JPS6317015Y2 - - Google Patents
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- JPS6317015Y2 JPS6317015Y2 JP5751581U JP5751581U JPS6317015Y2 JP S6317015 Y2 JPS6317015 Y2 JP S6317015Y2 JP 5751581 U JP5751581 U JP 5751581U JP 5751581 U JP5751581 U JP 5751581U JP S6317015 Y2 JPS6317015 Y2 JP S6317015Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- continuity
- pin
- insulation
- circuit
- lucon
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 51
- 238000009413 insulation Methods 0.000 claims description 35
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 15
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 2
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 claims description 2
- 101710170231 Antimicrobial peptide 2 Proteins 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 1
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は各種線材の両端にコネクタを実装して
なる接続ケーブルの両コネクタピン間の接続状態
を検査する接続ケーブル試験装置に関する。
なる接続ケーブルの両コネクタピン間の接続状態
を検査する接続ケーブル試験装置に関する。
接続ケーブルは例えば、第１図に示すように各
種線材よりなるケーブル１の両端にコネクタ２を
実装して、装置内部にあるプリント板とプリント
板、電源とプリント板の間或いは装置相互間等を
夫々コネクタ２を介して電気的に接続する場合に
用いられている。なお３はピンを示す。
種線材よりなるケーブル１の両端にコネクタ２を
実装して、装置内部にあるプリント板とプリント
板、電源とプリント板の間或いは装置相互間等を
夫々コネクタ２を介して電気的に接続する場合に
用いられている。なお３はピンを示す。
上記接続ケーブルの品質を確認するための検査
項目として下記のものがある。
項目として下記のものがある。
(1) 導通検査として、接続ケーブルの設計図に従
つて正しく布線されているかどうかを検査す
る。
つて正しく布線されているかどうかを検査す
る。
(2) ルーコン検査（ルーズコンタクト、瞬断、瞬
接状態の確認）として、接続ケーブルのコネク
タが正しく接続されている場合でも、例えば、
半田付不良があつて電気的な接続が不完全な個
所があるかどうかを検査する。
接状態の確認）として、接続ケーブルのコネク
タが正しく接続されている場合でも、例えば、
半田付不良があつて電気的な接続が不完全な個
所があるかどうかを検査する。
(3) 絶縁検査として、接続ケーブルの電気的に接
続されない線間（コネクタのカバーも含む）相
互の絶縁が所定の規格を満足しているかどうか
を検査する。（例えばDC500V印加時の絶縁抵
抗を測定する） (4) 耐圧検査として、接続ケーブルの電気的に接
続されない線間（コネクタカバーも含む）相互
の絶縁耐圧が所定の規格を満足しているかどう
かを検査する。（例えばAC500Vの耐圧） 以上の検査項目を検査するための試験装置とし
て、従来は各検査項目に応じて別々の試験装置が
あり、それら試験装置に順次接続ケーブルをセツ
トし、検査を行つていたため多大の検査工数が必
