JP2010166696A - テストプラグ端子用保護カバー - Google Patents

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正敏 岩田
Kazuo Takahashi
和男 高橋
Hideshi Izumihiro
秀士 泉広
Tatsuya Yamada
達也 山田
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中国電力株式会社
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Abstract

【課題】試験の作業効率を向上させ、試験開始から試験終了までの操作ミスを防止することができるテストプラグ用保護カバーを提供すること。
【解決手段】テストプラグ端子用保護カバー50は、絶縁体被覆部51とキャップ部52とスカート部55とを備える。絶縁体被覆部51は筒形状を有し、その内周面51aは、接続プラグ32の活線側導体33と非活線側導体34を収容する内部空間51bを形成する。絶縁体被覆部51は、絶縁体被覆部51の一方の端部から絶縁体被覆部51の軸線方向Xに伸びるスリット53を有する。スリット53の長さは、活線側接続部321に取り付けた電線を絶縁体被覆部51の外に引き出すことができるように、テストプラグ本体30の他方の面30bと活線側接続部321との間の距離と略等しいことが好ましい。
【選択図】図3

Description

本発明は、配電盤などに設けられているテスト端子に嵌合させて使用されるテストプラグの絶縁を行うためのテストプラグ端子用保護カバーに関する。
遠制装置や保護継電器などの配電盤には、機器点検時に試験器と接続するためのテスト端子が設けられている。このテスト端子は、電源側装置に電気的に接続される電源側導体と、計器類等の負荷側装置に電気的に接続される負荷側導体とを備え、通常時は電気的に接続された状態となっている。試験時にはテストプラグのプラグ部が挿入されて電源側導体と負荷側導体との電気的接続が分離される。負荷側導体は、電源側装置の拘束を受けない状態でテストプラグの接続用端子となる接続プラグを介して配線により試験器等と接続される。そして、試験後には、テストプラグをテスト端子から外すことにより電源側導体と負荷側導体とが再び電気的に接続される。
従来の配電盤等におけるテスト端子を用いた試験作業中には、テスト端子の電源側導体と接続されているテストプラグにおいて、試験器等との接続用端子部分にビニールテープや絶縁シート等を用いた絶縁処理を施したり、絶縁カバーを用いることにより作業者の安全性や試験器等の損傷を防ぐ絶縁処理を施したりしていた(例えば、特許文献1)。
実用新案登録第3081845号公報
特許文献1の発明は、テストプラグの活線側導体を覆い、非活線側導体を覆わない保護カバーを着脱自在に備えるが、これは、活線側導体の保護や作業中の安全性向上を目的としたものである。
しかし、上述の絶縁処理は煩雑であり、また、作業者の技量によっては、十分な絶縁処理を行うまでに多くの時間を要する。また、絶縁処理が十分な状態で上述の試験作業を行うと、十分な絶縁処理がされていない箇所に導電性の工具等が接触して、ショートを引き起こし、ひいては、試験器の焼損や配電盤の損傷、テストプラグを操作する作業員にも感電等の危険が生じる恐れがある。
本発明は、以上のような問題を解決し、試験の作業効率を向上させ、試験開始又は試験終了後の操作ミスによる短絡を防止することができるテストプラグ用保護カバーを提供することを目的とする。
発明者は、精鋭研究を重ね、それぞれが各電源側端子に接続する複数の電源側導体と、それぞれが各負荷側端子に接続される複数の負荷側導体と、前記複数の電源側導体と前記複数の負荷側導体とが常時接続状態である複数のテスト端子を備えるテスト端子口に差し込まれるテストプラグに用いるテストプラグ端子用保護カバーを発明するに至った。
そして、発明されたテストプラグ端子用保護カバーは、絶縁材料で形成されたテストプラグ本体と、前記テストプラグ本体の一方側に突出し、それぞれが各電源側導体に接続される複数の活線側導体と、それぞれが各負荷側導体に接続される複数の非活線側導体と、絶縁材料で形成された絶縁支持体であって該絶縁支持体の一方側及び他方側の面にそれぞれ前記複数の活線側導体及び前記複数の非活線側導体が配置される絶縁支持体とを有する前記テスト端子口に挿入されるプラグ部と、前記テストプラグ本体の他方側に突出し、前記活線側導体及び前記非活線側導体の少なくとも一方が外部回路に接続される接続部を有する複数の接続プラグ部と、を備えるテストプラグの各接続プラグ部を覆うのに最適である。より具体的には、発明者は、以下のテストプラグ端子用保護カバーを発明した。
