JP2008130280A - 短絡治具、およびテストプラグ - Google Patents

Abstract

【課題】 不具合が生じる可能性が極めて低く、高い信頼性で接点間を確実に短絡し、ＣＴクランプを用いて容易に計測することが可能な、短絡治具、テストプラグを提供する。
【解決手段】
一次ラインと二次ラインとを中継するテストターミナル１１４に挿入して一次ラインと二次ラインとの接続を切り離すテストプラグ１１８の、一次ラインの接点を露呈する一次接点２２２と二次ラインの接点を露呈する二次接点２２４とを短絡する本発明における短絡治具１２０は、板状鉄片の両端にリング端子２３０が設けられ、両リング端子２３０の面が略平行になるように略コの字形状に加工され、略コの字形状によって生成される貫通領域は、ＣＴクランプ２４を嵌入可能な大きさであることを特徴としている。
【選択図】 図２

Description

本発明は、ＣＴ（Ｃｕｒｒｅｎｔ Ｔｒａｎｓｆｏｒｍｅｒｓ）クランプによる導電測定を実施可能な短絡治具、およびテストプラグに関する。

変電設備における保護継電器や制御盤等の電気機器の電源は送電線から供給され、電源と電気機器との間には、その電気機器を電源から切り離すためのテストターミナルが設けられている。ユーザは、このようなテストターミナルに挿入するテストプラグの各接点を様々に接続することで、電気機器に外部電源から電力を供給したり、電気機器への電流または電圧を計測したりすることができる。

例えば、電気機器に外部電源から電力を供給する場合、テストプラグにおいて電源の接点である一次接点を全て短絡し、残った電気機器の接点である二次接点に外部電源を接続する。しかし、４極のテストプラグにおける４つのプラグ端子全ての一次接点を短絡しようとすると最低３本の短絡バーが必要であり、取り付けに長時間を要したり、締め付けの緩みによる短絡バーの脱落が生じたりしていた。

そこで、かかる問題を回避するため、４つのプラグ端子全ての一次接点を一度に短絡可能な短絡治具を用いて、全一次接点を容易かつ確実に短絡可能な技術が知られている（例えば、特許文献１）。

一方、電源から電気機器への電流または電圧を計測する場合、まず、テストプラグにおいて一次接点と二次接点とを短絡する。このような一次接点と二次接点との短絡は、当該テストプラグに付属する短絡治具によって行うことができる。

図６は、４極のテストプラグ１０の外観を示した斜視図である。かかる４極のテストプラグ１０には、プラグ端子１２が４つ設けられ、プラグ端子１２それぞれの前後に一次接点１４と二次接点１６とが設けられる。そして、短絡治具１８でプラグ端子１２の一次接点１４と二次接点１６とを短絡することで、電源と電気機器を接続することができる。かかる短絡治具１８は、その目的が短絡自体にあるため接点間が最短距離で結ばれている。従って、かかる短絡治具１８を流れる電流を測定しようとしても、プラグ端子１２と短絡治具１８との間にＣＴクランプを挿入することができない。また、短絡治具１８は金属部分が露呈しているので、感電や回路の短地絡等が生じる可能性がある。そこで、電流を計測するために短絡線を別途作成する。

図７は、４極のテストプラグ１０に短絡線２０を用いた場合の外観を示した斜視図である。ここでは、プラグ端子１２の一次接点１４と二次接点１６との短絡に、短絡線２０が用いられ、短絡線２０の両端に設けられたＹラグ端子２２を介して、一次接点１４と二次接点１６とが導通している。かかる短絡線２０は任意の長さに形成することができるので、図７に示したように一次接点１４、短絡線２０、二次接点１６で形成される空間領域内にＣＴクランプ２４を嵌入することができる。従って、ＣＴクランプ２４の閉じられたコア内に短絡線２０を貫通させることができ、当該短絡線２０に流れる電流を測定することが可能となる。
特開２００６−０７４８５５号公報

