JP2019013126A - 電圧回路試験用プラグ - Google Patents

Abstract

【課題】主回路が充電状態中に試験器を接続したまま挿抜を行っても短絡や感電を防止でき、しかも電源側（変成器側）の電圧測定も行える電圧回路試験用プラグを提供することである。【解決手段】三相の各相分が連結部２５で保持された基材２４には、装置側導電部２６と電源側導電部２７とが形成され、装置側導電部２６は基材２４がテストターミナル１１に挿入されたとき装置側接点部１９の第１接点部２１にのみ接触し、装置側導電部２６は基材２４の装置プラグ端子２８に電気的に引き出され、電源側導電部２７は基材２４がテストターミナル１１に挿入されたとき電源側接点部２０の第１接点部２１または第２接点部２２に接触し、電源側導電部２７は基材２４の連結部２５の接触端子３３に電気的に引き出されて構成される。【選択図】 図１

Description

本発明は、三相電圧回路の開閉や系統の切換えを行う際にテストターミナルに挿入され、配電盤内部の保護継電器回路と配電盤外部の変成器回路とを切離す電圧回路試験プラグに関する。

例えば、変電所では系統事故時の保護用や系統監視用の電圧計器等に入力されている三相電圧回路は、主回路である電力系統の電圧を変成器により低電圧変換し、各保護継電器やメーター等に取り込まれている。電力系統の電圧を低電圧に変換する変成器は配電盤外部に、各保護継電器やメーター等は配電盤内部に設けられ、配電盤内部の保護継電器回路には配電盤外部の変成器回路から電源が供給される。配電盤内部の保護継電器の点検や停止をする際には、電圧回路試験プラグをテストターミナルに挿入し、変成器回路と保護継電器回路との切り離しを行っている。

図１３はテストターミナルの一例の説明図であり、図１３（ａ）はテストターミナルの一例の構造図、図１３（ｂ）は図１３（ａ）のテストターミナルに電圧回路試験プラグを挿入した状態を示す構造図である。図１３（ａ）において、テストターミナル１１は、電源側接続部１２にヒューズ１３を介して変成器回路１４が接続され、装置側接続部１５に保護継電器回路の保護継電器１６が接続される。また、変成器回路１４と保護継電器回路の保護継電器１６とはスイッチ部１７を介して接続されており、テストターミナル１１のターミナル接点部１８に電圧回路試験プラグが挿入されることによって、変成器回路１４と保護継電器１６とが切り離される。テストターミナル１１のターミナル接点部１８は三相の各相分に対応した電圧回路試験プラグの基材が挿入される接点部であり、それぞれ装置側接点部１９と電源側接点部２０とを有し、また、装置側接点部１９及び電源側接点部２０は、それぞれ第１接点部２１及び第２接点部２２を有している。

ここで、ターミナル接点部１８の装置側接点部１９及び電源側接点部２０がそれぞれ第１接点部２１及び第２接点部２２を有しているのは、テストターミナル１１のターミナル接点部１８への電圧回路試験プラグの挿抜の際に一瞬でも電源断となる（切り離される）ことがないようにするためである。

図１３（ｂ）において、図１３（ａ）のテストターミナル１１に電圧回路試験プラグ２３を挿入した状態を示している。電圧回路試験プラグ２３は三相の各相に対応して設けられた基材２４を連結部２５で保持して構成され、電圧回路試験プラグ２３の基材２４には、装置側導電部２６及び電源側導電部２７が形成されている。装置側導電部２６は基材２４の装置プラグ端子２８に電気的に引き出され、電源側導電部２７は基材２４の電源プラグ端子２９に電気的に引き出されている。

電圧回路試験プラグ２３はテストターミナル１１に挿入されると、基材２４がターミナル接点部１８の装置側接点部１９と電源側接点部２０との間に挿入され、装置側導電部２６は装置側接点部１９の第１接点部２１及び第２接点部２２に接触し、電源側導電部２７は電源側接点部２０の第１接点部２１及び第２接点部２２に接触する。つまり、電圧回路試験プラグ２３の基材２４が電源側接点部２０の第１接点部２１及び第２接点部２２を押し広げる。これにより、装置側接点部１９と電源側接点部２０との間が広がりスイッチ部１７が開放し変成器回路１４と保護継電器１６とが切り離される。図１３（ｂ）ではスイッチ部１７が開放し変成器回路１４と保護継電器１６とが切り離された状態を示している。

図１３（ｂ）に示すように、電圧回路試験プラグ２３をテストターミナル１１に挿入すると、スイッチ部１７が開放し変成器回路１４と保護継電器１６とが切り離された状態となるので、この状態で装置プラグ端子２８に試験器３１を接続し試験器３１から試験電圧を印加して保護継電器１６の試験を行う。また、変成器回路１４が使用状態のときは電源プラグ端子２９を絶縁テープで養生し感電を防止するとともに誤配線を防止する。電源プラグ端子２９を養生するのは、図１３（ｂ）の状態では装置プラグ端子２８は装置側導電部２６に接続され、電源プラグ端子２９は電源側導電部２７に接続されているので、変成器回路１４が使用状態であるときは電源プラグ端子２９は充電されているからである。

