JPH0250431B2 - - Google Patents

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Publication number
JPH0250431B2
JPH0250431B2 JP57044227A JP4422782A JPH0250431B2 JP H0250431 B2 JPH0250431 B2 JP H0250431B2 JP 57044227 A JP57044227 A JP 57044227A JP 4422782 A JP4422782 A JP 4422782A JP H0250431 B2 JPH0250431 B2 JP H0250431B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
terminal
terminals
connector
cable
short
Prior art date
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Expired - Lifetime
Application number
JP57044227A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS58160870A (ja
Inventor
Shoichi Wada
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP57044227A priority Critical patent/JPS58160870A/ja
Publication of JPS58160870A publication Critical patent/JPS58160870A/ja
Publication of JPH0250431B2 publication Critical patent/JPH0250431B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (a) 発明の技術分野 本発明は多芯ケーブル、特に電子計算機等の電
子機器のキヤビネツト内部もしくは外部で使用す
る多芯ケーブルの断線や短絡等の障害を検査する
のを便利にする多芯ケーブルの試験方法に関する
ものである。
(b) 技術の背景 電子計算機システムは中央処理装置、記憶装
置、入力装置、出力装置などを共通バス(C−
BUS)に接続し、各々の入出力情報はすべてこ
の共通バスを通して送受信するという共通バス形
式を用いている。
この共通バスは多芯ケーブルで構成されてお
り、さらに、この共通バスケーブルはキヤビネツ
ト内部で結線されており、ケーブルの断線や短絡
等の障害時にはケーブルの検査を実行するのが困
軟で、容易に検査する方法が要望されている。
(c) 従来技術と問題点 第1図は従来の多芯ケーブルの断線や短絡を検
査する方法を示した図であり、図において1は多
芯ケーブル、2は一方のコネクタ端子、3は他方
のコネクタ端子、4は短絡・断線試験器で、5は
プローブである。
次に短絡および断線試験法について説明する。
まず、短絡験の場合は、一方のコネクタ端子2を
開放にして、他方のコネクタ端子3の端子a1〜ao
の相互間にプローブ5を当接し、短絡、断線試験
器4にて短絡の有無を調べる。
次に断線の有無はコネクタ端子2の端子b1〜bo
の相互間に短絡ピン6を挿入し、該短絡ピン6を
挿入した短絡端子の番号に対応するコネクタ端子
3の端子にプローブ5を当接して試験器4で断線
の有無を試験する。
以上のようにして断線や短絡の有無を試験する
従来の試験法では試験工数が非常に大きく、試験
の信頼性も低いという欠点がある。
(d) 発明の目的 本発明は上記従来の欠点に鑑み試験工数の削減
と試験の信頼性を向上することを目的とするもの
である。
(e) 発明の構成 そしてこの目的は、本発明によれば被測定多芯
ケーブルの一端に設けたコネクタ端子と係合する
接続端子を有し、該接続端子は一つの共通端子と
その他の複数の端子からなり、該複数の端子のそ
れぞれに所定の値を有する抵抗の一方の端子を接
続し、該それぞれの抵抗の他方の端子と前記共通
端子とを接続した多芯ケーブル試験具を前記被測
定多芯ケーブルの一方のコネクタ端子に接続し、
被測定多芯ケーブルの他方のコネクタ端子の共通
端子とその他の複数の端子のそれぞれの間の抵抗
値を測定することによつて多芯ケーブルの良否を
判定するようにしたところである。
(f) 発明の実施例 以下本発明の多芯ケーブルの試験方法について
第2図、第3図、第4図を用いて説明する。第2
図は多芯ケーブル試験具の内部回路図を示す。図
においてAは多芯ケーブルに対応した複数の端子
ピンを有するオス型のコネクタ、Bは同様に複数
の端子ピンb1〜boを導入せしめるメス型のコネク
タ、P1,P2……Poは端子番号を示す。これらの
端子のうち、端子P1を共通端子と名づける。そ
の他の複数の端子P2〜Poには抵抗Rの一端を接
続し、他端は共通端子P1と接続されている。
第3図は被測定多芯ケーブル1の両端にコネク
タ端子Bおよび3を取付け、そのうちの一方のコ
ネクタ端子2には第2図で説明した回路を内蔵し
た多芯ケーブル試験具7が接続されている。この
多芯ケーブル試験具7はオス型コネクタAおよび
メス型コネクタBと有しており、被測定多芯ケー
ブル1のコネクタ端子の形式によつてオス型また
はメス型のコネクタを用いるよう構成されてい
る。以上のように構成した多芯ケーブル試験具7
を一方のコネクタ端子2に取付け、他方のコネク
タ端子3の各端子間の抵抗を測定する場合の試験
方法について説明する。
今内部回路に接続されている抵抗値Rを