しかし、かかる短絡線２０は、それ自体が変形自在であるが故に導線の各部分にはストレスがかかり、特にＹラグ端子２２との接続点においては、素線切れ（断線）等を引き起こすこともあった。このような素線切れが生じると、電源と電気機器との接続が切断され、閉回路がオープン（ＣＴ回路オープン）となる。このようなＣＴ回路オープンは、各接点に異常電圧（異常高電圧）を引き起こすこととなる。

本発明は、従来の短絡線が有する上記問題点に鑑みてなされたものであり、本発明の目的は、不具合が生じる可能性が極めて低く、高い信頼性で接点間を確実に短絡し、ＣＴクランプを用いて容易に計測することが可能な、新規かつ改良された短絡治具、およびテストプラグを提供することである。

上記課題を解決するために、本発明のある観点によれば、一次ラインと二次ラインとを中継するテストターミナルに挿入して一次ラインと二次ラインとの接続を切り離すテストプラグの、一次ラインの接点を露呈する一次接点と二次ラインの接点を露呈する二次接点とを短絡する短絡治具であって、板状鉄片の両端にリング端子が設けられ、両リング端子の面が略平行になるように略コの字形状に加工され、略コの字形状によって生成される貫通領域は、ＣＴクランプを嵌入可能な大きさであることを特徴とする、短絡治具が提供される。

上記短絡治具は、（１）板状鉄片で形成されており、形状が変化せず、部分的にストレスがかかることもないので、不具合が生じる可能性が極めて低く、高い信頼性で接点間を確実に短絡することができ、（２）リング端子によって製造時に組み込まれるので脱落によるＣＴ回路オープンのおそれがなく、（３）略コの字に固定的に形成され、ＣＴクランプの貫通領域が確保されているので、ＣＴクランプを用いて容易に計測することができる。

貫通領域の幅は、両端のリング端子間の幅より広く形成されてもよい。両端のリング端子間の幅は、プラグ端子の形状によって制限される。当該短絡治具のＣＴクランプの貫通領域、即ち、短絡治具を略コの字形状（Ｃ字形状）に形成することによって生じる中空領域の幅を両端のリング端子間の幅より広くとることによって、様々な大きさのＣＴクランプを嵌入することが可能となる。また、かかる幅広構造は、リング端子から貫通領域に至るまでに幅が漸増する傾斜部によって形成されてもよく、貫通領域は、２５ｍｍ×２５ｍｍ以上の断面を有するとしてもよい。

両端に設けられたリング端子は、リング端子の貫通孔中心軸が等しくなるように形成され、一次接点および二次接点が設けられたプラグ端子に対して当該短絡治具が回動自在となってもよい。

一次接点から二次接点へ流れる電流の電気的特性は短絡治具のプラグ端子に対する位置によって変化する。かかる短絡治具を回動自在にすることで、貫通孔をプラグ端子に係止したまま短絡治具を様々な角度に回動することができ、適切な角度で計測を実行することが可能となる。

当該短絡治具は、絶縁材でコーティングされていてもよい。かかる構成により、ＣＴクランプを嵌入する測定者が不意に当該短絡治具に接してしまったとしても、感電等を起こすことがなく、不慮の事故を回避することができる。従って、計測者は、安全性が確保されている中、安心して計測を行うことができる。

上記課題を解決するために、本発明の別の観点によれば、一次ラインと二次ラインとを中継するテストターミナルに用いられるテストプラグであって、本体と、本体から突出形成され、テストターミナルに挿入して、一次ラインと二次ラインとを切り離すと共に、一次ラインの接点および二次ラインの接点をそれぞれ引き出す突出部と、本体から突出部と反対方向に突出形成され、突出部が引き出した一次ラインの接点を露呈する一次接点と二次ラインの接点を露呈する二次接点とを電気的に隔離して前後に配した複数のプラグ端子と、板状鉄片の両端にリング端子が設けられ、両リング端子の面が略平行になるように略コの字形状に加工され、プラグ端子の一次接点と二次接点とを短絡する短絡治具と、を備え、短絡治具の略コの字形状によって生成される貫通領域は、ＣＴクランプを嵌入可能な大きさであることを特徴とする、テストプラグが提供される。

