TWI783549B

TWI783549B - 提高待測試電路板中腳位測試涵蓋率系統及其方法

Info

Publication number: TWI783549B
Application number: TW110123112A
Authority: TW
Inventors: 段秋月; 韓奔; 謝新穎
Original assignee: 英業達股份有限公司
Priority date: 2021-06-24
Filing date: 2021-06-24
Publication date: 2022-11-11
Also published as: TW202300943A

Abstract

一種提高待測試電路板中腳位測試涵蓋率系統及其方法，待檢測電路板中電路板連接器的部分腳位未與邊界掃描晶片形成電性連接，透過邊界掃描互連測試工作站的夾具壓合使測試針板中的測試針腳分別與對應的電路板連接器的部分腳位形成電性連接，測試存取埠控制器自測試轉卡接收測試針板對電路板連接器未與邊界掃描晶片形成電性連接的部分腳位檢測的檢測訊號以判定是否導通，藉此可以達成提高待測試電路板中腳位測試涵蓋率的技術功效。

Description

提高待測試電路板中腳位測試涵蓋率系統及其方法

一種測試系統及其方法，尤其是指一種測試存取埠控制器自測試轉卡接收測試針板對電路板連接器未與邊界掃描晶片形成電性連接的部分腳位檢測的檢測訊號以判定是否導通的提高待測試電路板中腳位測試涵蓋率系統及其方法。

現有的邊界掃描互連測試工作站是提供對待測試電路板上的邊界掃描元件進行測試，通過邊界掃描檢測程式所建立的邊界掃描鏈，以實現在邊界掃描檢測程式進行資料分析與處理，最終形成引腳互連狀態的故障判據。

現有的邊界掃描互連測試工作站可以對於待測試電路板上的各個連接器與邊界掃描晶片互聯測試，可以檢測結構性的故障，例如：故障、短路、開路…等。

現有的邊界掃描互連測試工作站的核心技術即是利用邊界掃描測試技術，然而邊界掃描測試技術是需要在待測線路的兩端皆具備邊界掃描晶片且邊界掃描晶片具備可以控制的移位暫存器（cell），然而對於待測線路的一端無邊界掃描晶片或是邊界掃描晶片沒有可以控制的移位暫存器將無法依據現有邊界掃描測試技術進行測試。

綜上所述，可知先前技術中長期以來一直存在現有待測試電路板採用邊界掃描測試仍有無法涵蓋所有腳位測試的問題，因此有必要提出改進的技術手段，來解決此一問題。

有鑒於先前技術存在現有待測試電路板採用邊界掃描測試仍有無法涵蓋所有腳位測試的問題，本發明遂揭露一種提高待測試電路板中腳位測試涵蓋率系統及其方法，其中：

本發明所揭露的提高待測試電路板中腳位測試涵蓋率系統，適用於邊界掃描互連測試工作站的檢測，其包含：待檢測電路板、測試轉卡、測試針板以及測試存取埠控制器。

待檢測電路板具有至少一邊界掃描（Boundary Scan）晶片以及至少一電路板連接器，電路板連接器的部分腳位未與邊界掃描晶片形成電性連接；測試轉卡具有轉卡連接器、轉卡針板連接器以及轉卡測試存取埠（Test Access Port，TAP）連接器，轉卡連接器與對應的電路板連接器形成電性連接；測試針板具有多個測試針腳以及針板連接器，測試針腳分別與電路板連接器未與邊界掃描晶片形成電性連接的部分腳位位置對應，透過邊界掃描互連測試工作站的夾具壓合使測試針腳分別與對應的電路板連接器的部分腳位形成電性連接，針板連接器與轉卡針板連接器形成電性連接；及測試存取埠控制器透過控制器連接器與轉卡測試存取埠連接器形成電性連接，以自測試轉卡接收測試針板對電路板連接器的部分腳位檢測的檢測訊號以判定是否導通。

本發明所揭露的提高待測試電路板中腳位測試涵蓋率方法，其包含下列步驟：

首先，提供具有至少一邊界掃描晶片以及至少一電路板連接器的待檢測電路板；接著，待檢測電路板中電路板連接器的部分腳位未與邊界掃描晶片形成電性連接；接著，具有轉卡連接器、轉卡針板連接器以及轉卡測試存取埠連接器的測試轉卡；接著，測試轉卡透過轉卡連接器與對應的電路板連接器形成電性連接；接著，提供具有多個測試針腳以及針板連接器的測試針板；接著，測試針腳分別與電路板連接器未與邊界掃描晶片形成電性連接的部分腳位位置對應；接著，測試針板透過邊界掃描互連測試工作站的夾具壓合使測試針腳分別與對應的電路板連接器的部分腳位形成電性連接；接著，測試針板透過針板連接器與轉卡針板連接器形成電性連接；接著，提供具有控制器連接器的測試存取埠控制器；接著，測試存取埠控制器透過控制器連接器與轉卡測試存取埠連接器形成電性連接；最後，測試存取埠控制器自測試轉卡接收測試針板對電路板連接器未與邊界掃描晶片形成電性連接的部分腳位檢測的檢測訊號以判定是否導通。

