JPH0641184Y2 - Ctテストプラグ検査装置 - Google Patents
Ctテストプラグ検査装置Info
- Publication number
- JPH0641184Y2 JPH0641184Y2 JP7239391U JP7239391U JPH0641184Y2 JP H0641184 Y2 JPH0641184 Y2 JP H0641184Y2 JP 7239391 U JP7239391 U JP 7239391U JP 7239391 U JP7239391 U JP 7239391U JP H0641184 Y2 JPH0641184 Y2 JP H0641184Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test
- test plug
- circuit
- continuity
- conduction
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本考案は、CTテストプラグの複
数の端子間の導通・不導通を検査するCTテストプラグ
検査装置に関するものである。
数の端子間の導通・不導通を検査するCTテストプラグ
検査装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】図8は4点式のテスト用レセプタクル1
を有するリレー盤2の使用法を表す結線図を示し、テス
ト用レセプタクル1の端子A〜Cのそれぞれが変流変成
器(CT)の2次巻線を介して共通の端子Nに結線され
ている。テスト用レセプタクル1の端子A〜C、Nはそ
れぞれが端子a〜c、nとの間にスイッチを構成してお
り、端子a〜c、nはリレー3に接続されている。常時
はスイッチA−a〜C−c、N−nが全て閉じており、
CTは1次側が活線であるため、CTの2次巻線から電
流がリレー3に供給されている。リレー盤2はCTの1
次側に接続された図示しない回路に事故が生じた際に、
CTの2次巻線に流れる故障電流に応じてリレー3を駆
動し、電力保護を行うことを目的としているため、定期
的にリレー3の動作試験が必要とされる。
を有するリレー盤2の使用法を表す結線図を示し、テス
ト用レセプタクル1の端子A〜Cのそれぞれが変流変成
器(CT)の2次巻線を介して共通の端子Nに結線され
ている。テスト用レセプタクル1の端子A〜C、Nはそ
れぞれが端子a〜c、nとの間にスイッチを構成してお
り、端子a〜c、nはリレー3に接続されている。常時
はスイッチA−a〜C−c、N−nが全て閉じており、
CTは1次側が活線であるため、CTの2次巻線から電
流がリレー3に供給されている。リレー盤2はCTの1
次側に接続された図示しない回路に事故が生じた際に、
CTの2次巻線に流れる故障電流に応じてリレー3を駆
動し、電力保護を行うことを目的としているため、定期
的にリレー3の動作試験が必要とされる。
【0003】この試験を活線状態で行うための接続器具
として、図9に示すような4点式用CTテストプラグ4
を用いる。CTテストプラグ4をテスト用レセプタクル
1に挿入することにより、スイッチA−a〜C−c、N
−nが開き、テスト用レセプタクル1は図10(a) に示
すように接続され、CTテストプラグ4の端子a〜c、
nから試験電流を供給して試験を行う。CTテストプラ
グ4は端子A〜C、N、a〜c、nの間の接続を、複数
の短絡バーの付け換えによって変えることができるよう
になっており、例えば端子A、aの間の電流を計測する
際には、図10(a) の接続に、(b) の接続を追加した後
に、(a) の接続を取り外して行う。これにより、CTの
2次側が開放されることによる高電圧発生の危険が防止
される。CTテストプラグ4をテスト用レセプタクル1
から引き抜く際には、CTテストプラグ4との接触が断
たれる前にレセプタクル1の接点が閉止する。このた
め、測定においてCTテストプラグ4をテスト用レセプ
タクル1に挿入する際に、短絡バーが正しく接続してい
ることが重要であり、CTテストプラグ4は使用前に汎
用の2点間の導通試験器、所謂テスタの導通レンジを用
いて短絡バーの接続状態が図10(a) のようになってい
るかを確認をする。
として、図9に示すような4点式用CTテストプラグ4
を用いる。CTテストプラグ4をテスト用レセプタクル
1に挿入することにより、スイッチA−a〜C−c、N
−nが開き、テスト用レセプタクル1は図10(a) に示
すように接続され、CTテストプラグ4の端子a〜c、
nから試験電流を供給して試験を行う。CTテストプラ
グ4は端子A〜C、N、a〜c、nの間の接続を、複数
の短絡バーの付け換えによって変えることができるよう
になっており、例えば端子A、aの間の電流を計測する
際には、図10(a) の接続に、(b) の接続を追加した後
に、(a) の接続を取り外して行う。これにより、CTの
2次側が開放されることによる高電圧発生の危険が防止
される。CTテストプラグ4をテスト用レセプタクル1
から引き抜く際には、CTテストプラグ4との接触が断
たれる前にレセプタクル1の接点が閉止する。このた
