KR100320075B1 - 시험장치 - Google Patents

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KR100320075B1
KR100320075B1 KR1019920013098A KR920013098A KR100320075B1 KR 100320075 B1 KR100320075 B1 KR 100320075B1 KR 1019920013098 A KR1019920013098 A KR 1019920013098A KR 920013098 A KR920013098 A KR 920013098A KR 100320075 B1 KR100320075 B1 KR 100320075B1
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체춘찬
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리 우 힝
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    • G01R1/06705—Apparatus for holding or moving single probes
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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Abstract

시험장치는 회로기판에서 절연시험을 행하는 한편, 다른 수단과 조합되어 동일한 회로기판의 연속성을 시험하는데 또한 사용되는 절연시험수단으로 구성된다.

Description

시험장치
본 발명은 인쇄회로기판(PCB) 따위의 회로기판 유니트를 시험하는 시험장치에 관한 것이다.
본 발명의 목적은 종래의 장치에 비해 PCB의 시험속도가 빠른 시험장치를 제공하는데 있다.
본 발명에 따른 시험장치는 회로기판에서 절연시험을 행하는 제 1 시험수단과, 상기 제 1 시험수단과 함께 동일한 회로기판의 도전시험을 행하는 제 2 시험수단으로 구성된다.
제 1 시험수단은 회로기판상의 특정지점과 접촉하여 회로기판내의 단락을 검사하는 프로브를 포함하는 것이 바람직하다.
제 2 시험수단은 회로기판의 두 지점과 접촉하는 적어도 하나의 스트립 형태로된 도전고무와, 상기 도전고무를 지지하는 지지부재와, 상기 지지부재 위에 설치되는 도전재료를 포함한다. 도전시험이 행해지는 동안 상기 제 1 시험수단과 상기 제 2 시험수단은 함께 회로기판과 접촉한다.
지지부재는 실린더수단에 의해 회로기판쪽으로 또는 그 반대방향으로 이동하는 것이 바람직하다.
본 발명은 종래와 비교하여 시험공정에 소모되는 시간을 감소시킨다. 또한, 고정 및 보수관리비용이 절감된다.
각각의 시험장치는 완전자동화시스템에 의해 제어되는 바이패스밸브를 통해 작동하는 미니어쳐 유압 실린더를 사용하는 것이 좋다.
지지부재는 금속 플랫홈 형태로 구성되는 것이 바람직하며, 도전재료는 금속 플랫홈 형태로 된 지지부재의 홈내에 설치되는 것이 바람직하다. 도전재료의 일부는 지지부재의 표면상에 노출되어 회로기판과 접촉한다. 실린더수단은 도전재료를 회로기판상에 압착하여 회로기판의 도전시험이 수행될 수 있도록 한다.
본 발명의 시험장치는 모든 소형 및 고밀도의 피복되기 전의 기판을 SMT(표면실장기술)을 사용하여 정확하게 시험하기 위해 제공된다. 본 발명의 장치는 특히 자동 도전고무 시험(ACRT) 시스템에서 유용하게 사용된다.
본 발명에 의해 얻어지는 장점은 다음과 같다.
1. 기존 장치에 비해 시험사이클의 수를 감소시킴으로써 생산성을 향상시킨다.
2. 프로브를 도전재료로 대체함으로써 프로브의 구입비용 및 보수관리비용이 절감된다. 또한 SMT 패드의 밀도는 매우 높기 때문에 미세한 피치의 프로브를 사용할 필요가 없다.
3. 시험중에 유니트의 패턴시프트와 공차가 크게 허용되기 때문에 매끄럽게 시험을 수행할 수 있다.
4. 고밀도 SMT (표면실장기술) 패드 기판을 시험할 경우 정확도가 매우 뛰어나다.
5. 도전재료는 어떠한 핀 자원을 차지하지 않기 때문에 시스템의 시험 핀의 수는 증가될 수 있다.
6. 도전재료 시스템의 보수관리공정이 감소되고, 따라서 보수관리에 드는 비용과 시간을 절감할 수 있다.
이하, 첨부도면을 통해 본 발명을 상세히 설명하기로 한다.
제 1 도 및 제 2 도에 도시한 바와 같이, 시험장치(10)는 인쇄회로기판(12)상에서 절연시험과 도전시험을 수행한다.
특히, 시험장치는 상하로 이동가능하며 인쇄회로기판상의 특정지점과 접촉하는 제 1 시험수단을 포함한다. 제 1 도에 도시한 바와 같이, 제 1 시험수단은 프로브(14) 형태로 제공된다.
제 2 도에 도시한 바와 같이, 제 1 도와 동일한 장치가 인쇄회로기판상에서 도전시험을 수행한다.
특히, 인쇄회로기판상의 두지점을 연결할 수 있는 도전고무(18)와 이 도전고무(18)를 지지하는 지지부재(16)와 이 지지부재(16) 위에 설치된 도전재료(30)(제 3 도 참조)를 포함하는 제 2 시험수단과 함께 제 1 시험수단으로서의 프로브(14)는 도전시험에 또한 사용된다. 지지부재(16)는 금속 플랫홈 형태로 되어 있다.
시험장치는 인쇄회로기판쪽으로 또는 그 반대방향으로 지지부재(16)를 상하로 이동시키는 유압실린더(20)를 포함한다.
시험장치는 아래에 상세히 설명하는 바와 같은 시스템 제어기에 의해 제어된다.
[시스템 제어기]
