JP2012154710A - テストプラグ用測定治具 - Google Patents

Abstract

【課題】作業員の測定部位の誤認を防止できるテストプラグ用測定治具を提供する。
【解決手段】テストプラグ用測定治具は盤外用測定治具１０と盤内用測定治具２０とを具備する。盤外用測定治具１０には、Ｒ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤外側接触端子１２Ｒ，１２Ｗ，１２Ｂ，１２ＮとＲ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤外側接続導体１２７Ｒ，１２７Ｗ，１２７Ｂ，１２７Ｎとをそれぞれ電気的に接続した場合にテストプラグ１２０に装着できるようにするための盤外側ツメ１４が設けられている。盤内用測定治具２０には、Ｒ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤内側接触端子２２Ｒ，２２Ｗ，２２Ｂ，２２ＮとＲ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤内側接続導体１２８Ｒ，１２８Ｗ，１２８Ｂ，１２８Ｎとをそれぞれ電気的に接続した場合にテストプラグ１２０に装着できるようにするための盤内側ツメ２４が設けられている。
【選択図】図１

Description

本発明は、電力系統の保護システムに適用されるテストプラグに使用するためのテストプラグ用測定治具に関し、特に、変成器２次回路の絶縁抵抗などを測定するのに好適なテストプラグ用測定治具に関する。

従来、電力会社では、変成器２次回路の絶縁抵抗を測定したり接地確認をしたりする際には、配電盤に多数配設されたテストターミナルに変流器（ＣＴ）であればＣＴ用テストプラグを挿入し、計器用変圧器（ＰＴ）であればＰＴ用テストプラグを挿入して実施している（下記の特許文献１参照）。

ここで、テストターミナルは、図５に示すテストターミナル１１０のように、前面部にプラグ挿入孔１１１ａが形成された箱体１１１と、箱体１１１内にＲ相，Ｗ相，Ｂ相およびＮ相の各相に対応して並設された４つの接点装置１１２（同図には１つの接点装置１１２のみ図示）とを備える。
ここで、各接点装置１１２は、Ｒ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相の各相に対応する上下一対の可動接触板であるＲ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤外側導体１１２ａＲ，１１２ａＷ，１１２ａＢ，１１２ａＮ並びにＲ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤内側導体１１２ｂＲ，１１２ｂＷ，１１２ｂＢ，１１２ｂＮ（Ｎ相盤外側導体１１２ａＮおよびＮ相盤内側導体１１２ｂＮのみ図示）を備える。

また、テストプラグは、図６に示すテストプラグ１２０のように、直方体形状の本体１２１と、本体１２１の後面に取り付けられた直方体形状の絶縁板支持体１２２と、末端部が絶縁板支持体１２２によって支持された絶縁板１２３と、絶縁板１２３の下面に所定の間隔をもって平行に絶縁板１２３の末端から先端に向けて形成されたＲ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤外側導体１２４Ｒ，１２４Ｗ，１２４Ｂ，１２４Ｎ（Ｎ相盤外側導体１２４Ｎのみ図示）と、絶縁板１２３の上面にＲ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤外側導体１２４Ｒ，１２４Ｗ，１２４Ｂ，１２４Ｎとそれぞれ互いに対向するように形成されたＲ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤内側導体１２５Ｒ，１２５Ｗ，１２５Ｂ，１２５Ｎと、本体１２１の前面に上下互い違いに配設されたＲ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相端子１２６Ｒ，１２６Ｗ，１２６Ｂ，１２６Ｎとを備える。

