JPH06230058A

JPH06230058A - プリント配線板の電気検査方法

Info

Publication number: JPH06230058A
Application number: JP5017474A
Authority: JP
Inventors: Kazuo Usami; 一生宇佐美
Original assignee: Hitachi Ltd
Current assignee: Hitachi Ltd
Priority date: 1993-02-04
Filing date: 1993-02-04
Publication date: 1994-08-19

Abstract

(57)【要約】【目的】検査対象の絶縁不良個所及び断線になりかけ
ている回路が過電流により焼損することを防止でき、全
検査子の検査終了までの工数を低減し、作業効率の向上
を図ること。【構成】まず、検査対象の不良箇所を焼損しないよう
な、低い電圧、電流による検査条件で、プリント配線板
上の全ての検査対象に対する検査を行い、その結果、不
良がある検査対象を検査対象から排除して、残りの検査
対象に対する検査を、高い電圧、電流による検査条件で
実施する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、プリント配線板の電気
検査方法に係り、特に、電気的に接続された回路を複数
個有するプリント配線板において、これらの回路間の絶
縁、導通等の電気的な検査を行うプリント配線板の電気
検査方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】一般に、プリント配線板は、スルーホー
ル等を用いて電気的に接続された回路を複数個形成して
構成されており、これらの回路間を電気的に検査する必
要がある。

【０００３】この電気的検査方法として、まず、検査対
象となる端子回路間に低電圧を加え、その時の電圧と電
流とにより絶縁抵抗を求め、その絶縁抵抗が基準値を超
えていた場合、次に高電圧を加え、高電圧での絶縁性能
を検査し、もし、低電圧での絶縁検査において、絶縁抵
抗が基準値以下であった場合、その部分が絶縁不良箇所
であるとして、高電圧による絶縁検査を実施しないとい
う方法が知られている。

【０００４】図３は従来技術による絶縁検査方法を説明
する手順を示す図、図４は各回路に印加される電圧の時
間的変化のパターンを説明する図、図５は検査回路の構
成を示す図である。図５において、１はプリント配線
板、２は接続ピン、３、４は多ピンネット、６ａ〜６
ｆ、７ａ〜７ｆはスイッチ、８は可変直流電源、９は電
流計、１０は電圧計である。

【０００５】まず、図５を参照して検査回路について説
明する。この検査回路は、本発明によっても使用可能な
ものである。

【０００６】図示検査回路は、回路として多ピンネット
を用いたプリント配線板１の回路を検査する絶縁検査回
路の例である。そして、プリント配線板１は、銅等の導
体で構成された接続ピン２、及び、接続ピンが基板内部
でネット状に接続された多ピンネット３、４がプリント
配線板１の表裏間に植設され、プリント配線板１の表裏
間が、これらの接続ピン２及び多ピンネット３、４で電
気的に接続されて構成されている。

【０００７】このような構造のプリント配線板１の接続
ピン２及び多ピンネット３、４の間の絶縁性能の検査
は、接続ピン２及び多ピンネット３、４のそれぞれに接
続される検査子ａ〜ｆと、これらの検査子ａ〜ｆに可変
直流電源８の正極または負極を選択的に接続するスイッ
チ６ａ〜６ｆ及び７ａ〜７ｆと、可変直流電源８の両極
に接続した電圧計１０と、可変直流電源８の電流流出経
路に挿入した電流計９とを備えた検査回路を用意し、接
続ピン２及び多ピンネット３、４のそれぞれに検査子ａ
〜ｆを接続して行われる。

【０００８】次に、その検査手順を図３を参照して説明
する。

【０００９】（１）まず、スイッチ６ａ〜６ｆ及び７ａ
〜７ｆにより、検査対象を選択する。例えば、検査対象
として、最初に検査子ａ、ｂが接続された１対の接続ピ
ン２間の回路を選択する場合、スイッチ６ａと７ｂとを
オンとする（ステップ３１）。

【００１０】（２）可変直流電源８を低電圧として、低
電圧の検査電圧を検査対象の接続ピン間に印加する。そ
して、この状態での電流を電流計９で測定し、さらに、
印加電圧を電圧計１０で測定して、その測定値によって
１対の接続ピン２間の絶縁抵抗を調べる（ステップ３
３）。

【００１１】（３）ステップ３３の測定により得られた
絶縁抵抗値が基準値以下であるか否かをチェックし、基
準値以下であれば絶縁不良箇所として認定し、ステップ
３１の処理に移り、次の検査対象を選択する（ステップ
３４）。

【００１２】（４）ステップ３４のチェックで、絶縁抵
抗値が基準値以上であれば、可変直流電源８の出力電圧
を高電圧に切り替え、再び検査子ａ、ｂが接続された１
対の接続ピン２間の高電圧に対する絶縁性能の検査を行
い、ステップ３１の処理に戻って次の検査対象を選択す
る（ステップ３５）。

【００１３】（５）前述の処理を繰返し実行し、検査子
ｅ、ｆが接続された１対の接続ピン２間の絶縁抵抗の測
定が終わり、検査対象がなくなったとき、全体の処理を
終了する（ステップ３２）。