本發明所揭露的系統及方法如上，與先前技術之間的差異在於待檢測電路板中電路板連接器的部分腳位未與邊界掃描晶片形成電性連接，透過邊界掃描互連測試工作站的夾具壓合使測試針板中的測試針腳分別與對應的電路板連接器的部分腳位形成電性連接，測試存取埠控制器自測試轉卡接收測試針板對電路板連接器未與邊界掃描晶片形成電性連接的部分腳位檢測的檢測訊號以判定是否導通。

透過上述的技術手段，本發明可以達成提高待測試電路板中腳位測試涵蓋率的技術功效。

以下將配合圖式及實施例來詳細說明本發明的實施方式，藉此對本發明如何應用技術手段來解決技術問題並達成技術功效的實現過程能充分理解並據以實施。

以下首先要說明本發明所揭露的提高待測試電路板中腳位測試涵蓋率系統，並請參考「第1圖」所示，「第1圖」繪示為本發明提高待測試電路板中腳位測試涵蓋率系統的系統方塊圖。

本發明所揭露的提高待測試電路板中腳位測試涵蓋率系統，適用於邊界掃描互連測試工作站100的檢測，其包含：待檢測電路板10、測試轉卡20、測試針板30以及測試存取埠控制器40。

請參考「第2圖」所示，「第2圖」繪示為本發明提高待測試電路板中腳位測試涵蓋率的連接架構示意圖。

待檢測電路板10具有至少一邊界掃描（Boundary Scan）晶片11以及至少一電路板連接器12，電路板連接器12的部分腳位13未與邊界掃描晶片11形成電性連接，即電路板連接器12的其餘腳位與邊界掃描晶片11形成電性連接，值得注意的是，電路板連接器12的部分腳位13未與邊界掃描晶片11形成電性連接中部分腳位13包含電源腳位以及接地腳位，在此僅為舉例說明之，並不以此侷限本發明的應用範疇，電路板連接器12例如是：PCI-E、DIMM、USB、RS-232、JTAG、排線連接器…等，在此僅為舉例說明之，並不以此侷限本發明的應用範疇。

測試轉卡20具有轉卡連接器21、轉卡針板連接器22以及轉卡測試存取埠（Test Access Port，TAP）連接器23，測試轉卡20透過插設、連接線、排線…等方式將轉卡連接器21與對應的電路板連接器12形成電性連接，轉卡連接器21是與電路板連接器12為相互對應的連接器形式，轉卡針板連接器22可以是PCI-E、DIMM、USB、RS-232、JTAG、排線連接器…等，轉卡測試存取埠連接器23亦可以是USB、RS-232…等，在此僅為舉例說明之，並不以此侷限本發明的應用範疇。

測試針板30具有多個測試針腳31以及針板連接器32，測試針板30中多個測試針腳31分別與電路板連接器12未與邊界掃描晶片11形成電性連接的部分腳位13位置對應，亦即不同型號的待檢測電路板10對於測試針板30中多個測試針腳31的設置位置可以是不相同、可以是部分相同且部分不相同，也可以是完全相同，並且測試針板30的針板連接器32是與轉卡針板連接器22為相互對應的連接器形式，在此僅為舉例說明之，並不以此侷限本發明的應用範疇。

在邊界掃描互連測試工作站100依據待檢測電路板10選用對應的測試針板30後，邊界掃描互連測試工作站100藉由夾具的壓合使測試針板30的測試針腳31分別與待檢測電路板10中對應的電路板連接器12的部分腳位13形成電性連接。

由於測試針板30透過插設、連接線、排線…等方式將針板連接器32與轉卡針板連接器22形成電性連接，故測試轉卡20即可自測試針板30接收電路板連接器12的部分腳位13的電子訊號，並且測試轉卡20即可將自測試針板30所接收到路板連接器12的部分腳位13的電子訊號轉換為電路板連接器12的部分腳位13檢測的檢測訊號。

