KR101731705B1 - 계기용 변류기 회로 검사 장치 및 방법 - Google Patents

계기용 변류기 회로 검사 장치 및 방법 Download PDF

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Abstract

모드 설정에 따라 단선 검사 회로 또는 오결선 검사 회로를 구성하고, 단선 검사 회로에서 측정되는 저항값을 이용하여 계기용 변류기 회로의 단선 여부를 검사하고, 오결선 검사 회로에서 측정되는 인덕턴스값을 이용하여 계기용 변류기 회로의 오결선 여부를 검사하도록 한 계기용 변류기 회로 검사 장치 및 방법이 제시된다. 제시된 계기용 변류기 회로 검사 장치는, 계기용 변류기 회로의 전류 시험 단자부에 연결되는 차단기측 단자부 및 계전기측 단자부; 차단기측 단자부와 계전기측 단자부를 연결하는 제1경로; 차단기측 단자부와 연결되는 제2경로; 제1경로 및 제2경로를 상으로 절환하는 상 절환 스위칭부; 일단이 차단기측 단자부에 연결되는 선로 및 일단이 계전기측 단자부에 연결되는 선로로 구성되는 제3경로; 제1경로, 제2경로 및 제3경로를 스위칭하여 단선 검사 회로 또는 오결선 검사 회로를 구성하는 모드 스위칭부; 및 모드 스위칭부의 모드 설정을 근거로 계기용 변류기 회로의 저항값 또는 인덕턴스값을 측정하는 측정부를 포함한다.

Description

계기용 변류기 회로 검사 장치 및 방법{APPARATUS AND METHOD FOR TESTING CURRENT TRANSFORMER CIRCUIT}
본 발명은 계기용 변류기 회로 검사 장치 및 방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 보호계전기에 구동 전류를 인가하는 계기용 변류기 회로의 단선(개방) 및 오결선을 검사하는 계기용 변류기 회로 검사 장치 및 방법에 대한 것이다.
보호 계전기는 계기용 변류기(CT; Current Transformer)에서 공급되는 전류에 의해 동작한다. 이때, 계기용 변류기는 전력회로의 고전압으로부터 절연을 시키며, 보호 계전기에 전력회로의 전류에 비례하는 전류량을 공급한다.
일반적으로, 도 1에 도시된 바와 같이, 계기용 변류기 회로는 계기용 변류기(10; CT), 계기용 변류기 함(20), LCP 단자대(30), 보호배전반 단자대(40), 전류 시험 단자부(50; CTT(Current Test Terminal))를 포함하여 구성된다.
계기용 변류기 회로는 전력 설비의 신설 또는 증설 준공시험시 단선에 대한 점검이 이루어진다. 이때, 계기용 변류기 회로의 단선 검사 방법으로는 계전기 시험장비를 이용한 방법과 회로 시험기를 이용한 방법이 주로 사용된다.
도 2에 도시된 바와 같이, 계전기 시험 장비(60)를 이용한 점검 방법은 전류 시험 단자부(50)를 보호 계전기와 분리하고, 전류 시험 단자부(50)의 차단기측 단자에 계전기 시험장비(60)를 연결합니다. 이후, 계기용 변류기(10)의 임피던스값에 의해 계전기 시험 장비(60)의 전류 흐름 방해를 방지하기 위해서 LCP 단자대(30)에 사용탭을 커몬(COMMON)하여 전류를 인가한 후 계기용 변류기 회로의 단선 여부를 검사한다.
이때, 계전기 시험 장비(60)를 이용한 점검 방법은 계기용 변류기(10) 및 보호 계전기의 내부 단선 및 혼촉에 대한 검사가 불가능하고, 계기용 변류기 비 결선 오류 검사가 불가능한 문제점이 있다.
또한, 계전기 시험 장비(60)를 이용한 점검 방법은 계전기 시험 장비(60)의 부피 및 무게로 인해 시험 장비의 현장 설치 및 이동이 불편하고, 점검시간이 많이 소요되는 문제점이 있다.
도 3에 도시된 바와 같이, 회로 시험기(70; Tester)를 이용한 점검 방법은 전류 시험 단자부(50)를 보호 계전기와 분리하고, 전류 시험 단자부(50)의 차단기측 단자에 회로 시험기(70)를 연결하여 측정한 저항값을 이용하여 계기용 변류기 회로를 검사한다.
이때, 회로 시험기(70)를 이용한 점검 방법은 보호 계전기의 내부 단선 및 혼촉에 대한 검사가 불가능하고, 계기용 변류기 비 결선 오류 검사가 불가능하고, 계기용 변류기 비를 육안으로 확인해야하기 때문에 점검시간이 많이 소요되는 문제점이 있다.
한편, 계기용 변류기 회로의 검사를 위한 표준 검사 방법이 지정되지 않아, 계기용 변류기 회로를 운영하는 사업소별로 검사 방법이 상이하여 사업소별로 점검이 이루어지지 않는 부분도 발생한다. 특히, 계기용 변류기 비(CT비)의 오결선 점검은 작업자의 육안으로만 확인이 가능한 실정이다.
또한, 계기용 변류기 회로는 제어 케이블을 이용한 접속부분이 많기 때문에 접속 불량, 오결선, 접지 등의 발생 가능성이 크다. 이때, 계기용 변류기 회로의 점검 재결선시 오결선, 결선불량 등이 발생하면 보호 계전기의 오작동, 부작동이 발생하거나, 계기용 변류기의 단선(개방)으로 인해 전력 설비에 화재가 발생할 수 있는 문제점이 있다.
일본등록특허 제3149711호(명칭: 계기용 변류기의 배선 단선 시험 회로)
본 발명은 상기한 종래의 문제점을 해결하기 위해 제안된 것으로, 모드 설정에 따라 단선 검사 회로 또는 오결선 검사 회로를 구성하고, 단선 검사 회로에서 측정되는 저항값을 이용하여 계기용 변류기 회로의 단선 여부를 검사하고, 오결선 검사 회로에서 측정되는 인덕턴스값을 이용하여 계기용 변류기 회로의 오결선 여부를 검사하도록 한 계기용 변류기 회로 검사 장치 및 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.
