a,21b・・・および切換スイッチ22a,22b・・・)を備えて構成されている。また、切換部5は、プローブ2a,2b・・・のうちの1つに切り換えると共に、プローブ3a,3b・・・のうちの1つに切り換える。切換スイッチ21a,21b・・・は、閉状態でプローブ2a,2b・・・と測定部4の可変電圧源11の正電圧端子とを接続する。切換スイッチ22a,22b・・・は、閉状態でプローブ3a,3b・・・と測定部4の可変電圧源11の負電圧端子とを電流計12を介して接続する。
制御部6は、可変電圧源11に対する電圧制御、切換部5に対する切換制御、および後述する絶縁検査処理などを実行する。操作部7は、絶縁検査処理で用いる条件を設定する条件設定キーおよび数値入力キーなどを備えて構成され、各操作キーのキー操作に応じた操作信号Siを出力する。RAM8は、絶縁検査処理で用いる条件を示す情報を記憶すると共に、制御部6の演算結果などを一時的に記憶する。ROM9は、制御部6の動作プログラムを記憶する。
一方、図1に示すように、回路基板30には、相互に絶縁されて隣接する導体パターン31,32や導体パターン33,34を初めとして数多くの導体パターンが形成されている。
次に、回路基板30に形成された導体パターンについての回路基板検査装置1による絶縁検査について図面を参照して説明する。
まず、導体パターンの絶縁検査処理の事前準備として、絶縁検査処理で用いられる条件を設定する。この場合、操作部7の条件設定キーおよび数値入力キーを操作することで、開始電圧値VL(本発明における第1の電圧値)、終了電圧値VH(本発明における第2の電圧値)、開始電圧値VLから終了電圧値VHまで昇圧するのに要する時間としての昇圧時間T、および導体パターンに流すことを許容し得る電流値としての許容電流値IL(本発明における所定値)を示す数値を入力する。この際に、制御部6が、この操作に従って操作部7から出力された操作信号Siに応じた数値をRAM8に記憶させる。この例では、一例として、開始電圧値VLとしての0Vと、終了電圧値VHとしての250Vとを記憶させる。また、許容電流値ILとして、例えば導体パターンの劣化や破壊が生じない程度の十分小さな電流値を記憶させる。また、昇圧時間Tとして、例えば、電流計12および電圧計13が電流値および電圧値をそれぞれ測定している間において検査用電圧を過度に昇圧させることなく、かつ電流計12の測定値が許容電流値ILに達したと制御部6が判別して検査用電圧の出力を停止させるまでの間において検査用電圧が過度に昇圧させることがない程度の速さで検査用電圧を開始電圧値VLから終了電圧値VHまで昇圧させるのに要する時間を設定する。以上により、絶縁検査処理で用いられる条件が設定されて絶縁検査処理の事前準備が終了する。
次に、回路基板30を回路基板検査装置1にセットする。この際には、一例として、図1に示すように、プローブ2a,3a,2b,3bと回路基板30の検査位置としての導体パターン31,32,33,34とがそれぞれ接触させられる。次いで、制御部6が、制御信号Scを出力して、切換スイッチ21a,22aを閉状態に移行させると共に他の切換スイッチ21b,21c・・・および切換スイッチ22b,22c・・・を開状態に移行させる。これにより、導体パターン31が、プローブ2aおよび切換スイッチ21aを介して可変電圧源11の正極端子に接続されると共に、導体パターン32が、プローブ3a、切換スイッチ22aおよび電流計12を介して可変電圧源11の負極端子に接続される。この場合、導体パターン31,32が、本発明における一対の検査部位に相当する。
次いで、制御部6は、絶縁検査処理を開始する。この絶縁検査処理では、最初に、制御部6が、開始電圧値VL、終了電圧値VH、昇圧時間Tおよび許容電流値ILをRAM8から読み込む。次いで、制御部6は、制御信号Sbを出力して、可変電圧源11に対して、図2に示すように、開始電圧値VLから終了電圧値VHに向かって昇圧時間Tの間において検査用電圧を連続して徐々に昇圧させる(この例では、リニアに昇圧させる)。したがって、開始電圧値VLから連続して徐々に昇圧する検査用電圧が導体パターン31,32の間に出力される。続いて、測定部4の電圧計13が検査用電圧の電圧値を連続的に測定し、制御部6は、電圧計13から出力される測定値(電圧値)を連続的に入力して、測定部4から出力される検査用電圧の電圧値を監視する。また、測定部4の電流計12が導体パターン31,32の間を流れる電流の電流値を連続的に測定する。この場合、制御部6は、電流計12から出力される測定値(電流値)を連続的に入力して、検査用電圧を出力することに起因して導体パターン31,32の間を流れる電流(例えばショート電流や漏れ電流)の電流値を監視する。また、制御部6は、電流計12から入力した電流値が許容電流値ILに達したか否かを判別し、電流値が許容電流値ILに達したときに、検査用電圧の出力を停止させる(検査用電圧を0Vにする)制御信号Sbを可変電圧源11に直ちに出力すると共に導体パターン31,32を絶縁不良(不合格)と検査する。これにより、導体パターン31,32の間に出力されていた電圧が0Vに低下して導体パターン31,32の間を電流が流れなくなる結果、導体パターン31,32の劣化や焼損および絶縁破壊を生じさせることなく導体パターン31,32の絶縁が検査される。
