JP2008017674A - テストプラグ - Google Patents

Abstract

【課題】テスト端子に装着した際、電源側と負荷側との遮断は良好に行いつつ前面には活線部が露出することのないテストプラグを提供する。
【解決手段】電源側導体６と負荷側導体７との間に挿入し得るよう絶縁支持体２２から各相毎に後方に突出した絶縁突出部２５と、前記挿入時に電源側導体６と負荷側導体７とに接触し得るよう、絶縁突出部２５の上面及び下面に相対向して配設された各一対の活線側導体２６及び非活線側導体側導体２７とを有するとともに、各非活線側導体２７は絶縁支持体２２を貫通してその前方に突出させることにより先端部で外部の機器を接続し得る端子部２３を形成する一方、活線側導体６６はその先端部を絶縁支持体２２に埋設させた状態で止めるとともに絶縁支持体２２内に配設した短絡片６３で各相の前記先端部を短絡した。
【選択図】図１

Description

本発明はテストプラグに関し、特にテスト端子に挿入して電力系統の保護機器である継電器の動作確認等を行う場合に適用して有用なものである。

電力系統の保護システムとして、例えば、図６に示すようなものがある。この保護システムでは、線路５０Ｂ，５０Ｗ，５０Ｒの各相に変流器（ＣＴ）５１Ｂ，５１Ｗ，５１Ｒが設けられ、その一端側が中性点Ｎ（以下、変流器５１Ｂ，５１Ｗ，５１Ｒのそれぞれの相をＢ，Ｗ，Ｒ相、中性点Ｎに接続される相をＮ相と称す。）に接続されるとともに、他端側がそれぞれ過電流継電器５３Ｂ，５３Ｗ，５３Ｒに接続されている。ここで、各過電流継電器５３Ｂ，５３Ｗ，５３Ｒと中性点Ｎとの間には地絡過電流継電器５５が設けられ、例えば地絡過電流継電器５５からの信号に基づいて、線路５０Ｂ，５０Ｗ，５０Ｒと変圧器５７との間に設けられた遮断器５９を遮断制御するようになっている。

かかる保護システムでは、過電流継電器５３Ｂ，５３Ｗ，５３Ｒ、地絡過電流継電器５５と各変流器５１Ｂ，５１Ｗ，５１Ｒの間で配電盤にテスト端子１１を配設し、テストプラグ２１に計器、電流発生器等を備えた試験装置６０を接続した後、これをテスト端子１１に挿入して、線路５０Ｂ，５０Ｗ，５０Ｒを活線状態のまま、各過電流継電器５３Ｂ，５３Ｗ，５３Ｒと地絡過電流継電器５５の試験を行うことができるようになっている。

ここで、上記テスト端子１１及びテストプラグ２１についてさらに詳細に説明しておく。

図７はテスト端子１１にテストプラグ２１を装着する前の状態（通常時の状態）を、また図８はテスト端子１１にテストプラグ２１を装着した後の状態（試験時の状態）をそれぞれ示している。

両図に示すように、テスト端子１１は筐体１０、電源側導体６及び負荷側導体７からなる。これらのうち、テスト端子１１は前面に開口部であるプラグ挿入口８を有して配電盤１に固定された絶縁部材である。電源側導体６及び負荷側導体７は、可撓性を有する導電部材で形成されており、一端部が筐体１０に埋設されて外部に臨む端子３，５にそれぞれ接続されるとともに、他端部を筐体１０の内周面に当接させてある。また、電源側導体６及び負荷側導体７の中央部は上方乃至下方に突出する一体的な凸部となっており、通常時には図７に示すように所定の弾性力で凸部同士が接触している。かくして、電源側（変流器５１Ｂ，５１Ｗ，５１Ｒ）と負荷側（過電流継電器５３Ｂ，５３Ｗ，５３Ｒ、地絡過電流継電器５５）とが電気的に接続されている。

ここで、電源側導体６、負荷側導体７及び端子３，５はＢ，Ｗ，Ｒの各相及びＮ相に対応させて同一構成のものがそれぞれ４組設けてあり、各端子３には電源側の変流器（ＣＴ）５１Ｂ，５１Ｗ，５１Ｒが、また各端子５には負荷側の過電流継電器５３Ｂ，５３Ｗ，５３Ｒ及び地絡過電流継電器５５がそれぞれ接続してある。