め、測定においてCTテストプラグ4をテスト用レセプ
タクル1に挿入する際に、短絡バーが正しく接続してい
ることが重要であり、CTテストプラグ4は使用前に汎
用の2点間の導通試験器、所謂テスタの導通レンジを用
いて短絡バーの接続状態が図10(a) のようになってい
るかを確認をする。
【0004】
【考案が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
テスタによる導通・不導通の確認は人手によらなければ
ならず、長時間を要し確認もれを生ずるという問題があ
る。
テスタによる導通・不導通の確認は人手によらなければ
ならず、長時間を要し確認もれを生ずるという問題があ
る。
【0005】本考案の目的は、短時間で確実に導通・不
導通の確認を行うCTテストプラグ検査装置を提供する
ことにある。
導通の確認を行うCTテストプラグ検査装置を提供する
ことにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】上述の目的を達成するた
めの本考案に係るCTテストプラグ検査装置は、導通・
不導通試験回路と、順次に切換えを行う切換回路と、試
験項目表示器と、良・不良表示器とを有し、複数の接続
ピンを有するCTテストプラグの各接続ピン間の導通・
不導通を順次に測定し、規定の導通・不導通の状態であ
るか否かを表示するように構成したことを特徴とするも
のである。
めの本考案に係るCTテストプラグ検査装置は、導通・
不導通試験回路と、順次に切換えを行う切換回路と、試
験項目表示器と、良・不良表示器とを有し、複数の接続
ピンを有するCTテストプラグの各接続ピン間の導通・
不導通を順次に測定し、規定の導通・不導通の状態であ
るか否かを表示するように構成したことを特徴とするも
のである。
【0007】
【作用】上述の構成を有するCTテストプラグ検査装置
は、検査するCTテストプラグを接続した後に測定開始
を指示するだけで、試験回路を切換える切換回路を介し
て各接続ピン間の導通・不導通を順次に測定し、不良個
所があれば該当する試験項目と不良であることとを表示
器で示す。
は、検査するCTテストプラグを接続した後に測定開始
を指示するだけで、試験回路を切換える切換回路を介し
て各接続ピン間の導通・不導通を順次に測定し、不良個
所があれば該当する試験項目と不良であることとを表示
器で示す。
【0008】
【実施例】本考案を図1〜図7に図示の実施例に基づい
て詳細に説明する。図1はCTテストプラグ検査装置の
構成図を示し、4点式用ジャック10が、切換回路11
を介して導通・不導通試験回路12に接続されており、
導通・不導通試験回路12の出力が表示灯13、14に
接続されている。切換回路11にはクロックパルス発生
回路15の出力が接続されていて、クロックパルス発生
回路15はスタート釦16からの起動信号により、一定
個数のクロックパルスCPを発生し、かつ発生中に試験回
路12から不良表示信号「NG」が入力された場合には
その時点でクロックパルスCPの発生を停止するようにさ
れている。また、切換回路11の出力が項目表示灯17
に接続されている。
て詳細に説明する。図1はCTテストプラグ検査装置の
構成図を示し、4点式用ジャック10が、切換回路11
を介して導通・不導通試験回路12に接続されており、
導通・不導通試験回路12の出力が表示灯13、14に
接続されている。切換回路11にはクロックパルス発生
回路15の出力が接続されていて、クロックパルス発生
回路15はスタート釦16からの起動信号により、一定
個数のクロックパルスCPを発生し、かつ発生中に試験回
路12から不良表示信号「NG」が入力された場合には
その時点でクロックパルスCPの発生を停止するようにさ
れている。また、切換回路11の出力が項目表示灯17
に接続されている。
【0009】試験回路12は図2に示すように抵抗ブリ
ッジとコンパレータから構成され、試験を行う対象であ
る端子間の抵抗Rの導通・不導通を、切換回路11によ
って1個のコンパレータで判定するようになっている。
即ち、導通試験は導通不導通試験回路12の回路12a
の接続において行い、抵抗Rが1Ωより小さければ出力
がHレベルになり、同じコンパレータで回路12bの接
続に切換えて行う不導通試験では、抵抗Rが10kΩよ
り大きければHレベルを出力する。そして、コンパレー
タの出力がHレベルであれば、良表示信号「OK」を表
示灯13に出力して表示灯13を点灯し、Lレベルであ
れば不良表示信号「NG」を表示灯14とクロックパル
ス発生回路15の停止信号入力に出力し、表示灯14が
点灯してクロックパルスCPの出力は停止する。
ッジとコンパレータから構成され、試験を行う対象であ
る端子間の抵抗Rの導通・不導通を、切換回路11によ
って1個のコンパレータで判定するようになっている。
即ち、導通試験は導通不導通試験回路12の回路12a
の接続において行い、抵抗Rが1Ωより小さければ出力
がHレベルになり、同じコンパレータで回路12bの接
続に切換えて行う不導通試験では、抵抗Rが10kΩよ
り大きければHレベルを出力する。そして、コンパレー