要であつた。又、従来の試験装置では検査項目の
うち、絶縁、耐圧では、例えばDC500Vあるいは
AC500Vという比較的に高い電圧を使用すること
から、5V以下の低い電圧で検査する導通、ルー
コン検査項目と、絶縁耐圧の検査項目を自動的に
切換えて検査することが困難であつた。
続されない線間（コネクタのカバーも含む）相
互の絶縁が所定の規格を満足しているかどうか
を検査する。（例えばDC500V印加時の絶縁抵
抗を測定する） (4) 耐圧検査として、接続ケーブルの電気的に接
続されない線間（コネクタカバーも含む）相互
の絶縁耐圧が所定の規格を満足しているかどう
かを検査する。（例えばAC500Vの耐圧） 以上の検査項目を検査するための試験装置とし
て、従来は各検査項目に応じて別々の試験装置が
あり、それら試験装置に順次接続ケーブルをセツ
トし、検査を行つていたため多大の検査工数が必
要であつた。又、従来の試験装置では検査項目の
うち、絶縁、耐圧では、例えばDC500Vあるいは
AC500Vという比較的に高い電圧を使用すること
から、5V以下の低い電圧で検査する導通、ルー
コン検査項目と、絶縁耐圧の検査項目を自動的に
切換えて検査することが困難であつた。
本考案の目的は接続ケーブルを試験装置に継ぐ
ことにより前述の４項目の検査が自動的に行える
ようにして、上記欠点を解決するにある。
ことにより前述の４項目の検査が自動的に行える
ようにして、上記欠点を解決するにある。
上記の欠点は本考案により両端のコネクタ間に
接続されている複数の線よりなる接続ケーブルの
導通、ルーコン、絶縁、耐圧検査を、コネクタの
ピンを介して試験するため、各ピン毎に設けられ
た導通ドライバレシーバ／ルーコンチエツク回路
Ａ、導通／絶縁切替部Ｃ及び総てのピンに対し共
通に設けられたリレードライバＢ及び高圧回路Ｄ
よりなり、導通ドライバレシーバ／ルーコンチエ
ツク回路はCPUより導通／ルーコン検査用チエ
ツク信号送出線、導通及びルーコン検査結果を
CPUに与えるための信号線でCPUと結合され、
導通、ルーコン検査のための論理回路を有し、接
続線を介し導通／絶縁切替部と接続され、該切替
部はリレードライバによつて制御される導通・ル
ーコン／絶縁・耐圧検査のための切替手段及び被
試験ケーブルの各ピンに接続されるべき接続線端
子を有し、高圧回路は絶縁耐圧検査のための高圧
スイツチ回路、高圧放電回路及び絶縁抵抗計、耐
圧計及び計測結果をCPUに与えるためのアラー
ム線よりなることを特徴とする接続ケーブル試験
装置によつて解決される。
接続されている複数の線よりなる接続ケーブルの
導通、ルーコン、絶縁、耐圧検査を、コネクタの
ピンを介して試験するため、各ピン毎に設けられ
た導通ドライバレシーバ／ルーコンチエツク回路
Ａ、導通／絶縁切替部Ｃ及び総てのピンに対し共
通に設けられたリレードライバＢ及び高圧回路Ｄ
よりなり、導通ドライバレシーバ／ルーコンチエ
ツク回路はCPUより導通／ルーコン検査用チエ
ツク信号送出線、導通及びルーコン検査結果を
CPUに与えるための信号線でCPUと結合され、
導通、ルーコン検査のための論理回路を有し、接
続線を介し導通／絶縁切替部と接続され、該切替
部はリレードライバによつて制御される導通・ル
ーコン／絶縁・耐圧検査のための切替手段及び被
試験ケーブルの各ピンに接続されるべき接続線端
子を有し、高圧回路は絶縁耐圧検査のための高圧
スイツチ回路、高圧放電回路及び絶縁抵抗計、耐
圧計及び計測結果をCPUに与えるためのアラー
ム線よりなることを特徴とする接続ケーブル試験
装置によつて解決される。
本考案の試験装置を開発するに当つて、特に下
記のような点を考慮して行つた。
記のような点を考慮して行つた。
(1) 各ピンに対応する回路として導通、ルーコ
ン、絶縁、耐圧の検査項目に対処できる。
ン、絶縁、耐圧の検査項目に対処できる。
(2) 回路は全ピン共通とし、128ピン実装とした
（理論的にはピン数は任意に実装可能である）。
（理論的にはピン数は任意に実装可能である）。
(3) 従つて実装したピン数の範囲内ではどの様な
組合せの配線の接続ケーブルにも対応出来る。
組合せの配線の接続ケーブルにも対応出来る。