具体的には、例えば導体パターン31,32の間にマイクロショートと呼ばれる微細導体幅の導体で短絡される絶縁不良箇所が存在するときには、図2に示すように、導体パターン31,32の間を流れる電流(ショート電流)I1の電流値(つまり電流計12によって測定される電流値)がほぼ0Vに近い低い電圧で許容電流値ILに達することになる。この際に、制御部6が、測定した電流値が許容電流値ILに達したと判別して、可変電圧源11に対して検査用電圧の出力を0Vに低下させる制御信号Sbを直ちに出力する。これにより、導体パターン31,32の間に出力されていた電圧が0Vに低下するため、マイクロショートを電流I1が流れなくなる結果、マイクロショートを焼損(破壊)させることなく、導体パターン31,32が絶縁不良と検査される。また、例えば導体パターン31,32のいずれか一方の導体幅が標準幅よりも広く形成されて導体パターン31,32の間に耐電圧が低下した絶縁不良箇所が存在するときには、図2に示すように、導体パターン31,32の間を流れる電流(漏れ電流)I2の電流値が、検査用電圧が比較的高い電圧のときに許容電流値ILに達することになる。この際にも、上記と同様にして、制御部6が、測定した電流値が許容電流値ILに達したと判別して、可変電圧源11に対して検査用電圧の出力を0Vに低下させる制御信号Sbを直ちに出力する。これにより、導体パターン31,32の間に出力されていた電圧が0Vに低下するため、導体パターン31,32の間を漏れ電流I2が流れなくなる結果、過大な漏れ電流が流れることに起因する導体パターン31,32の劣化や焼損(破壊)および絶縁破壊を生じさせることなく、導体パターン31,32が絶縁不良と検査される。
一方、制御部6は、図2に示すように、導体パターン31,32の間を流れる電流(漏れ電流)I3の電流値が許容電流値IL以下のまま検査用電圧が終了電圧値VHに達したときには、導体パターン31,32の絶縁性が良好(合格)と検査すると共に、電流計12から出力された電流値および電圧計13から出力された電圧値に基づいて絶縁抵抗の抵抗値を算出する。続いて、制御部6は、検査用電圧の出力を停止させる制御信号Sbを可変電圧源11に出力し、可変電圧源11は、検査用電圧の出力を停止する。以上により、絶縁検査処理が終了する。なお、制御部6は、導体パターン31,32について合格と検査したときに、検査用電圧の出力を停止させることなく、検査用電圧を終了電圧値VHに固定させて所定時間連続して印加させて絶縁検査を行う構成を採用することもできる。
次に、制御部6は、制御信号Scを出力して、切換スイッチ21b,22bを閉状態に移行させると共に他の切換スイッチ21a,21c,21d・・・および切換スイッチ22a,22c,22d・・・を開状態に移行させる。これにより、導体パターン33が、プローブ2bおよび切換スイッチ21bを介して可変電圧源11の正極端子に接続されると共に、導体パターン34が、プローブ3b、切換スイッチ22bおよび電流計12を介して可変電圧源11の負極端子に接続される。この場合、導体パターン33,34が、本発明における一対の検査部位に相当する。次いで、上記した導体パターン31,32に対する絶縁検査処理と同様にして、導体パターン33,34に対する絶縁検査処理を実行する。この後、検査対象のすべての導体パターンに対して同様にして絶縁検査処理を実行して基板検査を終了する。
また、この回路基板検査装置1では、図3に示すように、制御部6が、可変電圧源11に対して、昇圧時間Tの間において、検査用電圧を開始電圧値VLから終了電圧値VHに向けて所定電圧幅のステップ電圧値VSで階段状に徐々に昇圧させることも可能に構成されている。この場合、操作部7の条件設定キーおよび数値入力キーを操作することで、開始電圧値VL(本発明における第1の電圧値)、終了電圧値VH(本発明における第2の電圧値)、昇圧時間T、許容電流値IL(本発明における所定値)、およびステップ電圧値VSを示す電圧値を入力する。この際に、制御部6が、この操作に従って操作部7から出力された操作信号Siによって特定される数値をRAM8に記憶させる。