KR102087895B1 - 패치 판넬 배선 검사 장치 및 배선 검사용 패치 판넬 - Google Patents

패치 판넬 배선 검사 장치 및 배선 검사용 패치 판넬 Download PDF

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Abstract

본 발명에 따른 패치 판넬 배선 검사 장치는 각각 n개의 핀(pin)을 가지는 다수의 통신 포트와, 상기 다수의 통신포트별로 상기 n개의 핀(pin)과 연결되는 n개의 선을 포함하는 다수의 연결부와, 상기 다수의 연결부별로 상기 n 개의 선에 각각 연결되는 서로 다른 저항값을 가지는 n개의 저항을 가지는 저항부 및, 상기 연결부와 외부 케이블이 연결된 후, 각 통신포트별 저항값을 측정하고, 측정된 저항값과 상기 외부 케이블이 연결되어야 하는 통신포트에 해당하는 저항부에 포함된 저항들의 저항값이 일치하는지를 판단하여 배선 오류를 검사하는 검사부를 포함한다.

Description

패치 판넬 배선 검사 장치 및 배선 검사용 패치 판넬{WIRING INSPECTING APPARATUS OF A PATCH PANEL AND, PATCH PANEL FOR INSPECTING WIRING}
본 발명은 패치 판넬에 연결된 배선의 오류를 검사할 수 있는 패치 판넬 배선 검사 장치 및 배선 검사용 패치 판넬에 관한 것이다.
패치패널이 대량으로 설치되는 대형 시스템, 예를 들면 데이터 센터 등에서는 시스템의 유지, 보수 및 관리를 용이하게 하기 위하여 원격으로 모니터링이 가능한 패치코드 관리 시스템이 필요하다.
종래에는 작업자가 배선이 정확하게 연결되었는지를 확인하기 위해 2인 1조로 한명은 패치패널측에 다른 한명은 케이블의 반대측에 위치한 후 무전기 등을 이용하여 해당 케이블이 정상적으로 연결되었는지 여부를 수동으로 확인하고 있었다.
그러나, 패치 패널이 대량으로 설치되어 관리되어야 하는 대형 시스템에서는 기존의 방식으로는 오랜 시간 및 인력이 소모되며, 배선 오류 판단 결과도 정확하지 않은 문제점이 있다.
이에, 대형 시스템에도 적용할 수 있는 배선 오류 검사 기술에 대한 개발이절실한 상황이다.
본 발명과 관련된 종래 특허로는 한국등록 특허 10-1527130 (발명의 명칭 : 다장소 구별 테스터 / 출원인 홍순용)가 있습니다.
본 발명은 상술한 과제를 해결하기 위하여 안출된 것으로서, 서로 다른 저항값을 가지는 저항부를 이용하여 배선이 정확하게 이뤄졌는지를 용이하게 판단할 수 있는 패치 판넬 배선 검사 장치 및 패치 판넬을 제공하기 위한 것이다.
상술한 과제를 해결하기 위하여 안출된 본 발명의 실시예로서, 패치 판넬 배선 검사 장치는 각각 n개의 핀(pin)을 가지는 다수의 통신 포트와, 상기 다수의 통신포트별로 상기 n개의 핀(pin)과 연결되는 n개의 선을 포함하는 다수의 연결부와, 상기 다수의 연결부별로 상기 n 개의 선에 각각 연결되는 서로 다른 저항값을 가지는 n개의 저항을 가지는 저항부 및, 상기 연결부와 외부 케이블이 연결된 후, 각 통신포트별 저항값을 측정하고, 측정된 저항값과 상기 외부 케이블이 연결되어야 하는 통신포트에 해당하는 저항부에 포함된 저항들의 저항값이 일치하는지를 판단하여 배선 오류를 검사하는 검사부를 포함한다.
저항부는 상기 n개의 저항 값은 n-1개의 핀구별용 저항 및 1개의 통신포트구별용 저항을 가진다.
검사부는 상기 통신포트별로 측정된 저항값과 상기 외부 케이블이 연결되어야 하는 통신포트에 해당하는 n-1개의 핀구별용 저항의 저항값이 일치하는지를 판단하고, 불일치되는 저항값에 해당되는 핀(pin) 연결에 오류가 있다고 판단한다.
저항부는 상기 n-1개의 핀구별용 저항은 순차적으로 증가하는 저항값을 가지고, 검사부는 상기 통신포트별로 측정된 n-1개의 핀구별용 저항값이 순차적으로 증가하는지 여부를 판단하고, 순차적으로 증가하지 않는 저항에 대응되는 핀(pin) 연결에 오류가 있다고 판단한다.
검사부는 상기 통신포트별로 측정된 1개의 통신포트구별용 저항값과 상기 외부 케이블이 연결되어야 하는 통신포트에 해당하는 1개의 통신포트구별용 저항의 저항값이 일치하는지를 판단하고, 불일치되는 경우 해당되는 통신포트 연결에 오류가 있다고 판단한다.