(4) 制御にはCPUを使用し、シーケンス処理、
良否判定などはすべてCPUによる。
良否判定などはすべてCPUによる。
(5) 導通検査は全ピンについて、導通、非導通を
検査する。
検査する。
例えば、第２図のようなケーブルがあり、コ
ネクタＡ，Ｂ（第１図のコネクタ２に対応）間
にケーブルが接続され、コネクタＡのピンを
１，２，３，４，５とし、コネクタＢのピンを
ａ，ｂ，ｃ，ｄ，ｅとすれば、 ｛１とａの導通、１とｂ，ｃ，ｄ，ｅ との非導通 ２とｂの導通、２とａ，ｃ，ｄ，ｅ との非導通 ３とｃの導通、３とａ，ｂ，ｄ，ｅ との非導通 ４とｄの導通、４とａ，ｂ，ｃ，ｅ との非導通 ５とｅの導通、５とａ，ｂ，ｃ，ｄ との非導通｝を検査する。
ネクタＡ，Ｂ（第１図のコネクタ２に対応）間
にケーブルが接続され、コネクタＡのピンを
１，２，３，４，５とし、コネクタＢのピンを
ａ，ｂ，ｃ，ｄ，ｅとすれば、 ｛１とａの導通、１とｂ，ｃ，ｄ，ｅ との非導通 ２とｂの導通、２とａ，ｃ，ｄ，ｅ との非導通 ３とｃの導通、３とａ，ｂ，ｄ，ｅ との非導通 ４とｄの導通、４とａ，ｂ，ｃ，ｅ との非導通 ５とｅの導通、５とａ，ｂ，ｃ，ｄ との非導通｝を検査する。
(6) ルーコン検査に於いては、常時監視方式をと
り「500」ns以上のルーコンは常時接続されて
いるものが断線状態（瞬断）、常時接続されて
いないものが接続状態（瞬接）の両方の状態を
検査できる。
り「500」ns以上のルーコンは常時接続されて
いるものが断線状態（瞬断）、常時接続されて
いないものが接続状態（瞬接）の両方の状態を
検査できる。
(7) 絶縁、耐圧検査に於ては、理論的にすべての
場合の検査を実施している。例えば第２図にお
いて、 イ １−ａと２−ｂ，３−ｃ，４−ｄ，５−ｅ
間の絶縁及び耐圧 ロ ２−ｂと１−ａ，３−ｃ，４−ｄ，５−ｅ
間の絶縁及び耐圧 ハ ３−ｃと１−ａ，２−ｂ，４−ｄ，５−ｅ
間の絶縁及び耐圧 ニ ４−ｄと１−ａ，２−ｂ，３−ｃ，５−ｅ
間の絶縁及び耐圧 ホ ５−ｅと１−ａ，２−ｂ，３−ｃ，４−ｄ
間の絶縁及び耐圧 なお、高圧放電回路を設けて、１回の検査を
終了する毎（イとロの間、ロとハの間、……）
に接続ケーブル側に印加された電圧（例えば
DC500V、AC500V）を放電している。
場合の検査を実施している。例えば第２図にお
いて、 イ １−ａと２−ｂ，３−ｃ，４−ｄ，５−ｅ
間の絶縁及び耐圧 ロ ２−ｂと１−ａ，３−ｃ，４−ｄ，５−ｅ
間の絶縁及び耐圧 ハ ３−ｃと１−ａ，２−ｂ，４−ｄ，５−ｅ
間の絶縁及び耐圧 ニ ４−ｄと１−ａ，２−ｂ，３−ｃ，５−ｅ
間の絶縁及び耐圧 ホ ５−ｅと１−ａ，２−ｂ，３−ｃ，４−ｄ
間の絶縁及び耐圧 なお、高圧放電回路を設けて、１回の検査を
終了する毎（イとロの間、ロとハの間、……）
に接続ケーブル側に印加された電圧（例えば
DC500V、AC500V）を放電している。
以下、本考案によるケーブル試験装置の構成の
１例として、具体的に第３図に示す論理回路を用
いて検査回路を構成している。
１例として、具体的に第３図に示す論理回路を用
いて検査回路を構成している。
図において、試験装置は接続ケーブルの導通、
ルーコン、絶縁、耐圧の検査を電算機CPUによ
り行うためのピン１，２…Ｎと導通ドライバ・レ
シーバ／ルーコンチエツク回路Ａとリレードライ
バＢによる導通／絶縁切替部Ｃと被試験ケーブル
が挿入されるピン１，２…ｎと高圧印加、放電を
行う高圧回路Ｄより構成されている。導通／絶縁
切替部ＣのリレーRLG1-1，RLG1-2，RLG2-1，
RLG2-2，…RLGo-1，RLGo-2は導通、ルーコン
検査と絶縁、耐圧検査を切換えるためのリレー群
で、同時に動作し、同時に復旧する。各々のリレ
ーにおいて接点１−２側接続で絶縁、耐圧検査、
接点１−３側接続で導通、ルーコン検査となる。
導通ドライバ・レシーバ／ルーコンチエツク回路
ＡのアンプAMP1，AMP2……AMPoは導通、ル
ーコン検査時のチエツク信号送出用で、又絶縁、
耐圧検査時のリレーRL1，RL2…RLo駆動用であ
る。
ルーコン、絶縁、耐圧の検査を電算機CPUによ
り行うためのピン１，２…Ｎと導通ドライバ・レ
シーバ／ルーコンチエツク回路Ａとリレードライ
