TW201405148A - 印刷基板之絕緣檢查裝置及絕緣檢查方法 - Google Patents

印刷基板之絕緣檢查裝置及絕緣檢查方法 Download PDF

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Abstract

本發明提供一種於印刷基板1之電路圖案C1~C4間施加直流電壓,且基於根據施加之電壓值與流動於電路圖案間之電流值而算出之電路圖案間之電阻值,判定印刷基板之絕緣狀態之良否之印刷基板之絕緣檢查裝置,其包含:電流檢測部7,其藉由電壓之施加而檢測流動於電路圖案間之電流;電流增加檢測部9,其係於自電壓施加開始至將電壓上升完成時作為起點經過規定時間之電火花檢測時間內,檢測因發生於電路圖案間之電火花所引起且由電流檢測部7所檢測之電流值是否增加特定值以上;電火花判定部25,其係在由電流增加檢測部檢測出電流增加之情形時,判定印刷基板為不良品;及電火花檢測時間設定部10,其可改變上述規定時間。

Description

印刷基板之絕緣檢查裝置及絕緣檢查方法
本發明係關於檢查印刷基板之電路圖案間之絕緣狀態之裝置及其之絕緣檢查方法。
本申請案主張2012年7月31日申請之日本專利申請第2012-170642號之優先權,且將其內容援用於此。
在檢查印刷基板之電路圖案間之絕緣狀態時,於印刷基板之電路圖案間,經由檢查探針而施加檢查電壓,且根據該檢查電壓與流動於檢查探針之電流值求得絕緣電阻值,並基於該絕緣電阻值檢查絕緣狀態是否良好。該情形時,會有因電壓施加而於電路圖案間產生電火花之情況,在產生該電火花時,將該基板判定為不良品。
專利文獻1中,揭示有於電路圖案上施加電壓,且檢測自電壓施加開始至特定時序之間之電路圖案間之電壓,並檢測其間有無因電火花而產生之電路圖案間之電壓下降,若檢測出電壓下降,則將基板判定為不良品。
更具體而言,專利文獻1之圖2中,揭示有計算自試驗電壓施加至電路圖案間之時點開始所經過之時間,且算出電路圖案之電壓成穩定狀態之特定時刻之絕緣電阻值,並於該時刻之前檢測電路圖案間是否發生電火花,在判定未發生電火花之情形時,藉由比較測定之電阻 值與臨限值之大小,而進行電路圖案間之絕緣狀態之良否判定之方法。又,專利文獻1之圖3中,揭示有首先於施加電壓後判定是否發生電火花,且在電火花發生時,將該基板判定為不良品,另一方面,在未發生電火花時,在經過特定時間後,測定電壓值與電流,且算出電阻值,並藉由該電阻值進行良否判定之方法。
〔先前技術文獻〕
〔專利文獻〕
〔專利文獻〕
〔專利文獻1〕 日本國專利申請第3546046號公報
然而,因用以檢測有無電火花發生之時序之設定較為困難,且一面算出絕緣電阻值一面檢測有無電火花發生之前者之方法中,電壓成穩定狀態後亦會有電火花發生之情況,故有在算出絕緣電阻值後發生電火花之情形時無法判定不良品之問題。即使於首先檢測有無電火花發生而後算出絕緣電阻值之後者之方法中,亦存有在電火花有無發生之判定至絕緣電阻值算出之期間內產生空白時間,而該期間所發生之電火花未被檢測出之異常。
本發明係鑒於此種情況而完成者,其目的在於確實地檢測出電火花之發生,且提升印刷基板之絕緣檢查之精度。
本發明之印刷基板之絕緣檢查裝置係於印刷基板之電路圖案間施加直流電壓,且基於根據施加之電壓值與流動於上述電路圖案間之電流值而算出之絕緣電阻值,判定上述電路圖案間之絕緣狀態之良否者,且其特徵在於具有:施加電壓控制部,其係控制施加電壓;電流增加檢測部,其係於自電壓施加開始後之電流檢測開始時刻至將電壓 上升完成時作為起點經過規定時間之時刻之電火花檢測時間內,檢測因發生於上述電路圖案間之電火花所引起且流動於上述電路圖案間之電流值是否增加特定之臨限值以上;電火花判定部,其係在藉由上述電流增加檢測部檢測出電流增加上述特定之臨限值以上之情形時,將上述印刷基板判定為不良品;及電火花檢測時間設定部,其係可設定上述規定時間。