測試存取埠控制器40中的控制器連接器41是與轉卡測試存取埠連接器23為相互對應的連接器形式，測試存取埠控制器40透過插設、連接線、排線…等方式將控制器連接器41與轉卡測試存取埠連接器23形成電性連接。

測試存取埠控制器40即可自測試轉卡20接收電路板連接器12的部分腳位13檢測的檢測訊號，藉此測試存取埠控制器40即可對電路板連接器12的部分腳位13檢測的檢測訊號進行判定是否導通。

接著，以下將說明本發明的運作方法，並請同時參考「第3A圖」以及「第3B圖」所示，「第3A圖」以及「第3B圖」繪示為本發明提高待測試電路板中腳位測試涵蓋率方法的方法流程圖。

首先，提供具有至少一邊界掃描晶片以及至少一電路板連接器的待檢測電路板（步驟101）；接著，待檢測電路板中電路板連接器的部分腳位未與邊界掃描晶片形成電性連接（步驟102）；接著，具有轉卡連接器、轉卡針板連接器以及轉卡測試存取埠連接器的測試轉卡（步驟103）；接著，測試轉卡透過轉卡連接器與對應的電路板連接器形成電性連接（步驟104）；接著，提供具有多個測試針腳以及針板連接器的測試針板（步驟105）；接著，測試針腳分別與電路板連接器未與邊界掃描晶片形成電性連接的部分腳位位置對應（步驟106）；接著，測試針板透過邊界掃描互連測試工作站的夾具壓合使測試針腳分別與對應的電路板連接器的部分腳位形成電性連接（步驟107）；接著，測試針板透過針板連接器與轉卡針板連接器形成電性連接（步驟108）；接著，提供具有控制器連接器的測試存取埠控制器（步驟109）；接著，測試存取埠控制器透過控制器連接器與轉卡測試存取埠連接器形成電性連接（步驟110）；最後，測試存取埠控制器自測試轉卡接收測試針板對電路板連接器未與邊界掃描晶片形成電性連接的部分腳位檢測的檢測訊號以判定是否導通（步驟111）。

綜上所述，可知本發明與先前技術之間的差異在於待檢測電路板中電路板連接器的部分腳位未與邊界掃描晶片形成電性連接，透過邊界掃描互連測試工作站的夾具壓合使測試針板中的測試針腳分別與對應的電路板連接器的部分腳位形成電性連接，測試存取埠控制器自測試轉卡接收測試針板對電路板連接器未與邊界掃描晶片形成電性連接的部分腳位檢測的檢測訊號以判定是否導通。

藉由此一技術手段可以來解決先前技術所存在現有待測試電路板採用邊界掃描測試仍有無法涵蓋所有腳位測試的問題，進而達成提高待測試電路板中腳位測試涵蓋率的技術功效。

雖然本發明所揭露的實施方式如上，惟所述的內容並非用以直接限定本發明的專利保護範圍。任何本發明所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明所揭露的精神和範圍的前提下，可以在實施的形式上及細節上作些許的更動。本發明的專利保護範圍，仍須以所附的申請專利範圍所界定者為準。

100:邊界掃描互連測試工作站 10:待檢測電路板 11:邊界掃描晶片 12:電路板連接器 13:部分腳位 20:測試轉卡 21:轉卡連接器 22:轉卡針板連接器 23:轉卡測試存取埠連接器 30:測試針板 31:測試針腳 32:針板連接器 40:測試存取埠控制器 41:控制器連接器步驟 101:提供具有至少一邊界掃描晶片以及至少一電路板連接器的待檢測電路板步驟 102:待檢測電路板中電路板連接器的部分腳位未與邊界掃描晶片形成電性連接步驟 103:具有轉卡連接器、轉卡針板連接器以及轉卡測試存取埠連接器的測試轉卡步驟 104:測試轉卡透過轉卡連接器與對應的電路板連接器形成電性連接步驟 105:提供具有多個測試針腳以及針板連接器的測試針板步驟 106:測試針腳分別與電路板連接器未與邊界掃描晶片形成電性連接的部分腳位位置對應步驟 107:測試針板透過邊界掃描互連測試工作站的夾具壓合使測試針腳分別與對應的電路板連接器的部分腳位形成電性連接步驟 108:測試針板透過針板連接器與轉卡針板連接器形成電性連接步驟 109:提供具有控制器連接器的測試存取埠控制器步驟 110:測試存取埠控制器透過控制器連接器與轉卡測試存取埠連接器形成電性連接步驟 111:測試存取埠控制器自測試轉卡接收測試針板對電路板連接器未與邊界掃描晶片形成電性連接的部分腳位檢測的檢測訊號以判定是否導通

