JPS58160870A - 多芯ケ−ブルの試験方法 - Google Patents
多芯ケ−ブルの試験方法Info
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- JPS58160870A JPS58160870A JP57044227A JP4422782A JPS58160870A JP S58160870 A JPS58160870 A JP S58160870A JP 57044227 A JP57044227 A JP 57044227A JP 4422782 A JP4422782 A JP 4422782A JP S58160870 A JPS58160870 A JP S58160870A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- terminal
- terminals
- connector
- multicore cable
- testing
- Prior art date
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- Granted
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（へ）発明の技術分野
本発明は多芯ケーブル、特に電子計算機等の電子機器の
キャビネット内部もしくは外部で使用する多芯ケーブル
の断線や短絡等の障害を検査するのを便利にする多芯ケ
ーブルの試験方法に関するものである。
キャビネット内部もしくは外部で使用する多芯ケーブル
の断線や短絡等の障害を検査するのを便利にする多芯ケ
ーブルの試験方法に関するものである。
（ロ）技術の背景
電子計算機レステムは中央処理装置、記憶装置。
入力鋏置、出力装置などを共通バス（Ｃ−ＢＵＳ）Ｋ接
続し、各々の入出力情報はすべてこの共通バスを通して
送受信するという共通バス形式を用いている。
続し、各々の入出力情報はすべてこの共通バスを通して
送受信するという共通バス形式を用いている。
この共通バスは多芯ケープ〜で構成されており、さらに
、この共通バスケープｐはキャビネット内部で結線され
ており、ケーブルの断線や短絡等の障害時にはケーブル
の検査を奥行するのが困難で、容易に検査する方法が要
望されている。
、この共通バスケープｐはキャビネット内部で結線され
ており、ケーブルの断線や短絡等の障害時にはケーブル
の検査を奥行するのが困難で、容易に検査する方法が要
望されている。
（Ｑ） 従来技術と間騙点
第１図は従来の多芯ケープ〜の断線や短絡を検査する方
法を示した図であり、図において１は多芯ケープ１％／
％２は一方のコネクタ端子、８は他方のコネクタ端子、
番は短絡・断線試験器で、６はグローブである。
法を示した図であり、図において１は多芯ケープ１％／
％２は一方のコネクタ端子、８は他方のコネクタ端子、
番は短絡・断線試験器で、６はグローブである。
次に短絡および断線試験法について説明する。
まず、短絡試験の場合は一方のコネクタ端子２を開放に
して、他方のコネクタ端子３の端子ａ１〜ａｎの相互間
に１０−グｂを当接し、短絡、断線試験器４にて短絡の
有無を調べる。
して、他方のコネクタ端子３の端子ａ１〜ａｎの相互間
に１０−グｂを当接し、短絡、断線試験器４にて短絡の
有無を調べる。
次に断線の有無はコネクタ端子２の端子ｂｘ〜ｂｎの相
互間に短絡ビン６を挿入し、該短絡ビン６を挿入した短
絡端子の番号に対応するコネクタ端子８の端子にグロー
ブ５ｆｔ当接して試験器会で断線の有無を試験する。
互間に短絡ビン６を挿入し、該短絡ビン６を挿入した短
絡端子の番号に対応するコネクタ端子８の端子にグロー
ブ５ｆｔ当接して試験器会で断線の有無を試験する。
以上のようにして断線や短絡の有無を試験する従来の試
験法では試験工数が非常に大きく、試験の信頼性も低い
という欠点がある。
験法では試験工数が非常に大きく、試験の信頼性も低い
という欠点がある。
轄）発明の目的
本発明は上記従来の欠点に鑑み試験工数の削減と試験の
