JP2502931Y2 - テストプラグ - Google Patents
テストプラグInfo
- Publication number
- JP2502931Y2 JP2502931Y2 JP1990405233U JP40523390U JP2502931Y2 JP 2502931 Y2 JP2502931 Y2 JP 2502931Y2 JP 1990405233 U JP1990405233 U JP 1990405233U JP 40523390 U JP40523390 U JP 40523390U JP 2502931 Y2 JP2502931 Y2 JP 2502931Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pin
- plug
- test
- output
- input
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Landscapes
- Switch Cases, Indication, And Locking (AREA)
- Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本考案はテストプラグ、特にＣＰ
Ｕバス上のロジック信号のテストなどに用いるテストプ
ラグに関するものである。
Ｕバス上のロジック信号のテストなどに用いるテストプ
ラグに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】電子機器間を接続している接続ケーブル
上に設置され、各種信号の入出力状態のテストを行うテ
ストプラグには種々のものがあるが、その１つに、図
５，図６に示す、いわゆるＵ−リングと称せられるもの
がある。
上に設置され、各種信号の入出力状態のテストを行うテ
ストプラグには種々のものがあるが、その１つに、図
５，図６に示す、いわゆるＵ−リングと称せられるもの
がある。
【０００３】図５は、この種のテストプラグの外観の構
成を示す斜視図、図６はそのブロック図で、各図におい
て、１はテストプラグ本体、２は出力ユニット、３は入
力ユニット、４は接続ケーブル、１１ａ，１１ｂはそれ
ぞれテスト端子、１２はスイッチを示す。
成を示す斜視図、図６はそのブロック図で、各図におい
て、１はテストプラグ本体、２は出力ユニット、３は入
力ユニット、４は接続ケーブル、１１ａ，１１ｂはそれ
ぞれテスト端子、１２はスイッチを示す。
【０００４】次に動作について説明する。動作中にケー
ブル４を流れる信号をモニタしようとする場合には、ス
イッチ１２をＯＮ状態とし、テスト端子１１ａあるいは
１１ｂにオシロスコープなどの測定器（図示せず）のプ
ローブを接触させ、この測定器でモニタを行う。
ブル４を流れる信号をモニタしようとする場合には、ス
イッチ１２をＯＮ状態とし、テスト端子１１ａあるいは
１１ｂにオシロスコープなどの測定器（図示せず）のプ
ローブを接触させ、この測定器でモニタを行う。
【０００５】また、出力ユニット２からの出力信号のテ
ストを行う場合には、スイッチ１２をＯＦＦ状態とし、
プローブをテスト端子１１ａに接触させて行う。さら
に、入力側ユニット３のテストを行う場合には、スイッ
チ１２をＯＦＦ状態とし、パルスジェネレータ等の信号
発生器のプローブをテスト端子１１ｂに接触させてテス
トを行う。
ストを行う場合には、スイッチ１２をＯＦＦ状態とし、
プローブをテスト端子１１ａに接触させて行う。さら
に、入力側ユニット３のテストを行う場合には、スイッ
チ１２をＯＦＦ状態とし、パルスジェネレータ等の信号
発生器のプローブをテスト端子１１ｂに接触させてテス
トを行う。
【０００６】
【考案が解決しようとする課題】解決しようとする問題
点は、従来のテストプラグでは１信号線毎にそれぞれ２
個のテスト端子と１つのスイッチとを備えておく必要が
あり、小型化が難しく、例えばＣＰＵの制御信号ケーブ
ル上でテストを行う場合など、多数の制御信号線が１つ
のケーブルに集合している場合のテストには適さない点
にある。
点は、従来のテストプラグでは１信号線毎にそれぞれ２
個のテスト端子と１つのスイッチとを備えておく必要が
あり、小型化が難しく、例えばＣＰＵの制御信号ケーブ
ル上でテストを行う場合など、多数の制御信号線が１つ
のケーブルに集合している場合のテストには適さない点
にある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本考案は、入力側ピンと
出力側ピンとの長さがそれぞれ異なるピンを平行に配列
してなるピン固定台と、それぞれのピンに対応したピン
孔を持つショートプラグとを備え、各ピンをそれぞれ対
応する各ピン孔に挿入してピン固定台にショートプラグ
を差し込んで一体化させたとき、入力側もしくは出力側
の、何れか長い方のピンだけがショートプラグの上から
突出する構造としたことを最も主要な特徴とする。
出力側ピンとの長さがそれぞれ異なるピンを平行に配列
してなるピン固定台と、それぞれのピンに対応したピン
孔を持つショートプラグとを備え、各ピンをそれぞれ対
