JP5159201B2 - テストプラグの試験装置 - Google Patents

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本発明はテストプラグの試験装置に関し、特に電力系統の保護機器である継電器の動作確認等を行うテストプラグの性能判定、すなわちこのテストプラグの各相間の導通試験や各相間の絶縁性能検査を行う場合に適用して有用なものである。
電力系統の保護システムとして、例えば、図7に示すようなものがある。この保護システムでは、線路50R,50W,50Bの各相に変流器(CT)51R,51W,51Bが設けられ、その一端側が中性点N(以下、変流器51R乃至51Bのそれぞれの相をR,W,B相,中性点Nに接続される相をN相と称す。)に接続されるとともに、他端側がそれぞれ過電流継電器53R,53W,53Bに接続されている。ここで、各過電流継電器53R,53W,53Bと中性点Nとの間には地絡過電流継電器55が設けられ、事故時の異常電流に基づき、例えば地絡過電流継電器55が動作することで送出される信号に基づいて、線路50R,50W,50Bと変圧器57との間に設けられた遮断器59を遮断制御するようになっている。
かかる保護システムでは、過電流継電器53R乃至53B、地絡過電流継電器55と各変流器51R乃至51Bの間で配電盤にテストターミナル5を配設し、変流器側を短絡したテストプラグ30をテストターミナル5に挿入後、計器、電流発生器等を備えた試験装置を接続して、線路50R乃至50Bを活線状態のまま、各過電流継電器53R乃至53Bと地絡過電流継電器55の試験を行っている。
テストターミナル5は、その縦断面図である図8に示すように、開口部であるプラグ挿入口7を形成した箱体6を有しており、この箱体6内には、4組の接点装置10が上記R,W,B相およびN相の各相に対応して並設されている。各接点装置10は、各相に対応する上下一対の可動接触板である電源側導体11及び負荷側導体21で構成されている。
一方、試験時においてテストターミナル5に挿入されるテストプラグ30は、図9に示すように、絶縁支持体31から突出した絶縁板32に、各相に対応するとともに、上下に相互に絶縁された各一対の活線側導体35R乃至35N及び非活線側導体45R乃至45Nが並設されており、それらの基端部は、同軸状に配設された4組の端子37,47にそれぞれ接続されている。
このテストプラグ30は、変流器51R乃至51Bの2次側が開放されるのを避けるため、例えば複数の短絡片38により4個の端子37間を連結接続して各活線側導体35R乃至35N間を短絡するとともに、他の端子47に試験装置60を接続して所定の試験に供している。
テストターミナル5にテストプラグ30が挿入されていない状態において、テストターミナル5の電源側の端子17と負荷側の端子27間は、電源側導体11及び負荷側導体21が接触することにより閉路状態にあり、例えば、図7に示す変流器51Rは、過電流継電器53R及び地絡過電流継電器55と閉回路を形成している。
一方、過電流継電器53R乃至53B、地絡過電流継電器55の試験に際しては、プラグ挿入口7を介してテストターミナル5にテストプラグ30が挿入されると、各接点装置10の電源側導体11及び負荷側導体21の間が開離される。この結果、例えば、変流器51R、過電流継電器53R間の接続が遮断されるとともに、短絡片38により変流器51R,51W,51Bの両端が短絡され、過電流継電器53R,53W,53Bおよび地絡過電流継電器55が試験装置60に接続される。
かかる保護システムは、図示はしないが、事故時における線路50R乃至50Bの異常な電圧降下を検出するための計器用変圧器(PT)も通常有しており、かかる計器用変圧器も、変流器51R乃至51Bの場合と同様に、配電盤に配設したテストターミナルを介して所定の継電器等に接続してある。かくして、線路50R乃至50Bの異常電圧降下が検出された場合に、遮断器59を遮断制御する。
そこで、前記計器用変圧器のテストターミナルに挿入して前記継電器の動作試験等を行うためのテストプラグも存在する。これは、間違ってCT用のテストターミナル5に挿入するのを防止し得るような構造となっているが、図9に示すテストプラグ30と同様に、上下に相互に絶縁された各一対の活線側導体35R乃至35N及び非活線側導体45R乃至45Nが並設される等、基本的な構成はテストプラグ30と同様である。
