JP2021021689A - テストターミナル - Google Patents

Abstract

【課題】絶縁抵抗測定にかかる作業時間の短縮を図り、作業の正確性を確保すること。【解決手段】４つの接触子対１１１のうちの１つの接触子対１１１Ａにおける一次側端子１１１ａに接続された第１の接触子１１２ａ、および、接地がとられた接地線１０７に接続されて第１の接触子１１２ａに離間可能に接触する第２の接触子１１２ｂによって構成される接地用接触子対１１２を備えたテスト端子１１０と、テスト端子１１０に装着された状態で、４つの接触子対１１１をそれぞれ離間させて電気的な接続を開放する４つのプラグ接触子１２１と、接地用接触子対１１２を離間させて第１の接触子１１２ａと第２の接触子１１２ｂとの電気的な接続を開放する開放用プラグ接触子１２２とを備えたテストプラグ１２０と、を備えたテストターミナル１００を構成した。【選択図】図２

Description

この発明は、絶縁抵抗測定に適用されるテストターミナルに関する。

ＣＴ（Ｃｕｒｒｅｎｔ Ｔｒａｎｓｆｏｒｍｅｒ：変流器）を含むＣＴ回路やＰＴ（Ｐｏｔｅｎｔｉａｌ Ｔｒａｎｓｆｏｒｍｅｒ：計器用変圧器）を含むＰＴ回路など、高圧回路に使用される計器用変成器を含む回路は、保安上接地が必要である。ＣＴやＰＴは、ケーブルを介して建屋内の最初の端子台において接地される。ＣＴ回路やＰＴ回路は、ＣＴやＰＴと、建屋内の最初の端子台と、の間に構成される。

ＣＴやＰＴと建屋内の最初の端子台とを接続するケーブルは、６年などの所定期間ごとに絶縁抵抗測定を実施することによって健全性を確認している。絶縁抵抗測定に際しては、最初の端子台の接地を外して測定する必要がある。建屋内の最初の端子台には複数の接地線があるため、誤って対象とする接地線とは別の接地線を外して運転中の回線の保安接地を浮かしてしまうことがないように、絶縁抵抗測定の事前に図面を確認したり、現地において端子台を養生したり、電流を確認したり、該当すると推認した端子を少し緩めて抵抗値を確認したりすることによって誤認しないように作業をおこなっていた。

関連する技術として、具体的には、従来、たとえば、試験端子本体に接地線を接続し、試験端子用プラグに、取っ手部の操作に応じて接地の導通・非導通を切り替える接地切り替え手段を設けた試験端子に関する技術があった（たとえば、下記特許文献１を参照。）。

特開２０１１−２５７２４９号公報

しかしながら、上述した従来の技術は、ＣＴ回路やＰＴ回路の絶縁抵抗測定に際して接地線を外す際に、事前に図面で接地箇所を確認し、ＣＴ回路やＰＴ回路に電流・電圧がないかを確認した後に接地線を外して絶縁抵抗測定をおこない、接地線を復旧した後はＣＴ回路やＰＴ回路に接地があるかをテスターを用いて確認する必要があるため、作業に時間がかかるという問題があった。

盤内に配線されている電線にはそれぞれ線番号が記入されているものの、盤が設置されている環境は暗く、電線に記入された線番号を示す文字が小さいため、誤認により別の線を外してしまうおそれがあるという問題があった。

また、上述した特許文献１に記載された従来の技術は、試験端子用プラグに、取っ手部の操作に応じて接地の導通・非導通を切り替える機構を設けなくてはならず、構造が複雑になるという問題があった。

また、上述した特許文献１に記載された従来の技術は、大きさの限られた試験端子用プラグに設けることができる取っ手部の大きさには制限があることから、実装する取っ手部の大きさが小さくなり、操作性に劣るという問題があった。

この対策として、仮に、取っ手部の操作性を確保するために試験端子用プラグから取っ手部を大きく突出させると試験端子用プラグが大型化し、また、取っ手部のみが突出して試験端子用プラグの取り扱い性に劣るという問題があった。

