JP2008159408A - 継電器試験装置 - Google Patents

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【課題】車両用継電器試験装置の試験における操作の効率化を図ると同時に事故を排除することを目的とする。
【解決手段】被試験継電器に貼付された被試験継電器の回路構成及び特性に係る情報を記録した2次元コードの情報を読取るコード読取部2と、複数のリレーを備えた回路切替部3と、回路切替部3に接続され、被試験継電器の出力を計測する計測器を備えた計測部4と、回路切替部3に接続され、被試験継電器のコイル電圧を供給するコイル電源を備えた試験電圧設定部5と、コード読取部2に2次元コードの情報の読み取りを指示し、2次元コードの情報に基づき被試験継電器の試験条件を決定して回路切替部3の試験回路を構成するとともに、試験電圧設定部5のコイル電源の電圧を操作して計測部4の計測結果から被試験継電器の良否を判別する計測制御部1とを備えたものとする。
【選択図】図1

Description

本発明は、特性の異なった種々の継電器の特性試験を実施する継電器試験装置に関するものである。
例えば、車両用の継電器試験装置は、動作電圧や回路構成などの特性が異なる種々の継電器に対してその特性試験を実施する必要がある。
従来の車両用継電器試験装置では、試験装置の操作員が被試験継電器の型名から動作電圧や回路構成を認識し、その条件に合うよう手動で設定を行っているため、また、型名の判別誤りを犯す、動作電圧の設定を間違う、あるいは、回路構成の選択を誤る等の設定誤りを生じることがあり、このような設定誤りを生じ他場合、例えば直流24Vで動作する継電器に誤って直流100Vを加えた場合、被試験継電器を焼損する場合があるという欠点がある。
これに対し、例えば、特許文献1には、携帯電話などの電気機器において、2次元コードを使って電気機器の操作の効率化を図ることが開示されている。
特開2004−145525号公報(第3頁、図1)
本発明は、継電器試験装置の試験における操作の効率化を図ると同時に事故を排除することを目的とする。
本発明に係る継電器試験装置は、被試験継電器に貼付された上記被試験継電器の回路構成及び特性に係る情報を記録した情報を読取る情報読取部と、
複数のリレーを備えた回路切換部と、
上記回路切換部に接続され、上記被試験継電器の出力を計測する計測器を備えた計測部と、
上記回路切換部に接続され、上記被試験継電器のコイル電圧を供給するコイル電源を備えた試験電圧設定部と、
上記情報読取部に上記情報読取部の情報の読み取りを指示し、上記情報読取部の情報に基づき上記被試験継電器の試験条件を決定して上記回路切換部の試験回路を構成するとともに、上記コイル電源の電圧を操作して上記計測部の計測結果から上記被試験継電器の良否を判別する計測制御部と、
を備えたものである。
被試験継電器の型名判別誤りや試験条件設定誤りが除去でき、焼損等の事故を排除できると共に試験の効率化が達成できる。
実施の形態1.
図1は、本発明に係る継電器試験装置の実施の形態1を示すブロック図であり、図2は、本発明に係る継電器試験装置の実施の形態1の動作を説明するための回路構成を示す回路図であり、図3は、例えば、本発明で用いる情報記録部である2次元コード(例えば、QRコード)に記録する情報の例を示す表であり、図4は、2次元コードに情報が記録された時に構成される試験回路であり、図5は、被試験継電器のピン配置の例を示す図であり、図6は、本発明に係る継電器試験装置における計測制御部の処理の流れを示すフローチャートである。なお、この実施の形態1では、車両用の継電器試験装置を例にとって説明する。
図1に示したように、本発明に係る継電器試験装置は、試験装置の制御処理を司る計測制御部1、被試験継電器に貼付された2次元コードの情報を読取る情報読取部であるコード読取部2、計測制御部1の指示により試験回路を切り替える回路切換部3、計測制御部1の指示により試験実行時の測定値を読取る計測部4、計測制御部1の指示に従った試験電圧を出力する試験電圧設定部5を備える。
図2に示したように、回路切換部3は、複数のリレー31、32、33a〜33iを備えている。リレーは、測定器47を接続するリレー31と、コイル電源と被試験継電器を接続するリレー32と、コイル電源、動作検出回路41から動作検出回路46までのいずれか1つの信号を選択して接続する選択回路33a〜33iとで構成され、選択回路33a〜33iの出力は被試験継電器の1つのピンに接続される。従って、図示しないが、選択回路は全部で11セット準備される。測定部4は、動作検出回路41〜46及び抵抗計、電圧計等の計測器群47を備えている。動作検出回路41〜46は“+”と“−”の入力端子が短絡されると“1”を出力し、開放されると“0”を出力する働きを持つ回路である。試験電圧設定部5は、コイル電源51を備えている。
次に、実施の形態1について11ピンの継電器を試験対象とした場合について説明する。11ピンの継電器には、例えば、図4(a)、(b)及び(c)に示したようなピン配置を持つ継電器が存在する。さらに、図4(a)、(b)及び(c)のピン配置の継電器には、それぞれ動作電圧が直流100V・50V・36V・24V・12V及び交流200V・100V・50Vと多数の種類の形式が存在する。
図3に示したように、2次元コードには、例えば、継電器の型名101、定格の動作電圧102、コイル抵抗値103、コイル抵抗値の許容値104、動作電圧の基準値105、開放電圧の基準値106、コイル+極のピン番号107、コイル−極のピン番号108、極1−a接点のピン番号109、極1−b接点のピン番号110、極1−c接点のピン番号111、極2−a接点のピン番号112、極2−b接点のピン番号113、極2−c接点のピン番号114、極3−a接点のピン番号115、極3−b接点のピン番号116、極3−c接点のピン番号117を有し、被試験継電器にはこれらの2次元コードの情報が貼付されている。
