JP2010220310A - テストプラグ用接続ケーブル及びテストプラグの短絡構造 - Google Patents

テストプラグ用接続ケーブル及びテストプラグの短絡構造 Download PDF

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秀士 泉広
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和男 高橋
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Abstract

【課題】容易かつ迅速に電流測定を行うことができると共に、点検が容易で信頼性の高いテストプラグ用接続ケーブル及びテストプラグの短絡構造を提供すること。
【解決手段】接続ケーブル71は、導線を絶縁部材によって被覆して形成されたケーブル部72と、ケーブル部72の一端に固定されテストプラグ3の活線側接続部321に取り付けられる第1端子73と、ケーブル部72の他端に固定されテストプラグ3の非活線側接続部322に取り付けられる第2端子74と、を備える。ケーブル部72と第1端子73との固定部71d近傍及び第2端子74との固定部71d近傍には、導線が露出した露出部71cが形成される。ケーブル部72の両端部にはカール部71a,71aを備えると共に、中間部には非カール部71bを備え、非カール部71bをクランプ電流計7のクランプ部7aでクランプするようにした。
【選択図】図2

Description

本発明は、CT(Current Transformers)クランプによる電流測定を行う際に使用されるテストプラグ用接続ケーブル及びテストプラグの短絡構造に関する。
遠制装置や保護継電器等の配電盤には、機器点検時に試験器(例えば、CTクランプによる電流測定を行うクランプ電流計)と接続するためのテスト端子が設けられている。このテスト端子は、電源側装置に電気的に接続される電源側導体と、計器類等の負荷側装置に電気的に接続される負荷側導体とを備え、通常時は電気的に接続された状態となっている。
一方、試験時には、テスト端子にはテストプラグのプラグ部が挿入されて電源側導体と負荷側導体との電気的接続が分離される。また、上記負荷側導体は、上記電源側装置の拘束を受けない状態でテストプラグの接続用端子となる接続プラグを介して、配線により試験器等と接続される。そして、試験後には、テストプラグをテスト端子から外すことにより電源側導体と負荷側導体とが再び電気的に接続される。
例えば、クランプ電流計を用いて電流測定を行う場合、上記接続プラグの所定の接続部同士を、テストプラグ用接続ケーブル(以下、適宜、接続ケーブルと称する)によって接続して短絡させ、この接続ケーブルに流れる電流を測定している。
上記接続ケーブルとして、導線(例えば、銅線)を絶縁部材(例えば、ビニール等)によって被覆したものが使用される場合がある。接続ケーブルは、両端部の絶縁部材を所定量除去して銅線を露出させ、撚り銅線をU字状に曲げて構成される。そして、U字状に曲げた撚り銅線を上記接続プラグの接続部に引っ掛け、接続プラグに備え付けられた固定用のねじで締め付けることにより固定される。
また、上記接続ケーブルの両端部に、上記接続プラグの接続部に係止するための金属製の端子が固定されたものもある。このような端子と導線とは、半田付けや圧着等によって固定されていることが多く、その固定部は感電事故等を防止するために絶縁被覆されているのが通常である。
なお、上記接続ケーブルを用いた試験作業中には、テスト端子の電源側導体と接続されているテストプラグにおいて、試験器等との接続用端子部分にビニールテープや絶縁シート等を用いた絶縁処理を施したり、絶縁カバーを用いることにより作業者の安全性や試験器等の損傷を防ぐ絶縁処理を施したりしていた(例えば、特許文献1)。
実用新案登録第3081845号公報
しかしながら、上記従来技術に係る接続ケーブルにあっては、撚り銅線をU字状に形成して上記接続プラグの接続部に引っ掛け、接続プラグに備え付けられた固定用のねじで締め付けることにより固定していたので、固定作業に時間がかかり、容易かつ迅速に作業できないという課題があった。
また、導線を絶縁部材によって被覆して形成された接続ケーブルは、可撓性を有しており、変形自在で扱い易いという利点がある反面、ケーブルの各部に応力がかかり易く、特に、端子と導線との固定部には応力が集中し易いため、当該固定部に亀裂が生じたり、切断され易いという問題があった。
そして、上記端子と導線との固定部は、絶縁被覆されているため、被覆内部での亀裂や破断等の不具合を目視によって確認することは困難であった。
このように、容易かつ迅速に電流測定を行うことができると共に、点検が容易で信頼性の高い接続ケーブル及びこれを用いたテストプラグの短絡構造の提供が望まれていた。
本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、容易かつ迅速に電流測定を行うことができると共に、点検が容易で信頼性の高いテストプラグ用接続ケーブルを提供することを目的とする。