又,本發明之印刷基板之絕緣檢查方法係於印刷基板之電路圖案間施加直流電壓,且基於根據施加之電壓值、與流動於上述電路圖案間之電流值而算出之絕緣電阻值,判定上述電路圖案間之絕緣狀態之良否者,且其特徵在於,預先設定自電壓施加開始後之電流檢測開始時刻至將電壓上升完成時作為起點經過規定時間之時刻之電火花檢測時間,並在上述電火花檢測時間內,於檢測出流動於上述電路圖案間之電流值增加特定之臨限值以上之情形時,判定上述印刷基板為不良品。
藉由將電火花檢測時間之結束時設在電壓上升完成時開始經過規定之時間後,不僅可於電壓上升時確實地檢測出電火花之發生,亦可確實地檢測出其後之電壓穩定時之電火花之發生。且,由於關於該電火花檢測時間,可設定為自電壓上升完成後之規定時間,故可藉由因應印刷基板之製造批次等設定時間,而適當地檢測電火花之發生。
本發明之印刷基板之絕緣檢查裝置中,上述施加電壓控制部亦可將上述施加電壓控制成用以求得上述絕緣電阻值之絕緣電阻檢測電壓或較上述絕緣電阻檢測電壓更高之電火花檢測電壓之任一者;判定上述絕緣狀態之良否之絕緣狀態判定部亦可藉由上述電火花檢測時間經過後施加之上述絕緣電阻檢測電壓,算出上述電路圖案間之上述絕緣電阻值而判定絕緣狀態之良否;上述電流增加檢測部亦可檢測出因於上述電火花檢測時間內所施加之上述電火花檢測電壓產生之電流增 加。
本發明之絕緣檢查方法中,亦可將上述施加電壓控制成用以求得上述絕緣電阻值之絕緣電阻檢測電壓或較上述絕緣電阻檢測電壓更高之電火花檢測電壓之任一者,亦可在上述電火花檢測時間內檢測到因上述電火花檢測電壓產生之電流值增加特定臨限值以上之情形時,判定上述印刷基板為不良品。
根據該實施形態,藉由分開控制用以檢測電火花之電壓與用以算出絕緣電阻之電壓,可因應各檢查而設定最適當之電壓,又藉由將電火花檢測電壓設定為高電壓,可確實地檢測電火花之發生。
在本發明之印刷基板之絕緣檢查裝置中,上述施加電壓控制部亦可進而具有可設定電壓施加開始時至上述電壓上升完成時之時間之電壓上升時間設定部。
根據該實施形態,雖然有難以檢測出瞬間施加之電壓與瞬時發生之電火花之情形,但此種狀況下,可藉由改變電壓上升時間,而確實地檢測電火花之發生,可正確地進行基板之不良品之判定。
在本發明之印刷基板之絕緣檢查裝置中,上述電流增加檢測部亦可進而檢測電流增加上述特定之臨限值以上所需之時間,上述電火花判定部亦可在由上述電流增加檢測部檢測出電流增加上述特定之臨限值以上之情形下,於檢測出上述電流增加所需時間為預定之電流增加判定時間之範圍內者時,判定印刷基板為不良品。
本發明之絕緣檢查方法中,在檢測出流動於上述電路圖案間之電流值增加特定之臨限值以上之情形時,亦可進而檢測該電流值增加特定之臨限值以上所需之時間,且在檢測出該時間為預定之電流增加判定時間之範圍內時,判定印刷基板為不良品。
該情形時,上述電火花判定部亦可進而具有可改變上述電流增加判定時間之電流增加判定時間設定部。
本發明之絕緣檢查方法中亦可預先設定電壓施加開始時至上述電壓上升完成時之時間。
該實施形態中,除了電流增加之檢測以外,藉由在檢測出電流增加所需之時間為特定時間範圍內者時判定印刷基板為不良品,可防止因雜訊引起之誤判,且可正確進行基板之不良品之判定。
此外,在本發明之印刷基板之絕緣檢查方法中,在開始施加電壓且經過特定時間後,亦可開始對流動於上述電路圖案間之電流進行檢測。
即,因剛開始施加電壓後電性訊號會出現不穩定之狀態,故該實施形態中為防止誤判,係避開該時間而開始電流檢測。
根據本發明,由於不僅於電壓上升時可確實地檢測出電火花,並且於其後之電壓穩定時之電火花之發生亦可被確實地檢測,同時因應印刷基板之製造批次等設定該電火花檢測時間,故可確實地檢測電火花之發生,可提升檢查精度。