次に、図6のフローチャートに基づき、動作について説明する。
まず、計測制御部1は、コード読取部2に指示して、被試験継電器に貼付された2次元コードの情報を読取る(S1)。
次に、計測制御部1は、読取った被試験継電器に関する特性・回路構成情報を判別して、回路切替部3に対して指示を出力する。図3に示した情報より、ピン番号1はコイル+極(正極)なので、ピン番号1の選択回路に対してはリレー33iをONする指令を出力し、ピン番号2は極1−a接点なので、ピン番号2の選択回路に対してはリレー33aをONする指令を出力し、ピン番号3は極2−a接点なので、ピン番号3の選択回路に対してはリレー33cをONする指令を出力し、ピン番号4は極1−b接点なので、ピン番号4の選択回路に対してはリレー33bをONする指令を出力し、ピン番号5は極1−c接点なので、ピン番号5の選択回路に対してはリレー33gをONする指令を出力し、ピン番号6は極2−c接点なので、ピン番号6の選択回路に対してはリレー33gをONする指令を出力し、ピン番号7は極3−c接点なので、ピン番号7の選択回路に対してはリレー33gをONする指令を出力し、ピン番号8は極3−b接点なので、ピン番号8の選択回路に対してはリレー33fをONする指令を出力し、ピン番号9は極2−b接点なので、ピン番号9の選択回路に対してはリレー33dをONする指令を出力し、ピン番号10は極3−a接点なのでピン番号10の選択回路に対してはリレー33eをONする指令を出力し、ピン番号11はコイル−極(負極)なので、ピン番号11の選択回路に対してはリレー33hをONする指令を出力する(S2)。
上記のように、回路切替部3を動作させることで、図4の試験回路が構成される。
試験回路の構成が完了すると、次は特性試験に移る。
特性試験は、コイル抵抗測定、動作電圧測定、開放電圧測定の順序で行うものとする。
まず、計測制御部1は、回路切替部3に指示してリレー31をONにし、抵抗計を接続し、抵抗計から測定値を読取り(S3)、測定値がコイル抵抗の許容値以内(本実施例では±10%)のときは、良品と判定し、許容値を超えた場合、さらに許容値の例えば2倍(許容値10%としている本実施例の場合は20%)を超えたかを判定する(S4)。この2倍の許容値を超えた場合は異常と判断し、次の特性試験を行わず試験を終了する。
次に、計測制御部1は、回路切替部3に指示して、リレー31とリレー32をONにし、コイル電源51の電圧を操作し、低電圧から定格電圧102に向かって徐々に増加させ、コイル電源51の出力電圧を増加させる間、動作検出回路41〜46の出力状態を監視し、すべてのa接点の動作検出回路42、44、46の出力が“1”、すべてのb接点の動作検出回路41、43、45の出力が“0”になったときのコイル電源51の出力電圧を測定器47から読取り、図3の動作電圧105以下か判定する(S5)。次に、コイル電源51の出力電圧を0Vに向って徐々に減少させる。コイル電源51を減少させる間、動作検出回路41〜46の出力状態を監視し、すべてのa接点の動作検出回路42、44、46の出力が“0”、すべてのb接点の動作検出回路41、43、45の出力が“1”になったときのコイル電源51の電圧を測定器47から読取り、図3の開放電圧106以下であるか判定する(S6)。
上記のように動作させることにより、継電器の特性試験が達成される。
実施の形態1では、被試験継電器の回路構成及び特性に関する情報を記録するために2次元コードに記録して、この記録した情報をコード読取部2で読み取るようにした。
2次元コードに代えて情報読取部である電子タグ(ICタグ)を被試験継電器に貼付し、コード読取部2に代えて試験装置に情報読取部であるICタグ読取部を設け、ICタグに、2次元コードと同様に、回路構成及び特性に関する情報を記録し、ICタグの情報を読み取るようにしても同様の効果が得られる。
以上のように、本発明に係る継電器試験装置よれば、被試験継電器の試験を自動的に行えるため、被試験継電器の型名判別誤りや試験条件設定誤りが除去でき、焼損等の事故を排除できると共に試験の効率化が達成できる。
また、コイル抵抗値が所定の値以上なったときに、試験を中止することにより、被試験継電器のに次元コードの貼付誤りがあった場合にも、焼損等を防止できる。
なお、上記実施の形態では、特性試験を、コイル抵抗測定と動作試験と開放試験に限定して説明したが、絶縁抵抗測定、絶縁耐圧測定、接点抵抗測定、及び限時動作測定にも拡張して適用できることは言うまでもない。また、実施の形態1では車両用の継電器を例に説明したが、この実施の形態1は、他の用途の継電器にも適用可能である。
本発明は、車両用等の特性の異なった種々の継電器の特性試験を自動で行うのに有効に利用できる。
本発明に係る継電器試験装置の実施の形態1を示すブロック図である。 本発明に係る継電器試験装置の実施の形態1の動作を説明するための回路構成を示す回路図である。 本発明で用いる2次元コードに記録する情報の例を示す表である。 2次元コードに情報が記録された時に構成される試験回路である。 被試験継電器のピン配置の例を示す図である。 本発明に係る継電器試験装置における計測制御部の処理の流れを示すフローチャートである。
符号の説明
1 計測制御部、2 コード読取部(情報読取部)、3 回路切換部、4 計測部、
5 試験電圧設定部、31,32,33a〜33i リレー、
41〜46 動作検出回路、47 計測器、51 コイル電源、
101〜117 2次元コード(情報記録部)。

