JP2000171501A

JP2000171501A - 抵抗測定装置

Info

Publication number: JP2000171501A
Application number: JP10349511A
Authority: JP
Inventors: Masahiro Wakabayashi; 正弘若林; Fumio Tokukasa; 文男徳嵩
Original assignee: Hioki EE Corp
Current assignee: Hioki EE Corp
Priority date: 1998-12-09
Filing date: 1998-12-09
Publication date: 2000-06-23

Abstract

(57)【要約】【課題】測定対象抵抗体の接続時における放電現象を
防止しつつ容易に抵抗測定作業を行うことが可能な抵抗
測定装置を提供する。【解決手段】測定対象抵抗体Ｍに対して測定電流を供
給し、測定対象抵抗体Ｍの両端に発生する両端電圧およ
び測定電流ＩM に基づいて測定対象抵抗体Ｍの抵抗値を
測定する測定処理を実行可能に構成された抵抗測定装置
１において、測定電流よりも低電流の接続検出用電流Ｉ
C を出力し、測定対象抵抗体Ｍを流れる電流に対応する
測定電圧が予め規定した判定電圧を超えたときに測定処
理を実行する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、測定対象抵抗体の
抵抗値を測定する抵抗測定装置に関し、詳しくは、測定
対象抵抗体に大電流を供給しつつ抵抗値を測定する低抵
抗測定装置に適した抵抗測定装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】例えば、洗濯機やコピー機などの家電機
器では、操作盤が操作されたり筐体が触られたりするこ
とが多く、その際の感電事故を防止するためには、その
操作盤や筐体を大地に接地する必要がある。このため、
家電機器の内部では、その操作盤と筐体とが電気的に接
続されると共に、その筐体と、筐体に取り付けた大地接
地用の接地端子とが接続用導線によって接続されてい
る。このため、接地端子を定められた接地線に接続する
ことによって、操作盤を大地に接地することができる。
一方、製造時において接続用導線が切れかかっている
と、家庭内に設置した後に完全に断線してしまうことが
あり、かかる事態が生じた場合には、感電事故を引き起
こすおそれがある。したがって、一般的には、接地端子
と、接地端子に電気的に接続される部位との間に、家電
機器の定格電流の２倍、または２５Ａの電流を１分間流
したときに、両者間の抵抗値が０．１Ω以下であること
が規定されている。このため、接続用導線の接続状態を
検査すると共に、接続用導線が切れかかっているときに
は、大電流を流して焼き切ることにより接続用導線の接
続不良をいち早く検出するために、この種の抵抗測定装
置が用いられている。

【０００３】このような抵抗測定装置として、図５に示
す抵抗測定装置７１が従来から知られている。この抵抗
測定装置７１は、例えば２５Ａの測定電流を測定対象抵
抗体Ｍに供給すると共に、その際に測定対象抵抗体Ｍの
抵抗値を測定することが可能に構成されている。この場
合、上記した家電機器の接続用導線の抵抗値を測定する
には、筐体の組立用ボルトＢなどと接地端子ＦＴとの間
に測定電流を所定時間継続して導通させた後に、その抵
抗値を測定する。これにより、接続用導線が切れかかっ
ているときには、その接続用導線を測定電流で焼き切っ
て無限大の抵抗値にすることにより、メーカからの出荷
前に接続用導線の接続不良をいち早く検出することがで
きる。

【０００４】具体的には、抵抗測定装置７１は、同図に
示すように、測定値を表示する表示器７２と、測定を開
始させるための測定開始スイッチ３と、測定を終了させ
るための測定終了スイッチ４と、４つの接続用コネクタ
２１〜２４とが正面パネルに配設されると共に、接続用
コネクタ２１〜２４に着脱自在に取り付けられる電流出
力用ケーブル２５，２６および電圧検出用ケーブル２
７，２８を備えている。この場合、各ケーブル２５〜２
８の各々の一端には、接続プラグ２５ａ〜２８ａがそれ
ぞれ取り付けられ、各々の他端には、鰐口クリップ２５
ｂ〜２８ｂがそれぞれ取り付けられている。