상기한 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 실시예에 따른 계기용 변류기 회로 검사 장치는, 계기용 변류기 회로의 전류 시험 단자부의 차단기측 단자와 상별로 연결되는 복수의 단자로 구성되는 차단기측 단자부; 계기용 변류기 회로의 전류 시험 단자부의 계전기측 단자와 상별로 연결되는 복수의 단자로 구성되는 계전기측 단자부; 차단기측 단자부의 단자들과 계전기측 단자부의 단자들을 상별로 연결하는 복수의 선로로 구성되는 제1경로; 일단이 차단기측 단자부의 단자들에 상별로 연결되는 복수의 선로로 구성되는 제2경로; 제1경로 및 제2경로를 구성하는 선로들을 스위칭하여 하나의 상으로 절환하는 상 절환 스위칭부; 일단이 차단기측 단자부에 연결되는 선로 및 일단이 계전기측 단자부에 연결되는 선로로 구성되는 제3경로; 제1경로, 제2경로 및 제3경로를 스위칭하여 단선 검사 회로 또는 오결선 검사 회로를 구성하는 모드 스위칭부; 및 모드 스위칭부의 모드 설정을 근거로 계기용 변류기 회로의 저항값 또는 인덕턴스값을 측정하는 측정부를 포함한다.
제1경로는, 차단기측 단자부의 A상 단자 및 계전기측 단자부의 A상 단자를 연결하는 제1선로; 차단기측 단자부의 B상 단자 및 계전기측 단자부의 B상 단자를 연결하는 제2선로; 및 차단기측 단자부의 C상 단자 및 계전기측 단자부의 C상 단자를 연결하는 제3선로를 포함한다.
제2경로는, 일단이 제1선로로부터 분기된 제4선로; 일단이 제2선로로부터 분기된 제5선로; 일단이 제3선로로부터 분기된 제6선로; 및 일단이 제4선로 내지 제6선로의 타단과 연결되고, 타단이 모드 스위칭부에 연결되는 제7선로를 포함한다.
상 절환 스위칭부는, A상이 선택되면 제1선로 및 제4선로를 연결하고, 제2선로와 제3선로와 제5선로 및 제6선로를 단락시키고, B상이 선택되면 제2선로 및 제5선로를 연결하고, 제1선로와 제3선로와 제4선로 및 제6선로를 단락시키고, C상이 선택되면 제3선로 및 제5선로를 연결하고, 제1선로와 제2선로와 제4선로 및 제5선로를 단락시킨다.
제3경로는, 일단이 차단기측 단자부의 N상 단자와 연결되고, 타단이 모드 스위칭부와 연결되는 제8선로; 및 일단이 계전기측 단자부의 N상 단자와 연결되고, 타단이 모드 스위칭부와 연결되는 제9선로를 포함한다.
모드 스위칭부는, 제1선로 내지 제3선로 및 제9선로에 배치되는 복수의 스위치로 구성되는 제1스위칭 모듈; 제4선로 내지 제6선로에 배치되는 복수의 스위치로 구성되는 제2스위칭 모듈; 측정부와 연결되는 제10선로와 연결되는 제9선로에 배치되는 스위치 및 측정부와 연결되는 제11선로에 연결되는 제8선로에 배치되는 스위치로 구성되는 제3스위칭 모듈; 및 제10선로와 연결되는 제7선로에 배치되는 스위치 및 제11선로와 연결되는 제8선로에 배치되는 스위치로 구성되는 제4스위칭 모듈을 포함한다.
모드 스위칭부는, 작업자에 의해 단선 검사 모드가 선택되면 제1스위칭 모듈 및 제3스위칭 모듈을 온(연결)시키고, 제2스위칭 모듈 및 제4스위칭 모듈을 오프(단락)시켜 단선 검사 회로를 구성하고, 작업자에 의해 오결선 확인 모드가 선택되면 제2스위칭 모듈 및 제4스위칭 모듈을 온(연결)시키고, 제1스위칭 모듈 및 제3스위칭 모듈을 오프(단락)시켜 오결선 검사 회로를 구성한다.
측정부는, 모드 스위칭부에서 단선 검사 모드가 설정되면 단선 검사 회로의 저항값을 측정하고, 모드 스위칭부에서 오결선 검사 모드가 설정되면 오결선 검사 회로의 인덕턴스값을 측정한다.
측정부에서 측정한 저항값 및 인덕턴스값을 근거로 계기용 변류기 회로의 단선 여부 및 오결선 여부를 판단하는 판단부를 더 포함한다.
판단부는, 측정부에서 저항값이 무한대로 측정되면 계기용 변류기 회로의 단선으로 판단한다.
판단부는, 측정부에서 측정한 인덕턴스값이 설정값의 오차 범위를 초과하면 계기용 변류기 회로의 오결선으로 판단한다.
판단부는, 측정부에서 측정한 인덕턴스값이 다른 상의 인덕턱스값 오차 범위를 초과하면 오결선으로 판단한다.
상기한 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 실시예에 따른 계기용 변류기 회로 검사 방법은, 계기용 변류기 회로 검사 장치에 의해, 계기용 변류기 회로의 검사 모드를 설정하는 단계; 계기용 변류기 회로 검사 장치에 의해, 설정하는 단계에서 단선 검사 모드로 설정되면 계기용 변류기 회로의 저항을 측정하여 단선 여부를 판단하는 단계; 및 계기용 변류기 회로 검사 장치에 의해, 설정하는 단계에서 오결선 검사 모드로 설정되면 계기용 변류기 회로의 인덕턴스를 측정하여 오결선 여부를 판단하는 단계를 포함한다.
단선 여부를 판단하는 단계는, 계기용 변류기 회로 검사 장치에 의해, 계기용 변류기 회로와 단선 검사 회로를 구성하는 단계; 계기용 변류기 회로 검사 장치에 의해, 계기용 변류기 회로에서 단선 검사 대상인 상을 설정하는 단계; 계기용 변류기 회로 검사 장치에 의해, 설정된 상의 저항값을 측정하는 단계; 및 계기용 변류기 회로 검사 장치에 의해, 측정한 저항값을 근거로 계기용 변류기 회로의 단선 여부를 판단하는 단계를 포함한다.