【００１４】前述した処理において、１対の接続ピン２
間の絶縁抵抗を検査する１回の処理で、接続ピン間に印
加される可変直流電源８の電圧の変化の様子が図４に示
されている。この図から判るように、この期間は、電圧
Ｌ(v)が印加される低電圧絶縁検査期間、高電圧検査に
移行するための条件変更時間、電圧Ｈ(v)が印加される
高電圧絶縁検査期間、ディスチャージ期間により構成さ
れる。

【００１５】従って、前述した従来技術は、Ｎ個の検査
対象に対する検査を行うために、図３に示す手順をＮ回
繰返し、その間、図４に示す電圧可変制御をＮ回繰返し
実行する必要のあるものである。但し、低電圧絶縁検査
で不良になった場合、高電圧絶縁検査を行わないので、
その場合、図４に示す印加電圧は、点線で示すように、
低電圧絶縁検査終了後、電圧Ｌ(v)からディスチャージ
されることになる。

【００１６】前述した従来技術は、低電圧絶縁検査を行
った後、高電圧絶縁検査を行うようにしているので、一
気に高電圧が回路間に印加されることがなく、絶縁不良
箇所を焼損させずに絶縁性能の検査を行うことができ、
この結果、容易に不良個所の補修を行うことができ、製
品の歩留まりの低下を防止することができるという利点
を有している。

【００１７】なお、この種の電気検査方法に関する従来
技術として、例えば、耐圧試験に関するものが、例え
ば、特開昭５６−１４７０７５号公報等に記載されて知
られている。

【００１８】

【発明が解決しようとする課題】しかし、前述した従来
技術は、まず、検査対象を絶縁不良箇所が焼損しない程
度の低電圧で検査し、続いて、可変直流電源８の出力電
圧を検査条件指定項目を参照し条件パラメータを高電圧
容に切り替え、高電圧での検査に移行する手順をとって
いるため、各検査子毎に、電圧条件変更のための切り替
え時間を必要とし、この時間の集積により１枚の基板の
検査に多くの時間が必要となって、コストが嵩むという
問題点を有している。

【００１９】また、前述の従来技術は、説明はしなかっ
たが、検査対象に対する導通検査を行う場合に、初めか
ら一気に高電流を回路間に流して検査を行っているた
め、断線になりかけている回路を焼損させてしまうとい
う問題点を有している。

【００２０】本発明の目的は、前述した従来技術の問題
点を解決し、検査対象の絶縁不良個所及び断線になりか
けている回路が過電流により焼損されることを防止し、
全検査子の検査終了までの工数を低減し、作業効率の向
上を図ることができるプリント配線板の電気検査方法を
提供することにある。

【００２１】

【課題を解決するための手段】本発明によれば前記目的
は、検査対象として選択した１対の回路間に低電圧の検
査電圧を印加する検査を、検査対象データにより予め決
められた検査対象となる全ての回路間について連続して
行い、その間、検査結果が不良である結果を記録してお
き、この低電圧を用いた全検査対象の検査終了後、全検
査対象データから不良となった検査対象を削除し、残っ
た検査対象データについて、検査対象として選択した１
対の回路間に高電圧の検査電圧を印加する検査を、残り
の検査対象データによる検査対象となる全ての回路間に
ついて連続して行うようにすることにより達成される。

【００２２】また、本発明の目的は、低電圧を用いる検
査において、使用する電圧値を、検査対象の絶縁不良の
個所、あるいは、断線になりかけている個所を焼損させ
ない程度の電圧に設定するようにすることにより達成さ
れる。

【００２３】

【作用】本発明は、前述により、検査対象の絶縁不良の
個所、あるいは、断線になりかけている個所を焼損させ
ることなく、検査対象の検査を行うことができ、かつ、
各検査対象の検査毎に、印加電圧を低電圧から高電圧へ
切り換える検査条件の切り替えを行う必要をなくすこと
ができるので、作業効率の向上を図ることができる。

【００２４】従って、本発明による検査方法を使用する
ことにより、検査対象の絶縁不良個所、あるいは、断線
になりかけている個所を焼損させることがないので、不
良個所の解析、手直しを行うことが可能になり、製品の
品質と歩留まりの向上を図ることができる。

【００２５】

【実施例】以下、本発明によるプリント配線板の電気検
査方法の一実施例を図面を参照して詳細に説明する。

【００２６】図１は本発明の一実施例による絶縁検査方
法を説明する手順を示す図、図２は各回路に印加される
電圧の時間的変化のパターンを説明する図である。

【００２７】本発明による検査方法を実施する検査回路
は、図５により説明した従来技術の場合と同一であり、
本発明は、その検査手順が従来技術と相違するものであ
る。

【００２８】まず、図１に示す手順により、本発明の一
実施例による検査方法を説明する。

【００２９】（１）スイッチ６ａ〜６ｆ及び７ａ〜７ｆ
により、検査対象を選択する。例えば、検査対象とし
て、最初に検査子ａ、ｂが接続された１対の接続ピン２
間の回路を選択する場合、スイッチ６ａと７ｂとをオン
とする（ステップＳ１）。