Claims (5)

  1. 被試験継電器に貼付された上記被試験継電器の回路構成及び特性に係る情報を記録した情報を読取る情報読取部と、
    複数のリレーを備えた回路切換部と、
    上記回路切換部に接続され、上記被試験継電器の出力を計測する計測器を備えた計測部と、
    上記回路切換部に接続され、上記被試験継電器のコイル電圧を供給するコイル電源を備えた試験電圧設定部と、
    上記情報読取部に上記情報読取部の情報の読み取りを指示し、上記情報読取部の情報に基づき上記被試験継電器の試験条件を決定して上記回路切換部の試験回路を構成するとともに、上記コイル電源の電圧を操作して上記計測部の計測結果から上記被試験継電器の良否を判別する計測制御部と、
    を備えた継電器試験装置。
  2. 上記計測部におけるコイル抵抗の計測値が上記情報読取部の情報値から所定値以上はずれているときに、試験を中止する請求項1記載の継電器試験装置。
  3. 上記計測部は、上記被試験継電器の試験動作及び上記被試験継電器のコイル抵抗を計測する請求項1記載の継電器試験装置。
  4. 上記計測部は、上記被試験継電器の絶縁抵抗、絶縁耐圧または接点抵抗を計測する請求項1記載の継電器試験装置。
  5. 上記情報読取部は、2次元コードまたはICタグである請求項1ないし4のいずれかに記載の継電器試験装置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010277749A (ja) * 2009-05-27 2010-12-09 Kaiei Denki:Kk 制御盤の故障診断装置
CN110170458A (zh) * 2019-05-21 2019-08-27 温州德盛自动化科技有限公司 继电器底座检测排废装置

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109782085A (zh) * 2018-12-06 2019-05-21 安徽凯川电力保护设备有限公司 一种电力设备的故障检修自申报方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5643066U (ja) * 1979-09-10 1981-04-20
JPS6375673A (ja) * 1986-09-19 1988-04-06 Honda Motor Co Ltd リレ−チエツカ
JP2003346621A (ja) * 2002-05-28 2003-12-05 Matsushita Electric Works Ltd 電磁リレーの製造方法、電磁リレー及び電磁リレーの製造装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5643066U (ja) * 1979-09-10 1981-04-20
JPS6375673A (ja) * 1986-09-19 1988-04-06 Honda Motor Co Ltd リレ−チエツカ
JP2003346621A (ja) * 2002-05-28 2003-12-05 Matsushita Electric Works Ltd 電磁リレーの製造方法、電磁リレー及び電磁リレーの製造装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010277749A (ja) * 2009-05-27 2010-12-09 Kaiei Denki:Kk 制御盤の故障診断装置
JP4672785B2 (ja) * 2009-05-27 2011-04-20 有限会社海栄電気 制御盤の故障診断装置
CN110170458A (zh) * 2019-05-21 2019-08-27 温州德盛自动化科技有限公司 继电器底座检测排废装置

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