ここで、Ｒ相端子１２６Ｒは、図７に示すように、本体１２１側の末端部および中央部に設けられた、かつ、Ｒ相盤外側接続導体１２７Ｒと電気的に接続されたＲ相盤外側接続導体１２７Ｒと、本体１２１と反対側の先端側に設けられた、かつ、Ｒ相盤内側接続導体１２８Ｒと電気的に接続されたＲ相盤内側接続導体１２８Ｒとを備える。
同様に、Ｗ相端子１２６Ｗは、末端部および中央部に設けられた、かつ、Ｗ相盤外側接続導体１２７Ｗと電気的に接続されたＷ相盤外側接続導体１２７Ｗと、先端側に設けられた、かつ、Ｗ相盤内側接続導体１２８Ｗと電気的に接続されたＷ相盤内側接続導体１２８Ｗとを備える。
Ｂ相端子１２６Ｂは、末端部および中央部に設けられた、かつ、Ｂ相盤外側接続導体１２７Ｂと電気的に接続されたＢ相盤外側接続導体１２７Ｂと、先端側に設けられた、かつ、Ｂ相盤内側接続導体１２８Ｂと電気的に接続されたＢ相盤内側接続導体１２８Ｂとを備える。
Ｎ相端子１２６Ｎは、末端部および中央部に設けられた、かつ、Ｎ相盤外側接続導体１２７Ｎと電気的に接続されたＮ相盤外側接続導体１２７Ｎと、先端側に設けられた、かつ、Ｎ相盤内側接続導体１２８Ｎと電気的に接続されたＮ相盤内側接続導体１２８Ｎとを備える。

なお、下記の特許文献２には、テスト端子に挿入するテストプラグの活線側導体の電気的絶縁が面倒であったことを解消するために、テスト端子に挿入するテストプラグの活線側導体の露出する部分を覆うが非活線側導体の露出する部分は覆わない保護カバーを設けるとともに、保護カバーをテストプラグに対して着脱自在に構成したテストプラグ保護カバーが開示されている。
また、本出願人は、下記の特許文献３において、試験の作業効率を向上させるとともに、試験開始または試験終了後の操作ミスを防止するために、テストプラグが、プラグ部がテスト端子口に挿入された場合に、テスト端子口とは反対側に突出する複数の接続プラグを除くテストプラグ本体が保護カバーで覆われるとともに、保護カバーが、テストプラグ本体が挿入嵌合された場合に、テスト端子口近傍にそのプラグ部側開口部が当接するように形成され、カバー筐体の底部においては、４つの接続プラグに対応する位置にこの４つの接続プラグがそれぞれ貫通できる接続プラグ開口部が複数形成されたテストプラグ用保護カバーを提案している。

特開２００７−１６６７４４号公報 実用新案登録第３０８１８４５号公報 特開２００９−０３３８６６号公報

しかしながら、変成器２次回路の絶縁抵抗測定時には絶縁抵抗測定器を使用し、ＣＴ用テストプラグまたはＰＴ用テストプラグを用いて作業を行うが、測定する部位（盤外側および盤内側を合わせて８個所）は密集しているため、作業員が測定部位を誤認して絶縁抵抗測定を行うと、その印加電圧によって機器を破損させる可能性があるという問題があった。