패치 판넬 배선 검사 장치는 상기 n개의 선과 상기 n개의 저항 사이에 배치되고, 검사를 진행할 시에만 동작(on)되는 스위치를 더 포함한다.
또 다른 본 발명의 실시예로서, 배선 검사용 패치 판넬은 각각 n개의 핀(pin)을 가지는 다수의 통신 포트와, 상기 다수의 통신포트별로 상기 n개의 핀(pin)과 연결되는 n개의 선을 포함하는 다수의 연결부; 및 상기 다수의 연결부별로 상기 n 개의 선에 각각 연결되는 서로 다른 저항값을 가지는 n개의 저항을 가지는 저항부를 포함한다.
저항부는 상기 n개의 저항 값은 n-1개의 핀구별용 저항 및 1개의 통신포트구별용 저항을 가진다.
배선 검사용 패치 판넬은 상기 n개의 선과 상기 n개의 저항 사이에 배치되고, 검사를 진행할 시에만 동작(on)되는 스위치를 더 포함한다.
상술한 구성을 가진 본 발명의 일실시예에 따르면, 서로 다른 저항값을 가지는 저항부를 이용하여 해당 배선에 해당되는 저항값을 갖는지를 판단하여 배선이 정확하게 이뤄졌는지를 판단함으로써 쉬우면서도 정확하게 배선 오류를 판단할 수 있다.
도 1, 도 2 및 도 3은 본 발명의 일실시예인 패치 판넬 배선 검사 장치를 설명하기 위한 개념도이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예인 검사부가 해당 포트의 핀(pin)의 연결 오류를 검출하는 과정을 설명하기 위한 도면이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예인 검사부는 해당 포트의 연결 오류를 검출하는 과정을 설명하기 위한 도면이다.
이하, 본 발명의 바람직한 실시 예들을 첨부된 도면을 참고하여 더욱 상세히 설명한다. 본 발명의 실시 예들은 여러 가지 형태로 변형될 수 있으며, 본 발명의 범위가 아래에서 설명하는 실시 예들에 한정되는 것으로 해석되어서는 안 된다. 본 실시예들은 당해 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 본 발명을 더욱 상세하게 설명하기 위해서 제공되는 것이다.
도 1, 도 2 및 도 3은 본 발명의 일실시예인 패치 판넬 배선 검사 장치를 설명하기 위한 개념도이다.
도 1 및 도 2를 참조하면, 패치 판넬 배선 검사 장치(100)는 통신포트, 연결부(210, 220, 230), 저항부(211, 221, 231), 스위치(212, 222, 232) 및 검사부(213, 223, 233)를 포함한다. 본 실시예에서, 배선 검사용 패치 판넬은 통신포트, 연결부, 저항부 및, 스위치를 포함할 수 있다.
통신포트는 각각 n개의 핀(pin)을 가질 수 있으며, 패치 판넬 배선 검사 장치(100)에는 총 m 개의 통신 포트가 포함될 수 있다. 본 실시예에서는 핀이 8개이고, 통신 포트가 24개인 경우를 기준으로 설명하나, 개수는 이에 한정되는 것은 아니다.
연결부(210, 220, 230)는 다수의 통신포트별로 n개의 핀(pin)과 연결되는 n개의 선을 포함한다. 예를 들면, 연결부는 총 24개를 포함할 수 있고, 이 중 일부만 도시하였다. 제 1 연결부(210)의 1번 통신포트의 8개의 핀에 각각 연결되고, 타측은 외부 케이블과 연결될 수 있다. 제 2 연결부(220)의 2번 통신포트의 8개의 핀에 각각 연결되고, 타측은 외부 케이블과 연결될 수 있다. 제 3 연결부(230)의 1번 통신포트의 8개의 핀에 각각 연결되고, 타측은 외부 케이블과 연결될 수 있다.
저항부(211, 221, 231)는 다수의 연결부별로 n 개의 선에 각각 연결되고, 서로 다른 저항값을 가지는 n개의 저항을 가질 수 있다. 본 실시예서 선 및 저항은 8개를 기준으로 설명하나, 개수가 이에 한정되는 것은 아니다.
예를 들면, 저항부는 총 24개를 포함할 수 있고, 이 중 일부만 도시하였다. 제 1 저항부(211)는 R1, R2, R3, R4, R5, R6, R7 및 R8을 포함할 수 있고, 제 2 저항부(221)는 R11, R12, R13, R14, R15, R16, R17 및 R18을 포함할 수 있고, 제 3 저항부(231)는 R21, R22, R23, R24, R25, R26, R27 및 R28을 포함할 수 있다.