バＢによる導通／絶縁切替部Ｃと被試験ケーブル
が挿入されるピン１，２…ｎと高圧印加、放電を
行う高圧回路Ｄより構成されている。導通／絶縁
切替部ＣのリレーRLG1-1，RLG1-2，RLG2-1，
RLG2-2，…RLGo-1，RLGo-2は導通、ルーコン
検査と絶縁、耐圧検査を切換えるためのリレー群
で、同時に動作し、同時に復旧する。各々のリレ
ーにおいて接点１−２側接続で絶縁、耐圧検査、
接点１−３側接続で導通、ルーコン検査となる。
導通ドライバ・レシーバ／ルーコンチエツク回路
ＡのアンプAMP1，AMP2……AMPoは導通、ル
ーコン検査時のチエツク信号送出用で、又絶縁、
耐圧検査時のリレーRL1，RL2…RLo駆動用であ
る。
１ 導通について
(1) リレーRLG1-1〜RLGo-2は各々接点１−３側
が導通している。
が導通している。
(2) 制御回路（CPU）からのチエツク信号はピ
ン１用出力ドライブからAMP1を通じて
RLG1-1の接点１−３からRLG1-2の接点３−１
を通して接続ケーブルのピン１へ。今仮りにピ
ン１−ピン２が接続されているケーブルとすれ
ば、チエツク信号はピン２からRLG2-2の接点
１−３からRLG2-1の接点３−１を通りCMP2，
INV2を通つてピン２用入力レシーブ
（CPUI／Ｏボート）からCPUへ入力される。
ン１用出力ドライブからAMP1を通じて
RLG1-1の接点１−３からRLG1-2の接点３−１
を通して接続ケーブルのピン１へ。今仮りにピ
ン１−ピン２が接続されているケーブルとすれ
ば、チエツク信号はピン２からRLG2-2の接点
１−３からRLG2-1の接点３−１を通りCMP2，
INV2を通つてピン２用入力レシーブ
（CPUI／Ｏボート）からCPUへ入力される。
(3) CPUはこの入力レシーブへ入るチエツク信
号を検知して、ピン１−ピン２の接続を判断す
る。
号を検知して、ピン１−ピン２の接続を判断す
る。
(4) 同タイミングで他の入力レシーブ（ピン３用
入力レシーブ〜ピンｎ用入力レシーブ）ではチ
エツク信号の有無を検知してピン１と接続され
ていることの有無を判断する。
入力レシーブ〜ピンｎ用入力レシーブ）ではチ
エツク信号の有無を検知してピン１と接続され
ていることの有無を判断する。
(5) 次のタイミングでピン２用出力ドライブから
増巾器AMP２を通じて、チエツク信号を出し、
上記１〜４と同様にしてピン１との接続及びピ
ン３〜ピンｎの接続の有無を判断する。
増巾器AMP２を通じて、チエツク信号を出し、
上記１〜４と同様にしてピン１との接続及びピ
ン３〜ピンｎの接続の有無を判断する。
(6) 同様にしてピン３、ピン４…ピンｎと検査を
順次進める。
順次進める。
(7) 最終ピンはピンｎであるが、CPUからの指
示で途中のピンを最終ピンとすることができ
る。
示で途中のピンを最終ピンとすることができ
る。
２ ルーコンについて
(1) 可動接点RLG1-1〜RLGo-2は各々接点１−３
側が導通している。
側が導通している。
(2) CPUからのルーコンチエツク用の信号は各
増巾器AMP1，AMP2，…AMPoから同時に送
出する。
増巾器AMP1，AMP2，…AMPoから同時に送
出する。
(3) 但し、予め被試験接続ケーブルの布線情報に
よつて、例えばピン１−ピン２、ピン３−ピン
４、ピン５−ピン６と接続されているケーブル
のルーコン検査を行う場合はAMP2，AMP4，
AMP6は信号を送出しない。
よつて、例えばピン１−ピン２、ピン３−ピン
４、ピン５−ピン６と接続されているケーブル
のルーコン検査を行う場合はAMP2，AMP4，
AMP6は信号を送出しない。
(4) 上記の例で、ピン２、ピン４、ピン６側はピ
ン１−ピン２のルートで説明すると、ピン１用
Ｉ／Ｏポートの出力ドライバから出たルーコン
チエツク信号が増巾器AMP1を通して導通検査
の場合と同様に可動接点RLG1-1の接点１−３、
可動接点RLG1-2の接点３−１を通じて被試験
ケーブルのピン１に入る。ケーブルのピン２を
通じて可動接点RLG2-2の接点１−３、可動接
点RLG2-1の接点３−１を通して、ピン２回路
の比較器CMP2、インバータINV2を通つて排