一方、テストプラグ２１は、絶縁支持体２２から各相毎に後方に突出した絶縁突出部２５と、各絶縁突出部２５の上面及び下面に相対向して配設された各一対の活線側導体２６及び非活線側導体２７を有している。各活線側導体２６及び非活線側導体２７は、相互間の絶縁状態を維持しつつ絶縁支持体２２を貫通してその前方に突出させてあり、それぞれが同軸状に形成された４個の端子部２３となっている。すなわち、活線側導体２６の先端部は円筒状の活線側接続部位３１となっており、非活線側導体２７の先端部は活線側接続部位３１を貫通してさらに前方に突出するロッド状の非活線側接続部位３２となっている。ここで、活線側接続部位３１にはナット３３を、また非活線側接続部位３２にはナット３５を螺合させてある。また、ナット３４はナット３３の抜け止めを行うべく活線側導体２６の先端に固定してある。

図９はテストプラグ２１をその前方から見た斜視図である。同図に示すように、隣接する相間の活線側導体２６及び非活線側導体２７は各相の絶縁突出部２５間に介在させた絶縁部材２４で絶縁されている。なお、図９中、図７及び図８と同一部分には同一番号を付してある。

一方、上述の如き保護システムには、図示はしないが、事故時における線路５０Ｂ，５０Ｗ、５０Ｒの異常な電圧降下を検出するための計器用変圧器（ＰＴ）も通常設けてある。かかる計器用変圧器も、変流器５１Ｂ，５１Ｗ，５１Ｒの場合と同様に、配電盤に配設したテスト端子を介して所定の継電器等に接続してあり、線路５０Ｂ，５０Ｗ，５０Ｒの異常電圧降下が検出された場合に、遮断器５９を遮断制御する。

そこで、前記計器用変圧器のテストターミナルに挿入して前記継電器の動作試験等を行うためのテストプラグも存在する。このテストプラグは、図９に示すテストプラグ２１とほぼ同様の構成であるが、間違ってＣＴ用のテスト端子１１に挿入しないような工夫を施してある。

上述の如きテストプラグ２１は、図８に示すように、所定の試験時等にテスト端子１１に装着される。具体的には、テスト端子１１のプラグ挿入口８から電源側導体６及び負荷側導体７の間に活線側導体２６及び非活線側導体２７を挿入する。この結果、電源側導体６及び負荷側導体７が弾性変形して電源側導体６と活線側導体２６とが接触するとともに負荷側導体７と非活線側導体２７とが接触する。かくして、電源側導体６と負荷側導体７との間が絶縁され、電源側（変流器５１Ｂ，５１Ｗ，５１Ｒ）と負荷側（過電流継電器５３Ｂ，５３Ｗ，５３Ｒ、地絡過電流継電器５５）とが電気的に遮断される。

かかる状態において、過電流継電器５３Ｂ，５３Ｗ，５３Ｒ、地絡過電流継電器５５の試験を行う場合には非活線側接続部位３２にナット３５を介して試験装置６０（図６参照。以下同じ。）を接続する。このとき、電源側が変流器５１Ｂ，５１Ｗ，５１Ｒである場合には、ナット３３を介して各相の活線側接続部位３１に接続片（図示せず）を接続して各相間を短絡しておく。変流器５１Ｂ，５１Ｗ，５１Ｒの二次側が開放されるのを防止するためである。

ところが、上述の如きテストプラグ２１は、これをテスト端子１１等に装着した際、活線側導体２６の活線側接続部位３１が配電盤１の前面で露出した状態となる。したがって、作業員等が充電部である活線側接続部位３１に接触すると感電事故を生起するばかりでなく、送配電に重大な支障を及ぼす短絡乃至アース状態となる。

そこで、従来技術において、活線側を利用する試験を行わない場合は活線側接続部位３１に絶縁テープを巻き付けたり、又は特別なカバーを用意して活線側接続部位３１を覆うようにしている（特許文献１参照）。

この結果、活線側接続部位３１を利用する試験の頻度は、極めて少ないにもかかわらず上述の如き絶縁作業を行なわなければならないので、これに伴う作業が面倒である。特にカバーを利用する場合には、このカバーをその都度着脱する必要があるばかりでなく、１）装着するテストプラグ２１と同数のカバーを用意しておく必要がある、２）カバーを保管しておく場所が必要になる、３）カバーが破損した場合には所定の絶縁機能を担保することができない等の問題がある。

