JPH0641184Y2 - Ｃｔテストプラグ検査装置 - Google Patents
Ｃｔテストプラグ検査装置Info
- Publication number
- JPH0641184Y2 JPH0641184Y2 JP7239391U JP7239391U JPH0641184Y2 JP H0641184 Y2 JPH0641184 Y2 JP H0641184Y2 JP 7239391 U JP7239391 U JP 7239391U JP 7239391 U JP7239391 U JP 7239391U JP H0641184 Y2 JPH0641184 Y2 JP H0641184Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test
- test plug
- circuit
- continuity
- conduction
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本考案は、ＣＴテストプラグの複
数の端子間の導通・不導通を検査するＣＴテストプラグ
検査装置に関するものである。
数の端子間の導通・不導通を検査するＣＴテストプラグ
検査装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】図８は４点式のテスト用レセプタクル１
を有するリレー盤２の使用法を表す結線図を示し、テス
ト用レセプタクル１の端子Ａ〜Ｃのそれぞれが変流変成
器（ＣＴ）の２次巻線を介して共通の端子Ｎに結線され
ている。テスト用レセプタクル１の端子Ａ〜Ｃ、Ｎはそ
れぞれが端子ａ〜ｃ、ｎとの間にスイッチを構成してお
り、端子ａ〜ｃ、ｎはリレー３に接続されている。常時
はスイッチＡ−ａ〜Ｃ−ｃ、Ｎ−ｎが全て閉じており、
ＣＴは１次側が活線であるため、ＣＴの２次巻線から電
流がリレー３に供給されている。リレー盤２はＣＴの１
次側に接続された図示しない回路に事故が生じた際に、
ＣＴの２次巻線に流れる故障電流に応じてリレー３を駆
動し、電力保護を行うことを目的としているため、定期
的にリレー３の動作試験が必要とされる。
を有するリレー盤２の使用法を表す結線図を示し、テス
ト用レセプタクル１の端子Ａ〜Ｃのそれぞれが変流変成
器（ＣＴ）の２次巻線を介して共通の端子Ｎに結線され
ている。テスト用レセプタクル１の端子Ａ〜Ｃ、Ｎはそ
れぞれが端子ａ〜ｃ、ｎとの間にスイッチを構成してお
り、端子ａ〜ｃ、ｎはリレー３に接続されている。常時
はスイッチＡ−ａ〜Ｃ−ｃ、Ｎ−ｎが全て閉じており、
ＣＴは１次側が活線であるため、ＣＴの２次巻線から電
流がリレー３に供給されている。リレー盤２はＣＴの１
次側に接続された図示しない回路に事故が生じた際に、
ＣＴの２次巻線に流れる故障電流に応じてリレー３を駆
動し、電力保護を行うことを目的としているため、定期
的にリレー３の動作試験が必要とされる。
【０００３】この試験を活線状態で行うための接続器具
として、図９に示すような４点式用ＣＴテストプラグ４
を用いる。ＣＴテストプラグ４をテスト用レセプタクル
１に挿入することにより、スイッチＡ−ａ〜Ｃ−ｃ、Ｎ
−ｎが開き、テスト用レセプタクル１は図１０(a) に示
すように接続され、ＣＴテストプラグ４の端子ａ〜ｃ、
ｎから試験電流を供給して試験を行う。ＣＴテストプラ
グ４は端子Ａ〜Ｃ、Ｎ、ａ〜ｃ、ｎの間の接続を、複数
の短絡バーの付け換えによって変えることができるよう
になっており、例えば端子Ａ、ａの間の電流を計測する
際には、図１０(a) の接続に、(b) の接続を追加した後
に、(a) の接続を取り外して行う。これにより、ＣＴの
２次側が開放されることによる高電圧発生の危険が防止
される。ＣＴテストプラグ４をテスト用レセプタクル１
から引き抜く際には、ＣＴテストプラグ４との接触が断
たれる前にレセプタクル１の接点が閉止する。このた
め、測定においてＣＴテストプラグ４をテスト用レセプ
タクル１に挿入する際に、短絡バーが正しく接続してい
ることが重要であり、ＣＴテストプラグ４は使用前に汎