本発明の目的は、作業員の測定部位の誤認を防止することができるテストプラグ用測定治具を提供することにある。

本発明のテストプラグ用測定治具は、本体（１２１）の前面の高さが異なる位置に配設された第１および第２の端子（１２６Ｒ，１２６Ｗ，１２６Ｂ，１２６Ｎ）を備えるテストプラグ（１２０）に装着するためのテストプラグ用測定治具であって、前記テストプラグの前記第１および第２の端子が、前記本体側の末端側に設けられた第１の接続導体（１２７Ｒ，１２７Ｗ，１２７Ｂ，１２７Ｎ）と、前記本体と反対側の先端側に設けられた第２の接続導体（１２８Ｒ，１２８Ｗ，１２８Ｂ，１２８Ｎ）とを備え、前記テストプラグ用測定治具が、前記第１の接続導体と電気的に接続される第１の接触端子（１２Ｒ，１２Ｗ，１２Ｂ，１２Ｎ）を備えた第１の測定治具（１０）と、前記第２の接続導体と電気的に接続される第２の接触端子（２２Ｒ，２２Ｗ，２２Ｂ，２２Ｎ）を備えた第２の測定治具（２０）とを具備し、前記第１の測定治具が、前記第１の接触端子と前記第１の接続導体とを電気的に接続した場合に該第１の測定治具を前記テストプラグに装着できるようにするための第１の手段（１４）を備え、前記第２の測定治具が、前記第２の接触端子と前記第２の接続導体とを電気的に接続した場合に該第２の測定治具を前記テストプラグに装着できるようにするための第２の手段（２４）を備えることを特徴とする。
ここで、前記第１の測定治具が、前記第１の接触端子が前面の下方に設けられた直方体形状の第１の本体（１１）をさらに備え、前記第１の手段が、末端が前記第１の本体の後面に固定されるとともに下面が該第１の本体の下面と同一平面上にある第１の横板と、先端部が下方に向くように該第１の横板の先端に垂設された第１の縦板とからなる第１のツメ（１４）であり、前記第２の測定治具が、前記第２の接触端子が前面の下方に設けられた直方体形状の第２の本体（２１）をさらに備え、前記第２の手段が、末端が前記第２の本体の後面に固定されるとともに下面が該第２の本体の下面と同一平面上にある第２の横板と、先端部が下方に向くように該第２の横板の先端に垂設された第２の縦板とからなる第２のツメ（２４）であってもよい。
前記第１のツメの末端から先端まで長さが、前記第２のツメの末端から先端までの長さよりも小さくされていてもよい。
前記第１の測定治具が、前記第１の本体の前面に開口を有するように該第１の本体内に形成された、かつ、前記第１の接触端子と電気的に接続された第１のコネクタ挿入孔（１３Ｒ，１３Ｗ，１３Ｂ，１３Ｎ）をさらに備え、前記第２の測定治具が、前記第２の本体の前面に開口を有するように該第２の本体内に形成された、かつ、前記第２の接触端子と電気的に接続された第２のコネクタ挿入孔（２３Ｒ，２３Ｗ，２３Ｂ，２３Ｎ）をさらに備えてもよい。
前記第１の本体の前面に、前記第１の測定治具を前記テストプラグに装着した場合に前記第１の接触端子と前記第１の接続導体とが電気的に接続するようにするための第１の延長板が該第１の本体の下方に向けて垂設されており、該第１の延長板内に、前記第１の接触端子と前記第１のコネクタ挿入孔とを電気的に接続する第１の導電板が設けられており、前記第２の本体の前面に、前記第２の測定治具を前記テストプラグに装着した場合に前記第２の接触端子の先端部と前記第２の接続導体とが電気的に接続するようにするための第２の延長板が該第２の本体の下方に向けて垂設されており、該第２の延長板内に、前記第２の接触端子と前記第２のコネクタ挿入孔とを電気的に接続する第２の導電板が設けられていてもよい。
前記テストプラグ（１２０）が、前記本体（１２１）の前面に上下互い違いに配設されたＲ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相端子（１２６Ｒ，１２６Ｗ，１２６Ｂ，１２６Ｎ）を備え、前記テストプラグの前記Ｒ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相端子が、前記本体側の末端側に設けられたＲ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤外側接続導体（１２７Ｒ，１２７Ｗ，１２７Ｂ，１２７Ｎ）と、前記本体と反対側の先端側に設けられたＲ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤内側接続導体（１２８Ｒ，１２８Ｗ，１２８Ｂ，１２８Ｎ）とを備え、前記第１の測定治具が盤外用測定治具（１０）であり、前記第２の測定治具が盤内用測定治具（２０）であり、前記盤外用測定治具が、前記Ｒ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤外側接続導体とそれぞれ電気的に接続されるＲ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤外側接触端子（１２Ｒ，１２Ｗ，１２Ｂ，１２Ｎ）と、前記Ｒ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤外側接触端子と前記Ｒ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤外側接続導体とをそれぞれ電気的に接続した場合に該第１の測定治具を前記テストプラグに装着できるようにするための盤外側ツメ（１４）とを備え、前記盤内用測定治具（２０）が、前記Ｒ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤内側接続導体とそれぞれ電気的に接続されるＲ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤内側接触端子（２２Ｒ，２２Ｗ，２２Ｂ，２２Ｎ）と、前記Ｒ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤内側接触端子と前記Ｒ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤内側接続導体とをそれぞれ電気的に接続した場合に該第２の測定治具を前記テストプラグに装着できるようにするための盤内側ツメ（２４）とを備えてもよい。
前記盤外用測定治具が、前記Ｒ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤外側接触端子が前面の下方に設けられた直方体形状の盤外側本体（１１）をさらに備え、前記盤外側ツメが、末端が前記盤外側本体の後面に固定されるとともに下面が該盤外側本体の下面と同一平面上にある第１の横板と、先端部が下方に向くように該第１の横板の先端に垂設された第１の縦板とからなり、前記盤内側測定治具が、前記Ｒ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤内側接触端子が前面の下方に設けられた直方体形状の盤内側本体（２１）をさらに備え、前記盤内側ツメが、末端が前記盤内側本体の後面に固定されるとともに下面が該盤内側本体の下面と同一平面上にある第２の横板と、先端部が下方に向くように該第２の横板の先端に垂設された第２の縦板とからなってもよい。
前記盤外側ツメの末端から先端まで長さが、前記盤内側ツメの末端から先端までの長さよりも小さくされていてもよい。