図１４は従来の電圧回路試験プラグ２３をテストターミナル１１に挿入して保護継電器１６の試験を行う際の説明図であり、図１４（ａ）は電圧回路試験プラグ２３に試験器３１を接続し保護継電器１６の試験を行っている場合の説明図、図１４（ｂ）は電圧回路試験プラグ２３に試験器３１を接続したまま電圧回路試験プラグ２３をテストターミナル１１から途中まで引き抜いた場合の説明図である。

保護継電器１６の試験を行うにあたっては、図１４（ａ）に示すように、まず、電圧回路試験プラグ２３をテストターミナル１１に挿入しスイッチ部１７を開放し変成器回路１４と保護継電器１６とを切り離した状態で、電源プラグ端子２９を絶縁テープ３０で養生する。そして、電圧回路試験プラグ２３に試験器３１を接続し、試験器３１から試験電圧を印加して保護継電器１６の試験を行う。試験電圧の印加により矢印で示す回路（試験器３１、装置プラグ端子２８、基材２４の装置側導電部２６、装置側接点部１９の第１接点部２１及び第２接点部２２、保護継電器１６）が形成され保護継電器１６の試験が行われる。

次に、電圧回路試験プラグ２３に試験器３１を接続したまま電圧回路試験プラグ２３をテストターミナル１１から引き抜いた場合には、図１４（ｂ）に示すように、電圧回路試験プラグ２３の基材２４（装置側導電部２６及び電源側導電部２７）が装置側接点部１９及び電源側接点部２０の第２接点部２２に接触しなくなるのでスイッチ部１７が閉じる。これにより、矢印で示す回路（変成器回路１４、ヒューズ１３、スイッチ部１７、ターミナル接点部１８における装置側接点部１９の第１接点部２１、基材２４の装置側導電部２６、装置プラグ端子２８、試験器３１）が形成される。もし、試験器３１の内部抵抗が小さい場合には試験器３１の内部で短絡する。この短絡状態が発生すると、使用している変成器回路１４の電圧喪失や他の保護継電器１６において誤動作等の影響を与える恐れがある。このことから、電圧回路試験プラグ２３に試験器３１を接続したまま電圧回路試験プラグ２３をテストターミナル１１から引き抜くことは避けなければならない。

次に、変成器回路１４から保護継電器１６に印加されている電圧の確認のために電圧測定を行う。図１３（ａ）に示すように、変成器回路１４から保護継電器１６に電圧が印加されている状態、つまりスイッチ部１７が閉じている状態で、保護継電器１６に印加される電圧（変成器回路１４の出力電圧）を測定するには、装置側接続部１５と変成器回路１４の接地極（アース）との間に電圧測定器を接続して電圧測定を行う。

一方、図１３（ｂ）に示すように、電圧回路試験プラグ２３をテストターミナル１１に挿入した状態、つまり、スイッチ部１７が開いている状態で、保護継電器１６に印加される電圧（変成器回路１４の出力電圧）を測定するには、図１５に示すように、装置プラグ端子２８と電源プラグ端子２９との間に短絡片３２を接続する。これにより、スイッチ部１７が開いていても、図１３（ａ）と等価な状態を作り出し、装置側接続部１５と変成器回路１４の接地極（アース）との間に電圧測定器を接続して電圧測定を行う。

このような従来の電圧回路試験プラグ２３では、電源プラグ端子２９は変成器回路１４の使用中は充電されているので、電源プラグ端子２９に誤配線すると回路が短絡したり地絡することがあり、誤って電源プラグ端子２９に触れると感電するので電源プラグ端子２９を養生テープ３０で養生する必要がある。

また、電圧回路試験プラグ２３は、テストターミナル１１に完全挿入した状態で試験器３１を接続し、試験を終了すると試験器３１を取り外すようにしているが、装置プラグ端子２８に試験器３１を接続したまま電圧回路試験プラグ２３をテストターミナル１１に挿抜すると、図１４（ｂ）に示すように、電圧回路試験プラグ２３の挿抜の途中の中間位置においてスイッチ部１７が閉じる。これより、内部抵抗が小さい試験器３１を使用した場合には変成器回路１４が相間で短絡状態となるため、使用している変成器回路の電圧喪失や他の保護継電器において誤動作等の影響を与える恐れがある。

そこで、テストターミナルに対する電気的な接続は装置側接点部のみに対して行わるように構成され、主回路が充電状態である場合でも感電を防止できるようにしたものがある（特許文献１参照）。この試験プラグは、テストターミナルにおける装置側接点と電源側接点との間に挿抜される基材に、当該基材が装置側接点と電源側接点との間に挿入された状態において、装置側接点と電源側接点との電気的な接続を遮断する絶縁部材を設け、当該基材が装置側接点と電源側接点との間に挿入された状態において装置側接点に電気的に接続される導電性部材を当該基材に設け、試験器の接続端子に接続可能な接続用端子部材を実現するリード線およびクリップ端子を導電性部材に電気的に接続して構成され、試験端子に対する挿抜にともなう不具合の発生を容易かつ確実に防止するとともに、試験プラグにかかわる各種作業における安全性の向上を図るものである。