上述の如きテストプラグ30は、テストターミナル5等に挿入する前提としてその健全性が保証されていなければならない。例えば活線側導体35R乃至35N及び非活線側導体45R乃至45N間の所定の導通が取れていない場合には正確な動作試験ができず、短絡片38により活線側導体35R乃至35N間が短絡されていない場合には、変流器51R乃至51Bの2次側が開放されてしまうという不都合を生起するからである。
また、テストプラグ30の相間絶縁抵抗乃至極間絶縁抵抗の値が十分でない場合には短絡事故を生起するという不都合を生起する。ここで、テストプラグ30の相間絶縁抵抗とは、電源側乃至負荷側で隣接する異なる相の活線側導体35R乃至35N及び非活線側導体45R乃至45Nの間の絶縁部材33による絶縁抵抗(以下同じ)をいい、極間絶縁抵抗とは、同一の相における活線側導体35R乃至35Nと非活線側導体45R乃至45Nとの間の絶縁部材32による絶縁抵抗(以下同じ)をいう。
そこで、所定の試験に先立ちテストプラグ30の健全性を確認するための試験装置が、従来より種々提案されている(特許文献1乃至特許文献4参照)。
特開2001−231153号公報 特開平10−19961号公報 特開平09−113570号公報 実開平05−17577号公報
上記従来技術に係るテストプラグの試験装置は、試験結果を視覚的に表示する表示部を備えていないか、又は備えていても不十分なものである。すなわち、導通状態乃至絶縁状態を表示する機能を有する場合でも、何れの部分の導通状態が不十分であるのかを一目で視認できるような構造となっていないので、試験結果の迅速な確認という点で難がある。
本発明は、上記従来技術に鑑み、上述の如きテストプラグの試験結果を一見して視認し得る表示部を有するテストプラグの試験装置を提供することを目的とする。
上記目的を達成する本発明の第1の態様は、
電源側の各相に接続されたテストターミナルの複数の電源側導体にそれぞれ接触する活線側導体と、負荷側の各相に接続された前記テストターミナルの同数の負荷側導体にそれぞれ接触する非活線側導体とが各相毎に絶縁部材の相対向する面にそれぞれ配設されているテストプラグの試験装置であって、
前記各活線側導体に接触させ得る活線側接触部及び各非活線側導体に接触させ得る非活線側接触部を有するテストプラグ接続部と、
前記活線側接触部及び非活線側接触部にそれぞれ対応させて配設した第1の発光部、前記電源側及び負荷側で対応する同相の前記各活線側接触部及び非活線側接触部間の状態を表すように構成した第2の発光部、前記電源側の相間で隣接する前記活線側接触部間の状態を表すように構成した第3の発光部及び前記負荷側の相間で隣接する前記非活線側接触部間の状態を表すように構成した第4の発光部を有する表示手段と、
前記テストプラグ接続部に前記テストプラグを接続した状態で、前記各活線側導体と前記各非活線側導体との間の絶縁抵抗である極間絶縁抵抗、並びに前記各活線側導体の間及び前記各非活線側導体の間の絶縁抵抗である相間絶縁抵抗を検出し、これらが異常であった場合に絶縁異常信号を送出する絶縁検出手段と、
前記テストプラグ接続部に前記テストプラグを接続した状態で、前記各活線側導体と前記各非活線側導体との間の絶縁抵抗である相間絶縁抵抗、並びに前記各活線側導体の間及び前記各非活線側導体の間の絶縁抵抗である極間絶縁抵抗を検出し、これらが異常であった場合に絶縁異常信号を送出する絶縁検出手段と、
前記絶縁異常信号を入力した場合、絶縁異常であることを表示するように前記表示手段の発光状態を制御するとともに、前記テストプラグ接続部に前記テストプラグを接続した状態で、各活線側導体と各非活線側導体とにおける同一相の各活線側導体と各非活線側導体との間を導通アングルで導通して同一相の前記各活線側導体と前記各非活線側導体との間に電流を供給する一方、前記電源側で隣接する各活線側導体の間を短絡片で短絡して前記電源側で隣接する各活線側導体の間に電流を供給してそれぞれの導通状態を検出し、この検出状態を表示するように前記表示手段の発光状態を制御する発光制御手段とを有するとともに、
前記テストプラグ接続部は、
前記各相の活線側導体又は非活線側導体にそれぞれ接触するよう筐体である本体から前方に伸ばして屈曲させた先端面に前記活線側接触部又は非活線側接触部をそれぞれ有する第1の爪部材と、