本発明のテストプラグ用測定治具は、第１の接触端子と第１の接続導体とを電気的に接続した場合に第１の測定治具をテストプラグに装着できるようにするための第１の手段を第１の測定治具が備えるとともに、第２の接触端子と第２の接続導体とを電気的に接続した場合に第２の測定治具をテストプラグに装着できるようにするための第２の手段を第２の測定治具が備えることにより、作業員が第１の測定治具と第２の測定治具とを誤認した場合には、誤認した第１の測定治具または第２の測定治具をテストプラグに装着することができないため、作業員の測定部位の誤認を防止することができるという効果を奏する。

本発明の一実施例によるテストプラグ用測定治具の構成を示す図である。 図１（ａ）に示した盤外用測定治具１０および図１（ｂ）に示した盤内用測定治具２０をテストプラグ１２０に装着した状態を示す図である。 作業員が図１（ａ）に示した盤外用測定治具１０と図１（ｂ）に示した盤内用測定治具２０をテストプラグ１２０とを誤認した場合の両者をテストプラグ１２０に装着した状態を示す図である。 図１（ａ）に示した盤外用測定治具１０にセーフティコネクタ３１を装着した状態を示す図である。 従来のテストターミナル１１０の構成を示す図である。 従来のテストプラグ１２０の構成を示す図である。 従来のテストプラグ１２０の構成を示す図である。

上記の目的を、テストプラグ用測定治具を盤外用測定治具と盤内用測定治具とに分けて、盤外用測定治具にＲ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤外側接触端子とＲ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤外側接続導体とをそれぞれ電気的に接続した場合にテストプラグに装着できるようにするための盤外側ツメを設けるとともに、盤内用測定治具にＲ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤内側接触端子とＲ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤内側接続導体とをそれぞれ電気的に接続した場合にテストプラグに装着できるようにするための盤内側ツメを設けることにより実現した。

以下、本発明のテストプラグ用測定治具の実施例について図面を参照して説明する。
本発明の一実施例によるテストプラグ用測定治具は、図１（ａ），（ｂ）に示す盤外用測定治具１０と、同図（ｃ），（ｄ）に示す盤内用測定治具２０とを具備する。

ここで、盤外用測定治具１０は、図１（ａ），（ｂ）に示すように、直方体形状の盤外側本体１１と、盤外側本体１１の前面の下方に設けられたＲ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤外側接触端子１２Ｒ，１２Ｗ，１２Ｂ，１２Ｎと、盤外側本体１１の前面に開口を有するように盤外側本体１１内に形成された、かつ、内周面に導電膜が形成されたＲ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤外側コネクタ挿入孔１３Ｒ，１３Ｗ，１３Ｂ，１３Ｎと、末端が盤外側本体１１の後面に固定された盤外側ツメ１４とを具備する。

盤外側本体１１の長さ（盤外側本体１１の前面から後面までの長さ）は、テストプラグ１２０の本体１２１の長さ（テストプラグ１２０の本体１２１の前面から後面までの長さ）よりも小さくされている。

盤外側本体１１の前面には、図２（ａ）に示すように盤外用測定治具１０をテストプラグ１２０の本体１２１の上面に取り付けた場合にＲ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤外側接触端子１２Ｒ，１２Ｗ，１２Ｂ，１２Ｎとテストプラグ１２０のＲ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相端子１２６Ｒ，１２６Ｗ，１２６Ｂ，１２６ＮのＲ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤外側接続導体１２７Ｒ，１２７Ｗ，１２７Ｂ，１２７Ｎとをそれぞれ電気的に接続するための４本の延長板が盤外側本体１１の下方に向けて垂設されている。
また、盤外側本体１１および４本の延長板内には、Ｒ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤外側接触端子１２Ｒ，１２Ｗ，１２Ｂ，１２ＮとＲ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤外側コネクタ挿入孔１３Ｒ，１３Ｗ，１３Ｂ，１３Ｎとをそれぞれ電気的に接続するようにするための４本の導電板が設けられている（図１（ａ）の破線参照）。

