JP2005321417A - テストセットおよび測定システム - Google Patents

Abstract

【課題】スイッチモジュールとフィルタバンクを測定するためのテストセットを提供する
【解決手段】マルチポート・ネットワークアナライザと、複数個の実スイッチを具備し少なくとも１つの前記実スイッチの全端子がユーザに開放されたテストセットと、前記ネットワークアナライザおよび前記テストセットを制御する装置とを備え、前記テストセットを介して前記ネットワークアナライザに接続されるマルチポート・デバイスを測定するシステムであって、前記端子が開放された実スイッチを少なくとも１つ含み所定の相互接続が施された２以上の前記実スイッチを１つの仮想スイッチとみなし、前記仮想スイッチについて前記ユーザが指定する導通すべき端子の組み合わせに基づき、前記仮想スイッチに関連する前記実スイッチの選択状態を前記制御装置が制御する。
【選択図】図２

Description

本発明は、マルチポート・デバイスの測定に係り、特に、携帯電話用のスイッチモジュールのネットワーク測定に関する。

近年の携帯電話端末は、異なる無線通信規格に対応した装置を複数備えており、さらに、これらの装置に１本のアンテナを共用させるためのスイッチモジュールを備えている。以下、スイッチモジュールをＳＷＭと称する。ＳＷＭは、アンテナに加え複数の装置が接続されるため、多くのポートを有する。例えば、トリプルバンド（ＧＳＭ，ＤＣＳ，ＰＣＳ）に対応したＳＷＭでは、最大で９ポートを有する。最大で４つの測定ポートを有する現在のワンボックス・マルチポート・ネットワークアナライザは、測定ポートよりも多くのポートを有する被測定物を測定するために、テストセットが組み合わされる。被測定物が接続されるポートにネットワークアナライザの測定ポートのいずれもが電気的に接続できるテストセットは、膨大な数のスイッチを必要とし、高価になりがちである。そこで、被測定物をＳＷＭに限定することにより、必要とされるスイッチの個数を抑えた、低価格なテストセットが提供されている（例えば、特許文献１を参照。）。なお、ポートは端子と同義である。

特開２００２−１５２１５０号公報

最新のＳＷＭは、４バンドのＧＳＭおよび２バンドのＵＭＴＳに対応し、最大で１３ポートを有する。ＳＷＭに特化したテストセットは個別のＳＷＭに最適化されているので、既存のＳＷＭ用テストセットではポート数が足りず最新のＳＷＭを測定できない。また、ＳＷＭの測定と同時に、ＳＷＭに組み合わせて用いるフィルタバンクの測定も要求されている。フィルタバンクは、複数のフィルタが１つのデバイスとして提供されたものである。このフィルタバンクは、ＳＷＭに内蔵される場合がある。その場合、１つの個別チップとして提供される。そして、フィルタバンクと同様に、そのチップ単体での測定も要求されている。前述の６バンドに対応するＳＷＭ用のフィルタバンクは、４つのフィルタを備え、最大で１６ポートを有する。フィルタバンクは、ＳＷＭとは内部構造が異なるため、テストセットへの要求もＳＷＭの要求とは異なる。従って、従来のテストセットは、ＳＷＭとフィルタバンクの両方を測定することができなかった。

本発明は、上記の課題を解決するために為されたものであって、本第一の発明は、ネットワークアナライザの測定ポート数よりも多い端子を有する被測定物を前記ネットワークアナライザに接続するためのテストセットであって、前記測定ポートに電気的に接続される複数の単極多投形スイッチを備えるテストセットにおいて、前記単極多投形スイッチの選択端子に任意に接続可能な少なくとも１つのスイッチを備えることを特徴とするものである。

また、本第二の発明は、本第一の発明のテストセットにおいて、前記ネットワークアナライザが、４ポート・ネットワークアナライザであり、４つの単極４投形スイッチおよび３つの単極双投形スイッチを備え、前記単極双投形スイッチの選択端子が前記単極４投形スイッチの選択端子と任意に接続可能であることを特徴とするものである。

さらに、本第三の発明は、マルチポート・ネットワークアナライザと、複数個の実スイッチを具備し少なくとも１組の前記実スイッチが選択端子間同士で任意に相互接続可能なテストセットと、前記ネットワークアナライザおよび前記テストセットを制御する装置とを備え、前記テストセットを介して前記ネットワークアナライザに接続されるマルチポート・デバイスを測定するシステムであって、前記端子が開放された実スイッチを少なくとも１つ含み所定の相互接続が施された２以上の前記実スイッチを１つの仮想スイッチとみなし、前記仮想スイッチについて前記ユーザが指定する導通すべき端子の組み合わせに基づき、前記仮想スイッチに関連する前記実スイッチの選択状態を前記制御装置が制御することを特徴とするものである。