応する各ピン孔に挿入してピン固定台にショートプラグ
を差し込んで一体化させたとき、入力側もしくは出力側
の、何れか長い方のピンだけがショートプラグの上から
突出する構造としたことを最も主要な特徴とする。
【０００８】したがって、多数の信号線を持つケーブル
上で各種のテストを容易に安全に行うという目的を、シ
ョートプラグの差し込み位置を変えるだけで実現した。
上で各種のテストを容易に安全に行うという目的を、シ
ョートプラグの差し込み位置を変えるだけで実現した。
【０００９】
【実施例】図１は、本考案の１実施例を示す斜視図で、
図において、５はそれぞれ長さの異なる入力側ピンと出
力側ピンとを平行に配列してなるピン固定台、６はショ
ートプラグ、７ａは出力ユニット２と接続されている接
続ケーブル、７ｂは入力ユニット３と接続されている接
続ケーブル、８はパルスジェネレータやオシロスコープ
などのプローブ、２１ａは出力側ピン、２１ｂは入力側
ピンで、この実施例では、出力側ピン２１ａの突出部の
長さがショートプラグ６の高さよりわずかに短く、入力
側ピン２１ｂの突出部の長さは、出力側ピン２１ａの長
さの約倍の長さに設定している。
図において、５はそれぞれ長さの異なる入力側ピンと出
力側ピンとを平行に配列してなるピン固定台、６はショ
ートプラグ、７ａは出力ユニット２と接続されている接
続ケーブル、７ｂは入力ユニット３と接続されている接
続ケーブル、８はパルスジェネレータやオシロスコープ
などのプローブ、２１ａは出力側ピン、２１ｂは入力側
ピンで、この実施例では、出力側ピン２１ａの突出部の
長さがショートプラグ６の高さよりわずかに短く、入力
側ピン２１ｂの突出部の長さは、出力側ピン２１ａの長
さの約倍の長さに設定している。
【００１０】２２ａ，２２ｂはショートプラグ６に設け
られたピン孔で、それぞれ入力側，出力側ピン２１ａ，
２１ｂに対応している。
られたピン孔で、それぞれ入力側，出力側ピン２１ａ，
２１ｂに対応している。
【００１１】次に動作について説明する。動作中にケー
ブル７ａ，７ｂ間を流れる各種信号をモニタしようとす
る場合には、図２に示すようにピン固定台５にショート
プラグ６を差し込む。このような状態でショートプラグ
６が差し込まれることにより、入力側ピン２１ａと出力
側ピン２１ｂとがＯＮ状態となり、ショートプラグ６上
に突出した入力側ピン２１ｂへオシロスコープなどの測
定器（図示せず）のプローブ８を接触させモニタする。
ブル７ａ，７ｂ間を流れる各種信号をモニタしようとす
る場合には、図２に示すようにピン固定台５にショート
プラグ６を差し込む。このような状態でショートプラグ
６が差し込まれることにより、入力側ピン２１ａと出力
側ピン２１ｂとがＯＮ状態となり、ショートプラグ６上
に突出した入力側ピン２１ｂへオシロスコープなどの測
定器（図示せず）のプローブ８を接触させモニタする。
【００１２】この場合、出力側ピン２１ａはショートプ
ラグ６内に隠れてしまい、誤ってプローブ８の先端が出
力側ピン２１ａにも接触するという危険性を回避でき
る。
ラグ６内に隠れてしまい、誤ってプローブ８の先端が出
力側ピン２１ａにも接触するという危険性を回避でき
る。
【００１３】図３は、出力ユニット２からの出力信号の
テストを行う場合のショートプラグ６の差し込み位置を
示す図で、このようにショートプラグ６を差し込むこと
で出力側ピン２１ａと入力側ピン２１ｂとの間がＯＦＦ
状態となり、出力側ピン２１ａにプローブ８を接触させ
て出力信号のテストを行う。この場合、入力側ピン２１
ｂでは、プローブ８先端が位置する部分がショートプラ
グ６で覆われることになり、プローブ８先端が誤って入
力側ピン２１ｂにも接触するという危険性を減少でき
る。
テストを行う場合のショートプラグ６の差し込み位置を
示す図で、このようにショートプラグ６を差し込むこと
で出力側ピン２１ａと入力側ピン２１ｂとの間がＯＦＦ
状態となり、出力側ピン２１ａにプローブ８を接触させ
て出力信号のテストを行う。この場合、入力側ピン２１
ｂでは、プローブ８先端が位置する部分がショートプラ
グ６で覆われることになり、プローブ８先端が誤って入
力側ピン２１ｂにも接触するという危険性を減少でき
る。
【００１４】図４は、入力ユニット３のテストを行う場
合のショートプラグ６の差し込み位置を示す図で、この
状態では出力側ピン２１ａと入力側ピン２１ｂとの間が
ＯＦＦ状態となり、パルスジェネレータ等の信号発生器
（図示せず）のプローブ８を入力側ピン２１ｂに接触さ
せテストを行う。
合のショートプラグ６の差し込み位置を示す図で、この
状態では出力側ピン２１ａと入力側ピン２１ｂとの間が
ＯＦＦ状態となり、パルスジェネレータ等の信号発生器
（図示せず）のプローブ８を入力側ピン２１ｂに接触さ
せテストを行う。
【００１５】そしてこの場合、出力側ピン２１ａはショ
ートプラグ６で保護されるため、誤って信号発生器の出
力がショートする等の危険性を回避できる。
ートプラグ６で保護されるため、誤って信号発生器の出
力がショートする等の危険性を回避できる。