特開２０１１−１８８５５２号公報

しかし、先行文献１のものでは、電源側接点が絶縁部材に接触する構成となっているので、電源側の変成器への接続ができないことから電源側の試験回路が形成できず変成器側の回路試験が行えない。また、基材の構成として、基材が装置側接点と電源側接点との間に挿入された状態において、装置側接点と電源側接点との電気的な接続を遮断する絶縁部材、及び装置側接点に電気的に接続される導電性部材を基材に設けることになるので、既存の電圧回路試験プラグの基材を活用することが難しい。

本発明の目的は、主回路が充電状態中に試験器を接続したまま挿抜を行っても短絡や感電を防止でき、しかも電源側（変成器側）の電圧測定も行える電圧回路試験用プラグを提供することである。

請求項１の発明に係わる電圧回路試験用プラグは、三相電圧回路の開閉や電気系統の切換えを行う際に、配電盤内部の保護継電器回路に接続され第１接点部及び第２接点部を有した装置側接点部と配電盤外部の変成器回路に接続され第１接点部及び第２接点部を有した電源側接点部とを備えたテストターミナルに挿入され、前記保護継電器回路と前記変成器回路とを切離す電圧回路試験プラグにおいて、前記テストターミナルの前記装置側接点部と前記電源側接点部との間に挿抜され前記三相の各相分が連結部で保持された基材と、前記基材に設けられ前記基材が前記テストターミナルに挿入されたとき前記装置側接点部の第１接点部にのみ接触し前記基材の装置プラグ端子に電気的に引き出された装置側導電部と、前記基材に設けられ前記基材が前記テストターミナルに挿入されたとき前記電源側接点部の第１接点部または第２接点部に接触し前記基材の前記連結部の接触端子に電気的に引き出された電源側導電部とを備えたことを特徴とする。

請求項２の発明に係わる電圧回路試験用プラグは、請求項１の発明において、前記三相の各相分の基材に加え、接地極を引き出すための基材を備えたことを特徴とする。

請求項３の発明に係わる電圧回路試験用プラグは、請求項２または請求項３の発明において、前記電圧回路試験プラグの装置側導電部は、前記基材が前記テストターミナルに挿入されたとき前記装置側接点部の第１接点部にのみ接触する装置側導電部に代えて、前記基材が前記テストターミナルに挿入されたとき前記装置側接点部の第１接点部及び第２接点部に接触する導体部を分割して形成された２個の分割導体部のうち前記装置側接点部の第１接点部にのみ接触する分割導体部としたことを特徴とする。

請求項４の発明に係わる電圧回路試験用プラグは、請求項１乃至請求項３のいずれかの発明において、前記接触端子は、埋め込み型または開放型であることを特徴とする。

請求項１の発明によれば、基材に設けられた装置側導電部を基材がテストターミナルに挿入されたとき装置側接点部の第１接点部にのみ接触し基材の装置プラグ端子に電気的に引き出すように構成したので、電圧回路試験プラグの挿抜の途中の中間位置においてスイッチ部が閉じたとしても変成器回路から第１接点部を経由し装置プラグ端子への回路が形成されないので、主回路が充電状態中に試験器を接続したまま挿抜を行っても短絡や感電を防止できる。また、基材に設けられた電源側導電部は基材がテストターミナルに挿入されたとき電源側接点部の第１接点部または第２接点部に接触し基材の連結部の接触端子に電気的に引き出すように構成したので、試験器を配線する際に接触端子に接触することがない。従って、接触端子を養生する必要がなくなる。また、電圧測定器を接触端子と接地極（アース）との間に接続することで電源側（変成器側）の回路試験も行える。

請求項２の発明によれば、請求項１の発明の効果に加え、接地極を引き出すための基材を備えているので、接地極（アース）への接続が容易に行える。

請求項３の発明によれば、請求項２または請求項３の発明の効果に加え、装置側導電部は基材がテストターミナルに挿入されたとき装置側接点部の第１接点部及び第２接点部に接触する導体部を分割して形成し、２個の分割導体部のうち装置側接点部の第１接点部にのみ接触する分割導体部としたので、既存の基材の装置側導電部を分割するだけよい。従って、既存の電圧回路試験プラグの基材を活用できる。

請求項４の発明によれば、請求項１乃至請求項３のいずれかの発明の効果に加え、接触端子は、埋め込み型または開放型としたので、試験器の配線の際に誤配線したり感電することがなくなる。従って、接触端子を養生する必要がなくなり、電源側（変成器側）の回路の電圧測定をできる。