단선 여부를 판단하는 단계에서는, 계기용 변류기 회로 검사 장치에 의해, 측정한 저항값이 무한대값이면 계기용 변류기 회로의 단선으로 판단한다.
오결선 여부를 판단하는 단계는, 계기용 변류기 회로 검사 장치에 의해, 계기용 변류기 회로와 오결선 검사 회로를 구성하는 단계; 계기용 변류기 회로 검사 장치에 의해, 계기용 변류기 회로에서 오결선 검사 대상인 상을 설정하는 단계; 계기용 변류기 회로 검사 장치에 의해, 설정된 상의 인덕턴스값을 측정하는 단계; 및 계기용 변류기 회로 검사 장치에 의해, 측정한 인덕턴스값을 근거로 계기용 변류기 회로의 오결선 여부를 판단하는 단계를 포함한다.
오결선 여부를 판단하는 단계에서는, 계기용 변류기 회로 검사 장치에 의해, 측정한 인덕턴스값이 설정값 오차 범위를 초과하면 오결선으로 판단한다.
오결선 여부를 판단하는 단계에서는, 계기용 변류기 회로 검사 장치에 의해, 측정한 인덕턴스값이 다른 상의 인덕턱스값 오차 범위를 초과하면 오결선으로 판단한다.
본 발명에 의하면, 계기용 변류기 회로 검사 장치 및 방법은 모드 설정에 따라 구성한 단선 검사 회로에서 측정되는 저항값을 이용하여 계기용 변류기 회로의 단선 여부를 검사함으로써, 계기용 변류기 회로의 단선을 미리 검사하여 계기용 변류기 회로의 개방에 따른 설비 화재 발생 및 보호 계전기의 오작동 및 부작동 발생을 방지할 수 있는 효과가 있다.
또한, 계기용 변류기 회로 검사 장치 및 방법은 모드 설정에 따라 구성한 단선 검사 회로에서 측정되는 저항값을 이용하여 계기용 변류기 회로의 단선 여부를 검사하여 설비 화재 빛 보호 계전기의 오작동을 방지함으로써, 설비 화재에 따른 설비 소손 비용, 보호 계전기 오작동에 의한 정전비용을 최소화할 수 있는 효과가 있다.
또한, 계기용 변류기 회로 검사 장치 및 방법은 모드 설정에 따라 구성한 오결선 검사 회로에서 측정되는 인덕턴스값을 이용하여 계기용 변류기 회로의 오결선 여부를 검사함으로써, 작업자의 실수로 인한 계기용 변류기 회로의 오결선을 방지하고, 오결선에 의한 광역정전 발생을 방지할 수 있는 효과가 있다.
또한, 계기용 변류기 회로 검사 장치 및 방법은 계기용 변류기 회로의 저항값 및 인덕턴스값을 이용하여 단선 및 오결선을 검사함으로써, 점검 불가 구간 없이 점검이 가능하여 보호 계전기의 내부 단선 및 혼촉에 대한 검사가 가능하고, 계기용 변류기 비 결선 오류 검사가 가능하고, 점검시간을 최소화할 수 있는 효과가 있다.
도 1 내지 도 3은 종래의 계기용 변류기 회로 검사 방법을 설명하기 위한 도면.
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 계기용 변류기 회로 검사 장치를 설명하기 위한 도면.
도 5는 본 발명의 실시예에 따른 계기용 변류기 회로 검사 장치의 구성을 설명하기 위한 도면.
도 6은 본 발명의 실시예에 따른 계기용 변류기 회로 검사 장치의 변형예를 설명하기 위한 도면.
도 7은 본 발명의 실시예에 따른 계기용 변류기 회로 검사 방법을 설명하기 위한 흐름도.
도 8 및 도 9는 본 발명의 실시예에 따른 계기용 변류기 회로 검사 방법의 단선 검사 단계를 설명하기 위한 도면.
도 10 및 도 11은 본 발명의 실시예에 따른 계기용 변류기 회로 검사 방법의 오결선 검사 단계를 설명하기 위한 도면.
이하, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명의 기술적 사상을 용이하게 실시할 수 있을 정도로 상세히 설명하기 위하여, 본 발명의 가장 바람직한 실시예를 첨부 도면을 참조하여 설명하기로 한다. 우선 각 도면의 구성요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가지도록 하고 있음에 유의해야 한다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략한다.
이하, 본 발명의 실시예에 따른 계기용 변류기 회로 검사 장치를 첨부된 도면을 참조하여 상세하게 설명하면 아래와 같다. 도 4는 본 발명의 실시예에 따른 계기용 변류기 회로 검사 장치를 설명하기 위한 도면이고, 도 5는 본 발명의 실시예에 따른 계기용 변류기 회로 검사 장치의 구성을 설명하기 위한 도면이고, 도 6은 본 발명의 실시예에 따른 계기용 변류기 회로 검사 장치의 변형예를 설명하기 위한 도면이다.
도 4에 도시된 바와 같이, 계기용 변류기 회로 검사 장치(100)는 전류 시험 단자부와 연결되어 저항값(R) 및 인덕턴스값(L)을 측정하여 계기용 변류기 회로의 단선 및 오결선을 검사한다. 이때, 계기용 변류기 회로 검사 장치(100)는 측정된 저항값을 이용하여 계기용 변류기 회로의 단선 여부를 검사한다.
이때, 계기용 변류기 회로의 저항값은 작고 탭별 오차가 있어 오결선(즉, 계기용 변류기 비 오류, CT비)을 검출할 수 없으며, 계기용 변류기 회로는 하나의 인덕터로 코일의 턴수에 따라 인덕턴스값이 크게 차이를 보인다. 이에, 계기용 변류기 회로 검사 장치(100)는 측정된 인덕터스값을 이용하여 계기용 변류기의 오결선 여부를 검사한다.