本発明のテストセットは、ネットワークアナライザに接続する単極４投形スイッチと任意に接続可能なスイッチをさらに備えているので、ＳＷＭおよびフィルタバンクを、測定に必要な形態でネットワークアナライザに接続することができる。また、本発明の測定システムは、相互接続された複数の実スイッチを１つの仮想スイッチと見なして、仮想スイッチの端子のみを指定することにより、関連する実スイッチ全てを制御できるようにしたので、ＳＷＭに特化したテストセットと同等の有用性を確保し、ユーザによるテストセットの誤設定を防止できる。

次に、本発明を添付の図面に示す好適実施形態に基づいて説明する。本発明の実施形態は、マルチポート・テストセットを用いた測定システムである。以下、図１、図２および図３を参照する。図１は、本発明の実施形態である測定システム１０の正面図である。図２は、測定システム１０の構成を示すブロック図である。図３は、図２におけるスイッチアレイ４００の内部構成を示すブロック図である。まず、測定システム１０の構成について説明する。測定システム１０は、４ポートのマルチポート・ネットワークアナライザ１００と、マルチポート・テストセット２００とを備える。

ネットワークアナライザ１００は、制御部１１０と、メモリ部１２０と、インタフェース部１３０と、測定部１４０とを備える。制御部１１０は、メモリ部１２０およびインタフェース部１３０および測定部１４０を制御し、また、メモリ部１２０およびインタフェース部１３０および測定部１４０と通信してデータ交換を行う装置である。制御部１１０は、例えば、ＣＰＵもしくはＤＳＰ、または、ＡＳＩＣもしくはＦＰＧＡなどで構成される。メモリ部１２０は、データやプログラムを格納する装置である。メモリ部１２０は、例えば、ＤＲＡＭもしくはＲＯＭ、または、ハードディスクドライブもしくはリムーバブル・ディスクドライブなどで構成される。インタフェース部１３０は、ネットワークアナライザ１００が外部と通信するための装置である。インタフェース部１３０は、例えば、ディスプレイ１３１やバーニャ１３２やキーボード１３３などで構成される。また、インタフェース部１３０は、テストセット２００を制御するための信号を送受するための制御端子Ｍを備える。測定部１４０は、被測定物である素子あるいは回路のネットワーク特性（網特性）を測定する装置である。測定部１４０は、測定ポートＰ１、測定ポートＰ２、測定ポートＰ３、および、測定ポートＰ４を備える。測定ポートＰ１、測定ポートＰ２、測定ポートＰ３、および、測定ポートＰ４には、テストセット２００を介して被測定物が接続される。

テストセット２００は、制御部３００と、スイッチアレイ４００とを備える。制御部３００は、スイッチアレイ４００を制御する装置である。制御部３００は、制御端子Ｎを備え、制御端子Ｎを介してネットワークアナライザ１００と電気的に接続されている。制御部３００は、スイッチアレイ４００を制御するための命令を、ネットワークアナライザ１００から受信する。スイッチアレイ４００は、ネットワークアナライザ１００の測定ポートに接続するための端子Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３およびＴ４を備える。また、スイッチアレイ４００は、被測定物を接続するための端子Ａ１、Ａ２、Ａ３、Ａ４、Ｂ１、Ｂ２、Ｂ３、Ｂ４、Ｃ１、Ｃ２、Ｃ３、Ｃ４、Ｄ１、Ｄ２、Ｄ３、Ｄ４、Ｘ１、Ｘ２、Ｘ３、Ｙ１、Ｙ２、Ｙ３、Ｚ１、Ｚ２およびＺ３を備える。これらスイッチは、図３においてはＳＰＤＴ（単極双投）形スイッチとして概略的に示されているが、実際には、図４に示される構造を有する。

ここで、図４を参照する。図４には、スイッチアレイ４００に備えられるＳＰＤＴ形スイッチの代表例として、スイッチ４１０の内部構成が示されている。図４において、左図が内部構成を概略的に示したスイッチ４１０を示す図であり、右図が内部構成を詳細に示したスイッチ４１０を示す図である。スイッチ４１０が端子ｆを選択する時、端子ｅと端子ｆが導通する。また、スイッチ４１０が端子ｇを選択する時、端子ｅと端子ｇが導通する。スイッチ４１０は、終端のための抵抗器Ｒ１およびＲ２を備える。スイッチ４１０において、端子ｆが選択される時、端子ｇは抵抗器Ｒ２で終端される。また、スイッチ４１０において、端子ｇが選択される時、端子ｆは抵抗器Ｒ１で終端される。なお、図４において、抵抗器Ｒ１およびＲ２の一端に接続される三角印は、アースを表している。単極多投形スイッチにおいて、極側の端子を共通端子と称し、その他の端子を選択端子と称する。例えば、スイッチ４１０において、端子ｆおよび端子ｇは選択端子である。スイッチ４１１、４１２、４２０、４３０、４４０、４５０、４５１、４５２、４６０、４６１、４６２、４７０、４７１および４７２は、図４中の右図に示すスイッチ４１０と同じ構造を有し、これらのスイッチのそれぞれは、端子ｅ、端子ｆ、端子ｇ、抵抗器Ｒ１および抵抗器Ｒ２を備える。