一例として、同図に示すように、開始電圧値VLとして0Vを設定し、終了電圧値VHとして250Vを設定し、ステップ電圧値VSとして1Vを設定したものとする。したがって、この際の絶縁検査処理では、可変電圧源11は、制御部6から出力される制御信号Sbに従い、0Vから250Vまで1Vずつ階段状に徐々に検査用電圧を昇圧する。また、制御部6は、上記したリニアに昇圧させる検査用電圧での絶縁検査処理と同様にして、電流計12から出力された電流値が許容電流値ILに達したか否かをステップ電圧値VSずつ昇圧させる度に判別し、電流値が許容電流値ILに達したときには、検査用電圧を0Vに低下させる制御信号Sbを可変電圧源11に直ちに出力すると共に導体パターン31,32を絶縁不良(不合格)と検査する。これにより、導体パターン31,32の間に出力されていた電圧が0Vに低下するため、導体パターン31,32の間を電流が流れなくなる結果、導体パターン31,32の劣化や破壊、および導体パターン31,32の間の絶縁破壊を生じさせることなく導体パターン31,32が絶縁不良と検査される。
このように、この回路基板検査装置1によれば、制御部6が、一対の導体パターン31,32の間に検査用電圧を印加して絶縁を検査する際に、検査用電圧を開始電圧値VLから終了電圧値VHに向けて徐々に昇圧させると共に、検査用電圧の印加に応じて導体パターン31,32の間を流れる電流の電流値(電気的パラメータの測定値)が所定値に達するときに検査用電圧の出力を停止することにより、例えば従来のプリント基板の絶縁試験方法による低電圧での絶縁試験で合格と検査されるおそれのある絶縁不良箇所が存在する回路基板30を検査するときであっても、その絶縁不良箇所を流れる電流を一気に増加させることなく、その電流が許容電流値ILに達したときに検査用電圧の出力を停止させることができるため、許容電流値ILを超える電流が絶縁不良箇所を流れるのを確実に回避することができる結果、絶縁不良箇所の劣化や破壊などを確実に回避することができる。
また、この回路基板検査装置1によれば、制御部6が可変電圧源11に対して検査用電圧を開始電圧値VLから終了電圧値VHに向けて連続して徐々に昇圧させることにより、絶縁不良箇所を流れる電流が許容電流値ILに達する瞬間を確実に把握することができるため、許容電流値ILを超える電流が絶縁不良箇所を流れるのを確実に回避することができる結果、絶縁不良箇所の劣化や破壊などを確実に回避することができる。
また、この回路基板検査装置1によれば、制御部6が可変電圧源11に対してステップ電圧値VSで検査用電圧を階段状に徐々に昇圧させることにより、ステップ電圧値VSを十分小さく規定することで、絶縁不良箇所を流れる電流が許容電流値ILに達する瞬間を確実に把握することができるため、許容電流値ILを超える電流が絶縁不良箇所を流れるのを確実に回避することができる結果、絶縁不良箇所の劣化や破壊などを確実に回避することができる。また、この回路基板検査装置1によれば、ステップ電圧値VSをきめ細やかに適切な値に設定することができるため、検査用電圧を直線的に昇圧させる構成と比較して、検査用電圧の電圧測定の長時間化に起因する絶縁検査時間の長時間化を避けることができる。
また、この回路基板検査装置1によれば、制御部6が、開始電圧値VLおよび昇圧時間Tの少なくとも一方を可変電圧源11に対して設定することにより、例えば、昇圧時間Tの設定を行わずに検査用電圧を一定の速度で昇圧させて開始電圧値VLのみを設定させる構成を採用する場合、導体パターン31,32等の導体間隔が十分に広いときには、開始電圧値VLを高く設定して絶縁検査時間を短縮するなど、検査対象体の回路基板の導体間隔等に対応させてきめ細やかに絶縁検査を行うことができる。また、開始電圧値VLを固定して昇圧時間Tを設定させる構成を採用する場合、例えば、任意の昇圧時間Tに設定して絶縁検査時間を短縮させたり、検査用の規格に対応させた所定の昇圧時間Tに設定して絶縁検査を行ったりすることができる。
なお、本発明は、上記の方法および構成に限定されない。例えば、電流計12によって測定された導体パターン31,32等の間を流れる電流が許容電流値ILに達するときに検査用電圧の出力を停止する構成について説明したが、この構成に代えて、制御部8が電流計12によって測定された測定値と電圧計13によって測定された検査用電圧の電圧値とに基づいて導体パターン31,32等の間の絶縁抵抗(電気的パラメータの一例)を連続的に算出して、この算出した抵抗値(本発明における電気的パラメータの測定値)が所定値に達するときに検査用電圧の出力を停止する構成を採用することもできる。この場合、絶縁検査処理の準備段階では、許容電流値ILに代えて、絶縁検査の規格として許容される絶縁抵抗の抵抗値を所定値として設定する。また、本発明における電気的パラメータとして、導体パターン31,32の間を流れる電流を電圧に変換して、測定した電圧値が所定値に達したときに検査用電圧の出力を停止する構成を採用することもできる。