また、本発明は、容易かつ迅速に電流測定を行うことができると共に、点検が容易で信頼性の高いテストプラグの短絡構造を提供することを目的とする。
上記目的を達成するため、本発明は、以下のようなテストプラグ用接続ケーブル及びテストプラグの短絡構造を提供する。
(1) 導線を絶縁部材によって被覆して形成されたケーブル部と、前記ケーブル部の一端に固定される第1端子と、前記ケーブル部の他端に固定される第2端子と、を備え、前記ケーブル部と前記第1端子との固定部近傍及び前記第2端子との固定部近傍には、それぞれ、前記導線が露出した露出部が形成されていることを特徴とする。
(1)の発明によれば、ケーブル部と第1端子との固定部近傍及び第2端子との固定部近傍が露出部として形成されているので、露出部が破断した場合には、第1端子又は第2端子がケーブル部から脱落する。このため作業者は、テストプラグ用接続ケーブルが破損していることを容易に認識できる。また、露出部に亀裂が生じたり、露出部が破断寸前の状態になっていることを容易に目視点検により発見でき、テストプラグ用接続ケーブルの使用を即座に中止することができる。
したがって、(1)の発明によれば、点検が容易で信頼性の高いテストプラグ用接続ケーブルを提供することができる。
また、(1)の発明によれば、第1端子及び第2端子を備えているので、従来のような撚り銅線をU字状に形成してテストプラグの接続プラグ部に引っ掛ける等の固定作業が不要であり、容易かつ迅速に短絡作業を行うことができる。
(2) (1)の発明においては、前記ケーブル部の一端側及び他端側は、当該ケーブル部が螺旋状に巻回されて形成されたカール部を有することが好ましい。
(2)の発明によれば、カール部を備えているので、テストプラグ用接続ケーブルが使用されているときにカール部が適宜伸縮することで、露出部に外力(応力)が集中しにくくなる。したがって、露出部に亀裂が生じたり、破断したりするのを抑制することができ、テストプラグ用接続ケーブルの信頼性を向上することができる。
(3) それぞれが電源側装置に接続される複数の電源側導体と、それぞれが負荷側装置に接続される複数の負荷側導体と、前記複数の電源側導体と前記複数の負荷側導体とが常時接続状態である複数のテスト端子を有するテスト端子口に差し込まれ、絶縁材料で形成されたテストプラグ本体と、前記テストプラグ本体の一方側に突出し、それぞれが各電源側導体に接続される複数の活線側導体と、それぞれが各負荷側導体に接続される複数の非活線側導体と、絶縁材料で形成された絶縁支持体であって当該絶縁支持体の一方側及び他方側の面にそれぞれ前記複数の活線側導体及び前記複数の非活線側導体が配置される絶縁支持体とを有する前記テスト端子口に挿入されるプラグ部と、前記テストプラグ本体の他方側に突出し、前記活線側導体と導通する活線側接続部と、前記非活線側導体と導通する非活線側接続部とを有し、外部回路に接続可能な複数の接続プラグ部と、を有するテストプラグと、導線を絶縁部材によって被覆して形成されたケーブル部と、前記ケーブル部の一端に固定され前記テストプラグの前記活線側接続部に取り付けられる第1端子と、前記ケーブル部の他端に固定され前記テストプラグの前記非活線側接続部に取り付けられる第2端子と、を有し、前記ケーブル部と前記第1端子との固定部近傍及び前記第2端子との固定部近傍に、それぞれ、前記導線が露出した露出部が形成されているテストプラグ用接続ケーブルと、を備え、前記第1端子が前記活線側接続部に接続され、前記第2端子が前記非活線側接続部に接続されることにより当該活線側接続部と当該非活線側接続部とが短絡されることを特徴とする。
(3)の発明によれば、ケーブル部と第1端子との固定部近傍及び第2端子との固定部近傍が露出部として形成されているので、露出部が破断した場合には、第1端子又は第2端子がケーブル部から脱落する。このため作業者は、テストプラグ用接続ケーブルが破損していることを容易に認識できる。また、露出部に亀裂が生じたり、露出部が破断寸前の状態になっていることを容易に目視点検により発見でき、テストプラグ用接続ケーブルの使用を即座に中止することができる。したがって、点検が容易で信頼性の高いテストプラグの短絡構造を提供することができる。
また、(3)の発明によれば、テストプラグ用接続ケーブルが第1端子及び第2端子を備えているので、従来のような撚り銅線をU字状に形成して接続プラグに引っ掛ける等の固定作業が不要であり、容易かつ迅速にテストプラグの活線側接続部及び非活線側接続部の短絡作業を行うことができる。したがって、容易かつ迅速に電流測定作業を行うことができるテストプラグの短絡構造を提供することができる。
(4) (3)の発明においては、更に、絶縁性を有し、前記テストプラグの前記接続プラグ部及び前記テストプラグ用接続ケーブルの前記露出部を覆うテストプラグ用保護カバーを備えることが好ましい。
(4)の発明によれば、テストプラグの接続プラグ部及びテストプラグ用接続ケーブルの露出部が絶縁されるので、作業者の感電等を防止することができる。