本発明に係るテストプラグ端子用保護カバーは、各接続プラグ部の前記活線側導体及び前記非活線側導体を収容する内部空間を形成する筒形状の絶縁体被覆部であって該絶縁体被覆部の一方の端部から該絶縁体被覆部の軸線方向に伸びるスリットを有する絶縁体被覆部を備える。
本発明に係るテストプラグ端子用保護カバーは、さらに、前記スリットを覆うように又はその幅を狭めるように、前記スリットの近傍に形成された絶縁性を有する弾性体のスリット覆部を備えてもよい。
前記スリット覆部は一対の鰭部を有し、一対の鰭部は、前記スリットを覆うように、かつ、前記スリットの伸びる方向に直角の方向に、前記スリットを間に配置するように、前記スリットの近傍に形成されていてもよい。
前記一対の鰭部は、互いに重なり合う側のそれぞれに、互いに取り外し可能な接着部を有していてもよい。
本発明に係るテストプラグ端子用保護カバーは、さらに、前記絶縁体被覆部の端部に形成された絶縁性を有する弾性体のキャップ部を備えていてもよい。前記キャップ部は、前記絶縁体被覆部において前記スリットが開放している側の端部と反対側の端部に形成されている。
本発明に係るテストプラグ端子用保護カバーは、さらに、前記絶縁体被覆部において前記スリットが開放している側の端部にラッパ状に形成された絶縁性を有する弾性体のスカート部を備えてもよい。
本発明によれば、テストプラグ端子用保護カバーは、各接続プラグ部の活線側導体及び非活線側導体を収容する内部空間を形成する筒形状の絶縁体被覆部を備えるので、テストプラグ端子用保護カバーをテストプラグのテスト端子に装着することにより、活線側導体及び前記非活線側導体を被覆することができる。これにより、作業者や導電性を有する工具が接続プラグ部に電気的に接触する恐れがほとんど生じない。
本発明に係る保護カバーを示す斜視図である。 図1に示す保護カバーのII−II断面図である。 図1に示す保護カバー及びテストプラグを使用している状況を示す斜視図である。 図3に続く保護カバー及びテストプラグを使用している状況を示す断面図である。 図4に続く保護カバー及びテストプラグを使用している状況を示す断面図である。 図5に続く保護カバー及びテストプラグを使用している状況を示す斜視図である。 本発明に係る別の保護カバーを示す斜視図である。 本発明に係るさらに別の保護カバーを示す斜視図である。
以下、本発明の好適な実施形態について図面を用いて説明する。なお、以下の説明及び図面に記載した内容は、好適な実施形態の一例であって、発明の技術的範囲はこれに限られない。
図1は、本発明に係る保護カバーを示す斜視図である。図2は、図1に示す保護カバーのII−II断面図である。図3は、図1に示す保護カバー及びテストプラグを使用している状況を示す斜視図である。図4は、図3に続く保護カバー及びテストプラグを使用している状況を示す断面図である。図5は、図4に続く保護カバー及びテストプラグを使用している状況を示す断面図である。図6は、図5に続く保護カバー及びテストプラグを使用している状況を示す斜視図である。
1.概要
図1及び図2に示すように、テストプラグ端子用保護カバー50は、図4に示すように、配電盤1のテスト端子口10にテストプラグ3が挿入される前の状態、図5に示すように、配電盤1のテスト端子口10にテストプラグ3が挿入されている状態、及び、図4に示すように、テストプラグ3がテスト端子口10から抜かれた状態になるまで使用される。
つまり、テストプラグ3のテストプラグ本体30に設けられたプラグ部31がテスト端子口10から挿入され、プラグ部31における後述の活線側導体33a、33b、33c、33dと非活線側導体34a、34b、34c、34dがテスト端子2a、2b、2c、2dにそれぞれ接続された状態で使用される。
また、テストプラグ本体30のプラグ部31と反対側の面30bに接続プラグ部となる接続プラグ32a、32b、32c、32dが設けられている。なお、活線側導体、非活線側導体、テスト端子、及び、接続プラグが設けられている数は、それぞれ2以上となっているが、これらは、全て同一の構成である。以下においては、代表とする一の構成を詳述し、他の同一構成の部分については、図面及び説明を省略する。
2.各部