また、開始電圧値VLおよび昇圧時間Tの両方を設定する構成例について説明したが、開始電圧値VLが例えば0Vに固定されていて昇圧時間Tのみを設定させる構成や、例えば昇圧時間Tの設定を行わずに検査用電圧を一定の速度で昇圧させて開始電圧値VLのみを設定させる構成を採用することができる。
また、予め固定配置したプローブ2a,2b・・・およびプローブ3a,3b・・・を用いる構成について説明したが、この構成に代えて、制御部6の制御下でプローブを上下左右に移動させるプローブ移動機構を備えて、回路基板30の表面における任意の位置にプローブの先端部を移動可能に構成されている複数(例えば一対)のプローブを用いる構成を採用することができる。また、本発明における「連続的に徐々に昇圧させる検査用電圧」として、電圧値をリニアに昇圧させた検査用電圧の例について説明したが、検査用電圧を例えば二次曲線的または三次曲線的に昇圧させる構成を採用することもできる。
また、本発明に係る絶縁検査装置として、検査対象体としての回路基板30に形成されている導体パターン31,32等を一対の検査部位として絶縁検査する回路基板検査装置1について説明したが、例えば、ケーブル電線を本発明における検査対象として、ケーブル電線内の一対の導線やケーブル内の導線とシールド線とを本発明における一対の検査部位として絶縁検査するケーブル電線絶縁検査装置や、トランスなどの電気部品を本発明における検査対象として、トランスの一次巻線に接続された接続ピンと二次巻線に接続された接続ピンとを本発明における一対の検査部位として絶縁検査する電気部品絶縁検査装置に本発明を適用することもできる。
1 回路基板検査装置
2a,2b,3a,3b プローブ
4 測定部
6 制御部
11 可変電圧源
12 電流計
30 回路基板
31〜34 導体パターン
IL 許容電流値
VH 終了電圧値
VL 開始電圧値
VS ステップ電圧値
T 昇圧時間
2a,2b,3a,3b プローブ
4 測定部
6 制御部
11 可変電圧源
12 電流計
30 回路基板
31〜34 導体パターン
IL 許容電流値
VH 終了電圧値
VL 開始電圧値
VS ステップ電圧値
T 昇圧時間
Claims (8)
- 検査対象体における一対の検査部位の間に検査用電圧を印加して当該一対の検査部位の絶縁を検査する際に、
検査用電圧を第1の電圧値から第2の電圧値に向けて徐々に昇圧させると共に、当該検査用電圧の印加に応じて前記一対の検査部位の間を流れる電流の電流値に応じて変化する電気的パラメータを測定し、当該測定値が所定値に達するときに前記検査用電圧の出力を停止する絶縁検査方法。 - 前記検査用電圧を前記第1の電圧値から前記第2の電圧値に向けて連続して徐々に昇圧する請求項1記載の絶縁検査方法。
- 前記検査用電圧を前記第1の電圧値から前記第2の電圧値に向けて階段状に徐々に昇圧する請求項1記載の絶縁検査方法。
- 前記第1の電圧値と、前記検査用電圧を前記第1の電圧値から前記第2の電圧値まで昇圧する昇圧時間との少なくとも一方に従って前記検査用電圧を昇圧する請求項1から3のいずれかに記載の絶縁検査方法。
- 検査対象体における一対の検査部位の間に検査用電圧を印加する可変電圧源と、前記検査用電圧の印加に応じて前記一対の検査部位の間を流れる電流の電流値に応じて変化する電気的パラメータを測定する測定回路と、前記可変電圧源を制御して前記検査用電圧を第1の電圧値から第2の電圧値に向けて徐々に昇圧させると共に前記測定回路によって測定された測定値に基づいて前記一対の検査部位の絶縁を検査する制御部とを備え、
前記制御部は、前記一対の検査部位の絶縁を検査する際に、前記測定値が所定値に達するときに前記可変電圧源に対して前記検査用電圧の出力を停止させる絶縁検査装置。 - 前記制御部は、前記可変電圧源に対して前記検査用電圧を前記第1の電圧値から前記第2の電圧値に向けて連続して徐々に昇圧させる請求項5記載の絶縁検査装置。
- 前記制御部は、前記可変電圧源に対して前記検査用電圧を前記第1の電圧値から前記第2の電圧値に向けて階段状に徐々に昇圧させる請求項5記載の絶縁検査装置。
- 前記制御部は、前記第1の電圧値と、前記検査用電圧を前記第1の電圧値から前記第2の電圧値まで昇圧する昇圧時間との少なくとも一方に従って前記可変電圧源に対して前記検査用電圧を昇圧させる請求項5から7のいずれかに記載の絶縁検査装置。
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