上述した短絡治具における技術的思想に対応する構成要素やその説明は、当該テストプラグにも適用可能である。

以上説明したように本発明の短絡治具によれば、不具合が生じる可能性が極めて低く、高い信頼性で接点間を確実に短絡し、さらに、ＣＴクランプを用いて容易に計測することが可能となる。

以下に添付図面を参照しながら、本発明の好適な実施の形態について詳細に説明する。なお、本明細書及び図面において、実質的に同一の機能構成を有する構成要素については、同一の符号を付することにより重複説明を省略する。

テストプラグに予め添付された短絡治具は、その鉄片がなす空間が狭いため、ＣＴクランプを嵌入することができないうえ、金属部分が露呈しているので感電等の事故が起きる可能性があった。また、短絡線は、フレキシブルな材質故に局部へのストレスによる素線切れの問題があった。

本発明の実施形態においては、短絡治具に、鉄片による高い信頼性と、ＣＴクランプを嵌入できるような空間領域とを確保させることで、計測の容易性および信頼性を向上させることができる。

（第１の実施形態：電源および電気機器の配置）
図１は、本実施形態における電気系統を説明するための説明図である。かかる図１を参照すると、当該電気系統１００は、電源１１０と、変流器１１２と、テストターミナル１１４と、テストプラグ１１８と、短絡治具１２０と、電気機器１２２とを含んで構成され、一次ラインとしての電源１１０からテストターミナル１１４までの電源系統と、二次ラインとしてのテストターミナル１１４から電気機器１２２までの機器系統とからなる。

上記電源１１０は、３相交流電源で構成され、それぞれ１２０°ずつ位相のずれた高電圧の正弦波電力を、電力線を介して各所に供給する。

上記変流器１１２は、非接触に電源１１０を取り込み、電流値を変換してテストターミナル１１４に伝達する。

上記テストターミナル１１４は、電源１１０と後述する電気機器１２２とを中継し、電源１１０と電気機器１２２とを切り離すためのスイッチ１１６を有する。通常時、即ち、後述するテストプラグ１１８を挿入していないときは、上記スイッチ１１６が閉じており、テストターミナル１１４は、電源１１０からの電力をそのまま電気機器１２２に供給している。

上記テストプラグ１１８は、電源１１０から電気機器１２２へ流れる電気の状態（電圧、電流）を抽出したり、不具合箇所の特定のため電源１１０と電気機器１２２とを切り離したりするために用いられる。具体的に、テストプラグ１１８は、テストプラグ１１８自体の突出部をテストターミナル１１４に挿入して、電源と電気機器の接続を切り離すと共に、各接点をプラグ端子の前後に電気的に隔離して露呈する。測定者は、このようなテストプラグ１１８前面に引き出された各接点を様々に接続することで、外部電源１１０から電気機器１２２に電力を供給したり、電気機器１２２への電流または電圧を計測したりすることができる。

上述したような接続の切り換えにテストプラグ１１８を用いる場合、通常、テストプラグ１１８上の各接点を予め結線してから、テストターミナル１１４への挿入がなされる。これは、テストターミナル１１４にテストプラグ１１８を挿入した後に接点を結線すると回路がオープンになる期間が生じ、ＣＴ回路オープン状態による異常電圧を誘発するからである。

上記短絡治具１２０は、テストプラグ１１８の各プラグ端子における２つの接点を短絡するために用いられる。かかる短絡治具１２０の詳細な構成は、テストプラグ１１８と合わせて後述する。

上記電気機器１２２は、保護継電器、制御盤、配電盤等の総称であり、上述した電源を利用する様々な機器が適用される。例えば、保護継電器（保護リレー盤）は、発電所や変電所、各種産業プラント等に設置され、短絡故障や地落故障を計器用変成器を介して検出し、電力系統からの切り離し信号をリレーに伝送する。制御盤は、電動機等の機器に電力を供給し、自動または手動で運転制御する。配電盤は、電動機器や配電回路を監視し、その制御および保護を実行している。ＣＴクランプによる本実施形態の測定は、かかる電気機器１２２の不具合時や取り付け時、および定期的な変動を観測することを目的としている。