1‧‧‧印刷基板
2‧‧‧開關電路
3‧‧‧開關切換控制部
4‧‧‧可變電壓源
5‧‧‧施加電壓控制部
6‧‧‧電壓檢測部
7‧‧‧電流檢測部
8‧‧‧電壓上升完成檢測部
9‧‧‧電流增加檢測部
10‧‧‧時間設定部
11‧‧‧主控制裝置
12‧‧‧顯示裝置
13‧‧‧電壓計
14‧‧‧電流計
21‧‧‧CPU
22‧‧‧記憶體
23‧‧‧資料通訊部
25‧‧‧電火花判定部
26‧‧‧絕緣狀態判定部
31‧‧‧電壓上升時間設定部
32‧‧‧電流增加判定時間設定部
A0‧‧‧切換開關
A1‧‧‧切換開關
A2‧‧‧切換開關
A3‧‧‧切換開關
A4‧‧‧切換開關
B0‧‧‧切換開關
B1‧‧‧切換開關
B2‧‧‧切換開關
B3‧‧‧切換開關
B4‧‧‧切換開關
C1‧‧‧電路圖案
C2‧‧‧電路圖案
C3‧‧‧電路圖案
C4‧‧‧電路圖案
I‧‧‧電流
I1‧‧‧前回電流信号
I2‧‧‧今回電流信号
R‧‧‧電阻值
Rj‧‧‧判定電阻值
V‧‧‧電壓
Vi‧‧‧絕緣電阻檢測電壓
Vs‧‧‧電火花檢測電壓
圖1係顯示本發明之第1實施形態之印刷基板之絕緣檢查裝置之方塊圖。
圖2(a)、(b)係顯示本發明之實施形態中,施加電壓上升中發生電火花之情形下之電壓與流動於電路圖案間之電流之時間變化之電性特性圖。
圖3(a)、(b)係顯示本發明之實施形態中,施加電壓之上升完成後,發生電火花之情形之電壓與流動於電路圖案間之電流之時間變化之電性特性圖。
圖4係顯示本發明之第1實施形態之印刷基板之絕緣檢查方法之流程圖。
圖5係顯示本發明之第2實施形態之印刷基板之絕緣檢查裝置之方塊圖。
圖6係顯示本發明之第2實施形態之印刷基板之絕緣檢查方法之流程圖。
圖7係顯示本發明之第3實施形態之印刷基板之絕緣檢查裝置之方塊圖。
圖8係顯示本發明之第3實施形態之印刷基板之絕緣檢查方法之流程圖。
圖9係顯示本發明之第4實施形態之印刷基板之絕緣檢查方法之流程圖。
以下,一面參照圖式一面對本發明之實施形態加以說明。
參照圖1,第1實施形態之印刷基板之絕緣檢查裝置係對印刷基板1上之複數個電路圖案C1~C4間之組合進行絕緣檢查。該絕緣檢查裝置包含:開關電路2,其具備連接於各電路圖案C1~C4之複數個切換開關A0~A4,B0~B4;開關切換控制部3,其控制該開關電路2之各切換開關A0~A4,B0~B4之開閉;可變電壓源4,其經由開關電路2,對電路圖案C1~C4施加電壓;施加電壓控制部5;電壓檢測部6及電流檢測部7,該等係檢測由開關電路2與可變電壓源4成連接狀態之電路圖案間之電壓及電流;電壓上升完成檢測部8,其係於施加電壓後檢測出電壓上升完成;電流增加檢測部9,其係檢測電流值是否增加特定之臨限值以上;電火花檢測時間設定部10,其以下述方式設定電火花檢測時間;主控制裝置11;及顯示裝置12。
開關電路2包含:+側主切換開關A0,其連接於可變電壓源4之+側;-側主切換開關B0,其連接於可變電壓源4之-側。於+側主切換開關A0並列連接有連接於各電路圖案C1~C4之+側切換開關A1~A4。於- 側主切換開關B0並列連接有連接於各電路圖案C1~C4之-側切換開關B1~B4。
且,藉由開關切換控制部3,在圖1所示之4個電路圖案C1~C4之情形時,如表1所示,控制各切換開關A0~A4、B0~B4之開閉(導通/斷開)。表1中空欄表示斷開狀態。
如表1所示,首先於第一次檢查中,將電路圖案C1及電路圖案C2之各者之+側切換開關A1、A2設為連接狀態(導通),且將電路圖案C3及電路圖案C4之-側切換開關B3、B4設為連接狀態(導通)。此時,主切換開關A0、B0任意者皆為開放狀態(斷開)。接著,藉由按自-側主切換開關B0至+側主切換開關A0之順序設置連接狀態(導通),而將電壓施加於各電路圖案C1~C4。在該第一次檢查中,係分別檢查電路圖案C1與電路圖案C3之間、電路圖案C1與電路圖案C4之間、電路圖案C2與電路圖案C3之間、及電路圖案C2與電路圖案C4之間之絕緣狀態。