本発明の第１実施形態に係る電圧回路試験用プラグをテストターミナルに挿入した状態を示す構成図。 本発明の第１実施形態に係る電圧回路試験プラグをテストターミナルに挿入して保護継電器の試験を行う際の説明図。 本発明の第１実施形態の接触端子の説明図。 本発明の第２実施形態に係る電圧回路試験用プラグをテストターミナルに挿入した状態を示す構成図。 本発明の第２実施形態に係る電圧回路試験プラグをテストターミナルに挿入して保護継電器の試験を行う際の説明図。 本発明の第３実施形態に係る電圧回路試験用プラグをテストターミナルに挿入した状態を示す構成図 本発明の第３実施形態に係る電圧回路試験プラグをテストターミナルに挿入して保護継電器の試験を行う際の説明図。 本発明の第４実施形態に係る電圧回路試験用プラグをテストターミナルに挿入した状態を示す構成図 本発明の第４実施形態に係る電圧回路試験プラグをテストターミナルに挿入して保護継電器の試験を行う際の説明図。 図１に示した電圧回路試験用プラグに接地極を引き出すための基材を追加し４個の基材２４を有した電圧回路試験用プラグをテストターミナルに挿入した状態を示す構成図。 図１０に示した電圧回路試験プラグに試験器を接続し保護継電器の試験を行っている場合の説明図。 図１０に示した電圧回路試験プラグに試験器を接続したまま電圧回路試験プラグをテストターミナルから途中まで引き抜いた場合の説明図。 テストターミナルの一例の説明図。 従来の電圧回路試験プラグをテストターミナルに挿入して保護継電器の試験を行う際の説明図。 従来の電圧回路試験プラグをテストターミナルに挿入した状態で保護継電器に印加される電圧（変成器回路の出力電圧）を測定する場合の説明図。

以下、本発明の実施形態を説明する。図１は本発明の第１実施形態に係る電圧回路試験用プラグをテストターミナルに挿入した状態を示す構成図である。この第１実施形態は、図１３（ｂ）に示した従来例に対し、基材２４がテストターミナル１１に挿入されたとき、基材２４に設けられた装置側導電部２６が装置側接点部１９の第１接点部２１にのみ接触し、基材２４に設けられた電源側導電部２７が電源側接点部２０の第１接点部２１にのみ接触するように構成するとともに、装置側導電部２６は基材２４の装置プラグ端子２８に電気的に引き出し、電源側導電部２７は基材２４の連結部の接触端子３３に電気的に引き出すようにしたものである。図１３（ｂ）と同一要素には同一符号を付し重複する説明は省略する。

図１において、電圧回路試験プラグ２３の基材２４は絶縁材料で形成され、基材２４の一方側面（図１の基材２４の上部）に装置側導電部２６が設けられ、他方側面（図１の基材２４の下部）に電源側導電部２７が設けられる。装置側導電部２６は、基材２４がテストターミナル１１に挿入されたとき、テストターミナル１１内の装置側接点部１９の第１接点部２１にのみ接触する大きさに形成されている。そして、装置側導電部２６は、基材２４の装置プラグ端子２８に電気的に引き出されている。従って、基材２４がテストターミナル１１に挿入されたとき、装置側導電部２６がテストターミナル１１内の装置側接点部１９の第２接点部２２に接触することはなく、装置側接点部１９の第２接点部２２に接触するのは絶縁材料である基材２４である。

一方、電源側導電部２７は、基材２４がテストターミナル１１に挿入されたとき、テストターミナル１１内の電源側接点部２０の第１接点部２１にのみ接触する大きさに形成されている。そして、電源側導電部２７は、基材２４の連結部２５の接触端子３３に電気的に引き出されている。従って、基材２４がテストターミナル１１に挿入されたとき、電源側導電部２７がテストターミナル１１内の電源側接点部２０の第２接点部２２に接触することはなく、電源側接点部２０の第２接点部２２に接触するのは絶縁材料である基材２４である。

図２は本発明の第１実施形態に係る電圧回路試験プラグ２３をテストターミナル１１に挿入して保護継電器１６の試験を行う際の説明図であり、図２（ａ）は電圧回路試験プラグ２３に試験器３１を接続し保護継電器１６の試験を行っている場合の説明図、図２（ｂ）は電圧回路試験プラグ２３に試験器３１を接続したまま電圧回路試験プラグ２３をテストターミナル１１から途中まで引き抜いた場合の説明図である。

保護継電器１６の試験を行うにあたっては、図２（ａ）に示すように、まず、電圧回路試験プラグ２３をテストターミナル１１に挿入しスイッチ部１７を開放し変成器回路１４と保護継電器１６とを切り離した状態とする。本発明の第１実施形態の電源側導電部２７は、従来の電圧回路試験プラグ２３の電源プラグ端子２９に代えて、本発明の第１実施形態では、基材２４の端子部に電気的に引き出したものではなく、基材２４の連結部２５の接触端子３３に電気的に引き出されているので、本発明の第１実施形態における接触端子３３は、従来の電源プラグ端子２９のように絶縁テープ３０で養生する必要はない。

この状態で、電圧回路試験プラグ２３に試験器３１を接続し、試験器３１から試験電圧を印加して保護継電器１６の試験を行う。試験電圧の印加により矢印で示す回路（試験器３１、装置プラグ端子２８、基材２４の装置側導電部２６、装置側接点部１９の第１接点部２１、保護継電器１６）が形成され保護継電器１６の試験が行われる。