ここで、図３を参照する。スイッチ４１０の端子ｅは端子Ｔ１に電気的に接続され、スイッチ４１０の端子ｆはスイッチ４１１の端子ｅに電気的に接続され、スイッチ４１０の端子ｇはスイッチ４１２の端子ｅに電気的に接続される。これらの接続により、スイッチ４１０、スイッチ４１１およびスイッチ４１２は、ＳＰ４Ｔ（単極４投、単極４ポジション、ＳＰ４Ｐ）形スイッチを構成する。スイッチ４１１の端子ｆは端子Ａ１に電気的に接続され、スイッチ４１１の端子ｇは端子Ａ２に電気的に接続される。スイッチ４１２の端子ｆは端子Ａ３に電気的に接続され、スイッチ４１２の端子ｇは端子Ａ４に電気的に接続される。

スイッチ４２０の端子ｅは端子Ｘ３に電気的に接続され、スイッチ４２０の端子ｆは端子Ｘ１に電気的に接続され、スイッチ４２０の端子ｇは端子Ｘ２に電気的に接続される。

スイッチ４３０の端子ｅは端子Ｙ３に電気的に接続され、スイッチ４３０の端子ｆは端子Ｙ１に電気的に接続され、スイッチ４３０の端子ｇは端子Ｙ２に電気的に接続される。

スイッチ４４０の端子ｅは端子Ｚ３に電気的に接続され、スイッチ４４０の端子ｆは端子Ｚ１に電気的に接続され、スイッチ４４０の端子ｇは端子Ｚ２に電気的に接続される。

スイッチ４５０の端子ｅは端子Ｔ２に電気的に接続され、スイッチ４５０の端子ｆはスイッチ４５１の端子ｅに電気的に接続され、スイッチ４５０の端子ｇはスイッチ４５２の端子ｅに電気的に接続される。これらの接続により、スイッチ４５０、スイッチ４５１およびスイッチ４５２は、ＳＰ４Ｔ（単極４投）形スイッチを構成する。スイッチ４５１の端子ｆは端子Ｂ１に電気的に接続され、スイッチ４５１の端子ｇは端子Ｂ２に電気的に接続される。スイッチ４５２の端子ｆは端子Ｂ３に電気的に接続され、スイッチ４５２の端子ｇは端子Ｂ４に電気的に接続される。

スイッチ４６０の端子ｅは端子Ｔ３に電気的に接続され、スイッチ４６０の端子ｆはスイッチ４６１の端子ｅに電気的に接続され、スイッチ４６０の端子ｇはスイッチ４６２の端子ｅに電気的に接続される。これらの接続により、スイッチ４６０、スイッチ４６１およびスイッチ４６２は、ＳＰ４Ｔ（単極４投）形スイッチを構成する。スイッチ４６１の端子ｆは端子Ｃ１に電気的に接続され、スイッチ４６１の端子ｇは端子Ｃ２に電気的に接続される。スイッチ４６２の端子ｆは端子Ｃ３に電気的に接続され、スイッチ４６２の端子ｇは端子Ｃ４に電気的に接続される。

スイッチ４７０の端子ｅは端子Ｔ４に電気的に接続され、スイッチ４７０の端子ｆはスイッチ４７１の端子ｅに電気的に接続され、スイッチ４７０の端子ｇはスイッチ４７２の端子ｅに電気的に接続される。これらの接続により、スイッチ４７０、スイッチ４７１およびスイッチ４７２は、ＳＰ４Ｔ（単極４投）形スイッチを構成する。スイッチ４７１の端子ｆは端子Ｄ１に電気的に接続され、スイッチ４７１の端子ｇは端子Ｄ２に電気的に接続される。スイッチ４７２の端子ｆは端子Ｄ３に電気的に接続され、スイッチ４７２の端子ｇは端子Ｄ４に電気的に接続される。

以上に説明したスイッチ４１０、４１１、４１２、４２０、４３０、４４０、４５０、４５１、４５２、４６０、４６１、４６２、４７０、４７１および４７２は、それぞれ、制御部３００により選択状態（導通状態）が制御される。

ここで、図３に加えて、図１と図２を参照する。なお、図１において、測定ポートＰ１と端子Ｔ１、測定ポートＰ２と端子Ｔ２、測定ポートＰ３と端子Ｔ３、測定ポートＰ４と端子Ｔ４、制御端子Ｍと制御端子Ｎは、それぞれ、図２に示されるように電気的に接続されているものとする。