繼而,在第二次檢查中,藉由將電路圖案C1之+側切換開關A1設為連接狀態(導通),且將電路圖案C2之-側切換開關B2設為連接狀態(導通),藉此若將兩主切換開關A0、B0自-側依序設為連接狀態(導通),則檢查電路圖案C1與電路圖案C2之間之絕緣狀態。
在第三次檢查中,藉由將電路圖案C3之+側切換開關A3設為連接狀態(導通),且將電路圖案C4之-側切換開關B4設為連接狀態(導通),藉此同樣將兩主切換開關A0、B0自-側依序設為連接狀態(導通)時,檢查電路圖案C3與電路圖案C4之間之絕緣狀態。
藉由以上之各切換開關之操作,檢查由全4個電路圖案C1~C4之組合產生之絕緣狀態。
因施加電壓控制部5係控制可變電壓源4之施加電壓者,故具備可由操作者來改變其施加電壓之功能。
電壓檢測部6及電流檢測部7包含將來自電壓計13或電流計14之類比檢測訊號轉換成數位訊號之A/D轉換器,且基於其檢測訊號檢測電壓或電流。
電壓上升完成檢測部8係以特定週期將自電壓檢測部6輸出之電壓訊號取樣,且在該取樣之電壓訊號達到施加電壓控制部5所設定之規定電壓之情形時,檢測施加電壓之上升完成,且輸出上升完成訊號。
電流增加檢測部9係以特定週期將自電流檢測部7輸出之電流訊號取樣,且比較前次電流訊號與本次電流訊號,在電流值增加特定之臨限值以上之情形時輸出電流增加訊號。
主控制裝置11中,設置有CPU(central processing unit;中央處理單元)21、記憶體22、及用以與各部之間進行資料通訊之資料通訊部23等,且包含如下功能:電火花判定部25,其係判定在由電火花檢測時間設定部10所設定之電火花檢測時間內是否發生電火花;及絕緣狀態判定部26,其在電火花檢測後所進行之絕緣檢查中判定絕緣狀態。
電火花檢測時間設定部10係對電壓上升完成檢測部8檢測出電壓上升完成時之後所經過之規定時間加以設定者,且具有可藉由操作者改變規定時間之功能。電火花檢測時間係在開始施加電壓經過特定時間後開始,直至電壓上升完成時經過規定時間後結束之時間,且於該期間內藉由電流增加檢測部9檢測出電流增加特定臨限值以上。
若利用圖2及圖3對該電火花檢測時間進行說明,則電路圖案間之電火花係存在有如圖2所示之發生於施加電壓之上升中之情形、及 如圖3所示發生於施加電壓之上升完成後之情形。
在圖2及圖3中,時刻t0為電壓施加開始時,自該時刻t0經過特定時間後之時刻t1後開始進行電流檢測。該時刻t0至時刻t1之時間為電壓剛施加後之電性訊號不穩定之期間,為防止誤判而等待該時間經過後,再進行電流檢測。且,圖2中,因電壓上升中發生電火花,故發生電壓下降且電流值瞬間增加。
在圖2及圖3中,時刻t2表示電壓上升完成時。圖3中,於該時刻t2以後發生電火花,致使電壓下降與電流值之瞬間性增加。此外,時刻t3表示電流增加檢測結束時,將電壓上升完成時之時刻t2作為起點直至時刻t3之時間為上述規定時間。且,時刻t1至時刻t3之間為檢測電流增加之時間,亦即電火花檢測時間。上述之電火花檢測時間設定部10係設定電壓上升完成時至時刻t3之規定時間者,該時刻t3係以僅可於電壓上升完成時之時刻t2後予以設定,而無法設定達到時刻t2前之時刻之方式進行鎖定。
另,上述電流增加檢測部9係如圖2及圖3所示,以特定週期對取樣之前次電流訊號I1與本次電流訊號I2進行比較,且在該等差(I2-I1)增加特定之臨限值以上之情形時輸出電流增加訊號。
電火花判定部25係在電火花檢測時間內自電流增加檢測部9輸出電流增加訊號之情形時,判定為電火花發生。