以上説明したような電気系統１００により、電気機器１２２には電源１１０からの電力が供給され、また、テストプラグ１１８を用いることによって様々な接続変更も行うことができる。以下、上述したテストプラグ１１８および短絡治具１２０について詳述する。

（テストプラグ１１８）
図２は、４極のテストプラグ１１８の外観を示した斜視図である。かかるテストプラグ１１８は、本体２００と、突出部２１０と、プラグ端子２２０と、短絡治具１２０とを含んで構成される。ここでは、電気機器１２２を３相構造とし、テストターミナル１１４およびテストプラグ１１８には接地相を含む４極（４相）の配線がなされる。テストプラグはこの他にも２極、８極等、様々な極数をとることができる。

上記本体２００は、箱形状に形成され、後述する突出部２１０やプラグ端子２２０の固定部として機能する。また、プラグ端子２２０を複数備える場合のプラグ端子２２０間の距離を確保する。

上記突出部２１０は、本体２００から突出形成され、後述するプラグ端子２２０に通電する２つの当接部が表裏に配される。そして、挿入方向と直交する方向にもプラグ端子２２０の数分だけの当接部が並置される。かかる突出部２１０をテストターミナル１１４に挿入することで、電源１１０と電気機器１２２とを切り離すと共に、電源１１０からの接点および電気機器１２２への接点をそれぞれ後述するプラグ端子２２０に引き出す。

上記プラグ端子２２０は、極数の数分、本実施形態では４極分、本体２００から略円柱形状に突出形成され、それぞれ、一次接点２２２と、二次接点２２４とが電気的に隔離して前後に配される。かかる一次接点２２２は突出部２１０が引き出した電源１１０からの接点を露呈し、二次接点は電気機器１２２からの接点を露呈する。かかる接点との電気的接続を行う場合、例えば、Ｙラグ端子を一次接点２２２または二次接点２２４に当接し、その状態でプラグ端子キャップ２２６、２２８を回転させ、Ｙラグ端子を締結する。

上記短絡治具１２０は、板状鉄片の両端にリング端子２３０を設け、両リング端子２３０の面が略平行になるように略コの字形状に加工され、プラグ端子２２０の一次接点２２２と二次接点２２４とを短絡する。かかる短絡治具１２０における略コの字形状によって生成される貫通領域２４０は、ＣＴクランプを嵌入可能な大きさに形成されている。従って、図２に示すように、ＣＴクランプ２４を容易に嵌入することができる。かかる貫通領域２４０は、ＣＴクランプ２４の断面の一辺が８〜２０ｍｍ程度であることに鑑みて、一辺２５ｍｍの正方形が入る形状に形成するのが望ましい。

かかる短絡治具１２０は、テストプラグ１１８の製造段階で組み込まれ、リング端子２３０にプラグ端子２２０の軸を挿通することで、短絡治具１２０自体の脱落が防止され、プラグ端子２２０軸の垂直面内の回動のみが許される。かかる構成により、プラグ端子キャップ２２６、２２８に緩みが生じた場合においてもＣＴ回路オープンになるのを回避することができる。

以下、テストプラグ１１８のテストターミナル１１４への挿入による接点の移動に関して詳述する。

図３は、テストプラグ１１８の挿入工程を説明するための縦断面図である。図３（ａ）では、挿入前のテストプラグ１１８とテストターミナル１１４が、図３（ｂ）では、挿入後のテストプラグ１１８とテストターミナル１１４が示されている。