【０００５】この抵抗測定装置７１による測定に際して
は、まず、接続プラグ２５ａ〜２８ａを接続用コネクタ
２１〜２４にそれぞれ差し込んだ状態で、鰐口クリップ
２５ｂ，２７ｂを測定対象抵抗体Ｍの組立用ボルトＢ
（以下、「試験点」ともいう）に接続し、かつ鰐口クリ
ップ２６ｂ，２８ｂを接地端子ＦＴ（以下、「試験点」
ともいう）に接続する。次いで、測定開始スイッチ３を
操作する。これにより、抵抗測定装置７１に内蔵の電源
部が、鰐口クリップ２５ｂ，２６ｂを介して両試験点間
に所定電圧の測定電圧を印加する。この際に、電源部
は、両試験点間の導通電流が例えば２５Ａになるように
制御する。この状態では、両試験点間の内部抵抗に応じ
た検出電圧が両鰐口クリップ２７ｂ，２８ｂ間に発生
し、この検出電圧は、電圧検出用ケーブル２７，２８を
介して抵抗測定装置７１に内蔵の測定回路に入力され
る。

【０００６】測定回路では、入力した検出電圧と、出力
電流（この例では２５Ａ）とに基づいて、両試験点間の
抵抗値を測定する。この結果、その測定値が表示器７２
に表示される。次いで、測定終了スイッチ４を操作する
ことにより測定電圧の出力を停止する。この後、測定を
継続する際には、新たな試験点間に各鰐口クリップ２５
ｂ〜２８ｂを接続し直した後に測定開始スイッチ３を再
度操作することにより、上記した測定が再開される。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】ところが、この従来の
抵抗測定装置７１には、以下の問題点がある。第１に、
通常、家電機器の絶縁抵抗を測定すべき試験点は複数存
在する。したがって、複数の試験点間の絶縁抵抗を測定
する場合、各鰐口クリップ２５ｂ〜２８ｂを各試験点間
に接続し直して測定可能な状態にセットアップし、その
都度、測定開始スイッチ３を操作しなければならない。
また、鰐口クリップ２５ｂ，２６ｂ間の短絡を防止する
ために、１対の試験点間の測定を終了した都度、測定終
了スイッチ４を操作して測定電圧の出力を停止させる必
要がある。このため、従来の抵抗測定装置７１には、測
定開始および測定終了の操作が煩雑であるという問題点
がある。

【０００８】一方、１対の試験点間についての測定を終
了した都度、両鰐口クリップ２５ｂ，２６が短絡しない
ように離間させておくことで、測定終了スイッチ４の操
作を省くことも可能ではある。しかし、かかる場合、鰐
口クリップ２５ｂ，２６ｂが負荷オープンの状態で、低
抵抗の測定対象抵抗体Ｍに接続されたときには、その負
荷抵抗に応じた測定電流が測定対象抵抗体Ｍに流れよう
とする。このため、場合によっては、放電を起こして火
花が飛び散り、事故の発生を招くおそれがあるという他
の問題が生じる。なお、スライダックを使用して測定電
圧を徐々に上げることが可能な抵抗測定装置も存在する
が、このような抵抗測定装置を用いる場合には、数多く
の試験点が存在する測定対象抵抗体Ｍを検査する場合
や、数多くの測定対象抵抗体Ｍを連続的に検査する場合
には、抵抗値測定作業がさらに煩雑かつ長時間化する。

【０００９】第２に、測定対象抵抗体Ｍが大型機器の場
合に問題が発生する。つまり、測定対象抵抗体Ｍが大型
機器のときには、抵抗測定装置７１および試験点が共に
オペレータの手の届く範囲内にあるとは限らない。かか
る場合には、オペレータは、鰐口クリップ２５ｂ〜２８
ｂの接続作業と、測定開始スイッチ３および測定終了ス
イッチ４の操作とを行う際に、その作業に応じていちい
ち移動しなければならず、測定時間の長時間化を招くと
共に、煩雑な作業を強いられるという問題点がある。ま
た、試験点が組立用ボルトＢなどの場合には、鰐口クリ
ップ２５ｂ〜２８ｂを接続するのはある程度容易であ
る。しかし、試験点に鰐口クリップ２５ｂ〜２８ｂを押
し当てることによって接続するような場合には、測定開
始スイッチ３などの操作を同時には行うことができない
ため、測定時間のさらなる長時間化および煩雑な作業を
招くという問題点もある。

【００１０】本発明は、かかる問題点に鑑みてなされた
ものであり、測定対象抵抗体の接続時における放電現象
を防止しつつ容易に抵抗測定作業を行うことが可能な抵
抗測定装置を提供することを主目的とする。また、抵抗
測定を短時間で行うことが可能な抵抗測定装置を提供す
ることを他の目的とする。