前記各相の非活線側導体又は活線側導体にそれぞれ接触するよう前記本体に基端部を回動可能に支持されるとともに前方に伸ばして屈曲させた先端面に前記非活線側接触部又は活線側接触部をそれぞれ有する第2の爪部材とを有するものであることを特徴とするテストプラグの試験装置にある。
本発明の第2の態様は、
第1の態様に記載するテストプラグの試験装置において、
前記表示手段における前記第1乃至第4の発光部は液晶で構成したことを特徴とするテストプラグの試験装置にある。
本発明の第3の態様は、
第1又は第2の態様に記載するテストプラグの試験装置において、
前記絶縁検出手段は、
隣接する異なる相間における前記活線側接触部同士と前記負荷側導体同士とがそれぞれ異なる極になると同時に、同一相で相対向している前記活線側接触部と前記負荷側導体とがそれぞれ異なる極となるように前記電源側接触部及び負荷側接触部にそれぞれ接続されている一対の測定端子を有することを特徴とするテストプラグの試験装置にある。
上記構成の本発明によれば、実際のテストプラグの活線側導体に接触する活線側接触部及び非活線側導体に接触する非活線側接触部とともに、これらの間の部分を位置的に模擬した第1乃至第4の発光部を表示手段が備えており、しかも第1乃至第4の発光部では発光制御手段の制御により所定の導通乃至絶縁状態を視覚的に反映させることができる。この結果、所定の試験結果を容易且つ迅速に視認し得る。
以下本発明の実施の形態を図面に基づき詳細に説明する。
図1は本発明の実施の形態に係るテストプラグの試験装置の全体を示すブロック線図である。同図に示すように、テストプラグ接続部1は、図8に示すテストターミナル5の機能、すなわちテストプラグ30(図9参照;以下同じ)の活線側導体35R乃至35N(図9参照;以下同じ)及び非活線側導体45R乃至45N(図9参照;以下同じ)とそれぞれ接触して、各活線側導体35R乃至35N及び非活線側導体45R乃至45Nに試験用の電圧/電流を供給し得るように構成してある。このため、テストプラグ接続部1は、各相の活線側導体11に接触させ得る活線側接触部1R,1W,1B,1N及び各非活線側導体21に接触させ得る非活線側接触部1´R,1´W,1´B,1´Nを有している。
表示部2は、第1の発光部2A、第2の発光部2B、第3の発光部2C及び第4の発光部2Dを有している。これらのうち、第1の発光部2Aは、活線側接触部1R,1W,1B、1N及び非活線側接触部1´R,1´W,1´B,1´Nにそれぞれ対応させて配設したものである。第2の発光部2Bは、電源側及び負荷側で対応する同相の各活線側接触部1R,1W,1B,1N及び非活線側接触部1´R,1´W,1´B,1´N間の状態を表すように構成したものである。第3の発光部2Cは、電源側の相間で隣接する活線側接触部1R,1W,1B,1N間の状態を表すように構成したものである。第4の発光部2Dは、負荷側の相間で隣接する非活線側接触部1´R,1´W,1´B,1´Nの状態を表すように構成したものである。また、第1乃至第4の発光部2A乃至2Dは液晶で好適に構成することができる。
絶縁検出部3は、テストプラグ接続部1にテストプラグ30を接続した状態で、各活線側導体35R乃至35Nと各非活線側導体45R乃至45Nとの間の絶縁抵抗である極間絶縁抵抗、並びに各活線側導体35R乃至35Nの間及び各非活線側導体45R乃至45Nの間の絶縁抵抗である相間絶縁抵抗を検出し、これらが異常であった場合に絶縁異常信号S4を送出する。かかる絶縁検出部3の具体的な構成は後で説明する。
発光制御部4は、絶縁異常信号S4を入力した場合、絶縁異常であることを表示するように表示部2の発光状態を制御する。同時に、この発光制御部4は、後述する各試験モードに基づきテストプラグ接続部1にテストプラグ30を接続した状態で、表示部2の発光状態を制御する。制御の具体的な態様に関しては後に詳述する。

ここで、図2に基づき試験モードに関して説明しておく。図2(a)乃至図2(d)は第1乃至第4のモードにそれぞれ対応する正常な状態の表示部2の表示態様である。同図中、網点部分が点灯されていることを表している。
