JPS6187367U - - Google Patents

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JPS6187367U
JPS6187367U JP17157884U JP17157884U JPS6187367U JP S6187367 U JPS6187367 U JP S6187367U JP 17157884 U JP17157884 U JP 17157884U JP 17157884 U JP17157884 U JP 17157884U JP S6187367 U JPS6187367 U JP S6187367U
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JP
Japan
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connector
prober
connection cable
probe card
inspection
Prior art date
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JP17157884U
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Publication date
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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第１図はこの考案のプローバ接続ケーブルの検
査装置の一実施例のブロツク図、第２図は同上プ
ローバ接続ケーブルの検査装置における擬似プロ
ーブカードの回路図、第３図は同上プローバ接続
ケーブルの検査装置により接続ケーブルの断線検
査時に使用される短絡用コネクタの結線図、第４
図は同上プローバ接続ケーブルの検査装置に適用
されるコネクタのピン配列を示す図、第５図は同
上プローバ接続ケーブルの検査装置による短絡検
査時の擬似プローブカードの結線状態を示す図、
第６図は同上プローバ接続ケーブルの検査装置に
よる断線検査時の擬似プローブカードの信号の流
れる方向を示す結線図、第７図は従来のプローバ
による集積回路の試験システムのブロツク図であ
る。 １１…プローバ装置、１２…擬似プローブカー
ド、１３…接続ケーブル、１４…抵抗計、１５，
１９…コネクタ、１６…短絡用コネクタ、１７，
１７１〜１７７０…スイツチ、１８…プローブコ
ネクタ。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 半導体の試験装置とプローバ装置を両端のコネ
    クタを介して接続する接続ケーブルと、上記プロ
    ーバ装置のプローブカードに代えて、それと同型
    に形成されてプローバ装置にプローバコネクタを
    介して接続されこのプローバコネクタのピンと同
    数の信号線を有するとともにスイツチをこの各信
    号線ごとに挿入した擬似プローブカードと、この
    信号線の奇数番目の共通の他端と偶数番目の共通
    の他端間に接続された抵抗計とよりなり、上記接
    続ケーブルおよびコネクタの断線検査時には上記
    試験装置に接続する側の接続ケーブルのコネクタ
    に２本のピンごとに短絡した短絡用コネクタを接
    続して上記介スイツチを順次オンさせ、かつ短絡
    検査時には試験装置に接続する側の接続ケーブル
    のコネクタをオープンして上記スイツチを順次オ
    ン、オフして抵抗計の抵抗値により断線、短絡の
    有無を判別することを特徴とするプローバ接続ケ
    ーブルの検査装置。
JP17157884U 1984-11-14 1984-11-14 Pending JPS6187367U (ja)

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JP17157884U JPS6187367U (ja) 1984-11-14 1984-11-14

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JP17157884U JPS6187367U (ja) 1984-11-14 1984-11-14

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JPS6187367U true JPS6187367U (ja) 1986-06-07

Family

ID=30729253

Family Applications (1)

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JP17157884U Pending JPS6187367U (ja) 1984-11-14 1984-11-14

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