JPH06258375A - プリント配線基板の検査方法 - Google Patents
プリント配線基板の検査方法Info
- Publication number
- JPH06258375A JPH06258375A JP5064876A JP6487693A JPH06258375A JP H06258375 A JPH06258375 A JP H06258375A JP 5064876 A JP5064876 A JP 5064876A JP 6487693 A JP6487693 A JP 6487693A JP H06258375 A JPH06258375 A JP H06258375A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test
- round
- wiring board
- printed wiring
- signal line
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 作業が簡便で、信頼性の高いプリント基板の
検査方法を提供する。 【構成】 検査すべきプリント配線基板8のレジストデ
ータ中のラウンド位置データと、そのプリント配線基板
8の配線データとに基づいて、当該プリント配線基板8
上での導通テスト用の始端ラウンドと、信号線を介して
その始端ラウンドと電気的に接続される終端ラウンドと
を決定することを特徴とするものである。
検査方法を提供する。 【構成】 検査すべきプリント配線基板8のレジストデ
ータ中のラウンド位置データと、そのプリント配線基板
8の配線データとに基づいて、当該プリント配線基板8
上での導通テスト用の始端ラウンドと、信号線を介して
その始端ラウンドと電気的に接続される終端ラウンドと
を決定することを特徴とするものである。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、各種プリント基板上に
形成されている導電性パターンの断線や接続不良などを
検査するプリント配線基板の検査装置に関するものであ
る。
形成されている導電性パターンの断線や接続不良などを
検査するプリント配線基板の検査装置に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】近年、電子機器の高性能化、多機能化、
小型化に伴いプリント配線基板上での電子部品の実装密
度がさらに高まり、そのためにプリント配線基板上での
信号線などの幅や間隔が極めて狭くなり、信号線パター
ンも複雑化している。
小型化に伴いプリント配線基板上での電子部品の実装密
度がさらに高まり、そのためにプリント配線基板上での
信号線などの幅や間隔が極めて狭くなり、信号線パター
ンも複雑化している。
【0003】このような状況下において、従来の目視に
よってプリント配線基板を検査する方法では検査精度に
限界があり、例えば導通テストなどの電気的な検査を併
用しないと品質保証が不可能となり、そのためにプリン
ト配線基板の各種検査装置ならびに検査システムが研
究、開発されている。
よってプリント配線基板を検査する方法では検査精度に
限界があり、例えば導通テストなどの電気的な検査を併
用しないと品質保証が不可能となり、そのためにプリン
ト配線基板の各種検査装置ならびに検査システムが研
究、開発されている。
【0004】プリント配線基板はその用途に応じて各種
の導電性パターンが形成され、そのプリント配線基板上
に各種電子部品が搭載されている訳であるが、折角、形
成した導電性パターンがどこかで断線していたり、ある
いは接続されるべきでない個所に接続されていたりする
と、電子部品を搭載してもその機能を果たさない。その
ため電子部品を搭載する前にプリント配線基板を検査す
る必要がある。
の導電性パターンが形成され、そのプリント配線基板上
に各種電子部品が搭載されている訳であるが、折角、形
成した導電性パターンがどこかで断線していたり、ある
いは接続されるべきでない個所に接続されていたりする
と、電子部品を搭載してもその機能を果たさない。その
ため電子部品を搭載する前にプリント配線基板を検査す
る必要がある。
【0005】従来のプリント配線基板の導通テストは、
そのプリント配線基板の信号線パターンデータを見て、
始端ラウンドと、信号線を介してその始端ラウンドと電
気的に接続される終端ラウンドとを決定して、その始端
ラウンドと終端ラウンドとの間の導通テストを行ってい
た。
そのプリント配線基板の信号線パターンデータを見て、
始端ラウンドと、信号線を介してその始端ラウンドと電
気的に接続される終端ラウンドとを決定して、その始端
ラウンドと終端ラウンドとの間の導通テストを行ってい
た。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかし、プリント配線
基板上での信号線などの幅や間隔が狭く、信号線パター
ンも複雑化し、しかもラウンドと信号線の幅の差が殆ど
無くなっているため、信号線パターンデータから始端ラ
ウンドと終端ラウンドを特定する作業が非常に煩雑で、
神経を使う工程であり、ラウンドの特定を間違うことも
あり、作業能率が悪いという欠点を有していた。
基板上での信号線などの幅や間隔が狭く、信号線パター
ンも複雑化し、しかもラウンドと信号線の幅の差が殆ど
無くなっているため、信号線パターンデータから始端ラ