用の２点間の導通試験器、所謂テスタの導通レンジを用
いて短絡バーの接続状態が図１０(a) のようになってい
るかを確認をする。
として、図９に示すような４点式用ＣＴテストプラグ４
を用いる。ＣＴテストプラグ４をテスト用レセプタクル
１に挿入することにより、スイッチＡ−ａ〜Ｃ−ｃ、Ｎ
−ｎが開き、テスト用レセプタクル１は図１０(a) に示
すように接続され、ＣＴテストプラグ４の端子ａ〜ｃ、
ｎから試験電流を供給して試験を行う。ＣＴテストプラ
グ４は端子Ａ〜Ｃ、Ｎ、ａ〜ｃ、ｎの間の接続を、複数
の短絡バーの付け換えによって変えることができるよう
になっており、例えば端子Ａ、ａの間の電流を計測する
際には、図１０(a) の接続に、(b) の接続を追加した後
に、(a) の接続を取り外して行う。これにより、ＣＴの
２次側が開放されることによる高電圧発生の危険が防止
される。ＣＴテストプラグ４をテスト用レセプタクル１
から引き抜く際には、ＣＴテストプラグ４との接触が断
たれる前にレセプタクル１の接点が閉止する。このた
め、測定においてＣＴテストプラグ４をテスト用レセプ
タクル１に挿入する際に、短絡バーが正しく接続してい
ることが重要であり、ＣＴテストプラグ４は使用前に汎
用の２点間の導通試験器、所謂テスタの導通レンジを用
いて短絡バーの接続状態が図１０(a) のようになってい
るかを確認をする。
【０００４】
【考案が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
テスタによる導通・不導通の確認は人手によらなければ
ならず、長時間を要し確認もれを生ずるという問題があ
る。
テスタによる導通・不導通の確認は人手によらなければ
ならず、長時間を要し確認もれを生ずるという問題があ
る。
【０００５】本考案の目的は、短時間で確実に導通・不
導通の確認を行うＣＴテストプラグ検査装置を提供する
ことにある。
導通の確認を行うＣＴテストプラグ検査装置を提供する
ことにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上述の目的を達成するた
めの本考案に係るＣＴテストプラグ検査装置は、導通・
不導通試験回路と、順次に切換えを行う切換回路と、試
験項目表示器と、良・不良表示器とを有し、複数の接続
ピンを有するＣＴテストプラグの各接続ピン間の導通・
不導通を順次に測定し、規定の導通・不導通の状態であ
るか否かを表示するように構成したことを特徴とするも
のである。
めの本考案に係るＣＴテストプラグ検査装置は、導通・
不導通試験回路と、順次に切換えを行う切換回路と、試
験項目表示器と、良・不良表示器とを有し、複数の接続
ピンを有するＣＴテストプラグの各接続ピン間の導通・
不導通を順次に測定し、規定の導通・不導通の状態であ
るか否かを表示するように構成したことを特徴とするも
のである。
【０００７】
【作用】上述の構成を有するＣＴテストプラグ検査装置
は、検査するＣＴテストプラグを接続した後に測定開始
を指示するだけで、試験回路を切換える切換回路を介し
て各接続ピン間の導通・不導通を順次に測定し、不良個
所があれば該当する試験項目と不良であることとを表示
器で示す。
は、検査するＣＴテストプラグを接続した後に測定開始
を指示するだけで、試験回路を切換える切換回路を介し
て各接続ピン間の導通・不導通を順次に測定し、不良個
所があれば該当する試験項目と不良であることとを表示
器で示す。
【０００８】
【実施例】本考案を図１〜図７に図示の実施例に基づい
て詳細に説明する。図１はＣＴテストプラグ検査装置の
構成図を示し、４点式用ジャック１０が、切換回路１１
を介して導通・不導通試験回路１２に接続されており、
導通・不導通試験回路１２の出力が表示灯１３、１４に
接続されている。切換回路１１にはクロックパルス発生
回路１５の出力が接続されていて、クロックパルス発生
回路１５はスタート釦１６からの起動信号により、一定
個数のクロックパルスCPを発生し、かつ発生中に試験回
路１２から不良表示信号「ＮＧ」が入力された場合には
その時点でクロックパルスCPの発生を停止するようにさ