구체적으로 예를 들면, 제 1 저항부(211)의 R1, R2, R3, R4, R5, R6, R7은 핀구별용 저항이고, R8은 통신포트구별용 저항이고, 제 2 저항부(221)의 R11, R12, R13, R14, R15, R16, R17은 핀구별용 저항이고, R18은 통신포트구별용 저항이고, 제 3 저항부(231)는 R21, R22, R23, R24, R25, R26, R27은 핀구별용 저항이고, R28은 통신포트구별용 저항일 수 있다. 본 실시예에서 핀구별용 저항 및 통신 포트구별용 저항은 일 실시예에 불과하고, 다수의 저항 중 제작자 등이 원하는 저항을 핀구별용 저항 및 통신 포트구별용 저항으로 정할 수 있다.
도 3을 참조하면, 제 1 통신 포트에 연결되는 제 1 저항부(211)의 핀구별용 저항인 R1(1번 pin 연결), R2(2번 pin 연결), R3(3번 pin 연결), R4(4번 pin 연결), R5(5번 pin 연결), R6(6번 pin 연결), R7(7번 pin 연결)은 1Ω, 2Ω, 3Ω, 4Ω, 5Ω, 6Ω, 7Ω 이고, 통신포트구별용 저항인 R8은 10Ω일 수 있다.
제 2 통신 포트에 연결되는 제 2 저항부(221)의 핀구별용 저항인 R11(1번 pin 연결), R12(2번 pin 연결), R13(3번 pin 연결), R14(4번 pin 연결), R15(5번 pin 연결), R16(6번 pin 연결), R17(7번 pin 연결)은 11Ω, 12Ω, 13Ω, 14Ω, 15Ω, 16Ω, 17Ω 이고, 통신포트구별용 저항인 R18은 20Ω일 수 있다.
제 24 통신 포트에 연결되는 제 3 저항부(231)의 핀구별용 저항인 R21(1번 pin 연결), R22(2번 pin 연결), R23(3번 pin 연결), R24(4번 pin 연결), R25(5번 pin 연결), R26(6번 pin 연결), R27(7번 pin 연결)은 231Ω, 232Ω, 233Ω, 234Ω, 235Ω, 236Ω, 237Ω 이고, 통신포트구별용 저항인 R28은 240Ω일 수 있다.
설명의 편의상 제 3 통신 포트부터 제 23 통신 포트와 연결된 저항부들에 대한 설명은 생략했다.
스위치(212)는 연걸부 n개의 선과 저항부 n개의 저항 사이에 배치되고, 검사를 진행할 시에만 동작(on)될 수 있다. 예를 들면, 스위치(212)의 온(on) / 오프(off)는 전자식으로 제어되거나, 사용자 등이 기계식 버튼 등을 이용하여 기계식으로 제어될 수 있다.
예를 들면, 제 1 스위치(212)는 제 1 연결부(210) 및 제 1 저항부(211) 사이에 배치될 수 있고, 제 2 스위치(222)는 제 2 연결부(220) 및 제 2 저항부(221) 사이에 배치될 수 있고, 제 3 스위치(232)는 제 3 연결부(230) 및 제 3 저항부(231) 사이에 배치될 수 있다.
검사부(213, 223, 233)는 연결부와 외부 케이블이 연결된 후, 각 통신포트별 저항부(211, 221, 231)의 저항값을 측정할 수 있다. 본 실시예에서 검사부(213, 223, 233)를 3개를 기준으로 설명하나, 개수는 이에 한정되지 않는다.
검사부(213, 223, 233)는 측정된 저항값과 외부 케이블이 연결되어야 하는 통신포트에 해당하는 저항부에 포함된 저항들의 저항값이 일치하는지를 판단하여 배선 오류를 검사할 수 있다.
예를 들면, 제 1 검사부(213)는 연결부와 외부 케이블이 연결된 후, 제 1 통신포트의 제 1 저항부(211)의 저항값을 측정한다. 제 1 검사부(213)는 측정된 저항값과 상기 외부 케이블이 연결되어야 하는 통신포트('제 1 통신 포트')에 해당하는 n-1개의 핀구별용 저항의 저항값('R1, R2, R3, R4, R5, R6, R7은 1Ω, 2Ω, 3Ω, 4Ω, 5Ω, 6Ω, 7Ω인')이 일치하는지를 판단하여, 핀(pin) 별로 저항값들이 일치하는 경우 정상적으로 연결되었다고 판단하고, 불일치하는 경우 연결에 오류가 있다고 판단할 수 있다. 이와 같은 방법을 통해, 검사부는 해당 포트의 핀(pin)의 연결 오류를 검출할 수 있다.