ウンドと終端ラウンドを特定する作業が非常に煩雑で、
神経を使う工程であり、ラウンドの特定を間違うことも
あり、作業能率が悪いという欠点を有していた。
【0007】本発明の目的は、このような従来技術の欠
点を解消し、作業が簡便で、信頼性の高いプリント配線
基板の検査方法を提供するにある。
点を解消し、作業が簡便で、信頼性の高いプリント配線
基板の検査方法を提供するにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、検査すべきプリント配線基板のレジスト
データ中のラウンド位置データと、そのプリント配線基
板の配線データとに基づいて、当該プリント配線基板上
での導通テスト用の始端ラウンドと、信号線を介してそ
の始端ラウンドと電気的に接続される終端ラウンドとを
決定することを特徴とするものである。
に、本発明は、検査すべきプリント配線基板のレジスト
データ中のラウンド位置データと、そのプリント配線基
板の配線データとに基づいて、当該プリント配線基板上
での導通テスト用の始端ラウンドと、信号線を介してそ
の始端ラウンドと電気的に接続される終端ラウンドとを
決定することを特徴とするものである。
【0009】
【作用】レジストデータの殆どはラウンド位置データで
あるため、レジストデータを用いて導通テスト用の始端
ラウンドと終端ラウンドを決定すれば、作業が非常に簡
便であり、しかも信頼性が高い。
あるため、レジストデータを用いて導通テスト用の始端
ラウンドと終端ラウンドを決定すれば、作業が非常に簡
便であり、しかも信頼性が高い。
【0010】
【実施例】次に本発明の実施例を図とともに説明する。
図1は実施例に係る検査装置のブロック図、図2はプリ
ント配線基板のレジスト図、図3はプリント配線基板の
信号線図である。
図1は実施例に係る検査装置のブロック図、図2はプリ
ント配線基板のレジスト図、図3はプリント配線基板の
信号線図である。
【0011】先ず図1を用いて、検査装置の概略構成に
ついて説明する。検査装置1はCPU2とROMならび
にRAMからなるメモリ3を内蔵した制御部4と、テス
ト治具ならびにスイッチング部を備えたテスト部5と、
オンライン入力ならびに外部コンピュータ入力ができる
テストデータ入力部6と、プリンタなどからなる記録部
7とから主に構成されている。なお、図中の8はテスト
部5のテスト治具(図示せず)にセットされる検査すべ
きプリント配線基板である。
ついて説明する。検査装置1はCPU2とROMならび
にRAMからなるメモリ3を内蔵した制御部4と、テス
ト治具ならびにスイッチング部を備えたテスト部5と、
オンライン入力ならびに外部コンピュータ入力ができる
テストデータ入力部6と、プリンタなどからなる記録部
7とから主に構成されている。なお、図中の8はテスト
部5のテスト治具(図示せず)にセットされる検査すべ
きプリント配線基板である。
【0012】例えば4層のプリント配線基板の場合、一
般的には部品面シルクと、部品面レジスト(反転)と、
部品面(表層)と、電源層(反転)と、グランド用電源
層(反転)と、半田面(表層)と、半田面レジスト(反
転)と、半田面シルク(反転)とから構成されている。
そして各層は例えばCADなどを利用して自動設計さ
れ、その設計時の各層の画像データなどが予め制御部4
のメモリ3に格納されている。図2はプリント配線基板
の前記部品面レジストに用いられるレジスト図、図3は
前記部品面(表層)に用いられる信号線図の例である。
般的には部品面シルクと、部品面レジスト(反転)と、
部品面(表層)と、電源層(反転)と、グランド用電源
層(反転)と、半田面(表層)と、半田面レジスト(反
転)と、半田面シルク(反転)とから構成されている。
そして各層は例えばCADなどを利用して自動設計さ
れ、その設計時の各層の画像データなどが予め制御部4
のメモリ3に格納されている。図2はプリント配線基板
の前記部品面レジストに用いられるレジスト図、図3は
前記部品面(表層)に用いられる信号線図の例である。
【0013】図2において9はスルーホール、10はレ
ジストが施される面、11はラウンドに相当するラウン
ド相当部で、この部分にはレジストは施されない。また
図3において12はスルーホール、13は信号線、14
はその信号線13と接続されるラウンドである。
ジストが施される面、11はラウンドに相当するラウン
ド相当部で、この部分にはレジストは施されない。また
図3において12はスルーホール、13は信号線、14
はその信号線13と接続されるラウンドである。
【0014】この図3に示されているように、最近の信
号線図は信号線13の幅とラウンド14の幅は余り差が
なく、しかもパターンが非常に複雑になっているため、
テスト時にこの信号線図上から始端ラウンドならびに終
端ラウンドを見付け出すことは非常に煩雑である。一
方、前記図2には、信号線図上のラウンド14に相当す
る箇所にラウンド相当部11が明示されており、しかも
信号線図のようにパターンが複雑でなく、ラウンド相当
部11を見つけるのが非常に容易でかつ確実である。
号線図は信号線13の幅とラウンド14の幅は余り差が
なく、しかもパターンが非常に複雑になっているため、
テスト時にこの信号線図上から始端ラウンドならびに終
端ラウンドを見付け出すことは非常に煩雑である。一
方、前記図2には、信号線図上のラウンド14に相当す
る箇所にラウンド相当部11が明示されており、しかも