絕緣狀態判定部26係基於來自電壓檢測部6及電流檢測部7之檢測訊號,算出絕緣電阻值,且該絕緣電阻值為預定之判定電阻值以下之情形時,判定為絕緣不良。
其次,藉由如上所示之構成之絕緣檢查裝置,關於進行印刷基板1之絕緣檢查之方法之第1實施形態,依據圖4之流程圖予以說明。
首先,藉由施加電壓控制部5設定應施加之電壓,且藉由電火花檢測時間設定部10設定電火花檢測時間(實際上為電壓上升完成時刻 t2至時刻t3之規定時間)(步驟S1)。
繼而,依據表1,將+側切換開關A1~A4中之1個以上設為導通(步驟S2),且將-側切換開關B1~B4中之1個以上設為導通(步驟S3)。
接著,在將-側主切換開關B0設為導通(步驟4)後,將+側主切換開關A0設為導通(步驟S5)。其後,待經過特定時間(t1-t0)(步驟S6)後,利用電流檢測部7開始進行電流檢測(步驟S7)。
以特定週期對由電流檢測部7輸出之電流訊號進行取樣,且在電流增加檢測部9中比較前次電流訊號與本次電流訊號,其結果判定是否檢測出電流值增加特定之臨限值以上(步驟S8)。在以步驟S8無法判定檢測出電流增加特定之臨限值以上之情形(否之情形)時,判定自電壓上升完成時之後是否已經過規定時間(即,是否經過電火花檢測時間)進行判定。自該電壓上升完成時之後是否經過規定時間係依據自電壓上升完成檢測部8中輸出上升完成訊號之後,是否經過電火花檢測時間設定部10所設定之規定時間而進行判定。且,在無法判定已經過規定時間之情形(步驟S9中否之情形)時,返回步驟S8,繼續對經過規定時間之前電流是否增加特定之臨限值以上進行檢測。於步驟S8中,根據來自電流增加檢測部9之電流增加訊號,而判定為檢測出電流增加特定之臨限值以上之情形時(是之情形),係作為檢測出電火花發生者,而將該印刷基板判定為不良品(步驟S10)。
若於步驟S9中判定為自電壓上升完成時之後已經過規定時間(是之情形),則藉由電壓檢測部6及電流檢測部7,檢測電壓V與流動於電路圖案間之電流i(步驟S11)。接著,由該等電壓V與電流i,藉由絕緣狀態判定部26算出電路圖案間之電阻值R(步驟S12),且比較算出之電阻值R與預先設定之判定電阻值Rj,並判定算出之電阻值R是否在判定電阻值Rj以上(步驟S13)。無法判定為算出之電阻值在判定電阻值Rj以上之情形時(步驟S13中為否之情形),將該電路圖案之組合記憶 為絕緣不良部位(步驟S14),且將全部切換開關A0~A4、B0~B4設為斷開(步驟S15)。於步驟S13中,判定為電阻值R在判定電阻值Rj以上之情形時(是之情形),因其電路圖案間之絕緣狀態良好,故進行至步驟S15。
在步驟S15將全部切換開關A0~A4、B0~B4設為斷開後,判定全部電路圖案之組合之檢查是否結束(步驟S16),在無法判定為結束之情形(否之情形)時,進行至步驟S2,並依據表1對後續電路圖案之組合實施與目前為止相同之檢查。
在步驟S16中判定全部電路圖案之組合之檢查結束之情形(是之情形)時,判定是否有所記憶之絕緣不良部位(步驟S17)。判定有絕緣不良部位之情形時(是之情形),將該基板判定為不良品(步驟S18),在無法判定有絕緣不良部位之情形時(否之情形),判定基板為良品(步驟S19)。
最後,將全部切換開關A0~A4、B0~B4設為斷開狀態(步驟S20),且結束檢查處理。
上述一連串絕緣檢查方法中,步驟S1之電火花檢測時間(實際上為電壓上升完成時刻t2後至時刻t3之規定時間)係因應檢查對象即印刷基板1之品種、及製造批次等,而設定適當之值。該情形時,如上所述,電壓上升完成時後之規定時間經過時刻t3係以僅可於電壓上升完成時刻t2以後之時間帶內予以設定,而無法於到達時刻t2前之時間帶內進行設定之方式加以設定。因此,作為電火花檢測時間,亦包含到達時刻t2之前之時間帶,當然亦可檢測圖2所示之電壓上升時之電火花發生,亦可確實地檢測圖3所示之電壓穩定時之電火花發生。