次に、電圧回路試験プラグ２３に試験器３１を接続したまま電圧回路試験プラグ２３をテストターミナル１１から途中まで引き抜いた状態では、図２（ｂ）に示すように、電圧回路試験プラグ２３の基材２４が装置側接点部１９及び電源側接点部２０の第２接点部２２に接触しなくなるのでスイッチ部１７が閉じる。スイッチ部１７が閉じても基材２４の装置側導電部２６がターミナル接点部１８における装置側接点部１９の第１接点部２１に接触しないので、従来の図１４（ｂ）の矢印で示す回路（変成器回路１４、スイッチ部１７、装置側接点部１９の第１接点部２１、基材２４の装置側導電部２６、装置プラグ端子２８、試験器３１）は形成されない。従って、電圧回路試験プラグ２３に試験器３１を接続したまま電圧回路試験プラグ２３をテストターミナル１１から引き抜いても問題はない。

図３は本発明の第１実施形態の接触端子３３の説明図であり、図３（ａ）は埋め込み型の接触端子３３の説明図、図３（ｂ）は開放型の接触端子３３の説明図である。図３（ａ）に示すように、埋め込み形の接触端子３３は、基材２４の連結部２５に設けられた埋め込み穴３４に接触端子３３が埋め込まれて形成されている。接触端子３３はリード線３５により電源側導電部２７に接続される。これにより、電源側導電部２７は、基材２４の連結部２５の接触端子３３に電気的に引き出される。そして、電圧測定の際には、電圧測定器の電極３６を接触端子３３に接触させ変成器回路１４のアースとの間の電圧測定を行う。

図３（ｂ）において、開放型の接触端子３３は、基材２４の連結部２５に設けられた取付穴に接触端子３３を取り付け、接触端子３３が連結部２５の表面に開放されている。接触端子３３はリード線３５により電源側導電部２７に接続され、電源側導電部２７は、基材２４の連結部２５の接触端子３３に電気的に引き出される。そして、電圧測定の際には、図３（ａ）の埋め込み形の場合と同様に、電圧測定器の電極３６を接触端子３３に接触させ変成器回路１４のアースとの間の電圧測定を行う。

本発明の第１実施形態によれば、電圧回路試験プラグ２３のテストターミナル１１への挿抜の途中の中間位置において、スイッチ部１７が閉じたとしても基材２４の装置側導電部２６がターミナル接点部１８における装置側接点部１９の第１接点部２１に接触しない。従って、変成器回路１４から第１接点部２１を経由し装置プラグ端子２８への回路が形成されないので、主回路が充電状態中に試験器を接続したまま挿抜を行っても短絡や感電を防止できる。また、接触端子３３は連結部２５に形成されるので、試験器３１の配線の際に接触端子３３に接触することがないので接触端子３３を養生する必要がなくなる。また、電圧測定器を接触端子３３とアースとの間に接続することで電源側（変成器側）の回路試験も行える。

次に、本発明の第２実施形態を説明する。図４は、本発明の第２実施形態に係る電圧回路試験用プラグをテストターミナルに挿入した状態を示す構成図である。この第２実施形態は、図１に示した第１実施形態に対し、装置側導電部２６として、基材２４がテストターミナル１１に挿入されたとき、装置側接点部１９の第１接点部２１にのみ接触する装置側導電部２６に代えて、装置側接点部１９の第１接点部２１及び第２接点部２２に接触する導体部を分割して形成された２個の分割導体部３７ａ、３７ｂのうち装置側接点部１９の第１接点部２１にのみ接触する分割導体部３７ａとしたものである。図１と同一要素には同一符号を付し重複する説明は省略する。

図４において、図４では基材２４の上部、すなわち、基材２４がテストターミナル１１に挿入されたとき装置側接点部１９側に位置する箇所に、金属で形成された導体部３７を設ける。導体部３７は基材２４がテストターミナル１１に挿入されたとき装置側接点部１９の第１接点部２１及び第２接点部２２に接触する。導体部３７を２個の分割導体部３７ａ、３７ｂに分割し、基材２４がテストターミナル１１に挿入されたとき装置側接点部１９の第１接点部２１にのみ接触する分割導体部３７ａを装置側導電部２６とする。

これにより、基材２４の連結部２５側に一方の分割導体部３７ａ（装置側導電部２６）が位置し、基材２４の先端部側に他方の分割導体部３７ｂが位置することになる。他方の分割導体部３７ｂは金属であり導体であるが一方の分割導体部３７ａ（装置側導電部２６）とは分割されているので、一方の分割導体部３７ａ（装置側導電部２６）と他方の分割導体部３７ｂとは電気的に絶縁されている。基材２４の先端部側に他方の分割導体部３７ｂを設けることによって、基材２４の先端部側の機械的強度を保持する。また、基材２４をテストターミナル１１に挿抜することによって基材２４の先端部が摩耗するのを抑制する。

図５は本発明の第２実施形態に係る電圧回路試験プラグをテストターミナルに挿入して保護継電器の試験を行う際の説明図であり、図５（ａ）は電圧回路試験プラグ２３に試験器３１を接続し保護継電器１６の試験を行っている場合の説明図、図５（ｂ）は電圧回路試験プラグ２３に試験器３１を接続したまま電圧回路試験プラグ２３をテストターミナル１１から途中まで引き抜いた場合の説明図である。