또 다른 예를 들면, 저항부는 n-1개의 핀구별용 저항은 순차적으로 증가하는 저항값을 가지고, 제 1 검사부(213)는 n-1개의 핀구별용 저항의 저항값('R1, R2, R3, R4, R5, R6, R7은 1Ω, 2Ω, 3Ω, 4Ω, 5Ω, 6Ω, 7Ω인')이 순차적으로 증가하는지 여부를 판단할 수 있다. 제 1 검사부(213)는 측정된 저항값이 순차적으로 증가하지 않는 저항에 대응되는 핀(pin) 연결에 오류가 있다고 판단할 수 있다. 구체적으로 예를 들면, 제 1 검사부(213)는 핀을 기준으로 순차적으로 검사한 저항 값이 1Ω, 2Ω, 4Ω, 3Ω, 5Ω, 6Ω, 7Ω인 경우, 저항값이 순차적으로 증가하지 않는 3번 핀 및 4번 핀의 연결에 오류가 있다고 판단할 수 있다. 이와 같은 방법을 통해, 검사부는 해당 포트의 핀(pin)의 연결 오류를 검출할 수 있다.
예를 들면, 제 1 검사부(213)는 제 1 통신포트의 1개의 통신포트구별용 저항값을 측정하고, 측정된 1개의 통신포트구별용 저항값과 외부 케이블이 연결되어야 하는 통신포트에 해당하는 1개의 통신포트구별용 저항의 저항값('R8은 10Ω인')이 일치하는지를 판단하고, 일치하는 경우 제 1 통신포트에 정상적으로 연결되었다고 판단하고, 불일치되는 경우 제 1 통신포트 연결에 오류가 있다고 판단할 수 있다. 이와 같은 방법을 통해, 검사부는 해당 포트의 연결 오류를 검출할 수 있다.
본 실시예에서는 검사부(213, 223, 233)가 포함되어 자동으로 배선 오류를 검사하는 경우를 기준으로 설명하였으나, 통신포트, 연결부, 저항부 및, 스위치를 포함하는 배선 검사용 패치 판넬(검사부 제외)을 설치하고, 배선 오류 검사는 검사자가 검사장비를 들고다니면서 배선 검사용 패치 판넬의 저항부의 저항값을 측정하면서 배선 오류 여부를 검사할 수도 있다.
본 발명에 따르면, 서로 다른 저항값을 가지는 저항부를 이용하여 해당 배선에 해당되는 저항값을 갖는지를 판단하여 배선이 정확하게 이뤄졌는지를 판단함으로써 쉬우면서도 정확하게 배선 오류를 판단할 수 있다.
도 4는 본 발명의 일 실시예인 검사부가 해당 포트의 핀(pin)의 연결 오류를 검출하는 과정을 설명하기 위한 도면이다.
도 2, 도 3 및 도 4를 참조하면, 제 2 검사부(223)는 제 2 통신포트의 1개의 통신포트구별용 저항값(R18)을 측정하고, 측정된 1개의 통신포트구별용 저항값과 외부 케이블이 연결되어야 하는 통신포트('제 1 통신포트')에 해당하는 1개의 통신포트구별용 저항의 저항값('R8인 10Ω')이 일치하는지를 판단할 수 있다. 제 2 검사부(223)는 측정된 저항값(R18)이 20Ω이고, 해당하는 1개의 통신포트구별용 저항의 저항값('R8인 10Ω')이므로 불일치되기 때문에, 제 2 통신포트 연결에 오류가 있다고 판단할 수 있다. 이와 같은 방법을 통해, 검사부는 제 2 통신 포트의 연결에 오류가 있음을 검출할 수 있다.
도 5는 본 발명의 일 실시예인 검사부는 해당 포트의 연결 오류를 검출하는 과정을 설명하기 위한 도면이다.
도 2, 도 3 및 도 5를 참조하면, 제 2 검사부(223)는 연결부와 외부 케이블이 연결된 후, 제 2 통신포트의 제 2 저항부(221)의 저항값을 측정한다. 제 2 검사부(223)는 측정된 저항값과 상기 외부 케이블이 연결되어야 하는 통신포트('제 2 통신 포트')에 해당하는 n-1개의 핀구별용 저항의 저항값('R11, R12, R13, R14, R15, R16, R17은 11Ω, 12Ω, 13Ω, 14Ω, 15Ω, 16Ω, 17Ω인')이 일치하는지를 판단할 수 있다.
제 2 검사부(223)의 측정한 저항값은 순차적으로 11Ω, 12Ω, 14Ω, 13Ω, 15Ω, 16Ω, 17Ω이고, 해당하는 n-1개의 핀구별용 저항의 저항값은 11Ω, 12Ω, 13Ω, 14Ω, 15Ω, 16Ω, 17Ω과 비교하여, 일치하는 1번 핀, 2번 핀, 5번 핀, 6번 핀, 7번 핀은 정상적으로 연결되었고, 불일치하는 3번 핀 및 4번 핀은 연결 오류가 있다고 판단할 수 있다. 이와 같은 방법을 통해, 검사부는 해당 포트의 핀(pin)의 연결 오류를 검출할 수 있다.
설명된 실시예들은 다양한 변형이 이루어질 수 있으며, 각 실시예들의 전부 또는 일부가 선택적으로 조합되어 구성될 수도 있다. 또한, 본 명세서에서 설명된 실시예는 그 설명을 위한 것이며, 그 제한을 위한 것이 아님을 주의하여야 한다. 또한, 본 발명의 기술분야의 통상의 전문가라면 본 발명의 기술사상의 범위에서 다양한 실시예가 가능함을 이해할 수 있을 것이다.
100 : 패치 판넬 배선 검사 장치
210, 220, 230 : 연결부 저항부
212, 222, 232 : 스위치
213, 223, 233 : 검사부