次に、テストセット２００に備えられるスイッチ４１０などの、ユーザによる制御について説明する。ネットワークアナライザ１００は、ユーザがプログラムするための環境を備えている。ユーザは、プログラミング環境内で提供されるスクリプトコマンドを列挙し、必要に応じて列挙したコマンドにパラメータを与えることができる。スクリプトコマンドは、インタフェース部１３０を通じて入力することができる。ユーザにより列挙されたコマンドは、プログラムとして、メモリ部１２０に格納される。制御部１１０は、メモリ部１２０に格納されたプログラムを実行し、プログラムによって反映されたユーザの意図に従って、制御部３００を介してスイッチ４１０などを制御する。

スイッチ４１０などを制御するスクリプトコマンドは、ＰＯＲＴ１、ＰＯＲＴ２、ＰＯＲＴ３、ＰＯＲＴ４、ＰＯＲＴ５、ＰＯＲＴ６およびＰＯＲＴ７である。ＰＯＲＴ１、ＰＯＲＴ２、ＰＯＲＴ３およびＰＯＲＴ４のそれぞれは、端子Ｔ１〜Ｔ４のそれぞれに対応する。また、ＰＯＲＴ５は端子Ｘ３に、ＰＯＲＴ６は端子Ｙ３に、ＰＯＲＴ７は端子Ｚ３に、それぞれ対応する。これらＰＯＲＴ１〜ＰＯＲＴ７に後続して、導通させたい端子を指定すると、関連するスイッチが制御される。例えば、端子Ｔ１を端子Ａ４に導通させたい時は、”ＰＯＲＴ１ Ａ４”と記載する。このスクリプトコマンドが実行されると、スイッチ４１０は端子ｇを選択し、スイッチ４１２は端子ｇを選択する。同様に、端子Ｔ３を端子Ｃ２に導通させたい時には、”ＰＯＲＴ３ Ｃ２”と記載する。このスクリプトコマンドが実行されると、スイッチ４６０は端子ｆを選択し、スイッチ４６１は端子ｇを選択する。また同様に、端子Ｙ３を端子Ｙ１に導通させたい時には、”ＰＯＲＴ６ Ｙ１”と記載する。このスクリプトコマンドが実行されると、スイッチ４３０は端子ｆを選択する。このように、導通させたい端子の組み合わせをスクリプトコマンドで指定することにより、各スイッチの選択状態を制御することができる。なお、各スイッチを直接指定して制御する場合に、各コマンドに対して指定できるパラメータ（接続先端子名）は、以下の通りである。

ＰＯＲＴ１：Ａ１，Ａ２，Ａ３またはＡ４のいずれか
ＰＯＲＴ２：Ｂ１，Ｂ２，Ｂ３またはＢ４のいずれか
ＰＯＲＴ３：Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３またはＣ４のいずれか
ＰＯＲＴ４：Ｄ１，Ｄ２，Ｄ３またはＤ４のいずれか
ＰＯＲＴ５：Ｘ１またはＸ２のいずれか
ＰＯＲＴ６：Ｙ１またはＹ２のいずれか
ＰＯＲＴ７：Ｚ１またはＺ２のいずれか

上記のように構成された測定システム１０は、多種多様なマルチポート・デバイスの測定に用いて好適である。次に、測定システム１０を用いて、１３ポートのＳＷＭおよび１６ポートのフィルタバンクを測定した実施例について説明する。