この発明は、上述した従来技術による問題点を解消するため、絶縁抵抗測定にかかる作業時間の短縮を図り、作業の正確性を確保することができるテストターミナルを提供することを目的とする。

上述した課題を解決し、目的を達成するため、この発明にかかるテストターミナルは、計器用変成器よりも二次側に設けられて離間可能に接触する所定数の接触子対を備えたテスト端子と、当該テスト端子に対して取り外し可能に装着されるテストプラグと、を備えたテストターミナルであって、前記テスト端子が、前記所定数の接触子対のうちの１つの接触子対における一次側の接触子に接続された第１の接触子と、接地がとられた接地線に接続されて当該第１の接触子に離間可能に接触する第２の接触子と、によって構成される接地用接触子対を備え、前記テストプラグが、前記テスト端子に挿入された状態で、前記所定数の接触子対をそれぞれ離間させて電気的な接続を開放する所定数のプラグ接触子と、前記接地用接触子対を離間させて前記第１の接触子と前記第２の接触子との電気的な接続を開放する開放用プラグ接触子と、を備えた、ことを特徴とする。

この発明にかかるテストターミナルによれば、絶縁抵抗測定にかかる作業時間の短縮を図り、作業の正確性を確保することができるという効果を奏する。

この発明にかかる実施の形態のテストターミナルの構成を模式的に示す説明図（その１）である。 この発明にかかる実施の形態のテストターミナルの構成を模式的に示す説明図（その２）である。 従来のテスト端子の構成を示す説明図である。

以下に添付図面を参照して、この発明にかかるテストターミナルの好適な実施の形態を詳細に説明する。

（テストターミナルの構成）
まず、この発明にかかる実施の形態のテストターミナルの構成について説明する。この発明にかかる実施の形態においては、４極のテストターミナルへの適用例について説明する。図１および図２は、この発明にかかる実施の形態のテストターミナルの構成を模式的に示す説明図である。

図１および図２に示すように、この発明にかかる実施の形態のテストターミナル１００は、テスト端子１１０と、テストプラグ１２０と、を備えている。テスト端子１１０は、この発明にかかる計器用変成器を実現するＣＴ１０１よりも二次側に設けられる。具体的に、テスト端子１１０は、ＣＴ１０１よりも二次側に設けられた建屋内の最初の端子台１０２と、リレーなどを備えたリレー盤１０３と、の間に設けられる。

端子台１０２は、複数の端子１０２ａを備えており、ケーブル１０４を介してＣＴ１０１と接続されている。端子台１０２には、別のケーブル１０５を介してリレー盤１０３が接続されている。これにより、ＣＴ１０１とリレー盤１０３とは、端子台１０２が備える複数の端子１０２ａを介して電気的に接続されている。

テスト端子１１０は、所定数の接触子対１１１を備えている。具体的に、この実施の形態のテスト端子１１０は、テストターミナル１００の極数と同数の４つの接触子対１１１を備えている。各接触子対１１１は、それぞれ、ＣＴ１０１側に配置された一次側端子１１１ａと、リレー盤１０３側に配置された二次側端子１１１ｂと、を備えている。

各接触子対１１１における一次側端子１１１ａと二次側端子１１１ｂとは、接離可能に設けられており、圧縮スプリングなどの付勢部材によって互いに接触する方向に付勢されている。これにより、各接触子対１１１における一次側端子１１１ａと二次側端子１１１ｂとは、図１に示すように、テスト端子１１０にテストプラグ１２０が挿入されていない状態において接触し、電気的に接続されている。

テスト端子１１０は、さらに、接地用接触子対１１２を備えている。接地用接触子対１１２は、第１の接触子１１２ａと、第２の接触子１１２ｂと、によって構成される。第１の接触子１１２ａは、所定数の接触子対１１１のうちの１つの接触子対１１１（１１１Ａ）における一次側端子１１１ａに接続されている。第２の接触子１１２ｂは、接地端子１０６を介して接地がとられた接地線１０７に接続されている。

第１の接触子１１２ａと第２の接触子１１２ｂとは、接離可能に設けられており、圧縮スプリングなどの付勢部材によって互いに接触する方向に付勢されている。第１の接触子１１２ａと第２の接触子１１２ｂとは、図１に示すように、テスト端子１１０にテストプラグ１２０が挿入されていない状態において接触し、電気的に接続されている。