이를 위해, 도 5에 도시된 바와 같이, 계기용 변류기 회로 검사 장치(100)는 차단기측 단자부(110), 계전기측 단자부(120), 제1경로(130), 제2경로(140), 제3경로(150), 상 절환 스위칭부(160), 모드 스위칭부(170), 측정부(180)를 포함하여 구성된다.
차단기측 단자부(110)는 케이블을 통해 전류 시험 단자부와 연결된다. 이때, 차단기측 단자부(110)는 전류 시험 단자부의 차단기측 단자에 상별로 연결되는 복수의 단자(즉, A상 단자(111), B상 단자(112), C상 단자(113) 및 N상 단자(114))로 구성된다. 여기서, 차단기측 단자부(110)의 N상 단자(114)를 모드 스위칭부(170)와 연결된다.
계전기측 단자부(120)는 케이블을 통해 전류 시험 단자부와 연결된다. 이때, 계전기측 단자부(120)는 전류 시험 단자부의 계전기측 단자에 상별로 연결되는 복수의 단자(즉, A상 단자(121), B상 단자(122), C상 단자(123) 및 N상 단자(124))로 구성된다. 여기서, 계전측 단자부의 N상 단자(124)를 모드 스위칭부(170)와 연결된다.
제1경로(130)는 차단기측 단자부(110) 및 계전기측 단자부(120)를 연결한다. 즉, 제1경로(130)는 차단기측 단자부(110)의 A상 단자(111) 및 계전기측 단자부(120)의 A상 단자(121)를 연결하는 제1선로(132), 차단기측 단자부(110)의 B상 단자(112) 및 계전기측 단자부(120)의 B상 단자(122)를 연결하는 제2선로(134), 차단기측 단자부(110)의 C상 단자(113) 및 계전기측 단자부(120)의 C상 단자(123)를 연결하는 제3선로(136)를 포함하여 구성된다.
제2경로(140)는 차단기측 단자부(110)와 모드 스위칭부(170)를 연결한다. 즉, 제2경로(140)는 일단이 제1선로(132)로부터 분기된 제4선로(142), 일단이 제2선로(134)로부터 분기된 제5선로(144), 일단이 제3선로(136)로부터 분기된 제6선로(146), 일단이 제4선로(142) 내지 제6선로(146)의 타단과 연결되는 제7선로(148)를 포함하여 구성된다.
제3경로(150)는 차단기측 단자부(110) 및 계전기측 단자부(120)를 모드 스위칭부(170)와 연결한다. 즉, 제3경로(150)는 일단이 차단기측 단자부(110)의 N상 단자(114)와 연결되는 제8선로(152) 및 일단이 계전기측 단자부(120)의 N상 단자(114)와 연결되는 제9선로(154)를 포함하여 구성된다.
상 절환 스위칭부(160)는 제1경로(130) 및 제2경로(140) 상에 배치되어 상 절환을 수행한다. 즉, 상 절환 스위칭부(160)는 작업자의 조작에 의해 선택된 상에 해당하는 선로를 연결하고, 이외의 상에 해당하는 선로를 단락시킨다. 이때, 상 절환 스위칭부(160)는 작업자의 의해 A상이 선택되면 제1경로(130)의 제1선로(132) 및 제2경로(140)의 제4선로(142)를 연결하고, 제1경로(130)의 제2선로(134) 및 제3선로(136)와 제2경로(140)의 제5선로(144) 및 제6선로(146)를 단락시킨다. 상 절환 스위칭부(160)는 작업자의 의해 B상이 선택되면 제1경로(130)의 제2선로(134) 및 제2경로(140)의 제5선로(144)를 연결하고, 제1경로(130)의 제1선로(132) 및 제3선로(136)와 제2경로(140)의 제4선로(142) 및 제6선로(146)를 단락시킨다. 상 절환 스위칭부(160)는 작업자의 의해 C상이 선택되면 제1경로(130)의 제3선로(136) 및 제2경로(140)의 제5선로(144)를 연결하고, 제1경로(130)의 제1선로(132) 및 제2선로(134)와 제2경로(140)의 제4선로(142) 및 제5선로(144)를 단락시킨다.
모드 스위칭부(170)는 단선 검사 모드 및 오결선 확인 모드를 스위칭한다. 즉, 모드 스위칭부(170)는 복수의 스위치를 포함하여 구성되고, 작업자의 조작에 복수의 스위치가 동작하여 단선 검사 모드 또는 오결선 확인 모드로 스위칭한다.
이를 위해, 모드 스위칭부(170)는 제1경로(130)의 제1선로(132) 내지 제3선로(136)와 제3경로(150)의 제9선로(154)에 배치되는 복수의 스위치로 구성되는 제1스위칭 모듈(171), 제2경로(140)의 제4선로(142) 내지 제6선로(146)에 배치되는 복수의 스위치로 구성되는 제2스위칭 모듈(172), 측정부(180)와 연결되는 제10선로(173) 및 제11선로(174), 제10선로(173)와 연결되는 제3경로(150)의 제9선로(154)에 배치되는 스위치 및 제11선로(174)에 연결되는 제3경로(150)의 제8선로(152)에 배치되는 스위치로 구성되는 제3스위칭 모듈(175), 제10선로(173)와 연결되는 제2경로(140)의 제7선로(148)에 배치되는 스위치 및 제11선로(174)와 연결되는 제3경로(150)의 제8선로(152)에 배치되는 스위치로 구성되는 제4스위칭 모듈(176)을 포함하여 구성된다. 여기서, 제4스위칭 모듈(176)은 제8선로(152)와 연결되는 하나의 스위치로 구성될 수도 있다.
작업자에 의해 단선 검사 모드가 선택되면, 모드 스위칭부(170)는 제1스위칭 모듈(171) 및 제3스위칭 모듈(175)을 온(연결)시키고, 제2스위칭 모듈(172) 및 제4스위칭 모듈(176)을 오프(단락)시켜 단선 검사 모드로 스위칭한다.
작업자에 의해 오결선 확인 모드가 선택되면, 모드 스위칭부(170)는 제2스위칭 모듈(172) 및 제4스위칭 모듈(176)을 온(연결)시키고, 제1스위칭 모듈(171) 및 제3스위칭 모듈(175)을 오프(단락)시켜 오결선 검사 모드로 스위칭한다.