又,如專利文獻1記述之發明,在不降低電壓而檢測特定臨限值以上之電流增加,且檢測有無電火花發生之同時,於步驟S7前之期間內,將開關設為導通後,經過特定時間(t1-t0)後開始電流檢測。因 此,不會受到電壓剛施加後之電流不穩定狀態之影響,而可檢測出電火花發生。
如專利文獻1記述之發明,在檢測出因電壓下降而電火花發生之情形時,依據供給所施加電壓之電源性能,例如在定電壓電源等之情形下,因電火花所發生之電路圖案間之電壓下降之值較小,故無法檢測出電壓下降,且有無法確實檢測出電火花發生之可能性。又,自電壓施加開始後檢測電壓之情形時,若發生電壓剛施加後之電性訊號呈不穩定之狀態,則有錯誤地檢測出電壓下降,而成為誤判定之虞。
本實施形態中,因可避開電壓剛施加後之不穩定期,而自圖2及圖3所示之時刻t1以後檢測電流增加,故不會產生誤判定,且確實地檢測電火花發生。
圖5及圖6係顯示本發明之第2實施形態之方塊圖與流程圖,關於施加電壓,可將該電壓上升完成時之前之時間設定為任意時間。於施加電壓控制部5設置有可對電壓施加開始時至電壓上升完成時之時間進行設定之電壓上升時間設定部31。其他構成要件因與圖1之實施形態相同,故於圖5中附註與圖1相同之符號且省略說明。又,圖6中與圖4之流程圖共通之處理係附註相同符號並簡略化說明(圖7以下亦相同)。
首先,最初將施加電壓設定成0V,且設定電火花檢測時間,並設定作為目標之電壓上升時間(步驟S25)。接著,在執行與圖4所示之第1實施形態相同之步驟S2~步驟S5之處理後,由電壓值與電壓上升時間,算出每單位時間之電壓上升值(步驟S26),且開始依據該每單位時間之電壓上升值產生之電壓上升(步驟S27)。且,在執行與第1實施形態相同之步驟S6~步驟S8前之處理後,依據來自電壓上升完成檢測部8之上升完成訊號,而判定是否已經過設定之電壓上升時間(步驟S28)。在判定已經過電壓上升時間之情形(是之情形)時,停止電壓上 升(步驟S29),且執行步驟S9之處理。在步驟S28無法判定已經過電壓上升時間之情形(否之情形)時,進行至步驟S9之處理,之後進行與第1實施形態相同之處理。
該第2實施形態中,因可任意設定施加電壓開始時至上述電壓上升完成時之時間,故即使在難以檢測出瞬間賦予之施加電壓與電火花瞬時發生之情形,藉由適當設定電壓上升時間,亦可確實地檢測電火花之發生,可正確地進行基板之不良品之判定。
圖7及圖8係顯示本發明之第3實施形態之流程圖,第3實施形態係電火花發生不僅以特定臨限值以上之電流增加為要件,亦以該電流增加所需時間落在預定電流增加判定時間之範圍內作為要件之實施形態。該電流增加所需時間之檢測功能係由電流增加檢測部9所具備。 電流增加相關之判定時間之設定及該判定時間與實際電流增加所需時間之比較等之功能係由電火花判定部25所具備。電火花判定部25上設置有可因應印刷基板之批次等,將判定時間改變成適當時間之電流增加判定時間設定部32。且,於電流增加檢測部9,除電流增加訊號以外,亦輸出有電流增加所需之時間相關之訊號,於該電流增加時間落在電流增加判定時間之範圍內之情形時,於電火花判定部25中判定為發生電火花。其他構成要件與圖1之實施形態相同。
該第3實施形態中,最初對施加電壓加以設定,且設定電火花檢測時間,同時設定電流增加相關之判定時間(步驟S31)。接著,在實行與圖4所示之第1實施形態相同之步驟S2~S5前之處理後,於步驟S8中,將自電流檢測部7輸出之電流訊號以特定週期予以取樣,且判定電流值是否增加特定之臨限值以上。在判定為檢測電流增加之情形時(是之情形),進而判定該電流增加所需時間是否在電流增加判定時間之範圍內(步驟S32)。判定電流增加所需時間在判定時間之範圍內之情形(是之情形時),作為檢測電火花發生者,而將該印刷基板判定為 不良品(步驟S10)。