Ｒ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤外側コネクタ挿入孔１３Ｒ，１３Ｗ，１３Ｂ，１３Ｎは、たとえば変成器２次回路を短絡措置するために使用するセーフティコネクタ３１（先端に円筒状の導電棒が取り付けられている。）を装着するためのものである（図４参照）。

盤外側ツメ１４は、下面が盤外側本体１１の下面と同一平面上にある横板と先端部が下方に向くように横板の先端に一体的に取り付けられた縦板とからなる横断面形状（盤外側本体１１の側面から見た形状）がＬ字状のものである。
また、盤外側ツメ１４の長さ（末端から先端までの長さ）は、図２（ａ）に示すようにＲ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤外側接触端子１２Ｒ，１２Ｗ，１２Ｂ，１２Ｎとテストプラグ１２０のＲ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相端子１２６Ｒ，１２６Ｗ，１２６Ｂ，１２６ＮのＲ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤外側接続導体１２７Ｒ，１２７Ｗ，１２７Ｂ，１２７Ｎとがそれぞれ電気的に接続するように盤外用測定治具１０をテストプラグ１２０の本体１２１の上面に載置した場合に、盤外側ツメ１４の縦板の前面（盤外側本体１１側の面）が盤外側本体１１の後面と接触する長さとされている。

盤内用測定治具２０は、図１（ｃ），（ｄ）に示すように、直方体形状の盤内側本体２１と、盤内側本体２１の前面の下方に設けられたＲ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤内側接触端子２２Ｒ，２２Ｗ，２２Ｂ，２２Ｎと、盤内側本体２１の前面に開口を有するように盤内側本体２１内に形成された、かつ、内周面に導電膜が形成されたＲ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤内側コネクタ挿入孔２３Ｒ，２３Ｗ，２３Ｂ，２３Ｎと、末端が盤内側本体２１の後面に固定された盤内側ツメ２４とを具備する。

盤内側本体２１の長さ（盤内側本体２１の前面から後面までの長さ）は、テストプラグ１２０の本体１２１の長さよりも小さくされている。

盤内側本体２１の前面には、図２（ｂ）に示すように盤内用測定治具２０をテストプラグ１２０の本体１２１の上面に取り付けた場合にＲ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤内側接触端子２２Ｒ，２２Ｗ，２２Ｂ，２２Ｎとテストプラグ１２０のＲ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相端子１２６Ｒ，１２６Ｗ，１２６Ｂ，１２６ＮのＲ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤内側接続導体１２８Ｒ，１２８Ｗ，１２８Ｂ，１２８Ｎとがそれぞれ電気的に接続するようにするための４本の延長板が盤内側本体２１の下方に向けて垂設されている。
また、盤内側本体２１および４本の延長板内には、Ｒ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤内側接触端子２２Ｒ，２２Ｗ，２２Ｂ，２２ＮとＲ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤内側コネクタ挿入孔２３Ｒ，２３Ｗ，２３Ｂ，２３Ｎとを電気的に接続する４本の導電板が設けられている（図１（ｃ）の破線参照）。

Ｒ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤内側コネクタ挿入孔２３Ｒ，２３Ｗ，２３Ｂ，２３Ｎは、上述したＲ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤外側コネクタ挿入孔１３Ｒ，１３Ｗ，１３Ｂ，１３Ｎと同様に、セーフティコネクタ３１のように先端に円筒状の導電棒が取り付けられた測定用コネクタなどを装着するためのものである。