2−1.テスト端子及びテストプラグ
図3に示すように、テスト端子2は、絶縁性材料で形成されるフランジ21及びテスト端子側筐体22を備える。テスト端子2は、テスト端子2の内部に電源側装置8に接続する電源側導体11と負荷側装置9に接続する負荷側導体12とを有する。電源側導体11は、電源側装置8に接続する電源側一次接続部111と、テストプラグ3のプラグ部31における対応接続部に接続する電源側二次接続部112とで構成される。また、負荷側導体12は、負荷側装置9に接続する負荷側一次接続部121とテストプラグ3のプラグ部31における対応接続部に接続する負荷側二次接続部122とで構成される。
電源側二次接続部112は、そのテスト端子口10側とは反対側の端部113が第1ターミナル23に接続され、負荷側二次接続部122は、そのテスト端子口10側とは反対側の端部123が第2ターミナル24に接続される。電源側二次接続部112及び負荷側二次接続部122はバネ部材25、25によりそれぞれ付勢されている。このため、図2に示すように、テストプラグ3のプラグ部31が挿入されていない場合には、端部113は第1ターミナル23に、端部123は第2ターミナル24にそれぞれ互いに接触して電気的に接続される。すなわち、通常の使用状態においては、電源側装置8と負荷側装置9とは、テスト端子2を介して互いに接続された状態となっている。
テストプラグ3は、絶縁性材料で形成されるテストプラグ本体30と、テストプラグ本体30の一方の面30aに突出し、テスト端子口10からテスト端子2に挿入されるプラグ部31と、テストプラグ本体30の他方の面30bに突出し、外部回路となる試験器7に接続される接続プラグ32と、により構成される。
プラグ部31は、テストプラグ本体30の一方の面30aに突出して形成される。プラグ部31は、プラグ部31がテスト端子2に挿入された場合に、電源側二次接続部112に接触して電気的に接続される活線側導体33と、負荷側二次接続部122に接触して電気的に接続される非活線側導体34と、活線側導体33と非活線側導体34との間に配置され、各接続部を絶縁する絶縁支持体311とで構成される。
また、テストプラグ本体30の他方の面30bには、接続プラグ32を備える。接続プラグ32は、活線側導体33と電気的に接続された活線側接続部321と、非活線側導体34と電気的に接続された非活線側接続部322と、活線側接続部321と非活線側接続部322とを電気的に分離する絶縁材料で形成された絶縁部323と、で形成される。具体的には、活線側導体33における接続プラグ32側の端部は、ねじが形成された棒状の部材であり、そのテストプラグ本体30の他方の面30bに突出した先端部に活線側ナット324が螺合される。活線側ナット324を回転させることにより、活線側導体33の先端部が露出され、その露出された部分が活線側接続部321となる。
非活線側導体34における接続プラグ32側の端部は、外周にねじが形成された管状の部材で形成され、その外周を非活線側ナット325が螺合されている。非活線側ナット325を回転させることにより、非活線側導体34の先端部が露出され、その露出された部分が非活線側接続部322となる。
活線側導体33及び非活線側導体34の接続プラグ32側端部は、棒状の部材で形成された活線側導体33の外周に絶縁部323が覆うように配置され、絶縁部323の外周に管状の部材で形成された非活線側導体34が覆うように配置される。つまり、接続プラグ32は、棒状の活線側導体33を中心として、筒状の絶縁部323と非活線側導体34とが左記の順に略同心円状に配置され、さらに活線側ナット324及び非活線側ナット325がそれぞれ活線側導体33と非活線側導体34の端部に螺合されて形成される。
2−2.保護カバー
図1及び図2に示すように、テストプラグ端子用保護カバー50は絶縁体被覆部51とキャップ部52とスカート部55とを備える。なお、テストプラグ端子用保護カバー50は、絶縁体被覆部51は必須の構成部材であるが、キャップ部52とスカート部55とは、任意の構成部材である。
絶縁体被覆部51は筒形状を有し、その内周面51aは、接続プラグ32の活線側導体33と非活線側導体34を収容する内部空間51bを形成する。絶縁体被覆部51は、絶縁体被覆部51の一方の端部から絶縁体被覆部51の軸線方向Xに伸びるスリット53を有する。スリット53の長さは、活線側接続部321に取り付けた電線を絶縁体被覆部51の外に引き出すことができるように、テストプラグ本体30の他方の面30bと活線側接続部321との間の距離と略等しいことが好ましい。