テストプラグ１２０は、テスト端子１１０に対して取り外し可能に装着される。図２に示すように、テストプラグ１２０は、テスト端子１１０に装着された状態で、４つの接触子対１１１における一次側端子１１１ａと二次側端子１１１ｂ、および、接地用接触子対１１２における第１の接触子１１２ａと第２の接触子１１２ｂ、をそれぞれ離間させる。

テストプラグ１２０は、所定数のプラグ接触子１２１と、開放用プラグ接触子１２２と、を備えている。具体的に、この実施の形態のテストプラグ１２０は、テストターミナル１００の極数と同数の４つのプラグ接触子１２１を備えている。各プラグ接触子１２１は、それぞれ、図２に示すように、テストプラグ１２０がテスト端子１１０に装着された状態で、一次側端子１１１ａに電気的に接続される一次側接続部材１２１ａと、二次側端子１１１ｂに電気的に接続される二次側接続部材１２１ｂと、を備えている。一次側接続部材１２１ａおよび二次側接続部材１２１ｂは、絶縁材料によって形成された基部１２３に支持されている。

各プラグ接触子１２１における一次側接続部材１２１ａおよび二次側接続部材１２１ｂが、それぞれ基部１２３に支持されているため、図２に示すように、テストプラグ１２０がテスト端子１１０に装着された状態では、各接触子対１１１における一次側端子１１１ａと二次側端子１１１ｂとの電気的な接続が開放される。

開放用プラグ接触子１２２は、図２に示すように、テストプラグ１２０がテスト端子１１０に装着された状態で、接地用接触子対１１２を離間させて第１の接触子１１２ａと第２の接触子１１２ｂとの電気的な接続を開放する。開放用プラグ接触子１２２は、たとえば、絶縁材料によって形成されている基部１２３における、第１の接触子１１２ａと第２の接触子１１２ｂとの間に位置づけられる部分によって実現することができる。

（従来のテスト端子の構成）
ここで、従来のテスト端子の構成について説明する。図３は、従来のテスト端子の構成を示す説明図である。図３に示す従来のテスト端子３１０において、図１および図２に示したテスト端子１１０と同一部分は同一符号で示し、説明を省略する。

図３に示すように、従来のテスト端子３１０は、図１および図２に示したテスト端子１１０と同様に４つの接触子対１１１を備え、図１および図２に示したテスト端子１１０と比較して開放用プラグ接触子１２２を備えていない点が異なる。従来のテスト端子３１０と接続されたＣＴ１０１は、建屋内の最初の端子台１０２において接地がとられている。

従来の絶縁抵抗測定に際しては、従来のテスト端子３１０に、従来のテストプラグを装着する。従来のテストプラグは、従来のテスト端子３１０に対して取り外し可能に装着される。従来のテストプラグは、図１および図２に示したテストプラグ１２０における開放用プラグ接触子１２２を備えておらず、４つのプラグ接触子１２１を備えている。

（従来の絶縁抵抗測定の作業手順）
つぎに、従来の絶縁抵抗測定の作業手順について説明する。従来の絶縁抵抗測定においては、図３に示した従来のテスト端子３１０が接続されたＣＴ１０１と、建屋内の最初の端子台１０２との間に形成されるＣＴ回路（図３において点線で囲んだ部分）の絶縁抵抗を測定する。従来の絶縁抵抗測定は、以下の（従１）〜（従１０）の手順でおこなう。