図2(a)に示す第1のモードは、所定の試験に先立ち、表示部2の健全性を確認するためのモードであり、非活線側接触部1´R乃至1´N及び各活線側接触部1R,1W,1B,1Nを所定の治具(例えば図3に示す短絡キャップ16)で短絡した状態で電源釦スイッチ8を押すことにより選択される。電源釦スイッチ8を押すことにより、第1乃至第4の発光部2Aが全て点灯された場合、表示部2は健全であると判断することができ、点灯しない部分が存在する場合は、その部分が不良であると判断することができるように構成してある。
図2(b)に示す第2のモードは、モード選択釦9を押すことにより第2のモード選択信号S2により選択される。この第2のモードは、同一相の各活線側導体35R乃至35Nと各非活線側導体45R乃至45Nとの間の導通を検出するモードであり、テストプラグ30の各端子37,47間(図9参照;以下同じ)をコ字状の導通アングル(図示せず)で接続した状態で当該テストプラグ30をテストターミナル5(図8参照;以下同じ)に挿入してPT回路の電圧を測定する場合等に先立って行なう試験である。この第2のモードでは、図2(b)に示すように、各第1の発光部2Aと各第2の発光部2Bとが点灯された場合に、各活線側導体35R乃至35Nと各非活線側導体45R乃至45Nとの間の導通が正常に確保されていると判断でき、点灯しない第2の発光部2Bが存在する場合は、その部分が不良であると判断することができる。
図2(c)に示す第3のモードは、モード選択釦9を押すことにより第3のモード選択信号S3により選択される。この第3のモードは、隣接する活線側導体35R乃至35N間の導通を検出するモードであり、変流器51R乃至51B(図7参照)の2次側が開放されるのを防止してテストプラグ30の各活線側導体35R乃至35N間を短絡片38(図9参照;以下同じ)で短絡し、非活線側導体45R乃至45Nを介して負荷に電流を供給する場合に先立って行なう試験である。この第3のモードでは、図2(c)に示すように、各第1の発光部2Aと各第3の発光部2Cとが点灯された場合に、各活線側導体35R乃至35N間が正常に導通されていると判断でき、点灯しない第3の発光部2Cが存在する場合は、その部分が不良であると判断することができる。
図2(d)に示す第4のモードは、相間及び極間絶縁抵抗を検出するモードで、前記相間及び極間絶縁抵抗の健全性を検出するための試験を行うモードである。この第4のモードでは、図2(d)に示すように、第1乃至第4の全ての発光部2A乃至2Dが点灯されない場合に、テストプラグ30の相間及び極間絶縁抵抗が正常であると判断でき、何れかの部分の絶縁抵抗が不良の場合には第1乃至第4の発光部4A乃至4Dの全てが点灯されるようになっており、このことにより何れかの部分における絶縁抵抗が不良であると判断することができる。ここで、第4のモードにおいて絶縁抵抗の不良が検出されると第1乃至第4の全ての発光部4A乃至4Dが発光するので、第1のモードで正常である場合(この場合も全ての発光部4A乃至4Dが発光する)と区別する必要がある。かかる区別は、第4のモードにおいて絶縁不良が検出された場合、発光部4A乃至4Dを点滅させることにより容易に実現し得る。
図3は本形態に係る試験装置の外観をテストプラグとともに示す斜視図である。同図に示すように、本形態におけるテストプラグ接続部1は、筐体である本体12から前方に伸ばして屈曲させた第1の爪部材13と、ヒンジ部15を介して本体12に基端部を回動可能に支持されるとともに前方に伸ばして屈曲させた第2の爪部材14とを有する。ここで、第1の爪部材13は、全体は絶縁部材で構成してあるが、それぞれの先端面には導電部である非活線側接触部1´R乃至1´N(図3には図示せず)が固着されているおり、各非活線側接触部1´R乃至1´Nを介して各相の非活線側導体45R乃至45Nにそれぞれ接触するようになっている。同様に、第2の爪部材14も、全体は絶縁部材で構成してあるが、それぞれの先端面には導電部である活線側接触部1R乃至1Nが固着されており、各活線側接触部1R乃至1Nを介して各相の活線側導体35R乃至35Nにそれぞれ接触するようになっている。
表示部2、電源釦スイッチ8及びモード選択釦9は本体12の表面に配設してある。また、第1の爪部材13及び第2の爪部材14の間には、非活線側接触部1´R乃至1´N及び活線側接触部1R乃至1Nに接触して全体を短絡するための導電部材16aで形成した短絡キャップ16を噛ませてある。かかる状態で、電源釦スイッチ8を押せば表示部2の健全性を調べることができる。なお、導電部材16aの周囲には感電防止のための絶縁物で周囲を囲んだ絶縁壁16bが設けられている。