【００１１】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成すべく請
求項１記載の抵抗測定装置は、測定対象抵抗体に対して
測定電流を供給し、測定対象抵抗体の両端に発生する両
端電圧および測定電流に基づいて測定対象抵抗体の抵抗
値を測定する測定処理を実行可能に構成された抵抗測定
装置において、測定電流よりも低電流の接続検出用電流
を出力し、測定対象抵抗体を流れる電流に対応する測定
電圧が予め規定した判定電圧を超えたときに測定処理を
実行することを特徴とする。

【００１２】この抵抗測定装置では、例えば、測定開始
用スイッチが操作された際には、測定電流の出力停止状
態において測定対象抵抗体を流れると予測される電流に
対応する測定電圧などに基づいて判定電圧を予め規定す
る。次いで、抵抗値の測定に先立ち、測定電流として例
えば２５Ａという大電流を測定対象抵抗体に直ちに供給
するのではなく、まず、通常の測定電流よりも低電流の
接続検出用電流を測定対象抵抗体に供給する。次に、測
定電圧が判定電圧を超えたときに、所定電流値の測定電
流を供給して測定対象抵抗体の抵抗値を測定する。つま
り、この抵抗測定装置では、測定対象抵抗体が接続され
た際には、抵抗値測定が自動的に行われる。このため、
測定対象抵抗体に測定用プローブを押し当てて測定する
場合であっても、一人のオペレータが測定を容易に行う
ことが可能となる。また、測定対象抵抗体の接続時に大
電流の測定電流が直ちに供給されることがないため、放
電現象が防止される。さらに、極めて低抵抗を測定対象
抵抗体として測定する場合であっても、測定対象抵抗体
を一旦接続した後に測定電流が供給されるため、測定対
象抵抗体の接続時に直ちに測定電流が供給されるおそれ
のある従来の抵抗測定装置７１とは異なり、放電現象の
発生が確実に防止される。

【００１３】請求項２記載の抵抗測定装置は、請求項１
記載の抵抗測定装置において、測定処理と、測定電圧が
判定電圧よりも低下したときに測定電流に代えて接続検
出用電流を出力することにより測定対象抵抗体の接続を
検出するための接続検出処理とを交互かつ連続的に実行
可能に構成されていることを特徴とする。

【００１４】この抵抗測定装置では、数多くの試験点が
存在する測定対象抵抗体を検査する場合や、数多くの測
定対象抵抗体を連続的に検査する場合、抵抗測定装置が
接続検出処理および測定処理を自動的に交互かつ連続的
に実行する。このため、オペレータが測定プローブを試
験点に接続するだけで、抵抗値測定が自動的に行われ
る。したがって、従来の抵抗測定装置７１とは異なり、
測定開始スイッチ３や測定終了スイッチ４の煩雑な操作
を不要にすることができるため、抵抗値測定時間を極め
て短縮することが可能となる。

【００１５】請求項３記載の抵抗測定装置は、請求項１
または２記載の抵抗測定装置において、測定処理時に対
象抵抗体に供給する供給電圧よりも十分に低い電圧を電
流制限手段を介して出力することにより接続検出用電流
を出力することを特徴とする。

【００１６】例えば、接続検出用電流の供給時には、抵
抗の測定時における供給電圧よりも十分に低い電圧を出
力する。この際に、電流制限手段が測定対象抵抗体に流
れる電流を制限する。したがって、放電現象の発生が確
実に防止される。

【００１７】請求項４記載の抵抗測定装置は、請求項１
から３のいずれかに記載の抵抗測定装置において、測定
時間を設定するための設定スイッチを備え、設定された
測定時間が経過したときに測定処理から接続検出処理に
切替制御する制御部を備えていることを特徴とする。

【００１８】この抵抗測定装置では、例えば、測定対象
抵抗体に対する測定電流の通電時間が予め規定されてい
る場合、最初に、設定スイッチを操作することにより測
定時間を予め設定する。次いで、測定プローブを測定対
象抵抗体に接続する。この後、オペレータが測定プロー
ブを試験点に接続するだけで、制御部が、例えば１分間
の測定処理、および接続検出処理を交互かつ自動的に実
行する。したがって、測定電流の通電時間が予め規定さ
れている抵抗値測定作業を極めて迅速かつ容易に行うこ
とが可能となる。