保護継電器１６の試験を行うにあたっては、図５（ａ）に示すように、まず、電圧回路試験プラグ２３をテストターミナル１１に挿入しスイッチ部１７を開放し変成器回路１４と保護継電器１６とを切り離した状態とする。この状態で、電圧回路試験プラグ２３に試験器３１を接続し、試験器３１から試験電圧を印加して保護継電器１６の試験を行う。試験電圧の印加により矢印で示す回路（試験器３１、装置プラグ端子２８、基材２４の装置側導電部２６、装置側接点部１９の第１接点部２１及び第２接点部２２、保護継電器１６）が形成され保護継電器１６の試験が行われる。なお、一方の分割導体部３７ａ（装置側導電部２６）と他方の分割導体部３７ｂとは分割されているが、装置側接点部１９の第１接点部２１及び第２接点部２２にて一方の分割導体部３７ａ（装置側導電部２６）と他方の分割導体部３７ｂとは電気的に接続されて、第１実施形態と同様に試験回路が形成される。

また、本発明の第２実施形態の電源側導電部２７は、第１実施形態の場合と同様に、基材２４の連結部２５の接触端子３３に電気的に引き出されているので、本発明の第２実施形態における接触端子３３は絶縁テープ３０で養生する必要はない。

次に、電圧回路試験プラグ２３に試験器３１を接続したまま電圧回路試験プラグ２３をテストターミナル１１から途中まで引き抜いた状態では、図５（ｂ）に示すように、電圧回路試験プラグ２３の基材２４が装置側接点部１９及び電源側接点部２０の第２接点部２２に接触しなくなるのでスイッチ部１７が閉じる。スイッチ部１７が閉じると他方の分割導体部３７ｂは装置側接点部１９の第１接点部２１に接触するが、基材２４の装置側導電部２６は装置側接点部１９の第１接点部２１に接触しないので、従来の図１４（ｂ）の矢印で示す回路（変成器回路１４、スイッチ部１７、装置側接点部１９の第１接点部２１、基材２４の装置側導電部２６、装置プラグ端子２８、試験器３１）は形成されない。従って、電圧回路試験プラグ２３に試験器３１を接続したまま電圧回路試験プラグ２３をテストターミナル１１から引き抜いても問題はない。

本発明の第２実施形態によれば、第１実施形態の効果に加え、基材２４の導体部３７を２個の分割導体部３７ａ、３７ｂに分割し、基材２４がテストターミナル１１に挿入されたとき、装置側接点部１９の第１接点部２１にのみ接触する分割導体部３７ａを装置側導電部２６とし、基材２４の先端部側の他方の分割導体部３７ｂにより、基材２４の先端部側の機械的強度を保持するので、基材２４のテストターミナル１１への挿抜による基材２４の先端部の摩耗を抑制できる。また、既存の基材２４の装置側導電部２６を導体部３７として分割するだけで２個の分割導体部３７ａ、３７ｂを形成できるので、既存の電圧回路試験プラグの基材２４を活用できる。

次に、本発明の第３実施形態を説明する。図６は、本発明の第３実施形態に係る電圧回路試験用プラグをテストターミナルに挿入した状態を示す構成図である。この第３実施形態は、図１に示した第１実施形態に対し、電源側導電部２７として、基材２４がテストターミナル１１に挿入されたとき、電源側接点部２０の第１接点部２１にのみ接触する電源側導電部２７に代えて、電源側接点部２０の第１接点部２１及び第２接点部２２に接触する電源側導電部２７としたものである。図１と同一要素には同一符号を付し重複する説明は省略する。

図７において、図７では基材２４の下部、すなわち、基材２４がテストターミナル１１に挿入されたとき電源側接点部２０側に位置する箇所に、電源側接点部２０の第１接点部２１及び第２接点部２２の双方に接触する金属で形成された電源側導電部２７を設ける。これにより、基材２４の連結部２５側だけでなく先端部側にも、金属で形成された電源側導電部２７の一部が位置することになるので基材２４の機械的強度が保持できる。また、基材２４をテストターミナル１１に挿抜することによって基材２４の先端部が摩耗することを抑制できる。

図７は本発明の第３実施形態に係る電圧回路試験プラグをテストターミナルに挿入して保護継電器の試験を行う際の説明図であり、図７（ａ）は電圧回路試験プラグ２３に試験器３１を接続し保護継電器１６の試験を行っている場合の説明図、図７（ｂ）は電圧回路試験プラグ２３に試験器３１を接続したまま電圧回路試験プラグ２３をテストターミナル１１から途中まで引き抜いた場合の説明図である。

保護継電器１６の試験を行うにあたっては、図７（ａ）に示すように、まず、電圧回路試験プラグ２３をテストターミナル１１に挿入しスイッチ部１７を開放し変成器回路１４と保護継電器１６とを切り離した状態とする。この状態で、電圧回路試験プラグ２３に試験器３１を接続し、試験器３１から試験電圧を印加して保護継電器１６の試験を行う。試験電圧の印加により矢印で示す回路（試験器３１、装置プラグ端子２８、基材２４の装置側導電部２６、装置側接点部１９の第１接点部２１、保護継電器１６）が形成され保護継電器１６の試験が行われる。つまり、第１実施形態と同様に試験回路が形成される。

