JPH01278220A - 回路遮断器試験装置 - Google Patents

回路遮断器試験装置

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JPH01278220A
JPH01278220A JP1067376A JP6737689A JPH01278220A JP H01278220 A JPH01278220 A JP H01278220A JP 1067376 A JP1067376 A JP 1067376A JP 6737689 A JP6737689 A JP 6737689A JP H01278220 A JPH01278220 A JP H01278220A
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JP
Japan
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trip unit
switch
power source
current
potentiometer
Prior art date
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Pending
Application number
JP1067376A
Other languages
English (en)
Inventor
Christopher G Walker
クリストファー・ジェラルド・ウォーカー
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CBS Corp
Original Assignee
Westinghouse Electric Corp
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Publication date
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/165Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values
    • HELECTRICITY
    • H02GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02HEMERGENCY PROTECTIVE CIRCUIT ARRANGEMENTS
    • H02H3/00Emergency protective circuit arrangements for automatic disconnection directly responsive to an undesired change from normal electric working condition with or without subsequent reconnection ; integrated protection
    • H02H3/02Details
    • H02H3/04Details with warning or supervision in addition to disconnection, e.g. for indicating that protective apparatus has functioned
    • H02H3/044Checking correct functioning of protective arrangements, e.g. by simulating a fault

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  • Breakers (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は電子トリップユニットのための携帯用試験装置
に関し更に詳細には電子ユニットのための内部給電式試
験装置に関する。
回路遮断器が適正な電流値で且つ適当な遅延時間で実際
にトリップすることを検証する試験を時々行なう必要が
ある。その理由は、過電流状態の発生時回路遮断器によ
り保護される装置が損傷を受けるのを回避するか、ある
いはその損傷を最少限に抑えるために、回路遮断器が適
当な電流値で且つ適当な遅延時間でトリップするのが要
望されているからである。
ソリッドステートのトリップユニットを備えた回路遮断
器は通常低電流の電源を用いるが、その電源よりトリッ
プユニットへ予め設定した値の各種電流を注入して過電
流状態をシミレートするこのによりテストを行なう、こ
のようにして回路遮断器のソリッドステイト会トリップ
ユニットを試験すると、回路遮断器に高圧の導体を接続
したり切離したりする必要がないという理由で有利であ
る。
かかる試験に必要なことは、回路遮断器が設置されてい
る現場で試験をしなければならないことである。これま
で、かかる試験に用いられてきた試験装置として携帯用
試験装置があるが、これは現在市販されている120ポ
ルトの交流電源のような外部電源により給電される。か
かる試験装置は高価で大型且つ直流電子トリップユニッ
ト用に設計変更の必要があるという欠点を有する。従っ
て、本発明の目的は、テスト中の電子トリップユニット
の内部電源を利用するため別の電源を必要としない試験
装置を提供することにある。
上記目的に鑑みて、本発明は、電流導体により配電を行
なう電気系統であって、電流導体に接続した回路遮断器
と、ソリッドステート素子を有する電子トリップユニッ
トと、電流導体の少なくとも1つに設けられてソリッド
ステート素子に延びるリード線を備えた電流センサーと
、電子トリップユニット用の電源と、トリップユニー/
 )をモニターするための電子試験装置とよりなり、電
子試験装置は第1.第2および第3の回路を有し、第1
の回路は電流センサーの1つのリード線からアースへ延
びて第1のスイッチ、発光ダイオード。
電流制限抵抗を有し、第2の回路は電流センサーの1つ
のリードから入力テスト信号用導体へ延びて前記第1の
スイッチ、第1の抵抗、ポテンショメータおよび第2の
スイッチを有し、前記第1の抵抗はポテンショメータの
調整範囲の下限を設定し、第3の回路は前記入力テスト
信号用導体からアースへ延びて前記第2のスイッチ、ボ
テンシ茸メータ、第2の抵抗を有し、前記第2の抵抗は
ポテンショメータの調整範囲の上限を設定し、かくして
試験装置がトリップユニットの電源により内部で給電さ
れることを特徴とする電気系統を提供する。
本発明の装置の利点は、電子トリップユニットための携
帯用試験装置が電子トリップユニットの内部電源により
給電されるためトリップユニットを現場でテストする際