Claims (9)

  1. 각각 n개의 핀(pin)을 가지는 다수의 통신 포트;
    상기 다수의 통신포트별로 상기 n개의 핀(pin)과 연결되는 n개의 선을 포함하는 다수의 연결부;
    상기 다수의 연결부별로 상기 n 개의 선에 각각 연결되는 서로 다른 저항값을 가지는 n개의 저항을 가지되, 상기 n개의 저항 값은 n-1개의 핀구별용 저항 및 1개의 통신포트구별용 저항을 가지는 저항부; 및
    상기 연결부와 외부 케이블이 연결된 후, 핀(pin)별로 상기 통신포트별로 측정된 n-1개의 핀구별용 저항의 저항값과 상기 외부 케이블이 연결되어야 하는 통신포트에 해당하는 n-1개의 핀구별용 저항의 저항값이 일치하는지를 판단하고, 불일치되는 저항값에 해당되는 핀(pin) 연결에 오류가 있다고 판단하고, 상기 통신포트별로 측정된 1개의 통신포트구별용 저항값과 상기 외부 케이블이 연결되어야 하는 통신포트에 해당하는 1개의 통신포트구별용 저항의 저항값이 일치하는지를 판단하고, 불일치되는 경우 해당되는 통신포트 연결에 오류가 있다고 판단하여 배선 오류를 검사하는 검사부를 포함하는, 패치 판넬 배선 검사 장치.
  2. 삭제
  3. 삭제
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 저항부는,
    상기 n-1개의 핀구별용 저항은 순차적으로 증가하는 저항값을 가지고,
    상기 검사부는,
    상기 통신포트별로 측정된 n-1개의 핀구별용 저항값이 순차적으로 증가하는지 여부를 판단하고, 순차적으로 증가하지 않는 저항에 대응되는 핀(pin) 연결에 오류가 있다고 판단하는, 패치 판넬 배선 검사 장치.
  5. 삭제
  6. 제 1 항에 있어서,
    상기 n개의 선과 상기 n개의 저항 사이에 배치되고, 검사를 진행할 시에만 동작(on)되는 스위치를 더 포함하는, 패치 판넬 배선 검사 장치.
  7. 삭제
  8. 삭제
  9. 삭제
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR200492368Y1 (ko) * 2020-08-12 2020-09-24 (주)인포스텍 능동형 패치판넬과 랜 모듈러잭간 결선시 케이블 결선 오류를 검사하는 적색 led 점등회로 및 이를 포함하는 능동형 패치판넬
KR200493553Y1 (ko) * 2020-09-18 2021-04-21 (주)인포스텍 능동형 패치판넬과 랜 모듈러잭간 결선시 케이블 결선 오류를 검사하는 적색 led 점등회로 및 이를 포함하는 능동형 패치판넬