また、本発明の第３実施形態の電源側導電部２７は、第１実施形態の場合と同様に、基材２４の連結部２５の接触端子３３に電気的に引き出されているので、本発明の第３実施形態における接触端子３３は絶縁テープ３０で養生する必要はない。

次に、電圧回路試験プラグ２３に試験器３１を接続したまま電圧回路試験プラグ２３をテストターミナル１１から途中まで引き抜いた状態では、図７（ｂ）に示すように、電圧回路試験プラグ２３の基材２４が装置側接点部１９及び電源側接点部２０の第２接点部２２に接触しなくなるのでスイッチ部１７が閉じる。スイッチ部１７が閉じると電源側導電部２７は電源側接点部２０の第１接点部２１に接触するが、基材２４の装置側導電部２６は装置側接点部１９の第１接点部２１に接触しないので、従来の図１４（ｂ）の矢印で示す回路（変成器回路１４、スイッチ部１７、装置側接点部１９の第１接点部２１、基材２４の装置側導電部２６、装置プラグ端子２８、試験器３１）は形成されない。従って、電圧回路試験プラグ２３に試験器３１を接続したまま電圧回路試験プラグ２３をテストターミナル１１から引き抜いても問題はない。

本発明の第３実施形態によれば、第１実施形態の効果に加え、電源側導電部２７は基材２４がテストターミナル１１に挿入されたとき電源側接点部２０の第１接点部２１及び第２接点部２２に接触する電源側導電部２７としたので、既存の電圧回路試験プラグの基材２４を活用できる。電源側導電部２７が第２接点部２２に接触したとしても変成器回路１４からの回路は形成されないので、主回路が充電状態中に試験器３１を接続したまま挿抜を行っても短絡や感電を防止できる。

次に、本発明の第４実施形態を説明する。図８は、本発明の第４実施形態に係る電圧回路試験用プラグをテストターミナルに挿入した状態を示す構成図である。この第４実施形態は、図１に示した第１実施形態に対し、装置側導電部２６として、図４に示した第２実施形態の装置側導電部２６とし、電源側導電部２７として、図６に示した第４実施形態の電源側導電部２７としたものである。図１と同一要素には同一符号を付し重複する説明は省略する。

図８において、装置側導電部２６は、基材２４がテストターミナル１１に挿入されたとき装置側接点部１９の第１接点部２１及び第２接点部２２に接触する導体部を分割して形成された２個の分割導体部３７ａ、３７ｂのうち装置側接点部１９の第１接点部２１にのみ接触する分割導体部３７ａとする。また、電源側導電部２７は、基材２４がテストターミナル１１に挿入されたとき電源側接点部２０の第１接点部２１及び第２接点部２２に接触する電源側導電部２７とする。

図９は本発明の第４実施形態に係る電圧回路試験プラグをテストターミナルに挿入して保護継電器の試験を行う際の説明図であり、図９（ａ）は電圧回路試験プラグ２３に試験器３１を接続し保護継電器１６の試験を行っている場合の説明図、図９（ｂ）は電圧回路試験プラグ２３に試験器３１を接続したまま電圧回路試験プラグ２３をテストターミナル１１から途中まで引き抜いた場合の説明図である。

保護継電器１６の試験を行うにあたっては、図９（ａ）に示すように、図５（ａ）に示した場合と同様に、変成器回路１４と保護継電器１６とを切り離した状態で、試験器３１から試験電圧を印加して保護継電器１６の試験を行う。試験電圧の印加により矢印で示す回路（試験器３１、装置プラグ端子２８、基材２４の装置側導電部２６、装置側接点部１９の第１接点部２１及び第２接点部２２、保護継電器１６）が形成され保護継電器１６の試験が行われる。

次に、電圧回路試験プラグ２３に試験器３１を接続したまま電圧回路試験プラグ２３をテストターミナル１１から途中まで引き抜いた状態では、図９（ｂ）に示すように、図７（ｂ）に示した場合と同様に、電圧回路試験プラグ２３の基材２４が装置側接点部１９及び電源側接点部２０の第２接点部２２に接触しなくなるのでスイッチ部１７が閉じる。スイッチ部１７が閉じると電源側導電部２７は電源側接点部２０の第１接点部２１に接触するが、基材２４の装置側導電部２６は装置側接点部１９の第１接点部２１に接触しないので、従来の図１４（ｂ）の矢印で示す回路（変成器回路１４、スイッチ部１７、装置側接点部１９の第１接点部２１、基材２４の装置側導電部２６、装置プラグ端子２８、試験器３１）は形成されない。従って、電圧回路試験プラグ２３に試験器３１を接続したまま電圧回路試験プラグ２３をテストターミナル１１から引き抜いても問題はない。

本発明の第４実施形態によれば、第１実施形態乃至第３実施形態の効果に加え、既存の基材２４の電源側導電部２７はそのまま使用し、装置側導電部２６は分割するだけで２個の分割導体部３７ａ、３７ｂを形成できるので、既存の電圧回路試験プラグの基材２４を活用できる。分割する際には既存の装置側導電部２６に切り込み入れるだけでよく、容易に本発明の第４実施形態の基材２４を得ることができる。