他論理和回路EOR2に入り「500」ns以上の瞬
断（瞬接）の監視を行い、変化があればフリツ
プフロツプFF2で記憶し、ピン２の入力ルーコ
ンエラーを通してCPUへ通知する。
ン１−ピン２のルートで説明すると、ピン１用
Ｉ／Ｏポートの出力ドライバから出たルーコン
チエツク信号が増巾器AMP1を通して導通検査
の場合と同様に可動接点RLG1-1の接点１−３、
可動接点RLG1-2の接点３−１を通じて被試験
ケーブルのピン１に入る。ケーブルのピン２を
通じて可動接点RLG2-2の接点１−３、可動接
点RLG2-1の接点３−１を通して、ピン２回路
の比較器CMP2、インバータINV2を通つて排
他論理和回路EOR2に入り「500」ns以上の瞬
断（瞬接）の監視を行い、変化があればフリツ
プフロツプFF2で記憶し、ピン２の入力ルーコ
ンエラーを通してCPUへ通知する。
(5) 同様のことが同時にピン３−ピン４、ピン５
−ピン６でも行われている。
−ピン６でも行われている。
３ 絶縁について
(1) 可動接点RLG1-1〜RLGo-2は各々接点１−２
側が導通している。
側が導通している。
(2) Ｉ／Ｏポートケイキキリカエ信号は計器１
（絶縁抵抗計）側になつている。
（絶縁抵抗計）側になつている。
(3) 例えばピン１−ピン２、ピン３−ピン４、ピ
ン５−ピン６と接続されているケーブルの絶縁
検査は (イ) ピン１−ピン２とピン３−ピン４、ピン５
−ピン６の非接続ピン (ロ) ピン３−ピン４とピン１−ピン２、ピン５
−ピン６の非接続ピン (ハ) ピン５−ピン６とピン１−ピン２、ピン３
−ピン４の非接続ピン の３回実施する必要がある。
ン５−ピン６と接続されているケーブルの絶縁
検査は (イ) ピン１−ピン２とピン３−ピン４、ピン５
−ピン６の非接続ピン (ロ) ピン３−ピン４とピン１−ピン２、ピン５
−ピン６の非接続ピン (ハ) ピン５−ピン６とピン１−ピン２、ピン３
−ピン４の非接続ピン の３回実施する必要がある。
(4) 上記(イ)の場合はＩ／Ｏポートピン１とピン２
用の出力ドライブ信号から各々増巾器AMP1，
AMP2を通じてリレーRL1及びRL2を駆動し接
点１−３側が導通となる。
用の出力ドライブ信号から各々増巾器AMP1，
AMP2を通じてリレーRL1及びRL2を駆動し接
点１−３側が導通となる。
(5) 他のリレー即ちRL3，RL4，RL5，RL6及び
他の非接続ピン用リレー（この場合RL7〜
RLn）は駆動されないので、接点１−２側が導
通している。
他の非接続ピン用リレー（この場合RL7〜
RLn）は駆動されないので、接点１−２側が導
通している。
(6) 以上の動作でピン１−ピン２側とその他のピ
ン側間はそれぞれ高圧回路のVHとVEに接続さ
れる。
ン側間はそれぞれ高圧回路のVHとVEに接続さ
れる。
(7) 高圧回路によつてVHとVE間に絶縁検査用の
高圧（例えばDC500V）が印加される。
高圧（例えばDC500V）が印加される。
(8) 同様にして(ロ)、(ハ)と動作を順次進める。
(9) (イ)と(ロ)間、(ロ)と(ハ)間、(ハ)終了後高圧放
電回路
によつて被試験ケーブルに印加された高圧を放
電している。
電回路
によつて被試験ケーブルに印加された高圧を放
電している。
４ 耐圧について
(1) 耐圧はＩ／Ｏポートケイキキリカエが計器２
（耐圧計）側になる。
（耐圧計）側になる。
(2) 他の動作は絶縁と同一である。
被検査の接続ケーブルを上記試験装置につなぐ
ことによつて、接続ケーブルの４項目の検査が電
算機の制御により順次自動的に遂行され、良否判
断が行われて、不良の場合はアラーム表示され
る。従つて、従来のような検査項目毎の個々の試
験装置を使用する必要なく、自動的に検査できる
ので検査工数の削減がはかれる。
ことによつて、接続ケーブルの４項目の検査が電
算機の制御により順次自動的に遂行され、良否判
断が行われて、不良の場合はアラーム表示され
る。従つて、従来のような検査項目毎の個々の試
験装置を使用する必要なく、自動的に検査できる
ので検査工数の削減がはかれる。
以上実施例により本考案を説明したが、本考案
によれば接続ケーブルの導通、ルーコン、絶縁、