かかる本形態においては、ヒンジ部15を回動中心として第2の爪部材14を、図中に一点鎖線で示すように回動することによりその先端部を開き、かかる状態でテストプラグ30の非活線側導体45R乃至45N及び活線側導体35R乃至35Nを第1の爪部材13と第2の爪部材14との間で把持することによりテストプラグ30の所定の検査の準備が完了する。
図4は本形態に係る試験装置の表示部の詳細な構成を示す回路図である。図4中において各発光部2A,2B,2C,2Dは網点を付して示した部分で、液晶で形成してある。ここで、第1の発光部2Aは、図4中で上段の左側から順に非活線側接触部1´R乃至1´N側のR相,W相,B相,N相をそれぞれ表わしており、下段の左側から順に活線側接触部1R乃至1N側のR相,W相,B相,N相をそれぞれ表わしている。第2の発光部2Bは左側から順にR相,W相,B相,N相の非活線側接触部1´R,1´W,1´B,1´Nと活線側接触部1R,1W,1B,1Nとの間のものであることを表している。同様に、第3の発光部2C及び第4の発光部2Dは、左側から順に活線側接触部1R乃至1N側におけるR相−W相間,W−B相間,B−N相間及び非活線側接触部1´R乃至1´N側におけるR相−W相間,W−B相間,B−N相間のものであることを表している。
第1乃至第4の発光部2A乃至2Dはa接点a1乃至a18の閉成により選択的に点灯される。したがって、a接点a1乃至a18の開閉を発光制御部4の接点制御部(図示せず)で適宜制御すれば、図2に示すような各モードにおける表示部2の表示状態を構築することができる。
図5は本形態に係る試験装置における発光制御部の詳細な構成を示す回路図である。図2(a)に示す第1のモードにおいては、電源釦スイッチ8を押すが、このことによりリレーR0が電源18に接続される結果、このリレーR0が付勢される。この場合には、接点制御部(図示せず)を介して図4の全てのa接点a1乃至a18を閉成するように構成してある。したがって、正常時には図2(a)に示すような表示となる。一方、点灯されない発光部2A乃至2Dがあればその部分で表示部2の不良を生起していることを視認し得る。
図2(b)に示す第2のモードでは、第1の爪部材13と第2の爪部材14との間にテストプラグ30の活線側導体35R乃至35N及び非活線側導体45R乃至45Nを把持した状態でモード選択釦9の操作により第2のモード選択信号S2を送出する。ここで、テストプラグ30の端子37,47間はコ字状金属で電源側と負荷側とが接続されているので、第2のモード選択信号S2により接点a20が閉成されると同時に、他からの制御により接点a21乃至a24が閉成されると、所定通り同相の電源側と負荷側とが接続されている場合には、リレーR1乃至R4が動作する。この結果、接点制御部を介してa接点a1乃至a18が選択的に閉成されて、正常時には図2(b)に示すような表示となる。一方、電源側と負荷側とが何らかの原因で接続されていない場合には、対応する相のリレーR1乃至R4は動作しない。そこで、この状態を反映すべく何れかの発光部2Bを発光させないことで不良部分を視認し得る。
図2(c)に示す第3のモードでは、第1の爪部材13と第2の爪部材14との間にテストプラグ30の活線側導体35R乃至35Nを把持した状態でモード選択釦9の操作により第3のモード選択信号S3を送出する。第3のモードでは、テストプラグ30の電源側の端子47間が短絡片38により短絡されている。そこで、第3のモード選択信号S3により接点a30を閉成するとともに、他からの次のような制御により各接点の開閉を制御する。
1) 接点a24を閉成する。このとき、リレーR4が動作すれば、正常であるので、表示部2は図2(c)に示すように点灯される。
2) 1)でリレーR4が動作しなかった場合には、接点a22を閉成する。この結果、リレーR2が動作すれば活線側接触部1R,1W間は正常である。
3) 2)でリレーR2が動作した後、接点a23を閉成する。この結果、リレーR3が動作すれば活線側接触部1W,1B間は正常である。したがって、活線側接触部1B,1N間が異常ということになる。