盤内側ツメ２４は、下面が盤内側本体２１の下面と同一平面上にある横板と先端部が下方に向くように横板の先端に一体的に取り付けられ縦板とからなる横断面形状（盤内側本体２１の側面から見た形状）がＬ字状のものである。
また、盤内側ツメ２４の長さ（末端から先端までの長さ）は、図２（ｂ）に示すようにＲ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤内側接触端子２２Ｒ，２２Ｗ，２２Ｂ，２２Ｎとテストプラグ１２０のＲ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相端子１２６Ｒ，１２６Ｗ，１２６Ｂ，１２６ＮのＲ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤内側接続導体１２８Ｒ，１２８Ｗ，１２８Ｂ，１２８Ｎとがそれぞれ電気的に接続するように盤内用測定治具２０をテストプラグ１２０の本体１２１の上面に載置した場合に、盤内側ツメ２４の縦板の前面（盤内側本体２１側の面）が盤内側本体２１の後面と接触する長さとされている。

以上のように構成されたテストプラグ用測定治具では、盤外用測定治具１０の盤外側ツメ１４の長さは、盤内用測定治具２０の盤内側ツメ２４の長さよりも小さくされているので、作業員が絶縁抵抗測定を行う際に盤内用測定治具２０を盤外用測定治具１０であると誤認して、図３（ａ）に示すようにＲ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤内側接触端子２２Ｒ，２２Ｗ，２２Ｂ，２２Ｎとテストプラグ１２０のＲ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相端子１２６Ｒ，１２６Ｗ，１２６Ｂ，１２６Ｎの末端部のＲ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤外側接続導体１２７Ｒ，１２７Ｗ，１２７Ｂ，１２７Ｎとがそれぞれ電気的に接続するように盤内用測定治具２０をテストプラグ１２０の本体１２１の上面に載置した場合には、テストプラグ１２０を配電盤１内のテストターミナル１１０に挿入しようとしても盤内側ツメ２４の縦板が配電盤１の前面に当たって挿入することができないため、作業員は盤内用測定治具２０を盤外用測定治具１０であると誤認したことを容易に気付くことができる。
また、作業員が絶縁抵抗測定を行う際に盤外用測定治具１０を盤内用測定治具２０であると誤認して、図３（ｂ）に示すようにＲ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤外側接触端子１２Ｒ，１２Ｗ，１２Ｂ，１２Ｎとテストプラグ１２０の先端部のＲ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相端子１２６Ｒ，１２６Ｗ，１２６Ｂ，１２６ＮのＲ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤内側接続導体１２８Ｒ，１２８Ｗ，１２８Ｂ，１２８Ｎとがそれぞれ電気的に接続するように盤外用測定治具１０をテストプラグ１２０の本体１２１の上面に載置した場合には、盤外側ツメ１４の縦板の先端が盤外側本体１１の上面に当たって盤外用測定治具１０をテストプラグ１２０の上面に載置することができないため、作業員は盤外用測定治具１０を盤内用測定治具２０であると誤認したことを容易に気付くことができる。
その結果、本実施例によるテストプラグ用測定治具を使用することにより、作業員の測定部位の誤認を防止することができる。

以上の説明では、テストプラグ１２０は、本体１２１の前面に上下互い違いに配設された４つの端子（Ｒ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相端子１２６Ｒ，１２６Ｗ，１２６Ｂ，１２６Ｎ）を備えたが、本体１２１の前面の高さが異なる位置に配設された少なくとも２つの端子を備えるものであればよい。
この場合には、盤外用測定治具１０および盤内用測定治具２０には、テストプラグ１２０の端子の数と同じ数の盤外側接触端子および盤内側接触端子を設けるようにする。

また、盤外用測定治具１０と盤内用測定治具２０とを区別するために、盤外側本体１１（４本の延長板を含む。）および盤外側ツメ１４を同一色で塗るとともに、盤内側本体２１（４本の延長板を含む。）および盤内側ツメ２４を盤外側本体１１（４本の延長板を含む。）および盤外側ツメ１４と異なる同一色で塗ってもよい。