以上の説明では、電圧回路試験プラグ２３は三相の各相分に対応している３個の基材２４を有したものを示したが、図１０に示すように、三相の各相分の基材２４に、接地極を引き出すための基材２４を追加して設け、４個の基材２４を有したものとすることもできる。図１０は、図１に示した電圧回路試験用プラグに接地極を引き出すための基材２４を追加し４個の基材２４を有した電圧回路試験用プラグをテストターミナルに挿入した状態を示す構成図である。

図１０において、変成器回路１４の三相の各相が接続される電源側接続部１２に加え、変成器回路１４の接地極に接続される電源側接続部１２Ａを有する。また、保護継電器回路の保護継電器１６の三相の各相が接続される装置側接続部１５に加え、保護継電器回路の保護継電器１６の接地極に接続される装置側接続部１５Ａを有する。

いま、図１０に示す電圧回路試験プラグ２３に試験器３１を接続し、試験器３１から試験電圧を印加して保護継電器１６の試験を行う場合には、図１１に示すように、追加した基材２４の装置プラグ端子２８には試験器３１の接地端子を接続する。その他の装置プラグ端子２８には三相の各相を接続する。これにより、試験電圧の印加により矢印で示す回路（試験器３１、装置プラグ端子２８、基材２４の装置側導電部２６、装置側接点部１９の第１接点部２１、保護継電器１６、保護継電器１６の接地極、装置側接続部１５Ａ、装置プラグ端子２８、試験器３１）が形成され保護継電器１６の試験が行われる。

次に、電圧回路試験プラグ２３に試験器３１を接続したまま電圧回路試験プラグ２３をテストターミナル１１から途中まで引き抜いた状態では、図１２に示すように、電圧回路試験プラグ２３の基材２４が装置側接点部１９及び電源側接点部２０の第２接点部２２に接触しなくなるのでスイッチ部１７が閉じる。スイッチ部１７が閉じても基材２４の装置側導電部２６がターミナル接点部１８における装置側接点部１９の第１接点部２１に接触しないので、変成器回路１４、スイッチ部１７、装置側接点部１９の第１接点部２１、基材２４の装置側導電部２６、装置プラグ端子２８、試験器３１の回路は形成されない。従って、電圧回路試験プラグ２３に試験器３１を接続したまま電圧回路試験プラグ２３をテストターミナル１１から引き抜いても問題はない。

図１０乃至図１２では、図１に示した電圧回路試験プラグ２３に対し、接地極を引き出すための基材２４を追加して設けた場合について説明したが、図４、図６、図８に示した電圧回路試験プラグ２３に対しても同様に適用できる。

以上、本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。

１１…テストターミナル
１２…電源側接続部
１３…ヒューズ
１４…変成器回路
１５…装置側接続部
１６…保護継電器
１７…スイッチ部
１８…ターミナル接点部
１９…装置側接点部
２０…電源側接点部
２１…第１接点部
２２…第２接点部
２３…電圧回路試験プラグ
２４…基材
２５…連結部
２６…装置側導電部
２７…電源側導電部
２８…装置プラグ端子
２９…電源プラグ端子
３０…絶縁テープ
３１…試験器
３２…短絡片
３３…接触端子
３４…埋め込み穴
３５…リード線
３６…電極
３７…分割導体部

Claims (4)

1. 三相電圧回路の開閉や電気系統の切換えを行う際に、配電盤内部の保護継電器回路に接続され第１接点部及び第２接点部を有した装置側接点部と配電盤外部の変成器回路に接続され第１接点部及び第２接点部を有した電源側接点部とを備えたテストターミナルに挿入され、前記保護継電器回路と前記変成器回路とを切離す電圧回路試験プラグにおいて、
   前記テストターミナルの前記装置側接点部と前記電源側接点部との間に挿抜され前記三相の各相分が連結部で保持された基材と、
   前記基材に設けられ前記基材が前記テストターミナルに挿入されたとき前記装置側接点部の第１接点部にのみ接触し前記基材の装置プラグ端子に電気的に引き出された装置側導電部と、
   前記基材に設けられ前記基材が前記テストターミナルに挿入されたとき前記電源側接点部の第１接点部または第２接点部に接触し前記基材の前記連結部の接触端子に電気的に引き出された電源側導電部とを備えたことを特徴とする電圧回路試験用プラグ。
2. 前記三相の各相分の基材に加え、接地極を引き出すための基材を備えたことを特徴とする請求項１に記載の電圧回路試験プラグ。
3. 前記電圧回路試験プラグの装置側導電部は、前記基材が前記テストターミナルに挿入されたとき前記装置側接点部の第１接点部にのみ接触する装置側導電部に代えて、前記基材が前記テストターミナルに挿入されたとき前記装置側接点部の第１接点部及び第２接点部に接触する導体部を分割して形成された２個の分割導体部のうち前記装置側接点部の第１接点部にのみ接触する分割導体部としたことを特徴とする請求項１または請求項２に記載の電圧回路試験用プラグ。
4. 前記接触端子は、埋め込み型または開放型であることを特徴とする請求項１乃至請求項３のいずれかに記載の電圧回路試験用プラグ。

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