本発明の第一の実施例は、１３ポートのＳＷＭを測定するものである。この１３ポートＳＷＭは、送信４系統および受信４系統を１つのアンテナで共用させるためのスイッチであって、ＳＰ８Ｔ（単極８投）形スイッチとも称される。ここで、被測定物である１３ポートのＳＷＭの内部構成を示すブロック図として、図５を参照する。図５において、ＳＷＭ５００は、平衡−不平衡形のフィルタ５１０，５２０，５３０および５４０と、ＳＰ３Ｔ（単極３投）形のスイッチ５５０と、ＳＰ７Ｔ（単極７投）形のスイッチ５６０とを備える。また、ＳＷＭ５００は、アンテナを接続するための端子ＡＮＴ、ＵＭＴＳ装置を接続するための端子ＵＭＴＳ１および端子ＵＭＴＳ２、送信装置を接続するための端子Ｔｘ１および端子Ｔｘ２、受信装置を接続するための端子Ｒｘ１ａ，端子Ｒｘ１ｂ，端子Ｒｘ２ａ，端子Ｒｘ２ｂ，端子Ｒｘ３ａ，端子Ｒｘ３ｂ，端子Ｒｘ４ａおよび端子Ｒｘ４ｂを備える。端子Ｔｘ１および端子Ｔｘ２は、個別にスイッチ５５０に接続される。端子Ｔｘ１または端子Ｔｘ２の一方は、スイッチ５５０により、スイッチ５６０と選択的に導通する。スイッチ５６０において、端子Ｔｘ１および端子Ｔｘ２の両方ともが選択されない状態もある。端子Ｒｘ１ａおよびＲｘ１ｂは、フィルタ５１０の平衡端子対を構成する。フィルタ５１０の不平衡端子Ｕ１は、スイッチ５６０に接続されている。端子Ｒｘ２ａおよびＲｘ２ｂは、フィルタ５２０の平衡端子対を構成する。フィルタ５２０の不平衡端子Ｕ２は、スイッチ５６０に接続されている。端子Ｒｘ３ａおよびＲｘ３ｂは、フィルタ５３０の平衡端子対を構成する。フィルタ５３０の不平衡端子Ｕ３は、スイッチ５６０に接続されている。端子Ｒｘ４ａおよびＲｘ４ｂは、フィルタ５４０の平衡端子対を構成する。フィルタ５４０の不平衡端子Ｕ４は、スイッチ５６０に接続されている。端子ＡＮＴ、端子ＵＭＴＳ１、端子ＵＭＴＳ２、フィルタ５１０、フィルタ５２０、フィルタ５３０、フィルタ５４０およびスイッチ５５０は、個別に、スイッチ５６０に接続されている。スイッチ５６０は、端子ＵＭＴＳ１、端子ＵＭＴＳ２、フィルタ５１０、フィルタ５２０、フィルタ５３０、フィルタ５４０またはスイッチ５５０のいずれか１つを選択し、選択した端子を端子ＡＮＴと導通させる。

次に、図６および図７を参照する。図６は、ネットワークアナライザ１００、テストセット２００、および、ＳＷＭ５００の接続を示す図である。また、図７は、テストセット２００における端子間の接続を示す図である。図６におけるネットワークアナライザ１００とテストセット２００との接続は、図２と同じであるので、詳細な説明を省略する。図６に示すように、端子Ａ１が端子ＡＮＴに、端子Ｘ３が端子ＵＭＴＳ１に、端子Ｙ３が端子ＵＭＴＳ２に、端子Ｚ３が端子Ｔｘ１に、端子Ｂ１が端子Ｔｘ２に、端子Ｃ１が端子Ｒｘ１ａに、端子Ｃ２が端子Ｒｘ２ａに、端子Ｃ３が端子Ｒｘ３ａに、端子Ｃ４が端子Ｒｘ４ａに、端子Ｄ１が端子Ｒｘ１ｂに、端子Ｄ２が端子Ｒｘ２ｂに、端子Ｄ３が端子Ｒｘ３ｂに、端子Ｄ４が端子Ｒｘ４ｂに、それぞれ接続されている。また、図７に示すように、端子Ｘ１が端子Ａ２に、端子Ｘ２が端子Ｂ２に、端子Ｙ１が端子Ａ３に、端子Ｙ２が端子Ｂ３に、端子Ｚ１が端子Ａ４に、端子Ｚ２が端子Ｂ４に、それぞれ接続されている。

次に、ＳＷＭ５００の各パラメータの測定について、表１を参照しながら説明する。表１は、ＳＷＭ５００の各パラメータを測定するための、ＳＷＭ５００の設定状態およびテストセット２００の設定状態を示す表である。表１において、最左の列から右へ向かって、ＳＷＭ５００のモードを示す列（モード）、スイッチ５５０の選択状態を示す列（５５０）、スイッチ５６０の選択状態を示す列（５６０）、ＳＷＭ５００の測定対象経路を示す列（測定経路）、テストセット２００における端子Ｔ１の内部接続先を示す列（Ｔ１）、端子Ｔ２の内部接続先を示す列（Ｔ２）、端子Ｔ３の内部接続先を示す列（Ｔ３）、および、端子Ｔ４の内部接続先を示す列（Ｔ４）、である。

ＳＷＭ５００のモードは、ＳＷＭ５００の使用形態を示す。例えば、「AMPS/GSM TX」はＡＭＰＳまたはＧＳＭの送信時を示し、この時、スイッチ５５０が端子Ｔｘ１を選択し、スイッチ５６０がスイッチ５５０を選択している。すなわち、端子ＡＮＴと端子Ｔｘ１が導通している。ここで、ＡＭＰＳ、ＧＳＭ、ＤＣＳ、ＰＣＳ、ＵＭＴＳ８００、ＵＭＴＳ１９００、および、ＵＭＴＳ２１００は、それぞれ無線通信方式を表す。また、ＴＸが送信、ＲＸが受信を、それぞれ表す。