（従１）絶縁抵抗測定の現場での作業をおこなう前に、絶縁抵抗測定の対象となるＣＴ回路の図面を確認し、接地を外す箇所を事前調査する。接地を外す箇所は、端子台１０２においてＣＴ１０１の接地がとられている端子（接地端子１０６）である。
（従２）絶縁抵抗測定にかかる端子台１０２において、上記の事前調査により図面上で確認した接地端子１０６を特定し、特定した接地端子１０６以外の箇所に絶縁テープを貼り付ける。これにより、接地端子１０６の誤認を防止するとともに、特定した接地端子１０６以外の箇所にドライバーなどの工具が接触することを防止する。
（従３）ＣＴ回路を構成するケーブル１０４の電流をクランプメーターを用いて測定する。電流が検出されないことをもって、停電中であることを確認する。
（従４）該当する従来のテスト端子３１０に、従来のテストプラグを挿入する。
（従５）従来のテストプラグにテスターを接続し、絶縁抵抗測定にかかるＣＴ回路と接地との抵抗値を確認しながら、１人目の作業者が接地端子１０６を緩め、２人目の作業者が抵抗値に変化があることを確認する。変化があることを確認することによって、外す対象としている接地端子１０６であることを確認する。
（従６）接地端子１０６を完全に切り離して、テスターを用いてケーブル１０４の抵抗値が無限大であることを確認する。これにより、接地が外れた状態で絶縁抵抗測定が可能であるかを確認する。
（従７）従来のテストプラグにテスターを接続してケーブル１０４の絶縁抵抗を測定する。ケーブル１０４の絶縁抵抗の測定は、絶縁抵抗測定にかかるＣＴ回路におけるすべてのケーブル１０４についておこなう。
（従８）１人目の作業者が従来のテストプラグにおいて抵抗値を測定しながら、２人目の作業者が接地端子１０６を接続し、従来のテストプラグにおいて測定される抵抗値が０オームであることを確認する。これにより、ＣＴ回路に接地が戻ったことを確認する。
（従９）プラグを引き抜く。
（従１０）端子台１０２に貼り付けた絶縁テープを取り外して、端子台１０２を復旧させる。

（テストターミナル１００を用いた絶縁抵抗測定の作業手順）
つぎに、この発明にかかる実施の形態のテストターミナル１００を用いた絶縁抵抗測定の作業手順について説明する。この発明にかかる実施の形態のテストターミナル１００を用いた絶縁抵抗測定においては、図１および図２に示したＣＴ１０１と、建屋内の最初の端子台１０２との間に形成されるＣＴ回路（図１および図２において点線で囲んだ部分）の絶縁抵抗を測定する。この発明にかかる実施の形態のテストターミナル１００を用いた絶縁抵抗測定は、以下の（１）〜（３）の手順でおこなう。

（１）該当するテスト端子１１０に、テストプラグ１２０を挿入する。
（２）テストプラグ１２０にテスターを接続してケーブル１０４の絶縁抵抗を測定する。ケーブル１０４の絶縁抵抗の測定は、絶縁抵抗測定にかかるＣＴ回路におけるすべてのケーブル１０４についておこなう。
（３）プラグを引き抜いて、端子台１０２を復旧させる。

このように、この発明にかかる実施の形態のテストターミナル１００を用いることにより、上述した従来の絶縁抵抗測定における事前の図面確認や、回路確認のための電流や抵抗値の測定、および、接地外れや接地復旧の確認のためのテスターを用いた抵抗値の測定が不要となり、（従４）、（従７）、（従９）の作業のみをおこなうだけで絶縁抵抗測定をおこなうことができる。すなわち、この発明にかかる実施の形態のテストターミナル１００を用いることにより、上述した従来の絶縁抵抗測定における（従１）〜（従３）、（従５）、（従６）、（従８）、（従１０）の作業を省略して絶縁抵抗測定をおこなうことができる。これにより、絶縁抵抗測定に際しての作業時間の短縮を図り、作業者にかかる負担軽減を図ることができる。

また、この発明にかかる実施の形態のテストターミナル１００を用いることにより、絶縁抵抗測定に際して接地を外すＣＴ回路を間違うことがない。これにより、絶縁抵抗測定にかかる作業の正確性の向上を図ることができる。また、この発明にかかる実施の形態のテストターミナル１００を用いることにより、間違って他の回線の接地を浮かすなどのおそれがなくなるため、絶縁抵抗測定にかかる作業の正確性の向上を図るとともに、作業者にかかる負担軽減を図ることができる。

上述した実施の形態においては、ＣＴ１０１を計器用変成器とするＣＴ回路の絶縁抵抗測定に用いられるテストターミナル１００への適用例について説明したが、これに限るものではなく、ＰＴを計器用変成器とするＰＴ回路の絶縁抵抗測定に用いられるテストターミナルに適用してもよい。