100KΩとしたとき端子a1と他の端子a2〜aoとの間
の抵抗を測定した場合の短絡・断線試験器4に表
われる抵抗値の例を第4図に示す。すなわち正常
なケーブルの場合、端子a1−a2,a1−a3,a1−ao
の抵抗は100KΩを示す。また共通端子a1が断線
している場合は各端子間、a1−a2,a1−a3……a1
−aoの抵抗は無限大(∞)となる。また共通端子
a1以外の端子a5が断線している場合は端子a1−a5
間の抵抗値のみ無限大となり、その他のa1〜a2
a1−a3,a1−a4,a1−a6……a1−aoの各端子間の
抵抗値100KΩとなる。次に共通端子a1と端子a3
みが短絡の場合は端子a1−a3間の抵抗値は零とな
り、その他の端子a1〜a2,a1−a4,a1−a5……a1
−aoの抵抗値は100KΩとなる。また端子a4と端子
ao1とが短絡している場合は端a1とa4間および
端子a11間の抵抗値のみが50KΩとなり、その他
の端子a1−a2,a1−a3,a1−a5……a1−ao2,a1
−ao間の抵抗は100KΩとなる。
(g) 発明の効果 以上、詳細に説明したように、本発明の多芯ケ
ーブル試験具を用いて多芯ケーブルの断線や短絡
の有無を試験すれば共通端子とその他の端子との
間の抵抗値を一通り試験するだけで各端子間の断
線、短絡を判定することができ、試験工数の低減
と信頼度を向上することができるといつた効果が
ある。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の多芯ケーブルの断線、短絡試験
方法を説明する図、第2図は本発明の多芯ケーブ
ル試験具の内部回路を説明する図、第3図は本発
明の多芯ケーブルの試験方法を説明する図、第4
図は本発明の多芯ケーブル試験方法によつて多芯
ケーブルの断線、短絡試験を行なつたときの各障
害例にもとづく各端子間の抵抗値の例を示したテ
ーブルである。 1は多芯ケーブル、2は一方のコネクタ端子、
3は他方のコネクタ端子、4は短絡、断線試験
器、5はプローブ、6は短絡ピン、7は多芯ケー
ブル試験具、ao−boはコネクタ端子番号、P1〜Po
は多芯ケーブル試験具の端子番号、Aはオス型コ
ネクタ、Bはメス型コネクタ、Rは抵抗を示す。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 被測定多芯ケーブルの一端に設けたコネクタ
    端子と係合する接続端子を有し、該接続端子は一
    つの共通端子とその他の複数の端子からなり、該
    複数の端子のそれぞれに所定の値を有する抵抗の
    一方の端子を接続し、該それぞれの抵抗の他方の
    端子と前記共通端子とを接続した多芯ケーブル試
    験具を前記被測定多芯ケーブルの一方のコネクタ
    端子に接続し、被測定多芯ケーブルの他方の端子
    の共通端子とその他の複数の端子のそれぞれの間
    の抵抗値を測定することによつて多芯ケーブルの
    良否を判定するようにしたことを特徴とする多芯
    ケーブルの試験方法。
JP57044227A 1982-03-18 1982-03-18 多芯ケ−ブルの試験方法 Granted JPS58160870A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57044227A JPS58160870A (ja) 1982-03-18 1982-03-18 多芯ケ−ブルの試験方法

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JP57044227A JPS58160870A (ja) 1982-03-18 1982-03-18 多芯ケ−ブルの試験方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS58160870A JPS58160870A (ja) 1983-09-24
JPH0250431B2 true JPH0250431B2 (ja) 1990-11-02

Family

ID=12685649

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JP57044227A Granted JPS58160870A (ja) 1982-03-18 1982-03-18 多芯ケ−ブルの試験方法

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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0267277U (ja) * 1988-11-09 1990-05-22
JPH0326973A (ja) * 1989-06-26 1991-02-05 Matsushita Electric Ind Co Ltd 集積回路検査装置の検査方法
CN105353265B (zh) * 2015-12-29 2018-02-16 河南农业大学 一种探针式多芯多型线缆检测方法与检测装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58138076U (ja) * 1982-03-13 1983-09-17 三菱重工業株式会社 多芯ケ−ブルチエツカ

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Publication number Publication date
JPS58160870A (ja) 1983-09-24

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