【００１９】請求項５記載の抵抗測定装置は、請求項１
から４のいずれかに記載の抵抗測定装置において、測定
開始を設定するための測定開始スイッチ手段と、測定電
流および接続検出用電流を生成するための出力電圧可変
型の電源部とを備え、制御部は、測定開始スイッチ手段
によって設定された測定開始後において、電源部に対す
る接続検出用電流および測定電流の生成を制御すること
を特徴とする。

【００２０】この抵抗測定装置では、制御部は、測定開
始スイッチ手段によって測定開始状態に設定されたこと
を条件として、電源部に対して、その出力電圧を可変さ
せて接続検出用電流を出力させ、測定電圧が判定電圧を
超えたときに、電源部の出力電圧を可変させて測定電流
を生成させる。したがって、制御部がすべて自動的に実
行するため、スライダックなどを使用する抵抗値測定作
業と比較して、抵抗値測定作業を迅速かつ容易に行うこ
とが可能となる。

【００２１】

【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照して、本発
明に係る抵抗測定装置の好適な実施の形態について説明
する。なお、従来の抵抗測定装置７１と同一の構成要素
については同一の符号を付して重複した説明を省略す
る。

【００２２】最初に、抵抗測定装置１の構成について、
図１を参照して説明する。

【００２３】抵抗測定装置１は、数オーム以下の低抵抗
を精度良く、しかも連続的に測定可能に構成された低抵
抗計であって、同図に示すように、例えばＬＣＤパネル
で構成された表示器２と、本発明における測定開始スイ
ッチ手段に相当する測定開始スイッチ３と、測定終了ス
イッチ４と、測定回数Ｎや測定時間などを入力するため
の操作部５と、測定結果を印字するプリンタ６と、ＣＰ
Ｕ７と、ＣＰＵ７の演算結果や後述する初期値Ａ（本発
明における判定電圧に相当する）および実際に測定した
回数を意味する実測定回数値ｎなどを記憶するＲＡＭ８
と、本発明における電流制限手段に相当するトランス９
とを備えている。また、抵抗測定装置１は、トランス９
の一次巻線９ａ側に、本発明における電圧可変型の電源
部に相当し測定電流ＩM を生成する交流電源部１１、お
よび出力リレー１２を備えている。この場合、ＣＰＵ７
は、後述するように、全波整流回路３４から出力される
電圧値対応電圧ＶDVおよび全波整流回路３５から出力さ
れる測定電流値対応電圧ＶDIに基づいての抵抗値演算、
測定電流値対応電圧ＶDIに基づいての測定電流ＩMの電
流値制御、および出力リレー１２のオン／オフ制御など
を実行する。

【００２４】さらに、抵抗測定装置１は、トランス９の
二次巻線９ｂ側に、測定対象抵抗体Ｍを流れる電流値を
検出するための抵抗３０と、鰐口クリップ２５ｂ，２６
ｂ間に発生する検出電圧Ｖ1 を差動増幅して電圧ＶV を
出力する増幅器３１と、測定電流ＩM が抵抗３０を流れ
る際にその両端に発生する電圧Ｖ2 を差動増幅して電圧
ＶI を出力する増幅器３２と、電圧ＶV を全波整流する
ことにより測定対象抵抗体Ｍの両端に発生する電圧値に
対応する電圧値対応電圧ＶDVを生成して出力する全波整
流回路３４と、電圧ＶI を全波整流することにより測定
電流ＩM の電流値に対応する測定電流値対応電圧ＶDIを
生成して出力する全波整流回路３５とを備えている。

【００２５】次に、抵抗測定装置１における測定処理に
ついて、図２〜４を参照して説明する。

【００２６】この抵抗測定装置１では、まず、測定に先
立ち、操作部５におけるテンキー（図示せず）を操作す
ることにより、オペレータによって測定回数Ｎが設定さ
れる（ステップ４１）。この際に、ＣＰＵ７は、設定さ
れた測定回数データをＲＡＭ８に記憶させる。次いで、
図４（ａ）に示すように、同図（ｃ）に示す時間ｔ１の
時点で測定開始スイッチ３がオン状態に操作されると
（ステップ４２）、測定開始スイッチ３から測定開始信
号ＳSTがＣＰＵ７に出力される。この場合、ＣＰＵ７
は、ＲＡＭ８によって記憶されている実測定回数値ｎを
値０に初期化した後（ステップ４３）、出力リレー１２
をオフ状態に制御する（ステップ４４）。次いで、ＣＰ
Ｕ７は、測定電流ＩM が出力されていない状態の測定電
流値対応電圧ＶDIを内蔵されているＡ／Ｄ変換器を介し
て読み込むと共に、この際の測定電流値対応電圧ＶDIに
誤動作を防止するためのマージン電圧を加算した電圧を
初期値ＡとしてＲＡＭ８に記憶させる（ステップ４
５）。