テストプラグ端子用保護カバー50は、さらに、スリット53を覆うように、スリット53の近傍に形成された絶縁性を有する弾性体のスリット覆部54を備える。スリット覆部54は一対の鰭部54a、54aを有する。一対の鰭部54a、54aは、スリット53を覆うようにスリット53の近傍の絶縁体被覆部51に形成されている。また、一対の鰭部54a、54aは、スリット53の伸びる方向Xに直角の方向Yに、スリット53を間に配置するように、スリット53の近傍の絶縁体被覆部51に形成されている。一対の鰭部54a、54aの長手方向の寸法は、スリット53を確実に覆うことができるように、スリット53の長さと略等しいことが好ましい。
一対の鰭部54a、54aは、互いに重なり合う側のそれぞれに、互いに取り外し可能な接着部54bを有していてもよい。具体的には、接着部54bは、公知のマジックテープ(登録商標)であったり、粘着剤であったりする。
テストプラグ端子用保護カバー50は、さらに、絶縁体被覆部51の端部に形成された絶縁性を有する弾性体のキャップ部52を備えている。キャップ部52は、絶縁体被覆部51においてスリット53が開放している側の端部と反対側の端部に形成されている。つまり、スリット53は一方が開放している形状を有している。
キャップ部52は、絶縁体被覆部51よりも、若干堅い弾性体で形成されていることが好ましい。また、キャップ部52の表面には、作業者が持ちやすいように、小さな複数の凹凸が形成された滑り止めが施されていることが好ましい。
テストプラグ端子用保護カバー50は、さらに、絶縁体被覆部51においてスリット53が開放している側の端部にラッパ状に形成された絶縁性を有する弾性体のスカート部55を備える。スカート部55は、絶縁体被覆部51よりも柔らかい弾性体で形成さていることが好ましい。これにより、絶縁体被覆部51は、スカート部55がテストプラグ本体30の他方の面30bに密着するように、かつ、絶縁体被覆部51が接続プラグ32の活線側導体33と非活線側導体34とを被覆するように、接続プラグ32に装着することができる。
2−3.使用態様例
まず、図3及び図4に示すように、作業者は、試験時において必要な電線71を活線側導体33や非活線側導体34に電気的に接続する。具体的には、電線71の端子73を活線側導体33や非活線側導体34に差し込み、活線側ナット324や非活線側ナット325で端子73を挟み込む。これにより、電線71は、活線側導体33や非活線側導体34に電気的に接続される。
次に、作業者は、キャップ部52を持って、電線71のケーブル部72がスリット53に入るように、かつ、スカート部55がテストプラグ本体30の他方の面30bにできるだけ接触するように、テストプラグ端子用保護カバー50を接続プラグ32に装着する。すると、活線側導体33や非活線側導体34は、ほとんど、テストプラグ端子用保護カバー50によって覆われている。
次に、図5及び図6に示すように、作業者は、プラグ部31をテスト端子2に挿入すると、テスト端子2の電源側二次接続部112及び負荷側二次接続部122の間にプラグ部31が押し込まれる。すると、電源側二次接続部112の端部113及び負荷側二次接続部122の端部123は、第1ターミナル23及び第2ターミナル24との接触がそれぞれ無くなり、電源側装置8と負荷側装置9とが電気的に切り離される。そして、電源側装置8が接続プラグ32の活線側接続部321と電気的に接続され、負荷側装置9が接続プラグ32の非活線側接続部322と電気的に接続される。したがって、活線側接続部321と非活線側接続部322とが電線71を介して電気的に接続するので、誘導電流を測定するような試験器7を用いて電線71に流れる電流を測定することができる。
より具体的には、テストプラグ3のテストプラグ本体30が、プラグ部31を配電盤1のテスト端子口10に挿入される。プラグ部31における活線側導体33及び非活線側導体34がそれぞれテスト端子2の電源側二次接続部112及び負荷側二次接続部122にそれぞれ接続されると共に、テスト端子2における電源側導体11と負荷側導体12との電気的接続が非接続となる。このとき、テストプラグ3のテストプラグ本体30及び接続プラグ32がテスト端子口10から突出した状態となる。