ＳＷＭ５００は、各測定対象経路において、伝達特性（例えば、ＳパラメータＳ１２やＳ３１など）が測定される。例えば、最上行に示される測定を見てみると、ＳＷＭ５００のモードが「AMPS/GSM TX」で且つ測定経路が「Tx1->ANT」と表示されている。つまり、端子Ｔｘ１から端子ＡＮＴへの方向の伝達特性（伝達損失）が測定される。この測定が実施される時のテストセット２００の内部接続状態は、列Ｔ１〜Ｔ４で明らかになる。この場合、テストセット２００において、端子Ｔ１が端子Ａ１に接続され、端子Ｔ２が端子Ｚ３に接続される。言うまでもないが、被測定信号は端子Ｚ３から端子Ａ１の方向へ送られる。端子Ｔ３と端子Ｔ４の列に記されている「＊」は、端子Ｔ３および端子Ｔ４の接続が任意であることを示している。この「＊」は、スイッチ５５０の選択状態を示す列（５５０）の他の行にも記されているが、同様に、スイッチ５５０の選択が任意であることを示している。また、２行目に示される測定を見てみると、ＳＷＭ５００のモードが「AMPS/GSM TX」で且つ測定経路が「Tx1->Rx1」と表示されている。ここで、Ｒｘ１は端子Ｒｘ１ａと端子Ｒｘ１ｂとの対を、Ｒｘ２は端子Ｒｘ２ａと端子Ｒｘ２ｂとの対を、Ｒｘ３は端子Ｒｘ３ａと端子Ｒｘ３ｂとの対を、Ｒｘ４は端子Ｒｘ４ａと端子Ｒｘ４ｂとの対を、それぞれ意味する。測定経路が「Tx1->Rx1」であるので、端子Ｔｘ１から端子Ｒｘ１ａと端子Ｒｘ１ｂとの対への方向の伝達特性（信号漏洩）が測定される。この時、テストセット２００において、端子Ｔ２が端子Ｚ３に接続され、端子Ｔ３が端子Ｃ１に接続され、端子Ｔ４が端子Ｄ１に接続される。

次に、ＳＷＭ５００を測定するために拡張されたスクリプトコマンドについて説明する。既に説明したスクリプトコマンドは、スイッチ４１０などを個々に直接制御する。それらのスクリプトコマンドを用いて、表１に従って、端子Ｔ２を端子Ｚ３に電気的に接続する場合、”ＰＯＲＴ２ Ｂ４”および”ＰＯＲＴ７ Ｚ２”の２つのスクリプトコマンドが必要となる。このような制御方法は、煩雑であり、プログラムミスを誘う。そこで、図７に示されるような端子間の相互接続が施されたスイッチ４１０，４１１，４１２，４２０，４３０，４４０，４５０，４５１および４５２を１つの的なスイッチと見なし、その仮想スイッチの各端子を指定できるようにスクリプトコマンドを拡張する。その結果、スクリプトコマンドＰＯＲＴ１は、新たなパラメータ（接続先端子名）としてＸ３，Ｙ３およびＺ３を指定することができるようになる。スクリプトコマンドＰＯＲＴ２についても同様の拡張を行う。念のため、拡張されたスクリプトコマンドＰＯＲＴ１およびＰＯＲＴ２が指定可能なパラメータ（接続先端子名）を以下に示す。

ＰＯＲＴ１：“Ａ１”，”Ａ２”，”Ａ３”，”Ａ４”，”Ｘ３”，”Ｙ３”または”Ｚ３”のいずれか
ＰＯＲＴ２：“Ｂ１”，”Ｂ２”，”Ｂ３”，”Ｂ４”，”Ｘ３”，”Ｙ３”または”Ｚ３”のいずれか

例えば、端子Ｔ１と端子Ｘ３を電気的に接続させる場合、スクリプトコマンド”ＰＯＲＴ１ Ｘ３”のみを記述し実行させればよい。制御装置１２０が”ＰＯＲＴ１ Ｘ３”を実行すると、スイッチ４１０は端子ｆを、スイッチ４１１は端子ｇを、スイッチ４２０は端子ｆを、それぞれ選択する。この時、図７に示されるように端子Ａ２と端子Ｘ１が電気的に接続されていれば、端子Ｔ１と端子Ｘ３が電気的に接続されることになる。この追加されたパラメータは、所定の相互接続がなされることを前提とする仮想スイッチに対して有効なものであるが、その相互接続の有無に関わらず関連スイッチを制御させるものである。新たに追加された他のパラメータについても同様である。新たに追加されたパラメータを用いれば、ユーザは、仮想スイッチの導通すべき端子の組み合わせを指定することができる。仮想スイッチに関連する実スイッチは、その指定された組み合わせに基づいて、選択状態が制御される。ここで、実スイッチとは、実在するスイッチを意味し、具体的にはスイッチ４１０，４１１，４１２，４２０，４３０，４４０，４５０，４５１，４５２，４６０，４６１，４６２，４７０，４７１および４７２である。