図３（ａ）において、テストターミナル１１４では、電源１１０が一次側端子３１０と、電気機器１２２が二次側端子３１２と接続されている。また、一次側端子３１０には一次側接触部３２２と一次側導通部３２４とが接続され、二次側端子３１２には二次側接触部３３２と二次側導通部３３４とが接続され、一次側接触部３２２には、一次側接触部３２２自体を二次側導通部３３４に付勢するスプリング等の一次側弾性部３２６が設けられ、同様に、二次側接触部３３２には、二次側接触部３３２自体を一次側導通部３２４に付勢する二次側弾性部３３６が設けられる。一次側接触部３２２と二次側導通部３３４および二次側接触部３３２と一次側導通部３２４は、かかる一次側弾性部３２６と二次側弾性部３３６の付勢力のみによる接点の当接によって接続されている。

このような回路構成により、テストプラグ１１８が挿入される前段階では、電源１１０は、一次側端子３１０から、一次側接触部３２２および二次側導通部３３４を伝導する経路と、一次側導通部３２４と二次側接触部３３２を伝導する経路の２つの経路を経由して二次側端子３１２、即ち電気機器１２２に接続されている。

一方、テストプラグ１１８では、一次側当接部３５０と二次側当接部３６０とが突出部２１０の表裏に絶縁物３７０を挟んで設置され、一次側当接部３５０が各プラグ端子２２０の一次側中継部３５２を介して一次接点２２２に接続され、二次側当接部３６０も各プラグ端子２２０の二次側中継部３６２を介して二次接点２２４に接続されている。

また、本実施形態においては、短絡治具１２０が一次接点２２２と二次接点２２４とを短絡するので、結果的にテストプラグ１１８の一次側当接部３５０と二次側当接部３６０とが短絡されていることになる。

図３（ｂ）において、テストプラグ１１８がテストターミナル１１４に挿入されると、即ち、テストプラグ１１８の突出部２１０がテストターミナル１１４の一次側接触部３２２と二次側接触部３３２との間に挿入されると、テストターミナル１１４の一次側接触部３２２および二次側接触部３３２は、一次側弾性部３２６および二次側弾性部３３６の付勢に反して、テストプラグ１１８の一次側当接部３５０と二次側当接部３６０に押圧される。従って、一次側接触部３２２および二次側接触部３３２は引き続き一次側弾性部３２６および二次側弾性部３３６に付勢されて一次側当接部３５０および二次側当接部３６０と電気的に接触する。

このとき、一次側接触部３２２および二次側接触部３３２は、一次側当接部３５０および二次側当接部３６０に押圧されて一次側導通部３２４および二次側導通部３３４との接触が断たれる。従って、電源１１０と電気機器１２２は、切り離され、電源１１０は一次接点２２２に、電気機器１２２は二次接点２２４に引き出される。本実施形態では、上述したように一次接点２２２と二次接点２２４が短絡治具１２０によって予め短絡されているので、電源１１０と電気機器１２２とは継続して導通することとなる。

このようにテストプラグ１１８がテストターミナル１１４に挿入された後、かかる短絡治具１２０にＣＴクランプ２４を嵌入して、短絡治具１２０に流れる電流を測定する。

（短絡治具１２０）
このような短絡治具１２０は、上述したように、板状鉄片で形成されており、形状が変化せず、部分的にストレスがかかることもないので不具合が生じる可能性が極めて低く、高い信頼性で接点間を確実に短絡することができる。また、略コの字に固定的に形成され、ＣＴクランプ２４の貫通領域が確保されているので、ＣＴクランプ２４を用いて容易に計測することができる。さらに、短絡治具１２０はＣＴクランプ２４を掛止したまま固定的に保持できるので、計測者は計測中ＣＴクランプ２４を把持しておく必要もない。このようにＣＴクランプ２４による計測の確実性が担保されるので、本実施形態の短絡治具１２０を使用した長時間の計測にも対応することができる。

図４は、短絡治具の具体的形状を説明するための説明図である。例えば、図４の（ａ）に示した短絡治具１２０では、略コの字形状内のＣＴクランプ２４の貫通領域２４０の幅ａは、両端のリング端子２３０間の幅ｂより広く形成されている。