측정부(180)는 모드 스위칭부(170)에서 단선 검사 모드가 선택되면 계기용 변류기 회로의 저항값을 측정한다. 예를 들어, 모드 스위칭부(170)에서 단선 검사 모드가 선택되면, 전류 시험 단자부의 계전기측 단자 및 차단기측 단자의 N상이 측정부(180)와 연결된다. 이때, 상 절환 스위칭부(160)에서 A상이 선택되면 계전기부터 계기용 변류기의 A상까지 전구간의 저항값을 측정한다. 여기서, 상 절환 스위칭부(160)에서 B상 또는 C상으로 변경하면, 측정부(180)는 계전기부터 계기용 변류기의 B상 전구간의 저항값 또는 C상 전구간의 저항값을 측정할 수 있다.
측정부(180)는 모드 스위칭부(170)에서 오결선 확인 모드가 선택되면 계기용 변류기 회로의 인덕턴스값을 측정한다. 예를 들어, 모드 스위칭부(170)에서 오결선 확인 모드가 선택되면, 전류 시험 단자부의 차단기측 단자의 A상 및 N상이 측정부(180)와 연결된다. 이때, 상 절환 스위칭부(160)에서 A상이 선택되면 계기용 변류기 회로의 A상 인덕턴스값을 측정한다. 여기서, 상 절환 스위칭부(160)에서 B상 또는 C상으로 변경하면, 측정부(180)는 계기용 변류기 회로의 B상 인덕턴스값 또는 C상 인덕턴스값을 측정할 수 있다.
표시부(190)는 측정부(180)에서 측정한 상별 저항값 또는 상별 인덕턴스값을 화면에 표시한다. 이때, 표시부(190)는 상 절환 스위칭부(160)에서 선택된 상과 함께 측정부(180)에서 측정한 저항값 또는 인덕턴스값을 화면에 표시한다.
도 6에 도시된 바와 같이, 계기용 변류기 회로 검사 장치(100)는 측정부(180)에서 측정한 저항값 및 인덕턴스값을 근거로 단선 여부 및 오결선 여부를 판단하는 판단부(195)를 더 포함할 수도 있다.
판단부(195)는 측정부(180)에서 측정한 저항값을 근거로 단선 여부를 판단한다. 즉, 판단부(195)는 측정부(180)에서 저항값이 무한대로 측정되면 계기용 변류기 회로에서 단선이 발생한 것으로 판단한다. 이때, 판단부(195)는 상 절환 스위칭부(160)에서 선택된 상의 단선 여부를 판단한다.
판단부(195)는 측정부(180)에서 측정한 인덕턴스값을 근거로 오결선 여부를 판단한다. 즉, 판단부(195)는 측정부(180)에서 측정한 인덕턴스값을 정상 상태의 인덕턴스값으로 설정된 설정값과 비교하여 오결선 여부를 판단한다. 이때, 판단부(195)는 측정한 상별 인덕턴스값이 설정값의 오차 범위를 초과하면 해당 상의 오결선으로 판단한다.
판단부(195)는 측정부(180)에서 측정한 각 상별 인덕턴스값을 근거로 오결선 여부를 판단할 수도 있다. 즉, 판단부(195)는 각 상별 인덕턴스값을 비교하여 특정 상의 인덕턴스값이 다른 상의 인덕턱스값과 오차 범위를 초과하면 오결선으로 판단한다.
이하, 본 발명의 실시예에 따른 계기용 변류기 회로 검사 방법을 첨부된 도면을 참조하여 상세하게 설명하면 아래와 같다. 도 7은 본 발명의 실시예에 따른 계기용 변류기 회로 검사 방법을 설명하기 위한 흐름도이다. 도 8 및 도 9는 본 발명의 실시예에 따른 계기용 변류기 회로 검사 방법의 단선 검사 단계를 설명하기 위한 도면이고, 도 10 및 도 11은 본 발명의 실시예에 따른 계기용 변류기 회로 검사 방법의 오결선 검사 단계를 설명하기 위한 도면이다.
계기용 변류기 회로 검사 장치(100)는 계기용 변류기 회로의 검사를 위해 전류 시험 단자부와 연결된다(S100). 즉, 계기용 변류기 회로 검사 장치(100)는 차단기측 단자부(110)에 포함된 복수의 단자들을 전류 시험 단자부의 차단기측 단자에 상별로 연결한다. 계기용 변류기 회로 검사 장치(100)는 계전기측 단자부(120)에 포함된 복수의 단자들을 전류 시험 단자부의 계전기측 단자에 상별로 연결한다.
계기용 변류기 회로 검사 장치(100)는 계기용 변류기 회로의 검사 모드를 설정한다(S200). 즉, 계기용 변류기 회로 검사 장치(100)는 작업자의 모드 스위칭부(170) 조작에 따라 계기용 변류기 회로의 검사 모드를 단선 검사 모드 또는 오결선 검사 모드로 설정한다.
단선 검사 모드로 설정되면(S300; 예), 계기용 변류기 회로 검사 장치(100)는 계기용 변류기 회로의 단선 검사를 수행한다(S400). 이를 첨부된 도 8 및 도 9를 참조하여 설명하면 아래와 같다.
계기용 변류기 회로 검사 장치(100)는 단선 검사 회로를 구성한다(S410). 즉, 계기용 변류기 회로 검사 장치(100)는 제1경로(130)의 제1선로(132) 내지 제3선로(136)와 제3경로(150)의 제9선로(154)에 배치되는 복수의 스위치로 구성되는 제1스위칭 모듈(171)과, 제10선로(173)와 연결되는 제3경로(150)의 제9선로(154)에 배치되는 스위치 및 제11선로(174)에 연결되는 제3경로(150)의 제8선로(152)에 배치되는 스위치로 구성되는 제3스위칭 모듈(175)을 온(연결)시킨다. 계기용 변류기 회로 검사 장치(100)는 제2경로(140)의 제4선로(142) 내지 제6선로(146)에 배치되는 복수의 스위치로 구성되는 제2스위칭 모듈(172)과, 제10선로(173)와 연결되는 제2경로(140)의 제7선로(148)에 배치되는 스위치 및 제11선로(174)와 연결되는 제3경로(150)의 제8선로(152)에 배치되는 스위치로 구성되는 제4스위칭 모듈(176)을 오프(단락)시켜 단선 검사 회로를 구성한다. 그에 따라, 도 9에 도시된 바와 같이, 계기용 변류기 회로 검사 장치(100)는 변류기 회로와 단선 검사 회로를 구성한다.