れている。また、切換回路１１の出力が項目表示灯１７
に接続されている。
て詳細に説明する。図１はＣＴテストプラグ検査装置の
構成図を示し、４点式用ジャック１０が、切換回路１１
を介して導通・不導通試験回路１２に接続されており、
導通・不導通試験回路１２の出力が表示灯１３、１４に
接続されている。切換回路１１にはクロックパルス発生
回路１５の出力が接続されていて、クロックパルス発生
回路１５はスタート釦１６からの起動信号により、一定
個数のクロックパルスCPを発生し、かつ発生中に試験回
路１２から不良表示信号「ＮＧ」が入力された場合には
その時点でクロックパルスCPの発生を停止するようにさ
れている。また、切換回路１１の出力が項目表示灯１７
に接続されている。
【０００９】試験回路１２は図２に示すように抵抗ブリ
ッジとコンパレータから構成され、試験を行う対象であ
る端子間の抵抗Ｒの導通・不導通を、切換回路１１によ
って１個のコンパレータで判定するようになっている。
即ち、導通試験は導通不導通試験回路１２の回路１２ａ
の接続において行い、抵抗Ｒが１Ωより小さければ出力
がＨレベルになり、同じコンパレータで回路１２ｂの接
続に切換えて行う不導通試験では、抵抗Ｒが１０ｋΩよ
り大きければＨレベルを出力する。そして、コンパレー
タの出力がＨレベルであれば、良表示信号「ＯＫ」を表
示灯１３に出力して表示灯１３を点灯し、Ｌレベルであ
れば不良表示信号「ＮＧ」を表示灯１４とクロックパル
ス発生回路１５の停止信号入力に出力し、表示灯１４が
点灯してクロックパルスCPの出力は停止する。
ッジとコンパレータから構成され、試験を行う対象であ
る端子間の抵抗Ｒの導通・不導通を、切換回路１１によ
って１個のコンパレータで判定するようになっている。
即ち、導通試験は導通不導通試験回路１２の回路１２ａ
の接続において行い、抵抗Ｒが１Ωより小さければ出力
がＨレベルになり、同じコンパレータで回路１２ｂの接
続に切換えて行う不導通試験では、抵抗Ｒが１０ｋΩよ
り大きければＨレベルを出力する。そして、コンパレー
タの出力がＨレベルであれば、良表示信号「ＯＫ」を表
示灯１３に出力して表示灯１３を点灯し、Ｌレベルであ
れば不良表示信号「ＮＧ」を表示灯１４とクロックパル
ス発生回路１５の停止信号入力に出力し、表示灯１４が
点灯してクロックパルスCPの出力は停止する。
【００１０】切換回路１１は図示しない複数のリードリ
レーと複数のアナログスイッチと複数のフリップフロッ
プ回路から構成され、導通試験ではリードリレーによ
り、４点式用ジャック１０の複数の端子のうち２個を抵
抗ブリッジとコンパレータに接続して回路１２ａとし、
同時に導通の試験中であることを示す表示灯１７ａが点
灯する。不導通試験では同様にアナログスイッチにより
コンパレータへの接続がなされて回路１２ｂが構成さ
れ、上下不導通の表示灯１７ｂが点灯する。
レーと複数のアナログスイッチと複数のフリップフロッ
プ回路から構成され、導通試験ではリードリレーによ
り、４点式用ジャック１０の複数の端子のうち２個を抵
抗ブリッジとコンパレータに接続して回路１２ａとし、
同時に導通の試験中であることを示す表示灯１７ａが点
灯する。不導通試験では同様にアナログスイッチにより
コンパレータへの接続がなされて回路１２ｂが構成さ
れ、上下不導通の表示灯１７ｂが点灯する。
【００１１】ＣＴテストプラグ検査装置は、図示しない
８点式用ジャックも備えており、８点式用ジャックは切
換回路１１と同様のリードリレーとアナログスイッチを
用いた図示しない切換回路を介して図示しない導通・不
導通試験回路に接続され、その出力は表示灯１３、１
４、１７に４点式用と共通に表示されるようになってお
り、４点式と８点式の選択は図示しないトグルスイッチ
によって行うようになっている。
８点式用ジャックも備えており、８点式用ジャックは切
換回路１１と同様のリードリレーとアナログスイッチを
用いた図示しない切換回路を介して図示しない導通・不
導通試験回路に接続され、その出力は表示灯１３、１
４、１７に４点式用と共通に表示されるようになってお