信頼性を向上すること金目的とするものである。
信頼性を向上すること金目的とするものである。
（ｅ） 発明の構成
そしてこの目的は、本発明によれば被測定多芯ケーブル
の一端に設けたコネクタ端子と係合する接続端子を有し
、該接続端子は一つの共通端子とその他の複数の端子か
らなり、該複数の端子のそれぞれに所定の値を有する抵
抗の一方の端子を接続し、該それぞれの抵抗の他方の端
子と前記共通端子とを接続した多芯ケーブル試験具を前
記被測定◆本ケーブルの一方のコネクタ端子に接続し、
被測定多芯ケーブルの他方のコネクタ端子の共通端子と
その他の複数の端子のそれぞれの間の抵抗値を測定する
ことによって多芯ケーブルの良否を判定するようにした
ところにあるう 「）発明のｖＩ！施例 以下本発明の多芯ケーブルの試験方法について第２図、
第８図、第４図を用いて説明する。第２図は多芯ケープ
ρ試験具の内部回路図を示す。図Ｋｊ？いてＡは多芯ケ
ーブルに対応し念複数の端子ピンを有するオス型のコネ
クタ、Ｂは同様に複数の端子ピン１）ｌ−ｔ）ｎｔ−導
入せしめるメス型のコネクタ、Ｐｉ、 Ｐ２・・・・・
・Ｐｎは端子番号を示す。これらの端子のうち、端子Ｐ
１を共通端子と名づける。
の一端に設けたコネクタ端子と係合する接続端子を有し
、該接続端子は一つの共通端子とその他の複数の端子か
らなり、該複数の端子のそれぞれに所定の値を有する抵
抗の一方の端子を接続し、該それぞれの抵抗の他方の端
子と前記共通端子とを接続した多芯ケーブル試験具を前
記被測定◆本ケーブルの一方のコネクタ端子に接続し、
被測定多芯ケーブルの他方のコネクタ端子の共通端子と
その他の複数の端子のそれぞれの間の抵抗値を測定する
ことによって多芯ケーブルの良否を判定するようにした
ところにあるう 「）発明のｖＩ！施例 以下本発明の多芯ケーブルの試験方法について第２図、
第８図、第４図を用いて説明する。第２図は多芯ケープ
ρ試験具の内部回路図を示す。図Ｋｊ？いてＡは多芯ケ
ーブルに対応し念複数の端子ピンを有するオス型のコネ
クタ、Ｂは同様に複数の端子ピン１）ｌ−ｔ）ｎｔ−導
入せしめるメス型のコネクタ、Ｐｉ、 Ｐ２・・・・・
・Ｐｎは端子番号を示す。これらの端子のうち、端子Ｐ
１を共通端子と名づける。
その他の複数の端子Ｐ２〜Ｐｎには抵抗Ｒの一端を接続
し、他端は共通端子ＰＩと接続されている。
し、他端は共通端子ＰＩと接続されている。
第８図は被測定多芯ケープＡ／ｌの両端にコネクタ端子
２および８を取付け、そのうちの一方のコネクタ端子２
には第２図で説明した回路を内蔵した多志ケーグ／ｌ’
試験具７が接続されている。この多芯ケープ／Ｌ／試験
具７はオス型コネクタＡおよびメス型コネクタＢを有し
ておシ、被測定多芯ケープ／Ｉ／ｌのコネクタ端子の形
式によってオス型またはメス型のコネクタを用いるよう
構成されている。
２および８を取付け、そのうちの一方のコネクタ端子２
には第２図で説明した回路を内蔵した多志ケーグ／ｌ’
試験具７が接続されている。この多芯ケープ／Ｌ／試験
具７はオス型コネクタＡおよびメス型コネクタＢを有し
ておシ、被測定多芯ケープ／Ｉ／ｌのコネクタ端子の形
式によってオス型またはメス型のコネクタを用いるよう
構成されている。
以上のように構成した多芯ケーブル試験具７を一方のコ
ネクタ端子２に取付け、他方のコネクタ端子８の各端子
間の抵抗を測定する場合の試験方法について説明する。
ネクタ端子２に取付け、他方のコネクタ端子８の各端子
間の抵抗を測定する場合の試験方法について説明する。
金円部回路に接続されている抵抗値Ｒ１−１００にΩと
したとき端子ａｌと他の端子ａ２〜ａｎとの間の抵抗を
測定した場合の短絡・断線試験器４に表われる抵抗値の
例を第４図に示す。すなわち正常なケーブルの場合、端
子ａｌ−ａ２ 、 ａｌ−ａａ 、 ａｌ−ａｎの抵抗
け１００ＫＱを示す。また共通端子ａ１が断線して１−
する場合は各端子間、ａｌ−ａａ、ａｌ−ａａ・・・・
・・ａｌ−ａｎの抵抗は無限大（ｏＯ）となる。また共
通端子ａ１以外の端子ａ６が断線している場合は端子ａ