在步驟S32中無法判定電流增加所需時間落於判定時間之範圍內之情形時(否之情形),進行至步驟S9,且其後實施與圖4之第1實施形態相同之處理。
如此,除電流增加之檢測外,藉由在檢測出電流增加所需時間落在特定之判定時間範圍內時判定印刷基板為不良品,可防止雜訊引起之誤判,且可正確地進行基板之不良品之判定。
圖9係顯示本發明之第4實施形態之流程圖,其係以將用以進行電火花檢測之施加電壓、與用以算出絕緣電阻之施加電壓以不同值予以設定之實施形態。
本實施形態中,施加電壓控制部5將施加於電路圖案間之電壓設定成用以檢測電火花發生之電火花檢測電壓、與用以算出絕緣電阻之絕緣電阻檢測電壓之任一者。電火花檢測電壓係設定成與絕緣電阻檢測電壓相比較為高壓,例如,電火花檢測電壓設定為200V,絕緣電阻檢測電壓設定成100V。
首先,將施加電壓設定成電火花檢測電壓Vs,且設定電火花檢測時間(步驟S35)。接著,執行與圖4之第1實施形態相同之步驟S2至步驟S9之處理,藉此基於自電壓上升完成時至經過規定時間之期間之電流增加訊號,判定是否發生電火花(步驟S8及步驟S9)。其後,將所有切換開關設為斷開(步驟S36),且判定針對全部的電路圖案之組合之電火花檢測檢查是否結束(步驟S37)。在無法判定為全部檢查結束之情形時(否之情形),按表1之順序重複自步驟S2以後之處理。
接著,在步驟S37判定為全部檢查(電火花檢測檢查)皆已結束之情形(是之情形)時,將施加電壓設定成絕緣電阻檢測電壓Vi(步驟S38),且檢查各電路圖案間之絕緣狀態。
亦即,將-側主切換開關B0設為導通(步驟S39),且將+側主切換 開關A0設為導通(步驟S40),且依據表1,將+側切換開關A1~A4中之一個以上設為導通(步驟S41),並將-側切換開關B1~B4中之一個設為導通(步驟S42)。其次,執行根據與圖4之第1實施形態相同之步驟S11以後之電壓V及電流i算出電阻值R而進行絕緣狀態良否判定之處理。
該第4實施形態中,因分成電火花檢測電壓與絕緣電阻檢測電壓,故可因應各者之檢查,設定最適電壓。又,可將電火花檢測電壓設定成較絕緣電阻檢測電壓更為高壓,從而更確實地檢測電火花發生。
以上,雖對本發明之各實施形態進行說明,但本發明並未限定於該等實施形態者,亦可在未脫離本發明之主旨之範圍內,進行各種變更。
例如,各實施形態中,以步驟S13對電阻值R與判定電阻值Rj進行比較,在判定所算出之電阻值R並非判定電阻值Rj以上之情形時(否之情形),於步驟S14中記憶絕緣不良部位,在全部檢查結束後,若有所記憶之絕緣不良部位存在,則判定為不良品。然而,在步驟S13之判定結果為否之情形時,亦可判定為不良品,而不必執行處理直至全部檢查結束。
又,在電流增加檢測部9中,亦可改變對來自電流檢測部7之電流訊號進行取樣之間隔。藉此,藉由匹配雜訊狀態而設定檢測間隔,可確實地檢測電火花發生,且可更正確地進行不良品之判定。
此外,亦可適當地改變電壓施加開始時刻t0至電流檢測開始時刻t1之時間。藉此,即使電壓剛施加開始後之電性訊號之不穩定時間發生變化,亦可確實地檢測電火花發生,且可正確地進行基板之不良品之判定。
1‧‧‧印刷基板
2‧‧‧開關電路
3‧‧‧開關切換控制部
4‧‧‧可變電壓源
5‧‧‧施加電壓控制部
6‧‧‧電壓檢測部
7‧‧‧電流檢測部
8‧‧‧電壓上升完成檢測部
9‧‧‧電流增加檢測部
10‧‧‧時間設定部
11‧‧‧主控制裝置
12‧‧‧顯示裝置
13‧‧‧電壓計
14‧‧‧電流計
21‧‧‧CPU
22‧‧‧記憶體
23‧‧‧資料通訊部
25‧‧‧電火花判定部
26‧‧‧絕緣狀態判定部
A0‧‧‧切換開關
A1‧‧‧切換開關
A2‧‧‧切換開關
A3‧‧‧切換開關
A4‧‧‧切換開關
