KR970028581A - 클락 신호 입력 단자의 변경이 가능한 테스트 보오드 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 테스트될 소자가 삽입될 테스트 소켓과, 그 테스트 소켓의 각각의 핀들에 대응되도록 일측이 전기적으로 연결되어 있고 다른 일측들이 입력 신호를 발생하고 출력 신호를 수신하는 테스터와 전기적으로 연결되도록 형성된 도전성 패턴들을 구비하는 반도체 칩 패키지의 전기적 테스트를 위한 테스트 보오드에 있어서, 각각의 상기 도전성 패턴들이 소정 부분에서 복수개의 돌출형 접속수단의 삽입이 가능하도록 형성된 커넥터와 전기적으로 연결되어 있고, 상기 커넥터가 삽입과 제거가 가능한 유연성 케이블의 일측과 전기적으로 연결되어 있으며, 상기 유연성 케이블의 다른 일측이 도전성 패턴들과 전기적으로 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 클락 신호 입력 단자의 변경이 가능한 테스트 보오드를 제공함으로써, 패키지 크기가 동일한 경우 여러가지 종류의 소자에 대해 핀 구성에 관계없이 테스트를 가능하게 하는 효과를 나타낸다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명에 따른 테스트 보오드를 설명하기 위한 회로의 구성을 나타낸 회로도,
제2도는 본 발명에 따른 테스트 보오드를 설명하기 위한 개략도.
Claims (2)
- 테스트될 소자가 삽입될 테스트 소켓과, 그 테스트 소켓의 각각의 핀들에 대응되도록 일측이 전기적으로 연결되어 있고 다른 일측들이 입력 신호를 발생하고 출력 신호를 수신하는 테스터와 전기적으로 연결되도록 형성된 도전성 패턴들을 구비하는 반도체 칩 패키지의 전기적 테스트를 위한 테스트 보오드에 있어서, 각각의 상기 도전성 패턴들이 소정 부분에서 복수개의 돌출형 접속수단의 삽입이 가능하도록 형성된 커넥터와 전기적으로 연결되어 있고, 상기 커넥터가 삽입과 제거가 가능한 유연성 케이블의 일측과 전기적으로 연결되어 있으며, 상기 유연성 케이블의 다른 일측이 도전성 패턴들과 전기적으로 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 클락 신호 입력 단자의 변경이 가능한 테스트 보오드.
- 제1항에 있어서, 상기 유연성 케이블의 일측이 잭 형태인 것을 특징으로 하는 클락 신호 입력 단자의 변경이 가능한 테스트 보오드.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019950045744A KR970028581A (ko) | 1995-11-30 | 1995-11-30 | 클락 신호 입력 단자의 변경이 가능한 테스트 보오드 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019950045744A KR970028581A (ko) | 1995-11-30 | 1995-11-30 | 클락 신호 입력 단자의 변경이 가능한 테스트 보오드 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR970028581A true KR970028581A (ko) | 1997-06-24 |
Family
ID=66593472
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1019950045744A KR970028581A (ko) | 1995-11-30 | 1995-11-30 | 클락 신호 입력 단자의 변경이 가능한 테스트 보오드 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR970028581A (ko) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100445795B1 (ko) * | 1997-06-19 | 2005-05-24 | 삼성전자주식회사 | 반도체 칩 테스트 장치 |
-
1995
- 1995-11-30 KR KR1019950045744A patent/KR970028581A/ko not_active Application Discontinuation
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100445795B1 (ko) * | 1997-06-19 | 2005-05-24 | 삼성전자주식회사 | 반도체 칩 테스트 장치 |
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