そして、試験終了後は、さらにテストプラグ3をテスト端子口10から引き抜く。これにより、テストプラグ3には電気が流れなくなるので、作業者が活線側導体33や非活線側導体34にさわっても、感電することはない。その後、テストプラグ端子用保護カバー50を接続プラグ32から取り外す。そして、電線71の端子73を活線側導体33や非活線側導体34から取り外す。
本発明のテストプラグ端子用保護カバーは、図1及び図2に示したテストプラグ端子用保護カバー50に限定されない。例えば、図7に示すように、テストプラグ端子用保護カバー50のキャップ部52を省略したテストプラグ端子用保護カバー50aであってもよい。
また、図8に示すように、スリット覆部54を設ける代わりに、絶縁体被覆部51におけるスリット53の近傍58を絶縁体被覆部51よりも柔らかい弾性体で形成したテストプラグ端子用保護カバー50bであってもよい。この場合、絶縁体被覆部51におけるスリット53の近傍58は、絶縁体被覆部51よりも柔らかい弾性体で形成していることが好ましい。
以上、本発明の実施形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施形態に記載の範囲には限定されない。上記実施形態に、多様な変更又は改良を加えることができる。そのような変更又は改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。
1 配電盤
2 テスト端子
3 テストプラグ
7 試験器
8 電源側装置
9 負荷側装置
10 テスト端子口
11 電源側導体
12 負荷側導体
30 テストプラグ本体
31 プラグ部
32 接続プラグ
33 活線側導体
50、50a、50b テストプラグ端子用保護カバー
51 絶縁体被覆部
51a 内周面
51b 内部空間
52 キャップ部
53 スリット
54 スリット覆部
54a 鰭部
54b 接着部
55 スカート部
34 非活線側導体
321 活線側接続部
322 非活線側接続部

Claims (6)

  1. それぞれが各電源側端子に接続する複数の電源側導体と、それぞれが各負荷側端子に接続される複数の負荷側導体と、前記複数の電源側導体と前記複数の負荷側導体とが常時接続状態である複数のテスト端子を備えるテスト端子口に差し込まれ、
    絶縁材料で形成されたテストプラグ本体と、
    前記テストプラグ本体の一方側に突出し、それぞれが各電源側導体に接続される複数の活線側導体と、それぞれが各負荷側導体に接続される複数の非活線側導体と、絶縁材料で形成された絶縁支持体であって該絶縁支持体の一方側及び他方側の面にそれぞれ前記複数の活線側導体及び前記複数の非活線側導体が配置される絶縁支持体とを有する前記テスト端子口に挿入されるプラグ部と、
    前記テストプラグ本体の他方側に突出し、前記活線側導体及び前記非活線側導体の少なくとも一方が外部回路に接続される接続部を有する複数の接続プラグ部と、
    を備えるテストプラグの各接続プラグ部を覆うテストプラグ端子用保護カバーであって、
    各接続プラグ部の前記活線側導体及び前記非活線側導体を収容する内部空間を形成する筒形状の絶縁体被覆部であって該絶縁体被覆部の一方の端部から該絶縁体被覆部の軸線方向に伸びるスリットを有する絶縁体被覆部を備えるテストプラグ端子用保護カバー。
  2. さらに、前記スリットを覆うように、前記スリットの近傍に形成された絶縁性を有する弾性体のスリット覆部を備える請求項1に記載のテストプラグ端子用保護カバー。
  3. 前記スリット覆部は一対の鰭部を有し、一対の鰭部は、前記スリットを覆うように又はその幅を狭めるように、かつ、前記スリットの伸びる方向に直角の方向に、前記スリットを間に配置するように、前記スリットの近傍に形成されている請求項2に記載のテストプラグ端子用保護カバー。
  4. 前記一対の鰭部は、互いに重なり合う側のそれぞれに、互いに取り外し可能な接着部を有する請求項3に記載のテストプラグ端子用保護カバー。
  5. さらに、前記絶縁体被覆部の端部に形成された絶縁性を有する弾性体のキャップ部を備え、
    前記キャップ部は、前記絶縁体被覆部において前記スリットが開放している側の端部と反対側の端部に形成されている請求項1から4のいずれかに記載のテストプラグ端子用保護カバー。
  6. さらに、前記絶縁体被覆部において前記スリットが開放している側の端部にラッパ状に形成された絶縁性を有する弾性体のスカート部を備える請求項1から5のいずれかに記載のテストプラグ端子用保護カバー。
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