刈の電源を接続する必要がないということである。
以下、添付図面を参照して、本発明を好ましい実施例に
つき詳細に説明する。
第1図において、電子試験装置1oは回路遮断器14の
一部を構成する電子トリップユニy)12から切離した
状態で示しである。
回路遮断器目を試験するために、600ボルトのような
低電圧直流電源15をラインと負荷端子16.18に接
続して負荷2oへ電流を供給する0回路遮断器14は幾
つかの端子1[1,18の間に延びる導体24に接続し
た開離自在の接点22を有する。
電子トリップユニット12はソリッドステート素子によ
り構成されている。トリップ二二ツ)12はその直流電
流状態に従って、例えば24ポルトのような制御電源2
Bにより給電されるが、制御電源26として交流電源を
用いることも可能である。トリップユニット12のソリ
ッドステート素子に延びるリード線30が、電流導体2
4をモニターするための1個また2個以上の電流センサ
ー28に接続されている。
第2図に示す本発明の!182の実施例かられかるよう
に、別個に設ける制御電源2Bを省略して負荷20へ給
電する直流電源15のような電源を用いることも出来る
。その目的で、リード線31.33が電子トリップユニ
ットから第2図に示す直流導体へ延びる。
本発明による試験装置10を第3図に示した。
試験装置lOをトリップユニット12へ固定的に取付け
ることも出来るが1着脱自在にした方が好ましい、試験
装置は端子あるいは端子ピンVcc、VinおよびGn
dを有し、それらは電子トリップユニット12の適当な
電源、アースおよび入力テスト信号端子である対応の端
子ソケットあるいはレセプタクル・コネクター34.3
8.38へ挿着される。かくして、試験装置10はテス
ト中の電子トリップユニット12の内部電源から給電さ
れる。その結果、試験装置lOへ別の電源を接続する必
要がなくなる。
Vcc端子からGnd端子へ延びる第1の回路は、第1
のスイッチ409発光ダイオード(LED) 42゜お
よび電流制限抵抗44を有する。
Vcc端子からVin端子へ延びる第2の回路は、前記
スイッチ40.抵抗4B、ポテンショメータ48および
第2のスイッチ50を有する。
Vin端子からGnd端子へ延びる第3の回路は、前記
第2のスイッチ50.ポテンショメータ48および抵抗
52を有する。。
第1のスイッチ40を閉じるとLED40が発光して電
流制限抵抗44を電流が流れる。またポテンショメータ
48の可動アームとアース端子Gndの間に電圧がかか
る。
第2のスイッチ50を閉じると入力テスト信号用導体が
接続されたトリップユニy)12へ端子Vfnを介して
入力テスト信号としての電圧が加えられる。第1および
第2のスイッチ40.50が2極スイツチの同−七りシ
肩ンであれば、LED42の作動と端子Winにおける
電圧の発生を含む上述のシーケンスが同時に起こる。ポ
テンショメータ48の設定点を調整してVinの入力テ
スト信号の大きさをスイッチの接点を閉じる前に予め選
択するかあるいは入力信号を印加中に増減してもよい、
設定点の位置はポテンショメータ上の較正マークあるい
は適当なネームプレートのダイヤルにより容易に判別出
来る。
その結果、入力テスト電圧Vinを抵抗48 、52お
よびポテンショメータ48の抵抗値を選択して設定した
任意の上限値と下限値の間で調整可能である。下限は1
.5パーユニツトであり抵抗52により設定される。上
限は5.0バーユニツトであり抵抗46により設定され
る。ポテンショメータ4日は上限と下限値の間で任意の
パーユニット値に調節可能である。
LED 42は試験装置10への給電が行われておりト
リップユニット12へ出力テスト信号が供給されている
ことを示す視覚表示として役立つ。
電子トリップユニツ)12への給電を直流電源から行な
う場合には、電流センサー28も同様に給電してトリッ
プユニットのトリップ情報を発生させる。トリップユニ
ット12の直流制御電圧は直流制御電源26(第1図)
のような電源から外部よ取るかあるいは電流バス(第2
図)から加えるようにしてもよい。
電子トリップユニツ)12は、長時間遅延あるいは過負
荷電流だけでなく瞬時トリップ用の回路とともに過電圧
および不足電圧保護を行うための回路も備えている。ト
リップユニット12はまた既存の回路遮断器電流の値を
過負荷および瞬時回路へ送る一方あるいは両方の電流セ
ンサー28からの信号により独立に動作する。
動作について説明すると、試験装置10は電流センサー
が通常動作時供給する情報をシミレートする。試験装置
toはまたトリップユニット12の電源で動作する。第
1図に示すように、試験装置への給電は端子Vccおよ
びGndを介して行われる。
Vccはトリップユニットの10ボルト直流電源に接続
される。電流センサー28からの入力情報をシミレート
するトリップユニットへの入力信号は端子Vinを介し
て送られる。試験装置toをトリップユニツ)12へ接
続してIOボルトの電圧が加えられるとLED 42が
点灯してトリップユニ、hが試験待機状態にあることを
示す、トリップユニット12への入力をボテンシ言メー
タ48をして予め選択することが出来る。その後シミレ
ートした入力をスイッチ50を閉じてトリップユニット
へ加える。
かくして、トリップユニット22は入力電圧に応答し、
試験装置10で選択した入力電流とトリップユニット2
2の設定との組合せに依存する時間でトリップする。そ
の結果回路遮断器がトリップする。
抵抗48.52の目的はトリップユニットの上限および
下限トリップ値を選択することである。かくして、ポテ
ンショメータ48は抵抗により設定した上限と下限の間
で調整可能である。
本発明によれば、普通現場で試験される電子トリップユ
ニット用の携帯用試験装置が提供される。120ボルト
の交流外部電源により給電される携帯用試験装置を用い
ることも出来るが、それは大型かつ高価であり直流電子
トリップユニー/ )に用いるために設計変更を必要と
する。従って、本発明の試験装置は従来の携帯用試験装
置の代りに用いることの出来る改良型の装置である。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明による電子試験装置と電子トリップユ
ニットを備えた回路遮断器の概略図である。 第2図は1本発明の第2の実施例の概略図である。 第3図は、電子試験装置の開路図である。 10・・・試験装置 12・・φ電子トリップユニy) 14争・ψ回路遮断器 40−−−第1のスイッチ 42拳・−LED 44・・―電流制限抵抗 48・・やポテンショメータ 50@・譬第2のスイッチ 出願人:ウェスチングハウス拳エレクトリック・コーポ
レーション 代理人:加藤紘一部(ほか1名) FIG、 3