ちなみに、前述の如き負荷側の機器（過電流継電器５３Ｂ，５３Ｗ，５３Ｒ、地絡過電流継電器５５）の試験の場合には、非活線側接続部位３２を利用して所定の試験装置６０を接続し、活線側接続部位３１は、必要に応じて（電源側が変流器５１Ｂ，５１Ｗ，５１Ｒの場合）各相間を短絡する接続片の接続のみに利用されている。

実用新案登録第３０８１８４５号公報

本発明は、上記従来技術に鑑み、テスト端子に装着した際、電源側と負荷側との遮断を良好に行いつつ、前面には活線部が露出することのないテストプラグを提供することを目的とする。

上記目的を達成する本発明の第１の態様は、
配電盤に配設され、各相の電源に接続された複数の電源側導体と各相の負荷に接続された同数の負荷側導体とが通常時には弾性的に接触して各負荷を前記電源に電気的に接続するようになっているテスト端子の前記電源側導体と前記負荷側導体との間に挿入して前記電源と前記負荷とを電気的に絶縁した状態で前記負荷の所定の試験を行うためのテストプラグであって、
前記電源側導体と前記負荷側導体との間に挿入し得るよう絶縁支持体から各相毎に後方に突出した絶縁突出部と、
前記電源側導体と前記負荷側導体との間への挿入時に前記電源側導体と前記負荷側導体とに接触し得るよう、前記絶縁突出部の上面及び下面に相対向して配設された各一対の活線側導体及び非活線側導体とを有するとともに、
前記各非活線側導体は前記絶縁支持体を貫通してその前方に突出させることにより先端部で外部の機器を接続し得る端子部を形成する一方、
前記活線側導体はその先端部を前記絶縁支持体に埋設させた状態で止めるとともに前記絶縁支持体内に配設した短絡片で各相の前記先端部を短絡したことを特徴とするテストプラグである。

本発明の第２の態様は、
配電盤に配設され、各相の電源に接続された複数の電源側導体と各相の負荷に接続された同数の負荷側導体とが通常時には弾性的に接触して各負荷を前記電源に電気的に接続するようになっているテスト端子の前記電源側導体と前記負荷側導体との間に挿入して前記電源と前記負荷とを電気的に絶縁した状態で前記負荷の所定の試験を行うためのテストプラグであって、
前記電源側導体と前記負荷側導体との間に挿入し得るよう絶縁支持体から各相毎に後方に突出した絶縁突出部と、
前記電源側導体と前記負荷側導体との間への挿入時に前記電源側導体と前記負荷側導体とに接触し得るよう、前記絶縁突出部の上面及び下面に相対向して配設された各一対の活線側導体及び非活線側導体とを有するとともに、
前記各非活線側導体は前記絶縁支持体を貫通してその前方に突出させることにより先端部で外部の機器を接続し得る端子部を形成する一方、
前記活線側導体はその先端部を前記絶縁支持体に埋設させた状態で止めることにより前記絶縁支持体内で前記活線側導体の各相間を絶縁したことを特徴とするテストプラグである。

本発明の第３の態様は、
配電盤に配設され、各相の電源に接続された複数の電源側導体と各相の負荷に接続された同数の負荷側導体とが通常時には弾性的に接触して各負荷を前記電源に電気的に接続するようになっているテスト端子の前記電源側導体と前記負荷側導体との間に挿入して前記電源と前記負荷とを電気的に絶縁した状態で前記負荷の所定の試験を行うためのテストプラグであって、
前記電源側導体と前記負荷側導体との間に挿入し得るよう絶縁支持体から各相毎に後方に突出した絶縁突出部と、
前記電源側導体と前記負荷側導体との間への挿入時に前記負荷側導体に接触し得るよう、前記絶縁突出部の片面に配設された非活線側導体とを有するとともに、
前記電源側導体とは前記片面に相対向する前記絶縁突出部の他の面が接触するようにしたことを特徴とするテストプラグである。

上記構成の本発明によれば、テストプラグをテスト端子に装着した際、電源側の充電部が配電盤の前面に露出することはない。したがって、従来の如き充電部の絶縁対策を講じなくても作業員等が充電部に接触して感電する等、送配電に重大な支障を及ぼす短絡乃至アース状態を回避し得る。

すなわち、負荷側機器のテストプラグとして専用品とすることで使用頻度が小さい電源側の絶縁対策という面倒な対策を講じる必要がなく、合理的な作業の遂行に資することができる。