【００２７】次に、ＣＰＵ７は、制御信号ＳC を出力す
ることにより出力リレー１２をオン状態に制御した後
（ステップ４６）、測定時に出力する測定電流ＩM より
も低電流の接続検出用電流ＩC を出力して接続検出処理
を開始する（ステップ４７）。この接続検出処理では、
ＣＰＵ７は、鰐口クリップ２５ｂ〜２８ｂが測定対象抵
抗体Ｍの試験点に接続されたことを検出する。具体的に
は、ＣＰＵ７は、電圧制御信号ＳS を交流電源部１１に
出力することにより、図４（ｂ）に示すように、時間ｔ
２の時点で、交流電源部１１に対して接続用コネクタ２
１，２２間に出力電圧ＶO を出力させる。この場合、出
力電圧ＶO は、接続用コネクタ２１，２２が無負荷状態
のときに例えば２０ｍＶ程度の極めて低電圧となるよう
にＣＰＵ７によって制御される。この際には、交流電源
部１１から出力電圧Ｖa がトランス９の一次巻線９ａに
出力されることにより、トランス９の二次巻線９ｂの両
端に出力電圧ＶO が誘起する。

【００２８】同時に、ＣＰＵ７は、全波整流回路３５か
ら出力される測定電流値対応電圧ＶDIを監視し、鰐口ク
リップ２５ｂ〜２８ｂが測定対象抵抗体Ｍの試験点に接
続されることによって接続検出用電流ＩC が測定対象抵
抗体Ｍを流れているか否かを検出する。具体的には、電
流出力用ケーブル２５，２６に負荷としての測定対象抵
抗体Ｍが接続されているときには、抵抗３０に接続検出
用電流ＩC が流れることにより、抵抗３０の両端に電圧
Ｖ2 が発生する。このため、増幅器３２が、その電圧Ｖ
2 を差動増幅することにより電圧ＶI を生成し、生成し
た電圧ＶI を全波整流回路３５に出力する。次いで、全
波整流回路３５が、電圧ＶI を全波整流することによ
り、測定電流値対応電圧ＶDIを生成してＣＰＵ７に出力
する。この際に、ＣＰＵ７は、測定電流値対応電圧ＶDI
をアナログ−ディジタル変換することにより電流データ
を生成し、電流データに基づいて、図４（ｃ）に示す時
間ｔ２の時点以降に接続検出用電流ＩC が流れているか
否かを判別する。この場合、接続検出用電流ＩC が流れ
ていないと判別したときには、ＣＰＵ７は、無負荷であ
るとして、大電流である測定電流ＩM を測定対象抵抗体
Ｍに供給せずに待機し、表示器２に無負荷の旨を表示さ
せる。

【００２９】一方、時間ｔ３の時点で鰐口クリップ２５
ｂ〜２８ｂが測定対象抵抗体Ｍに接続されると、測定対
象抵抗体Ｍに接続検出用電流ＩC が導通する。この際
に、接続検出用電流ＩC が抵抗３０を導通することによ
り、全波整流回路３５から測定電流値対応電圧ＶDIがＣ
ＰＵ７に入力される。なお、測定対象抵抗体Ｍが極めて
低抵抗値の場合であっても、電流出力用ケーブル２５，
２６（本発明における電流制限手段に相当する）の線抵
抗（例えば１０ｍΩ）、およびトランス９における二次
巻線９ｂの巻線抵抗によって、測定対象抵抗体Ｍを流れ
る電流値が低電流値に制限される。具体的には、接続用
コネクタ２１，２２の開放端電圧が２０ｍＶの場合、電
流出力用ケーブル２５，２６の線抵抗によって２Ａ程度
に制限され、二次巻線９ｂの巻線抵抗によってさらに低
い電流値に制限される。この結果、測定対象抵抗体Ｍに
大電流が瞬間的に流れるのが阻止されるため、放電が確
実に防止される。

