KR930021047A - 시험장치 - Google Patents

시험장치 Download PDF

Info

Publication number
KR930021047A
KR930021047A KR1019920013098A KR920013098A KR930021047A KR 930021047 A KR930021047 A KR 930021047A KR 1019920013098 A KR1019920013098 A KR 1019920013098A KR 920013098 A KR920013098 A KR 920013098A KR 930021047 A KR930021047 A KR 930021047A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
circuit board
test apparatus
test
insulation
support member
Prior art date
Application number
KR1019920013098A
Other languages
English (en)
Other versions
KR100320075B1 (ko
Inventor
채춘찬
쿵 람 와이
Original Assignee
리 우 힝
센탈릭 테크놀로지 디벨롭먼트 리미티드
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 리 우 힝, 센탈릭 테크놀로지 디벨롭먼트 리미티드 filed Critical 리 우 힝
Publication of KR930021047A publication Critical patent/KR930021047A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100320075B1 publication Critical patent/KR100320075B1/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/06705Apparatus for holding or moving single probes
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K13/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
    • H05K13/08Monitoring manufacture of assemblages

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Operations Research (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

시험장치는 회로기판에서 절연시험을 행하는 한편, 다른 수단과 조합되어 동일한 회로기판의 연속성을 시험하는데 또한 사용되는 절연시험수단으로 구성된다.

Description

시험장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 절연시험을 하기위한, 본 발명에 따른 시험장치의 측단면도.
제2도는 연속성시험을 하기위한, 제1도의 시험장치의 측단면도.
제3도는 피복이 안된 기판의 개략선도.

Claims (9)

  1. 회로기판에서 절연시험을 행하는 한편, 다른 수단과 조합되어 동일한 회로기판의 연속성을 시험하는데 또한 사용되는 절연시험수단으로 구성됨을 특징으로 하는 시험장치.
  2. 제1항에 있어서, 절연시험수단은 회로기판상의 특정지점과 접촉하는 프로브로 이루어짐을 특지으로 하는 시험장치.
  3. 제1항 또는 제2항에 있어서, 절연시험수단 외에도, 연속성을 시험하는 수단은 회로기판의 두 지점을 연결하는 적어도 하나의 스트립으로 된 도전고무를 지지하는 지지부재임을 특징으로 하는 시험장치.
  4. 제3항에 있어서, 지지부재는 실린더수단에 의해 회로기판쪽으로 또는 그 반대방향으로 이동함을 특징으로 하는 시험장치.
  5. 제4항에 있어서, 실린더수단은 전자동화 시스템에 의해 제어되는 바이패스 밸브를 통해 작동하는 유압 실린더임을 특징으로 하는 시험장치.
  6. 제3항 내지 제5항중 어느 한 항에 있어서, 지지부재는 금속 플랫홈상의 홈내에 설치되는 도전재료로 구성됨을 특징으로 하는 시험장치.
  7. 제6항에 있어서, 도전재료의 일부는 플랫홈의 표면상에 노출되어 시험되는 회로기판과 접촉함을 특징으로 하는 시험장치.
  8. 제6항 또는 제7항에 있어서, 실린더수단은 도전재료를 시험되는 회로기판상에 압착함을 특징으로 하는 시험장치.
  9. ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019920013098A 1992-03-20 1992-07-22 시험장치 KR100320075B1 (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
GB9206068A GB2265224B (en) 1992-03-20 1992-03-20 Testing apparatus
GB9206068.0 1992-03-20

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR930021047A true KR930021047A (ko) 1993-10-20
KR100320075B1 KR100320075B1 (ko) 2002-03-20

Family

ID=10712496

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019920013098A KR100320075B1 (ko) 1992-03-20 1992-07-22 시험장치

Country Status (5)