시스템 제어기 유니트는 서브메뉴 "제품구성"내의 파라미터 "ACRT 상태"를 검사함으로써 시험기능을 선택하였는지의 여부를 인식한다.
"ACRT 상태"가 "온"으로 설정되면, 시스템 제어기는 ACRT 기능으로 PCB를 시험하고 학습한다.
ACRT를 사용하여, PCB는 두가지 다른 공정을 거치게 된다. 특히, ACRT 기능을 갖춘 PCB의 데이타 화일은 두가지 다른 세트의 데이타를 포함한다. 데이타(데이타1)는 도전고무(18) 및 시험기판(12)간에 접촉이 일어남이 없이 먼저 학습되고,데이타(데이타2)는 도전고무와 시험기판이 접촉하는 상태에서 학습된다.
시험이 행해지는 동안, PCB는 두가지 다른 세트의 데이타에 따라 두가지 다른 공정으로 시험된다. 먼저, 도전고무는 시험기판과 접촉하며 데이타2의 정보에 따라 시험을 시작한다. 다음, 도전고무는 시험기판과 접촉하지 않으며 데이타1의 정보에 따라 시험을 시작한다.
시스템 제어기는 장치내의 실린더의 상태를 제어한다. 도전고무(18)가 시험기판(12)과 접촉할 필요가 있는 경우, 제어기는 신호를 전송하여 실린더를 위로 이동시키고, 그렇지 않으면 제어기는 또다른 신호를 전송하여 실린더를 밑으로 이동시킨다.
지지부재(16)를 이동시키는 유압 실린더(20)는 컴퓨터에 의해 완전히 제어된다. 이 구조로 인해 시험동작은 다중적응시험용으로 일사이클내에서 최적화될 수 있다.
제 3 도는 PCB(12)의 일부가 시험상태에 놓여 있음을 보인 것이다. 특히, PCB상의 두 SMT 패드(22,24)의 단부는 시험 프로브(26,28)에 의해 접촉하고 있다. 도전재료(30)는 두 SMT 패드(22,24)간의 "도전 브리지/단락'을 수행한다.
학습 및 시험은 두가지 단계로 이루어진다. 첫번째 단계에서, 도전재료(30)는 모든 SMT 패드(22,24)와 접촉함으로써 단락경로가 모든 SMT 패드간에 제공된다. 모든 시험 프로브에서 검출되는 "개방/단락"은 제 1 세트의 데이타(도전시험)로서 취급된다. 두번째 단계에서, 도전재료(30)는 모든 SMT 패드(22,24)에서 절연격리된다. 모든 시험 프로브에서 검출되는 또다른 "개방/단락"은 제 2 세트의 데이타(절연시험)로서 취급된다.
시험공정은 이들 두 세트의 데이타를 기준자료로서 채용하여 두 단계에서 시험되는 유니트에 의해 발생되는 데이타와 비교한다. 그러나, 위에서 설명한 모든 시험단계는 장치를 시험하거나 이동하는 동안 실린더 이외에 유니트의 제거를 필요로 하지 않는다. 제공된 기구는 일사이클로 시험을 완료한다.
이하, 본 발명의 동작을 설명하기로 한다.
1. ACRT 기능으로 시험 프로그램을 학습하기 위해서는,
(1) "시스템 구성" 및 "제품 구성"의 정확한 파라미터를 선택한다. 서브메뉴"제품 구성"에서, "ACRT 상태"는 "온"으로 설정되어야 한다.
(2) 서브메뉴 "시험/학습"을 선택한다.
(3) "학습 시작" 항목을 선택한다.
(4) 장치상에 "공지된 양호한" PCB를 삽입한다.
(5) 실린더로 도전고무를 압착하여 PCB와 단단히 밀착되도록 한다.
(6) 학습이 완료되었을 때, 기계는 단락의 수와 PCB의 개방점의 수를 표시하며, 체크섬 에러가 존재하는지의 여부도 또한 표시한다.
(7) 시험패턴을 저장한다.
2. ARCT 기능으로 PCB를 시험하기 위해서는,
(1) 디스크상에 기억되어 있다면 시험기판의 데이타 화일을 불러낸다. 그렇지 않으면, 시험전에 기판을 학습한다.
(2) "시스템 구성" 및 "제품 구성"의 정확한 파라미터를 선택한다. 서브메뉴"제품 구성"의 "ACRT 상태"는 "온"으로 설정되어야 한다.
(3) 서브메뉴 "시험/학습"을 선택한다.
(4) "시험시작" 항목을 선택한다.
(5) 장치상에 PCB를 삽입한다.
(6) 실린더로 도전고무를 압착하여 PCB와 단단히 밀착되도록 한다.
(7) 시험이 종료되었을 때, 실린더는 위에 놓이게 되고, 기판의 시험결과가 합격인지 불합격인지의 여부를 표시한다.
본 발명의 장치는 다음과 같은 효과를 갖는다.
1. 미세한 피치의 프로브가 절약되기 때문에 시험 프로브에 대한 보수관리의 비용이 절감된다.
2. 장치를 구성하는것이 그다지 어렵지 않으며, 특히 비용의 감소와 관련되는 공차의 제어가 용이하다.
3. 도전재료가 어떠한 핀 자원을 차지하지 않기 때문에, 시스템의 시험핀의 수가 사실상 감소될 수 있다.
4. ACRT는 시험되는 유니트의 패턴 시프트의 큰 공차를 허용하기 때문에, 공차에 있어서의 밀착 제품 제어압력이 해제될 수 있고, 양호한 기판이 잘못 제거되는 경우가 크게 감소한다.
5. (도전재료만 단순히 교체하면 되기 때문에) 보수관리가 용이하여 제품의 생산성이 높아지고 유지비용이 적게 든다.
ARCT는 SMT(표면실장기술)을 갖춘 PCB, 단면, 양면 및 다층기판내에 결합되는 보드상의 칩(COB)을 시험하는 아주 우수한 도구이다.
제 1 도는 절연시험을 하기위한, 본 발명에 따른 시험장치의 측단면도.
제 2 도는 도전시험(continuity test)을 하기위한, 제 1 도의 시험장치의 측단면도.
제 3 도는 피복이 안된 기판의 개략선도.
** 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 **
10. 시험장치 12. 인쇄회로기판
14. 프로브 16. 지지부재
18. 도전고무 20. 유압 실린더
22,24. SMT 패드 30. 도전재료