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)電流導体により配電を行なう電気系統であって、
    電流導体に接続した回路遮断器と、ソリッドステート素
    子を有する電子トリップユニットと、電流導体の少なく
    とも1つに設けられてソリッドステート素子に延びるリ
    ード線を備えた電流センサーと、電子トリップユニット
    用の電源と、トリップユニットをモニターするための電
    子試験装置とよりなり、電子試験装置は第1、第2およ
    び第3の回路を有し、第1の回路は電流センサーの1つ
    のリード線からアースへ延びて第1のスイッチ、発光ダ
    イオード、電流制限抵抗を有し、第2の回路は電流セン
    サーの1つのリードから入力テスト信号用導体へ延びて
    前記第1のスイッチ、第1の抵抗、ポテンショメータお
    よび第2のスイッチを有し、前記第1の抵抗はポテンシ
    ョメータの調整範囲の下限を設定し、第3の回路は前記
    入力テスト信号用導体からアースへ延びて前記第2のス
    イッチ、ポテンショメータ、第2の抵抗を有し、前記第
    2の抵抗はポテンショメータの調整範囲の上限を設定し
    、かくして試験装置がトリップユニットの電源により内
    部で給電されることを特徴とする電気系統。
  2. (2)前記電源は直流を供給することを特徴とする特許
    請求の範囲第1項に記載の装置。
  3. (3)試験装置はトリップユニットに着脱自在に取付け
    られることを特徴とする特許請求の範囲第2項に記載の
    装置。
  4. (4)第1、第2および第3の回路は電流センサーおよ
    びソリッドステート素子の対応端子に着脱自在に取付け
    ることの出来る端子を有することを特徴とする特許請求
    の範囲第3項に記載の装置。
  5. (5)トリップユニットは電流センサーの1つと前記電
    源により給電されることを特徴とする特許請求の範囲第
    4項に記載の装置。
  6. (6)トリップユニットは前記電源により給電されるこ
    とを特徴とする特許請求の範囲第5項に記載の装置。
JP1067376A 1988-03-18 1989-03-18 回路遮断器試験装置 Pending JPH01278220A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

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US07/169,929 US4803434A (en) 1988-03-18 1988-03-18 Test device for circuit breakers having electronic trip units
US169,929 1988-03-18

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JPH01278220A true JPH01278220A (ja) 1989-11-08

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EP (1) EP0333412B1 (ja)
JP (1) JPH01278220A (ja)
KR (1) KR960008201B1 (ja)
CN (1) CN1036839A (ja)
AU (1) AU609950B2 (ja)
BR (1) BR8901122A (ja)
DE (1) DE68923470T2 (ja)
IE (1) IE890531L (ja)
IN (1) IN171307B (ja)
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