タの出力がHレベルであれば、良表示信号「OK」を表
示灯13に出力して表示灯13を点灯し、Lレベルであ
れば不良表示信号「NG」を表示灯14とクロックパル
ス発生回路15の停止信号入力に出力し、表示灯14が
点灯してクロックパルスCPの出力は停止する。
【0010】切換回路11は図示しない複数のリードリ
レーと複数のアナログスイッチと複数のフリップフロッ
プ回路から構成され、導通試験ではリードリレーによ
り、4点式用ジャック10の複数の端子のうち2個を抵
抗ブリッジとコンパレータに接続して回路12aとし、
同時に導通の試験中であることを示す表示灯17aが点
灯する。不導通試験では同様にアナログスイッチにより
コンパレータへの接続がなされて回路12bが構成さ
れ、上下不導通の表示灯17bが点灯する。
レーと複数のアナログスイッチと複数のフリップフロッ
プ回路から構成され、導通試験ではリードリレーによ
り、4点式用ジャック10の複数の端子のうち2個を抵
抗ブリッジとコンパレータに接続して回路12aとし、
同時に導通の試験中であることを示す表示灯17aが点
灯する。不導通試験では同様にアナログスイッチにより
コンパレータへの接続がなされて回路12bが構成さ
れ、上下不導通の表示灯17bが点灯する。
【0011】CTテストプラグ検査装置は、図示しない
8点式用ジャックも備えており、8点式用ジャックは切
換回路11と同様のリードリレーとアナログスイッチを
用いた図示しない切換回路を介して図示しない導通・不
導通試験回路に接続され、その出力は表示灯13、1
4、17に4点式用と共通に表示されるようになってお
り、4点式と8点式の選択は図示しないトグルスイッチ
によって行うようになっている。
8点式用ジャックも備えており、8点式用ジャックは切
換回路11と同様のリードリレーとアナログスイッチを
用いた図示しない切換回路を介して図示しない導通・不
導通試験回路に接続され、その出力は表示灯13、1
4、17に4点式用と共通に表示されるようになってお
り、4点式と8点式の選択は図示しないトグルスイッチ
によって行うようになっている。
【0012】図3はCTテストプラグ検査装置の動作を
論理素子で表現した説明図を示し、それぞれの入力は端
子間が導通の場合にHレベルで、不導通の場合にLレベ
ルであるものとする。図4はCTテストプラグ検査装置
のパネルの正面図、図5は動作のフローチャート図、図
6は内部回路の動作のタイミングチャート図を示してい
る。
論理素子で表現した説明図を示し、それぞれの入力は端
子間が導通の場合にHレベルで、不導通の場合にLレベ
ルであるものとする。図4はCTテストプラグ検査装置
のパネルの正面図、図5は動作のフローチャート図、図
6は内部回路の動作のタイミングチャート図を示してい
る。
【0013】CTテストプラグ検査装置の前面パネルに
は、4点式用ジャック10及び8点式用ジャック18が
設けられ、導通の表示灯17a、上下不導通の表示灯1
7b、相間不導通の表示灯17c、導通・不導通の別が
正常であることを示す表示灯13、同じく異常であるこ
とを示す表示灯14が設けられ、測定対象のCTテスト
プラグを指定するためのトグルスイッチ19と、測定開
始を指示するためのスタート釦16が設けられている。
は、4点式用ジャック10及び8点式用ジャック18が
設けられ、導通の表示灯17a、上下不導通の表示灯1
7b、相間不導通の表示灯17c、導通・不導通の別が
正常であることを示す表示灯13、同じく異常であるこ
とを示す表示灯14が設けられ、測定対象のCTテスト
プラグを指定するためのトグルスイッチ19と、測定開
始を指示するためのスタート釦16が設けられている。
【0014】図9に示したような4点式用テストプラグ
4を検査する場合には、プラグ4をジャック10に挿着
し、トグルスイッチ19を4P側に倒し、スタート釦1
6を押す。すると、図5のフローチャート図のステップ
10からステップ20になり、トグルスイッチ19が4
P側になっているため、ステップ31aに進む。その後
は、図6に示すように一定時間ごとに測定対象の端子の
対が切換えられ、その都度その測定の結果が判定され
る。
4を検査する場合には、プラグ4をジャック10に挿着
し、トグルスイッチ19を4P側に倒し、スタート釦1
6を押す。すると、図5のフローチャート図のステップ
10からステップ20になり、トグルスイッチ19が4
P側になっているため、ステップ31aに進む。その後
は、図6に示すように一定時間ごとに測定対象の端子の
対が切換えられ、その都度その測定の結果が判定され
る。
【0015】図5のフローチャート図のステップ31a
〜31nでは、それぞれ各端子間の抵抗値が1Ω以下で
あれば良と判定し、ステップ32a〜32nでは抵抗値
が10kΩ以上であれば良と判定する。判定結果が良で
あれば次の測定に進み、不良であればステップ41に進
み、表示灯14を点灯し、表示灯17a〜17cのうち
不良のあった項目を点灯したまま終了する。判定結果が
全て良でステップ32nを終了すると、ステップ42に
進み表示灯13を点灯して終了する。
〜31nでは、それぞれ各端子間の抵抗値が1Ω以下で