【００３０】次いで、ＣＰＵ７は、測定電流値対応電圧
ＶDIと初期値Ａとを比較し、図４（ｃ）に示す時間ｔ３
の時点で測定電流値対応電圧ＶDIが初期値Ａを超えたと
きに、鰐口クリップ２５ｂ〜２８ｂが測定対象抵抗体Ｍ
の試験点に接続されたと判別する（ステップ４８）。こ
の際には、ＣＰＵ７は、同図（ｂ）に示すように、時間
ｔ４の時点で電圧制御信号ＳS を出力して交流電源部１
１の出力電圧Ｖa を上昇させることにより、予め設定し
た電流値（例えば、２５Ａ）の測定電流ＩM を時間ｔ５
の時点で測定対象抵抗体Ｍに出力する（ステップ４
９）。この場合、ＣＰＵ７は、フィードバック処理によ
って測定電流ＩM を設定値（２５Ａ）に設定する。この
後、ＣＰＵ７は、実測定回数値ｎに値１を加算して更新
する（ステップ５０）。

【００３１】次に、ＣＰＵ７は、測定電流値対応電圧Ｖ
DIを監視することにより、測定電流値対応電圧ＶDIの異
常な低下などの異常が発生していないかを監視する（ス
テップ５１）。具体的には、例えば、鰐口クリップ２５
ｂ，２６ｂが測定対象抵抗体Ｍの試験点から外れたり、
測定対象抵抗体Ｍとしての家電機器における切れかかっ
た接続用導線が焼き切れたりしたときなどには、測定対
象抵抗体Ｍに測定電流ＩM が流れないため、測定電流値
対応電圧ＶDIが０Ｖとなる。また、測定対象抵抗体Ｍの
抵抗値が大きいときなどには、電流データが設定値（例
えば、２５Ａ）まで上昇しない。このような異常が発生
したと判別したときには、ＣＰＵ７は、その旨を表示器
２に表示させた状態で（ステップ５８）、この測定処理
を終了する。逆に、異常が発生していないと判別したと
きには、ＣＰＵ７は、抵抗値の測定を開始する（ステッ
プ５２）。この測定においては、ＣＰＵ７は、電圧値対
応電圧ＶDVおよび測定電流値対応電圧ＶDIをそれぞれア
ナログ−ディジタル変換することにより生成した電圧デ
ータおよび電流データに基づいて測定対象抵抗体Ｍの抵
抗値を測定する。具体的には、ＣＰＵ７は、電圧データ
を電流データで除算することにより抵抗値を演算する。
この後、ＣＰＵ７は、演算した抵抗値を表示器２に表示
させる（ステップ５２）。

【００３２】次いで、ＣＰＵ７は、測定対象抵抗体Ｍに
測定電流ＩM を通電する試験時間が設定されているかを
判別する（ステップ５３）。この試験時間は、ＪＩＳ規
格に従って測定対象抵抗体Ｍの抵抗値を測定する場合な
どに設定されるものであって、操作部５のテンキーなど
を使用して設定される。試験時間が設定されていると判
別したときには、ＣＰＵ７は、設定時間が終了したか否
かを内部タイマのタイマ値に基づいて判別する（ステッ
プ５４）。終了していないと判別したときには、ＣＰＵ
７は、ステップ５１〜５４を繰り返し実行する。

【００３３】一方、上記したステップ５３において試験
時間の設定がないと判別したとき、およびステップ５４
において設定時間が終了したと判別したときには、ＣＰ
Ｕ７は、図４（ｂ）に示すように、時間ｔ７の時点で測
定電流ＩM に代えて、接続検査用電流ＩC を出力させる
ことによりステップ４７と同様にして接続検出処理を実
行する（ステップ５５）。この後、ＣＰＵ７は、直前に
測定した測定値を表示器２にホールド表示させる（ステ
ップ５６）。

【００３４】次いで、ＣＰＵ７は、実測定回数値ｎが設
定された測定回数Ｎに達したか否かを判別する（ステッ
プ５７）。達したと判別したときには、ＣＰＵ７は、測
定した各試験点に対応する測定値と、総合判定結果を表
示器２に表示させた後（ステップ５８）、この測定処理
を終了する。