(5) (3)の発明においては、更に、絶縁性を有し、前記テストプラグの前記複数の接続プラグ部の間を仕切るテストプラグ用仕切カバーを備えることが好ましい。
(5)の発明によれば、テストプラグの接続プラグ部は、隣接する接続プラグ部から絶縁されるので、作業者の感電等を防止することができる。
本発明によれば、容易かつ迅速に電流測定を行うことができると共に、点検が容易で信頼性の高いテストプラグ用接続ケーブルを提供することができる。
また、本発明によれば、容易かつ迅速に電流測定を行うことができると共に、点検が容易で信頼性の高いテストプラグの短絡構造を提供することができる。
第1実施形態に係る接続ケーブルを示す正面図である。 接続ケーブルによって短絡されたテストプラグをテスト端子に接続する前の状態を示す斜視図である。 接続ケーブルによって短絡されたテストプラグをテスト端子に接続する前の状態を示す断面図である。 接続ケーブルによって短絡されたテストプラグをテスト端子に接続した状態を示す斜視図である。 接続ケーブルを用いてクランプ電流計で電流を測定している状態を示す断面図である。 第2実施形態に係るテストプラグをテスト端子に接続する前の状態を示す斜視図である。 テストプラグをテスト端子に接続する前の状態を示す断面図である。 接続ケーブルによって短絡されたテストプラグをテスト端子に接続した状態を示す斜視図である。 接続ケーブルを用いてクランプ電流計で電流を測定している状態を示す断面図である。
以下に、本発明の実施形態を図面に基づいて詳細に説明する。なお、この実施形態により本発明が限定されるものではない。
〔第1実施形態〕
図1は、第1実施形態に係る接続ケーブルを示す正面図である。図2は、接続ケーブルによって短絡されたテストプラグをテスト端子に接続する前の状態を示す斜視図である。図3は、接続ケーブルによって短絡されたテストプラグをテスト端子に接続する前の状態を示す断面図である。図4は、接続ケーブルによって短絡されたテストプラグをテスト端子に接続した状態を示す斜視図である。図5は、接続ケーブルを用いてクランプ電流計で電流を測定している状態を示す断面図である。
<概要>
先ず、後述する接続ケーブル71が適用されるテストプラグ3やテスト端子2等の概要を説明する。
後述する接続ケーブル71は、図2及び図3に示すように、配電盤1(図3参照)のテスト端子口10にテストプラグ3が接続(挿入)される前の状態、図4及び図5に示すように、配電盤1のテスト端子口10にテストプラグ3が接続されている状態、更に図2及び図3に示すように、テストプラグ3がテスト端子口10から抜かれた状態になるまで使用される。
つまり、テストプラグ3のテストプラグ本体30に設けられたプラグ部31が、テスト端子口10から差し込まれ、プラグ部31における後述の活線側導体33a,33b,33c,33dと非活線側導体34a,34b,34c,34dとが、テスト端子2a,2b,2c,2dにそれぞれ接続された状態で使用される。
また、テストプラグ本体30のプラグ部31と反対側の面(他方の面30b)には、接続プラグ(接続プラグ部)32a,32b,32c,32dが設けられている。なお、活線側導体、非活線側導体、テスト端子、及び接続プラグが設けられている数は、それぞれ2以上となっているが、これらは、全て同一の構成である。以下においては、代表とする一の構成を詳述し、他の同一構成の部分については、図面及び説明を省略する。
<接続ケーブルの説明>
接続ケーブル71について図1及び図2を参照して説明する。
図1及び図2に示すように、接続ケーブル71は、後述するテストプラグ3の活線側接続部321及び非活線側接続部322(図2参照)に接続されるものである。接続ケーブル71は、ケーブル部72と、ケーブル部72の両端にそれぞれ固定された第1端子73及び第2端子74と、を備える。
ケーブル部72は、導線(例えば、銅線)を絶縁部材(例えば、ビニール等)によって被覆して形成されている。ケーブル部72は、可撓性を備えており、柔軟であることが好ましい。
ケーブル部72の一端側及び他端側には、当該ケーブル部72が螺旋状に巻回されて形成された伸縮自在なカール部71a,71aを有する。カール部71a,71aは、電気的抵抗を少なくするために疎に巻かれていることが好ましい。なお、カール部71a,71aの巻き数や巻き径は、テストプラグ3の大きさ等に応じて適宜設定すればよい。
また、ケーブル部72のカール部71a,71aの間には、ケーブル部72を螺旋状に巻回されていない非カール部71bを備える。この非カール部71bは、後述するクランプ電流計7のクランプ部7aによってクランプされる部分である。クランプ部7aの大きさは、使用するクランプ電流計7によって異なる。したがって、非カール部71bは、種々の大きさのクランプ部7aに対応できる長さに設定されていることが好ましい。