あれば良と判定し、ステップ32a〜32nでは抵抗値
が10kΩ以上であれば良と判定する。判定結果が良で
あれば次の測定に進み、不良であればステップ41に進
み、表示灯14を点灯し、表示灯17a〜17cのうち
不良のあった項目を点灯したまま終了する。判定結果が
全て良でステップ32nを終了すると、ステップ42に
進み表示灯13を点灯して終了する。
【0016】図7に示す8点式用テストプラグ20を試
験する場合にはジャック18に挿入し、トグルスイッチ
19を8P側に倒してからスタート釦16を押す。する
と、図5のフローチャート図のステップ20の次にステ
ップ33aに進み、測定は図6に示すタイミングで4点
式用の場合と同様にして順次に行われる。この場合も、
終了時には表示灯13を点灯するか、表示灯17a〜1
7cのうち不良のあった項目を点灯したまま、表示灯1
4を点灯して終了する。
験する場合にはジャック18に挿入し、トグルスイッチ
19を8P側に倒してからスタート釦16を押す。する
と、図5のフローチャート図のステップ20の次にステ
ップ33aに進み、測定は図6に示すタイミングで4点
式用の場合と同様にして順次に行われる。この場合も、
終了時には表示灯13を点灯するか、表示灯17a〜1
7cのうち不良のあった項目を点灯したまま、表示灯1
4を点灯して終了する。
【0017】
【考案の効果】以上説明したように本考案に係るCTテ
ストプラグ検査装置は、検査するCTテストプラグを接
続した後に測定開始を指示するだけで、複数の接続ピン
間の導通・不導通の良・不良が自動的に測定されて表示
されるため、殆ど人手を煩わせずに、短時間で確実な検
査が可能である。
ストプラグ検査装置は、検査するCTテストプラグを接
続した後に測定開始を指示するだけで、複数の接続ピン
間の導通・不導通の良・不良が自動的に測定されて表示
されるため、殆ど人手を煩わせずに、短時間で確実な検
査が可能である。
【図1】実施例の構成図である。
【図2】導通・不導通試験回路の回路図である。
【図3】動作説明図である。
【図4】装置の正面図である。
【図5】動作のフローチャート図である。
【図6】動作のタイミングチャート図である。
【図7】8点式用CTテストプラグの説明図である。
【図8】リレー盤の使用方法の説明図である。
【図9】4点式用CTテストプラグの説明図である。
【図10】CTテストプラグの使用方法の説明図であ
る。
る。
10、18 ジャック 11 切換回路 12 試験回路 13 良表示灯 14 不良表示灯 15 クロックパルス発生回路 16 スタート釦 17 項目表示灯
Claims (1)
- 【請求項1】 導通・不導通試験回路と、順次に切換え
を行う切換回路と、試験項目表示器と、良・不良表示器
とを有し、複数の接続ピンを有するCTテストプラグの
各接続ピン間の導通・不導通を順次に測定し、規定の導
通・不導通の状態であるか否かを表示するように構成し
たことを特徴とするCTテストプラグ検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7239391U JPH0641184Y2 (ja) | 1991-08-14 | 1991-08-14 | Ctテストプラグ検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7239391U JPH0641184Y2 (ja) | 1991-08-14 | 1991-08-14 | Ctテストプラグ検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0517577U JPH0517577U (ja) | 1993-03-05 |
JPH0641184Y2 true JPH0641184Y2 (ja) | 1994-10-26 |
Family
ID=13487988
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7239391U Expired - Lifetime JPH0641184Y2 (ja) | 1991-08-14 | 1991-08-14 | Ctテストプラグ検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0641184Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101287119B1 (ko) * | 2012-05-18 | 2013-07-17 | 삼포정보통신 (주) | 이어잭 어셈블리의 기능검사방법 및 장치 |
-
1991
- 1991-08-14 JP JP7239391U patent/JPH0641184Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0517577U (ja) | 1993-03-05 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
EXPY | Cancellation because of completion of term |