ｌ−ａ５間の抵抗値のみ無限大となり。
したとき端子ａｌと他の端子ａ２〜ａｎとの間の抵抗を
測定した場合の短絡・断線試験器４に表われる抵抗値の
例を第４図に示す。すなわち正常なケーブルの場合、端
子ａｌ−ａ２ 、 ａｌ−ａａ 、 ａｌ−ａｎの抵抗
け１００ＫＱを示す。また共通端子ａ１が断線して１−
する場合は各端子間、ａｌ−ａａ、ａｌ−ａａ・・・・
・・ａｌ−ａｎの抵抗は無限大（ｏＯ）となる。また共
通端子ａ１以外の端子ａ６が断線している場合は端子ａ
ｌ−ａ５間の抵抗値のみ無限大となり。
その他のａｌＬａｇ 、ａｌ−ａａ 、ａｌ−ａａ、ａ
ｘ−ａｓ・・・・・・ａｌ−ａｍの各端子間の抵抗値は
１００ＫΩと捻る０次に共通端子ａｔと端子ａ３のみが
短絡の場合は端子ａｌ−ａ３間の抵抗値は零となり、そ
の他の端子ａｌ −ａａ 、 ａｌ−ａａ 、 ａｌ
−ａｌｓ ”・ａｌ＝ａｍの抵抗値は１００ＫΩとなる
。また端子ａ４と端子ａ ！Ｉ−１とが短絡している場
合は端子ａｌと８４問および端子ａｌとａ ｍ−１間の
抵抗値のみが５０にΩとなり、その他の端子ａｌ−ａａ
、 ａｌ −ａｓ 、 ａｔ −ａ Ｓ−＝・ａ １
−ａｍ−１，ａ １−ａ ｎ間の抵抗は１００ＫΩとな
る。
ｘ−ａｓ・・・・・・ａｌ−ａｍの各端子間の抵抗値は
１００ＫΩと捻る０次に共通端子ａｔと端子ａ３のみが
短絡の場合は端子ａｌ−ａ３間の抵抗値は零となり、そ
の他の端子ａｌ −ａａ 、 ａｌ−ａａ 、 ａｌ
−ａｌｓ ”・ａｌ＝ａｍの抵抗値は１００ＫΩとなる
。また端子ａ４と端子ａ ！Ｉ−１とが短絡している場
合は端子ａｌと８４問および端子ａｌとａ ｍ−１間の
抵抗値のみが５０にΩとなり、その他の端子ａｌ−ａａ
、 ａｌ −ａｓ 、 ａｔ −ａ Ｓ−＝・ａ １
−ａｍ−１，ａ １−ａ ｎ間の抵抗は１００ＫΩとな
る。
（２）発明の効果
以上、詳細に説明し食ように、本発明の多芯ケーブル試
験具を用いて多芯ケーブルの断線や短絡の有無を試験す
れば共通端子とその他の端子との間の抵抗値を−通り試
験するだけで各端子間の断線、短絡を判定することがで
き、試験工数の低減と信頼度を向上することができると
いった効果がある・
験具を用いて多芯ケーブルの断線や短絡の有無を試験す
れば共通端子とその他の端子との間の抵抗値を−通り試
験するだけで各端子間の断線、短絡を判定することがで
き、試験工数の低減と信頼度を向上することができると
いった効果がある・
第１図は従来の多芯ケーブルの断線、短絡試験方法を説
明する図、第２図は本発明の多芯ケーブル試験員の内部
回路を説明する図、第８図は本発明の多芯テープμの試
験方法を説明する図、第４図は本発明の多芯ケーブル試
験方法によって多芯ケーブルの断線、短絡試験を行なっ
たときの各障害例にもとづく各端子間の抵抗値の例を示
したテープ〃である。 ｌは多芯ケーブル、２は一方のコネクタ端子、８は他方
のコネクタ端子、４は短絡、断線試験器、ｂはプローグ
、６は短絡ピン、７は多芯ケーブル試験具、ａｎ、ｂｎ
はコネクタ端子番号、Ｐ１〜Ｐ！ｌは多芯ケープ／Ｉ／
試験真の端子番号、Ａはオス型コネクタ、Ｂはメス型コ
ネクタ、Ｒは抵抗を示す。 第１図
明する図、第２図は本発明の多芯ケーブル試験員の内部
回路を説明する図、第８図は本発明の多芯テープμの試
験方法を説明する図、第４図は本発明の多芯ケーブル試
験方法によって多芯ケーブルの断線、短絡試験を行なっ
たときの各障害例にもとづく各端子間の抵抗値の例を示
したテープ〃である。 ｌは多芯ケーブル、２は一方のコネクタ端子、８は他方
のコネクタ端子、４は短絡、断線試験器、ｂはプローグ
、６は短絡ピン、７は多芯ケーブル試験具、ａｎ、ｂｎ
はコネクタ端子番号、Ｐ１〜Ｐ！ｌは多芯ケープ／Ｉ／
試験真の端子番号、Ａはオス型コネクタ、Ｂはメス型コ
ネクタ、Ｒは抵抗を示す。 第１図
Claims (1)
- 被測定多芯ケープμの一端に設けたコネクタ端子と保合
する接続端子を有し、該接続端子は一つの共通端子とそ
の他の複・数の端子からなり、該複数の端子のそれぞれ
に所定のａｔ有する抵抗の一方の端子を接続し、該それ