１ 配電盤
１０ 盤外用測定治具
１１ 盤外側本体
１２Ｒ，１２Ｗ，１２Ｂ，１２Ｎ Ｒ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤外側接触端子
１３Ｒ，１３Ｗ，１３Ｂ，１３Ｎ Ｒ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤外側コネクタ挿入孔
１４ 盤外側ツメ
２０ 盤内用測定治具
２１ 盤内側本体
２２Ｒ，２２Ｗ，２２Ｂ，２２Ｎ Ｒ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤内側接触端子
２３Ｒ，２３Ｗ，２３Ｂ，２３Ｎ Ｒ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤内側コネクタ挿入孔
２４ 盤内側ツメ
３１ セーフティコネクタ
１１０ テストターミナル
１１１ 箱体
１１１ａ プラグ挿入孔
１１２ 接点装置
１２２ａＲ，１２２ａＷ，１２２ａＢ，１１２ａＮ Ｒ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤外側導体
１２２ｂＲ，１２２ｂＷ，１２２ｂＢ，１１２ｂＮ Ｒ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤内側導体
１２０ テストプラグ
１２１ 本体
１２２ 絶縁板支持体
１２３ 絶縁板
１２４Ｒ，１２４Ｗ，１２４Ｂ，１２４Ｎ Ｒ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤外側導体
１２５Ｒ，１２５Ｗ，１２５Ｂ，１２５Ｎ Ｒ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤内側導体
１２６Ｒ，１２６Ｗ，１２６Ｂ，１２６Ｎ Ｒ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相端子
１２７Ｒ，１２７Ｗ，１２７Ｂ，１２７Ｎ Ｒ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤外側接続導体
１２８Ｒ，１２８Ｗ，１２８Ｂ，１２８Ｎ Ｒ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤内側接続導体

Claims (8)