Country Link
KR (1) KR100320075B1 (ko)
CN (1) CN1042673C (ko)
GB (1) GB2265224B (ko)
HK (1) HK141396A (ko)
TW (1) TW202532B (ko)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2278965B (en) * 1993-06-07 1997-08-27 Centalic Tech Dev Ltd Testing Apparatus
GB2311175A (en) * 1996-03-15 1997-09-17 Everett Charles Tech PCB / test circuitry connection interface with short circuiting means
JPH11214450A (ja) * 1997-11-18 1999-08-06 Matsushita Electric Ind Co Ltd 電子部品実装体とそれを用いた電子機器と電子部品実装体の製造方法
EP0989409A1 (en) * 1998-09-23 2000-03-29 Delaware Capital Formation, Inc. Scan test machine for densely spaced test sites
US6268719B1 (en) 1998-09-23 2001-07-31 Delaware Capital Formation, Inc. Printed circuit board test apparatus
JP2000346895A (ja) * 1999-06-01 2000-12-15 Shin Etsu Polymer Co Ltd 電子回路基板の検査治具
US6788078B2 (en) 2001-11-16 2004-09-07 Delaware Capital Formation, Inc. Apparatus for scan testing printed circuit boards

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4012693A (en) * 1975-07-16 1977-03-15 Sullivan Donald F Printed circuit board testing
US4056773A (en) * 1976-08-25 1977-11-01 Sullivan Donald F Printed circuit board open circuit tester
US4571542A (en) * 1982-06-30 1986-02-18 Japan Synthetic Rubber Co., Ltd. Method and unit for inspecting printed wiring boards
GB2156532B (en) * 1984-03-24 1988-07-20 Plessey Co Plc Apparatus for testing a printed circuit board
ATE56280T1 (de) * 1986-06-25 1990-09-15 Mania Gmbh Verfahren und vorrichtung zum elektrischen pruefen von leiterplatten.
FR2617977B1 (fr) * 1987-07-08 1990-01-05 Centre Nat Rech Scient Appareil de test de circuit imprime
GB2215064B (en) * 1988-01-30 1992-06-10 Gen Electric Co Plc Testing printed circuit boards

Also Published As

Publication number Publication date
TW202532B (en) 1993-03-21
KR100320075B1 (ko) 2002-03-20
HK141396A (en) 1996-08-09
GB2265224B (en) 1996-04-10
GB9206068D0 (en) 1992-05-06
CN1042673C (zh) 1999-03-24
GB2265224A (en) 1993-09-22
CN1076785A (zh) 1993-09-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TW347467B (en) Method and apparatus for testing an electrically conductive substrate
KR870007561A (ko) 피검사물의 표면 검사 장치
BR7802225A (pt) Processo para determinacao de uma substancia de ligacao especifica em uma amostra de liquido,e dispositivo de teste para o mesmo
DE3776085D1 (de) Testtraeger zur analytischen bestimmung eines bestandteils einer koerperfluessigkeit.
DE69302400D1 (de) Testanordnung mit filmadaptor fuer leiterplatten
DE59007516D1 (de) Prüfvorrichtung zum prüfen von elektrischen oder elektronischen prüflingen.
KR870002442A (ko) 프루브 검사방법
KR880004325A (ko) 집적회로 프로브의 접촉설정장치 및 그 방법
MY113351A (en) Testing fixture and method for circuit traces on a flexible substrate
ATE93062T1 (de) Pruefeinrichtung mit einer kontaktiervorrichtung und mindestens einem pruefling.
KR930021047A (ko) 시험장치
DK0807258T3 (da) Prøveindretning til elektroniske plane moduler
KR890004162A (ko) 누유검지소자
KR950001343A (ko) 표시장치의 검사장치 및 검사방법
SE9800569L (sv) Förfarande och anordning
ATE125942T1 (de) Abdichtungsfolie mit einer elektrischen messeinrichtung zur erfassung von lecks in der folie.
JPS5745473A (en) Device and method for testing printed circuit board
MX154450A (es) Valvula de transferencia de liquido con sonda movible para aparatos de medicion y prueba
KR970077436A (ko) 프로브유닛 및 검사용 헤드
ATE75950T1 (de) Testpflaster zum nachweisen einer kontaktallergie.
KR890002671A (ko) 개량된 회로 시험기
KR910001658A (ko) 테이프캐리어와 그 테스트방법
SU667856A1 (ru) Установка дл испытани трубчатых образцов внутренним давлением и осевой силой
KR970048378A (ko) 와이퍼의 피로시험용 기구
KR960024250A (ko) 도막두께 측정장치

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20081202

Year of fee payment: 8

LAPS Lapse due to unpaid annual fee