第1端子73は、ケーブル部72の一端に固定された略U字状の金属板であり、テストプラグ3の活線側接続部321(図2〜図5では、非活線側接続部321bを例示する)に取り付けられるものである。第1端子73は、活線側接続部321と係合する係合溝部73aを有する。
第2端子74は、ケーブル部72の他端に固定された略U字状の金属板であり、テストプラグ3の非活線側接続部322(図2〜図5では、非活線側接続部322bを例示する)に取り付けられるものである。第2端子74は、非活線側接続部322と係合する係合溝部74aを有する。
なお、第1端子73及び第2端子74の大きさは、活線側接続部321及び非活線側接続部322の径に対応させて異なっているが、活線側接続部321及び非活線側接続部322の径に応じて適宜変更可能である。
ケーブル部72と第1端子73との固定部71dの近傍及び第2端子74との固定部71dの近傍には、それぞれ、上記導線が露出した露出部71cが形成されている。
<テスト端子の説明>
次に、テスト端子2(以下、図3及び図5では、テスト端子2bとして例示する)の構成について図3〜図5を参照して説明する。
テスト端子2は、図3〜図5に示すように、接続ケーブル71が取り付けられたテストプラグ3が差し込まれるようになっている。
図3〜図5に示すように、テスト端子2は、絶縁性材料で形成されるフランジ21及びテスト端子側筐体22を備える。テスト端子2bは、テスト端子2の内部に電源側装置8に接続する電源側導体11と負荷側装置9に接続する負荷側導体12とを有する。
電源側導体11は、電源側装置8に接続する電源側一次接続部111と、テストプラグ3のプラグ部31における対応接続部に接続する電源側二次接続部112とで構成される。また、負荷側導体12は、負荷側装置9に接続する負荷側一次接続部121とテストプラグ3のプラグ部31における対応接続部に接続する負荷側二次接続部122とで構成される。
電源側二次接続部112は、そのテスト端子口10側とは反対側の端部113が第1ターミナル23に接続され、負荷側二次接続部122は、そのテスト端子口10側とは反対側の端部123が第2ターミナル24に接続される。電源側二次接続部112及び負荷側二次接続部122は、バネ部材25,25によりそれぞれ付勢されている。
このため、図3に示すように、テストプラグ3のプラグ部31が挿入されていない場合には、端部113は第1ターミナル23に、端部123は第2ターミナル24にそれぞれ互いに接触して電気的に接続される。すなわち、通常の使用状態においては、電源側装置8と負荷側装置9とは、テスト端子2を介して互いに接続された状態となっている。
<テストプラグの説明>
次に、テストプラグ3の構成について図2〜図5を参照して説明する。
テストプラグ3は、図2〜図5に示すように、上記テスト端子2に差し込まれるように構成されている。
図2〜図5に示すように、テストプラグ3は、絶縁性材料で形成されるテストプラグ本体30と、テストプラグ本体30の一方の面30aに突出し、テスト端子口10からテスト端子2に挿入されるプラグ部31と、テストプラグ本体30の他方の面30bに突出し、外部回路となるクランプ電流計7に接続される接続プラグ32と、により構成される。
プラグ部31は、テストプラグ本体30の一方の面30aに突出して形成される。プラグ部31は、プラグ部31がテスト端子2に挿入された場合に、電源側二次接続部112に接触して電気的に接続される活線側導体33と、負荷側二次接続部122に接触して電気的に接続される非活線側導体34と、活線側導体33と非活線側導体34との間に配置され、各接続部を絶縁する絶縁支持体311とで構成される。
また、テストプラグ本体30の他方の面30bには、接続プラグ32を備える。接続プラグ32は、活線側導体33と電気的に接続された活線側接続部321と、非活線側導体34と電気的に接続された非活線側接続部322と、活線側接続部321と非活線側接続部322とを電気的に分離する絶縁材料で形成された絶縁部323と、で形成される。
具体的には、活線側導体33における接続プラグ32側の端部は、ねじが形成された棒状の部材であり、そのテストプラグ本体30の他方の面30bに突出した先端部に活線側ナット324(図2参照)が螺合される。活線側ナット324を回転させることにより、活線側導体33の先端部が露出され、その露出された部分が活線側接続部321となる。
非活線側導体34における接続プラグ32側の端部は、外周にねじが形成された管状の部材で形成され、その外周を非活線側ナット325が螺合されている。非活線側ナット325を回転させることにより、非活線側導体34の先端部が露出され、その露出された部分が非活線側接続部322となる。
活線側導体33及び非活線側導体34の接続プラグ32側端部は、棒状の部材で形成された活線側導体33の外周に絶縁部323が覆うように配置され、絶縁部323の外周に管状の部材で形成された非活線側導体34が覆うように配置される。
つまり、接続プラグ32は、棒状の活線側導体33を中心として、筒状の絶縁部323と非活線側導体34とが左記の順に略同心円状に配置され、更に活線側ナット324及び非活線側ナット325がそれぞれ活線側導体33と非活線側導体34の端部に螺合されて形成される。
以上のように構成されたテストプラグ3の活線側接続部321及び非活線側接続部322に、上記接続ケーブル71の第1端子73及び第2端子74を接続することにより、テストプラグ3の短絡構造が構成される。また、このテストプラグ3の短絡構造は、後述するテストプラグ用保護カバー50を備える。
<テストプラグ用保護カバーの説明>
次に、テストプラグ用保護カバー50について図2及び図4等を参照して説明する。
図2及び図4に示すように、テストプラグ用保護カバー50は、絶縁体被覆部51とキャップ部52とスカート部55とを備える。なお、テストプラグ用保護カバー50は、絶縁体被覆部51は必須の構成部材であるが、キャップ部52とスカート部55とは、任意の構成部材である。
絶縁体被覆部51は筒形状を有し、その内周面は、接続プラグ32の活線側導体33と非活線側導体34を収容する内部空間を形成する。絶縁体被覆部51は、絶縁体被覆部51の一方の端部から絶縁体被覆部51の軸線方向に伸びるスリット53を有する。
スリット53の長さは、活線側接続部321に取り付けた接続ケーブル71のケーブル部72を、絶縁体被覆部51の外に引き出すことができるように、テストプラグ本体30の他方の面30bと活線側接続部321との間の距離と略等しいことが好ましい。
テストプラグ用保護カバー50は、更に、スリット53を覆うように、スリット53の近傍に形成された絶縁性を有する弾性体のスリット覆部54を備える。そして、このスリット覆部54は、接続ケーブル71の露出部71cを確実に覆うことができるように設けられている。
テストプラグ用保護カバー50は、更に、絶縁体被覆部51の端部に形成された絶縁性を有する弾性体のキャップ部52を備えている。キャップ部52は、絶縁体被覆部51においてスリット53が開放している側の端部と反対側の端部に形成されている。つまり、スリット53は一方が開放している形状を有している。
キャップ部52は、絶縁体被覆部51よりも、若干硬い弾性体で形成されていることが好ましい。また、キャップ部52の表面には、作業者が持ち易いように、小さな複数の凹凸が形成された滑り止めが施されていることが好ましい。
テストプラグ用保護カバー50は、更に、絶縁体被覆部51においてスリット53が開放している側の端部にラッパ状に形成された絶縁性を有する弾性体のスカート部55を備える。スカート部55は、絶縁体被覆部51よりも柔らかい弾性体で形成さていることが好ましい。
これにより、絶縁体被覆部51は、スカート部55がテストプラグ本体30の他方の面30bに密着するように、かつ、絶縁体被覆部51が接続プラグ32の活線側導体33と非活線側導体34とを被覆するように、接続プラグ32に装着することができる。
<クランプ電流計の説明>
次に、クランプ電流計7について説明する。
図5に示すように、クランプ電流計7は、接続ケーブル71を流れる電流を測定するものである。クランプ電流計7は、開閉可能な環状鉄心と、当該環状鉄心に巻回されたコイルとを内部に有するクランプ部7aを備え、当該環状鉄心に接続ケーブル71の非カール部71bを挿通させることにより電流測定を行えるように構成されている。
すなわち、非カール部71bに交流電流が流れると、上記環状鉄心に巻回された上記コイルに電流が発生するので、当該コイルに流れる電流を電流測定回路(図示せず)で検出することによって非カール部71bに流れている電流を測定できることになる。
<使用態様例の説明>
次に、接続ケーブル71等の使用態様例について説明する。
先ず、図2に示すように、作業者は、電流測定時において必要な接続ケーブル71の第1端子73及び第2端子74を、活線側導体33や非活線側導体34に電気的に接続する。具体的には、接続ケーブル71の第1端子73を活線側導体33に接続し、第2端子74を非活線側導体34に接続するために、活線側ナット324で第1端子73を挟み込み、非活線側ナット325で第2端子74を挟み込む。これにより、接続ケーブル71は、活線側導体33と非活線側導体34とに電気的に接続される。
ところで、ケーブル部72と第1端子73との固定部71dの近傍及び第2端子74との固定部71dの近傍は、一般に応力がかかり易く、亀裂が生じたり、破断し易いとされている箇所である。従来の接続ケーブルにおいては、このような破断等し易い箇所が絶縁被覆材によって被覆されていたため、絶縁被覆材の内部で導線が破断していても、当該絶縁被覆材によって破断箇所を発見できず、外観上は正常な接続ケーブルとして認識されてしまっていた。このため、従来は、破断状態の接続ケーブルが接続されたテストプラグを、正常な接続ケーブルとしてテスト端子に挿入してしまう可能性があった。
これに対し、本実施形態に係る接続ケーブル71によれば、上記破断等し易い箇所を露出部71cとすることによって、当該箇所が破断した場合には、第1端子73又は第2端子74がケーブル部72から脱落する。このため作業者は、接続ケーブル71が破損していることを容易に認識でき、接続ケーブル71を使用できなくなるので、短絡不能状態の接続ケーブル71が接続されたテストプラグ3を、テスト端子口10に誤って挿入してしまうことがない。
また、露出部71cに亀裂が生じたり、露出部71cが破断寸前の状態になっていることを容易に目視点検により発見でき、当該接続ケーブル71の使用を即座に中止することができる。したがって、接続ケーブル71の信頼性が向上する。
また、接続ケーブル71は、両端部にカール部71a,71aを備えているので、接続ケーブル71が使用されているときにカール部71a,71aが適宜伸縮することで、固定部71dの近傍の露出部71cに外力(応力)が集中しにくくなる。したがって、露出部71cに亀裂が生じたり、破断したりするのを抑制することができ、接続ケーブル71の信頼性が向上する。
次に、作業者は、キャップ部52を持って、接続ケーブル71のケーブル部72がスリット53に入るように、かつ、スカート部55がテストプラグ本体30の他方の面30bにできるだけ接触するように、テストプラグ用保護カバー50を接続プラグ32に装着する。
すると、活線側導体33や非活線側導体34は、テストプラグ用保護カバー50によって覆われる。また、接続ケーブル71の露出部71cは、スリット覆部54によって覆われる。
このように、テストプラグ用保護カバー50を所定箇所に容易かつ迅速に装着できるので、作業性を向上できると共に、テストプラグ3の接続プラグ32及び接続ケーブル71の露出部71cを外部から絶縁することができる。したがって、作業者が、接続ケーブル71の第1端子73及び第2端子74や露出部71c等に触れて感電等するのを防止することができる。
次に、図4及び図5に示すように、作業者は、プラグ部31をテスト端子2に挿入すると、テスト端子2の電源側二次接続部112及び負荷側二次接続部122の間にプラグ部31が押し込まれる。すると、電源側二次接続部112の端部113及び負荷側二次接続部122の端部123は、第1ターミナル23及び第2ターミナル24との接触がそれぞれ無くなり、電源側装置8と負荷側装置9とが電気的に切り離される。
そして、電源側装置8が接続プラグ32の活線側接続部321と電気的に接続され、負荷側装置9が接続プラグ32の非活線側接続部322と電気的に接続される。また、活線側接続部321と非活線側接続部322とが接続ケーブル71を介して電気的に接続される。したがって、誘導電流を測定するようなクランプ電流計7を用い、接続ケーブル71の非カール部71bをクランプ部7aによって挟持することで、接続ケーブル71に流れる電流を測定することができる。
より具体的には、図3に示すテストプラグ3のプラグ部31が、配電盤1のテスト端子口10に挿入されると、図5に示す状態となる。すなわち、プラグ部31における活線側導体33及び非活線側導体34がそれぞれテスト端子2の電源側二次接続部112及び負荷側二次接続部122にそれぞれ接続されると共に、テスト端子2における電源側導体11と負荷側導体12との電気的接続が非接続となる。このとき、テストプラグ3のテストプラグ本体30及び接続プラグ32がテスト端子口10から突出した状態となる。
クランプ電流計7による電流測定後は、図3に示すように、テストプラグ3をテスト端子口10から引き抜く。これにより、テストプラグ3には電流が流れなくなるので、作業者が活線側導体33や非活線側導体34に触っても、感電することはない。その後、テストプラグ用保護カバー50を接続プラグ32から取り外す。そして、接続ケーブル71の第1端子73及び第2端子74を活線側導体33や非活線側導体34から取り外す。
以上のように、この第1実施形態によれば、ケーブル部72と第1端子73との固定部71dの近傍及び第2端子74との固定部71dの近傍が露出部71cとして形成されているので、露出部71cが破断した場合には、第1端子73又は第2端子74がケーブル部72から脱落する。このため作業者は、接続ケーブル71が破損していることを容易に認識でき、接続ケーブル71を使用できなくなるので、短絡不能状態の接続ケーブル71が接続されたテストプラグ3を、テスト端子口10に誤って挿入してしまうことがない。
また、露出部71cに亀裂が生じたり、露出部71cが破断寸前の状態になっていることを容易に目視点検により発見でき、当該接続ケーブル71の使用を即座に中止することができる。
したがって、点検が容易で信頼性の高い接続ケーブル71及びこれを用いたテストプラグ3の短絡構造を提供することができる。
また、接続ケーブル71は、両端部にカール部71a,71aを備えているので、接続ケーブル71が使用されているときにカール部71a,71aが適宜伸縮することで、固定部71dの近傍の露出部71cに外力(応力)が集中しにくくなる。したがって、露出部71cに亀裂が生じたり、破断したりするのを抑制することができ、接続ケーブル71の信頼性を向上することができる。
また、接続ケーブル71は、接続プラグ32に接続するための第1端子73及び第2端子74を備えているので、従来のような撚り銅線をU字状に形成して接続プラグ32に引っ掛ける等の固定作業が不要であり、容易かつ迅速に電流測定を行うことができる。
なお、上記第1実施形態においては、接続プラグ32、第1端子73、第2端子74及び露出部71cの絶縁保護手段として、テストプラグ用保護カバー50を用いるものとして説明したが、これに限定されず、他の絶縁保護手段を用いてもよい。
〔第2実施形態〕
この第2実施形態に係るテストプラグ3の短絡構造は、上記第1実施形態で示したテストプラグ用保護カバー50の代わりにテストプラグ用仕切カバーを用い、テストプラグ3の接続プラグ32や接続ケーブル71の第1端子73及び第2端子74等を、隣接する接続プラグ32等から絶縁保護するように構成されている。
図6は、第2実施形態に係るテストプラグをテスト端子に接続する前の状態を示す斜視図である。図7は、テストプラグをテスト端子に接続する前の状態を示す断面図である。図8は、接続ケーブルによって短絡されたテストプラグをテスト端子に接続した状態を示す斜視図である。図9は、接続ケーブルを用いてクランプ電流計で電流を測定している状態を示す断面図である。なお、以下の説明において、既に説明した部材と同一若しくは相当する部材には、同一の符号を付して重複説明を省略又は簡略化する。
<テストプラグ用仕切カバーの説明>
次に、テストプラグ用仕切カバー150について図6〜図9を参照して説明する。
図6〜図9に示すように、テストプラグ用仕切カバー150は、絶縁体で形成される板状の2つの仕切部を備える。2つの仕切部のうち、一方は、仕切部材151aと仕切部材151aとで1つの板状に形成されている。他方も、仕切部材151bと仕切部材151bとで1つの板状に形成されている。
仕切部材151bと仕切部材151bとの境目と、仕切部材151aと仕切部材151aとの境目とには、仕切部材151a,151bの幅方向において、当該幅の約半分の長さのスリットが形成されている。そして、テストプラグ用仕切カバー150は、2つの仕切部のスリットが互い違いの方向で差し込まれて、組み立てられている。換言すると、2つの仕切部材151aと2つの仕切部材151bとは、仕切部材支持部152によって支持されているといえる。
仕切部材支持部152は、2つの仕切部材151aが1つの板状を形成するように、かつ、2つの仕切部材151bが1つの板状を形成するように支持している。また、仕切部材支持部152は、板状となった2つの仕切部材151aと、板状となった2つの仕切部材151bとを所定の角度の範囲だけ回転可能に支持している。
図6及び図8に示すように、仕切部材151a,151a,151b,151bのそれぞれは、接続プラグ32a,32b,32c,32dのうち、隣接する一対の接続プラグ(例えば、接続プラグ32aと接続プラグ32c)の間に配置が可能なように、接続プラグ32a,32b,32c,32dの延びる方向において、テストプラグ本体30の他方の面30bから活線側導体33及び非活線側導体34のいずれもよりも長くなるように形成されている。
図6に示すように、仕切部材151b,151bのそれぞれは、テストプラグ本体30の上面又は底面に接触する接触部153を有する。具体的には、仕切部材151bの端部には、テストプラグ用仕切カバー150の差し込み方向(図6の矢印の方向)において、テストプラグ本体30の側に延在した接触部153を有する板状の仕切部材151cが形成されている。仕切部材151c,151cは、いずれも、絶縁材料で形成されている。
仕切部材151c,151cは、板状となった2つの仕切部材151bが回転すると、板状となった2つの仕切部材151aと平行にすることができるように、仕切部材支持部152を介して仕切部材151b,151bに、所定の角度範囲で回転可能に支持されている。これにより、仕切部材151c,151cは、常に、板状となった2つの仕切部材151bと平行にすることができる。
板状となった2つの仕切部材151aは、作業者が持ち易いように、テストプラグ用仕切カバー150の差し込み方向(図6の矢印の方向)において、テストプラグ本体30と反対側に延在している。
なお、テスト端子2、テストプラグ3及び接続ケーブル71の構成は、上記第1実施形態の場合と同様であるので、重複説明を省略する。
<使用態様例の説明>
次に、接続ケーブル71やテストプラグ用仕切カバー150等の使用態様例について説明する。先ず、図6に示すように、作業者は、電流測定時において、必要な接続ケーブル71の第1端子73及び第2端子74を、活線側導体33や非活線側導体34に電気的に接続する。
具体的には、接続ケーブル71の第1端子73を活線側導体33に接続し、第2端子74を非活線側導体34に接続するために、活線側ナット324で第1端子73を挟み込み、非活線側ナット325で第2端子74を挟み込む。これにより、接続ケーブル71は、活線側導体33と非活線側導体34とに電気的に接続される。
次に、作業者は、板状となった2つの仕切部材151aの端部を持って、仕切部材151a,151a,151b,151bのそれぞれが接続プラグ32a,32b,32c,32dのうち、隣接する一対の接続プラグの間に配置されるように、テストプラグ用仕切カバー150をテストプラグ本体30に近づける。
すると、図7及び図8に示すように、テストプラグ用仕切カバー150がテストプラグ本体30の他方の面30bに接触すると共に、一対の接触部153(図6参照)がテストプラグ本体30に嵌合する。
これにより、接続プラグ32a,32b,32c,32dは、仕切部材151a,151a,151b,151bによって仕切られるので、隣接する接続プラグ32a,32b,32c,32dから、互いに絶縁保護される。すなわち、作業者が、隣接する接続プラグ32a,32b,32c,32dの導通箇所に触れて感電等するのを防止することができる。
なお、その他の使用態様は、上記第1実施形態の場合と同様であるので、重複説明を省略する。
以上のように、この第2実施形態に係るテストプラグ用仕切カバー150及び接続ケーブル71を用いたテストプラグ3の短絡構造によれば、上記第1実施形態の場合と略同様の効果を奏するほか、テストプラグ3の接続プラグ32や接続ケーブル71の第1端子73及び第2端子74等を、隣接する接続プラグ32等から絶縁することができる。
なお、上記第2実施形態においては、接続プラグ32、第1端子73及び第2端子74等の絶縁保護手段として、テストプラグ用仕切カバー150を用いるものとして説明したが、これに限定されず、他の絶縁保護手段を用いてもよい。
1 配電盤
2 テスト端子
3 テストプラグ
7 クランプ電流計(電流計)
7a クランプ部
8 電源側装置
9 負荷側装置
10 テスト端子口
11 電源側導体
12 負荷側導体
30 テストプラグ本体
31 プラグ部
32 接続プラグ(接続プラグ部)
33 活線側導体
34 非活線側導体
50 テストプラグ用保護カバー
71 接続ケーブル(テストプラグ用接続ケーブル)
71a カール部
71b 非カール部
71c 露出部
71d 固定部
72 ケーブル部
73 第1端子
74 第2端子
150 テストプラグ用仕切カバー
311 絶縁支持体
321 活線側接続部
322 非活線側接続部

Claims (5)

  1. 導線を絶縁部材によって被覆して形成されたケーブル部と、
    前記ケーブル部の一端に固定される第1端子と、
    前記ケーブル部の他端に固定される第2端子と、
    を備え、
    前記ケーブル部と前記第1端子との固定部近傍及び前記第2端子との固定部近傍には、それぞれ、前記導線が露出した露出部が形成されていることを特徴とするテストプラグ用接続ケーブル。
  2. 前記ケーブル部の一端側及び他端側は、当該ケーブル部が螺旋状に巻回されて形成されたカール部を有することを特徴とする請求項1に記載のテストプラグ用接続ケーブル。
  3. それぞれが電源側装置に接続される複数の電源側導体と、それぞれが負荷側装置に接続される複数の負荷側導体と、前記複数の電源側導体と前記複数の負荷側導体とが常時接続状態である複数のテスト端子を有するテスト端子口に差し込まれ、
    絶縁材料で形成されたテストプラグ本体と、
    前記テストプラグ本体の一方側に突出し、それぞれが各電源側導体に接続される複数の活線側導体と、それぞれが各負荷側導体に接続される複数の非活線側導体と、絶縁材料で形成された絶縁支持体であって当該絶縁支持体の一方側及び他方側の面にそれぞれ前記複数の活線側導体及び前記複数の非活線側導体が配置される絶縁支持体とを有する前記テスト端子口に挿入されるプラグ部と、
    前記テストプラグ本体の他方側に突出し、前記活線側導体と導通する活線側接続部と、前記非活線側導体と導通する非活線側接続部とを有し、外部回路に接続可能な複数の接続プラグ部と、を有するテストプラグと、
    導線を絶縁部材によって被覆して形成されたケーブル部と、
    前記ケーブル部の一端に固定され前記テストプラグの前記活線側接続部に取り付けられる第1端子と、
    前記ケーブル部の他端に固定され前記テストプラグの前記非活線側接続部に取り付けられる第2端子と、を有し、前記ケーブル部と前記第1端子との固定部近傍及び前記第2端子との固定部近傍に、それぞれ、前記導線が露出した露出部が形成されているテストプラグ用接続ケーブルと、を備え、
    前記第1端子が前記活線側接続部に接続され、前記第2端子が前記非活線側接続部に接続されることにより当該活線側接続部と当該非活線側接続部とが短絡されることを特徴とするテストプラグの短絡構造。
  4. 更に、絶縁性を有し、前記テストプラグの前記接続プラグ部及び前記テストプラグ用接続ケーブルの前記露出部を覆うテストプラグ用保護カバーを備えることを特徴とする請求項3に記載のテストプラグの短絡構造。
  5. 更に、絶縁性を有し、前記テストプラグの前記複数の接続プラグ部の間を仕切るテストプラグ用仕切カバーを備えることを特徴とする請求項3に記載のテストプラグの短絡構造。
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