1. 本体（１２１）の前面の高さが異なる位置に配設された第１および第２の端子（１２６Ｒ，１２６Ｗ，１２６Ｂ，１２６Ｎ）を備えるテストプラグ（１２０）に装着するためのテストプラグ用測定治具であって、
   前記テストプラグの前記第１および第２の端子が、前記本体側の末端側に設けられた第１の接続導体（１２７Ｒ，１２７Ｗ，１２７Ｂ，１２７Ｎ）と、前記本体と反対側の先端側に設けられた第２の接続導体（１２８Ｒ，１２８Ｗ，１２８Ｂ，１２８Ｎ）とを備え、
   前記テストプラグ用測定治具が、
   前記第１の接続導体と電気的に接続される第１の接触端子（１２Ｒ，１２Ｗ，１２Ｂ，１２Ｎ）を備えた第１の測定治具（１０）と、
   前記第２の接続導体と電気的に接続される第２の接触端子（２２Ｒ，２２Ｗ，２２Ｂ，２２Ｎ）を備えた第２の測定治具（２０）とを具備し、
   前記第１の測定治具が、前記第１の接触端子と前記第１の接続導体とを電気的に接続した場合に該第１の測定治具を前記テストプラグに装着できるようにするための第１の手段（１４）を備え、
   前記第２の測定治具が、前記第２の接触端子と前記第２の接続導体とを電気的に接続した場合に該第２の測定治具を前記テストプラグに装着できるようにするための第２の手段（２４）を備える、
   ことを特徴とする、テストプラグ用測定治具。
2. 前記第１の測定治具が、前記第１の接触端子が前面の下方に設けられた直方体形状の第１の本体（１１）をさらに備え、
   前記第１の手段が、末端が前記第１の本体の後面に固定されるとともに下面が該第１の本体の下面と同一平面上にある第１の横板と、先端部が下方に向くように該第１の横板の先端に垂設された第１の縦板とからなる第１のツメ（１４）であり、
   前記第２の測定治具が、前記第２の接触端子が前面の下方に設けられた直方体形状の第２の本体（２１）をさらに備え、
   前記第２の手段が、末端が前記第２の本体の後面に固定されるとともに下面が該第２の本体の下面と同一平面上にある第２の横板と、先端部が下方に向くように該第２の横板の先端に垂設された第２の縦板とからなる第２のツメ（２４）である、
   ことを特徴とする、請求項１記載のテストプラグ用測定治具。
3. 前記第１のツメの末端から先端まで長さが、前記第２のツメの末端から先端までの長さよりも小さくされていることを特徴とする、請求項２記載のテストプラグ用測定治具。
4. 前記第１の測定治具が、
   前記第１の本体の前面に開口を有するように該第１の本体内に形成された、かつ、前記第１の接触端子と電気的に接続された第１のコネクタ挿入孔（１３Ｒ，１３Ｗ，１３Ｂ，１３Ｎ）をさらに備え、
   前記第２の測定治具が、
   前記第２の本体の前面に開口を有するように該第２の本体内に形成された、かつ、前記第２の接触端子と電気的に接続された第２のコネクタ挿入孔（２３Ｒ，２３Ｗ，２３Ｂ，２３Ｎ）をさらに備える、
   ことを特徴とする、請求項２または３記載のテストプラグ用測定治具。
5. 前記第１の本体の前面に、前記第１の測定治具を前記テストプラグに装着した場合に前記第１の接触端子と前記第１の接続導体とが電気的に接続するようにするための第１の延長板が該第１の本体の下方に向けて垂設されており、
   該第１の延長板内に、前記第１の接触端子と前記第１のコネクタ挿入孔とを電気的に接続する第１の導電板が設けられており、
   前記第２の本体の前面に、前記第２の測定治具を前記テストプラグに装着した場合に前記第２の接触端子の先端部と前記第２の接続導体とが電気的に接続するようにするための第２の延長板が該第２の本体の下方に向けて垂設されており、
   該第２の延長板内に、前記第２の接触端子と前記第２のコネクタ挿入孔とを電気的に接続する第２の導電板が設けられている、
   ことを特徴とする、請求項４記載のテストプラグ用測定治具。
6. 前記テストプラグ（１２０）が、前記本体（１２１）の前面に上下互い違いに配設されたＲ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相端子（１２６Ｒ，１２６Ｗ，１２６Ｂ，１２６Ｎ）を備え、
   前記テストプラグの前記Ｒ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相端子が、前記本体側の末端側に設けられたＲ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤外側接続導体（１２７Ｒ，１２７Ｗ，１２７Ｂ，１２７Ｎ）と、前記本体と反対側の先端側に設けられたＲ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤内側接続導体（１２８Ｒ，１２８Ｗ，１２８Ｂ，１２８Ｎ）とを備え、
   前記第１の測定治具が盤外用測定治具（１０）であり、
   前記第２の測定治具が盤内用測定治具（２０）であり、
   前記盤外用測定治具が、
   前記Ｒ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤外側接続導体とそれぞれ電気的に接続されるＲ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤外側接触端子（１２Ｒ，１２Ｗ，１２Ｂ，１２Ｎ）と、
   前記Ｒ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤外側接触端子と前記Ｒ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤外側接続導体とをそれぞれ電気的に接続した場合に該第１の測定治具を前記テストプラグに装着できるようにするための盤外側ツメ（１４）とを備え、
   前記盤内用測定治具（２０）が、
   前記Ｒ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤内側接続導体とそれぞれ電気的に接続されるＲ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤内側接触端子（２２Ｒ，２２Ｗ，２２Ｂ，２２Ｎ）と、
   前記Ｒ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤内側接触端子と前記Ｒ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤内側接続導体とをそれぞれ電気的に接続した場合に該第２の測定治具を前記テストプラグに装着できるようにするための盤内側ツメ（２４）とを備える、
   ことを特徴とする、請求項１乃至５いずれかに記載のテストプラグ用測定治具。
7. 前記盤外用測定治具が、前記Ｒ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤外側接触端子が前面の下方に設けられた直方体形状の盤外側本体（１１）をさらに備え、
   前記盤外側ツメが、末端が前記盤外側本体の後面に固定されるとともに下面が該盤外側本体の下面と同一平面上にある第１の横板と、先端部が下方に向くように該第１の横板の先端に垂設された第１の縦板とからなり、
   前記盤内側測定治具が、前記Ｒ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相盤内側接触端子が前面の下方に設けられた直方体形状の盤内側本体（２１）をさらに備え、
   前記盤内側ツメが、末端が前記盤内側本体の後面に固定されるとともに下面が該盤内側本体の下面と同一平面上にある第２の横板と、先端部が下方に向くように該第２の横板の先端に垂設された第２の縦板とからなる、
   ことを特徴とする、請求項６記載のテストプラグ用測定治具。
8. 前記盤外側ツメの末端から先端まで長さが、前記盤内側ツメの末端から先端までの長さよりも小さくされていることを特徴とする、請求項７記載のテストプラグ用測定治具。

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