本発明の第二の実施例は、１６ポートのフィルタバンクを測定するものである。ＳＷＭ５００内の４つのフィルタ（５１０，５２０，５３０、５４０）は平衡−不平衡形であるので、それらのフィルタを備えるフィルタバンクのポート数は１２となる。しかし、個別製品としてフィルタバンクが提供される時のフィルタバンクのポート数は最大で１６ポートとなる。そこで、本実施例では、１６ポートのフィルタバンクを被測定物として説明する。ここで、１６ポートのフィルタバンクの内部構成を示すブロック図として、図８を参照する。図８において、フィルタバンク６００は、平衡−平衡形のフィルタ６１０，６２０，６３０および６４０を備える。フィルタ６１０は、端子ＦＬ１ａと端子ＦＬ１ｂとの平衡端子対、および、端子ＦＬ１ｃと端子ＦＬ１ｄとの平衡端子対を備える。フィルタ６２０は、端子ＦＬ２ａと端子ＦＬ２ｂとの平衡端子対、および、端子ＦＬ２ｃと端子ＦＬ２ｄとの平衡端子対を備える。フィルタ６３０は、端子ＦＬ３ａと端子ＦＬ３ｂとの平衡端子対、および、端子ＦＬ３ｃと端子ＦＬ３ｄとの平衡端子対を備える。フィルタ６４０は、端子ＦＬ４ａと端子ＦＬ４ｂとの平衡端子対、および、端子ＦＬ４ｃと端子ＦＬ４ｄとの平衡端子対を備える。

次に、図９を参照する。図９は、ネットワークアナライザ１００、テストセット２００、および、フィルタバンク６００の接続を示す図である。図９におけるネットワークアナライザ１００とテストセット２００との接続は、図２と同じであるので、詳細な説明を省略する。図９に示すように、端子Ａ１が端子ＦＬ１ａに、端子Ａ２が端子ＦＬ２ａに、端子Ａ３が端子ＦＬ３ａに、端子Ａ４が端子ＦＬ４ａに、端子Ｂ１が端子ＦＬ１ｂに、端子Ｂ２が端子ＦＬ２ｂに、端子Ｂ３が端子ＦＬ３ｂに、端子Ｂ４が端子ＦＬ４ｂに、それぞれ接続される。また、端子Ｃ１が端子ＦＬ１ｃに、端子Ｃ２が端子ＦＬ２ｃに、端子Ｃ３が端子ＦＬ３ｃに、端子Ｃ４が端子ＦＬ４ｃに、端子Ｄ１が端子ＦＬ１ｄに、端子Ｄ２が端子ＦＬ２ｄに、端子Ｄ３が端子ＦＬ３ｄに、端子Ｄ４が端子ＦＬ４ｄに、それぞれ接続される。フィルタバンク６００を測定する場合、テストセット２００の端子間の相互接続はない。

次に、フィルタバンク６００の各パラメータの測定について、表２を参照しながら説明する。表２は、フィルタバンク６００の各パラメータを測定するための、テストセット２００の設定状態を示す表である。表２において、最左の列から右へ向かって、フィルタバンク６００内の測定対象となるフィルタ（フィルタ）、テストセット２００における端子Ｔ１の内部接続先を示す列（Ｔ１）、端子Ｔ２の内部接続先を示す列（Ｔ２）、端子Ｔ３の内部接続先を示す列（Ｔ３）、および、端子Ｔ４の内部接続先を示す列（Ｔ４）、である。

各フィルタは、伝達特性が測定される。フィルタ６１０を測定する時は、端子ＦＬ１ａおよび端子Ｆｌ１ｂの対と端子ＦＬ１ｃおよび端子Ｆｌ１ｄの対との間で伝達特性が測定される。フィルタ６２０を測定する時は、端子ＦＬ２ａおよび端子Ｆｌ２ｂの対と端子ＦＬ２ｃおよび端子Ｆｌ２ｄの対との間で伝達特性が測定される。フィルタ６３０を測定する時は、端子ＦＬ３ａおよび端子Ｆｌ３ｂの対と端子ＦＬ３ｃおよび端子Ｆｌ３ｄの対との間で伝達特性が測定される。フィルタ６１０を測定する時は、端子ＦＬ４ａおよび端子Ｆｌ４ｂの対と端子ＦＬ４ｃおよび端子Ｆｌ４ｄの対との間で伝達特性が測定される。例えば、フィルタ６１０の伝達特性を測定する場合、ユーザは、スクリプトコマンド”ＰＯＲＴ１ Ａ１”，”ＰＯＲＴ２ Ｂ１”，”ＰＯＲＴ３ Ｃ１”および”ＰＯＲＴ４ Ｄ１”を制御装置１２０に実行させることにより、端子Ｔ１を端子Ａ１に、端子Ｔ２を端子Ｂ１に、端子Ｔ３を端子Ｃ１に、端子Ｔ４を端子Ｄ１に、それぞれ電気的に接続させる。フィルタ６２０，６３０および６４０のそれぞれの測定についても、フィルタ６１０の測定と同様に、表２に従ってテストセット２００の内部接続が設定される。

図９に示される接続・構成を有する測定システム１０は、内蔵フィルタの端子が平衡−不平衡形または不平衡−不平衡形であっても、そのままの構成でフィルタバンクを測定することができる。

以上説明した測定システム１０は、幾つかの変形を施すことができる。例えば、制御部１１０やメモリ部１２０を、ネットワークアナライザ１００またはテストセット２００に外部接続されるコンピュータ（不図示）に置き換えることができる。この場合、コンピュータは、テストセット２００を制御するためのプログラミング環境を提供し、ユーザが列挙するスクリプトコマンドを実行することによりスイッチ４１０などを制御する。

また、テストセット２００は、ＳＷＭ５００内のスイッチ５５０または５６０を制御するために、図示しない制御用端子を新たに備えても良い。この場合、例えば、図６において破線矢印で示される制御線がテストセット２００とＳＷＭ５００との間に接続されるであろう。

さらに、上記の２実施例において、単極４投形スイッチの選択端子に単極双投形スイッチの選択端子を接続するようにしているが、単極４投形スイッチの選択端子に単極双投形スイッチの共通端子を接続するようにしても良い。そのように接続されたテストセット２００は、例えば、ダイバーシティに対応するためにアンテナ端子が２つ以上に拡張された場合のＳＷＭ５００に適している。例えば、ＳＷＭ５００のＡＮＴ端子が２つに拡張される場合、図７に示される接続されたテストセット２００において、端子Ａ１を端子Ｘ３に接続するように且つ端子Ｂ２を端子ＵＭＴＳ１に接続するように変更し、端子Ｘ１およびＸ２を、拡張されたアンテナ端子のそれぞれに接続すれば良い。

測定システム１０の正面図である。 測定システム１０の構成を示すブロック図である。 スイッチアレイ４００の内部構成を示すブロック図である。 スイッチ４１０の構成を詳細に示す図である。 ＳＷＭ５００の内部構成を示すブロック図である。 ＳＷＭ５００が接続された測定システム１０を示すブロック図である。 所定の端子間接続が施されたテストセット２００を示す図である。 フィルタバンク６００の内部構成を示すブロック図である。 フィルタバンク６００が接続された測定システム１０を示すブロック図である。

符号の説明

１０ 測定システム
１００ マルチポート・ネットワークアナライザ
１１０ 制御部
１２０ メモリ部
１２０ 制御装置
１３０ インタフェース部
１３１ ディスプレイ
１３２ バーニャ
１３３ キーボード
１４０ 測定部
２００ マルチポート・テストセット
３００ 制御部
４００ スイッチアレイ
４１０，４１１，４１２，４２０，４３０，４４０，４５０ スイッチ
４５１，４５２，４６０，４６１，４６２，４７０，４７１，４７２ スイッチ
５１０，５２０，５３０ フィルタ
５５０，５６０ スイッチ
６００ フィルタバンク
６１０，６２０，６３０，６４０ フィルタ

Claims (3)

1. ネットワークアナライザの測定ポート数よりも多い端子を有する被測定物を前記ネットワークアナライザに接続するためのテストセットであって、前記測定ポートに電気的に接続される複数の単極多投形スイッチを備えるテストセットにおいて、
   前記単極多投形スイッチの選択端子に任意に接続可能な少なくとも１つのスイッチを備えることを特徴とするテストセット。
2. 前記ネットワークアナライザが、４ポート・ネットワークアナライザであり、
   ４つの単極４投形スイッチおよび３つの単極双投形スイッチを備え、前記単極双投形スイッチの選択端子が前記単極４投形スイッチの選択端子と任意に接続可能であることを特徴とする請求項１に記載のテストセット。
3. マルチポート・ネットワークアナライザと、複数個の実スイッチを具備し少なくとも１組の前記実スイッチが選択端子間同士で任意に相互接続可能なテストセットと、前記ネットワークアナライザおよび前記テストセットを制御する装置とを備え、前記テストセットを介して前記ネットワークアナライザに接続されるマルチポート・デバイスを測定するシステムであって、
   前記端子が開放された実スイッチを少なくとも１つ含み所定の相互接続が施された２以上の前記実スイッチを１つの仮想スイッチとみなし、前記仮想スイッチについて前記ユーザが指定する導通すべき端子の組み合わせに基づき、前記仮想スイッチに関連する前記実スイッチの選択状態を前記制御装置が制御することを特徴とするマルチポート・デバイス測定システム。
   

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