両端のリング端子２３０間の幅ｂは、プラグ端子２２０の形状によって制限される。当該短絡治具１２０のＣＴクランプの貫通領域２４０、即ち、短絡治具１２０を略コの字形状に形成することによって生じる中空領域の幅ａを両端のリング端子２３０間の幅ｂより広くとることによって、様々な大きさのＣＴクランプ２４に対応することが可能となる。

本実施形態においては、板状鉄片の幅ｃを１０ｍｍ、貫通領域の高さｄを４０ｍｍとし、中空領域の幅ａおよびリング端子間の幅ｂをそれぞれ２５ｍｍ、１５ｍｍとしている。かかる寸法では、本測定に用いられるＣＴクランプの全てに対応することが可能となる。ここで、板状鉄片の幅ｃを１０ｍｍとしたのは、それより細いと構造的に弱くなり、太いと他の短絡治具にぶつかったり、プラグ端子２２０に接続困難になったりするからである。

図４（ａ）の短絡治具１２０の幅広構造は、リング端子の位置に対して一方に偏っている、即ち、貫通領域２４０を形成する板状鉄片の内周面が一方ではリング端子から直線上に形成され、他方はリング端子から枠外に突出するように曲げ形成されている。一方、図４（ｂ）に示した短絡治具４００のように両リング端子２３０から曲げ形成して、幅広構造を形成することもできる。

また、かかる曲げ形成は、リング端子から貫通領域に至るまでに幅が漸増する傾斜部４１０でなされてもよい。上述したように貫通領域の幅ａを両端のリング端子２３０間の幅ｂより広くとる必要があるが、リング端子に近い位置で短絡治具を幅広に形成してしまうと、プラグ端子２２０に他の配線を結線する際にもプラグ端子キャップ２２６、２２８を回転することができなくなる。従って、幅広構造は、プラグ端子キャップ２２６、２２８を計測者の指が入る程度に回動可能な距離をおいて傾斜部を介して形成される。

また、貫通領域の幅ａは、短絡治具１２０の外周がプラグ端子２２０の頭部より手前に突出しないように設定される。例えば、当該テストプラグ１１８をテストターミナル１１４に挿入するとき、かかるプラグ端子２２０に力点をおいて手で押し込む対応をとった場合、短絡治具１２０がプラグ端子２２０より突出していたら押圧し難くなり、また、想定外の押圧により短絡治具１２０が変形することがあるからである。

また、本実施形態の目的の一つがＣＴクランプ２４の嵌入にあることを鑑みると、図４（ｃ）に示した短絡治具４２０のような幅広構造も考えられる。また、本実施形態では、短絡治具として、図４の（ａ）〜（ｃ）の形状を挙げているが、かかる場合に限らず、段差を設けてＴ字形成したり、楕円形成したりと様々な形状を適用することができる。

また、両端に設けられたリング端子２３０は、リング端子２３０の貫通孔中心軸が等しくなるように形成され、プラグ端子２２０に対して短絡治具１２０が回動自在となってもよい。

図５は、短絡治具１２０のプラグ端子２２０に対する回転領域を説明するための説明図である。電源１１０から電気機器１２２へ流れる電流、即ち、一次接点２２２から二次接点２２４へ流れる電流の電気特性は、短絡治具１２０のプラグ端子に対する位置によって変化する。

かかる短絡治具１２０を回動自在にする構成により、プラグ端子２２０の軸をリング端子２３０の貫通孔に挿通したまま、プラグ端子キャップ２２６、２２８を緩めるだけで、短絡治具１２０を矢印で示したような様々な角度に回動することができ、適切な角度で計測を実行することが可能となる。

また、他のプラグ端子２２０の短絡治具１２０と独立して角度を変更することができるので、他の短絡治具も含む様々な位置関係による最適な計測を実行できる。

このとき、短絡治具１２０は、短絡治具１２０自体の周囲における、一次接点２２２や二次接点２２４との電気的接触が必要なリング端子２３０以外の領域を絶縁材でコーティングされている。

かかる構成により、ＣＴクランプ２４を嵌入する者が不意に当該短絡治具に接してしまったとしても、感電等を起こすことがなく、不慮の事故を回避することができる。従って、計測者は、安全性が確保されている中、安心して計測を行うことができる。