第1圖繪示為本發明提高待測試電路板中腳位測試涵蓋率系統的系統方塊圖。第2圖繪示為本發明提高待測試電路板中腳位測試涵蓋率的連接架構示意圖。第3A圖以及第3B圖繪示為本發明提高待測試電路板中腳位測試涵蓋率方法的方法流程圖。

10:待檢測電路板

11:邊界掃描晶片

12:電路板連接器

20:測試轉卡

21:轉卡連接器

22:轉卡針板連接器

23:轉卡測試存取埠連接器

30:測試針板

31:測試針腳

32:針板連接器

40:測試存取埠控制器

41:控制器連接器

Claims

一種提高待測試電路板中腳位測試涵蓋率系統，適用於一邊界掃描互連測試工作站的檢測，其包含：一待檢測電路板，所述待檢測電路板具有至少一邊界掃描(Boundary Scan)晶片以及至少一電路板連接器，所述電路板連接器的部分腳位未與所述邊界掃描晶片形成電性連接，所述電路板連接器的部分腳位包含電源腳位以及接地腳位；一測試轉卡，所述測試轉卡具有一轉卡連接器、一轉卡針板連接器以及一轉卡測試存取埠(Test Access Port，TAP)連接器，所述轉卡連接器與對應的所述電路板連接器形成電性連接；一測試針板，所述測試針板具有多個測試針腳以及一針板連接器，所述測試針腳分別與所述電路板連接器未與所述邊界掃描晶片形成電性連接的部分腳位位置對應，透過所述邊界掃描互連測試工作站的夾具壓合使所述測試針腳分別與對應的所述電路板連接器的部分腳位形成電性連接，所述針板連接器與所述轉卡針板連接器形成電性連接；及一測試存取埠控制器，所述測試存取埠控制器透過一控制器連接器與所述轉卡測試存取埠連接器形成電性連接，將所述測試轉卡自所述測試針板接收所述電路板連接器的部分腳位的電子訊號轉換為所述電路板連接器的部分腳位檢測的檢測訊號，以依據所述電路板連接器的部分腳位檢測的檢測訊號判定是否導通。
如請求項1所述的提高待測試電路板中腳位測試涵蓋率系統，其中所述邊界掃描互連測試工作站依據所述待檢測電路板選用對應的所述測試針板以使所述邊界掃描互連測試工作站的夾具壓合使所述測試針腳分別與對應的所述電路板連接器的部分腳位形成電性連接。
一種提高待測試電路板中腳位測試涵蓋率方法，適用於一邊界掃描互連測試工作站的檢測，其包含下列步驟：提供具有至少一邊界掃描(Boundary Scan)晶片以及至少一電路板連接器的一待檢測電路板；所述待檢測電路板中所述電路板連接器的部分腳位未與所述邊界掃描晶片形成電性連接，所述電路板連接器的部分腳位包含電源腳位以及接地腳位；具有一轉卡連接器、一轉卡針板連接器以及一轉卡測試存取埠(Test Access Port，TAP)連接器的一測試轉卡；所述測試轉卡透過所述轉卡連接器與對應的所述電路板連接器形成電性連接；提供具有多個測試針腳以及一針板連接器的一測試針板；所述測試針腳分別與所述電路板連接器未與所述邊界掃描晶片形成電性連接的部分腳位位置對應；所述測試針板透過所述邊界掃描互連測試工作站的夾具壓合使所述測試針腳分別與對應的所述電路板連接器的部分腳位形成電性連接；所述測試針板透過所述針板連接器與所述轉卡針板連接器形成電性連接；提供具有一控制器連接器的一測試存取埠控制器；所述測試存取埠控制器透過所述控制器連接器與所述轉卡測試存取埠連接器形成電性連接；及所述測試存取埠控制器將所述測試轉卡自所述測試針板接收所述電路板連接器的部分腳位的電子訊號轉換為所述電路板連接器的部分腳位檢測的檢測訊號，以依據所述電路板連接器未與所述邊界掃描晶片形成電性連接的部分腳位檢測的檢測訊號判定是否導通。
如請求項3所述的提高待測試電路板中腳位測試涵蓋率方法，其中透過所述邊界掃描互連測試工作站的夾具壓合使所述測試針腳分別與對應的所述電路板連接器的部分腳位形成電性連接的步驟是所述邊界掃描互連測試工作站依據所述待檢測電路板選用對應的所述測試針板以使所述邊界掃描互連測試工作站的夾具壓合使所述測試針腳分別與對應的所述電路板連接器的部分腳位形成電性連接。