계기용 변류기 회로 검사 장치(100)는 단선 검사 대상인 상을 설정한다(S420). 즉, 작업자의 상 절환 스위칭부(160) 조작에 의해 단선 검사 대상이 선택되면 계기용 변류기 회로 검사 장치(100)는 제1경로(130) 및 제2경로(140)에 포함된 선로들 중에서 단선 검사 대상으로 선택된 상을 연결하고, 다른 상의 선로들을 단락시킨다.
계기용 변류기 회로 검사 장치(100)는 설정된 상의 저항값을 측정한다(S430). 즉, 계기용 변류기 회로 검사 장치(100)는 S420 단계에서 설정된 상에서 계기용 변류기 회로의 저항값을 측정한다.
계기용 변류기 회로 검사 장치(100)는 측정한 저항값을 표시한다(S440). 즉, 계기용 변류기 회로 검사 장치(100)는 S430 단계에서 측정한 상별 저항값을 화면에 표시한다. 이때, 계기용 변류기 회로 검사 장치(100)는 S420 단계에서 선택된 상과 함께 S430 단계에서 측정한 저항값을 화면에 표시한다.
계기용 변류기 회로 검사 장치(100)는 측정한 저항값 및 설정값을 근거로 계기용 변류기 회로의 단선 여부를 판단한다(S450). 이때, 계기용 변류기 회로 검사 장치(100)는 S430 단계에서 측정한 저항값이 무한대로 측정되면 계기용 변류기 회로의 단선 발생한 것으로 판단한다. 이때, 계기용 변류기 회로 검사 장치(100)는 계기용 변류기 회로의 각 상별로 단선 여부를 판단한다.
한편, 오결선 검사 모드로 설정되면(S500 ;예), 계기용 변류기 회로 검사 장치(100)는 계기용 변류기 회로의 오결선 검사를 수행한다(S600). 이를 첨부된 도 10 및 도 11을 참조하여 설명하면 아래와 같다.
계기용 변류기 회로 검사 장치(100)는 오결선 검사 회로를 구성한다(S610). 즉, 계기용 변류기 회로 검사 장치(100)는 제2스위칭 모듈(172) 및 제4스위칭 모듈(176)을 온(연결)시키고, 제1스위칭 모듈(171) 및 제3스위칭 모듈(175)을 오프(단락)시켜 오결선 검사 회로를 구성한다. 그에 따라, 도 11에 도시된 바와 같이, 계기용 변류기 회로 검사 장치(100)는 변류기 회로와 오결선 검사 회로를 구성한다.
계기용 변류기 회로 검사 장치(100)는 오결선 검사 대상인 상을 설정한다(S620). 즉, 작업자의 상 절환 스위칭부(160) 조작에 의해 오결선 검사 대상이 선택되면 계기용 변류기 회로 검사 장치(100)는 제1경로(130) 및 제2경로(140)에 포함된 선로들 중에서 오결선 검사 대상으로 선택된 상을 연결하고, 다른 상의 선로들을 단락시킨다.
계기용 변류기 회로 검사 장치(100)는 설정된 상의 인덕턴스값을 측정한다(S630). 즉, 계기용 변류기 회로 검사 장치(100)는 S620 단계에서 설정된 상에서 계기용 변류기 회로의 인덕턴스값을 측정한다.
계기용 변류기 회로 검사 장치(100)는 측정한 인덕턴값을 표시한다(S640). 즉, 계기용 변류기 회로 검사 장치(100)는 S630 단계에서 측정한 상별 인덕턴스값을 화면에 표시한다. 이때, 계기용 변류기 회로 검사 장치(100)는 S620 단계에서 선택된 상과 함께 S430 단계에서 측정한 인덕턴스값을 화면에 표시한다.
계기용 변류기 회로 검사 장치(100)는 측정한 인덕턴스값을 근거로 계기용 변류기 회로의 오결선 여부를 판단한다(S650). 이때, 계기용 변류기 회로 검사 장치(100)는 측정한 인덕턴스값을 정상 상태의 인덕턴스값으로 설정된 설정값과 비교하여 오결선 여부를 판단한다. 이때, 계기용 변류기 회로 검사 장치(100)는 측정한 상별 인덕턴스값이 설정값의 오차 범위를 초과하면 해당 상의 오결선으로 판단한다.
한편, 계기용 변류기 회로 검사 장치(100)는 측정한 각 상별 인덕턴스값을 근거로 오결선 여부를 판단할 수도 있다. 이때, 계기용 변류기 회로 검사 장치(100)는 각 상별 인덕턴스값을 비교하여 특정 상의 인덕턴스값이 다른 상의 인덕턱스값과 오차 범위를 초과하면 오결선으로 판단한다.
여기서, 도 7에서 계기용 변류기 회로 검사 장치(100)는 단선 여부 검사 또는 오결선 여부 검사 후에 종료하는 것으로 도시하였으나, 단선 여부를 검사한 후 오결선 여부를 검사하거나, 오결선 여부 검사 후 단선 여부를 검사할 수도 있다.
상술한 바와 같이, 계기용 변류기 회로 검사 장치 및 방법은 모드 설정에 따라 구성한 단선 검사 회로에서 측정되는 저항값을 이용하여 계기용 변류기 회로의 단선 여부를 검사함으로써, 계기용 변류기 회로의 단선을 미리 검사하여 계기용 변류기 회로의 개방에 따른 설비 화재 발생 및 보호 계전기의 오작동 및 부작동 발생을 방지할 수 있는 효과가 있다.
또한, 계기용 변류기 회로 검사 장치 및 방법은 모드 설정에 따라 구성한 단선 검사 회로에서 측정되는 저항값을 이용하여 계기용 변류기 회로의 단선 여부를 검사하여 설비 화재 빛 보호 계전기의 오작동을 방지함으로써, 설비 화재에 따른 설비 소손 비용, 보호 계전기 오작동에 의한 정전비용을 최소화할 수 있는 효과가 있다.
또한, 계기용 변류기 회로 검사 장치 및 방법은 모드 설정에 따라 구성한 오결선 검사 회로에서 측정되는 인덕턴스값을 이용하여 계기용 변류기 회로의 오결선 여부를 검사함으로써, 작업자의 실수로 인한 계기용 변류기 회로의 오결선을 방지하고, 오결선에 의한 광역정전 발생을 방지할 수 있는 효과가 있다.
또한, 계기용 변류기 회로 검사 장치 및 방법은 계기용 변류기 회로의 저항값 및 인덕턴스값을 이용하여 단선 및 오결선을 검사함으로써, 점검 불가 구간 없이 점검이 가능하여 보호 계전기의 내부 단선 및 혼촉에 대한 검사가 가능하고, 계기용 변류기 비 결선 오류 검사가 가능하고, 점검시간을 최소화할 수 있는 효과가 있다.
이상에서 본 발명에 따른 바람직한 실시예에 대해 설명하였으나, 다양한 형태로 변형이 가능하며, 본 기술분야에서 통상의 지식을 가진자라면 본 발명의 특허청구범위를 벗어남이 없이 다양한 변형예 및 수정예를 실시할 수 있을 것으로 이해된다.
100: 계기용 변류기 회로 검사 장치
110: 차단기측 단자부 111: A상 단자
112: B상 단자 113: C상 단자
114: N상 단자 120: 계전기측 단자부
121: A상 단자 122: B상 단자
123: C상 단자 124: N상 단자
130: 제1경로 132: 제1선로
134: 제2선로 136: 제3선로
140: 제2경로 142: 제4선로
144: 제5선로 146: 제6선로
148: 제7선로 150: 제3경로
152: 제8선로 154: 제9선로
160: 상 절환 스위칭부 170: 모드 스위칭부
171: 제1스위칭 모듈 172: 제2스위칭 모듈
173: 제10선로 174: 제11선로
175: 제3스위칭 모듈 176: 제4스위칭 모듈
180: 측정부 190: 표시부

Claims (18)

  1. 계기용 변류기 회로의 전류 시험 단자부의 차단기측 단자와 상별로 연결되는 복수의 단자로 구성되는 차단기측 단자부;
    상기 계기용 변류기 회로의 전류 시험 단자부의 계전기측 단자와 상별로 연결되는 복수의 단자로 구성되는 계전기측 단자부;
    상기 차단기측 단자부의 단자들과 상기 계전기측 단자부의 단자들을 상별로 연결하는 복수의 선로로 구성되는 제1경로;
    일단이 상기 차단기측 단자부의 단자들에 상별로 연결되는 복수의 선로로 구성되는 제2경로;
    상기 제1경로 및 상기 제2경로를 구성하는 선로들을 스위칭하여 하나의 상으로 절환하는 상 절환 스위칭부;
    일단이 상기 차단기측 단자부에 연결되는 선로 및 일단이 상기 계전기측 단자부에 연결되는 선로로 구성되는 제3경로;
    상기 제1경로, 제2경로 및 제3경로를 스위칭하여 단선 검사 회로 또는 오결선 검사 회로를 구성하는 모드 스위칭부; 및
    상기 모드 스위칭부의 모드 설정을 근거로 상기 계기용 변류기 회로의 저항값 또는 인덕턴스값을 측정하는 측정부를 포함하는 것을 특징으로 하는 계기용 변류기 회로 검사 장치.
  2. 청구항 1에 있어서,
    상기 제1경로는,
    상기 차단기측 단자부의 A상 단자 및 상기 계전기측 단자부의 A상 단자를 연결하는 제1선로;
    상기 차단기측 단자부의 B상 단자 및 상기 계전기측 단자부의 B상 단자를 연결하는 제2선로; 및
    상기 차단기측 단자부의 C상 단자 및 상기 계전기측 단자부의 C상 단자를 연결하는 제3선로를 포함하는 것을 특징으로 하는 계기용 변류기 회로 검사 장치.
  3. 청구항 2에 있어서,
    상기 제2경로는,
    일단이 상기 제1선로로부터 분기된 제4선로;
    일단이 상기 제2선로로부터 분기된 제5선로;
    일단이 상기 제3선로로부터 분기된 제6선로; 및
    일단이 상기 제4선로 내지 제6선로의 타단과 연결되고, 타단이 상기 모드 스위칭부에 연결되는 제7선로를 포함하는 것을 특징으로 하는 계기용 변류기 회로 검사 장치.
  4. 청구항 3에 있어서,
    상기 상 절환 스위칭부는,
    A상이 선택되면 상기 제1선로 및 제4선로를 연결하고, 상기 제2선로와 제3선로와 제5선로 및 제6선로를 단락시키고,
    B상이 선택되면 상기 제2선로 및 제5선로를 연결하고, 상기 제1선로와 제3선로와 제4선로 및 제6선로를 단락시키고,
    C상이 선택되면 상기 제3선로 및 제5선로를 연결하고, 상기 제1선로와 제2선로와 제4선로 및 제5선로를 단락시키는 것을 특징으로 하는 계기용 변류기 회로 검사 장치.
  5. 청구항 3에 있어서,
    상기 제3경로는,
    일단이 상기 차단기측 단자부의 N상 단자와 연결되고, 타단이 상기 모드 스위칭부와 연결되는 제8선로; 및
    일단이 상기 계전기측 단자부의 N상 단자와 연결되고, 타단이 상기 모드 스위칭부와 연결되는 제9선로를 포함하는 것을 특징으로 하는 계기용 변류기 회로 검사 장치.
  6. 청구항 5에 있어서,
    상기 모드 스위칭부는,
    상기 제1선로 내지 제3선로 및 제9선로에 배치되는 복수의 스위치로 구성되는 제1스위칭 모듈;
    상기 제4선로 내지 제6선로에 배치되는 복수의 스위치로 구성되는 제2스위칭 모듈;
    상기 측정부와 연결되는 제10선로와 연결되는 상기 제9선로에 배치되는 스위치 및 상기 측정부와 연결되는 제11선로에 연결되는 상기 제8선로에 배치되는 스위치로 구성되는 제3스위칭 모듈; 및
    상기 제10선로와 연결되는 상기 제7선로에 배치되는 스위치 및 상기 제11선로와 연결되는 상기 제8선로에 배치되는 스위치로 구성되는 제4스위칭 모듈을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 계기용 변류기 회로 검사 장치.
  7. 청구항 6에 있어서,
    상기 모드 스위칭부는,
    작업자에 의해 단선 검사 모드가 선택되면 상기 제1스위칭 모듈 및 제3스위칭 모듈을 온(연결)시키고, 상기 제2스위칭 모듈 및 제4스위칭 모듈을 오프(단락)시켜 단선 검사 회로를 구성하고,
    작업자에 의해 오결선 확인 모드가 선택되면 상기 제2스위칭 모듈 및 제4스위칭 모듈을 온(연결)시키고, 상기 제1스위칭 모듈 및 제3스위칭 모듈을 오프(단락)시켜 오결선 검사 회로를 구성하는 것을 특징으로 하는 계기용 변류기 회로 검사 장치.
  8. 청구항 1에 있어서,
    상기 측정부는,
    상기 모드 스위칭부에서 단선 검사 모드가 설정되면 단선 검사 회로의 저항값을 측정하고,
    상기 모드 스위칭부에서 오결선 검사 모드가 설정되면 오결선 검사 회로의 인덕턴스값을 측정하는 것을 특징으로 하는 계기용 변류기 회로 검사 장치.
  9. 청구항 1에 있어서,
    상기 측정부에서 측정한 저항값 및 인덕턴스값을 근거로 상기 계기용 변류기 회로의 단선 여부 및 오결선 여부를 판단하는 판단부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 계기용 변류기 회로 검사 장치.
  10. 청구항 9에 있어서,
    상기 판단부는,
    상기 측정부에서 저항값이 무한대로 측정되면 상기 계기용 변류기 회로의 단선으로 판단하는 것을 특징으로 하는 계기용 변류기 회로 검사 장치.
  11. 청구항 9에 있어서,
    상기 판단부는,
    상기 측정부에서 측정한 인덕턴스값이 설정값의 오차 범위를 초과하면 상기 계기용 변류기 회로의 오결선으로 판단하는 것을 특징으로 하는 계기용 변류기 회로 검사 장치.
  12. 청구항 9에 있어서,
    상기 판단부는,
    상기 측정부에서 측정한 인덕턴스값이 다른 상의 인덕턱스값 오차 범위를 초과하면 오결선으로 판단하는 것을 특징으로 하는 계기용 변류기 회로 검사 장치.
  13. 계기용 변류기 회로 검사 장치에 의해, 계기용 변류기 회로의 검사 모드를 설정하는 단계;
    상기 계기용 변류기 회로 검사 장치에 의해, 상기 설정하는 단계에서 단선 검사 모드로 설정되면 상기 계기용 변류기 회로의 저항을 측정하여 단선 여부를 판단하는 단계; 및
    상기 계기용 변류기 회로 검사 장치에 의해, 상기 설정하는 단계에서 오결선 검사 모드로 설정되면 상기 계기용 변류기 회로의 인덕턴스를 측정하여 오결선 여부를 판단하는 단계를 포함하고,
    상기 단선 여부를 판단하는 단계는,
    상기 계기용 변류기 회로 검사 장치에 의해, 상기 계기용 변류기 회로와 단선 검사 회로를 구성하는 단계;
    상기 계기용 변류기 회로 검사 장치에 의해, 상기 계기용 변류기 회로에서 단선 검사 대상인 상을 설정하는 단계;
    상기 계기용 변류기 회로 검사 장치에 의해, 상기 설정된 상의 저항값을 측정하는 단계; 및
    상기 계기용 변류기 회로 검사 장치에 의해, 상기 측정한 저항값을 근거로 상기 계기용 변류기 회로의 단선 여부를 판단하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 계기용 변류기 회로 검사 방법.
  14. 삭제
  15. 청구항 13에 있어서,
    상기 단선 여부를 판단하는 단계에서는,
    상기 계기용 변류기 회로 검사 장치에 의해, 상기 측정한 저항값이 무한대값이면 상기 계기용 변류기 회로의 단선으로 판단하는 것을 특징으로 하는 계기용 변류기 회로 검사 방법.
  16. 청구항 13에 있어서,
    상기 오결선 여부를 판단하는 단계는,
    상기 계기용 변류기 회로 검사 장치에 의해, 상기 계기용 변류기 회로와 오결선 검사 회로를 구성하는 단계;
    상기 계기용 변류기 회로 검사 장치에 의해, 상기 계기용 변류기 회로에서 오결선 검사 대상인 상을 설정하는 단계;
    상기 계기용 변류기 회로 검사 장치에 의해, 상기 설정된 상의 인덕턴스값을 측정하는 단계; 및
    상기 계기용 변류기 회로 검사 장치에 의해, 상기 측정한 인덕턴스값을 근거로 상기 계기용 변류기 회로의 오결선 여부를 판단하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 계기용 변류기 회로 검사 방법.
  17. 청구항 16에 있어서,
    상기 오결선 여부를 판단하는 단계에서는,
    상기 계기용 변류기 회로 검사 장치에 의해, 상기 측정한 인덕턴스값이 설정값 오차 범위를 초과하면 오결선으로 판단하는 것을 특징으로 하는 계기용 변류기 회로 검사 방법.
  18. 청구항 16에 있어서,
    상기 오결선 여부를 판단하는 단계에서는,
    상기 계기용 변류기 회로 검사 장치에 의해, 상기 측정한 인덕턴스값이 다른 상의 인덕턱스값 오차 범위를 초과하면 오결선으로 판단하는 것을 특징으로 하는 계기용 변류기 회로 검사 방법.
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