ぞれの抵抗の他方の端子と１記共通端子とを接続した多
芯ケーブル試験具を前記被測定多芯ケーブルの一方のコ
ネクタ端子に接続し、被測定多芯ケーブルの他方の端子
の共通端子とその他の複数の端子のそれぞれの間の抵抗
値を測定することによって多芯ケープ〜の良否を判定す
るようにしたことを特徴とする多芯ケーブルの試験方法
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57044227A JPS58160870A (ja) | 1982-03-18 | 1982-03-18 | 多芯ケ−ブルの試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57044227A JPS58160870A (ja) | 1982-03-18 | 1982-03-18 | 多芯ケ−ブルの試験方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58160870A true JPS58160870A (ja) | 1983-09-24 |
| JPH0250431B2 JPH0250431B2 (ja) | 1990-11-02 |
Family
ID=12685649
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57044227A Granted JPS58160870A (ja) | 1982-03-18 | 1982-03-18 | 多芯ケ−ブルの試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58160870A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0267277U (ja) * | 1988-11-09 | 1990-05-22 | ||
| JPH0326973A (ja) * | 1989-06-26 | 1991-02-05 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 集積回路検査装置の検査方法 |
| CN105353265A (zh) * | 2015-12-29 | 2016-02-24 | 河南农业大学 | 一种探针式多芯多型线缆检测方法与检测装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58138076U (ja) * | 1982-03-13 | 1983-09-17 | 三菱重工業株式会社 | 多芯ケ−ブルチエツカ |
-
1982
- 1982-03-18 JP JP57044227A patent/JPS58160870A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58138076U (ja) * | 1982-03-13 | 1983-09-17 | 三菱重工業株式会社 | 多芯ケ−ブルチエツカ |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0267277U (ja) * | 1988-11-09 | 1990-05-22 | ||
| JPH0326973A (ja) * | 1989-06-26 | 1991-02-05 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 集積回路検査装置の検査方法 |
| CN105353265A (zh) * | 2015-12-29 | 2016-02-24 | 河南农业大学 | 一种探针式多芯多型线缆检测方法与检测装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0250431B2 (ja) | 1990-11-02 |
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