り、４点式と８点式の選択は図示しないトグルスイッチ
によって行うようになっている。
【００１２】図３はＣＴテストプラグ検査装置の動作を
論理素子で表現した説明図を示し、それぞれの入力は端
子間が導通の場合にＨレベルで、不導通の場合にＬレベ
ルであるものとする。図４はＣＴテストプラグ検査装置
のパネルの正面図、図５は動作のフローチャート図、図
６は内部回路の動作のタイミングチャート図を示してい
る。
論理素子で表現した説明図を示し、それぞれの入力は端
子間が導通の場合にＨレベルで、不導通の場合にＬレベ
ルであるものとする。図４はＣＴテストプラグ検査装置
のパネルの正面図、図５は動作のフローチャート図、図
６は内部回路の動作のタイミングチャート図を示してい
る。
【００１３】ＣＴテストプラグ検査装置の前面パネルに
は、４点式用ジャック１０及び８点式用ジャック１８が
設けられ、導通の表示灯１７ａ、上下不導通の表示灯１
７ｂ、相間不導通の表示灯１７ｃ、導通・不導通の別が
正常であることを示す表示灯１３、同じく異常であるこ
とを示す表示灯１４が設けられ、測定対象のＣＴテスト
プラグを指定するためのトグルスイッチ１９と、測定開
始を指示するためのスタート釦１６が設けられている。
は、４点式用ジャック１０及び８点式用ジャック１８が
設けられ、導通の表示灯１７ａ、上下不導通の表示灯１
７ｂ、相間不導通の表示灯１７ｃ、導通・不導通の別が
正常であることを示す表示灯１３、同じく異常であるこ
とを示す表示灯１４が設けられ、測定対象のＣＴテスト
プラグを指定するためのトグルスイッチ１９と、測定開
始を指示するためのスタート釦１６が設けられている。
【００１４】図９に示したような４点式用テストプラグ
４を検査する場合には、プラグ４をジャック１０に挿着
し、トグルスイッチ１９を４Ｐ側に倒し、スタート釦１
６を押す。すると、図５のフローチャート図のステップ
１０からステップ２０になり、トグルスイッチ１９が４
Ｐ側になっているため、ステップ３１ａに進む。その後
は、図６に示すように一定時間ごとに測定対象の端子の
対が切換えられ、その都度その測定の結果が判定され
る。
４を検査する場合には、プラグ４をジャック１０に挿着
し、トグルスイッチ１９を４Ｐ側に倒し、スタート釦１
６を押す。すると、図５のフローチャート図のステップ
１０からステップ２０になり、トグルスイッチ１９が４
Ｐ側になっているため、ステップ３１ａに進む。その後
は、図６に示すように一定時間ごとに測定対象の端子の
対が切換えられ、その都度その測定の結果が判定され
る。
【００１５】図５のフローチャート図のステップ３１ａ
〜３１ｎでは、それぞれ各端子間の抵抗値が１Ω以下で
あれば良と判定し、ステップ３２ａ〜３２ｎでは抵抗値
が１０ｋΩ以上であれば良と判定する。判定結果が良で
あれば次の測定に進み、不良であればステップ４１に進
み、表示灯１４を点灯し、表示灯１７ａ〜１７ｃのうち
不良のあった項目を点灯したまま終了する。判定結果が
全て良でステップ３２ｎを終了すると、ステップ４２に
進み表示灯１３を点灯して終了する。
〜３１ｎでは、それぞれ各端子間の抵抗値が１Ω以下で
あれば良と判定し、ステップ３２ａ〜３２ｎでは抵抗値
が１０ｋΩ以上であれば良と判定する。判定結果が良で
あれば次の測定に進み、不良であればステップ４１に進
み、表示灯１４を点灯し、表示灯１７ａ〜１７ｃのうち
不良のあった項目を点灯したまま終了する。判定結果が
全て良でステップ３２ｎを終了すると、ステップ４２に
進み表示灯１３を点灯して終了する。
【００１６】図７に示す８点式用テストプラグ２０を試
験する場合にはジャック１８に挿入し、トグルスイッチ
１９を８Ｐ側に倒してからスタート釦１６を押す。する
と、図５のフローチャート図のステップ２０の次にステ
ップ３３ａに進み、測定は図６に示すタイミングで４点
式用の場合と同様にして順次に行われる。この場合も、
終了時には表示灯１３を点灯するか、表示灯１７ａ〜１
７ｃのうち不良のあった項目を点灯したまま、表示灯１
４を点灯して終了する。
験する場合にはジャック１８に挿入し、トグルスイッチ