【００１６】また、ピン孔２２ａ，２２ｂの大きさをプ
ローブ８の先端の径と一致させることにすれば、ピン孔
２２ａ，２２ｂに直接プローブ８の先端を差し込んでテ
ストを行うことができる。
ローブ８の先端の径と一致させることにすれば、ピン孔
２２ａ，２２ｂに直接プローブ８の先端を差し込んでテ
ストを行うことができる。
【００１７】なお上記実施例では信号線の数を５本と
し、出力側ピンと入力側ピンの数をそれぞれ５本として
いるが、これらの本数に限定されるものではなく、ま
た、入力側ピンを出力側ピンより長くしているが、これ
とは逆に出力側ピンを長くしても上記実施例と同様の効
果を奏する。
し、出力側ピンと入力側ピンの数をそれぞれ５本として
いるが、これらの本数に限定されるものではなく、ま
た、入力側ピンを出力側ピンより長くしているが、これ
とは逆に出力側ピンを長くしても上記実施例と同様の効
果を奏する。
【００１８】さらに上記実施例では、ピン固定台，ショ
ートプラグともにブロック状のものを用いて構成してい
るが、プリント基板で構成するなどにより、カード状の
テストプラグとすることもできる。
ートプラグともにブロック状のものを用いて構成してい
るが、プリント基板で構成するなどにより、カード状の
テストプラグとすることもできる。
【００１９】
【考案の効果】以上説明したように本考案のテストプラ
グは、簡単な構成により、ショートプラグの差し込み位
置を変えるだけで、多数の信号線を持つケーブル上で各
種のテストを容易に安全に行うことができるという利点
がある。
グは、簡単な構成により、ショートプラグの差し込み位
置を変えるだけで、多数の信号線を持つケーブル上で各
種のテストを容易に安全に行うことができるという利点
がある。
【図１】本考案の１実施例を示す斜視図である。
【図２】動作中にケーブルを流れる信号をモニタする場
合を示す説明図である。
合を示す説明図である。
【図３】出力ユニットからの出力信号のテストを行う場
合を示す説明図である。
合を示す説明図である。
【図４】入力ユニットのテストを行う場合を示す説明図
である。
である。
【図５】従来のテストプラグの外観の構成を示す斜視図
である。
である。
【図６】従来のテストプラグの構成を示すブロック図で
ある。
ある。
５ ピン固定台 ６ ショートプラグ ７ａ，７ｂ 接続ケーブル ８ プローブ ２１ａ 出力側ピン ２１ｂ 入力側ピン ２２ａ，２２ｂ ピン孔
Claims (1)
- 【請求項１】 出力ユニットと入力ユニットとの間の各
種信号の出入力状態のテストを行うため出力ユニットと
入力ユニットとを接続する接続ケーブル上に設置され、
この接続ケーブル内の信号線の入／断を行うスイッチ機
能と、該信号線の端子機能とを有するテストプラグにお
いて、入力ユニットからの信号線が接続された入力側ピ
ンと出力ユニットからの信号線が接続された出力側ピン
とがそれぞれ突出部の長さを異にして配列されたピン固
定台と、それぞれのピンに対応したピン孔を持つショー
トプラグとを備え、各ピンをそれぞれ対応する各ピン孔
に挿入して上記ピン固定台に上記ショートプラグを差し
込んで一体化させた場合、上記入力側ピンもしくは上記
出力側ピンのどちらか一方の長い方のピンだけが上記シ
ョートプラグの上から所定長突出する構造としたことを
特徴とするテストプラグ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1990405233U JP2502931Y2 (ja) | 1990-12-28 | 1990-12-28 | テストプラグ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1990405233U JP2502931Y2 (ja) | 1990-12-28 | 1990-12-28 | テストプラグ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0494572U JPH0494572U (ja) | 1992-08-17 |
| JP2502931Y2 true JP2502931Y2 (ja) | 1996-06-26 |
Family
ID=31882706
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1990405233U Expired - Lifetime JP2502931Y2 (ja) | 1990-12-28 | 1990-12-28 | テストプラグ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2502931Y2 (ja) |
-
1990
- 1990-12-28 JP JP1990405233U patent/JP2502931Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0494572U (ja) | 1992-08-17 |
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