【００３５】一方、ステップ５７において実測定回数値
ｎが設定された測定回数Ｎに達していないと判別したと
きには、ＣＰＵ７は、測定電流値対応電圧ＶDIが初期値
Ａを超えたか否かを判別し（ステップ４８）、図４
（ｃ）に示すように、時間ｔ７の時点で超えたと判別し
たときには、上記したステップ４９〜５７を繰り返し実
行する。なお、試験時間の設定がない場合、測定対象抵
抗体Ｍの試験点が変更される際には、鰐口クリップ２５
ｂ，２６ｂが試験点から外れるため、測定電流値対応電
圧ＶDIが初期値Ａよりも低下する。したがって、ＣＰＵ
７は、接続検出処理中（ステップ５５）において測定電
流値対応電圧ＶDIの低下が生じたときに測定対象抵抗体
Ｍが未接続になったと判別し、測定電流値対応電圧ＶDI
が初期値Ａを再度超えたときにステップ４９に移行する
（ステップ５９）。また、ＣＰＵ７は、測定処理中にお
いて、測定終了スイッチ４がオフ状態に操作されたか否
かを判別し、オフ状態に操作されたと判別したときに
は、同図（ｃ）に示す時間ｔ８の時点で、この測定処理
を直ちに停止する。

【００３６】このように、この抵抗測定装置１によれ
ば、低電流の接続検査用電流ＩC の出力状態で測定した
測定電流値対応電圧ＶDIが初期値Ａを超えたときに、測
定電流ＩM を供給して測定対象抵抗体Ｍの抵抗値を測定
することにより、測定対象抵抗体Ｍの接続に応じて抵抗
値測定を自動的に行うことができる。このため、鰐口ク
リップ２５ｂ，２６ｂなどの測定プローブを測定対象抵
抗体Ｍの試験点に押し当てて測定する場合であっても、
一人のオペレータで測定を容易に行うことができる。ま
た、測定対象抵抗体Ｍの接続時に大電流の測定電流ＩM
が直ちに供給されることがないため、放電現象を防止す
ることができる。さらに、極めて低抵抗を測定対象抵抗
体Ｍとして測定する場合であっても、測定対象抵抗体Ｍ
を一旦接続した後に測定電流ＩM が供給されるため、測
定対象抵抗体Ｍの接続時に直ちに測定電流が供給される
おそれのある従来の抵抗測定装置７１とは異なり、放電
現象の発生を確実に防止することができる。

【００３７】なお、本発明は、本実施形態に示した構成
や処理手順に限定されず、適宜変更が可能である。例え
ば、本発明の実施の形態では、電圧源としての交流電源
部１１を用いた構成について説明したが、これに限ら
ず、定電流源を用いて構成してもよい。この場合、接続
検査用電流ＩC としての極めて低い定電流を交流電源部
１１から測定対象抵抗体Ｍに供給することができる。ま
た、測定電流ＩM の電流値、および接続検査用電流ＩC
の供給の際の出力電圧ＶO の電圧値についても、本発明
の実施の形態に示した電流値に限定されず、任意の電流
値または電圧値に規定することができる。

【００３８】また、抵抗値の測定手法自体も限定され
ず、アナログ演算などによって測定対象抵抗体Ｍの抵抗
値を測定することもできる。また、測定電流ＩM や接続
検査用電流ＩC の検出手段として、本発明の実施の形態
では抵抗３０を用いた例について説明したが、これに限
らず、カレントトランス（ＣＴ）などを用いることもで
きる。さらに、本発明における電流制限手段は、電流出
力用ケーブル２５，２６やトランス９の二次巻線９ｂに
限らず、低抵抗の他の手段に適宜変更することができ
る。

【００３９】また、本発明における判定電圧について
も、抵抗測定装置１では、実測した測定電流値対応電圧
ＶDIに基づいて初期値Ａを規定しているが、予測電圧を
判定電圧として規定し、その判定電圧をＲＯＭなどの記
憶手段に予め記憶させておくこともできる。

【００４０】

【発明の効果】以上のように、請求項１記載の抵抗測定
装置によれば、判定電圧を予め規定した後、測定電流よ
りも低電流の接続検出用電流を出力し、測定電圧が判定
電圧を超えたときに測定処理を実行することにより、測
定対象抵抗体が接続された際に抵抗値測定を自動的に行
うことができる。これにより、測定対象抵抗体に測定用
プローブを押し当てて測定する場合であっても、一人の
オペレータが容易に測定することができる。また、測定
対象抵抗体の接続時に大電流の測定電流が直ちに供給さ
れることがないため、放電現象を防止することができ、
しかも、極めて低抵抗を測定対象抵抗体として測定する
場合であっても、測定対象抵抗体を一旦接続した後に測
定電流が供給されるため、放電現象の発生を確実に防止
することができる。