以上、添付図面を参照しながら本発明の好適な実施形態について説明したが、本発明は係る例に限定されないことは言うまでもない。当業者であれば、特許請求の範囲に記載された範疇内において、各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり、それらについても当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。

例えば、上述した実施形態においては、電源を一次ラインとして電気機器を二次ラインとして説明しているが、逆に電源を二次ラインに電気機器を一次ラインとすることも可能であり、また、他の様々なラインに接続することも可能である。

また、上述した実施形態においては、理解を容易にするため、ＣＴ（計器用変流器）ターミナルおよびプラグを挙げて説明しているが、当然にしてＰＴ（計器用変圧器）ターミナルおよびプラグにも本実施形態を適用することが可能である。

本発明は、ＣＴクランプによる導電測定を実施可能な短絡治具、およびテストプラグに利用することができる。

本実施形態における電気系統を説明するための説明図である。 本実施形態における４極のテストプラグの外観を示した斜視図である。 本実施形態におけるテストプラグの挿入工程を説明するための縦断面図である 本実施形態における短絡治具の具体的形状を説明するための説明図である。 本実施形態における短絡治具のプラグ端子に対する回転領域を説明するための説明図である。 従来の４極のテストプラグの外観を示した斜視図である。 従来の４極のテストプラグに短絡線を用いた場合の外観を示した斜視図である。

符号の説明

２４ ＣＴクランプ
１１０ 電源
１１４ テストターミナル
１１８ テストプラグ
１２０、４００ 短絡治具
１２２ 電気機器
２００ 本体
２１０ 突出部
２２０ プラグ端子
２２２ 一次接点
２２４ 二次接点
２３０ リング端子

Claims (6)

1. 一次ラインと二次ラインとを中継するテストターミナルに挿入して該一次ラインと該二次ラインとの接続を切り離すテストプラグの、該一次ラインの接点を露呈する一次接点と該二次ラインの接点を露呈する二次接点とを短絡する短絡治具であって、
   板状鉄片の両端にリング端子が設けられ、両リング端子の面が略平行になるように略コの字形状に加工され、
   前記略コの字形状によって生成される貫通領域は、ＣＴクランプを嵌入可能な大きさであることを特徴とする、短絡治具。
2. 前記貫通領域の幅は、前記両端のリング端子間の幅より広く形成されることを特徴とする、請求項１に記載の短絡治具。
3. 前記貫通領域は、２５ｍｍ×２５ｍｍ以上の断面を有することを特徴とする、請求項１または２に記載の短絡治具。
4. 前記両端に設けられたリング端子は、該リング端子の貫通孔中心軸が等しくなるように形成され、前記一次接点および二次接点が設けられたプラグ端子に対して当該短絡治具が回動自在となることを特徴とする、請求項１〜３のいずれかに記載の短絡治具。
5. 当該短絡治具は、絶縁材でコーティングされていることを特徴とする、請求項１〜４のいずれかに記載の短絡治具。
6. 一次ラインと二次ラインとを中継するテストターミナルに用いられるテストプラグであって、
   本体と、
   前記本体から突出形成され、前記テストターミナルに挿入して、前記一次ラインと前記二次ラインとを切り離すと共に、該一次ラインの接点および該二次ラインの接点をそれぞれ引き出す突出部と、
   前記本体から前記突出部と反対方向に突出形成され、前記突出部が引き出した前記一次ラインの接点を露呈する一次接点と前記二次ラインの接点を露呈する二次接点とを電気的に隔離して前後に配した複数のプラグ端子と、
   板状鉄片の両端にリング端子が設けられ、両リング端子の面が略平行になるように略コの字形状に加工され、前記プラグ端子の一次接点と二次接点とを短絡する短絡治具と、
   を備え、
   前記短絡治具の略コの字形状によって生成される貫通領域は、ＣＴクランプを嵌入可能な大きさであることを特徴とする、テストプラグ。

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