以下本発明の実施の形態を図面に基づき詳細に説明する。

＜第１の実施の形態＞
図１は本形態にかかるテストプラグ６１をテスト端子１１に装着する前の状態（通常時の状態）を、また図２はテストプラグ６１をテスト端子１１に装着した後の状態（試験時の状態）をそれぞれ示している。

両図に示すように、テスト端子１１は図７及び図８に示すテスト端子１１と変わるところはない。また、テストプラグ６１も図７及び図８に示すテストプラグ２１と多くの点で同様の構成となっている。そこで、図７及び図８と同一部分には同一番号を付し、重複する説明は省略する。

本形態に係るテストプラグ６１は、絶縁支持体２２から各相毎に後方に突出した絶縁突出部２５と、各絶縁突出部２５の上面及び下面に相対向して配設された各一対の活線側導体６６及び非活線側導体２７を有している。

ここで、各非活線側導体２７は、絶縁支持体２２を貫通してその前方に突出させてあるが、各活線側導体６６はその先端部を絶縁支持体２２に埋設させた状態で止めてある。すなわち、従来技術に係るテストプラグ２１と異なり、絶縁支持体２２を貫通してその前面に突出する構成とはなっていない。したがって、絶縁支持体２２の前面には各非活線側導体２７のみが突出して非活線側接続部位３２及びナット３５のみが臨む構成となっている。

本形態に係るテストプラグ６１はＣＴ用である。したがって、図２に示すように、このテストプラグ６１をテスト端子１１に装着した際には、各相の活線側導体６６は短絡されている必要がある。このため、図１及び図２のＡ−Ａ線断面図である図３に示すように、活線側導体６６の先端部は絶縁支持体２２の内部で短絡片６３により短絡してある。

かかるテストプラグ６１は、図２に示すように、所定の試験時等にテスト端子１１に装着される。具体的には、従来と同様に、テスト端子１１のプラグ挿入口８から電源側導体６及び負荷側導体７の間に活線側導体６６及び非活線側導体２７を挿入する。この結果、電源側導体６及び負荷側導体７が弾性変形して電源側導体６と活線側導体６６とが接触するとともに負荷側導体７と非活線側導体２７とが接触する。

かかる状態において、過電流継電器５３Ｂ，５３Ｗ，５３Ｒ、地絡過電流継電器５５の試験を行う場合には非活線側接続部位３２にナット３５を介して試験装置６０を接続する。このとき、配電盤１の前面には活線側導体６６に繋がる充電部は臨んでいないので、特別な絶縁対策を採る必要がない。一方、各相の活線側導体６６は短絡片６３で短絡してあるので変流器５１Ｂ、５１Ｗ、５１Ｒの二次側が開放されることもない。

＜第２の実施の形態＞
図４は本形態にかかるテストプラグ８１を示す断面図である。このテストプラグ８１はＰＴ用である。このため、テストプラグ６１と較べた場合、活線側導体８６の構成が若干異なるだけである。そこで、図１乃至図２と同一部分には同一番号を付し、重複する説明は省略する。

本形態に係るテストプラグ８１においても各非活線側導体２７は、絶縁支持体２２を貫通してその前方に突出させてあるが、各活線側導体８６はその先端部を絶縁支持体２２に埋設させた状態で止めてある。すなわち、従来技術に係るテストプラグ２１と異なり、絶縁支持体２２を貫通してその前面に突出する構成とはなっていない。したがって、絶縁支持体２２の前面には各非活線側導体２７のみが突出して非活線側接続部位３２及びナット３５のみが臨む構成となっている。

前述の如く本形態に係るテストプラグ８１はＰＴ用である。このため、図４のＢ−Ｂ線断面図である図５に示すように、各相の活線側導体８６の先端部は絶縁支持体２２の内部で絶縁した状態で保持してある。

かかるテストプラグ８１も所定の試験時等には、図２と同様の態様でＰＴ用のテスト端子に装着される。

かかる状態において、負荷側の機器の試験を行う場合には非活線側接続部位３２にナット３５を介して所定の試験装置を接続する。このとき、配電盤１の前面には活線側導体８６に繋がる充電部は臨んでいないので、特別な絶縁対策を採る必要がない。一方、各相の活線側導体８６は絶縁支持体２２で絶縁してあるので計器用変圧器の二次側は良好な絶縁状態が保持される。

なお、本形態においては、活線側導体８６は、必ずしも設ける必要はない。これを設けることなく絶縁突出部２５の下面が直接、電源側導体６に接触する構造としても同様の作用・効果を得ることができる。