Claims (7)

  1. 회로기판의 절연시험 및 도전시험을 행하는 시험장치에 있어서, 상기 시험장치가 제 1 시험수단 및 제 2 시험수단으로 이루어지며, 상기 제 1 시험수단은 절연시험을 행하기 위해 회로기판상의 어느 한 지점과 접촉하는 적어도 하나의 프로브를 포함하며, 상기 제 2 시험수단은 회로기판의 두 지점과 접촉하는 적어도 하나의 스트립 형태로 된 도전고무와, 상기 도전고무를 지지하는 지지부재와, 상기 지지부재 위에 설치되는 도전재료를 포함하며, 도전시험이 행해지는 동안 상기 제 1 시험수단과 상기 제 2 시험수단은 함께 상기 회로기판과 접촉하는 것을 특징으로 하는 시험장치.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 지지부재는 실린더 수단에 의해 회로기판쪽으로 또는 그 반대방향으로 이동가능한 것을 특징으로 하는 시험장치.
  3. 제 2 항에 있어서, 상기 실린더 수단은 전자동화 시스템에 의해 제어되는 바이패스 밸브를 통해 작동하는 유압 실린더로 이루어지는 것을 특징으로 하는 시험장치.
  4. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 상기 지지부재는 금속 플랫홈 형태로 되어 있고, 상기 도전재료는 금속 플랫홈 형태로 된 지지부재의 홈내에 설치되는 것을특징으로 하는 시험장치.
  5. 제 4 항에 있어서, 도전재료의 일부는 지지부재의 표면상에 노출되어 시험이 행해지는 회로기판과 접촉함을 특징으로 하는 시험장치.
  6. 제 4 항에 있어서, 상기 도전재료는 실린더 수단에 의해 시험이 행해지는 회로기판상에 압착되는 것을 특징으로 하는 시험장치.
  7. 제 5 항에 있어서, 상기 도전재료는 실린더 수단에 의해 시험이 행해지는 회로기판상에 압착되는 것을 특징으로 하는 시험장치.
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