JPH09505145A - 電気接続要素の電気試験を行う装置 - Google Patents
電気接続要素の電気試験を行う装置Info
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- JPH09505145A JPH09505145A JP7514269A JP51426995A JPH09505145A JP H09505145 A JPH09505145 A JP H09505145A JP 7514269 A JP7514269 A JP 7514269A JP 51426995 A JP51426995 A JP 51426995A JP H09505145 A JPH09505145 A JP H09505145A
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Abstract
Description
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1.一本の主線とカプラにより主線に接続されたn本の分岐線とで構成される電 気接続要素の電気試験装置であって、 それぞれが分岐線(16)に接続された入力部と、前記入力部を二つの出力対 (74、72)のうちのいずれか一方または前記回路の内部の少なくとも一つの 構成部品(80、84)に接続するための切り換え手段(76、78、82、8 4)と前記切り換え手段を制御するための制御手段(88)とを有するm個(m ≧n)の分岐線状態回路(30)と、 制御可能な電気信号発生装置(24)と、 それぞれが前記信号発生装置に接続された入力部と前記分岐線状態回路のうち の一つの状態回路の第一出力対(72)に電気的に接続されたm対の接続出力端 子(40a、40b)と前記入力部を選択的に前記第一切り換えアセンブリの前 記接点対の一つに接続するための制御手段(60)とを有する第一切り換えアセ ンブリ(26)と、 電気信号の測定装置(22)と、 前記測定装置(22)に接続された出力部とそれぞれが一つ の分岐線状態回路(30)の一つの状態回路の第二出力対(74)に電気的に接 続されたm対の接続入力端子対(42a、42b)と前記出力部を選択的に前記 第二切り換えアセンブリの前記入力端子対の一つに接続するための制御手段(9 0)とを有する第二切り換えアセンブリ(28)と、 前記分岐線状態回路および前記第一および第二切り換えアセンブリの前記制御 手段を制御し、前記電気接続要素の試験プログラムに応じて前記信号発生装置( 24)による電気信号の発生を制御する制御アセンブリ(20)と、 を備えることを特徴とする電気接続要素の電気試験装置。 2.各切り換えアセンブリが、 第一切り換えアセンブリの前記入力部と第二切り換えアセンブリの前記出力部 を形成する二本の線と、 線iが2i個のスイッチを有し、各スイッチ(K)が、入力端子(a)と第一 出力端子(b)および第二出力端子(c)と前記入力端子を前記第一出力端子ま たは第二出力端子に選択的に接続するための制御可能な電気接続手段とを有し、 線iのスイッチの前記第一出力端子または第二出力端子のそれぞれが、線i+1 のスイッチの入力端子(a)に電気的に接続され、二 つの外部端子がそれぞれ、第一の線の二つのスイッチ(K1,1、K1,2)の入力端 子に接続される、p本(2p≧m)のスイッチ線と、 同一線のスイッチ(Ki,j)全てについて、入力端子(a)が二値制御状態に 従って第一出力端子(b)または第二出力端子(c)に接続されるように、同じ 線のスイッチ全ての制御可能な電気接続手段を同時に制御するための制御手段( 60、90)とを有し、 2p個の第一出力端子のそれぞれおよび2p個の第二出力端子のそれぞれが、接 続入力または出力端子のいずれかに接続され、スイッチ線の制御手段の二値制御 状態の各組み合せについて、前記切り換えアセンブリの二つの外部端子が、接続 入力(42a、42b)または出力端子(40a、40b)の任意の唯一の対に 接続されるよう、i番目の線のスイッチの第一出力端子および第二出力端子が( i+1)番目のスイッチの入力端子に接続されることを特徴とする請求の範囲第 1項に記載の電気試験装置。 3.各分岐線状態回路(30)が、前記入力部(70)を二対の出力部(74、 72)のいずれか一つに直接接続するかある いはこの接続を切るための第一切り換え手段(76、78)と、前記出力対を電 気負荷(80)に接続するための第二切り換え手段(76、78、82)と、二 対の出力部のうちの一つを短絡(84)にするための切り換え手段(76、78 、86)と、第一、第二、および第三切り換え手段の位置の分離制御(88)と を備えることを特徴とする請求の範囲第1項または第2項に記載の電気試験装置 。
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