本発明は電力設備の保安に関する技術乃至これらの機器の製造・販売に関連する産業分野で有効に利用し得る。

本発明の第１の実施の形態に係るテストプラグをテスト端子に装着する前の状態（通常時の状態）で示す断面図である。 本発明の第１の実施の形態に係るテストプラグをテスト端子に装着した後の状態（試験時の状態）で示す断面図である。 図１及び図２のＡ−Ａ線断面図である。 本発明の第２の実施の形態に係るテストプラグを示す断面図である。 図４のＢ−Ｂ線断面図である。 挿入式のテストプラグ及びテスト端子を有する電力系統の保護システムを示す回路図である。 従来技術に係るテストプラグをテスト端子に装着する前の状態（通常時の状態）で示す断面図である。 従来技術に係るテストプラグをテスト端子に装着した後の状態（試験時の状態）で示す断面図である。 従来技術に係るテストプラグ（ＣＴ用）を示す斜視図である。

符号の説明

１ 配電盤
６ 電源側導体
７ 負荷側導体
２２ 絶縁支持体
２３ 端子部
２５ 絶縁突出部
２７ 非活線側導体
６１，８１ テストプラグ
６３ 短絡片
６６，８６ 活線側導体

Claims (3)

1. 配電盤に配設され、各相の電源に接続された複数の電源側導体と各相の負荷に接続された同数の負荷側導体とが通常時には弾性的に接触して各負荷を前記電源に電気的に接続するようになっているテスト端子の前記電源側導体と前記負荷側導体との間に挿入して前記電源と前記負荷とを電気的に絶縁した状態で前記負荷の所定の試験を行うためのテストプラグであって、
   前記電源側導体と前記負荷側導体との間に挿入し得るよう絶縁支持体から各相毎に後方に突出した絶縁突出部と、
   前記電源側導体と前記負荷側導体との間への挿入時に前記電源側導体と前記負荷側導体とに接触し得るよう、前記絶縁突出部の上面及び下面に相対向して配設された各一対の活線側導体及び非活線側導体とを有するとともに、
   前記各非活線側導体は前記絶縁支持体を貫通してその前方に突出させることにより先端部で外部の機器を接続し得る端子部を形成する一方、
   前記活線側導体はその先端部を前記絶縁支持体に埋設させた状態で止めるとともに前記絶縁支持体内に配設した短絡片で各相の前記先端部を短絡したことを特徴とするテストプラグ。
2. 配電盤に配設され、各相の電源に接続された複数の電源側導体と各相の負荷に接続された同数の負荷側導体とが通常時には弾性的に接触して各負荷を前記電源に電気的に接続するようになっているテスト端子の前記電源側導体と前記負荷側導体との間に挿入して前記電源と前記負荷とを電気的に絶縁した状態で前記負荷の所定の試験を行うためのテストプラグであって、
   前記電源側導体と前記負荷側導体との間に挿入し得るよう絶縁支持体から各相毎に後方に突出した絶縁突出部と、
   前記電源側導体と前記負荷側導体との間への挿入時に前記電源側導体と前記負荷側導体とに接触し得るよう、前記絶縁突出部の上面及び下面に相対向して配設された各一対の活線側導体及び非活線側導体とを有するとともに、
   前記各非活線側導体は前記絶縁支持体を貫通してその前方に突出させることにより先端部で外部の機器を接続し得る端子部を形成する一方、
   前記活線側導体はその先端部を前記絶縁支持体に埋設させた状態で止めることにより前記絶縁支持体内で前記活線側導体の各相間を絶縁したことを特徴とするテストプラグ。
3. 配電盤に配設され、各相の電源に接続された複数の電源側導体と各相の負荷に接続された同数の負荷側導体とが通常時には弾性的に接触して各負荷を前記電源に電気的に接続するようになっているテスト端子の前記電源側導体と前記負荷側導体との間に挿入して前記電源と前記負荷とを電気的に絶縁した状態で前記負荷の所定の試験を行うためのテストプラグであって、
   前記電源側導体と前記負荷側導体との間に挿入し得るよう絶縁支持体から各相毎に後方に突出した絶縁突出部と、
   前記電源側導体と前記負荷側導体との間への挿入時に前記負荷側導体に接触し得るよう、前記絶縁突出部の片面に配設された非活線側導体とを有するとともに、
   前記電源側導体とは前記片面に相対向する前記絶縁突出部の他の面が接触するようにしたことを特徴とするテストプラグ。
   

Images