以上説明したように、この発明にかかる実施の形態のテストターミナル１００は、ＣＴ１０１よりも二次側に設けられて離間可能に接触する４つの接触子対１１１を備えたテスト端子１１０と、テスト端子１１０に対して取り外し可能に装着されるテストプラグ１２０と、を備えている。テスト端子１１０は、４つの接触子対１１１のうちの１つの接触子対１１１Ａにおける一次側端子１１１ａに接続された第１の接触子１１２ａと、接地がとられた接地線１０７に接続されて第１の接触子１１２ａに離間可能に接触する第２の接触子１１２ｂと、によって構成される接地用接触子対１１２を備えている。テストプラグ１２０は、テスト端子１１０に挿入された状態で、４つの接触子対１１１をそれぞれ離間させて電気的な接続を開放する４つのプラグ接触子１２１と、接地用接触子対１１２を離間させて第１の接触子１１２ａと第２の接触子１１２ｂとの電気的な接続を開放する開放用プラグ接触子１２２と、を備えている。

この発明にかかる実施の形態のテストターミナル１００によれば、テスト端子１１０にテストプラグ１２０を挿入することにより、開放用プラグ接触子１２２によって第１の接触子１１２ａと第２の接触子１１２ｂとを離間させ、第１の接触子１１２ａと第２の接触子１１２ｂとの電気的な接続を開放することができる。

これにより、ＣＴ回路やＰＴ回路などの計器用変成器にかかる回路の絶縁抵抗測定に際して、テスト端子１１０にテストプラグ１２０を挿入するだけで、事前に図面で接地箇所を確認したり、絶縁抵抗測定の対象とする回路に電流・電圧がないかを確認したり、盤内に配線されている電線に記入された線番号を確認したりすることなく、絶縁抵抗測定の対象とする回路にかかる接地を容易かつ確実に外すことができ、誤認により、絶縁抵抗測定の対象とする回路にかかる接地以外の別の接地を誤って外すことを確実に防止できる。また、接地を外して絶縁抵抗測定をおこなった後は、テスト端子１１０からテストプラグ１２０を引き抜くだけで、容易に接地を復旧することができる。このように、絶縁抵抗測定にかかる作業時間の短縮を図り、作業の正確性を確保することができる。

以上のように、この発明にかかるテストターミナルは、絶縁抵抗測定に適用されるテストターミナルに有用であり、特に、ＣＴ回路やＰＴ回路などの接地をともなう高圧回路の絶縁抵抗測定に適用されるテストターミナルに適している。

１００ テストターミナル
１０１ ＣＴ
１０２ 端子台
１０２ａ 端子
１０３ リレー盤
１０４ ケーブル
１０６ 接地端子
１０７ 接地線
１１０ テスト端子
１１１ 接触子対
１１１ａ 一次側端子
１１１ｂ 二次側端子
１１２ 接地用接触子対
１１２ａ 第１の接触子
１１２ｂ 第２の接触子
１２０ テストプラグ
１２１ プラグ接触子
１２１ａ 一次側接続部材
１２１ｂ 二次側接続部材
１２２ 開放用プラグ接触子
１２３ 基部

Claims (1)

1. 計器用変成器よりも二次側に設けられて離間可能に接触する所定数の接触子対を備えたテスト端子と、当該テスト端子に対して取り外し可能に装着されるテストプラグと、を備えたテストターミナルであって、
   前記テスト端子は、
   前記所定数の接触子対のうちの１つの接触子対における一次側の接触子に接続された第１の接触子と、接地がとられた接地線に接続されて当該第１の接触子に離間可能に接触する第２の接触子と、によって構成される接地用接触子対を備え、
   前記テストプラグは、
   前記テスト端子に挿入された状態で、前記所定数の接触子対をそれぞれ離間させて電気的な接続を開放する所定数のプラグ接触子と、前記接地用接触子対を離間させて前記第１の接触子と前記第２の接触子との電気的な接続を開放する開放用プラグ接触子と、を備えた、
   ことを特徴とするテストターミナル。

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