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20040082934A (ko) * 2003-03-20 2004-09-30 바르타 마이크로바테리 게엠베하 전기화학적 전지용 전자식 측정 및 테스트 장비의 오류추적 방법 및 장치
KR20160143275A (ko) * 2015-06-05 2016-12-14 한국전력공사 계기용 변류기 회로 검사 장치 및 방법
KR101892221B1 (ko) * 2017-02-27 2018-08-27 홍순용 랜 케이블 식별 시스템

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20040082934A (ko) * 2003-03-20 2004-09-30 바르타 마이크로바테리 게엠베하 전기화학적 전지용 전자식 측정 및 테스트 장비의 오류추적 방법 및 장치
KR20160143275A (ko) * 2015-06-05 2016-12-14 한국전력공사 계기용 변류기 회로 검사 장치 및 방법
KR101892221B1 (ko) * 2017-02-27 2018-08-27 홍순용 랜 케이블 식별 시스템

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR200492368Y1 (ko) * 2020-08-12 2020-09-24 (주)인포스텍 능동형 패치판넬과 랜 모듈러잭간 결선시 케이블 결선 오류를 검사하는 적색 led 점등회로 및 이를 포함하는 능동형 패치판넬
KR200493553Y1 (ko) * 2020-09-18 2021-04-21 (주)인포스텍 능동형 패치판넬과 랜 모듈러잭간 결선시 케이블 결선 오류를 검사하는 적색 led 점등회로 및 이를 포함하는 능동형 패치판넬

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