１９を８Ｐ側に倒してからスタート釦１６を押す。する
と、図５のフローチャート図のステップ２０の次にステ
ップ３３ａに進み、測定は図６に示すタイミングで４点
式用の場合と同様にして順次に行われる。この場合も、
終了時には表示灯１３を点灯するか、表示灯１７ａ〜１
７ｃのうち不良のあった項目を点灯したまま、表示灯１
４を点灯して終了する。
【００１７】
【考案の効果】以上説明したように本考案に係るＣＴテ
ストプラグ検査装置は、検査するＣＴテストプラグを接
続した後に測定開始を指示するだけで、複数の接続ピン
間の導通・不導通の良・不良が自動的に測定されて表示
されるため、殆ど人手を煩わせずに、短時間で確実な検
査が可能である。
ストプラグ検査装置は、検査するＣＴテストプラグを接
続した後に測定開始を指示するだけで、複数の接続ピン
間の導通・不導通の良・不良が自動的に測定されて表示
されるため、殆ど人手を煩わせずに、短時間で確実な検
査が可能である。
【図１】実施例の構成図である。
【図２】導通・不導通試験回路の回路図である。
【図３】動作説明図である。
【図４】装置の正面図である。
【図５】動作のフローチャート図である。
【図６】動作のタイミングチャート図である。
【図７】８点式用ＣＴテストプラグの説明図である。
【図８】リレー盤の使用方法の説明図である。
【図９】４点式用ＣＴテストプラグの説明図である。
【図１０】ＣＴテストプラグの使用方法の説明図であ
る。
る。
１０、１８ ジャック １１ 切換回路 １２ 試験回路 １３ 良表示灯 １４ 不良表示灯 １５ クロックパルス発生回路 １６ スタート釦 １７ 項目表示灯
Claims (1)
- 【請求項１】 導通・不導通試験回路と、順次に切換え
を行う切換回路と、試験項目表示器と、良・不良表示器
とを有し、複数の接続ピンを有するＣＴテストプラグの
各接続ピン間の導通・不導通を順次に測定し、規定の導
通・不導通の状態であるか否かを表示するように構成し
たことを特徴とするＣＴテストプラグ検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7239391U JPH0641184Y2 (ja) | 1991-08-14 | 1991-08-14 | Ｃｔテストプラグ検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7239391U JPH0641184Y2 (ja) | 1991-08-14 | 1991-08-14 | Ｃｔテストプラグ検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0517577U JPH0517577U (ja) | 1993-03-05 |
| JPH0641184Y2 true JPH0641184Y2 (ja) | 1994-10-26 |
Family
ID=13487988
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7239391U Expired - Lifetime JPH0641184Y2 (ja) | 1991-08-14 | 1991-08-14 | Ｃｔテストプラグ検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0641184Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101287119B1 (ko) * | 2012-05-18 | 2013-07-17 | 삼포정보통신 (주) | 이어잭 어셈블리의 기능검사방법 및 장치 |
-
1991
- 1991-08-14 JP JP7239391U patent/JPH0641184Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0517577U (ja) | 1993-03-05 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |