JP2008130281A - 短絡治具、およびテストプラグ - Google Patents

短絡治具、およびテストプラグ Download PDF

Info

Publication number
JP2008130281A
JP2008130281A JP2006311660A JP2006311660A JP2008130281A JP 2008130281 A JP2008130281 A JP 2008130281A JP 2006311660 A JP2006311660 A JP 2006311660A JP 2006311660 A JP2006311660 A JP 2006311660A JP 2008130281 A JP2008130281 A JP 2008130281A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
short
contact
primary
terminal
plug
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2006311660A
Other languages
English (en)
Inventor
Shinkichi Wakui
津吉 涌井
Original Assignee
Tokyo Electric Power Co Inc:The
東京電力株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Electric Power Co Inc:The, 東京電力株式会社 filed Critical Tokyo Electric Power Co Inc:The
Priority to JP2006311660A priority Critical patent/JP2008130281A/ja
Publication of JP2008130281A publication Critical patent/JP2008130281A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Abstract

【課題】 不具合が生じる可能性が極めて低く、高い信頼性で接点間を確実に短絡し、CTクランプを用いて容易に計測することが可能な、短絡治具、テストプラグを提供する。
【解決手段】
一次ラインと二次ラインとを中継するテストターミナル114に挿入して一次ラインと二次ラインとの接続を切り離すテストプラグ118の、一次ラインの接点を露呈する一次接点222と二次ラインの接点を露呈する二次接点224とを短絡する本発明における短絡治具120は、板状鉄片の両端にYラグ端子230が設けられ、両Yラグ端子230の面が略平行になるように略コの字形状に加工され、略コの字形状によって生成される貫通領域は、CTクランプ24を嵌入可能な大きさであることを特徴としている。
【選択図】 図2

Description

本発明は、CT(Current Transformers)クランプによる導電測定を実施可能な短絡治具、およびテストプラグに関する。
変電設備における保護継電器や制御盤等の電気機器の電源は送電線から供給され、電源と電気機器との間には、その電気機器を電源から切り離すためのテストターミナルが設けられている。ユーザは、このようなテストターミナルに挿入するテストプラグの各接点を様々に接続することで、電気機器に外部電源から電力を供給したり、電気機器への電流または電圧を計測したりすることができる。
例えば、電気機器に外部電源から電力を供給する場合、テストプラグにおいて電源の接点である一次接点を全て短絡し、残った電気機器の接点である二次接点に外部電源を接続する。しかし、4極のテストプラグにおける4つのプラグ端子全ての一次接点を短絡しようとすると最低3本の短絡バーが必要であり、取り付けに長時間を要したり、締め付けの緩みによる短絡バーの脱落が生じたりしていた。
そこで、かかる問題を回避するため、4つのプラグ端子全ての一次接点を一度に短絡可能な短絡治具を用いて、全一次接点を容易かつ確実に短絡可能な技術が知られている(例えば、特許文献1)。
一方、電源から電気機器への電流または電圧を計測する場合、まず、テストプラグにおいて一次接点と二次接点とを短絡する。このような一次接点と二次接点との短絡は、当該テストプラグに付属する短絡治具によって行うことができる。
図6は、4極のテストプラグ10の外観を示した斜視図である。かかる4極のテストプラグ10には、プラグ端子12が4つ設けられ、プラグ端子12それぞれの前後に一次接点14と二次接点16とが設けられる。そして、短絡治具18でプラグ端子12の一次接点14と二次接点16とを短絡することで、電源と電気機器を接続することができる。かかる短絡治具18は、その目的が短絡自体にあるため接点間が最短距離で結ばれている。従って、かかる短絡治具18を流れる電流を測定しようとしても、プラグ端子12と短絡治具18との間にCTクランプを挿入することができない。また、短絡治具18は金属部分が露呈しているので、感電や回路の短地絡等が生じる可能性がある。そこで、電流を計測するために短絡線を別途作成する。
図7は、4極のテストプラグ10に短絡線20を用いた場合の外観を示した斜視図である。ここでは、プラグ端子12の一次接点14と二次接点16との短絡に、短絡線20が用いられ、短絡線20の両端に設けられたYラグ端子22を介して、一次接点14と二次接点16とが導通している。かかる短絡線20は任意の長さに形成することができるので、図7に示したように一次接点14、短絡線20、二次接点16で形成される空間領域内にCTクランプ24を嵌入することができる。従って、CTクランプ24の閉じられたコア内に短絡線20を貫通させることができ、当該短絡線20に流れる電流を測定することが可能となる。
特開2006−074855号公報
しかし、かかる短絡線20は、それ自体が変形自在であるが故に導線の各部分にはストレスがかかり、特にYラグ端子22との接続点においては、素線切れ(断線)等を引き起こすこともあった。このような素線切れが生じると、電源と電気機器との接続が切断され、閉回路がオープン(CT回路オープン)となる。このようなCT回路オープンは、各接点に異常電圧(異常高電圧)を引き起こすこととなる。
本発明は、従来の短絡線が有する上記問題点に鑑みてなされたものであり、本発明の目的は、不具合が生じる可能性が極めて低く、高い信頼性で接点間を確実に短絡し、CTクランプを用いて容易に計測することが可能な、新規かつ改良された短絡治具、およびテストプラグを提供することである。
上記課題を解決するために、本発明のある観点によれば、一次ラインと二次ラインとを中継するテストターミナルに挿入して一次ラインと二次ラインとの接続を切り離すテストプラグの、一次ラインの接点を露呈する一次接点と二次ラインの接点を露呈する二次接点とを短絡する短絡治具であって、板状鉄片の両端にYラグ端子が設けられ、両Yラグ端子の面が略平行になるように略コの字形状に加工され、略コの字形状によって生成される貫通領域は、CTクランプを嵌入可能な大きさであることを特徴とする、短絡治具が提供される。
上記短絡治具は、(1)板状鉄片で形成されており、形状が変化せず、部分的にストレスがかかることもないので、不具合が生じる可能性が極めて低く、高い信頼性で接点間を確実に短絡することができ、(2)Yラグ端子によって既存のテストプラグにも取り付け可能となるのでコストの低減を図ることができ、(3)略コの字に固定的に形成され、CTクランプの貫通領域が確保されているので、CTクランプを用いて容易に計測することができる。
貫通領域の幅は、両端のYラグ端子間の幅より広く形成されてもよい。両端のYラグ端子間の幅は、プラグ端子の形状によって制限される。当該短絡治具のCTクランプの貫通領域、即ち、短絡治具を略コの字形状(C字形状)に形成することによって生じる中空領域の幅を両端のYラグ端子間の幅より広くとることによって、様々な大きさのCTクランプを嵌入することが可能となる。また、かかる幅広構造は、Yラグ端子から貫通領域に至るまでに幅が漸増する傾斜部によって形成されてもよく、貫通領域は、25mm×25mm以上の断面を有するとしてもよい。
両端に設けられたYラグ端子は、Yラグ端子の嵌合軸が等しくなるように形成され、一次接点および二次接点が設けられたプラグ端子に対して当該短絡治具が回動自在となってもよい。
一次接点から二次接点へ流れる電流の電気的特性は短絡治具のプラグ端子に対する位置によって変化する。かかる短絡治具を回動自在にすることで、Yラグ端子の凹部をプラグ端子に当てたまま短絡治具を様々な角度に回動することができ、適切な角度で計測を実行することが可能となる。
当該短絡治具は、絶縁材でコーティングされていてもよい。かかる構成により、CTクランプを嵌入する測定者が不意に当該短絡治具に接してしまったとしても、感電等を起こすことがなく、不慮の事故を回避することができる。従って、計測者は、安全性が確保されている中、安心して計測を行うことができる。
以上説明したように本発明の短絡治具によれば、不具合が生じる可能性が極めて低く、高い信頼性で接点間を確実に短絡し、さらに、CTクランプを用いて容易に計測することが可能となる。
以下に添付図面を参照しながら、本発明の好適な実施の形態について詳細に説明する。なお、本明細書及び図面において、実質的に同一の機能構成を有する構成要素については、同一の符号を付することにより重複説明を省略する。
テストプラグに予め添付された短絡治具は、その鉄片がなす空間が狭いため、CTクランプを嵌入することができないうえ、金属部分が露呈しているので感電等の事故が起きる可能性があった。また、短絡線は、フレキシブルな材質故に局部へのストレスによる素線切れの問題があった。
本発明の実施形態においては、短絡治具に、鉄片による高い信頼性と、CTクランプを嵌入できるような空間領域とを確保させることで、計測の容易性および信頼性を向上させることができる。
(第1の実施形態:電源および電気機器の配置)
図1は、本実施形態における電気系統を説明するための説明図である。かかる図1を参照すると、当該電気系統100は、電源110と、変流器112と、テストターミナル114と、テストプラグ118と、短絡治具120と、電気機器122とを含んで構成され、一次ラインとしての電源110からテストターミナル114までの電源系統と、二次ラインとしてのテストターミナル114から電気機器122までの機器系統とからなる。
上記電源110は、3相交流電源で構成され、それぞれ120°ずつ位相のずれた高電圧の正弦波電力を、電力線を介して各所に供給する。
上記変流器112は、非接触に電源110を取り込み、電流値を変換してテストターミナル114に伝達する。
上記テストターミナル114は、電源110と後述する電気機器122とを中継し、電源110と電気機器122とを切り離すためのスイッチ116を有する。通常時、即ち、後述するテストプラグ118を挿入していないときは、上記スイッチ116が閉じており、テストターミナル114は、電源110からの電力をそのまま電気機器122に供給している。
上記テストプラグ118は、電源110から電気機器122へ流れる電気の状態(電圧、電流)を抽出したり、不具合箇所の特定のため電源110と電気機器122とを切り離したりするために用いられる。具体的に、テストプラグ118は、テストプラグ118自体の突出部をテストターミナル114に挿入して、電源と電気機器の接続を切り離すと共に、各接点をプラグ端子の前後に電気的に隔離して露呈する。測定者は、このようなテストプラグ118前面に引き出された各接点を様々に接続することで、外部電源110から電気機器122に電力を供給したり、電気機器122への電流または電圧を計測したりすることができる。
上述したような接続の切り換えにテストプラグ118を用いる場合、通常、テストプラグ118上の各接点を予め結線してから、テストターミナル114への挿入がなされる。これは、テストターミナル114にテストプラグ118を挿入した後に接点を結線すると回路がオープンになる期間が生じ、CT回路オープン状態による異常電圧を誘発するからである。
上記短絡治具120は、テストプラグ118の各プラグ端子における2つの接点を短絡するために用いられる。かかる短絡治具120の詳細な構成は、テストプラグ118と合わせて後述する。
上記電気機器122は、保護継電器、制御盤、配電盤等の総称であり、上述した電源を利用する様々な機器が適用される。例えば、保護継電器(保護リレー盤)は、発電所や変電所、各種産業プラント等に設置され、短絡故障や地落故障を計器用変成器を介して検出し、電力系統からの切り離し信号をリレーに伝送する。制御盤は、電動機等の機器に電力を供給し、自動または手動で運転制御する。配電盤は、電動機器や配電回路を監視し、その制御および保護を実行している。CTクランプによる本実施形態の測定は、かかる電気機器122の不具合時や取り付け時、および定期的な変動を観測することを目的としている。
以上説明したような電気系統100により、電気機器122には電源110からの電力が供給され、また、テストプラグ118を用いることによって様々な接続変更も行うことができる。以下、上述したテストプラグ118および短絡治具120について詳述する。
(テストプラグ118)
図2は、4極のテストプラグ118の外観を示した斜視図である。かかるテストプラグ118は、本体200と、突出部210と、プラグ端子220と、短絡治具120とを含んで構成される。ここでは、電気機器122を3相構造とし、テストターミナル114およびテストプラグ118には接地相を含む4極(4相)の配線がなされる。テストプラグはこの他にも2極、8極等、様々な極数をとることができる。
上記本体200は、箱形状に形成され、後述する突出部210やプラグ端子220の固定部として機能する。また、プラグ端子220を複数備える場合のプラグ端子220間の距離を確保する。
上記突出部210は、本体200から突出形成され、後述するプラグ端子220に通電する2つの当接部が表裏に配される。そして、挿入方向と直交する方向にもプラグ端子220の数分だけの当接部が並置される。かかる突出部210をテストターミナル114に挿入することで、電源110と電気機器122とを切り離すと共に、電源110からの接点および電気機器122への接点をそれぞれ後述するプラグ端子220に引き出す。
上記プラグ端子220は、極数の数分、本実施形態では4極分、本体200から略円柱形状に突出形成され、それぞれ、一次接点222と、二次接点224とが電気的に隔離して前後に配される。かかる一次接点222は突出部210が引き出した電源110からの接点を露呈し、二次接点は電気機器122からの接点を露呈する。かかる接点との電気的接続を行う場合、例えば、Yラグ端子を一次接点222または二次接点224に当接し、その状態でプラグ端子キャップ226、228を回転させ、Yラグ端子を締結する。
上記短絡治具120は、板状鉄片の両端にYラグ端子230を設け、両Yラグ端子230の面が略平行になるように略コの字形状に加工され、プラグ端子220の一次接点222と二次接点224とを短絡する。かかる短絡治具120における略コの字形状によって生成される貫通領域240は、CTクランプを嵌入可能な大きさに形成されている。従って、図2に示すように、CTクランプ24を容易に嵌入することができる。かかる貫通領域240は、CTクランプ24の断面の一辺が8〜20mm程度であることに鑑みて、一辺25mmの正方形が入る形状に形成するのが望ましい。
ここでは、プラグ端子220の接続をYラグ端子230で行うこととしているが、かかる場合に限られず、クワ形端子等、プラグ端子220の嵌合軸に垂直方向から短絡治具120を嵌合可能な形状であれば様々な端子形状を適用することができる。
また、Yラグ端子によって既存のテストプラグにも当該短絡治具120を取り付け可能となるので、本実施形態を遂行するのに新たに必要な装置は当該短絡治具120のみであり、コストの低減を図ることができる。さらに、一つの短絡治具120を同一のテストプラグの他のプラグ端子や、他のテストプラグにも併用できるので、当該短絡治具120の有効利用を図ることができる。
以下、テストプラグ118のテストターミナル114への挿入による接点の移動に関して詳述する。
図3は、テストプラグ118の挿入工程を説明するための縦断面図である。図3(a)では、挿入前のテストプラグ118とテストターミナル114が、図3(b)では、挿入後のテストプラグ118とテストターミナル114が示されている。
図3(a)において、テストターミナル114では、電源110が一次側端子310と、電気機器122が二次側端子312と接続されている。また、一次側端子310には一次側接触部322と一次側導通部324とが接続され、二次側端子312には二次側接触部332と二次側導通部334とが接続され、一次側接触部322には、一次側接触部322自体を二次側導通部334に付勢するスプリング等の一次側弾性部326が設けられ、同様に、二次側接触部332には、二次側接触部332自体を一次側導通部324に付勢する二次側弾性部336が設けられる。一次側接触部322と二次側導通部334および二次側接触部332と一次側導通部324は、かかる一次側弾性部326と二次側弾性部336の付勢力のみによる接点の当接によって接続されている。
このような回路構成により、テストプラグ118が挿入される前段階では、電源110は、一次側端子310から、一次側接触部322および二次側導通部334を伝導する経路と、一次側導通部324と二次側接触部332を伝導する経路の2つの経路を経由して二次側端子312、即ち電気機器122に接続されている。
一方、テストプラグ118では、一次側当接部350と二次側当接部360とが突出部210の表裏に絶縁物370を挟んで設置され、一次側当接部350が各プラグ端子220の一次側中継部352を介して一次接点222に接続され、二次側当接部360も各プラグ端子220の二次側中継部362を介して二次接点224に接続されている。
また、本実施形態においては、短絡治具120が一次接点222と二次接点224とを短絡するので、結果的にテストプラグ118の一次側当接部350と二次側当接部360とが短絡されていることになる。
図3(b)において、テストプラグ118がテストターミナル114に挿入されると、即ち、テストプラグ118の突出部210がテストターミナル114の一次側接触部322と二次側接触部332との間に挿入されると、テストターミナル114の一次側接触部322および二次側接触部332は、一次側弾性部326および二次側弾性部336の付勢に反して、テストプラグ118の一次側当接部350と二次側当接部360に押圧される。従って、一次側接触部322および二次側接触部332は引き続き一次側弾性部326および二次側弾性部336に付勢されて一次側当接部350および二次側当接部360と電気的に接触する。
このとき、一次側接触部322および二次側接触部332は、一次側当接部350および二次側当接部360に押圧されて一次側導通部324および二次側導通部334との接触が断たれる。従って、電源110と電気機器122は、切り離され、電源110は一次接点222に、電気機器122は二次接点224に引き出される。本実施形態では、上述したように一次接点222と二次接点224が短絡治具120によって予め短絡されているので、電源110と電気機器122とは継続して導通することとなる。
このようにテストプラグ118がテストターミナル114に挿入された後、かかる短絡治具120にCTクランプ24を嵌入して、短絡治具120に流れる電流を測定する。
(短絡治具120)
このような短絡治具120は、上述したように、板状鉄片で形成されており、形状が変化せず、部分的にストレスがかかることもないので不具合が生じる可能性が極めて低く、高い信頼性で接点間を確実に短絡することができる。また、略コの字に固定的に形成され、CTクランプ24の貫通領域が確保されているので、CTクランプ24を用いて容易に計測することができる。さらに、短絡治具120はCTクランプ24を掛止したまま固定的に保持できるので、計測者は計測中CTクランプ24を把持しておく必要もない。このようにCTクランプ24による計測の確実性が担保されるので、本実施形態の短絡治具120を使用した長時間の計測にも対応することができる。
図4は、短絡治具の具体的形状を説明するための説明図である。例えば、図4の(a)に示した短絡治具120では、略コの字形状内のCTクランプ24の貫通領域240の幅aは、両端のYラグ端子230間の幅bより広く形成されている。
両端のYラグ端子230間の幅bは、プラグ端子220の形状によって制限される。当該短絡治具120のCTクランプの貫通領域240、即ち、短絡治具120を略コの字形状に形成することによって生じる中空領域の幅aを両端のYラグ端子230間の幅bより広くとることによって、様々な大きさのCTクランプ24に対応することが可能となる。
本実施形態においては、板状鉄片の幅cを10mm、貫通領域の高さdを40mmとし、中空領域の幅aおよびYラグ端子間の幅bをそれぞれ25mm、15mmとしている。かかる寸法では、本測定に用いられるCTクランプの全てに対応することが可能となる。ここで、板状鉄片の幅cを10mmとしたのは、それより細いと構造的に弱くなり、太いと他の短絡治具にぶつかったり、プラグ端子220に接続困難になったりするからである。
図4(a)の短絡治具120の幅広構造は、Yラグ端子の位置に対して一方に偏っている、即ち、貫通領域240を形成する板状鉄片の内周面が一方ではYラグ端子から直線上に形成され、他方はYラグ端子から枠外に突出するように曲げ形成されている。一方、図4(b)に示した短絡治具400のように両Yラグ端子230から曲げ形成して、幅広構造を形成することもできる。
また、かかる曲げ形成は、Yラグ端子から貫通領域に至るまでに幅が漸増する傾斜部410でなされてもよい。上述したように貫通領域の幅aを両端のYラグ端子230間の幅bより広くとる必要があるが、Yラグ端子に近い位置で短絡治具を幅広に形成してしまうと、プラグ端子220に他の配線を結線する際にもプラグ端子キャップ226、228を回転することができなくなる。従って、幅広構造は、プラグ端子キャップ226、228を計測者の指が入る程度に回動可能な距離をおいて傾斜部を介して形成される。
また、貫通領域の幅aは、短絡治具120の外周がプラグ端子220の頭部より手前に突出しないように設定される。例えば、当該テストプラグ118をテストターミナル114に挿入するとき、かかるプラグ端子220に力点をおいて手で押し込む対応をとった場合、短絡治具120がプラグ端子220より突出していたら押圧し難くなり、また、想定外の押圧により短絡治具120が変形することがあるからである。
また、本実施形態の目的の一つがCTクランプ24の嵌入にあることを鑑みると、図4(c)に示した短絡治具420のような幅広構造も考えられる。また、本実施形態では、短絡治具として、図4の(a)〜(c)の形状を挙げているが、かかる場合に限らず、段差を設けてT字形成したり、楕円形成したりと様々な形状を適用することができる。
また、両端に設けられたYラグ端子230は、Yラグ端子230の嵌合軸が等しくなるように形成され、プラグ端子220に対して短絡治具120が回動自在となってもよい。
図5は、短絡治具120のプラグ端子220に対する回転領域を説明するための説明図である。電源110から電気機器122へ流れる電流、即ち、一次接点222から二次接点224へ流れる電流の電気特性は、短絡治具120のプラグ端子に対する位置によって変化する。
かかる短絡治具120を回動自在にする構成により、プラグ端子220の軸をYラグ端子230の凹部に挿通したまま、プラグ端子キャップ226、228を緩めるだけで、短絡治具120を矢印で示したような様々な角度に回動することができ、適切な角度で計測を実行することが可能となる。
また、他のプラグ端子220の短絡治具120と独立して角度を変更することができるので、他の短絡治具も含む様々な位置関係による最適な計測を実行できる。さらには、短絡治具120が個々にプラグ端子220から脱着されるので、他の短絡治具120を既存の短絡治具に代えて、自体の短絡治具120だけを残して計測するといった対応もとることができる。
このとき、短絡治具120は、短絡治具120自体の周囲における、一次接点222や二次接点224との電気的接触が必要なYラグ端子230以外の領域が、絶縁材でコーティングされている。
かかる構成により、CTクランプ24を嵌入する者が不意に当該短絡治具に接してしまったとしても、感電等を起こすことがなく、不慮の事故を回避することができる。従って、計測者は、安全性が確保されている中、安心して計測を行うことができる。
以上、添付図面を参照しながら本発明の好適な実施形態について説明したが、本発明は係る例に限定されないことは言うまでもない。当業者であれば、特許請求の範囲に記載された範疇内において、各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり、それらについても当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。
例えば、上述した実施形態においては、電源を一次ラインとして電気機器を二次ラインとして説明しているが、逆に電源を二次ラインに電気機器を一次ラインとすることも可能であり、また、他の様々なラインに接続することも可能である。
また、上述した実施形態においては、理解を容易にするため、CT(計器用変流器)ターミナルおよびプラグを挙げて説明しているが、当然にしてPT(計器用変圧器)ターミナルおよびプラグにも本実施形態を適用することが可能である。
本発明は、CTクランプによる導電測定を実施可能な短絡治具、およびテストプラグに利用することができる。
本実施形態における電気系統を説明するための説明図である。 本実施形態における4極のテストプラグの外観を示した斜視図である。 本実施形態におけるテストプラグの挿入工程を説明するための縦断面図である 本実施形態における短絡治具の具体的形状を説明するための説明図である。 本実施形態における短絡治具のプラグ端子に対する回転領域を説明するための説明図である。 従来の4極のテストプラグの外観を示した斜視図である。 従来の4極のテストプラグに短絡線を用いた場合の外観を示した斜視図である。
符号の説明
24 CTクランプ
110 電源
114 テストターミナル
118 テストプラグ
120、400 短絡治具
122 電気機器
200 本体
210 突出部
220 プラグ端子
222 一次接点
224 二次接点
230 Yラグ端子

Claims (5)

  1. 一次ラインと二次ラインとを中継するテストターミナルに挿入して該一次ラインと該二次ラインとの接続を切り離すテストプラグの、該一次ラインの接点を露呈する一次接点と該二次ラインの接点を露呈する二次接点とを短絡する短絡治具であって、
    板状鉄片の両端にYラグ端子が設けられ、両Yラグ端子の面が略平行になるように略コの字形状に加工され、
    前記略コの字形状によって生成される貫通領域は、CTクランプを嵌入可能な大きさであることを特徴とする、短絡治具。
  2. 前記貫通領域の幅は、前記両端のYラグ端子間の幅より広く形成されることを特徴とする、請求項1に記載の短絡治具。
  3. 前記貫通領域は、25mm×25mm以上の断面を有することを特徴とする、請求項1または2に記載の短絡治具。
  4. 前記両端に設けられたYラグ端子は、該Yラグ端子の嵌合軸が等しくなるように形成され、前記一次接点および二次接点が設けられたプラグ端子に対して当該短絡治具が回動自在となることを特徴とする、請求項1〜3のいずれかに記載の短絡治具。
  5. 当該短絡治具は、絶縁材でコーティングされていることを特徴とする、請求項1〜4のいずれかに記載の短絡治具。
JP2006311660A 2006-11-17 2006-11-17 短絡治具、およびテストプラグ Pending JP2008130281A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006311660A JP2008130281A (ja) 2006-11-17 2006-11-17 短絡治具、およびテストプラグ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006311660A JP2008130281A (ja) 2006-11-17 2006-11-17 短絡治具、およびテストプラグ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2008130281A true JP2008130281A (ja) 2008-06-05

Family

ID=39555922

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006311660A Pending JP2008130281A (ja) 2006-11-17 2006-11-17 短絡治具、およびテストプラグ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2008130281A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012044727A (ja) * 2010-08-12 2012-03-01 Kansai Denki Hoan Kyokai 過電流継電器の時限測定方法
CN103762511A (zh) * 2014-02-19 2014-04-30 国家电网公司 用于配电柜的电流互感器更换装置
CN106841702A (zh) * 2017-02-09 2017-06-13 中江县凯讯电子有限公司 适用于网络变压器检测时的夹紧工作台

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007166744A (ja) * 2005-12-12 2007-06-28 Chugoku Electric Power Co Inc:The 接続用治具
JP2008107088A (ja) * 2006-10-23 2008-05-08 Chugoku Electric Power Co Inc:The 試験プラグ

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007166744A (ja) * 2005-12-12 2007-06-28 Chugoku Electric Power Co Inc:The 接続用治具
JP2008107088A (ja) * 2006-10-23 2008-05-08 Chugoku Electric Power Co Inc:The 試験プラグ

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012044727A (ja) * 2010-08-12 2012-03-01 Kansai Denki Hoan Kyokai 過電流継電器の時限測定方法
CN103762511A (zh) * 2014-02-19 2014-04-30 国家电网公司 用于配电柜的电流互感器更换装置
CN106841702A (zh) * 2017-02-09 2017-06-13 中江县凯讯电子有限公司 适用于网络变压器检测时的夹紧工作台

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102018903B1 (ko) 과전압 방지장치가 구비된 테스트 플러그
JP2008130281A (ja) 短絡治具、およびテストプラグ
JP2008130280A (ja) 短絡治具、およびテストプラグ
JP5164820B2 (ja) プラグの着脱補助治具
JP4882698B2 (ja) テストプラグ
JP2007127558A (ja) 接地抵抗測定端子盤
JP2012094397A (ja) ヒューズ装置
JP5159201B2 (ja) テストプラグの試験装置
JP5545738B2 (ja) 変流器二次側開放保護回路、電気盤及びテストプラグ
KR101701028B1 (ko) 안전 스위칭 부를 갖는 차단기
KR20200037980A (ko) 변류기의 시험용 단자 분리대
JP2008017674A (ja) テストプラグ
JP2019013126A (ja) 電圧回路試験用プラグ
RU181891U1 (ru) Адаптер изолированный
JP2015025775A (ja) 通電試験システム、通電試験装置および通電試験方法
KR200483632Y1 (ko) 플러그 스위치
JP4679218B2 (ja) 機器測定試験リード線および機器測定試験方法
CN101599399B (zh) 熔丝保持器
JP2011182539A (ja) トリップロック端子台
JP2014032874A (ja) ワニ口クリップ及びケーブル付きワニ口クリップ
JP2010220310A (ja) テストプラグ用接続ケーブル及びテストプラグの短絡構造
JP5250789B2 (ja) 2極回路遮断器
JP5886587B2 (ja) 鉄道信号機器電圧測定用電線用補助具および測定方法
JP2011257249A (ja) 試験端子
JP5323112B2 (ja) 機器の切替方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Effective date: 20091106

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

A977 Report on retrieval

Effective date: 20110708

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110712

A02 Decision of refusal

Effective date: 20111206

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02