4) 2)でリレーR2が動作しなかった場合には、活線側接触部1R,1W間が異常である反面、活線側接触部1W,1B及び活線側接触部1B,1N間の正常乃至異常は不明である。そこで、次の2つの手順により活線側接触部1W,1B及び活線側接触部1B,1N間の状態を検出する。
5) 接点a31,a23を閉成したとき、リレーR3が動作すれば、活線側接触部1W,1Bは正常であり、そうでなければ異常である。
6) 接点a31,a32及びa24を閉成したとき、リレーR4が動作すれば、活線側接触部1B,1Nは正常であり、そうでなければ異常である。
7) 以上の1)乃至6)の処理結果に基づいて接点制御部が発光部2A,2Cの点灯を制御する。この結果、全てが正常な場合には、図2(c)のような表示となる。一方、不良箇所に対応する発光部2Cは点灯されないので、不良箇所を視認し得る。
図2(d)に示す第4のモードでは、第1の爪部材13と第2の爪部材14との間にテストプラグ30の活線側導体35R乃至35Nを把持した状態で相間及び極間の絶縁抵抗を測定し、絶縁抵抗が設定値よりも小さい場合には絶縁異常信号S4で接点a40を閉成する。このとき接点a40をフリッカリレーの接点で形成すればリレーR0をフリッカ動作させることができる。この結果、全発光部2A乃至2Dが点滅して、絶縁不良部分があることを警告することができる。一方、十分な絶縁抵抗が確保されている場合には発光部2A乃至2Dの全てが発光しない。
ここで、第2のモード乃至第4のモードは自動的に遷移する。したがって、表示部2の状態が実施している試験に対応する図2(b)乃至図2(d)に示すような、健全な表示部2となっているか否かを視認すれば良い。
図6は本形態に係る試験装置における絶縁検出部の具体的な構成例を概念的に示す説明図である。本形態における絶縁検出部3は、隣接する異なる相間における活線側接触部1R,1W,1B,1N同士と非活線側接触部1´R,1´W,1´B,1´N同士とがそれぞれ異なる極になると同時に、同一相で相対向している活線側接触部1R,1W,1B,1Nと非活線側接触部1´R,1´W,1´B,1´Nとがそれぞれ異なる極となるように活線側接触部1R,1W,1B,1N及び非活線側導体45R,45W,45B,45Nにそれぞれ接続されている一対の測定端子19,20を有している。かかる接続状態は、図示はしないがスイッチ手段の切り替えにより実現できる構造となっている。
さらに詳言すると、+極となる測定端子19には、活線側接触部1W,1Nと非活線側接触部1´R,1´Bとがそれぞれ接続してあり、−極となる測定端子20には活線側接触部1R,1Bと非活線側接触部1´W,1´Nとがそれぞれ接続してある。この結果、隣接する異なる相間における活線側接触部1R,1W,1B,1N同士と非活線側接触部1´R,1´W,1´B,1´N同士とがそれぞれ異なる極になると同時に、同一相で相対向している活線側接触部1Rと非活線側接触部1´R、活線側接触部1Wと非活線側接触部1´W、活線側接触部1Bと非活線側接触部1´B、活線側接触部1Nと非活線側接触部1´Nとがそれぞれ異なる極となる。すなわち、+極となる活線側接触部1W,1N及び非活線側接触部1´R,1´Bと、−極となる活線側接触部1R,1B及び非活線側接触部1´W,1´Nとは電源側と負荷側とで千鳥状になるように配設してある。
この結果、測定端子19,20間にメガーで所定の高電圧を印加すれば、図中に点線で接続したように、異なる相間であれ、同一相間であれ、第1乃至第2の爪部材13,14間に把持するテストプラグ30の活線側導体35R,35W,35B,35N間及び非活線側導体45R,45W,45B,45N間並びに相対向する活線側導体35R,35W,35B,35Nと非活線側導体45R,45W,45B,45N間には、所定の高電圧が印加される。この結果、所定の絶縁抵抗を一度に測定することができる。この結果、絶縁抵抗に異常がなければ図5の接点a40が開放されたままであるので、表示部2が発光することはない。異常時のみ接点a40の閉成により発光部2A乃至2Dが点滅する。
なお、かかる絶縁測定は、第1のモードのセルフチェックが終了した直後に、第2乃至第3のモードの検査に先立って行なう。
本発明は電力機器を製造販売する産業分野や、電力設備を保守・点検する産業分野で利用することができる。