【００３０】（２）可変直流電源８を低電圧として、低
電圧の検査電圧を検査対象の接続ピン間に印加する。そ
して、この状態での電流を電流計９で測定し、さらに、
印加電圧を電圧計１０で測定して、その測定値によって
１対の接続ピン２間の絶縁抵抗を調べ、その測定により
得られた絶縁抵抗値が基準値以下であるか否かをチェッ
クし、基準値以下であれば絶縁不良箇所として記録する
（ステップＳ２）。

【００３１】（３）前述のステップＳ１、Ｓ２の処理
を、検査対象データとして用意されている検査対象とな
る全ての回路間について繰返し連続して行い、絶縁不良
個所として記録された検査対象を検査対象データから削
除して、新たな検査対象点のデータを作成する（ステッ
プＳ３、Ｓ４）。

【００３２】（４）スイッチ６ａ〜６ｆ及び７ａ〜７ｆ
により、ステップＳ４で作成された新たな検査対象点の
データを検査対象として選択する（ステップＳ５）。

【００３３】（５）可変直流電源８の出力電圧を高電圧
に設定し、選択された検査対象の一対の接続ピン２間の
高電圧に対する絶縁性能の検査を行う（ステップＳ
６）。

【００３４】（６）前述のステップＳ４、Ｓ５の処理
を、新たな検査対象点のデータの検査対象となる全ての
回路間について繰返し連続して行い、全ての検査対象に
ついての検査が終了したとき、全ての検査処理を終了す
る。

【００３５】前述した処理において、検査対象全体の絶
縁抵抗を検査するために、接続ピン間に印加される可変
直流電源８の電圧の変化の様子が図２に示されている。
この図から判るように、本発明の一実施例は、低電圧に
よりＮ個の検査対象の検査を行う期間、可変直流電源８
の電圧を、電圧Ｌ(v)に保持しておけばよく（但し、検
査対象の選択を行う度に印加電圧のディスチャージを行
う必要がある）、全検査期間中に１回だけ条件変更時間
を設けて、可変直流電源８の電圧を電圧Ｈ(v)とする条
件変更時間を設け、その後に、高電圧による検査対象の
検査を行えばよい。但し、この場合にも、検査対象の選
択を行う度に印加電圧のディスチャージを行う必要があ
る。

【００３６】従って、前述した本発明の一実施例による
絶縁検査方法によれば、絶縁不良となっている個所を焼
損させることなく、回路の絶縁状態の検査を行うことが
できる。また、前述した本発明の一実施例は、低電圧に
よる検査と、高電圧による検査とを分離し、各電圧によ
る検査をまとめて行っているため、従来技術のような、
各検査対象毎の条件変更時間が不要となるので、検査全
体を短時間に高効率に行うことができる。

【００３７】前述した本発明の一実施例は、本発明を回
路の絶縁検査に適用したものとして説明したが、本発明
は、回路の導通試験を行う場合にも適用することがで
き、この場合、可変直流電源８の代わりに、可変の定電
流源を使用するとよく、検査の効率化と、断線になりか
けている回路の焼損の防止とを図ることができる。

【００３８】

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、検
査対象の絶縁不良のある回路、あるいは、断線になりか
けている回路を焼損させることがなく、その解析あるい
は手直しが可能になり、製品の品質と歩留まりの向上を
図ることができる。

【００３９】また、本発明によれば、検査条件の設定を
変更する時間を、全ての検査対象の検査期間に１回設け
ればよいので、検査時間の短縮を図り、作業効率を向上
させることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例による絶縁検査方法を説明す
る手順を示す図である。

【図２】本発明の一実施例により各回路に印加される電
圧の時間的変化のパターンを説明する図である。

【図３】従来技術による絶縁検査方法を説明する手順を
示す図である。

【図４】従来技術により各回路に印加される電圧の時間
的変化のパターンを説明する図である。

【図５】検査回路の構成を示す図である。

【符号の説明】

１プリント配線板２接続ピン３、４多ピンネット６ａ〜６ｆ、７ａ〜７ｆスイッチ８可変直流電源９電流計１０電圧計

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】複数の検査用電圧、電流を使用して検査
対象回路の検査を行うプリント配線板の電気検査方法に
おいて、まず、ある検査電圧または電流を用いて、プリ
ント配線板の全検査対象回路に対する検査を行い、その
後、前回用いた検査電圧、電流より高い電圧または電流
を用いた検査を行うことを特徴とするプリント配線板の
電気検査方法。
【請求項２】複数の検査用電圧、電流を使用して検査
対象回路の検査を行うプリント配線板の電気検査方法に
おいて、まず、ある検査電圧または電流を用いて、プリ
ント配線板の全検査対象回路に対する検査を行い、この
検査の結果、不良と判定された回路を、前記全検査対象
回路から排除し、その後、前回用いた検査電圧、電流よ
り高い電圧または電流を用いて、前記不良回路を排除し
た検査対象回路の検査を行うことを特徴とするプリント
配線板の電気検査方法。
【請求項３】前記検査対象回路に対する検査が、回路
に対する絶縁検査または導通検査であることを特徴とす
る請求項１または２記載のプリント配線板の電気検査方
法。