【００４１】また、請求項２記載の抵抗測定装置によれ
ば、測定処理および接続検出処理を交互かつ連続的に実
行することにより、オペレータが測定プローブを試験点
に接続するだけで、抵抗値測定を自動的に行うことがで
きる。このため、煩雑な操作を行うことなく、例えば、
数多くの試験点が存在する測定対象抵抗体を検査する場
合や、数多くの測定対象抵抗体を連続的に検査する場合
には、抵抗値測定を極めて容易に行うことができると共
に、その測定時間を極めて短縮することができる。

【００４２】さらに、請求項３記載の抵抗測定装置によ
れば、測定処理時に対象抵抗体に供給する供給電圧より
も十分に低い電圧を、電流制限手段を介して出力接続検
出用電流として出力することにより、電流制限手段によ
って測定対象抵抗体に流れる電流を制限することができ
るため、放電現象の発生を確実に防止することができ
る。

【００４３】また、請求項４記載の抵抗測定装置によれ
ば、制御部が設定スイッチによって設定された測定時間
が経過したときに測定処理から接続検出処理に切替制御
することにより、測定電流の通電時間が予め規定されて
いる抵抗値測定作業を極めて迅速かつ容易に行うことが
できる。

【００４４】また、請求項５記載の抵抗測定装置によれ
ば、制御部が測定開始スイッチ手段によって設定された
測定開始後において電源部に対する接続検出用電流およ
び測定電流の生成を制御することにより、スライダック
などを使用する抵抗値測定作業と比較して、抵抗値測定
作業を迅速かつ容易に行うことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の形態に係る抵抗測定装置の回路
図である。

【図２】本発明の実施の形態に係る抵抗測定装置におけ
る測定処理のフローチャートである。

【図３】本発明の実施の形態に係る抵抗測定装置におけ
る測定処理のフローチャートである。

【図４】（ａ）は測定開始スイッチ３のオン／オフ状態
を示す状態図、（ｂ）は出力電圧ＶO の実効電圧の電圧
波形図、（ｃ）は全波整流回路３５から出力される測定
電流値対応電圧ＶDIの電圧波形図である。

【図５】従来の抵抗測定装置７１の外観図である。

【符号の説明】

１抵抗測定装置３測定開始スイッチ７ＣＰＵ９トランス９ｂ二次巻線１１交流電源部１２出力リレーＩC 接続検査用電流ＩM 測定電流Ｍ測定対象抵抗体Ｖ1 電圧ＶDI 測定電流値対応電圧

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】測定対象抵抗体に対して測定電流を供給
し、前記測定対象抵抗体の両端に発生する両端電圧およ
び前記測定電流に基づいて当該測定対象抵抗体の抵抗値
を測定する測定処理を実行可能に構成された抵抗測定装
置において、前記測定電流よりも低電流の接続検出用電流を出力し、
前記測定対象抵抗体を流れる電流に対応する測定電圧が
予め規定した判定電圧を超えたときに前記測定処理を実
行することを特徴とする抵抗測定装置。
【請求項２】前記測定処理と、前記測定電圧が前記判
定電圧よりも低下したときに前記測定電流に代えて前記
接続検出用電流を出力することにより前記測定対象抵抗
体の接続を検出するための接続検出処理とを交互かつ連
続的に実行可能に構成されていることを特徴とする請求
項１記載の抵抗測定装置。
【請求項３】前記測定処理時に前記対象抵抗体に供給
する供給電圧よりも十分に低い電圧を電流制限手段を介
して出力することにより前記接続検出用電流を出力する
ことを特徴とする請求項１または２記載の抵抗測定装
置。
【請求項４】測定時間を設定するための設定スイッチ
を備え、前記設定された測定時間が経過したときに前記
測定処理から前記接続検出処理に切替制御する制御部を
備えていることを特徴とする請求項１から３のいずれか
に記載の抵抗測定装置。
【請求項５】測定開始を設定するための測定開始スイ
ッチ手段と、前記測定電流および前記接続検出用電流を
生成するための出力電圧可変型の電源部とを備え、前記
制御部は、前記測定開始スイッチ手段によって設定され
た測定開始後において、前記電源部に対する前記接続検
出用電流および前記測定電流の生成を制御することを特
徴とする請求項１から４のいずれかに記載の抵抗測定装
置。