本発明の実施の形態に係るテストプラグの試験装置の全体を示すブロック線図である。 図1に示す試験装置の表示部の表示態様を各モード毎に示す説明図である。 図1に示す試験装置の外観をテストプラグとともに示す斜視図である。 図1に示す試験装置の表示部の詳細な構成を示す回路図である。 図1に示す試験装置における発光制御部の詳細な構成を示す回路図である。 図1に示す試験装置における絶縁検出部の具体的な構成例を概念的に示す説明図である。 挿入式のテストプラグ及びテストターミナルを有する電力系統の保護システムを示す回路図である。 テストターミナルを示す縦断面図である。 テストプラグを示す斜視図である。
符号の説明
1 テストプラグ接続部
1R,1W,1B,1N 活線側接触部
1´R,1´W,1´B,1´N 非活線側接触部
2 表示部
2A乃至2D 発光部
3 絶縁検出部
4 発光制御部
8 電源釦スイッチ
9 モード選択釦
12 本体
13 第1の爪部材
14 第2の爪部材
15 ヒンジ部

Claims (3)

  1. 電源側の各相に接続されたテストターミナルの複数の電源側導体にそれぞれ接触する活線側導体と、負荷側の各相に接続された前記テストターミナルの同数の負荷側導体にそれぞれ接触する非活線側導体とが各相毎に絶縁部材の相対向する面にそれぞれ配設されているテストプラグの試験装置であって、
    前記各活線側導体に接触させ得る活線側接触部及び各非活線側導体に接触させ得る非活線側接触部を有するテストプラグ接続部と、
    前記活線側接触部及び非活線側接触部にそれぞれ対応させて配設した第1の発光部、前記電源側及び負荷側で対応する同相の前記各活線側接触部及び非活線側接触部間の状態を表すように構成した第2の発光部、前記電源側の相間で隣接する前記活線側接触部間の状態を表すように構成した第3の発光部及び前記負荷側の相間で隣接する前記非活線側接触部間の状態を表すように構成した第4の発光部を有する表示手段と、
    前記テストプラグ接続部に前記テストプラグを接続した状態で、前記各活線側導体と前記各非活線側導体との間の絶縁抵抗である極間絶縁抵抗、並びに前記各活線側導体の間及び前記各非活線側導体の間の絶縁抵抗である相間絶縁抵抗を検出し、これらが異常であった場合に絶縁異常信号を送出する絶縁検出手段と、
    前記絶縁異常信号を入力した場合、絶縁異常であることを表示するように前記表示手段の発光状態を制御するとともに、前記テストプラグ接続部に前記テストプラグを接続した状態で、各活線側導体と各非活線側導体とにおける同一相の各活線側導体と各非活線側導体との間を導通アングルで導通して同一相の前記各活線側導体と前記各非活線側導体との間に電流を供給する一方、前記電源側で隣接する各活線側導体の間を短絡片で短絡して前記電源側で隣接する各活線側導体の間に電流を供給してそれぞれの導通状態を検出し、この検出状態を表示するように前記表示手段の発光状態を制御する発光制御手段とを有するとともに、
    前記テストプラグ接続部は、
    前記各相の活線側導体又は非活線側導体にそれぞれ接触するよう筐体である本体から前方に伸ばして屈曲させた先端面に前記活線側接触部又は非活線側接触部をそれぞれ有する第1の爪部材と、
    前記各相の非活線側導体又は活線側導体にそれぞれ接触するよう前記本体に基端部を回動可能に支持されるとともに前方に伸ばして屈曲させた先端面に前記非活線側接触部又は活線側接触部をそれぞれ有する第2の爪部材とを有するものであることを特徴とするテストプラグの試験装置。
  2. 請求項1に記載するテストプラグの試験装置において、
    前記表示手段における前記第1乃至第4の発光部は液晶で構成したことを特徴とするテストプラグの試験装置。
  3. 請求項1又は請求項2に記載するテストプラグの試験装置において、
    前記絶縁検出手段は、
    隣接する異なる相間における前記活線側接触部同士と前記負荷側導体同士とがそれぞれ異なる極になると同時に、同一相で相対向している前記活線側接触部と前記負荷側導体とがそれぞれ異なる極となるように前記電源側接触部及び負荷側接触部にそれぞれ接続されている一対の測定端子を有することを特徴とするテストプラグの試験装置。
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