B0‧‧‧切換開關
B1‧‧‧切換開關
B2‧‧‧切換開關
B3‧‧‧切換開關
B4‧‧‧切換開關
C1‧‧‧電路圖案
C2‧‧‧電路圖案
C3‧‧‧電路圖案
C4‧‧‧電路圖案

Claims (10)

  1. 一種印刷基板之絕緣檢查裝置,其係於印刷基板之電路圖案間施加直流電壓,且基於根據施加之電壓值與流動於上述電路圖案間之電流值而算出之絕緣電阻值,判定上述電路圖案間之絕緣狀態之良否者,且其特徵在於包含:施加電壓控制部,其係控制施加電壓;電流增加檢測部,其係於自電壓施加開始後之電流檢測開始時刻至將電壓上升完成時作為起點經過規定時間後之時刻之電火花檢測時間內,檢測因發生於上述電路圖案間之電火花所引起且流動於上述電路圖案間之電流值是否增加特定之臨限值以上;電火花判定部,其係在由上述電流增加檢測部檢測出電流增加上述特定之臨限值以上之情形時,將上述印刷基板判定為不良品;及電火花檢測時間設定部,其可設定上述規定時間。
  2. 如請求項1之印刷基板之絕緣檢查裝置,其中上述施加電壓控制部係將上述施加電壓控制成用以求得上述絕緣電阻值之絕緣電阻檢測電壓或較上述絕緣電阻檢測電壓更高之電火花檢測電壓之任一者;判定上述絕緣狀態良否之絕緣狀態判定部係藉由上述電火花檢測時間經過後施加之上述絕緣電阻檢測電壓,算出上述電路圖案間之上述絕緣電阻值而判定絕緣狀態之良否;上述電流增加檢測部係檢測因於上述電火花檢測時間內所施加之上述電火花檢測電壓所致之電流增加。
  3. 如請求項1或2之印刷基板之絕緣檢查裝置,其中上述施加電壓控制部係進而包含設定自上述電壓施加開始時至上述電壓上升完成時之時間之電壓上升時間設定部。
  4. 如請求項1或2之印刷基板之絕緣檢查裝置,其中上述電流增加 檢測部進而檢測上述特定之臨限值以上之電流增加所需之時間,且上述電火花判定部在藉由上述電流增加檢測部檢測出電流增加上述特定之臨限值以上之情形下,於檢測上述電流增加所需時間為預定之電流增加判定時間之範圍內者時,判定印刷基板為不良品。
  5. 如請求項4之印刷基板之絕緣檢查裝置,其中上述電火花判定部進而包含可改變上述電流增加判定時間之電流增加判定時間設定部。
  6. 一種印刷基板之絕緣檢查方法,其係於印刷基板之電路圖案間施加直流電壓,且基於根據施加之電壓值與流動於上述電路圖案間之電流值而算出之絕緣電阻值,判定上述電路圖案間之絕緣狀態之良否者,且其特徵在於包含:預先設定自電壓施加開始後之電流檢測開始時刻至將電壓上升完成時作為起點經過規定時間之時刻之電火花檢測時間的步驟;在上述電火花檢測時間內,檢測流動於上述電路圖案間之電流值增加特定之臨限值以上的步驟;及在檢測出流動於上述電路圖案間之電流值增加上述特定之臨限值以上之情形時,判定上述印刷基板為不良品的步驟。
  7. 如請求項6之印刷基板之絕緣檢查方法,其中將上述施加電壓控制成用以求得上述絕緣電阻值之絕緣電阻檢測電壓或較上述絕緣電阻檢測電壓更高之電火花檢測電壓之任一者,且在上述電火花檢測時間內檢測因上述電火花檢測電壓所致之電流值增加特定臨限值以上之情形時,判定上述印刷基板為不良品。
  8. 如請求項6或7之印刷基板之絕緣檢查方法,其中預先設定上述電壓施加開始時至上述電壓上升完成時之時間。
  9. 如請求項6或7之印刷基板之絕緣檢查方法,其包含在檢測出流 動於上述電路圖案間之電流值增加上述特定之臨限值以上之情形時,進而檢測流動於上述電路圖案間之電流值增加上述特定之臨限值以上所需之時間的步驟,且在檢測出該時間為預定之電流增加判定時間之範圍內時,判定印刷基板為不良品。
  10. 如請求項9之印刷基板之絕緣檢查方法,其包含改變上述電流增加判定時間之步驟。
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