耐圧の検査を電算機により検査できる回路を備え
かつ該回路は各ピン共通とし、アンプを用いた導
通ドライバ／ルーコンチエツク回路とリレーを用
いた導通／絶縁切替部と高圧印加、放電を行う高
圧回路よりなる試験装置に、被検査の接続ケーブ
ルをつなぐことによつて、従来のような各検査項
目毎の専用試験装置を使用することなく、各検査
項目が順次、或いは選択の上自動的に検査できる
ので、検査工数の大幅な減少がはかれる効果は大
きい。
によれば接続ケーブルの導通、ルーコン、絶縁、
耐圧の検査を電算機により検査できる回路を備え
かつ該回路は各ピン共通とし、アンプを用いた導
通ドライバ／ルーコンチエツク回路とリレーを用
いた導通／絶縁切替部と高圧印加、放電を行う高
圧回路よりなる試験装置に、被検査の接続ケーブ
ルをつなぐことによつて、従来のような各検査項
目毎の専用試験装置を使用することなく、各検査
項目が順次、或いは選択の上自動的に検査できる
ので、検査工数の大幅な減少がはかれる効果は大
きい。
第１図はコネクタを実装した接続ケーブルを説
明するための正面図、第２，３図は本考案による
接続ケーブル試験装置の構成の１実施例を説明す
るための第２図は正面図、第３図は回路図であ
る。
明するための正面図、第２，３図は本考案による
接続ケーブル試験装置の構成の１実施例を説明す
るための第２図は正面図、第３図は回路図であ
る。
Claims (1)
- 両端のコネクタ間に接続されている複数の線よ
りなる接続ケーブルの導通、ルーコン、絶縁、耐
圧検査を、コネクタのピンを介して試験するた
め、各ピン毎に設けられた導通ドライバレシー
バ／ルーコンチエツク回路Ａ、導通／絶縁切替部
Ｃ及び総てのピンに対し共通に設けられたリレー
ドライバＢ及び高圧回路Ｄよりなり、導通ドライ
バレシーバ／ルーコンチエツク回路はCPUより
導通／ルーコン検査用チエツク信号送出線、導通
及びルーコン検査結果をCPUに与えるための信
号線でCPUと結合され、導通、ルーコン検査の
ための論理回路を有し、接続線を介し導通／絶縁
切替部と接続され、該切替部はリレードライバに
よつて制御される導通・ルーコン／絶縁・耐圧検
査のための切替手段及び被試験ケーブルの各ピン
に接続されるべき接続線端子を有し、高圧回路は
絶縁耐圧検査のための高圧スイツチ回路、高圧放
電回路及び絶縁抵抗計、耐圧計及び計測結果を
CPUに与えるためのアラーム線よりなることを
特徴とする接続ケーブル試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5751581U JPS6317015Y2 (ja) | 1981-04-21 | 1981-04-21 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5751581U JPS6317015Y2 (ja) | 1981-04-21 | 1981-04-21 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57170073U JPS57170073U (ja) | 1982-10-26 |
| JPS6317015Y2 true JPS6317015Y2 (ja) | 1988-05-13 |
Family
ID=29853983
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5751581U Expired JPS6317015Y2 (ja) | 1981-04-21 | 1981-04-21 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6317015Y2 (ja) |
-
1981
- 1981-04-21 JP JP5751581U patent/JPS6317015Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57170073U (ja) | 1982-10-26 |
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