信号線図のようにパターンが複雑でなく、ラウンド相当
部11を見つけるのが非常に容易でかつ確実である。
【0015】そこで本発明ではこのレジスト図上のラウ
ンド相当部11の位置情報と、信号線図上の信号線の情
報に基づいて、当該プリント配線基板上での導通テスト
用の始端ラウンドと、信号線を介してその始端ラウンド
と電気的に接続される終端ラウンドとを決定するよう
に、前記制御部4で信号処理される。
ンド相当部11の位置情報と、信号線図上の信号線の情
報に基づいて、当該プリント配線基板上での導通テスト
用の始端ラウンドと、信号線を介してその始端ラウンド
と電気的に接続される終端ラウンドとを決定するよう
に、前記制御部4で信号処理される。
【0016】この始端ラウンドと終端ラウンドの決定に
基づいて前記テスト部5では、予めセットされているプ
リント配線基板の始端ラウンドと終端ラウンドにテスト
治具の電極を接触させて電圧を印加することにより、通
電テストが行われる。このようにして各信号線の通電テ
ストがシーケンシャルに順次実行される。
基づいて前記テスト部5では、予めセットされているプ
リント配線基板の始端ラウンドと終端ラウンドにテスト
治具の電極を接触させて電圧を印加することにより、通
電テストが行われる。このようにして各信号線の通電テ
ストがシーケンシャルに順次実行される。
【0017】そして通電テストの結果に基づいて前記制
御部4で試験の合否が判断され、その判断結果の全てあ
るいは不良箇所だけが前記記録部7からプリントアウト
されるとともに、合否データがメモリ3の所定のアドレ
スに格納されて、試験データの集計などに利用される。
御部4で試験の合否が判断され、その判断結果の全てあ
るいは不良箇所だけが前記記録部7からプリントアウト
されるとともに、合否データがメモリ3の所定のアドレ
スに格納されて、試験データの集計などに利用される。
【0018】
【発明の効果】本発明は前述のような構成になってお
り、レジストデータの殆どはラウンド位置データである
ため、レジストデータを用いて導通テスト用の始端ラウ
ンドと終端ラウンドを決定すれば、作業が非常に簡便で
あり、しかも信頼性が高いなどの特徴を有している。
り、レジストデータの殆どはラウンド位置データである
ため、レジストデータを用いて導通テスト用の始端ラウ
ンドと終端ラウンドを決定すれば、作業が非常に簡便で
あり、しかも信頼性が高いなどの特徴を有している。
【図1】本発明の実施例に係る検査装置のブロック図で
ある。
ある。
【図2】プリント配線基板のレジスト図の一例を示す図
である。
である。
【図3】プリント配線基板の信号線図の一例を示す図で
ある。
ある。
1 検査装置 2 CPU 3 メモリ 4 制御部 5 テスト部 6 テストデータ入力部 7 記録部 8 プリント配線基板 11 レジスト相当部 13 信号線 14 ラウンド
Claims (1)
- 【請求項1】 検査すべきプリント配線基板のレジスト
データ中のラウンド位置データと、そのプリント配線基
板の配線データとに基づいて、当該プリント配線基板上
での導通テスト用の始端ラウンドと、信号線を介してそ
の始端ラウンドと電気的に接続される終端ラウンドとを
決定することを特徴とするプリント基板の検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5064876A JPH06258375A (ja) | 1993-03-02 | 1993-03-02 | プリント配線基板の検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5064876A JPH06258375A (ja) | 1993-03-02 | 1993-03-02 | プリント配線基板の検査方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06258375A true JPH06258375A (ja) | 1994-09-16 |
Family
ID=13270775
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5064876A Pending JPH06258375A (ja) | 1993-03-02 | 1993-03-02 | プリント配線基板の検査方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH06258375A (ja) |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59168375A (ja) * | 1983-03-07 | 1984-09-22 | インテグリ―テスト コーポレイション | 電気接続回路網のテスト方法及び装置 |
-
1993
- 1993-03-02 JP JP5064876A patent/JPH06258375A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59168375A (ja) * | 1983-03-07 | 1984-09-22 | インテグリ―テスト コーポレイション | 電気接続回路網のテスト方法及び装置 |
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